JPH087125B2 - 冷熱衝撃試験装置 - Google Patents
冷熱衝撃試験装置Info
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- JPH087125B2 JPH087125B2 JP1318256A JP31825689A JPH087125B2 JP H087125 B2 JPH087125 B2 JP H087125B2 JP 1318256 A JP1318256 A JP 1318256A JP 31825689 A JP31825689 A JP 31825689A JP H087125 B2 JPH087125 B2 JP H087125B2
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- chamber
- temperature
- cooler
- opening
- high temperature
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- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、冷熱衝撃試験装置、詳しくは、高温域から
低温域まで温度を変化させるサイクルを繰り返し、試料
を移動させることなく試験試料の熱衝撃や温度耐久性等
の試験を行なうことのできるようにした冷熱衝撃試験装
置に関する。
低温域まで温度を変化させるサイクルを繰り返し、試料
を移動させることなく試験試料の熱衝撃や温度耐久性等
の試験を行なうことのできるようにした冷熱衝撃試験装
置に関する。
（従来の技術） 一般に冷熱衝撃試験装置は、例えば特公昭58−49817
号公報に示され、又、第10図に概略的に示したように、
一側に外気取入用扉（Ａ）を備えたテスト室（Ｂ）に隣
接して予熱室（Ｃ）とクーラー（Ｄ）を備えた予冷室
（Ｅ）とを設け、前記テスト室（Ｂ）と前記予熱室
（Ｃ）とは高温ダンパ（Ｆ）により、又、前記テスト室
（Ｂ）と前記予冷室（Ｅ）とは低温ダンパ（Ｇ）によ
り、それぞれ区画されており、これらダンパ（Ｆ）
（Ｇ）の開閉により、前記テスト室（Ｂ）の温度を高温
にしたり、低温にしたりする冷熱衝撃サイクルを可能に
して、前記テスト室（Ｂ）内の試料の熱衝撃試験を行い
得るようにしている。また、前記外気取入用扉（Ａ）の
開閉操作により前記テスト室（Ｂ）に外気を取り入れ
て、前記テスト室（Ｂ）を常温にできるようにして、高
温から低温は或は低温から高温に移行するときに一旦常
温にすることにより、その移行の速度を早くできるよう
にしている。尚、（Ｈ）はファンである。
号公報に示され、又、第10図に概略的に示したように、
一側に外気取入用扉（Ａ）を備えたテスト室（Ｂ）に隣
接して予熱室（Ｃ）とクーラー（Ｄ）を備えた予冷室
（Ｅ）とを設け、前記テスト室（Ｂ）と前記予熱室
（Ｃ）とは高温ダンパ（Ｆ）により、又、前記テスト室
（Ｂ）と前記予冷室（Ｅ）とは低温ダンパ（Ｇ）によ
り、それぞれ区画されており、これらダンパ（Ｆ）
（Ｇ）の開閉により、前記テスト室（Ｂ）の温度を高温
にしたり、低温にしたりする冷熱衝撃サイクルを可能に
して、前記テスト室（Ｂ）内の試料の熱衝撃試験を行い
得るようにしている。また、前記外気取入用扉（Ａ）の
開閉操作により前記テスト室（Ｂ）に外気を取り入れ
て、前記テスト室（Ｂ）を常温にできるようにして、高
温から低温は或は低温から高温に移行するときに一旦常
温にすることにより、その移行の速度を早くできるよう
にしている。尚、（Ｈ）はファンである。
（発明が解決しようとする課題） ところで、前記テスト室（Ｂ）内に取り入れる外気は
普通水蒸気を含むものであるから、前記予冷室（Ｅ）で
冷却されると、結露が生じ、しかも前記クーラー（Ｄ）
をフロストすることになり、前記クーラー（Ｄ）の能力
を低下させるから、一般に前記クーラー（Ｄ）に供給す
る冷媒を逆に流したり、またホットガスを供給したりし
て前記クーラー（Ｄ）をデフロストするのであるが、デ
フロストにかなり時間を要する問題があった。
普通水蒸気を含むものであるから、前記予冷室（Ｅ）で
冷却されると、結露が生じ、しかも前記クーラー（Ｄ）
をフロストすることになり、前記クーラー（Ｄ）の能力
を低下させるから、一般に前記クーラー（Ｄ）に供給す
る冷媒を逆に流したり、またホットガスを供給したりし
て前記クーラー（Ｄ）をデフロストするのであるが、デ
フロストにかなり時間を要する問題があった。
本発明は、従来のこのような問題に鑑みて発明したも
ので、その目的とするところは、予熱室には、高温空気
が存在することに注目して、この高温空気の熱を利用す
ることにより、クーラーのデフロスト時間を短くでき、
しかも、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の
試料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにし、さ
らにまた、テスト室内の試験試料のテスト条件により、
予冷室内の高温空気によるデフロストを行う場合の不都
合を解消できるようにした冷熱衝撃試験装置を提供する
ことにある。
ので、その目的とするところは、予熱室には、高温空気
が存在することに注目して、この高温空気の熱を利用す
ることにより、クーラーのデフロスト時間を短くでき、
しかも、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の
試料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにし、さ
らにまた、テスト室内の試験試料のテスト条件により、
予冷室内の高温空気によるデフロストを行う場合の不都
合を解消できるようにした冷熱衝撃試験装置を提供する
ことにある。
（課題を解決するための手段） そこで、請求項１記載の発明は、デフロスト時間を短
縮できながら、高温空気を熱源としてデフロストを行う
場合、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の試
料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにするた
め、一側に、外気に連通する開口部（18）を開閉する常
温ダンパ（19）と、他側に、試験試料を挿入する挿入口
（16）を開閉するテスト室扉（17）とを備えたテスト室
（10）に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター（３）と
ファン（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍機（６）
に接続するクーラー（７）とファン（８）を配置した予
冷室（９）とを隣接して設けると共に、前記テスト室
（10）と前記予熱室（５）とを連通させる開口部（12）
を開閉する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト室（1
0）と前記予冷室（９）とを連通する開口部（13）を開
閉する低温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温
ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室
（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト
時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホットガ
スを流すホットガス弁（40）をもったホットガスバイパ
ス回路（41）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（1
4）（15）をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源と
して前記クーラー（７）のデフロストを行うとき、前記
予冷室（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフ
ロストによるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフ
ロスト検知センサ（48）を設け、このデフロスト検知セ
ンサ（48）の出力により前記ダンパ（14）（15）を閉
じ、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に切
り換えるデフロスト制御コントローラ（49）を設けてい
る構成にした。
縮できながら、高温空気を熱源としてデフロストを行う
場合、デフロストにより溶けたドレンがテスト室内の試
