JPH09106724A - 開閉器 - Google Patents
開閉器Info
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- JPH09106724A JPH09106724A JP7291914A JP29191495A JPH09106724A JP H09106724 A JPH09106724 A JP H09106724A JP 7291914 A JP7291914 A JP 7291914A JP 29191495 A JP29191495 A JP 29191495A JP H09106724 A JPH09106724 A JP H09106724A
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- switch
- movable contact
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-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
- H01H1/021—Composite material
- H01H1/023—Composite material having a noble metal as the basic material
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 耐溶着性および耐消耗性に優れ、かつ接触信
頼性を高める。 【構成】 スナップアクションで可動接点７を固定接点
５，６に接離させる接触機構１０を備え、上記各接点
は、内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０重量
％、インジウム５．０〜８．０重量％、０．５重量％以
下の鉄族金属および残部が銀からなる接点材料で形成さ
れている。
頼性を高める。 【構成】 スナップアクションで可動接点７を固定接点
５，６に接離させる接触機構１０を備え、上記各接点
は、内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０重量
％、インジウム５．０〜８．０重量％、０．５重量％以
下の鉄族金属および残部が銀からなる接点材料で形成さ
れている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、主としてマイクロス
イッチやリミットスイッチなどの開閉器に関するもので
ある。
イッチやリミットスイッチなどの開閉器に関するもので
ある。
【０００２】
【従来の技術】従来、この種の開閉器に使用されるパワ
ー用の電気接点材料として、耐溶着性および耐消耗性に
優れ、かつ、廉価であるなどの観点からＡｇＣｄＯ系合
金が多用されている。ところが、このＡｇＣｄＯ系合金
は有害成分であるカドミウム（Ｃｄ）を含有するため、
この有害成分を含有しないＡｇ−ＳｎＯ系合金、たとえ
ばＡｇ−Ｓｎ−Ｉｎからなる電気接点材料が注目されて
いる（たとえば、特開昭５４−７１５８号公報）。つま
り、ＡｇＣｄＯ系合金は人体に有害な成分であるカドミ
ウム（Ｃｄ）を含有することから、その使用が近年規制
される傾向にあるのに対し、Ａｇ−ＳｎＯ系合金は人体
に有害な成分を含有しない点において優れている。
ー用の電気接点材料として、耐溶着性および耐消耗性に
優れ、かつ、廉価であるなどの観点からＡｇＣｄＯ系合
金が多用されている。ところが、このＡｇＣｄＯ系合金
は有害成分であるカドミウム（Ｃｄ）を含有するため、
この有害成分を含有しないＡｇ−ＳｎＯ系合金、たとえ
ばＡｇ−Ｓｎ−Ｉｎからなる電気接点材料が注目されて
いる（たとえば、特開昭５４−７１５８号公報）。つま
り、ＡｇＣｄＯ系合金は人体に有害な成分であるカドミ
ウム（Ｃｄ）を含有することから、その使用が近年規制
される傾向にあるのに対し、Ａｇ−ＳｎＯ系合金は人体
に有害な成分を含有しない点において優れている。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、Ａｇ−
ＳｎＯ系合金は、接点の開閉にもとづくアークの発生
で、電気絶縁性の酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊離して接点の
