JPH088525A - 半導体パッケージのプリント基板接続および交換法 - Google Patents

半導体パッケージのプリント基板接続および交換法

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JPH088525A
JPH088525A JP6139866A JP13986694A JPH088525A JP H088525 A JPH088525 A JP H088525A JP 6139866 A JP6139866 A JP 6139866A JP 13986694 A JP13986694 A JP 13986694A JP H088525 A JPH088525 A JP H088525A
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JP
Japan
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hole
semiconductor package
printed circuit
circuit board
solder
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JP6139866A
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English (en)
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Mitsuyuki Niwa
光之 丹羽
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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    • H05K3/0094Filling or covering plated through-holes or blind plated vias, e.g. for masking or for mechanical reinforcement
    • HELECTRICITY
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    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
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    • H05K3/3457Solder materials or compositions; Methods of application thereof

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  • Multi-Conductor Connections (AREA)
  • Coupling Device And Connection With Printed Circuit (AREA)
  • Electric Connection Of Electric Components To Printed Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】多ピンの半導体パッケージのプリント基板への
ハンダ接続およびその半導体パッケージの交換を容易に
行なう。 【構成】プリント基板2に半導体パッケージ1のリード
ピンの配列に一致する位置に、ブラインド形スルーホー
ル3を形成する。スルーホール3は、リードピンが挿入
される上部スルーホール3aと、裏面側に貫通した下部
スルーホール3bおよび上部/下部を分離するバリアー
3cで構成される。上部スルーホール3aに、予め一定
量の半田8を供給しておき、加熱装置7のアレー鏝4が
下部スルーホール3bに当るようにのせて加熱し、スル
ーホール内の半田8を加熱溶融する。この状態で半導体
パッケージ1を搭載し半田接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体パッケージをプ
リント基板に接続することと、その交換方法に関する。
【0002】
【従来の技術】マイクロプロセッサーのような半導体
は、年々性能向上が進むことにより、すでにコンピュー
タ装置に使用されているマイクロプロセッサーを、使用
先で新しいプロセッサーに交換することも必要になって
いる。このような半導体を装置に実装するにあたって
は、交換を容易にする必要性から、プリント基板に通常
の半田接続に代わり、ソケット実装する等の手段が必要
になる。
【0003】しかし半導体は高速化、高集積化が進むと
ともに入出力ピン数が増大し、ピングリッドアレー(P
GA)に代表される多ピンの半導体パッケージに搭載さ
れるため、ソケットに対する挿入抜去力が増大し、適用
出来るピン数におのずと制限が加わる。そのため例えば
特公昭60−52547号公報に示されるような、ソケ
ットコンタクトをレバー等で開閉させる方法や、半導体
パッケージ着脱用の専用工具を使用する等の手段がとら
れている。しかしこの様な方法は半導体パッケージのリ
ードピンをソケットとの接続上、長いリードと、信頼性
を維持するための貴金属メッキ処理が必要になり、コス
トアップの要因となると共に、高密度になってさらにピ
ンとピンの間隔が狭くなると物理的に製作が困難とな
る。
【0004】また他の手段として、特に接続の密度を上
げる方法として、例えば実公昭60ー29819号公報
に示されるように、プリント基板側に尖頭形のコンタク
トピンを立て、半導体パッケージ側に設けた軟質低融点
金属からなる接触子と機械的に接触させる方法が提案さ
れているが、半導体パッケージが特殊になる点と、保持
および位置決め機構が必要となることから、コスト面で
の配慮に欠ける難点がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】本発明は以上の問題に
ついて、特に300ピンを越える多ピンの半導体パッケ
ージに対して、プリント基板への搭載および交換を容易
に行なうことが出来る手段を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】
(1)半導体パッケージのリード端子が挿入されるプリ
ント基板のスルーホールが、ブラインド形でかつ導体は
裏面への貫通形にすること、(2)該スルーホールに予
め適量の半田を供給しておくこと、(3)また該スルー
ホールの裏面側に当接して、スルーホール内の半田を一
括して加熱溶融するための、アレー鏝および加熱装置を
用意することから構成される。
【0007】
【作用】半導体パッケージのリードが挿入されるブライ
ンド形スルーホールに対し、加熱装置によって熱せられ
たアレー鏝を、プリント基板の裏面側から一括して当接
