JPH0854855A - 空間的光変調器ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法およびディスプレイ装置 - Google Patents

空間的光変調器ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法およびディスプレイ装置

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JPH0854855A
JPH0854855A JP7177658A JP17765895A JPH0854855A JP H0854855 A JPH0854855 A JP H0854855A JP 7177658 A JP7177658 A JP 7177658A JP 17765895 A JP17765895 A JP 17765895A JP H0854855 A JPH0854855 A JP H0854855A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的
影響を減少させる方法およびディスプレイ装置を提供す
る。 【構成】 画像ディスプレイの画素アレイ２００のそれ
ぞれの無欠陥画素は、アドレス指定機構からの入力デー
タに応答して、光が観察表面上へ送られる「オン」状態
と、光が該観察表面上へ送られない「オフ」状態と、の
間で選択的に動作可能である。欠陥は通常、前記入力デ
ータに応答しない欠陥画素２０２が、「オン」または
「オフ」状態に連続的に留まる場合に生じる。それぞれ
の欠陥画素２０２は、該中心欠陥画素２０２に隣接する
第１リングの補償画素２０４により直接取巻かれ、該補
償画素２０４は、中心欠陥画素２０２から間隔をおいた
第２リングの基準画素２０６により直接取巻かれてい
る。前記欠陥の視覚的影響を減少させるために、該欠陥
画素を取巻く第１リング内の少なくとも１つの補償画素
２０４の前記アドレス指定回路決定値が、補正値に変え
られる。

Description

【発明の詳細な説明】
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、空間的光変調器（「Ｓ
ＬＭ」）ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を
減少させる方法に関し、特に、ディジタルマイクロミラ
ーデバイス（ＤＭＤ）または変形可能ミラーデバイス
（やはりＤＭＤ）ＳＬＭの不適正に動作するミラーの、
観察者に対する視覚的影響を改善する方法に関する。該
不適正な動作は、１つまたはそれ以上のミラーが、正し
くない位置、すなわち適正位置が非反射（「オフ」）位
置である時に反射（「オン」）位置、またはその逆、を
占めることから起こる。
【０００２】
【従来の技術】ＳＬＭには、少なくとも４種類がある。
すなわち、電気光学的なもの、磁気光学的なもの、液晶
のもの、およびＤＭＤ、である。後者の種類であるＤＭ
Ｄは、電子的にアドレス指定可能なミラー素子のマイク
ロメカニカルアレイを含む。それらのミラー素子は、そ
れぞれが個々に移動可能な反射器である。それぞれのミ
ラーは光反射画素であり、電気的入力に応答して機械的
に移動しうる。それぞれのミラー上へ入射する光は、そ
れぞれのミラーからの反射により、その方向（又は位
相）を変調されうる。現在までに、ＤＭＤ ＳＬＭは、
光学的相関、スペクトル解析、クロスバ交換、周波数削
除、ディスプレイ投射、印刷、およひ神経ネットワーク
のような応用に用いられることがわかっている。
【０００３】「ＤＭＤ ＳＬＭ」には、弾性体形、膜
形、ならびに片持梁形、捩じれ梁形、および撓み梁形を
含むいくつかの種類がある。ＤＭＤ ＳＬＭ画素の選択
的制御またはアドレス指定は、電子ビーム入力によっ
て、光学的に、または今日好まれるように、ＤＭＤ基板
上に集積された回路によって、行われてきた。
【０００４】ＤＭＤ ＳＬＭアレイのそれぞれの画素
は、入射光を、該画素の位置または方向に依存する経路
に沿って反射する。通常は、それぞれのミラーは、常態
の第１位置または方向と、１つまたはそれ以上の第２位
置または方向と、の間で移動可能または偏向可能であ