表面に被着し、接触抵抗値の増大で異常発熱し、接点の
溶着や消耗の要因となり、耐溶着性や耐消耗性およびコ
スト面において、ＡｇＣｄＯ系合金に劣るという課題が
ある。
ＳｎＯ系合金は、接点の開閉にもとづくアークの発生
で、電気絶縁性の酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊離して接点の
表面に被着し、接触抵抗値の増大で異常発熱し、接点の
溶着や消耗の要因となり、耐溶着性や耐消耗性およびコ
スト面において、ＡｇＣｄＯ系合金に劣るという課題が
ある。
【０００４】この発明は上記課題を解消するためになさ
れたもので、耐溶着性および耐消耗性に優れ、かつ、接
触信頼性の高い開閉器を提供することを目的としてい
る。
れたもので、耐溶着性および耐消耗性に優れ、かつ、接
触信頼性の高い開閉器を提供することを目的としてい
る。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明による開閉器
は、スナップアクションで可動接点を固定接点に接離さ
せる接触機構を備え、上記各接点は、錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％、０．５重量
％以下の鉄族金属および残部が銀からなる組成の合金を
内部酸化した材料で形成されていることを特徴とする。
また、上記開閉器は、マイクロスイッチやリミットスイ
ッチに適用されて優れた効果を発揮することができる。
は、スナップアクションで可動接点を固定接点に接離さ
せる接触機構を備え、上記各接点は、錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％、０．５重量
％以下の鉄族金属および残部が銀からなる組成の合金を
内部酸化した材料で形成されていることを特徴とする。
また、上記開閉器は、マイクロスイッチやリミットスイ
ッチに適用されて優れた効果を発揮することができる。
【０００６】
【作用】この発明によれば、耐溶着性を向上させる錫
と、耐消耗性を向上させるインジウムとを、錫２．０〜
５．０重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合
とすることにより、接点材料自体の耐溶着性および耐消
耗性をさらに向上させることができる。
と、耐消耗性を向上させるインジウムとを、錫２．０〜
５．０重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合
とすることにより、接点材料自体の耐溶着性および耐消
耗性をさらに向上させることができる。
【０００７】他方、この接点材料は、接点の開閉にもと
づくアークの発生で、電気絶縁性の酸化物である酸化錫
（ＳｎＯ2 ）が遊離して接点の表面に被着し、接点の接
触抵抗値を増大させる要因となる。ところが、上記可動
接点および固定接点の各当接面に被着した酸化物は、ス
ナップアクションにもとづく可動接点のローリングもし
くはワイピング動作でもって接触面から除去される。ま
た、上記可動接点はスナップアクションによって、開閉
器を操作する速度とほぼ無関係な高速度で固定接点に接
触するため、その接触時における衝撃波で上記の被着し
た酸化物を接点の表面から飛散させて除去することがで
きる。
づくアークの発生で、電気絶縁性の酸化物である酸化錫
（ＳｎＯ2 ）が遊離して接点の表面に被着し、接点の接
触抵抗値を増大させる要因となる。ところが、上記可動
接点および固定接点の各当接面に被着した酸化物は、ス
ナップアクションにもとづく可動接点のローリングもし
くはワイピング動作でもって接触面から除去される。ま
た、上記可動接点はスナップアクションによって、開閉
器を操作する速度とほぼ無関係な高速度で固定接点に接
触するため、その接触時における衝撃波で上記の被着し
た酸化物を接点の表面から飛散させて除去することがで
きる。
【０００８】したがって、上記可動接点と固定接点の当
接面は、常時清掃された接触面を確保することができ、
接点の接触抵抗値を低く安定させて異常発熱を防止し、
耐溶着性や耐消耗性を高めることができる。しかも、上
記可動接点は固定接点から高速度で開離するため、その
開離時に発生するアークを迅速に切って耐消耗性を一層
向上させることができ、接触信頼性の高い開閉器を提供
することができる。
接面は、常時清掃された接触面を確保することができ、
