JPH09129480A - 導電性ペースト及びセラミック電子部品の製造方法 - Google Patents
導電性ペースト及びセラミック電子部品の製造方法Info
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Landscapes
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Abstract
くい導電ペースト及びセラミック電子部品の製造方法を
提供することを目的とする。 【解決手段】 金属粉末と、平均粒径が0.1mm以下
の前記金属粉末以外の無機粉末とを含み、この無機粉末
の含有率が0.1〜14wt%であることを特徴とする
導電性ペーストである。また、前記導電ペーストを、セ
ラミック素子に塗布して焼付けし、その外表面に前記無
機粉末を露出させるようにしたことを特徴とするセラミ
ック電子部品の製造方法である。
Description
コンデンサなどに代表されるセラミック電子部品に用い
られる導電性ペーストおよびその導電性ペーストを用い
たセラミック電子部品の製造方法に関し、特に、セラミ
ック電子部品に外部電極を形成する工程を改良するもの
である。
形成するにあたっては、導電ペーストをセラミック素子
の端部に塗布した後、焼付けして行われる。そして、導
電ペーストとしては、AgやAg/Pd合金などの金属
粉末を有機ビヒクルやガラスフリットなどと調合したも
のが使われる。
いてセラミック電子部品の外部電極を形成する方法にお
いては、外部電極の焼付け形成時に外部電極同士、ある
いは外部電極とセラミック匣とのくっ付き不良が発生し
やすい。
ミック素子にアルミナ粉末やジルコニア粉末などの無機
粉末を適量、均一にまぶすことが行われる。
ようなセラミック電子部品の製造方法では、特に、外部
電極焼付け時の量産性を上げるために、セラミック匣の
中に入れるセラミック素子のチャージ量を上げると、外
部電極に対する無機粉末の付着量をコントロールできな
くなり、付着する無機粉末にバラツキが発生する。この
ため、無機粉末が少量に付着してしまうものがでて、外
部電極焼付け時に、くっ付き不良が増加する。また、こ
のような方法では、アルミナ粉末やジルコニア粉末など
をまぶしたり、そのまぶしたアルミナ粉末やジルコニア
粉末を除去するために、ふるいにかけたりする工程が必
要となり、製造コストが高くなる。更に、その際に発生
する粉塵によって作業環境が悪くなるという問題が起こ
る。
たものであって、外部電極の焼付け時にくっ付き不良が
発生しにくい導電ペースト及びそれを用いたセラミック
電子部品の製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、金属粉末と、平均粒径が0.1mm以下の前
記金属粉末以外の無機粉末とを含み、この無機粉末の含
有率が0.1〜14wt%であることを特徴とする導電
性ペーストである。また、本発明は、金属粉末と、平均
粒径が0.1mm以下の前記金属粉末以外の無機粉末と
を含み、この無機粉末の含有率が0.1〜14wt%で
ある導電性ペーストを、セラミック素子に塗布して焼付
けし、その外表面に前記無機粉末を露出させるようにし
たことを特徴とするセラミック電子部品の製造方法であ
る。この本発明によれば、導電性ペーストをセラミック
素子に塗布して焼付けした電極の外表面に無機粉末が露
出するため、この無機粉末が電極付着防止材として作用
する。
明する。
ラミック電子部品の外部電極を形成するには、導電ペー
ストをセラミック素子の両端部に、例えば、Agなどか
らなる導電性ペーストを塗布し、その後、セラミック匣