る。平常位置、または第２位置の１つ、のいずれかであ
るただ１つの位置において、ミラーは、入射光を選択さ
れた経路に沿って１次受光サイト、例えば光学装置内
へ、またそこから観察表面または感光性ドラム上へ送
る。全ての他の画素位置においては、入射光は、選択さ
れた経路に沿って１次受光サイトへ送られず、それは他
の経路に沿って第２サイトまたは光を吸収または消去す
る「光シンク」へ送られる。
【０００５】ＤＭＤは、正方形、またはほぼ正方形、の
ミラーアレイの形式をとりうる。この場合、それぞれが
関連するアドレス指定機構によって個々に制御可能であ
る画素の位置は、ビデオ表示を発生するように変えられ
うる。権利者を共通とする米国特許第５，０７９，５４
４号、第５，０６１，０４９号、第４，９５４，７８９
号、第４，７２８，１８５号、および第３，６００，７
９８号を参照されたい。また、米国特許第４，３５６，
７３０号、第４，２２９，７３２号、第３，８９６，３
３８号、および第３，８８６，３１０号をも参照された
い。ミラーアレイはまた他の形式、例えば、線形アレ
イ、すなわち行よりも多くの列を有し、長さが幅よりも
遙かに大きいアレイの形式をもとりうる。この後者の場
合には、関連するアドレス指定機構によって決定される
諸ミラーの位置は、反射光が感光性ドラム上に一時に擬
似線状に文字を印刷するように変えられうる。権利者を
共通とする米国特許第５，１０１，２３６号および第
５，０４１，８５１号を参照されたい。両者の場合にお
いては、他の使用環境において、諸ミラーの適切な配置
は、ＤＭＤが光を振幅主モードまたは位相主モードによ
り変調することを可能ならしめる。
【０００６】通常のＭＯＳ処理技術を用いて、上部にミ
ラーを有する基板（例えばシリコンまたはＧａＡｓ）内
および上にアドレス指定回路を形成することにより、諸
ミラーと共にモノリシックに集積アドレス指定回路を製
造するのが便利であることがわかっている。アドレス指
定回路は、平面化し且つその上にそれらのそれぞれのミ
ラーを配置することにより、該回路への光透過を制限
し、またデバイスの大きさを最小化しうる。デバイスの
形式および印加されるアドレス指定電圧に依存して、画
素は、アナログ式、３安定式、または２安定（２進）式
にアドレス指定されうる。
【０００７】膜形ＤＭＤ ＳＬＭは、スペーサグリッド
または他の支持構造上に張られた、メタライズされたポ
リマ膜を含む。該グリッド内の開口は、変調器セルまた
は素子を画定し、それはアドレス電極と、スペーサグリ
ッドによって支持されるポリマ膜の一部とを含む。スペ
ーサグリッドは、該膜の部分と、対応する下にあるアド
レス指定電極と、の間にエアギャップ、すなわち隔離を
形成する。アドレス電極にバイアス電圧を印加すること
によって、アドレス回路のアドレス電極が付勢される
と、平常において平面的な関連する膜部分は、膜とアド
レス電極との間の静電引力により、その常態の伸長され
ていない平面的位置から、エアギャップ内へ曲面的に変
形せしめられ、そこでそれは小形球面鏡として作用す
る。この変形は、変形された膜内に位置エネルギーを蓄
える。アドレス電極が消勢されると、膜に蓄えられた位
置エネルギーは、膜をその平常の平面的位置へ復帰せし
める。それぞれの小形球面鏡によって反射された入射光
は、鏡映反射光の回りに回転対称な比較的狭い円錐内へ
集中せしめられる。従って、画素アレイは、平面的な、
すなわち変調されない、諸画素による鏡映反射から生じ
る光源の像を阻止する位置および大きさを有する、単一
の中央暗体を含むシュリーレン絞りに関連せしめられう
る。変調された、すなわち球面的に変形された諸画素
は、円形の光パッチを該絞りの平面上へ送る。該パッチ
は、絞りの中央暗体上に中心を有するが、それよりも大
きいので、選択された方向に進み、選択されたサイトに
到達する。
【０００８】膜ＤＭＤはまた、シリコンまたは他の基板
上の比較的薄いポリマ膜上に支持された、比較的厚い、
分離された平面ミラーのアレイを形成することによって
も製造されてきた。該基板上および内に形成された、下
にあるアドレス指定回路は、それらの関連する画素が平
常位置にある時は、該関連画素からエアギャップによっ
て隔離されている。該アドレス指定回路が適切に付勢さ