接点の接触抵抗値を低く安定させて異常発熱を防止し、
耐溶着性や耐消耗性を高めることができる。しかも、上
記可動接点は固定接点から高速度で開離するため、その
開離時に発生するアークを迅速に切って耐消耗性を一層
向上させることができ、接触信頼性の高い開閉器を提供
することができる。
【０００９】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面にしたがって
説明する。図１は、この発明による開閉器の一例をマイ
クロスイッチに適応して示す断面図である。同図におい
て、マイクロスイッチＭを構成するスイッチケ−ス１に
は、共通固定端子片２，常開固定端子片３および常閉固
定端子片４が固定され、上記両固定端子片３，４の内端
部に常開固定接点５および常閉固定接点６が対向して固
定されている。
説明する。図１は、この発明による開閉器の一例をマイ
クロスイッチに適応して示す断面図である。同図におい
て、マイクロスイッチＭを構成するスイッチケ−ス１に
は、共通固定端子片２，常開固定端子片３および常閉固
定端子片４が固定され、上記両固定端子片３，４の内端
部に常開固定接点５および常閉固定接点６が対向して固
定されている。
【００１０】上記常開および常閉固定接点５，６に接離
する可動接点７は、可動接触片８の先端部８ａに固定さ
れるとともに、上記可動接触片８の基端部８ｂには押圧
操作体９が配設されている。上記可動接触片８はスナッ
プアクションを付与する接触機構１０を備え、この接触
機構１０は、たとえば上記共通固定端子片２の内端折曲
部２ａと上記可動接触片８の先端部８ａに圧縮ばね１１
を架設するとともに、受け部材１２の先端部１２ａを上
記共通固定端子片２の内端部２ｂに回動可能に係止さ
せ、この係止部１３に係止された上記受け部材１２の基
端部１２ｂを上記可動接触片８の基端部８ｂに対向配設
して構成されている。
する可動接点７は、可動接触片８の先端部８ａに固定さ
れるとともに、上記可動接触片８の基端部８ｂには押圧
操作体９が配設されている。上記可動接触片８はスナッ
プアクションを付与する接触機構１０を備え、この接触
機構１０は、たとえば上記共通固定端子片２の内端折曲
部２ａと上記可動接触片８の先端部８ａに圧縮ばね１１
を架設するとともに、受け部材１２の先端部１２ａを上
記共通固定端子片２の内端部２ｂに回動可能に係止さ
せ、この係止部１３に係止された上記受け部材１２の基
端部１２ｂを上記可動接触片８の基端部８ｂに対向配設
して構成されている。
【００１１】上記構成において、操作体９を押圧し、圧
縮ばね１１に抗して可動接触片８を押し下げると、上記
可動接触片８が受け部材１２を介して上記係止部１３の
まわりに回動し、その回動が限界値を越えると、上記圧
縮ばね１１のばね反力で上記可動接触片８が反転動作し
て、上記可動接点７は常閉固定接点６から常開固定接点
５にその接触状態がスナップアクションで切り換えられ
る。また、上記操作体６の押圧力を解除すると、上記可
動接点７は常開固定接点５から常閉固定接点６にその接
触状態がスナップアクションで切り換えられ、図示の状
態に復帰する。
縮ばね１１に抗して可動接触片８を押し下げると、上記
可動接触片８が受け部材１２を介して上記係止部１３の
まわりに回動し、その回動が限界値を越えると、上記圧
縮ばね１１のばね反力で上記可動接触片８が反転動作し
て、上記可動接点７は常閉固定接点６から常開固定接点
５にその接触状態がスナップアクションで切り換えられ
る。また、上記操作体６の押圧力を解除すると、上記可
動接点７は常開固定接点５から常閉固定接点６にその接
触状態がスナップアクションで切り換えられ、図示の状
態に復帰する。
【００１２】上記各接点５，６，７の材料としては、た
とえば表１で示す組成および組成含有率の異なる３種類
のサンプルＡ，Ｂ，Ｃが検討試料として採用されてい
る。なお、表１における組成含有率は重量％を示す。
とえば表１で示す組成および組成含有率の異なる３種類
のサンプルＡ，Ｂ，Ｃが検討試料として採用されてい
る。なお、表１における組成含有率は重量％を示す。
【００１３】
【表１】
【００１４】すなわち、表１において、各サンプルは、
内部酸化前の合金組成としてサンプルＡは、Ｓｎ：５．
１重量％、Ｉｎ：３．１重量％、Ｎｉ：０．２重量％、
残部：Ａｇからなる。また、サンプルＢは、Ｓｎ：３．
２重量％、Ｉｎ：６．３重量％、Ｎｉ：０．２重量％、
