JPH086845A - 互換制御装置 - Google Patents
互換制御装置Info
- Publication number
- JPH086845A JPH086845A JP6132736A JP13273694A JPH086845A JP H086845 A JPH086845 A JP H086845A JP 6132736 A JP6132736 A JP 6132736A JP 13273694 A JP13273694 A JP 13273694A JP H086845 A JPH086845 A JP H086845A
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- JP
- Japan
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- memory
- cpu
- oscillator
- cycles
- clock
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 本発明は、動作周波数の異なるCPUに交換
したときに互換性を持たさせる互換制御装置に関し、メ
モリ制御部が性能を測定して動的にウェイト数を決めて
増減し、構成を簡単にすると共に設計時に動作周波数を
意識して互換モードを設計する必要を無くすことを目的
とする。 【構成】 クロックを発振する発振器2と、この発振器
2によって発振されたクロックに同期して処理を行うC
PU1と、交換可能なCPU1の動作周波数に対応して
発振器2によって発振されたクロックを用いてメモリ5
をアクセスするときに、一定時間の間の計測したメモリ
サイクル数Nsが所定値Nよりも多いときにメモリサイ
クルのウェイトを増やし、一方、少ないときにメモリサ
イクルのウェイトを減らす時間調整部4とを備えるよう
に構成する。
したときに互換性を持たさせる互換制御装置に関し、メ
モリ制御部が性能を測定して動的にウェイト数を決めて
増減し、構成を簡単にすると共に設計時に動作周波数を
意識して互換モードを設計する必要を無くすことを目的
とする。 【構成】 クロックを発振する発振器2と、この発振器
2によって発振されたクロックに同期して処理を行うC
PU1と、交換可能なCPU1の動作周波数に対応して
発振器2によって発振されたクロックを用いてメモリ5
をアクセスするときに、一定時間の間の計測したメモリ
サイクル数Nsが所定値Nよりも多いときにメモリサイ
クルのウェイトを増やし、一方、少ないときにメモリサ
イクルのウェイトを減らす時間調整部4とを備えるよう
に構成する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、互換制御装置であっ
て、動作周波数の異なるCPUに交換したときに互換性
を持たさせる互換制御装置に関するものである。
て、動作周波数の異なるCPUに交換したときに互換性
を持たさせる互換制御装置に関するものである。
【0002】近年、CPUの高速化要求があると共に、
旧機種との性能的互換性も要求されるため、CPU本来
のスピードで動作する高速モードと、性能的互換性のあ
る互換モードとを設けて切り替えて対処している。これ
に動的に対処することが望まれている。
旧機種との性能的互換性も要求されるため、CPU本来
のスピードで動作する高速モードと、性能的互換性のあ
る互換モードとを設けて切り替えて対処している。これ
に動的に対処することが望まれている。
【0003】
【従来の技術】従来、互換モードが求められている場
合、図6に示すように、高速モード用のメモリ制御部
(高速)23と、互換モード用のメモリ制御部(互換)
24との2組を設け、必要に応じていずれかのモードの
メモリ制御部23、24が動作するように切り替えてい
た。以下図6の構成および動作を簡単に説明する。
合、図6に示すように、高速モード用のメモリ制御部
(高速)23と、互換モード用のメモリ制御部(互換)
24との2組を設け、必要に応じていずれかのモードの
メモリ制御部23、24が動作するように切り替えてい
た。以下図6の構成および動作を簡単に説明する。
【0004】図6は、従来技術の説明図を示す。図6に
おいて、CPU21は、プログラムに従って各種処理を
行うものであって、ここでは交換対象のCPUである。
おいて、CPU21は、プログラムに従って各種処理を
行うものであって、ここでは交換対象のCPUである。
【0005】水晶発振器22は、CPU21に供給する
クロックを発生するものである。メモリ制御部(高速)
23は、高速モードのCPU21の場合に、セレクタ2