れると、そのミラーすなわち画素は、静電引力によって
基板に向かって変位または偏向せしめられる。諸ミラー
は、それらを直接取巻く膜が、該ミラーをピストン様式
に上下に偏向させるように伸長する間は平坦なままにな
っている。その結果生じる変位パターンは、反射光に対
する対応する位相変調を発生する。このパターンは、シ
ュリーレン投射技術によってアナログ強度の変動に変換
され、または光情報プロセッサに対する入力トランスジ
ューサとして用いられうる。膜形ＤＭＤに関するさらな
る情報は、権利者を共通とする米国特許第４，４４１，
７９１号から得られる。
【０００９】梁形ＤＭＤは、それぞれが１つまたはそれ
以上の、（コンプライアンスのために）比較的薄い一体
的梁またはばねにより支持された、（剛性のために）比
較的厚いミラーを含む。それぞれのミラーおよびその梁
は、構造的に、その関連するアドレス指定回路、および
該アドレス指定回路の一部であるアドレス指定または制
御電極から上に、該梁を支持するスペーサまたは支持柱
により、隔離されて支持される。
【００１０】ミラーすなわち金属部材に偏向力が印加さ
れない場合は、梁は、ミラーを平常の、基板に平行なほ
ぼ水平な位置に保持する。アドレスまたは制御電極が、
アドレス指定回路により電圧を印加されて付勢された時
は、発生した静電界の力線に沿って該電極にアラインさ
れたミラー部分は、該電極に向かって静電的に引きつけ
られる。片持梁および／または捩じれ梁の撓みは、薄い
梁において選択的に起こる。そのような撓みは、偏向ミ
ラーに関連する梁内に位置エネルギーを蓄える。ミラー
をその常態位置へ復帰せしめようとする、蓄えられた位
置エネルギーは、制御またはアドレス電極がもはやミラ
ーを引きつけなくなった時に、ミラーをその平常位置へ
効果的に復帰させる。
【００１１】本発明は、全ての形式のＳＬＭに対して有
用でありうるが、特に梁形ＤＭＤにおいて有用である。
これらの形式のＤＭＤの不適正な動作は、通常は、アレ
イの１つまたはそれ以上のミラーが、適切なアドレス指
定回路の動作にかかわらず固定位置に「固着」して、該
位置に留まることに関連する。ミラーは、入射光を観察
表面上へ反射する位置である「オン」位置、または入射
光を観察表面上へ反射しない位置である「オフ」位置
に、固着しうる。前述の用語法に従うと、「オン」位置
に固着したミラーすなわち画素は、たとえ該画素が「オ
フ」となるべき時、すなわち観察表面へ光を送るべきで
ない時でも、光を観察表面へ連続的「輝点」として連続
的に反射する。さらに、「オフ」位置に固着したミラー
すなわち画素は、たとえ該画素が「オン」となって観察
表面へ光を送るべき時でも、光を観察表面へ反射せず、
連続的に「暗点」を生じる。これらの望ましくない、不
適正な輝点および暗点は、ここでは欠陥と呼ばれる。
【００１２】ＤＭＤディスプレイにおける欠陥は、最小
限のこととして、観察者に支障を与える。それらは、デ
ィスプレイの他部分に起こる視覚的変化にかかわらず持
続する、継続的明領域または暗領域を発生する。最悪の
場合には、そのような欠陥は、ディスプレイが意味ある
視覚情報を与えることを阻止する。ＤＭＤ ＳＬＭの製
造様式のために、固着した画素に対し、それらを動作可
能にする目的で、アクセスすることは不可能である。さ
らに、ＤＭＤ ＳＬＭディスプレイが最初にサービス状
態にされた時、適正に動作可能である画素は、後に固着
状態になりうる。その逆も可能であり、すなわち、前に
固着していたミラーは、非固着状態になりうる。
【００１３】
【発明が解決しようとする課題】以上の結果、そのよう
な欠陥の観察者に対する視覚的影響を減少させる方法
は、支障を解消して意味ある情報が与えられることを保
証するものであり、その方法は、必要性に基づいて選択
的に行うことができるものであって、本発明の１つの目
的である。
【００１４】
【課題を解決するための手段】本発明は、画像ディスプ
レイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法お
よびディスプレイ装置を提供する。該ディスプレイは、
それぞれの無欠陥画素が、アドレス指定機構による入力
データに応答して、光が観察表面上へ送られる「オン」
状態と、光が該観察表面上へ送られない「オフ」状態