残部：Ａｇからなる。さらに、サンプルＣは、Ｓｎ：
０．５重量％、Ｉｎ：９．５重量％、残部：Ａｇからな
る。
内部酸化前の合金組成としてサンプルＡは、Ｓｎ：５．
１重量％、Ｉｎ：３．１重量％、Ｎｉ：０．２重量％、
残部：Ａｇからなる。また、サンプルＢは、Ｓｎ：３．
２重量％、Ｉｎ：６．３重量％、Ｎｉ：０．２重量％、
残部：Ａｇからなる。さらに、サンプルＣは、Ｓｎ：
０．５重量％、Ｉｎ：９．５重量％、残部：Ａｇからな
る。
【００１５】つぎに、上記構成の各接点５，６，７がス
ナップアクションで切り換えられる前述のマイクロスイ
ッチ（図１）について、温度上昇試験およびランプ負荷
試験を行ない、その試験後における温度測定結果を説明
する。 (1) 温度上昇試験 試験条件：ＡＣ２５０Ｖ−２０Ａ（力率ＣＯＳΦ＝０．
７５）の通電で５０回の開閉動作を行ない、続いてＡＣ
２５０Ｖ−１６Ａ（ＣＯＳΦ＝０．７５）の通電で６，
０００回の開閉動作を行なう。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、１６Ａを通
電して各端子２，３，４の温度を測定する。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、上記スイッ
チの耐電圧（１，０００Ｖ １分間）をチェックする。
ナップアクションで切り換えられる前述のマイクロスイ
ッチ（図１）について、温度上昇試験およびランプ負荷
試験を行ない、その試験後における温度測定結果を説明
する。 (1) 温度上昇試験 試験条件：ＡＣ２５０Ｖ−２０Ａ（力率ＣＯＳΦ＝０．
７５）の通電で５０回の開閉動作を行ない、続いてＡＣ
２５０Ｖ−１６Ａ（ＣＯＳΦ＝０．７５）の通電で６，
０００回の開閉動作を行なう。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、１６Ａを通
電して各端子２，３，４の温度を測定する。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、上記スイッ
チの耐電圧（１，０００Ｖ １分間）をチェックする。
【００１６】(2) ランプ負荷試験 試験条件：ＡＣ１２５Ｖ−７．５Ａのランプ負荷に通電
して５０回の開閉動作を行ない、続いてＡＣ１２５Ｖ−
５．０Ａのランプ負荷に通電し、２５，０００回の開閉
動作を行なう。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、５Ａを通電
して上記各端子２，３，４の温度を測定する。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、上記スイッ
チの耐電圧（１，０００Ｖ １分間）をチェックする。
して５０回の開閉動作を行ない、続いてＡＣ１２５Ｖ−
５．０Ａのランプ負荷に通電し、２５，０００回の開閉
動作を行なう。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、５Ａを通電
して上記各端子２，３，４の温度を測定する。 上記試験条件で開閉動作を行なったのち、上記スイッ
チの耐電圧（１，０００Ｖ １分間）をチェックする。
【００１７】試験結果：図１で示すマイクロスイッチに
ついて、温度上昇試験を行なった結果は表２のとおりで
ある。
ついて、温度上昇試験を行なった結果は表２のとおりで
ある。
【００１８】
【表２】
【００１９】表２における各サンプルＡ，Ｂ，Ｃは、常
開固定接点５，常閉固定接点６および可動接点７が表１
におけるサンプルＡ，Ｂ，Ｃの組成および組成含有率を
有するスイッチである。すなわち、表２は、各サンプル
Ａ，Ｂ，Ｃについて、３個づつのスイッチ（Ｎｏ．１〜
３）における共通固定端子片（ＣＯＭ端子）２，常開固
定端子片（ＮＯ端子）３および常閉固定端子片（ＮＣ端
子）４の各測定温度（℃）、常開固定接点５，常閉固定
接点６および可動接点７の各接触抵抗値（ｍΩ）、なら
びに耐電圧の試験結果を示す。
開固定接点５，常閉固定接点６および可動接点７が表１
におけるサンプルＡ，Ｂ，Ｃの組成および組成含有率を
有するスイッチである。すなわち、表２は、各サンプル
Ａ，Ｂ，Ｃについて、３個づつのスイッチ（Ｎｏ．１〜
３）における共通固定端子片（ＣＯＭ端子）２，常開固
定端子片（ＮＯ端子）３および常閉固定端子片（ＮＣ端
子）４の各測定温度（℃）、常開固定接点５，常閉固定