5を介してメモリ26をアクセス制御するものである。
クロックを発生するものである。メモリ制御部(高速)
23は、高速モードのCPU21の場合に、セレクタ2
5を介してメモリ26をアクセス制御するものである。
【0006】メモリ制御部(互換)24は、互換モード
の場合に、セレクタ25を介してメモリ26をアクセス
制御するものである。互換モードは、新らしいCPU2
1の動作周波数が高くなった場合に、互換性を持たせる
ために旧と同様になるようにウェイトをもたせて互換性
を保持させるモードである。
の場合に、セレクタ25を介してメモリ26をアクセス
制御するものである。互換モードは、新らしいCPU2
1の動作周波数が高くなった場合に、互換性を持たせる
ために旧と同様になるようにウェイトをもたせて互換性
を保持させるモードである。
【0007】セレクタ25は、メモリ制御部(高速)2
3あるいはメモリ制御部(互換)24のいずれかを選択
するものである。メモリ26は、データやプログラムを
格納したり、読みだしたりするものである。
3あるいはメモリ制御部(互換)24のいずれかを選択
するものである。メモリ26は、データやプログラムを
格納したり、読みだしたりするものである。
【0008】次に、動作を説明する。 ・高速モードの場合には、水晶発振器22からの高速ク
ロックの供給を受けたメモリ制御部(高速)23がセレ
クタ25によって選択され、メモリ26をアクセスす
る。
ロックの供給を受けたメモリ制御部(高速)23がセレ
クタ25によって選択され、メモリ26をアクセスす
る。
【0009】・互換モードの場合には、水晶発振器22
からの通常のクロックの供給を受けたメモリ制御部(互
換)23がセレクタ25によって選択され、メモリ26
をアクセスする。
からの通常のクロックの供給を受けたメモリ制御部(互
換)23がセレクタ25によって選択され、メモリ26
をアクセスする。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】上述したように、高速
モード用および互換モード用のメモリ制御部23、24
をそれぞれ設ける必要があったため、互換モードでは新
機種の動作周波数が変わる毎に、旧機種と新機種の性能
が同等となるようにウェイト数を計算し固定的に設計し
ていた。このため、新機種で動作周波数が変わる毎にウ
ェイト数をその都度計算しなければならず、非常に手間
がかかるという問題があった。
モード用および互換モード用のメモリ制御部23、24
をそれぞれ設ける必要があったため、互換モードでは新
機種の動作周波数が変わる毎に、旧機種と新機種の性能
が同等となるようにウェイト数を計算し固定的に設計し
ていた。このため、新機種で動作周波数が変わる毎にウ
ェイト数をその都度計算しなければならず、非常に手間
がかかるという問題があった。
【0011】本発明は、これらの問題を解決するため、
メモリ制御部が性能を測定して動的にウェイト数を決め
て増減し、構成を簡単にすると共に設計時に動作周波数
を意識して互換モードを設計する必要を無くすことを目
的としている。
メモリ制御部が性能を測定して動的にウェイト数を決め
て増減し、構成を簡単にすると共に設計時に動作周波数
を意識して互換モードを設計する必要を無くすことを目
的としている。
【0012】
【課題を解決するための手段】図1は、本発明の原理ブ
ロック図を示す。図1において、CPU1は、発振器2
によって発振されたクロックに同期して処理を行うもの
である。
ロック図を示す。図1において、CPU1は、発振器2
によって発振されたクロックに同期して処理を行うもの
である。
【0013】発振器2は、CPU1の動作周波数に対応
するクロックを発振するものである。メモリ制御部3
は、発振器2からのクロックを用いてメモリ5をアクセ
ス制御するものであって、ここでは、時間調整部4など
から構成されるものである。
するクロックを発振するものである。メモリ制御部3
は、発振器2からのクロックを用いてメモリ5をアクセ
ス制御するものであって、ここでは、時間調整部4など
から構成されるものである。
【0014】時間調整部4は、発振器2からのクロック
を用いてメモリ5をアクセスするメモリサイクルを所定
値に調整するものである。メモリ5は、データを読み書
きするものである。
を用いてメモリ5をアクセスするメモリサイクルを所定
値に調整するものである。メモリ5は、データを読み書
きするものである。
【0015】
【作用】本発明は、図1に示すように、CPU1を交換
したときに当該CPU1の動作周波数に対応するクロッ
クを発振器2が発振し、この発振したクロックの供給を
