JPH0855868A - ワイヤボンディング装置 - Google Patents

ワイヤボンディング装置

Info

Publication number
JPH0855868A
JPH0855868A JP6193045A JP19304594A JPH0855868A JP H0855868 A JPH0855868 A JP H0855868A JP 6193045 A JP6193045 A JP 6193045A JP 19304594 A JP19304594 A JP 19304594A JP H0855868 A JPH0855868 A JP H0855868A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
electrode
wire
substrate
wire bonding
cleaning
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP6193045A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroshi Haji
宏 土師
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6193045A priority Critical patent/JPH0855868A/ja
Priority to US08/427,218 priority patent/US5676856A/en
Publication of JPH0855868A publication Critical patent/JPH0855868A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies
    • H01L24/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
    • H01L2224/48091Arched
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/481Disposition
    • H01L2224/48151Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
    • H01L2224/48221Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
    • H01L2224/48245Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
    • H01L2224/48247Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/484Connecting portions
    • H01L2224/48463Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond
    • H01L2224/48465Connecting portions the connecting portion on the bonding area of the semiconductor or solid-state body being a ball bond the other connecting portion not on the bonding area being a wedge bond, i.e. ball-to-wedge, regular stitch
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7801Means for cleaning, e.g. brushes, for hydro blasting, for ultrasonic cleaning, for dry ice blasting, using gas-flow, by etching, by applying flux or plasma
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/7825Means for applying energy, e.g. heating means
    • H01L2224/783Means for applying energy, e.g. heating means by means of pressure
    • H01L2224/78301Capillary
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/74Apparatus for manufacturing arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and for methods related thereto
    • H01L2224/78Apparatus for connecting with wire connectors
    • H01L2224/787Means for aligning
    • H01L2224/78703Mechanical holding means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85009Pre-treatment of the connector or the bonding area
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/85Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a wire connector
    • H01L2224/85009Pre-treatment of the connector or the bonding area
    • H01L2224/8503Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector
    • H01L2224/85035Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball"
    • H01L2224/85045Reshaping, e.g. forming the ball or the wedge of the wire connector by heating means, e.g. "free-air-ball" using a corona discharge, e.g. electronic flame off [EFO]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/01Chemical elements
    • H01L2924/01033Arsenic [As]
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/10Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
    • H01L2924/1015Shape
    • H01L2924/1016Shape being a cuboid
    • H01L2924/10162Shape being a cuboid with a square active surface