接点６および可動接点７の各接触抵抗値（ｍΩ）、なら
びに耐電圧の試験結果を示す。
【００２０】上記表２から明らかなように、サンプルＢ
はサンプルＡに比較してＩｎが多く、耐消耗性に優れて
いるため、試験後の各接点５，６，７の接触抵抗値が低
く、かつ各端子片２，３，４の温度上昇値も低い。ま
た、サンプルＣはサンプルＢに比較してさらにＩｎが多
いために接点の消耗が多く、試験後の各接点５，６，７
の接触抵抗値が高いばかりでなく、各端子片２，３，４
の温度上昇値も高い。
はサンプルＡに比較してＩｎが多く、耐消耗性に優れて
いるため、試験後の各接点５，６，７の接触抵抗値が低
く、かつ各端子片２，３，４の温度上昇値も低い。ま
た、サンプルＣはサンプルＢに比較してさらにＩｎが多
いために接点の消耗が多く、試験後の各接点５，６，７
の接触抵抗値が高いばかりでなく、各端子片２，３，４
の温度上昇値も高い。
【００２１】他方、参考のために、上記可動接触片８に
スナップアクションを付与する接触機構１０（図１）を
備えないで、上記可動接点７が固定接点５，６にスロー
アクションで切り換えられる公知のマイクロスイッチ
（図示せず）について、前述と同様の温度上昇試験を行
ない、その試験結果を表３に示す。
スナップアクションを付与する接触機構１０（図１）を
備えないで、上記可動接点７が固定接点５，６にスロー
アクションで切り換えられる公知のマイクロスイッチ
（図示せず）について、前述と同様の温度上昇試験を行
ない、その試験結果を表３に示す。
【００２２】
【表３】
【００２３】上記表３から明らかなように、スナップア
クションを有するサンプルＡ，Ｂ，Ｃは、スローアクシ
ョンのサンプルＡ，Ｂ，Ｃに比較して、試験後の各接点
５，６，７の接触抵抗値や各端子片２，３，４の温度上
昇値がいずれも低く、耐消耗性が優れていることが理解
される。
クションを有するサンプルＡ，Ｂ，Ｃは、スローアクシ
ョンのサンプルＡ，Ｂ，Ｃに比較して、試験後の各接点
５，６，７の接触抵抗値や各端子片２，３，４の温度上
昇値がいずれも低く、耐消耗性が優れていることが理解
される。
【００２４】上述の理解を深めるために、図２には各サ
ンプルＡ，Ｂ，Ｃごとのスローアクションにおける温度
上昇特性（点線）と、スナップアクションにおける温度
上昇特性（実線）とが示され、この特性図からも上記サ
ンプルＢは、サンプルＡ，Ｃに比較して試験後の各端子
片２，３，４の温度上昇値が低く、耐消耗性に優れてい
ることが明白である。
ンプルＡ，Ｂ，Ｃごとのスローアクションにおける温度
上昇特性（点線）と、スナップアクションにおける温度
上昇特性（実線）とが示され、この特性図からも上記サ
ンプルＢは、サンプルＡ，Ｃに比較して試験後の各端子
片２，３，４の温度上昇値が低く、耐消耗性に優れてい
ることが明白である。
【００２５】さらに、図１で示すマイクロスイッチにつ
いて、サンプルＢ，Ｃのランプ負荷試験を行なった結果
は表４のとおりである。
いて、サンプルＢ，Ｃのランプ負荷試験を行なった結果
は表４のとおりである。
【００２６】
【表４】
【００２７】上記表４から明らかなように、サンプルＢ
はＳｎが多いために、耐溶着性に優れて耐電圧が確保
（ＯＫ）できるのに対し、サンプルＣはＳｎが少ないた
めに、耐溶着性に劣り、耐電圧不能（ＮＧ）であること
が確認された。
はＳｎが多いために、耐溶着性に優れて耐電圧が確保
（ＯＫ）できるのに対し、サンプルＣはＳｎが少ないた
めに、耐溶着性に劣り、耐電圧不能（ＮＧ）であること
が確認された。
【００２８】以上の試験結果からも明らかなように、各
接点５，６，７の接点材料として、耐溶着性を向上させ
る錫と、耐消耗性を向上させるインジウムとで形成し、
かつその内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合とする
ことが耐溶着性および耐消耗性に優れていることを確認
した。
接点５，６，７の接点材料として、耐溶着性を向上させ
る錫と、耐消耗性を向上させるインジウムとで形成し、
かつその内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合とする
ことが耐溶着性および耐消耗性に優れていることを確認
した。
【００２９】また、上記接点材料は、接点５，６，７の
開閉にもとづくアークの発生で、電気絶縁性の酸化物で