の中に入れて焼付けして行われる。
粉末と有機ビヒクルとガラスフリットに、平均粒径が
0.1mm以下の前記金属粉末以外のアルミナなどの無
機粉末が0.1〜14wt%含有されたものを用い、こ
の無機粉末の一部が外部電極の焼付け時にその外部電極
の外表面に露出する。このため、外部電極の外表面に露
出した無機粉末は電極付着防止材として作用する。図1
は、本発明の実施例の製造方法により得られた積層セラ
ミックコンデンサの概略部分断面図である。1は外部電
極、2は一部が露出した無機粉末、3は内部電極、4は
セラミック素子である。
よれば、外部電極の外表面に無機粉末を露出させるよう
にしているため、導電ペーストが塗布されたセラミック
素子のチャージ量を上げてセラミック匣の中で焼付けし
ても、従来のように無機粉末をまぶしたりすることな
く、外部電極同士や、外部電極とセラミック匣とのくっ
付きの発生をより防止することができる。
は、Agに限らずAg/Pd合金、Cuなどその他の金
属であってもよく、また、無機粉末は、アルミナ材に限
るものではなく、ジルコニア材やその他のセラミック材
からなる粉末などであってもよい。また、導電ペースト
の塗布は、浸漬方式をはじめ、印刷方式などその他の方
式であってもよい。また、セラミック匣はアルミナ匣、
ジルコニア匣などその他のセラミック材を使った匣であ
ってもよい。
サの製造過程に本発明を適用したものを示したが、積層
LCフイルタや積層インダクタ、単板のセラミックコン
デンサなど他のセラミック電子部品の製造にも適用する
ことができ、また、形成する電極も外部電極に限ること
はない。
験を行った。まず、Ag粉末と有機ビヒクルとガラスフ
リットに、無機粉末として平均粒径が0.05mm、
0.1mm、0.2mmのアルミナ粉末をそれぞれ、含
有率が10.0wt%になるように調合して導電性ペー
ストを作製した。
1.25mm、T寸0.8mmからなり、静電容量が1
00nFになる積層セラミックコンデンサのセラミック
素子を用意し、このセラミック素子の両端部に、上記の
平均粒径の異なるアルミナ粉末を含有した各導電性ペー
ストを塗布、乾燥し、それぞれの導電ペーストが塗布さ
れたセラミック素子を各8000個作製した。その後、
各8000個のこれらのセラミック素子のそれぞれを、
アルミナ匣の中にバラ積みして入れて、800℃で焼付
けして積層セラミックコンデンサを作製した。そして、
このようにして作製して得られた積層セラミックコンデ
ンサの外部電極同士や、外部電極とアルミナ匣とのくっ
付き不良の発生率および静電容量を調べた結果が、表1
に示されている。アルミナ粉末を含有しない導電ペース
トが塗布されたセラミック素子をアルミナ粉末でまぶ
し、焼成して得られた積層セラミックコンデンサの比較
例を試料No.1に示す。
べ、アルミナ粉末を10wt%含有する導電ペーストを
用いて得られた積層セラミックコンデンサの試料No.
2〜4の方が、外部電極同士や、外部電極とアルミナ匣
とのくっ付き不良率がより低減している。しかし、試料
No.2〜4のうち、導電ペーストに含有するアルミナ
粉末の平均粒径が0.1mm以下のものを用いて得られ
た試料No.2、3は、静電容量が102〜103nF
得られているが、アルミナ粉末の平均粒径が0.2mm
のものを用いて得られた試料No.4は、静電容量が7
4.1nFと約26%小さくなっている。これは、アル
ミナ粉末の平均粒径が大きいと、積層セラミックコンデ
ンサの外部電極と内部電極とのコンタクトが阻害される
ためと思われる。このことから、導電ペーストに含有す
るアルミナ粉末の平均粒径は0.1mm以下であること
が好ましい。
ルとガラスフリットに、無機粉末として平均粒径が0.