受けたメモリ制御部3の時間調整部4が所定時間の間に
メモリ5をアクセスするメモリアクセス回数Nsを測定
し、測定したメモリアクセス回数Nsが所定値Nよりも
多いときにメモリサイクルのウェイトを増やし、一方、
少ないときにメモリサイクルのウェイトを減らし、メモ
リサイクルを所定値に動的に調整するようにしている。
したときに当該CPU1の動作周波数に対応するクロッ
クを発振器2が発振し、この発振したクロックの供給を
受けたメモリ制御部3の時間調整部4が所定時間の間に
メモリ5をアクセスするメモリアクセス回数Nsを測定
し、測定したメモリアクセス回数Nsが所定値Nよりも
多いときにメモリサイクルのウェイトを増やし、一方、
少ないときにメモリサイクルのウェイトを減らし、メモ
リサイクルを所定値に動的に調整するようにしている。
【0016】従って、CPU1の交換時にメモリサイク
ル数Nsを計測し、多いときにウェイトを増やし、少な
いときにウェイトを減らしてメモリサイクル数Nsを動
的にほぼ一定とすることにより、CPU1を交換してク
ロック数が変わってもメモリサイクルのウェイトの増減
を行って動的に調整することが可能となる。これによ
り、従来の互換モード用メモリ制御部と、CPU本来の
速度で動作する高速モード用メモリ制御部との両者を設
ける必要がなくなった。
ル数Nsを計測し、多いときにウェイトを増やし、少な
いときにウェイトを減らしてメモリサイクル数Nsを動
的にほぼ一定とすることにより、CPU1を交換してク
ロック数が変わってもメモリサイクルのウェイトの増減
を行って動的に調整することが可能となる。これによ
り、従来の互換モード用メモリ制御部と、CPU本来の
速度で動作する高速モード用メモリ制御部との両者を設
ける必要がなくなった。
【0017】
【実施例】次に、図2から図5を用いて本発明の実施例
の構成および動作を順次詳細に説明する。
の構成および動作を順次詳細に説明する。
【0018】図2は、本発明の動作説明フローチャート
を示す。これは、図1の構成の動作を詳細に説明したも
のである。図2において、S1は、クロック周波数が変
更されたか判別する。これは、CPU1と水晶発振器を
交換したか判別、例えばCPU1を互換性を持つ高速ク
ロック動作のCPU1に交換すると共に併せて高速クロ
ックを発振する水晶発振器に交換したか判別することで
あって、具体的には、図1の時間調整部4が一定時間の
間のクロック数を計測して所定値から変更されているか
否かによって判別する。YESの場合には、S2以降の
処理に進む。NOの場合には、クロック周波数の変更が
なくて一定であるので、終了する(END)。
を示す。これは、図1の構成の動作を詳細に説明したも
のである。図2において、S1は、クロック周波数が変
更されたか判別する。これは、CPU1と水晶発振器を
交換したか判別、例えばCPU1を互換性を持つ高速ク
ロック動作のCPU1に交換すると共に併せて高速クロ
ックを発振する水晶発振器に交換したか判別することで
あって、具体的には、図1の時間調整部4が一定時間の
間のクロック数を計測して所定値から変更されているか
否かによって判別する。YESの場合には、S2以降の
処理に進む。NOの場合には、クロック周波数の変更が
なくて一定であるので、終了する(END)。
【0019】S2は、互換/高速モードのいずれか判別
する。高速モードの場合には、S3でメモリウェイトを
最小にする。互換モードの場合には、S4以降を実行す
る。S4は、一定時間内のメモリサイクル数を測定す
る。ここで、メモリサイクル数Nsとする。これは、図
1の時間調整部4がメモリ5を一定時間の間にアクセス
したメモリアクセス回数Nsを測定する(図3参照)。
する。高速モードの場合には、S3でメモリウェイトを
最小にする。互換モードの場合には、S4以降を実行す
る。S4は、一定時間内のメモリサイクル数を測定す
る。ここで、メモリサイクル数Nsとする。これは、図
1の時間調整部4がメモリ5を一定時間の間にアクセス
したメモリアクセス回数Nsを測定する(図3参照)。
【0020】S5は、NとNsを比較する。ここで、N
はある範囲内の値であり、テーブルに設定した値であ
る。Nsは、S4で測定した一定時間内のメモリサイク
ル数である。
はある範囲内の値であり、テーブルに設定した値であ
る。Nsは、S4で測定した一定時間内のメモリサイク
ル数である。
【0021】・S5のNs=Nの場合(測定したメモリ
サイクル数Nsと所定メモリサイクル数Nとが等しい場
合):メモリサイクル数Nsが所定メモリサイクル数N
と等しかったので、メモリサイクルのウェイトを変えな
