JPH08907A - 真空脱気における脱気度調整方法 - Google Patents

真空脱気における脱気度調整方法

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JPH08907A
JPH08907A JP15923694A JP15923694A JPH08907A JP H08907 A JPH08907 A JP H08907A JP 15923694 A JP15923694 A JP 15923694A JP 15923694 A JP15923694 A JP 15923694A JP H08907 A JPH08907 A JP H08907A
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JP
Japan
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degassing
vacuum
vacuum pump
degassed
liquid
Prior art date
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Pending
Application number
JP15923694A
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Shiraishi
仁士 白石
Takakimi Mitsukami
恭仁 光上
Takafumi Ii
孝文 井伊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Miura Co Ltd
Original Assignee
Miura Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPH08907A publication Critical patent/JPH08907A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 所定の脱気度を有する脱気液を供給できる脱
気度調整方法を提供する。 【構成】 被脱気液の供給ライン2と脱気液の排出ライ
ン3とを備えた脱気手段1に真空ポンプ4を接続し、該
真空ポンプ4により前記脱気手段1内の被脱気液を真空
脱気する方法において、前記脱気手段1内の真空圧力を
検出し、該検出値に基づいて前記真空ポンプ4のON、
OFFを制御することを特徴としている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、真空脱気における脱
気度調整方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】周知のように、真空脱気手段を用いて液
体中の溶存気体を除去し、脱気液として各機器へ供給す
ることは知られているが、前記真空脱気手段を用いて供
給する脱気液は、略一定の溶存気体を除去した脱気液と
して供給されている。しかしながら、脱気液の用途とし
て、例えば、超音波洗浄に用いる洗浄液等は、被洗浄物
の種類により脱気度を調整することが要望されている
が、従来の真空脱気手段では脱気度を調整しつつ、所定
の範囲で運転するというものはなく、真空ポンプの能力
に応じて最低圧力で運転しているにすぎない。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】この発明は、所定の脱
気度を有する脱気液を供給することのできる真空脱気に
おける脱気度調整方法を提供することを目的とするもの
である。
【0004】
【課題を解決するための手段】即ち、この発明は、上記
課題を解決するためになされたものであって、被脱気液
の供給ラインと脱気液の排出ラインとを備えた脱気手段
に真空ポンプを接続し、該真空ポンプにより前記脱気手
段内の被脱気液を真空脱気する方法において、前記脱気
手段内の真空圧力を検出し、該検出値に基づいて前記真
空ポンプのON、OFFを制御することを特徴としてい
る。
【0005】
【作用】この発明によれば、脱気手段内の真空圧力を検
出し、この検出値が設定値となった時点で真空ポンプを
ONあるいはOFFさせて脱気手段内の真空圧力を所定
圧力にする。
【0006】
【実施例】以下、この発明の実施例を図面に基づいて詳
細に説明する。図1は、この発明を実施した真空脱気装
置の構成を示す説明図である。図中1は、脱気手段とし
て適用した脱気塔であって、上部に被脱気液を供給する
供給ライン2を接続し先端部にスプレーノズル2aを挿
着し、他端は被脱気液供給源(図示省略)に連通してい
る。また、前記脱気塔1の下部に脱気液を取り出す排出
ライン3を接続し、脱気液を各機器(図示省略)へ供給
する。
【0007】前記脱気塔1内を真空脱気する手段とし
て、例えば水封式の真空ポンプ4を設け、この真空ポン
プ4と前記脱気塔1の上部との間を真空吸引ライン5で
接続し、この真空吸引ライン5の接続部下方に、脱気塔
1内の真空圧力を検出する真空圧力センサ6を挿設し、
この真空圧力センサ6と前記真空ポンプ4との間を回線
7で接続し、この回線7の途中に前記真空圧力センサ6
の検出信号により真空ポンプ4の運転をON、OFFさ
せる制御機構(図示省略)を挿入している。図中8は封
水路、9は排気路である。尚、真空圧力センサ6は、無
段階に圧力範囲を設定できる半導体式圧力センサが好適
である。
【0008】つぎに、前記脱気塔1内の真空圧力と被脱
気液の脱気度(溶存気体濃度(DO値))の関係を、例
えば被脱気液に水道水を用いた場合を図2に示す。図2
において、この水道水の当初の溶存気体濃度を8ppm と
し、この水道水の脱気後の所定溶存気体濃度を3ppm と
設定すると、前記脱気塔1内の真空圧力を約250〜3
00torrに設定すればよい。そこで、前記真空圧力セン
サ6の検出信号により真空ポンプ4の運転をON、OF
Fさせる制御機構(図示省略)に、前記真空圧力250
torr〜300torrでON、OFFするように真空ポンプ
4の作動域をセット(図3参照)する。即ち、前記真空
ポンプ4の駆動により脱気塔1内の真空圧力が250to
rrに達すると前記真空ポンプ4を停止する。脱気塔1内
の真空圧力は、前記真空ポンプ4を停止した時点から脱
気気体により上昇し、真空圧力が300torrに至ると再
び真空ポンプ4を運転し、以後このサイクルをくり返す
ことにより所定の脱気度を有する脱気液を供給すること
ができる。
【0009】前記実施例においては、脱気手段として、
脱気塔方式による場合について説明したが、この発明
は、この実施例に限定されるものではなく、膜式脱気方
式によっても同様の作用効果を奏することができる。し
たがって、実施に応じ、脱気手段として膜式脱気方式に
よることも好適である。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、脱気手段の真空圧力を検出し、該検出値に基づいて
前記真空ポンプをON、OFFさせて真空圧力を調整す
るので、所定の脱気度を有する脱気液とすることができ
る。又、真空ポンプをON、OFF制御するので、従来
の真空ポンプを連続運転したものに比し省エネルギー効
果は大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明を実施した真空脱気装置の構成を示す
説明図である。
【図2】図1の脱気塔内の真空圧力とDO値の関係を示
す線図である。
【図3】図1の真空圧力センサの検出信号により、真空
ポンプをON、OFF制御する作動域を示す説明図であ
る。
【符号の説明】
1 脱気手段(脱気塔) 2 供給ライン 3 排出ライン 4 真空ポンプ 5 真空吸引ライン 6 真空圧力センサ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被脱気液の供給ライン2と脱気液の排出
    ライン3とを備えた脱気手段1に真空ポンプ4を接続
    し、該真空ポンプ4により前記脱気手段1内の被脱気液
    を真空脱気する方法において、前記脱気手段1内の真空
    圧力を検出し、該検出値に基づいて前記真空ポンプ4の
    ON、OFFを制御することを特徴とする真空脱気にお
    ける脱気度調整方法。
JP15923694A 1994-06-17 1994-06-17 真空脱気における脱気度調整方法 Pending JPH08907A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1756672B1 (en) * 2004-06-16 2010-04-14 ASML Netherlands B.V. Vacuum system for immersion photolithography
US8934082B2 (en) 2004-10-18 2015-01-13 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method

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US10168624B2 (en) 2004-06-16 2019-01-01 Asml Netherlands B.V. Vacuum system for immersion photolithography
US8934082B2 (en) 2004-10-18 2015-01-13 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US9753380B2 (en) 2004-10-18 2017-09-05 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method
US10248033B2 (en) 2004-10-18 2019-04-02 Asml Netherlands B.V. Lithographic apparatus and device manufacturing method

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