料へ水飛びをするのを防ぐことができるようにするた
め、一側に、外気に連通する開口部（18）を開閉する常
温ダンパ（19）と、他側に、試験試料を挿入する挿入口
（16）を開閉するテスト室扉（17）とを備えたテスト室
（10）に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター（３）と
ファン（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍機（６）
に接続するクーラー（７）とファン（８）を配置した予
冷室（９）とを隣接して設けると共に、前記テスト室
（10）と前記予熱室（５）とを連通させる開口部（12）
を開閉する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト室（1
0）と前記予冷室（９）とを連通する開口部（13）を開
閉する低温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温
ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室
（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト
時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホットガ
スを流すホットガス弁（40）をもったホットガスバイパ
ス回路（41）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（1
4）（15）をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源と
して前記クーラー（７）のデフロストを行うとき、前記
予冷室（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフ
ロストによるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフ
ロスト検知センサ（48）を設け、このデフロスト検知セ
ンサ（48）の出力により前記ダンパ（14）（15）を閉
じ、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に切
り換えるデフロスト制御コントローラ（49）を設けてい
る構成にした。
同様に、請求項２記載の発明は、一側に、外気に連通
する開口部（18）を開閉する常温ダンパ（19）と、他側
に、試験試料を挿入する挿入口（16）を開閉するテスト
室扉（17）とを備えたテスト室（10）に、断熱隔壁（1
1）を介して、ヒーター（３）とファン（４）を配置し
た予熱室（５）と、冷凍機（６）に接続するクーラー
（７）とファン（８）を配置した予冷室（９）とを隣接
して設けると共に、前記テスト室（10）と前記予熱室
（５）とを連通させる開口部（12）を開閉する高温ダン
パ（14）と、又、前記テスト室（10）と前記予冷室
（９）とを連通する開口部（13）を開閉する低温ダンパ
（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置において、前記クー
ラー（７）のフロスト時、前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を開放すると共に、前記常温ダンパ（19）を
閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）とを連通さ
せて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記予熱室
（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空気を熱
源として前記クーラー（７）のデフロストを行うごとく
し、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト時、予冷室
（９）に内装するクーラー（７）へホットガスを流すホ
ットガス弁（40）をもったホットガスバイパス回路（4
1）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（14）（15）
をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記ク
ーラー（７）のデフロストを行うとき、前記予冷室
（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフロスト
によるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフロスト
検知センサ（48）を設ける一方、前記予冷室（９）に内
装するファン（８）を可変速モータ（Ｍ）に連動させ
て、前記デフロスト検知センサ（48）の出力により前記
モータ（Ｍ）を、前記ドレンの飛散を不能にする低速に
制御するモータ制御器（81）を設けている構成にした。
する開口部（18）を開閉する常温ダンパ（19）と、他側
に、試験試料を挿入する挿入口（16）を開閉するテスト
室扉（17）とを備えたテスト室（10）に、断熱隔壁（1
1）を介して、ヒーター（３）とファン（４）を配置し
た予熱室（５）と、冷凍機（６）に接続するクーラー
（７）とファン（８）を配置した予冷室（９）とを隣接
して設けると共に、前記テスト室（10）と前記予熱室
（５）とを連通させる開口部（12）を開閉する高温ダン
パ（14）と、又、前記テスト室（10）と前記予冷室
（９）とを連通する開口部（13）を開閉する低温ダンパ
（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置において、前記クー
ラー（７）のフロスト時、前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を開放すると共に、前記常温ダンパ（19）を
閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）とを連通さ
せて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記予熱室
（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空気を熱
源として前記クーラー（７）のデフロストを行うごとく
し、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト時、予冷室
（９）に内装するクーラー（７）へホットガスを流すホ
ットガス弁（40）をもったホットガスバイパス回路（4
1）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（14）（15）
をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記ク
ーラー（７）のデフロストを行うとき、前記予冷室
（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフロスト
によるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフロスト
検知センサ（48）を設ける一方、前記予冷室（９）に内
装するファン（８）を可変速モータ（Ｍ）に連動させ
て、前記デフロスト検知センサ（48）の出力により前記
モータ（Ｍ）を、前記ドレンの飛散を不能にする低速に
制御するモータ制御器（81）を設けている構成にした。
更に、請求項３記載の発明は、高温空気を熱源とする
デフロスト運転において、テスト室内の試験試料のテス
ト条件により、予冷室内の高温空気によるデフロストを
行う場合の不都合、即ち、テスト室（10）に前記高温空
気の温度で問題が生ずる試験試料が装入されている状態
でデフロストを行う場合の問題点を解消するため、一側
に、外気に連通する開口部（18）を開閉する常温ダンパ
（19）と、他側に、試験試料を挿入する挿入口（16）を
開閉するテスト室扉（17）とを備えたテスト室（10）
に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター（３）とファン
（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍機（６）に接続
するクーラー（７）とファン（８）を配置した予冷室
（９）とを隣接して設けると共に、前記テスト室（10）
と前記予熱室（５）とを連通させる開口部（12）を開閉