い。
サイクル数Nsと所定メモリサイクル数Nとが等しい場
合):メモリサイクル数Nsが所定メモリサイクル数N
と等しかったので、メモリサイクルのウェイトを変えな
い。
【0022】・S5のNs<Nの場合(測定したメモリ
サイクル数Nsが所定メモリサイクル数Nよりも少な
く、1回のメモリサイクルが低速になった場合):S6
でメモリサイクルのウェイトを減らして、メモリサイク
ル数NsがNにほぼ等しくなるように増やす。
サイクル数Nsが所定メモリサイクル数Nよりも少な
く、1回のメモリサイクルが低速になった場合):S6
でメモリサイクルのウェイトを減らして、メモリサイク
ル数NsがNにほぼ等しくなるように増やす。
【0023】・S5のNs>Nの場合(測定したメモリ
サイクル数Nsが所定メモリサイクル数Nより多く、1
回のメモリサイクルが高速になった場合):S7でメモ
リサイクルのウェイトを増やして、メモリサイクル数N
sがNにほぼ等しくなるように減らす。
サイクル数Nsが所定メモリサイクル数Nより多く、1
回のメモリサイクルが高速になった場合):S7でメモ
リサイクルのウェイトを増やして、メモリサイクル数N
sがNにほぼ等しくなるように減らす。
【0024】以上によって、CPU1および発振器2が
交換されて一定時間内のクロック数が変更された場合、
一定時間内でメモリ5をアクセスしたメモリサイクル数
Nsを計測し、計測されたメモリサイクル数Nsが所定
値Nよりも少ないときは1回のメモリサイクルが低速と
なったと判明したので、メモリサイクルのウェイトを減
らし、一方、計測されたメモリサイクル数Nsが所定値
Nよりも多いときは1回のメモリサイクルが高速となっ
たと判明したので、メモリサイクルのウェイトを増や
し、メモリサイクル数Nsをほぼ所定値Nに等しくす
る。これらにより、CPU1および発振器2を交換した
場合、動的にメモリサイクル数Nsを常に一定値Nに保
持させることが可能となった。
交換されて一定時間内のクロック数が変更された場合、
一定時間内でメモリ5をアクセスしたメモリサイクル数
Nsを計測し、計測されたメモリサイクル数Nsが所定
値Nよりも少ないときは1回のメモリサイクルが低速と
なったと判明したので、メモリサイクルのウェイトを減
らし、一方、計測されたメモリサイクル数Nsが所定値
Nよりも多いときは1回のメモリサイクルが高速となっ
たと判明したので、メモリサイクルのウェイトを増や
し、メモリサイクル数Nsをほぼ所定値Nに等しくす
る。これらにより、CPU1および発振器2を交換した
場合、動的にメモリサイクル数Nsを常に一定値Nに保
持させることが可能となった。
【0025】図3は、本発明のメモリサイクル説明図を
示す。図3の(a)は、旧機種のメモリサイクル数を示
す。この旧機種のCPU1の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をN回アクセスしたので、メモリサイクル
数Nとなる。
示す。図3の(a)は、旧機種のメモリサイクル数を示
す。この旧機種のCPU1の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をN回アクセスしたので、メモリサイクル
数Nとなる。
【0026】図3の(b)は、タイプ1のメモリサイク
ル数を示す。このタイプ1の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をNs回アクセスしたので、メモリサイク
ル数Nsとなり、Ns>Nであって、1回のメモリサイ
クルが高速化されている。このタイプ1の場合には、メ
モリサイクル数Ns>Nであるので、ウェイトを増やし
て旧機種のメモリサイクル数Nにほぼ等しくなるように
調整する。
ル数を示す。このタイプ1の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をNs回アクセスしたので、メモリサイク
ル数Nsとなり、Ns>Nであって、1回のメモリサイ
クルが高速化されている。このタイプ1の場合には、メ
モリサイクル数Ns>Nであるので、ウェイトを増やし
て旧機種のメモリサイクル数Nにほぼ等しくなるように
調整する。
【0027】図3の(c)は、タイプ2のメモリサイク
ル数を示す。このタイプ2の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をNs回アクセスしたので、メモリサイク
ル数Nsとなり、Ns<Nであって、1回のメモリサイ
クルが低速化されている。このタイプ2の場合には、メ
モリサイクル数Ns<Nであるので、ウェイトを減らし
