JPH0877604A - 情報記録媒体 - Google Patents

情報記録媒体

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JPH0877604A
JPH0877604A JP6207569A JP20756994A JPH0877604A JP H0877604 A JPH0877604 A JP H0877604A JP 6207569 A JP6207569 A JP 6207569A JP 20756994 A JP20756994 A JP 20756994A JP H0877604 A JPH0877604 A JP H0877604A
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JP
Japan
Prior art keywords
layer
thickness
recording medium
substrate
information recording
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP6207569A
Other languages
English (en)
Inventor
Masashi Yoshihiro
昌史 吉弘
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Maxell Holdings Ltd
Original Assignee
Hitachi Maxell Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Maxell Ltd filed Critical Hitachi Maxell Ltd
Priority to JP6207569A priority Critical patent/JPH0877604A/ja
Publication of JPH0877604A publication Critical patent/JPH0877604A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 耐環境性に優れ、長寿命で信頼性の高い再生
専用の情報記録媒体を提供する。 【構成】 樹脂基板1と金属反射層3との間、ならびに
金属反射層3と有機樹脂保護層5との間に、CeO2
La23,SiO,SiO2などの誘電体層2,4を設
けた。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は再生専用の情報記録媒体
に係わり、さらに詳しくはその耐環境性の向上および再
生特性の改良に関する。
【0002】
【従来の技術】従来のこの種の媒体においては、樹脂基
板上に直接金属反射膜を形成し、有機樹脂保護膜を金属
反射膜上に塗布し硬化させていた。この構造の媒体は安
価に製造できるが、基板および保護膜からの透水あるい
は有機物中のハロゲン等の不純物により、腐食によるピ
ンホール等の欠陥が発生しやすくまたその欠陥の成長速
度も大きいという欠点があった。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記従来の
媒体が持っていた腐食をしやすくかつその成長速度が速
いという欠点を解決し、以て耐環境性に優れ、長寿命で
信頼性の高い再生専用の情報記録媒体を提供することを
目的とする。
【0004】
【課題を解決するための手段】反射層である金属膜の腐
食を防止するために、基板や保護膜に用いる樹脂の吸水
率や透水率を下げたり、樹脂内の不純物濃度を下げるこ
とによってある程度腐食を防止できるが、それでも充分
ではない。
【0005】金属の腐食を防止するには、腐食に特に関
与する物質や、元素、イオン等を金属膜から遮断するこ
とが最も効果的である。
【0006】金属膜を基板や保護膜から遮断する誘電体
材料としては、Ce,La,Si,In,Al,Ge,
Pb,Sn,Bi,Te,Ta,Sc,Y,Ti,Z
r,V,Nb,CrおよびWより成る群より選ばれた少
なくとも一元素の酸化物、Cd,Zn,Ga,In,S
b,Ge,Sn,Pb,Biより成る群より選ばれた少
なくとも一元素の硫化物、またはセレン化物、Mg,C
e,Caなどのふっ化物、Si,Al,Ta,Bなどの
窒化物、B,Siなどの炭化物、Tiなどのホウ化物、
ホウ素、炭素より成るものである。
【0007】具体的には、例えば主成分がCeO2,L
23,SiO,SiO2,In23,Al23,Ge
O,GeO2,PbO,SnO,SnO2,Bi23,T
eO2,Ta25,Sc23,Y23,TiO2,ZrO
2,V25,Nb25,Cr23,WO2,WO3,Cd
S,ZnS,CdSe,ZnSe,In23,In2
3,Sb23,Sb2Se3,Ga23,Ga2Se3
GeS,GeSe,GeSe2,SnS,SnS2,Sn
Se,SnSe2,PbS,PbSe,Bi2Se3,B
23,MgF2,CeF3,CaF2,TaN,Si3
4,AlN,BN,Si,TiB2,B4C,SiC,
B,Cのうちの一者に近い組成を持ったものおよびこれ
らの混合物である。
【0008】これらのうち硫化物ではZnSに近いもの
が屈折率が適当な大きさで、膜が安定である点で好まし
い。
【0009】窒化物では表面反射率があまり高くなく、
膜が安定であり強固である点で、TaN,Si34,A
lNまたはAlSiN2に近い組成のものが好ましい。
酸化物で好ましいのはY23,Sc23,CeO2,T
iO2,ZrO2,SiO,Ta25,In23,Al2
3,SnO2またはSiO2に近い組成のものである。
【0010】この誘電体膜は、一層で構成しても良いし
膜厚方向に組成が変化していても良い。この変化は、連
続的であっても良いし複数の層で構成された多層膜であ
っても良い。
【0011】
【作用】前述のように本発明では、基板と反射層の間お
よび反射層と有機保護層の間に誘電体層を設けることに
より、情報記録媒体の耐環境性を向上させて、充分に高
いデータの信頼性を確保することができる。
【0012】
【実施例】以下、図1と共に本発明の一実施例を詳細に
説明する。
【0013】直径12cm、厚さ1.2mmのROMデ
ータを位相ピットで記録してあるプリグルーブ付きのポ
リカーボネート基板1を、複数のターゲットを持ち、膜
厚の均一性、再現性の良いマグネトロンスパッタリング
装置に入れる。そして基板1上に屈折率1.7の窒化珪
素層2を約50nm形成し、次にAl反射層3を約50
nm形成し、その上に窒化珪素層4を約100nm形成
した。最後に、紫外線硬化樹脂による保護層5を100
μmの厚さに形成した。
【0014】上記のように作製したディスクについて次
のようにして高音高湿環境下で耐環境寿命試験を行っ
た。ディスクの線速を1.2m/sとし、半導体レーザ
(波長780nm)の光を約1mWに保って、記録ヘッ
ド中のレンズで集光して基板を通して反射層に照射し、
反射光を検出することによってトラッキングを行いなが
ら反射光の強弱を検出し、情報を再生した。そのデータ
のエラーレートを測定した。
【0015】その後、80℃相対湿度90%の環境に設
定した高温高湿炉に一定期間放置した後、再びエラーレ
ートの測定を行った。その操作をエラーレートの悪化す
るまで繰り返した。
【0016】その結果、図3に示した従来の構造の媒体
と比べて2倍以上の寿命が得られた。結果の1例を図4
に示す。図中のAは本発明、Bは従来のものである。
【0017】基板としては、図2に示したようにプリグ
ルーブを持たず、ROMデータを記録した位相ピットの
みのポリカーボネート基板でも同様の結果が得られた。
【0018】また、反射膜としては、高反射率の得られ
るAl,Au,Ag,Cu,Ptよりなる群より選ばれ
た少なくとも一元素を用いたときで、同様の結果が得ら
れた。
【0019】金属膜を基板や保護膜から遮断する誘電体
材料としては、金属膜を基板や保護膜から遮断する誘電
体材料としては、Ce,La,Si,In,Al,G
e,Pb,Sn,Bi,Te,Ta,Sc,Y,Ti,
Zr,V,Nb,CrおよびWなり成る群より選ばれた
少なくとも一元素の酸化物、Cd,Zn,Ga,In,
Sb,Ge,Sn,Pb,Biより成る群より選ばれた
少なくとも一元素の硫化物、またはセレン化物、Mg,
Ce,Caなどのふっ化物、Si,Al,Ta,Bなど
の窒化物、B,Siなどの炭化物、Tiなどのホウ化
物、ホウ素、炭素より成るものである。
【0020】具体的には、例えば主成分がCeO2,L
23,SiO,SiO2,In23,Al23,Ge
O,GeO2,PbO,SnO,SnO2,Bi23,T
eO2,Ta25,Sc23,Y23,TiO2,ZrO
2,V25,Nb25,Cr23,WO2,WO3,Cd
S,ZnS,CdSe,ZnSe,In23,In2
3,Sb23,Sb2Se3,Ga23,Ga2Se3
GeS,GeSe,GeSe2,SnS,SnS2,Sn
Se,SnSe2,PbS,PbSe,Bi2Se3,B
23,MgF2,CeF3,CaF2,TaN,Si3
4,AlN,BN,Si,TiB2,B4C,SiC,
B,Cのうちの一者に近い組成を持ったものおよびこれ
らの混合物を用いたときに耐環境性が向上した。
【0021】
【発明の効果】以上説明したように、本発明では基板と
反射層の間および反射層と有機保護層の間に誘電体層を
設けることによって、再生専用の情報記録媒体の耐環境
性を向上させ、充分に高いデータの信頼性を確保するこ
とができた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例に係る再生専用情報記録媒体の
断面図である。
【図2】本発明の他の実施例に係る再生専用情報記録媒
体の断面図である。
【図3】従来の再生専用光記録媒体の断面図である。
【図4】本発明の情報記録媒体のエラーレートの環境試
験結果を示す特性図である。
【符号の説明】
1 ポリカーボネート基板 2 窒化珪素層 3 Al反射層 4 窒化珪素層 5 保護層