ある酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊離して上記各接点５，６，
７の表面に被着し、電気抵抗値を増大させる要因となる
けれども、上記可動接点７が、スナップアクションにも
とづくローリングもしくはワイピング動作で上記接点表
面に被着した酸化物を除去させるとともに、さらにマイ
クロスイッチを操作する速度とほぼ無関係に可動接点７
が固定接点５，６に高速度で接離するスナップアクショ
ンにより、その接触時における衝撃波によっても被着し
た酸化物を接点表面から飛散させて除去することができ
る。
開閉にもとづくアークの発生で、電気絶縁性の酸化物で
ある酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊離して上記各接点５，６，
７の表面に被着し、電気抵抗値を増大させる要因となる
けれども、上記可動接点７が、スナップアクションにも
とづくローリングもしくはワイピング動作で上記接点表
面に被着した酸化物を除去させるとともに、さらにマイ
クロスイッチを操作する速度とほぼ無関係に可動接点７
が固定接点５，６に高速度で接離するスナップアクショ
ンにより、その接触時における衝撃波によっても被着し
た酸化物を接点表面から飛散させて除去することができ
る。
【００３０】したがって、上記固定接点５，６に対する
可動接点７の当接面は、常時清掃された接触面を確保す
ることができ、その接触抵抗値を低く抑えて異常発熱を
防止し、耐溶着性や耐消耗性に優れ、接触信頼性の高い
マイクロスイッチを提供することができる。さらに、上
記可動接点７は、固定接点５，６から高速度で開離する
ため、その接離時に発生するアークを迅速に切って耐消
耗性を一層向上させることができる。
可動接点７の当接面は、常時清掃された接触面を確保す
ることができ、その接触抵抗値を低く抑えて異常発熱を
防止し、耐溶着性や耐消耗性に優れ、接触信頼性の高い
マイクロスイッチを提供することができる。さらに、上
記可動接点７は、固定接点５，６から高速度で開離する
ため、その接離時に発生するアークを迅速に切って耐消
耗性を一層向上させることができる。
【００３１】なお、上記実施例において、可動接点７が
常開固定接点５および常閉固定接点６に接触するマイク
ロスイッチについて説明したけれども、上記常開固定接
点５および常閉固定接点６の一方を省略してもよく、ま
た、マイクロスイッチに代えてリミットスイッチなどの
他の開閉器であってもよいことはいうまでもない。
常開固定接点５および常閉固定接点６に接触するマイク
ロスイッチについて説明したけれども、上記常開固定接
点５および常閉固定接点６の一方を省略してもよく、ま
た、マイクロスイッチに代えてリミットスイッチなどの
他の開閉器であってもよいことはいうまでもない。
【００３２】
【発明の効果】以上のように、この発明による開閉器に
よれば、スナップアクションで可動接点を固定接点に接
触させる接触機構を備え、各接点の接点材料として耐溶
着性を向上させる錫と、耐消耗性を向上させるインジウ
ムとを、内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合とする
ことにより、耐溶着性および耐消耗性を向上させること
ができる。
よれば、スナップアクションで可動接点を固定接点に接
触させる接触機構を備え、各接点の接点材料として耐溶
着性を向上させる錫と、耐消耗性を向上させるインジウ
ムとを、内部酸化前の合金組成として錫２．０〜５．０
重量％、インジウム５．０〜８．０重量％の配合とする
ことにより、耐溶着性および耐消耗性を向上させること
ができる。
【００３３】また、接点の開閉にもとづくアークの発生
で、電気絶縁性の酸化物である酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊
離して接点の表面に被着した場合でも、上記可動接点お
よび固定接点の各当接面に被着した酸化物は、スナップ
アクションにもとづく可動接点のローリングもしくはワ
イピング動作でもって除去され、また、この酸化物は上
記可動接点のスナップアクションにもとづく接触時の衝
撃波によっても接点の表面から飛散させて除去すること
ができる。
で、電気絶縁性の酸化物である酸化錫（ＳｎＯ2 ）が遊
離して接点の表面に被着した場合でも、上記可動接点お
よび固定接点の各当接面に被着した酸化物は、スナップ
アクションにもとづく可動接点のローリングもしくはワ