と、の間で選択的に動作可能である画素のアレイを含
む。欠陥は、前記アドレス指定機構から与えられた前記
入力データに応答しない欠陥画素により、通常はそれが
「オン」または「オフ」状態に連続的に留まることによ
って、生じるものである。それぞれの欠陥画素は、該中
心欠陥画素に隣接する第１リングの補償画素によって直
接取巻かれている。該補償画素は、前記中心欠陥画素か
ら間隔をおいた第２リングの基準画素によって直接取巻
かれている。前記欠陥の前記視覚的影響を減少させるた
めに、該欠陥画素を取巻く第１リング内の少なくとも１
つの補償画素の前記アドレス指定回路決定値が、その所
望値すなわち意図値から、補正値に変えられる。
【００１５】１実施例においては、補償画素の値は、全
ての補償画素および欠陥画素に対する平均視覚検出値
が、該欠陥画素の意図された値に等しくなるように選択
される。
【００１６】もう１つの実施例においては、補償画素の
値は、それぞれの補償画素の所望値に対しオフセットを
加算することによって調節される。該オフセットは、該
オフセット値の和が、欠陥画素の意図された値から、該
欠陥画素の視覚検出値を減じたものに等しくなるように
選択される。
【００１７】さらにもう１つの実施例においては、ｓｉ
ｎｃ関数に基づくスケーリング関数が、補償画素の値、
または補償画素に適用されるオフセット、を決定するの
に用いられる。
【００１８】本発明の１実施例によるディスプレイ装置
においては、少なくとも１つの動作不能画素と、該動作
不能画素に隣接する少なくとも１つの補償画素と、を含
む画素のアレイから構成される変調器が、該アレイの画
素に対応する画像データ値の集合を受け、該画像データ
値の集合を表すように前記画素を選択的に作動させる。
プロセッサが、画像信号を受け、前記補償画素に対応す
る前記画像データ値を変えた後、該画像データ値の集合
を前記変換器へ出力し、それによって前記欠陥画素を補
償する。
【００１９】
【実施例】ある形式のＤＭＤディスプレイにおいては、
観察者に対して実際の運動の効果を与えるために、通常
は５０ないし６０フレーム毎秒のレートで、多重ビデオ
画像が投射される。それぞれのフレームは、ディスプレ
イされている画像の完全な「スナップ」または「フレー
ムグラブ」を表す。前述のように、２安定ＤＭＤ変調器
のＤＭＤ素子またはミラーは、２位置の一方、すなわち
オンまたはオフ、をとりうるのみであり、グレースケー
ル画像を投射するためには、フレーム内のそれぞれの変
調器素子のデューティサイクルが変調される。通常これ
は、図１に示されているように、それぞれのフレーム周
期１００を、多重サブフレームまたは「ビットプレー
ン」期間１０２、１０４、１０６、１０８に分割するこ
とによって行われる。一般に、フレーム内のそれぞれの
ビットプレーン中にディスプレイされるデータは独自の
ものである。観察者の目および脳は、多重フレームが積
分されて完全運動ビデオ（ｆｕｌｌ−ｍｏｔｉｏｎ ｖ
ｉｄｅｏ）の効果を実現するのとほとんど同様に、多重
ビットプレーンを積分してフレームを作る傾向がある。
【００２０】画素の所望強度を表す２進コード化ワー
ド、すなわち強度ワード、からビットプレーンを発生さ
せる最も簡単な方法は、強度ワードのそれぞれのビット
を用いて１ビットプレーンを作ることである。その場
合、それぞれのビットは、１つのサブフレームまたはビ
ットプレーンに対するミラーの位置を制御する。一般
に、強度ワードのそれぞれのビットがミラー位置を制御
する時間は、ビットの有効係数のそれぞれの増加毎に２
倍になる。例えば、最上位のビットはサブフレーム１０
２中においてディスプレイされ、次の最上位のビットは
サブフレーム１０４中においてディスプレイされ、サブ
フレーム１０４の期間は、サブフレーム１０２の期間の
半分の長さを有する。全てのサブフレームがディスプレ
イされ終わるまで、それぞれの相次ぐサブフレームは、
前のサブフレームの半分の期間の間ディスプレイされ
る。これは、積分されたディスプレイ強度を、強度ワー
ドの直線的表示とする。図１には、８ビットディスプレ
イ装置に対する、あるサンプルの時間線が示されてい
る。この議論を通じて、強度データ値は８ビット値とし
て表されるが、ここで教示される方法は、他のワード長