する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト室（10）と前
記予冷室（９）とを連通する開口部（13）を開閉する低
温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置において、
前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び低温ダ
ンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温ダンパ
（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）と
を連通させて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記予
熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空気
を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行うご
とくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト時、予冷室
（９）に内装するクーラー（７）へホットガスを流すホ
ットガス弁（40）をもったホットガスバイパス回路（4
1）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（14）（15）
をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記ク
ーラー（７）のデフロストを行うときのヒータ制御温度
と、テスト室（10）の高温さらし制御時におけるヒータ
制御温度とを比較し、テスト時のヒータ制御温度がデフ
ロスト時のヒータ制御温度より低いとき、前記高温及び
低温ダンパ（14）（15）を閉じ、前記予熱室（５）の高
温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転に制御するデフロ
スト制御コントローラ（49）を設けている構成にした。
デフロスト運転において、テスト室内の試験試料のテス
ト条件により、予冷室内の高温空気によるデフロストを
行う場合の不都合、即ち、テスト室（10）に前記高温空
気の温度で問題が生ずる試験試料が装入されている状態
でデフロストを行う場合の問題点を解消するため、一側
に、外気に連通する開口部（18）を開閉する常温ダンパ
（19）と、他側に、試験試料を挿入する挿入口（16）を
開閉するテスト室扉（17）とを備えたテスト室（10）
に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター（３）とファン
（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍機（６）に接続
するクーラー（７）とファン（８）を配置した予冷室
（９）とを隣接して設けると共に、前記テスト室（10）
と前記予熱室（５）とを連通させる開口部（12）を開閉
する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト室（10）と前
記予冷室（９）とを連通する開口部（13）を開閉する低
温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装置において、
前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び低温ダ
ンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温ダンパ
（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）と
を連通させて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記予
熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空気
を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行うご
とくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト時、予冷室
（９）に内装するクーラー（７）へホットガスを流すホ
ットガス弁（40）をもったホットガスバイパス回路（4
1）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（14）（15）
をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源として前記ク
ーラー（７）のデフロストを行うときのヒータ制御温度
と、テスト室（10）の高温さらし制御時におけるヒータ
制御温度とを比較し、テスト時のヒータ制御温度がデフ
ロスト時のヒータ制御温度より低いとき、前記高温及び
低温ダンパ（14）（15）を閉じ、前記予熱室（５）の高
温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転に制御するデフロ
スト制御コントローラ（49）を設けている構成にした。
（作用） 請求項１〜３記載の各発明では、前記クーラー（７）
のデフロストを行うとき、前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を開放することにより、前記予熱室（５）と
予冷室（９）とを前記テスト室（10）を介して連通さ
せ、前記予熱室（５）の高温空気を前記予熱室（５）か
ら前記予冷室（９）に循環させることができ、この高温
空気の熱を前記予冷室（９）内のクーラー（７）に与え
ることができ、該クーラー（７）のデフロストに要する
時間を短縮することができるのである。
のデフロストを行うとき、前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を開放することにより、前記予熱室（５）と
予冷室（９）とを前記テスト室（10）を介して連通さ
せ、前記予熱室（５）の高温空気を前記予熱室（５）か
ら前記予冷室（９）に循環させることができ、この高温
空気の熱を前記予冷室（９）内のクーラー（７）に与え
ることができ、該クーラー（７）のデフロストに要する
時間を短縮することができるのである。
また、請求項１、請求項２記載の各発明では、デフロ
スト時間を短縮できながら、高温空気の熱を熱源として
デフロストを行っている場合で、ドレンが、デフロスト
により飛散開始を始めようとするときに、請求項１記載
の発明では、デフロスト検知センサ（48）の出力によっ
て、前記ダンパ（14）（15）を閉じて、ホットガスバイ
パスのみによるデフロスト運転に切り換えたり、また、
請求項２記載の発明では、前記デフロスト検知センサ
（48）の出力によって、前記予冷室（９）のファン
（８）に連動させた可変速モータ（8a）を、ドレンの飛
散を不能にする低速に制御することによって、テスト室
（10）内へのドレンの水飛びを防止することができるの
である。
スト時間を短縮できながら、高温空気の熱を熱源として
デフロストを行っている場合で、ドレンが、デフロスト
により飛散開始を始めようとするときに、請求項１記載
の発明では、デフロスト検知センサ（48）の出力によっ
て、前記ダンパ（14）（15）を閉じて、ホットガスバイ
パスのみによるデフロスト運転に切り換えたり、また、
請求項２記載の発明では、前記デフロスト検知センサ
（48）の出力によって、前記予冷室（９）のファン
（８）に連動させた可変速モータ（8a）を、ドレンの飛
散を不能にする低速に制御することによって、テスト室
（10）内へのドレンの水飛びを防止することができるの
である。
さらにまた、請求項３記載の発明では、デフロスト運
転時の予熱室（５）のヒータ制御温度（T1）と、テスト
時の高温さらし制御によるヒータ制御温度（T2）とを比
較して、テスト時のヒータ制御温度（T2）がデフロスト
時のヒータ制御温度（T1）より低い時、前記高温及び低
温ダンパ（14）（15）を閉じて、前記予熱室（５）の高
温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転を行うことによっ
て、テスト室（10）内の試験試料が高温さらし時の制御
温度より高い高温空気に曝されることを防止できるので
ある。
転時の予熱室（５）のヒータ制御温度（T1）と、テスト
時の高温さらし制御によるヒータ制御温度（T2）とを比
較して、テスト時のヒータ制御温度（T2）がデフロスト
時のヒータ制御温度（T1）より低い時、前記高温及び低