イピング動作でもって除去され、また、この酸化物は上
記可動接点のスナップアクションにもとづく接触時の衝
撃波によっても接点の表面から飛散させて除去すること
ができる。
【００３４】したがって、上記各接点の当接面を常時清
掃された接触面として、接点の接触抵抗値を低く安定さ
せ、耐溶着性および耐消耗性に優れ、しかも、上記可動
接点を固定接点から高速度で開離させて、その接離時に
発生するアークを迅速に切り、耐消耗性を一層向上させ
て高い接触信頼性を得ることができる。
掃された接触面として、接点の接触抵抗値を低く安定さ
せ、耐溶着性および耐消耗性に優れ、しかも、上記可動
接点を固定接点から高速度で開離させて、その接離時に
発生するアークを迅速に切り、耐消耗性を一層向上させ
て高い接触信頼性を得ることができる。
【００３５】さらに、上記開閉器は、マイクロスイッチ
やリミットスイッチに適用されて優れた効果を発揮する
ことができる。
やリミットスイッチに適用されて優れた効果を発揮する
ことができる。
【図１】この発明による開閉器の一例をマイクロスイッ
チに適用して示す断面図である。
チに適用して示す断面図である。
【図２】同スイッチの温度上昇特性図である。
Ｍ マイクロスイッチ １ スイッチケ−ス ２ 共通固定端子片 ３ 常開固定端子片 ４ 常閉固定端子片 ５ 常開固定接点 ６ 常閉固定接点 ７ 可動接点 ８ 可動接触片 ９ 押圧操作体 １０ 接触機構 １１ 圧縮ばね
【手続補正書】
【提出日】平成８年７月１５日
【手続補正１】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】００２６
【補正方法】変更
【補正内容】
【００２６】
【表４】
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 太田 雅彦 千葉県市川市中国分３丁目18番５号 住友 金属鉱山株式会社内 (72)発明者 森 哲也 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 大黒 正人 鳥取県倉吉市巌城1005番地 オムロン倉吉 株式会社内 (72)発明者 上野 展明 鳥取県倉吉市巌城1005番地 オムロン倉吉 株式会社内 (72)発明者 橋詰 伸一 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 丹羽 孝志 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 岸 成信 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内 (72)発明者 高見 幸二 京都府京都市右京区花園土堂町10番地 オ ムロン株式会社内
Claims (3)
- 【請求項１】 スナップアクションで可動接点を固定接
点に接離させる接触機構を備え、上記各接点は、錫２．
０〜５．０重量％、インジウム５．０〜８．０重量％、
０．５重量％以下の鉄族金属および残部が銀からなる組
成の合金を内部酸化した材料で形成されていることを特
徴とする開閉器。 - 【請求項２】 マイクロスイッチである請求項１に記載
の開閉器。 - 【請求項３】 リミットスイッチである請求項１に記載
の開閉器。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7291914A JPH09106724A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 開閉器 |
| KR1019980702643A KR19990064162A (ko) | 1995-10-12 | 1996-10-11 | 개폐기 |
| EP96933639A EP0877403A4 (en) | 1995-10-12 | 1996-10-11 | COUNTER |
| PCT/JP1996/002972 WO1997014164A1 (fr) | 1995-10-12 | 1996-10-11 | Commutateur |