に対しても同様に適用可能であることを理解すべきであ
る。図１は、最上位１０２から最下位１０８への順序で
ディスプレイされるサブフレームを示しているが、実際
の装置は、通常は降順にデータビットをディスプレイせ
ず、またそれぞれのサブフレーム期間も必ずしも近接し
ていない。例えば、あるディスプレイ装置においては、
多重ビットプレーンの諸部分が同時にディスプレイされ
るので、任意の与えられた時刻において、アレイの異な
る諸部分がさまざまな有効係数のデータビットをディス
プレイしつつある。ビットプレーンの分割に関するさら
なる情報は、権利者を共通とする米国特許第５，２７
８，６５２号に含まれている。
【００２１】特に、選択されたミラーすなわち画素が、
フレーム周期中に次の諸位置：オン、オン、オフ、オ
フ、オフ、オン、オフ、オン、を有するものと仮定す
る。この位置のシーケンスは、８ビット２進数１１００
０１０１によって表され、その等価の１０進数は１９７
である。数１９７は、このフレーム中に人の目／脳によ
って評価される、画素のグレースケール値として考えら
れうる。もし、この同じ画素がオンに固着すれば、それ
によって発生する欠陥は、２５５の連続的なグレースケ
ールフレーム値を有し、もしそれがオフに固着すれば、
欠陥の値は０になる。
【００２２】ＤＭＤディスプレイの研究および解析にお
いて、ある重要な観察が行われた。まず、不適正に動作
するミラー付近のミラーの、オンまたはオフの条件が、
欠陥の視覚的影響を減少させるように適切に調節される
時は、欠陥の影響が改善されうる。
【００２３】図２に示されている画素アレイ２００内の
固着した画素、すなわち欠陥画素２０２、の影響を改善
する最も容易な方法の１つは、欠陥画素２０２からの反
射光の増加または減少を補償するために、欠陥画素２０
２を取巻く画素２０４を用いることである。例えば、図
２に示されているそれぞれの画素における所望強度が、
図３のマトリックス内に示されている対応する強度値に
等しいと仮定する。図３に示されている場合には、こと
ごとくの画素の意図された強度値は１８０である。もし
欠陥画素２０２の意図された強度が、図３の要素Ｃ３に
よって示されているように１８０であるが、画素２０２
がオン（強度＝２５５）に固着したものとすれば、ディ
スプレイのそれぞれのフレーム内に、７５ビット期間の
過剰な光が存在することになる。この過剰な光を減少さ
せるために、欠陥画素２０２を取巻く８画素２０４のそ
れぞれは、図４に示されている実際の強度値のマトリッ
クスにおけるように、９ビット期間だけ減少せしめられ
る。その結果、欠陥画素２０２および８つの周囲画素２
０４からは、最初の７５ビット期間に対し、わずか３最
下位ビット期間しか大きすぎない合計光を生じる。欠陥
画素２０２を取巻く８画素２０４は、欠陥画素２０２を
補償するために用いられたので、８画素２０４は、補償
画素２０４と呼ばれる。図５は、もし画素Ｃ３がオフに
固着した場合にディスプレイされる強度値を示す。
【００２４】欠陥画素の影響を改善するために最良の動
作を行う補償画素に課せられる値を確かめる試みにおい
ては、平均を行うことと、一種の平均を行う電気的低域
フィルタの動作と、の間の類似が用いられた。低域フィ
ルタによって行われる平均のタイプから得られるさまざ
まな平均技術が、画素フレーム値に対して適用された。
効果的な低域フィルタは、次式で与えられ、図６に示さ
れている、いわゆるｓｉｎｃ関数特性、すなわち、単位
インパルスを低域フィルタリングすることによって発生
せしめられる関数と一致する特性応答、を有するもので
ある。
【００２５】
【数１】Ｙ＝（ｓｉｎＸ）／（Ｘ） ただし、Ｙは応答の大きさであり、Ｘは欠陥画素２０２
からの距離を表す。
【００２６】ｓｉｎｃ関数の波形６００は、１の値を有
する中央曲線部分６０２と、その両側の、一般に対称
な、正になり、また負になる減衰部分６０４と、を有す
ることを特徴とする。減衰側方部分６０４は、補償画素
がとるべき適切な値に関係すると思われた。実際、減衰
側方部分の近似は「補償」値に関係し、その「補償」値
は、もし補償画素２０４に割当てられれば、欠陥画素２
０２の実際の強度値と、所望強度値との間、あるいは別
の場合には、欠陥画素２０２の実際の強度値と、１つま