温ダンパ（14）（15）を閉じて、前記予熱室（５）の高
温空気を熱源とするデフロスト運転を中止し、ホットガ
スバイパスのみによるデフロスト運転を行うことによっ
て、テスト室（10）内の試験試料が高温さらし時の制御
温度より高い高温空気に曝されることを防止できるので
ある。
（実施例） 本発明の一実施例を第１〜第４図に基づいて説明す
る。
る。
第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の概略を示
したものであって、基本的には、ハウジング（１）内を
断熱隔壁（２）により区画して、ヒータ（３）及びファ
ン（４）を配置した予熱室（５）と、カスケード式冷凍
機（６）に低温側冷媒回路（28）を介して接続するクー
ラー（７）及びファン（８）を配置した予冷室（９）
と、冷熱衝撃試験を行う試験試料を収容するテスト室
（10）とを設けている。
したものであって、基本的には、ハウジング（１）内を
断熱隔壁（２）により区画して、ヒータ（３）及びファ
ン（４）を配置した予熱室（５）と、カスケード式冷凍
機（６）に低温側冷媒回路（28）を介して接続するクー
ラー（７）及びファン（８）を配置した予冷室（９）
と、冷熱衝撃試験を行う試験試料を収容するテスト室
（10）とを設けている。
前記予熱室（５）及び予冷室（９）は、断熱隔壁（1
1）を挾んで前記テスト室（10）の両側に隣接し、前記
テスト室（10）と前記予熱室（５）及び予冷室（９）と
を区画する各断熱隔壁（11）（11）に、前記テスト室
（10）と前記予熱室（５）とを連通する開口部（12）
（12）、及び前記テスト室（10）と予冷室（９）とを連
通する開口部（13）（13）を設け、各開口部（12）（1
3）に設けた高温及び低温ダンパ（14）（15）の開閉に
より、前記予熱室（５）又は予冷室（９）を前記テスト
室（10）に選択的に連通させて、前記テスト室（10）に
冷風及び熱風を選択的に導入するようにしている。
1）を挾んで前記テスト室（10）の両側に隣接し、前記
テスト室（10）と前記予熱室（５）及び予冷室（９）と
を区画する各断熱隔壁（11）（11）に、前記テスト室
（10）と前記予熱室（５）とを連通する開口部（12）
（12）、及び前記テスト室（10）と予冷室（９）とを連
通する開口部（13）（13）を設け、各開口部（12）（1
3）に設けた高温及び低温ダンパ（14）（15）の開閉に
より、前記予熱室（５）又は予冷室（９）を前記テスト
室（10）に選択的に連通させて、前記テスト室（10）に
冷風及び熱風を選択的に導入するようにしている。
又、前記テスト室（10）の一側には、試験試料を挿入
する開口部（16）の開閉する扉（17）を設けると共に、
他側には、一対の開口部（18）（18）を設けて、常温ダ
ンパ（19）の開閉により、外気を前記テスト室（10）内
に導入するようにしている。更に、前記一対の開口部
（18）（18）の一方の開口部（18）には、除湿器（20）
及び吸入ファン（21）を内装した外気導入ダクト（22）
を接続して、前記テスト室（10）内に導入する外気を除
湿するようにしており、他方の開口部（18）には、排気
ファン（23）を備えた排気ダクト（24）を接続してい
る。
する開口部（16）の開閉する扉（17）を設けると共に、
他側には、一対の開口部（18）（18）を設けて、常温ダ
ンパ（19）の開閉により、外気を前記テスト室（10）内
に導入するようにしている。更に、前記一対の開口部
（18）（18）の一方の開口部（18）には、除湿器（20）
及び吸入ファン（21）を内装した外気導入ダクト（22）
を接続して、前記テスト室（10）内に導入する外気を除
湿するようにしており、他方の開口部（18）には、排気
ファン（23）を備えた排気ダクト（24）を接続してい
る。
前記カスケード式冷凍機（６）は、第２図に示したよ
うに、高温側圧縮機（25）をもった高温側冷媒回路（2
6）、低温側圧縮機（27）をもった低温側冷媒回路（2
8）及びこれら両回路（27）（28）は共有するカスケー
ドコンデンサー（29）を備えており、前記高温側冷媒回
路（26）には、凝縮器（30）、膨張弁（31）及びアキュ
ムレータ（32）を介装する一方、前記低温側冷媒回路
（28）には、膨張弁（33）、前記予冷室（９）に配置し
た前記クーラー（７）及びアキュムレータ（34）を介装
している。
うに、高温側圧縮機（25）をもった高温側冷媒回路（2
6）、低温側圧縮機（27）をもった低温側冷媒回路（2
8）及びこれら両回路（27）（28）は共有するカスケー
ドコンデンサー（29）を備えており、前記高温側冷媒回
路（26）には、凝縮器（30）、膨張弁（31）及びアキュ
ムレータ（32）を介装する一方、前記低温側冷媒回路
（28）には、膨張弁（33）、前記予冷室（９）に配置し
た前記クーラー（７）及びアキュムレータ（34）を介装
している。
又、前記高温側冷媒回路（26）には、電磁弁（35）
と、前記外気導入ダクト（22）に内装した前記除湿器
（20）を構成する再熱器（36）及びクーラー（37）等を
直列に介装したバイパス回路（39）を設けて、前記電磁
弁（35）の操作により前記再熱器（36）及びクーラー
（37）に前記高温側圧縮機（25）から冷媒を供給し、前
記テスト室（10）に導入する外気を除湿できるようにし
ている。又、前記低温側冷媒回路（28）には、ホットガ
ス電磁弁（40）を介装したホットガスバイパス回路（4
1）を設けて、該ホットガス電磁弁（40）の操作により
前記予冷室（９）に配置したクーラー（７）をホットガ
スによってもデフロストできるようにしている。
と、前記外気導入ダクト（22）に内装した前記除湿器
（20）を構成する再熱器（36）及びクーラー（37）等を
直列に介装したバイパス回路（39）を設けて、前記電磁
弁（35）の操作により前記再熱器（36）及びクーラー
（37）に前記高温側圧縮機（25）から冷媒を供給し、前
記テスト室（10）に導入する外気を除湿できるようにし
ている。又、前記低温側冷媒回路（28）には、ホットガ
ス電磁弁（40）を介装したホットガスバイパス回路（4
1）を設けて、該ホットガス電磁弁（40）の操作により
前記予冷室（９）に配置したクーラー（７）をホットガ
スによってもデフロストできるようにしている。
尚、第２図中に示した白矢印は、前記ホットガス電磁
弁（40）を作動させて、前記クーラー（７）をデフロス
トするときの前記低温側冷媒回路（28）における冷媒の
流れる方向を示し、黒矢印は前記冷凍機（６）の冷凍運
転時における、前記高温側冷媒回路（26）及び前記低温
側冷媒回路（28）における各冷媒の流れを示しているの
である。また、（42）はドライヤー、（43）は、前記低
温側圧縮機（27）を運転しないとき前記低温側冷媒回路
（28）の冷媒を溜める膨張タンクで、吐出圧力調整弁
（44）を付設している。さらに、（45）は前記低温側圧
縮機（27）の吐出側に介装した油分離器、（46）はキャ
ピラリーである。
弁（40）を作動させて、前記クーラー（７）をデフロス
トするときの前記低温側冷媒回路（28）における冷媒の
流れる方向を示し、黒矢印は前記冷凍機（６）の冷凍運
転時における、前記高温側冷媒回路（26）及び前記低温
側冷媒回路（28）における各冷媒の流れを示しているの
である。また、（42）はドライヤー、（43）は、前記低
温側圧縮機（27）を運転しないとき前記低温側冷媒回路
（28）の冷媒を溜める膨張タンクで、吐出圧力調整弁
（44）を付設している。さらに、（45）は前記低温側圧
縮機（27）の吐出側に介装した油分離器、（46）はキャ
ピラリーである。
しかして、以上のように構成した冷熱衝撃試験装置に
おいて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温
ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室
（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくしたのである。
おいて、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及
び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温
ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室
（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくしたのである。
具体的には、第３図に示すごとく、前記予熱室（５）
に予熱室温度センサー（47）を、又前記クーラー（７）
にはデフロスト検知センサー（48）を設けると共に、デ