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 ワイヤボンディングに先立ち簡易に電極をク
リーニングをするワイヤボンディング装置を提供するこ
とを目的とする。 【構成】 ワイヤ11が挿通されたキャピラリツール1
2と、キャピラリツール12を昇降させるアーム10
と、ワイヤ11に対して電位差を有し、かつワイヤ11
の下端部に接近してスパークを発生し、ボールを形成す
るトーチ電極13と、基板2の電極3に導通するように
基板2を押える押え部材5と、押え部材5に対して電位
差を有し、基板2の電極3に接近してスパークを発生す
るクリーニング電極16とを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ワイヤボンディングに
先立ち基板の電極のクリーニングを行えるようにしたワ
イヤボンディング装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】基板の電極とこの基板に搭載されたチッ
プの電極をワイヤで接続するワイヤボンディングにおい
て、基板やチップの表面の電極が酸化膜や有機物質(例
えば、フェノール、エポキシ)などの汚染物により汚れ
ているとボンディング不良が生じやすい。そこで本出願
人は、ワイヤボンディングに先立って基板やチップの表
面の電極をクリーニングするプラズマクリーニング装置
を提案した(特開平4−123430号公報)。
【0003】このプラズマクリーニング装置は、チップ
が搭載された基板をケーシングの内部に収納し、ケーシ
ング内にプラズマを発生させることにより、電極の表面
にイオンを衝突させて汚染物をクリーニング対象から取
り除くものであり、多数枚の基板を作業性よくクリーニ
ングできる長所を有している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら上記従来
のプラズマクリーニング装置は、クリーニング対象とし
ての電極だけでなく、基板やチップの表面全体にイオン
が衝突するため、電極以外の基板やチップの表面が傷つ
きやすいという問題点があった。またこのプラズマクリ
ーニング装置はかなり大型設備であって大きな設置スペ
ースを必要とし、また相当高価なものであった。さらに
プラズマクリーニング装置では、プラズマ発生のための
減圧雰囲気を生成する必要があり、処理時間が長いとい
う問題点もあった。
【0005】そこで本発明は、基板やチップの電極など
のクリーニング対象のみを簡単にクリーニングできるク
リーニング手段を備えたワイヤボンディング装置を提供
することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明のワイヤボンディ
ング装置は、ワイヤが挿通されたキャピラリツールと、
キャピラリツールを昇降させるアームと、ワイヤに対し
て電位差を有し、かつワイヤの下端部に接近してスパー
クを発生し、ボールを形成するトーチ電極と、基板の電
極に導通するように基板を押える押え部材と、押え部材
に対して電位差を有し、基板の電極に接近してスパーク
を発生するクリーニング電極とを備える。
【0007】
【作用】上記構成により、ワイヤボンディングを行うに
先立ち、クリーニング電極を基板の電極に近接させ、基
板の電極とクリーニング電極との間においてスパークを
発生させ、基板の電極のクリーニングを行う。次に、ク
リーニングされた基板の電極とチップの電極とをワイヤ
ボンディングする。
【0008】
【実施例】次に図面を参照しながら本発明の実施例を説
明する。図1は本発明の一実施例におけるワイヤボンデ
ィング装置の斜視図、図2は本発明の一実施例における
ワイヤボンディング装置のブロック図、図3は本発明の
一実施例におけるワイヤボンディング装置の動作説明図
である。
【0009】図1において、1はリードフレーム又は厚
膜セラミックス基板などの基板2をX方向に搬送あるい
は位置決めする搬送レール、3は基板2上において基板
2に搭載されたチップ4を囲むように形成された電極で
ある。電極3の表面には、接着剤によりチップ4を基板
2に固着するキュア工程などにおいて、汚染物17(図
3参照)が付着していることが多い。
【0010】5は搬送レール1上の基板2を上方から押
える押え部材であり、少なくとも基板2の電極3に接触
する部分はステンレス鋼などの導電材からなる。また押
え部材5には、図示しているようにチップ4や電極3を
露呈させるための開口部5aが開けられている。さらに
押え部材5の表面には、絶縁コート6が被覆され、後述
するスパークが電極3でなく、直接押え部材5に飛ばな
いようにしてある。
【0011】7は搬送レール1と対面するように配設さ
れ、かつXテーブル9、Yテーブル8上に載置されたユ
ニットボックスであり、ユニットボックス7内には公知
の(例えば特開平4−291735号公報)に記載の駆
動機構が収納され、この駆動機構により、キャピラリツ
ール12を先端部に保持するアーム10を揺動させるこ
とにより、キャピラリツール12を昇降させる。13は
キャピラリツール12の側方に位置するようユニットボ
ックス7に固定されたトーチ電極であり、キャピラリツ
ール12に挿通されたワイヤ11の下端部にスパークを
飛ばしてボールを形成する。
【0012】14はユニットボックス7から搬送レール
1に向かって延びる支持杆であり、支持杆14の先端部
には、回転型のシリンダ17によって図1の矢印方向に
揺動する揺動アーム15が取付けられている。16は揺
動アーム15の先端部に下向きに取付けられた棒状のク
リーニング電極であり、揺動アーム15を揺動させる
と、クリーニング電極16の下端部を電極3に近接/離
反できるようにしてある。
【0013】次に図2を参照しながら、本実施例のワイ
ヤボンディング装置の電気的な構成について説明する。
まず電源装置Aについて説明する。20は直流の高電圧
を発生する電源回路でありマイナス側が第1端子A1を
介して切替手段としての切替スイッチCの第1入力端子
30に接続されている。21は、電源回路20のプラス
側に接続された定電流回路であり、定電流を発生する。
23はタイマであり、外部の制御部Bからのトリガ信号
によりスイッチング回路22を一定時間オン/オフす
る。24は放電を安定させるための抵抗を有する安定器
であり、安定器24は第2端子A2に接続されている。
【0014】次に切替スイッチCについて説明する。切
替スイッチCは、制御部Bの切替信号を受けて、2系統
のプラス側、マイナス側を連動して切替えるものであ
り、その第1入力端子30は電源装置Aの第1端子A1
(マイナス側)、第2入力端子31は同第2端子A2
(プラス側)に接続されている。また、マイナス側の第
1出力端子32はクリーニング電極16に、第2出力端
子33はトーチ電極13にそれぞれ接続されている。ま
たプラス側の第3出力端子34は押え部材5(即ち電極
3)に、第4出力端子35はワイヤ11にそれぞれ接続
されている。
【0015】したがって切替スイッチ31を図2の状態
にしてクリーニング電極16を電極3に近接させ、電源
装置Aを作動させると、電極3とクリーニング電極16
の間でスパークが発生し、電極3をスパークの熱でクリ
ーニングできる。また、制御部Bが切替スイッチ31を
反転させ、ワイヤ11の下端部にトーチ電極13を近接
させた状態で電源装置Aを作動させると、ワイヤ11と
トーチ電極13の間でスパークが発生し、ワイヤ11の
下端部にボールを形成することができる。このように本
実施例では、電源装置Aをボール形成と、クリーニング
の双方に共用しているので、従来のワイヤボンディング
装置に対して特に大規模化することなく、電極3のクリ
ーニング機能を付加することができる。なお、制御部B
によりトリガ信号と切替信号を出力するタイミングが調
整される。
【0016】次に図3を参照しながら、本実施例のワイ
ヤボンディング装置の動作を説明する。まず基板2の位
置決めを行ってから、基板2の上面を押え部材5で押え
る。次に切替スイッチCを図2の状態とし、クリーニン
グ電極16を電極3のワイヤ11が接合されるボンディ
ング位置の真上に近接させる。そして制御部Bよりトリ
ガ信号を出力してタイマ25を一定時間作動させてスイ
ッチング回路22をオンし、電極3とクリーニング電極
16との間にスパーク17を飛ばし、ボンディング位置
の汚染物を取除く。この動作をXYテーブル8,9を作
動させながら、全ての電極3について行い、クリーニン
グを完了する。次にクリーニング電極16を上昇させる
と共に、切替スイッチCを図2の状態から反転させる。
そしてワイヤ11の下端部をトーチ電極13に近接させ
た状態で制御部Bよりトリガ信号を出力し、ワイヤ11
の下端部とトーチ電極13との間にスパークを発生させ
てワイヤ11の下端部にボールを形成する。その後、キ
ャピラリツール12を昇降させてボールをチップ4の電
極4aに接続した後、ワイヤ11を所定量くり出してク
リーニング済の電極3のボンディング位置に接合する。
【0017】以上の動作をくり返してワイヤボンディン
グを残りの電極3に対して行う。
【0018】
【発明の効果】本発明のワイヤボンディング装置は、ワ
イヤが挿通されたキャピラリツールと、キャピラリツー
ルを昇降させるアームと、ワイヤに対して電位差を有
し、かつワイヤの下端部に接近してスパークを発生し、
ボールを形成するトーチ電極と、基板の電極に導通する
ように基板を押える押え部材と、押え部材に対して電位
差を有し、基板の電極に接近してスパークを発生するク
リーニング電極とを備えるので、プラズマクリーニング
装置のように大規模な設備を用いずとも、簡単に電極を
クリーニングした上でワイヤボンディングを行うことが
できる。
【0019】しかも電極の表面のうちワイヤが接合され
るボンディング位置だけ局所的にクリーニング可能とな
りクリーニングのための大規模な電源装置を必要としな
い。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例におけるワイヤボンディング
装置の斜視図
【図2】本発明の一実施例におけるワイヤボンディング
装置のブロック図
【図3】本発明の一実施例におけるワイヤボンディング
装置の動作説明図
【符号の説明】
2 基板 3 電極 5 押え部材 10 アーム 11 ワイヤ 12 キャピラリツール 13 トーチ電極 16 クリーニング電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】ワイヤが挿通されたキャピラリツールと、
    前記キャピラリツールを昇降させるアームと、前記ワイ
    ヤに対して電位差を有し、かつ前記ワイヤの下端部に接
    近してスパークを発生し、ボールを形成するトーチ電極
    と、基板の電極に導通するように基板を押える押え部材
    と、前記押え部材に対して電位差を有し、基板の電極に
    接近してスパークを発生するクリーニング電極とを備え
    ることを特徴とするワイヤボンディング装置。
  2. 【請求項2】電源装置と、前記電源装置の出力端子を、
    前記ワイヤと前記トーチ電極、又は、前記押え部材と前
    記クリーニング電極のいずれかに択一的に切替える切替
    手段を備えることを特徴とする請求項1記載のワイヤボ
    ンディング装置。
JP6193045A 1994-04-25 1994-08-17 ワイヤボンディング装置 Pending JPH0855868A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6193045A JPH0855868A (ja) 1994-08-17 1994-08-17 ワイヤボンディング装置
US08/427,218 US5676856A (en) 1994-04-25 1995-04-24 Electric discharge apparatus for cleaning electrode on workpiece and method thereof