1mmのアルミナ粉末を0.05、0.1、5.0、1
0.0、14.0、15.0wt%のそれぞれの含有率
になるように調合して、外部電極を、上記と同様に形成
した積層セラミックコンデンサ各8000個を作製し
た。そして、このようにして作製して得られた積層セラ
ミックコンデンサの外部電極同士や、外部電極とアルミ
ナ匣とのくっ付き不良の発生率および静電容量を調べた
結果が、表2に示されている。
0.05wt%含有する導電ペーストを用いて得られた
試料No.5に比べ、0.1wt%以上含有する導電ペ
ーストを用いて得られた試料No.6〜10の方が、い
づれのくっ付き不良率も低減している。しかし、アルミ
ナ粉末を15.0wt%含有する導電ペーストを用いて
得られた試料No.10は、静電容量が82.3nFと
他のものより約18%小さくなっている。これは、上記
アルミナ粉末の平均粒径が大きくなる場合と同様、積層
セラミックコンデンサの外部電極と内部電極とのコンタ
クトが阻害されるためと思われる。このことから、導電
ペーストに含まれるアルミナ粉末の含有率は0.1〜1
4wt%の範囲内とすることが好ましい。
mm以下のアルミナ粉末を0.1〜14wt%含有した
導電ペーストを用いてセラミック電子部品(積層セラミ
ックコンデンサ)に外部電極を形成したものは、所望の
静電容量がとれて、アルミナ粉末をまぶさなくても、く
っ付き不良率を低減することがわかる。
ナ粉末やジルコニア粉末などの無機粉末をまぶさない
で、導電ペーストを塗布したセラミック素子をセラミッ
ク匣に入れて焼付けしても、電極同士や、電極とセラミ
ック匣とのくっ付き不良の発生を防止できる。このた
め、電極焼付け時の量産性を上げるためにセラミック匣
へのチャージ量を多くしても、くっ付き不良率をより低
減できると共に、アルミナ粉末やジルコニア粉末などを
まぶしたり、除去したりする工程をなくせるので、製造
コストを下げることができ、更に、その工程の粉塵の発
生をなくすことができて作業環境を改善することができ
る。
デンサの部分断面図である。
Claims (2)
- 【請求項1】 金属粉末と、平均粒径が0.1mm以下
の前記金属粉末以外の無機粉末とを含み、この無機粉末
の含有率が0.1〜14wt%であることを特徴とする
導電性ペースト。 - 【請求項2】 金属粉末と、平均粒径が0.1mm以下
の前記金属粉末以外の無機粉末とを含み、この無機粉末
の含有率が0.1〜14wt%である導電性ペースト
を、セラミック素子に塗布して焼付けし、その外表面に
前記無機粉末を露出させるようにしたことを特徴とする
セラミック電子部品の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7285896A JPH09129480A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 導電性ペースト及びセラミック電子部品の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP7285896A JPH09129480A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 導電性ペースト及びセラミック電子部品の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH09129480A true JPH09129480A (ja) | 1997-05-16 |
Family
ID=17697429
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7285896A Pending JPH09129480A (ja) | 1995-11-02 | 1995-11-02 | 導電性ペースト及びセラミック電子部品の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH09129480A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012132662A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-04 | 日本碍子株式会社 | セラミックスデバイス、及び圧電デバイス |
WO2012132661A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-04 | 日本碍子株式会社 | セラミックスデバイス、及び圧電デバイス |
KR20200009020A (ko) | 2017-05-26 | 2020-01-29 | 스미토모 긴조쿠 고잔 가부시키가이샤 | 도체 형성용 조성물과 그 제조 방법, 도체와 그 제조 방법, 칩 저항기 |
KR20200016847A (ko) | 2017-05-26 | 2020-02-17 | 스미토모 긴조쿠 고잔 가부시키가이샤 | 도체 형성용 조성물, 도체와 그 제조 방법, 및, 칩 저항기 |
-
1995
- 1995-11-02 JP JP7285896A patent/JPH09129480A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2012132662A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-04 | 日本碍子株式会社 | セラミックスデバイス、及び圧電デバイス |
WO2012132661A1 (ja) * | 2011-03-28 | 2012-10-04 | 日本碍子株式会社 | セラミックスデバイス、及び圧電デバイス |
KR20200009020A (ko) | 2017-05-26 | 2020-01-29 | 스미토모 긴조쿠 고잔 가부시키가이샤 | 도체 형성용 조성물과 그 제조 방법, 도체와 그 제조 방법, 칩 저항기 |
KR20200016847A (ko) | 2017-05-26 | 2020-02-17 | 스미토모 긴조쿠 고잔 가부시키가이샤 | 도체 형성용 조성물, 도체와 그 제조 방법, 및, 칩 저항기 |
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