フロスト制御コントローラ（49）を設けて、該コントロ
ーラ（49）の入力側には、前記予熱室温度センサー（4
7）及び前記デフロスト検知センサー（48）を接続する
一方、出力側には、前記予熱室（５）に配置したヒータ
ー（３）を作動させるヒータースイッチ（50）、前記高
温ダンパ（14）を開閉させる高温ダンパ開閉用モータ
（51）、前記常温ダンパ（19）を開閉させる常温ダンパ
開閉用モータ（52）、前記低温ダンパ（15）を開閉させ
る低温ダンパ開閉用モータ（53）、前記低温側圧縮機
（27）を駆動する低温側圧縮機駆動モータ（54）及び、
前記低温側冷媒回路（28）のホットガスバイパス回路
（41）に介装した前記ホットガス電磁弁（40）をそれぞ
れ接続するのである。尚、第１図中（55）は予冷室温度
センサーである。
に予熱室温度センサー（47）を、又前記クーラー（７）
にはデフロスト検知センサー（48）を設けると共に、デ
フロスト制御コントローラ（49）を設けて、該コントロ
ーラ（49）の入力側には、前記予熱室温度センサー（4
7）及び前記デフロスト検知センサー（48）を接続する
一方、出力側には、前記予熱室（５）に配置したヒータ
ー（３）を作動させるヒータースイッチ（50）、前記高
温ダンパ（14）を開閉させる高温ダンパ開閉用モータ
（51）、前記常温ダンパ（19）を開閉させる常温ダンパ
開閉用モータ（52）、前記低温ダンパ（15）を開閉させ
る低温ダンパ開閉用モータ（53）、前記低温側圧縮機
（27）を駆動する低温側圧縮機駆動モータ（54）及び、
前記低温側冷媒回路（28）のホットガスバイパス回路
（41）に介装した前記ホットガス電磁弁（40）をそれぞ
れ接続するのである。尚、第１図中（55）は予冷室温度
センサーである。
次に、前記予冷室（９）に配置した前記クーラー
（７）のデフロストについて第４図に示すフローチャー
トに基づいて説明する。
（７）のデフロストについて第４図に示すフローチャー
トに基づいて説明する。
冷熱衝撃試験終了時、即ち、冷熱衝撃のサイクル運転
が終了して前記冷凍機（６）の運転が止まると共に、前
記ヒーター（３）及び各ファン（４）（８）が停止した
とき、自動デフロスト運転入／切スイッチ（図示せず）
が入であれば、自動デフロスト運転モードに入る。この
自動デフロスト運転モードは、前記コントローラ（49）
の制御により常温ダンパ（19）を閉鎖する一方、前記高
温ダンパ（14）、低温ダンパ（15）を開放する。次に、
前記ヒーター（３）がON、前記高温側圧縮機（25）がOF
F、前記低温側圧縮機（27）がON、前記ホットガス電磁
弁（40）がONとなるのである。そして、高温及び低温ダ
ンパ（14）（15）を開放することにより、前記予熱室
（５）と予冷室（９）とを前記テスト室（10）を介して
連通させ、前記予熱室（５）の高温空気を前記予熱室
（５）から前記予冷室（９）に循環させると共に、前記
予熱室温度センサー（47）の温度検出により、前記ヒー
ター（３）を制御して、前記予熱室（５）内の温度を約
50℃に制御して、前記低温側圧縮機（27）を60Hzで運転
するのである。そして、前記クーラー（７）に設けた前
記デフロスト検知センサ（48）の検出温度（Ｔ）が30℃
以上になるか、又は、デフロスト開始からの経過時間
（ｔ）が45分を越えると、デフロストを終了するのであ
る。デフロスト終了時、前記低温側圧縮機（27）及び前
記ホットガス電磁弁（40）はOFFとなると共に、又全ダ
ンパ（14）（15）（19）は閉となり、また前記ヒーター
（３）もOFFとなるのである。尚、デフロスト時、高温
及び低温ダンパ（14）（15）を開放することにより、前
記予熱室（５）と予冷室（９）とを前記テスト室（10）
を介して連通させている場合は、前記予熱室（５）に配
置したファン（４）及び前記予冷室（９）に配置したフ
ァン（８）はいづれも運転させるのである。
が終了して前記冷凍機（６）の運転が止まると共に、前
記ヒーター（３）及び各ファン（４）（８）が停止した
とき、自動デフロスト運転入／切スイッチ（図示せず）
が入であれば、自動デフロスト運転モードに入る。この
自動デフロスト運転モードは、前記コントローラ（49）
の制御により常温ダンパ（19）を閉鎖する一方、前記高
温ダンパ（14）、低温ダンパ（15）を開放する。次に、
前記ヒーター（３）がON、前記高温側圧縮機（25）がOF
F、前記低温側圧縮機（27）がON、前記ホットガス電磁
弁（40）がONとなるのである。そして、高温及び低温ダ
ンパ（14）（15）を開放することにより、前記予熱室
（５）と予冷室（９）とを前記テスト室（10）を介して
連通させ、前記予熱室（５）の高温空気を前記予熱室
（５）から前記予冷室（９）に循環させると共に、前記
予熱室温度センサー（47）の温度検出により、前記ヒー
ター（３）を制御して、前記予熱室（５）内の温度を約
50℃に制御して、前記低温側圧縮機（27）を60Hzで運転
するのである。そして、前記クーラー（７）に設けた前
記デフロスト検知センサ（48）の検出温度（Ｔ）が30℃
以上になるか、又は、デフロスト開始からの経過時間
（ｔ）が45分を越えると、デフロストを終了するのであ
る。デフロスト終了時、前記低温側圧縮機（27）及び前
記ホットガス電磁弁（40）はOFFとなると共に、又全ダ
ンパ（14）（15）（19）は閉となり、また前記ヒーター
（３）もOFFとなるのである。尚、デフロスト時、高温
及び低温ダンパ（14）（15）を開放することにより、前
記予熱室（５）と予冷室（９）とを前記テスト室（10）
を介して連通させている場合は、前記予熱室（５）に配
置したファン（４）及び前記予冷室（９）に配置したフ
ァン（８）はいづれも運転させるのである。
したがって、以上のように、前記予熱室（５）と予冷
室（９）とを連通させることにより、前記予熱室（５）
からの高温空気から前記クーラー（７）に直接熱を与え
ることができ、前記低温側冷媒回路（28）のホットガス
バイパス回路（41）に介装した前記ホットガス電磁弁
（40）を作動させて行う前記冷凍機（６）のデフロスト
運転に要する時間を短縮することができるのである。
室（９）とを連通させることにより、前記予熱室（５）
からの高温空気から前記クーラー（７）に直接熱を与え
ることができ、前記低温側冷媒回路（28）のホットガス
バイパス回路（41）に介装した前記ホットガス電磁弁
（40）を作動させて行う前記冷凍機（６）のデフロスト
運転に要する時間を短縮することができるのである。
又、デフロスト時、前記ヒーター（３）を作動させる
ことにより、前記予熱室（５）の空気を加熱できるか
ら、前記ヒーター（３）以外に特に前記クーラー（７）
のデフロスト用の熱源を設けることなく、一層迅速なデ
フロストが可能となる。
ことにより、前記予熱室（５）の空気を加熱できるか
ら、前記ヒーター（３）以外に特に前記クーラー（７）
のデフロスト用の熱源を設けることなく、一層迅速なデ
フロストが可能となる。
尚、本実施例では、前記低温側冷媒回路（28）のホッ
トガスバイパス回路（41）に設けた前記ホットガス電磁
弁（41）の作動により、前記低温側圧縮機（27）からの
冷媒を前記カスケードコンデンサー（29）を側路して、
直接前記クーラー（７）に送ることにより、該クーラー
（７）をデフロストする前記冷凍機（６）のデフロスト
運転を併用できるようにしている。
トガスバイパス回路（41）に設けた前記ホットガス電磁
弁（41）の作動により、前記低温側圧縮機（27）からの
冷媒を前記カスケードコンデンサー（29）を側路して、
直接前記クーラー（７）に送ることにより、該クーラー
（７）をデフロストする前記冷凍機（６）のデフロスト
運転を併用できるようにしている。
そして、高温空気を熱源としてデフロストを行う場
合、前記低温ダンパ（15）を開いて行うため、デフロス
トの進行によりテスト室（10）内へデフロストにより溶
けたドレンの水飛びが生ずることになるが、この水飛び
を防止するために、以下のように構成するのである。即
ち、第５図に示すごとく、前記予冷室（９）のクーラー
（７）の管板（71）の側面に、管板（71）の温度、ひい
ては前記予冷室（９）を循環する空気の入口側温度を検
出し、デフロストによるドレンの飛散開始時の温度によ
って出力するデフロスト検知センサ（48）を設け、第６
図のフローチャートに示すように、高温空気による前記
デフロスト運転中で、前記クーラー（７）の出口側の温
度が０℃以上となってドレンが飛散しようとするとき、
つまり、前記管板（71）に設けた前記デフロスト検知セ
ンサ（48）の検出温度（Ｔ）が７℃以上になると、前記
デフロスト制御コントローラ（49）の制御により、前記
高温及び低温ダンパ（14）（15）を閉鎖させると共に、
前記冷凍機（６）における前記ホットガス電磁弁（40）