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6193045A JPH0855868A (ja) 1994-08-17 1994-08-17 ワイヤボンディング装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0855868A true JPH0855868A (ja) 1996-02-27

Family

ID=16301264

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6193045A Pending JPH0855868A (ja) 1994-04-25 1994-08-17 ワイヤボンディング装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0855868A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003037131A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ボンディング装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003037131A (ja) * 2001-07-25 2003-02-07 Sanyo Electric Co Ltd ボンディング装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CA2118619C (en) Wafer release method and apparatus
JPH0855868A (ja) ワイヤボンディング装置
CN100450329C (zh) 膜基板处理装置和膜基板处理方法
JP3123342B2 (ja) ワークの電極のクリーニング装置およびクリーニング方法
JPH05343507A (ja) 静電吸着方法
JP3309764B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JPH0537186A (ja) 異物除去装置
JP2003303854A (ja) チップ実装方法およびそれを用いた装置
JPH0521704A (ja) 半導体装置およびその製造方法
JPS59198735A (ja) シ−ム溶接法
JP3121893B2 (ja) 静電チャック
JP3060852B2 (ja) ワイヤボンディング方法
JP2006184292A (ja) 回路基板の検査装置および検査方法
JPS58114437A (ja) 静電吸着方法
JP2642154B2 (ja) 静電接合治具
JPH07297157A (ja) 半導体基板上の異物除去装置
JPH02186542A (ja) 蛍光表示管
KR100443523B1 (ko) 미립자제거장치
JP3409508B2 (ja) ペレットマウンタ
JPH07176561A (ja) ワイヤボンディング装置
TW546556B (en) Apparatus of controlling air blow for packaging platen
JP2005005172A (ja) 軟x線照射装置及び半導体の組立装置並びに検査装置
JP4258335B2 (ja) ディスプレイパネルの点灯検査装置
JPS586129A (ja) 電子ビ−ム露光装置
JPH04162738A (ja) プロービング装置