て旧機種のメモリサイクル数Nにほぼ等しくなるように
調整する。
ル数を示す。このタイプ2の場合、一定時間T0の間
に、メモリ5をNs回アクセスしたので、メモリサイク
ル数Nsとなり、Ns<Nであって、1回のメモリサイ
クルが低速化されている。このタイプ2の場合には、メ
モリサイクル数Ns<Nであるので、ウェイトを減らし
て旧機種のメモリサイクル数Nにほぼ等しくなるように
調整する。
【0028】以上の図3の(b)、(c)の場合のよう
に測定したメモリサイクル数Nsが旧機種の(a)のメ
モリサイクル数Nよりも多かったり、少なかったりした
場合、ウェイトを増やしたり、減らしたりしてほぼNに
等しくなるように動的に調整されることとなる。
に測定したメモリサイクル数Nsが旧機種の(a)のメ
モリサイクル数Nよりも多かったり、少なかったりした
場合、ウェイトを増やしたり、減らしたりしてほぼNに
等しくなるように動的に調整されることとなる。
【0029】図4は、本発明のメモリサイクルの調整説
明図を示す。図4の(a)は、測定したメモリサイクル
数Nsが所定値Nよりも多い場合を示す。このNs>N
の場合には、当初図3の(b)に示すように一定時間T
0の間に計測したメモリサイクル数NsがNよりも多い
ので、ウェイトを1つ増やす。そして、再度、メモリサ
イクルNsを測定し、Nと比較し、Ns>Nの場合に
は、更にウェイトを増やすことを繰り返し、所定のメモ
リサイクル数Nに収れんさせる。
明図を示す。図4の(a)は、測定したメモリサイクル
数Nsが所定値Nよりも多い場合を示す。このNs>N
の場合には、当初図3の(b)に示すように一定時間T
0の間に計測したメモリサイクル数NsがNよりも多い
ので、ウェイトを1つ増やす。そして、再度、メモリサ
イクルNsを測定し、Nと比較し、Ns>Nの場合に
は、更にウェイトを増やすことを繰り返し、所定のメモ
リサイクル数Nに収れんさせる。
【0030】図4の(b)は、測定したメモリサイクル
数Nsが所定値Nよりも少ない場合を示す。このNs<
Nの場合には、当初図3の(c)に示すように一定時間
T0の間に計測したメモリサイクル数NsがNよりも少
ないので、ウェイトを1つ減らす。そして、再度、メモ
リサイクルNsを測定し、Nと比較し、Ns<Nの場合
には、更にウェイトを減らすことを繰り返し、所定のメ
モリサイクル数Nに収れんさせる。
数Nsが所定値Nよりも少ない場合を示す。このNs<
Nの場合には、当初図3の(c)に示すように一定時間
T0の間に計測したメモリサイクル数NsがNよりも少
ないので、ウェイトを1つ減らす。そして、再度、メモ
リサイクルNsを測定し、Nと比較し、Ns<Nの場合
には、更にウェイトを減らすことを繰り返し、所定のメ
モリサイクル数Nに収れんさせる。
【0031】以上のようにして、一定時間T0の間、計
測したメモリサイクル数Nsが所定のメモリサイクル数
Nよりも多い/少ないによってウェイトを増やす/減ら
すことを繰り返し、所定のメモリサイクル数Nにほぼ等
しくなるまで繰り返すことにより、自動的にメモリサイ
クル数NsをほぼNに等しくすることが可能となる。
測したメモリサイクル数Nsが所定のメモリサイクル数
Nよりも多い/少ないによってウェイトを増やす/減ら
すことを繰り返し、所定のメモリサイクル数Nにほぼ等
しくなるまで繰り返すことにより、自動的にメモリサイ
クル数NsをほぼNに等しくすることが可能となる。
【0032】図5は、本発明のメモリサイクルの増減例
を示す。図1のメモリ制御部3が発振器2から供給され
たクロックをもとにメモリ5をアクセスするメモリサイ
クルは図示のように複数のクロックからなるメモリサイ
クルで行っているので、クロック1個単位に増やした
り、減らしたりして図示のウェイトを調整し、一定時間
T0内のメモリサイクル数Nsを任意に調整することが
可能となる。
を示す。図1のメモリ制御部3が発振器2から供給され
たクロックをもとにメモリ5をアクセスするメモリサイ
クルは図示のように複数のクロックからなるメモリサイ
クルで行っているので、クロック1個単位に増やした
り、減らしたりして図示のウェイトを調整し、一定時間
T0内のメモリサイクル数Nsを任意に調整することが
可能となる。
【0033】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
CPU1の交換時にメモリサイクル数Nsを計測し、多
いときにウェイトを増やし、少ないときにウェイトを減
らしてメモリサイクル数Nsを動的にほぼ一定とする構
成を採用しているため、CPU1および発振器2の水晶
を交換してクロック周波数が変わってもメモリサイクル