を開いて、前記ホットガスバイパス回路（41）のみによ
るデフロスト運転を行うように構成するのである。
合、前記低温ダンパ（15）を開いて行うため、デフロス
トの進行によりテスト室（10）内へデフロストにより溶
けたドレンの水飛びが生ずることになるが、この水飛び
を防止するために、以下のように構成するのである。即
ち、第５図に示すごとく、前記予冷室（９）のクーラー
（７）の管板（71）の側面に、管板（71）の温度、ひい
ては前記予冷室（９）を循環する空気の入口側温度を検
出し、デフロストによるドレンの飛散開始時の温度によ
って出力するデフロスト検知センサ（48）を設け、第６
図のフローチャートに示すように、高温空気による前記
デフロスト運転中で、前記クーラー（７）の出口側の温
度が０℃以上となってドレンが飛散しようとするとき、
つまり、前記管板（71）に設けた前記デフロスト検知セ
ンサ（48）の検出温度（Ｔ）が７℃以上になると、前記
デフロスト制御コントローラ（49）の制御により、前記
高温及び低温ダンパ（14）（15）を閉鎖させると共に、
前記冷凍機（６）における前記ホットガス電磁弁（40）
を開いて、前記ホットガスバイパス回路（41）のみによ
るデフロスト運転を行うように構成するのである。
尚、第６図のフローチャートにおいて、ホットガスバ
イパスによるデフロスト運転は、第４図のフローチャー
トで説明したように制御されるが、デフロスト運転終了
後、冷凍機（６）を再運転させるときに、デフロストに
より溶けたドレンが完全に排出するまで、例えば、２〜
３分間前記冷凍機（６）の運転の開始を遅らせるように
している。
イパスによるデフロスト運転は、第４図のフローチャー
トで説明したように制御されるが、デフロスト運転終了
後、冷凍機（６）を再運転させるときに、デフロストに
より溶けたドレンが完全に排出するまで、例えば、２〜
３分間前記冷凍機（６）の運転の開始を遅らせるように
している。
また、第１図乃至第２図に示した実施例において、前
記予冷室（９）に内装するファン（８）のモータ（Ｍ）
を可変速モータとして、第７図に示すように、前記デフ
ロスト制御コントローラ（49）の出力側に、前記可変速
モータ（Ｍ）を制御するモータ制御器（81）を接続する
と共に、前記した実施例と同様、前記デフロスト検知セ
ンサ（48）を設けて、前記コントローラ（49）に入力側
に接続し、第８図のフローチャートに示すように、デフ
ロスト運転中に前記デフロスト検知センサ（48）の検出
温度（Ｔ）が７℃以上になると、前記デフロスト制御コ
ントローラ（49）の制御により、前記可変速モータ
（Ｍ）をポールチェンジまたは周波数変換などにより、
前記モータ（Ｍ）の回転数を下げて、例えば風速が1.5m
/secになるように、前記ファン（８）の風量を減少させ
ると共に、風量の減少で、前記ドレンの飛散を不能にし
た状態で、前記冷凍機（６）におけるホットガス電磁弁
（40）を開いて、前記ホットガスバイパス回路（41）に
よるデフロスト運転のみによって、デフロストを行うよ
うにしてもよい。また、この実施例における前記ホット
ガスバイパスによるデフロスト運転は、前記した実施例
と同様に制御されるのである。
記予冷室（９）に内装するファン（８）のモータ（Ｍ）
を可変速モータとして、第７図に示すように、前記デフ
ロスト制御コントローラ（49）の出力側に、前記可変速
モータ（Ｍ）を制御するモータ制御器（81）を接続する
と共に、前記した実施例と同様、前記デフロスト検知セ
ンサ（48）を設けて、前記コントローラ（49）に入力側
に接続し、第８図のフローチャートに示すように、デフ
ロスト運転中に前記デフロスト検知センサ（48）の検出
温度（Ｔ）が７℃以上になると、前記デフロスト制御コ
ントローラ（49）の制御により、前記可変速モータ
（Ｍ）をポールチェンジまたは周波数変換などにより、
前記モータ（Ｍ）の回転数を下げて、例えば風速が1.5m
/secになるように、前記ファン（８）の風量を減少させ
ると共に、風量の減少で、前記ドレンの飛散を不能にし
た状態で、前記冷凍機（６）におけるホットガス電磁弁
（40）を開いて、前記ホットガスバイパス回路（41）に
よるデフロスト運転のみによって、デフロストを行うよ
うにしてもよい。また、この実施例における前記ホット
ガスバイパスによるデフロスト運転は、前記した実施例
と同様に制御されるのである。
また、前記実施例において、前記予熱室（５）の高温
空気を熱源として、前記予冷室（９）のクーラー（７）
のデフロストを行うとき、前記テスト室（10）内の試験
試料のテスト条件により、予熱室（５）内の高温空気に
よるデフロストを行うかどうかを選択するようにしても
よい。即ち、テスト室（10）の高温さらし制御時におけ
るヒータ制御温度、つまり、前記予熱室温度センサ（4
7）により前記ヒータ（３）をオン、オフして制御する
前記予熱室（５）の高温温度をもとに制御されるテスト
室（10）内の温度は、試験試料に応じた任意温度を設定
するのであって、高温加熱を好まない試料については、
前記予熱室（５）の高温空気を熱源としてデフロストを
行う場合のヒータ制御温度（例えば35℃〜40℃）より低
い温度（例えば30℃）に設定されることがある。従っ
て、この場合には前記予熱室（５）内の高温空気による
デフロスト運転を中止し、ホットガスバイパス回路（4
1）のみによるデフロスト運転に切換えるのである。し
かして、この場合、前記デフロスト制御コントローラ
（49）に、前記予熱室（５）の高温空気を熱源としてデ
フロストを行うときのヒータ制御温度（T1）と前記予熱
室温度センサ（47）により制御される前記テスト室（1
0）の高温さらし制御時におけるヒータ制御温度（T2）
とを比較する比較器（図示せず）を用い、前記テスト時
のヒータ制御温度（（T2）がデフロスト時のヒータ制御
温度（T1）より低いときに前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を閉じて出力するように構成するのである。
従って、この実施例によれば、第９図のフローチャート
に示すように、前記予熱室温度センサ（47）により制御
する予熱室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー
（７）のデフロストを行なうときのヒータ制御温度
（T1）と、前記予熱室温度センサ（47）により制御する
試験試料の高温さらし制御時におけるテスト室（10）の
ヒータ制御温度（T2）とを比較し、テスト時のヒータ制
御温度（T2）がデフロスト時のヒータ制御温度（T1）よ
り低いときに、前記高温及び低温ダンパ（14）（15）を
閉じ、前記予熱室（５）の高温空気を熱源とするデフロ
スト運転を中止し、前記冷凍機（６）のホットガスバイ
パス回路（41）のみによるデフロスト運転に切換えるの
であって、以降は第４図のフローチャートで説明した通
り制御するのである。
空気を熱源として、前記予冷室（９）のクーラー（７）
のデフロストを行うとき、前記テスト室（10）内の試験
試料のテスト条件により、予熱室（５）内の高温空気に
よるデフロストを行うかどうかを選択するようにしても
よい。即ち、テスト室（10）の高温さらし制御時におけ
るヒータ制御温度、つまり、前記予熱室温度センサ（4
7）により前記ヒータ（３）をオン、オフして制御する
前記予熱室（５）の高温温度をもとに制御されるテスト
室（10）内の温度は、試験試料に応じた任意温度を設定
するのであって、高温加熱を好まない試料については、
前記予熱室（５）の高温空気を熱源としてデフロストを
行う場合のヒータ制御温度（例えば35℃〜40℃）より低
い温度（例えば30℃）に設定されることがある。従っ
て、この場合には前記予熱室（５）内の高温空気による
デフロスト運転を中止し、ホットガスバイパス回路（4
1）のみによるデフロスト運転に切換えるのである。し
かして、この場合、前記デフロスト制御コントローラ
（49）に、前記予熱室（５）の高温空気を熱源としてデ
フロストを行うときのヒータ制御温度（T1）と前記予熱
室温度センサ（47）により制御される前記テスト室（1
0）の高温さらし制御時におけるヒータ制御温度（T2）
とを比較する比較器（図示せず）を用い、前記テスト時
のヒータ制御温度（（T2）がデフロスト時のヒータ制御
温度（T1）より低いときに前記高温及び低温ダンパ（1
4）（15）を閉じて出力するように構成するのである。
従って、この実施例によれば、第９図のフローチャート
に示すように、前記予熱室温度センサ（47）により制御
する予熱室（５）の高温空気を熱源として前記クーラー
（７）のデフロストを行なうときのヒータ制御温度
（T1）と、前記予熱室温度センサ（47）により制御する
試験試料の高温さらし制御時におけるテスト室（10）の