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光スポットの追従用の溝と情報を記録し
    た位相ピットのいずれかあるいはその両方を有する樹脂
    基板と光を反射する反射層である金属膜を有し、光源か
    ら照射した光を反射層に絞り込み、位相ピットの有無に
    よって生じる反射光量の違いにより情報を再生する再生
    専用の情報記録媒体において、 樹脂基板と金属反射膜との間および金属膜上に、誘電体
    層を設けて金属反射膜を覆ったことを特徴とする情報記
    録媒体。
  2. 【請求項2】 請求項1記載において、前記誘電体層の
    材料として、その主成分が、Ce,La,Si,In,
    Al,Ge,Pb,Sn,Bi,Te,Ta,Sc,
    Y,Ti,Zr,V,Nb,CrおよびWよりなる群よ
    り選ばれた少なくとも一元素の酸化物、Cd,Zn,G
    a,In,Sb,Ge,Sn,Pb,Biよりなる群よ
    り選ばれた少なくとも一元素の硫化物、またはセレン化
    物、Mg,Ce,Caなどのふっ化物、Si,Al,T
    a,Bなどの窒化物、B,Siなどの炭化物、Tiなど
    のホウ化物、ホウ素、炭素より成ることを特徴とする情
    報記録媒体。
JP6207569A 1994-08-31 1994-08-31 情報記録媒体 Withdrawn JPH0877604A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6761950B2 (en) 2001-12-07 2004-07-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium and method for producing the same
US6841217B2 (en) 2002-03-20 2005-01-11 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical information recording medium and method for manufacturing the same
US6858278B2 (en) 2001-12-18 2005-02-22 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium and method for producing the same
US6881466B2 (en) 2002-03-19 2005-04-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Information recording medium and method for producing the same
WO2006109534A1 (ja) * 2005-04-01 2006-10-19 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 情報記録媒体とその製造方法
WO2006112312A1 (ja) * 2005-04-13 2006-10-26 Fujifilm Corporation 光記録媒体及びその製造方法

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