| CN96197552A CN1199497A (zh) | 1995-10-12 | 1996-10-11 | 开关 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7291914A JPH09106724A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 開閉器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH09106724A true JPH09106724A (ja) | 1997-04-22 |
Family
ID=17775098
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7291914A Pending JPH09106724A (ja) | 1995-10-12 | 1995-10-12 | 開閉器 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0877403A4 (ja) |
| JP (1) | JPH09106724A (ja) |
| KR (1) | KR19990064162A (ja) |
| CN (1) | CN1199497A (ja) |
| WO (1) | WO1997014164A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2004016818A1 (ja) * | 2001-06-01 | 2004-02-26 | Tokuriki Honten Co., Ltd. | Ａｇ−酸化物系電気接点材料の製造方法およびその製品 |
| JP4947850B2 (ja) | 2001-06-01 | 2012-06-06 | 株式会社徳力本店 | Ａｇ−酸化物系電気接点材料の製造方法 |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3874941A (en) * | 1973-03-22 | 1975-04-01 | Chugai Electric Ind Co Ltd | Silver-metal oxide contact materials |
| JPS5632376B2 (ja) * | 1974-10-08 | 1981-07-27 | ||
| US4243413A (en) * | 1979-02-26 | 1981-01-06 | Chugai Denki Kogyo Kabushiki-Kaisha | Integrated Ag-SnO alloy electrical contact materials |
| JPH07305128A (ja) * | 1994-05-11 | 1995-11-21 | Tanaka Kikinzoku Kogyo Kk | Ａｇ−酸化物系電気接点材料 |
-
1995
- 1995-10-12 JP JP7291914A patent/JPH09106724A/ja active Pending
-
1996
- 1996-10-11 WO PCT/JP1996/002972 patent/WO1997014164A1/ja not_active Application Discontinuation
- 1996-10-11 CN CN96197552A patent/CN1199497A/zh active Pending
- 1996-10-11 KR KR1019980702643A patent/KR19990064162A/ko not_active IP Right Cessation
- 1996-10-11 EP EP96933639A patent/EP0877403A4/en not_active Withdrawn
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0877403A4 (en) | 1999-08-04 |
| EP0877403A1 (en) | 1998-11-11 |
| WO1997014164A1 (fr) | 1997-04-17 |
| KR19990064162A (ko) | 1999-07-26 |
| CN1199497A (zh) | 1998-11-18 |
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| JPH0119605B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040511 |