ヒータ制御温度（T2）とを比較し、テスト時のヒータ制
御温度（T2）がデフロスト時のヒータ制御温度（T1）よ
り低いときに、前記高温及び低温ダンパ（14）（15）を
閉じ、前記予熱室（５）の高温空気を熱源とするデフロ
スト運転を中止し、前記冷凍機（６）のホットガスバイ
パス回路（41）のみによるデフロスト運転に切換えるの
であって、以降は第４図のフローチャートで説明した通
り制御するのである。
（発明の効果） 以上説明したように、本発明の冷熱衝撃試験装置で
は、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び低
温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温ダン
パ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）
とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記
予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空
気を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行う
ごとくしたから、前記予熱室（５）の高温空気の熱を前
記予冷室（９）内のクーラー（７）に直接与えることが
でき、該クーラー（７）のデフロストに要する時間を短
縮することができるのである。
は、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高温及び低
温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記常温ダン
パ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷室（９）
とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気を、前記
予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前記高温空
気を熱源として前記クーラー（７）のデフロストを行う
ごとくしたから、前記予熱室（５）の高温空気の熱を前
記予冷室（９）内のクーラー（７）に直接与えることが
でき、該クーラー（７）のデフロストに要する時間を短
縮することができるのである。
また、請求項１記載の発明では、前記高温及び低温ダ
ンパ（14）（15）を閉鎖するようにし、また請求項２記
載の発明では、前記予冷室（９）に内装したファン
（８）の風量を減少させるようにしたから、デフロスト
により溶けたドレンが前記テスト室（10）へ入ってしま
うことを防止でき、その結果、前記テスト室（10）内で
のフロストを防止できるし、試験試料への影響もなくな
るのである。
ンパ（14）（15）を閉鎖するようにし、また請求項２記
載の発明では、前記予冷室（９）に内装したファン
（８）の風量を減少させるようにしたから、デフロスト
により溶けたドレンが前記テスト室（10）へ入ってしま
うことを防止でき、その結果、前記テスト室（10）内で
のフロストを防止できるし、試験試料への影響もなくな
るのである。
さらに、請求項３記載の発明では、デフロスト時の前
記予熱室（５）のヒータ制御温度とテスト時の高温さら
し制御によるヒータ制御温度とを比較して、テスト時の
ヒータ制御温度がデフロスト時のヒータ制御温度より低
いとき、前記高温及び低温ダンパ（14）（15）を閉じ、
前記予熱室（５）の高温空気を熱源とするデフロスト運
転を中止し、ホットガスバイパスのみによるデフロスト
運転に制御するようにしたから、テスト室（10）に試験
試料を装入したままデフロスト運転を行う場合で、しか
も、前記試料が高温を好まない場合であっても、前記試
料がデフロスト時に前記予熱室（５）の高温空気によ
り、曝される問題を生じてしまうのを阻止できるのであ
る。
記予熱室（５）のヒータ制御温度とテスト時の高温さら
し制御によるヒータ制御温度とを比較して、テスト時の
ヒータ制御温度がデフロスト時のヒータ制御温度より低
いとき、前記高温及び低温ダンパ（14）（15）を閉じ、
前記予熱室（５）の高温空気を熱源とするデフロスト運
転を中止し、ホットガスバイパスのみによるデフロスト
運転に制御するようにしたから、テスト室（10）に試験
試料を装入したままデフロスト運転を行う場合で、しか
も、前記試料が高温を好まない場合であっても、前記試
料がデフロスト時に前記予熱室（５）の高温空気によ
り、曝される問題を生じてしまうのを阻止できるのであ
る。
第１図は本発明にかかる冷熱衝撃試験装置の全体構造を
示す断面図、第２図は冷凍機の配管系統図、第３図乃び
第７図はデフロスト作動ブロック図、第５図はクーラー
の斜視図、第４図、第６図、第８図及び第９図はデフロ
スト作動フローチャート、第10図は従来例を示す概略断
面図である。 （３）……ヒーター （４）……ファン （40）……ホットガス弁 （41）……ホットガスバイパス回路 （48）……デフロスト検知センサ （49）……デフロスト制御コントローラ （５）……予熱室 （６）……冷凍機 （７）……クーラー （８）……ファン （8a）……可変速モータ （81）……モータ制御器 （９）……予冷室 （10）……テスト室 （14）……高温ダンパ （15）……低温ダンパ （19）……常温ダンパ
示す断面図、第２図は冷凍機の配管系統図、第３図乃び
第７図はデフロスト作動ブロック図、第５図はクーラー
の斜視図、第４図、第６図、第８図及び第９図はデフロ
スト作動フローチャート、第10図は従来例を示す概略断
面図である。 （３）……ヒーター （４）……ファン （40）……ホットガス弁 （41）……ホットガスバイパス回路 （48）……デフロスト検知センサ （49）……デフロスト制御コントローラ （５）……予熱室 （６）……冷凍機 （７）……クーラー （８）……ファン （8a）……可変速モータ （81）……モータ制御器 （９）……予冷室 （10）……テスト室 （14）……高温ダンパ （15）……低温ダンパ （19）……常温ダンパ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 神谷 正幸 大阪府堺市金岡町1304番地 ダイキン工業 株式会社堺製作所金岡工場内 (56)参考文献 特開 昭61−269042（ＪＰ，Ａ) 実開 昭56−8226（ＪＰ，Ｕ) 実開 昭58−33964（ＪＰ，Ｕ)
Claims (3)
- 【請求項１】一側に、外気に連通する開口部（18）を開
閉する常温ダンパ（19）と、他側に、試験試料を挿入す
る挿入口（16）を開閉するテスト室扉（17）とを備えた
テスト室（10）に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター
（３）とファン（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍
機（６）に接続するクーラー（７）とファン（８）を配
置した予冷室（９）とを隣接して設けると共に、前記テ
スト室（10）と前記予熱室（５）とを連通させる開口部
（12）を開閉する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト
室（10）と前記予冷室（９）とを連通する開口部（13）
を開閉する低温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装
置において、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高
温及び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記
常温ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷
室（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト
時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホットガ
スを流すホットガス弁（40）をもったホットガスバイパ
ス回路（41）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（1
4）（15）をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源と
して前記クーラー（７）のデフロストを行うとき、前記
予冷室（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフ
ロストによるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフ
ロスト検知センサ（48）を設け、このデフロスト検知セ
ンサ（48）の出力により前記ダンパ（14）（15）を閉
じ、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に切
り換えるデフロスト制御コントローラ（49）を設けてい
ることを特徴とする冷熱衝撃試験装置。 - 【請求項２】一側に、外気に連通する開口部（18）を開
閉する常温ダンパ（19）と、他側に、試験試料を挿入す
る挿入口（16）を開閉するテスト室扉（17）とを備えた
テスト室（10）に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター
（３）とファン（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍
機（６）に接続するクーラー（７）とファン（８）を配
置した予冷室（９）とを隣接して設けると共に、前記テ
スト室（10）と前記予熱室（５）とを連通させる開口部
（12）を開閉する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト
室（10）と前記予冷室（９）とを連通する開口部（13）
を開閉する低温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装
置において、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高
温及び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記
常温ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷
室（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト
時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホットガ
スを流すホットガス弁（40）をもったホットガスバイパ
ス回路（41）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（1
4）（15）をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源と
して前記クーラー（７）のデフロストを行うとき、前記
予冷室（９）を循環する空気経路の温度を検出し、デフ
ロストによるドレンの飛散開始時の温度で出力するデフ
ロスト検知センサ（48）を設ける一方、前記予冷室
（９）に内装するファン（８）を可変速モータ（Ｍ）に
連動させて、前記デフロスト検知センサ（48）の出力に
より前記モータ（Ｍ）を、前記ドレンの飛散を不能にす
る低速に制御するモータ制御器（81）を設けていること
を特徴とする冷熱衝撃試験装置。 - 【請求項３】一側に、外気に連通する開口部（18）を開
閉する常温ダンパ（19）と、他側に、試験試料を挿入す
る挿入口（16）を開閉するテスト室扉（17）とを備えた
テスト室（10）に、断熱隔壁（11）を介して、ヒーター
（３）とファン（４）を配置した予熱室（５）と、冷凍
機（６）に接続するクーラー（７）とファン（８）を配
置した予冷室（９）とを隣接して設けると共に、前記テ
スト室（10）と前記予熱室（５）とを連通させる開口部
（12）を開閉する高温ダンパ（14）と、又、前記テスト
室（10）と前記予冷室（９）とを連通する開口部（13）
を開閉する低温ダンパ（15）とを備えた冷熱衝撃試験装
置において、前記クーラー（７）のフロスト時、前記高
温及び低温ダンパ（14）（15）を開放すると共に、前記
常温ダンパ（19）を閉鎖して、前記予熱室（５）と予冷
室（９）とを連通させて、前記予熱室（５）の高温空気
を、前記予熱室（５）から予冷室（９）に循環させ、前
記高温空気を熱源として前記クーラー（７）のデフロス
トを行うごとくし、且つ、前記冷凍機（６）にフロスト
時、予冷室（９）に内装するクーラー（７）へホットガ
スを流すホットガス弁（40）をもったホットガスバイパ
ス回路（41）を設けると共に、高温及び低温ダンパ（1
4）（15）をひらき、予熱室（５）の高温空気を熱源と
して前記クーラー（７）のデフロストを行うときのヒー
タ制御温度と、テスト室（10）の高温さらし制御時にお
けるヒータ制御温度とを比較し、テスト時のヒータ制御
温度がデフロスト時のヒータ制御温度より低いとき、前
記高温及び低温ダンパ（14）（15）を閉じ、前記予熱室
（５）の高温空気を熱源とするデフロスト運転を中止
し、ホットガスバイパスのみによるデフロスト運転に制
御するデフロスト制御コントローラ（49）を設けている
ことを特徴とする冷熱衝撃試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1318256A JPH087125B2 (ja) | 1988-12-08 | 1989-12-07 | 冷熱衝撃試験装置 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63-310762 | 1988-12-08 | ||
| JP31076288 | 1988-12-08 | ||
| JP1318256A JPH087125B2 (ja) | 1988-12-08 | 1989-12-07 | 冷熱衝撃試験装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH02257036A JPH02257036A (ja) | 1990-10-17 |
| JPH087125B2 true JPH087125B2 (ja) | 1996-01-29 |
Family
ID=26566449
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1318256A Expired - Lifetime JPH087125B2 (ja) | 1988-12-08 | 1989-12-07 | 冷熱衝撃試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH087125B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2001066237A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Tabai Espec Corp | 冷熱衝撃試験装置の省エネ制御方法 |
| JP4594240B2 (ja) * | 2006-01-05 | 2010-12-08 | エスペック株式会社 | 熱疲労評価方法、並びに、熱疲労評価装置 |
| CN102721606B (zh) * | 2012-07-06 | 2014-07-16 | 济南科汇试验设备有限公司 | 用于低温、超低温冲击试验机上的试样盒 |
| CN105445030A (zh) * | 2014-08-27 | 2016-03-30 | 上海德朗汽车零部件制造有限公司 | 一种用于汽车中冷器热循环试验的装置 |
| CN109358667A (zh) * | 2018-11-08 | 2019-02-19 | 东莞市台通电子科技有限公司 | 一种冲击箱冷热温度控制系统 |
| CN111811831A (zh) * | 2020-06-30 | 2020-10-23 | 东风马勒热系统有限公司 | 中冷器热循环试验设备 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5930823Y2 (ja) * | 1979-06-29 | 1984-09-03 | ダイキン工業株式会社 | ヒ−トポンプ式冷暖房装置 |
| JPS5833964U (ja) * | 1981-08-27 | 1983-03-05 | ダイキン工業株式会社 | 冷凍装置 |
| JPS61269042A (ja) * | 1985-05-24 | 1986-11-28 | Hitachi Ltd | 冷熱衝撃試験装置 |
-
1989
- 1989-12-07 JP JP1318256A patent/JPH087125B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH02257036A (ja) | 1990-10-17 |
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