のウェイト増減して自動調整できる。これらにより、従
来の互換モードと、CPU本来の速度で動作する高速モ
ードとの両者のメモリ制御回路を設けて切り替える必要
がなくなり、回路構成が簡単かつ切り替えの手間が不要
となり、しかもいずれのクロック周波数のCPU1や発
振器2に交換してもメモリサイクル調整の自動化を実現
できた。
CPU1の交換時にメモリサイクル数Nsを計測し、多
いときにウェイトを増やし、少ないときにウェイトを減
らしてメモリサイクル数Nsを動的にほぼ一定とする構
成を採用しているため、CPU1および発振器2の水晶
を交換してクロック周波数が変わってもメモリサイクル
のウェイト増減して自動調整できる。これらにより、従
来の互換モードと、CPU本来の速度で動作する高速モ
ードとの両者のメモリ制御回路を設けて切り替える必要
がなくなり、回路構成が簡単かつ切り替えの手間が不要
となり、しかもいずれのクロック周波数のCPU1や発
振器2に交換してもメモリサイクル調整の自動化を実現
できた。
【図1】本発明の原理ブロック図である。
【図2】本発明の動作説明フローチャートである。
【図3】本発明のメモリサイクル説明図である。
【図4】本発明のメモリサイクルの調整説明図である。
【図5】本発明のメモリサイクルの増減例である。
【図6】従来技術の説明図である。
1:交換対象のCPU 2:発振器 3:メモリ制御部 4:時間調整部 5:メモリ
Claims (1)
- 【請求項1】クロックを発振する発振器(2)と、 この発振器(2)によって発振されたクロックに同期し
て処理を行うCPU(1)と、 交換可能なCPU(1)の動作周波数に対応して上記発
振器(2)によって発振されたクロックを用いてメモリ
(5)をアクセスするときに、一定時間の間の計測した
メモリサイクル数Nsが所定値Nよりも多いときにメモ
リサイクルのウェイトを増やし、一方、少ないときにメ
モリサイクルのウェイトを減らす時間調整部(4)とを
備えたことを特徴とする互換制御装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6132736A JPH086845A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 互換制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6132736A JPH086845A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 互換制御装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH086845A true JPH086845A (ja) | 1996-01-12 |
Family
ID=15088401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6132736A Withdrawn JPH086845A (ja) | 1994-06-15 | 1994-06-15 | 互換制御装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH086845A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007067186A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 電子部品装着装置 |
JP2017041815A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 日本電信電話株式会社 | Ip網加入者収容装置制御システム、その制御方法およびそのプログラム |
-
1994
- 1994-06-15 JP JP6132736A patent/JPH086845A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007067186A (ja) * | 2005-08-31 | 2007-03-15 | Hitachi High-Tech Instruments Co Ltd | 電子部品装着装置 |
JP2017041815A (ja) * | 2015-08-21 | 2017-02-23 | 日本電信電話株式会社 | Ip網加入者収容装置制御システム、その制御方法およびそのプログラム |
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