し、スルーホール導体から伝熱させて該スルーホール内
の半田を加熱溶融させ、半導体パッケージのリードピン
を一括してスルーホール内で半田接続させる。
【0008】また交換する場合もまったく同じ要領で、
アレー鏝でスルーホールを加熱し、半田を溶融させた状
態で、パッケージの交換を行なう。
【0009】
【実施例】本発明の実施例を図1で説明する。半導体パ
ッケージ1は、論理チップを内蔵するチップキャリアー
1aと入出力用リードピン1bからなる。プリント基板
2にはリードピン1bの配列に一致する位置に、ブライ
ンド形スルーホール3を形成する。ブラインド形スルー
ホール3は、リードピン1bが挿入される上部スルーホ
ール3aと、裏面側に貫通した下部スルーホール3bお
よび上部/下部を分離するバリアー3cで構成される。
【0010】また加熱装置7は、ブラインド形スルーホ
ール3の配列に一致する位置に並べられたアレー鏝4に
対し、熱を供給するヒータ部5と、アレー鏝4とプリン
ト基板2との密着性を保持するためのスプリング6で構
成される。
【0011】次に動作を説明する。半導体パッケージ1
をプリント基板2に接続するにあたって、まず上部スル
ーホール3aに、一定量の半田8を予め供給しておく。
半田はプリント基板製造段階でスルーホール内に予め形
成するか、プリント基板組立時点で印刷法によりクリー
ム半田を塗布してもよい。次にプリント基板2を加熱装
置7に対し、アレー鏝4が下部スルーホール3bに当る
ようにのせて、ヒータ部5を加熱する。ヒータ部5の熱
はアレー鏝4および下部スルーホール3bを伝わって、
上部スルーホール3aに伝達し、スルーホール内の半田
8を加熱溶融する。この状態で、上部スルーホール3a
に半導体パッケージ1のリードピン1bを挿入し、加熱
装置を外すことで、リードピン3とプリント基板が半田
接続される。すでに半田接続された半導体パッケージを
プリント基板から取り外す場合は、以上の動作を逆に行
なうことは言うまでもない。
【0012】ここで、最初に半導体パッケージを半田付
けする場合には、上記加熱装置を必ずしも使用する必要
はなく、他の部品の半田付けと全く同じ工程、すなわち
クリーム半田印刷→部品搭載→リフローの方法で半田付
けすることもできる。
【0013】スルーホールに供給する半田8は、上部ス
ルーホール3aの容積からリードピンの体積をマイナス
し、リードピンの表面張力による吸い上がり分をプラス
した極僅かの量でよい。半導体パッケージを交換する
と、表面張力でリードに付着した半田量は減少するが、
交換が必要な回数自体1〜2程度と少なく特に不都合は
ない。
【0014】また加熱装置7の熱源は、アレー鏝4の先
端が直接スルーホール3を加熱するために熱の伝達効率
がよく、半田8を溶融するに必要な最低限の熱源で済む
利点がある。
【0015】図2は代表的な多ピン半導体パッケージの
正面および側面図を示す。
【0016】図3はプリント基板2のブラインド形スル
ーホール3の拡大断面を示す。バリアー3cの周囲は、
導体3dによって、上部スルーホール3aと下部スルー
ホール3bとの熱伝達および電気的接続を兼ねる目的を
持っている。図3は4層プリント基板の例を示すが、6
層、8層のプリント基板においても、公知のブラインド
スルーホール製造プロセスを用いることにより、製造可
能である。またバリヤー3cはプリント基板のセンター
にある必要はなく、下部スルーホール3bを無くして、
裏面側に寄せて形成することもできる。
【0017】また他の実施例として、ブラインドスルー
ホールでなく一般の貫通型スルーホール基板を用い、ス
ルーホール内にバリアーとなる別のピン(コッターピ
ン)を打ち込む方法も可能である。
【0018】
【発明の効果】本発明によって以下の効果を得ることが
できる。
【0019】(1)高価なソケットを使用することな
く、半導体パッケージの交換が容易に可能となる。
【0020】(2)半導体パッケージのリードにソケッ
トとの接触に必要な金等の貴金属メッキが不要で、コス
トが低減できる。
【0021】(3)半導体パッケージのリードの長さを
短くできることにより、リードのインダクタンス成分が
低減でき、信号の高速化に対応できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体パッケージとプリント基板
との接続および交換法の実施例を示す。
【図2】半導体パッケージの正面および側面図である。
【図3】プリント基板の1スルーホールを示す断面図で
ある。
【符号の説明】
1…半導体パッケージ、 2…プリント基板、 3…ブラインド形スルーホール、 4…アレー鏝、 5…ヒータ、 6…スプリング、 7…加熱装置、 8…半田。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】半導体パッケージとプリント基板の接続に
    おいて、半導体リードピンの配列に合わせて設けられた
    複数の、ブラインド形でかつ導体は裏面までの貫通形ス
    ルーホールであって、そのスルーホールに予め一定量の
    半田を塗布したプリント基板に対し、該スルーホールの
    裏面から、個々のスルーホールの配列に一致させたアレ
    ータイプ半田鏝を一括して当接し、半導体とプリント基
    板とを半田接続することを特徴とする、半導体パッケー
    ジのプリント基板への接続および交換法。
  2. 【請求項2】半導体パッケージとプリント基板の接続に
    おいて、半導体リードピンの配列に合わせて設けられた
    複数の、ブラインド形でかつ導体は裏面までの貫通形ス
    ルーホールであって、上部の穴と下部の穴の途中ないし
    片端側に、上部と下部を電気的に接続する導体で覆われ
    たバリアーを有することを特徴とする、プリント基板。
  3. 【請求項3】半導体リードピンの配列に合わせて設けら
    れた複数の、貫通形スルーホールに対し、金属性ピンを
    スルーホールの途中まで埋込んだことを特徴とする、請
    求項1の半導体パッケージのプリント基板への接続およ
    び交換法。
JP6139866A 1994-06-22 1994-06-22 半導体パッケージのプリント基板接続および交換法 Pending JPH088525A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0888038A (ja) * 1994-09-05 1996-04-02 Siemens Ag 再利用可能な多極差込み結合装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0888038A (ja) * 1994-09-05 1996-04-02 Siemens Ag 再利用可能な多極差込み結合装置

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