たはそれ以上の近くの基準画素２０６の強度値との間、
の差をオフセットし、それによって、絶えずオンまたは
絶えずオフになっている欠陥画素２０２を改善すること
ができる。この技術の適用およびその改良は、本発明の
もう１つの目的である。
【００２７】ｓｉｎｃ関数を画素マトリックスに関連さ
せるために、直交方向に隣接する画素間の距離は３Π／
２ラジアンに等しくセットされる。図６に示されている
ように、直交方向に隣接する補償画素に対してはＸ＝３
Π／２ラジアンであり、関数の値は−０．２１２２とな
る。対角線方向に隣接する画素に対しては、Ｘ＝２1/ 2
３Π／２ラジアンであり、関数の値は０．０５５８とな
る。
【００２８】ｓｉｎｃ関数形の補正の実施には、多くの
方法がある。最も簡単な方法は、補償画素２０４または
基準画素２０６のいずれの所望強度の知識をも必要とし
ない。この第１方法によれば、単位インパルス応答（Ｙ
＝１）が、欠陥画素の実際の強度と、基準画素の所望強
度との間の差に比例するものと仮定される。その場合、
補償画素の強度は次式によって決定される。
【００２９】
【数２】Ｘ＝Ａ（Ｂ−Ｃ）＋Ｃ ただし、Ｘは補償画素２０４に割当てられる強度値であ
り、Ａは該補償画素のために評価されたｓｉｎｃ関数の
値であり、Ｂは欠陥画素２０２の実際の強度値であり、
Ｃは欠陥画素２０２の所望強度値である。
【００３０】直交方向に隣接する補償画素に対してはＡ
＝−．２１２２であり、対角線方向に隣接する補償画素
に対してはＡ＝−．０５５８である。図７は、画素Ｃ３
がオンに固着している時に、図３に示されている所望強
度を有する画素アレイがディスプレイされた場合の、実
際の強度値のマトリックスである。図８は、画素Ｃ３が
オフに固着している時の、図７のマトリックスである。
図７において、８補償画素２０４と、欠陥画素２０２と
によってディスプレイされる平均強度は、１８０の所望
強度と比較して、１８３である。図８においては、平均
強度は、１８０の所望強度と比較して、１７９．６であ
る。
【００３１】図７および図８からわかるように、対角線
方向に隣接する補償画素に割当てられる強度値は、該補
償画素の意図された強度値に極めて近い。従って、対角
線方向に隣接する補償画素は、欠陥画素２０２の補償に
対して極めてわずかしか寄与しない。４つの直交方向に
隣接する補償画素の強度値のみを調節することにより、
必要な処理電力を減少させ、しかもほぼ同じ補償効果を
実現することは可能である。図９および図１０は、オン
に固着（図９）またはオフに固着（図１０）した欠陥画
素２０２を補償するために、４つの直交方向に隣接する
補償画素のみが用いられる時に、図３のマトリックスに
対して実際にディスプレイされる強度値を示す。
【００３２】本発明による欠陥画素の補償の別の方法
は、８補償画素２０４のそれぞれに対して同じ強度値を
用いる。この方法によれば、対角線方向に隣接する補償
画素は、直交方向に隣接する補償画素と同じ値を割当て
られる。この方法は、８補償画素２０４を与え、１補償
値のみの計算を必要とする。図１１および図１２は、画
素Ｃ３がオンに固着（図１１）またはオフに固着（図１
２）した時に、この方法によって実際にディスプレイさ
れる強度値を示す。
【００３３】本方法はこれまで、欠陥画素２０２の意図
された、すなわち所望の、強度値と、欠陥画素２０２の
実際にディスプレイされる強度値と、のみを用いること
により、補償画素の値を決定してきたが、第２の方法
は、欠陥画素２０２の実際にディスプレイされる強度お
よび所望強度を用いて、補償画素２０４に適用されるオ
フセット値を決定することを含む。隣接し、かつ直交方
向にある補償画素２０４に関して上述されたいずれのオ
プションも以下の方法において用いられうるが、図示さ
れる例は、全ての８補償画素２０４が直交方向補償画素
として扱われることを仮定する。第１の方法と第２の方
法との相違は、第１の方法においては補償画素２０４に
割当てられる値が、欠陥画素２０２の所望値および実際
値のみによって決定されたが、本発明の第２の方法は、
欠陥画素２０２の所望値および実際値に基づいてオフセ
ットを決定し、このオフセットを次式に従って補償画素
の所望値に加算することである。
【００３４】
【数３】Ｘn ＝Ａ（Ｂ−Ｃ）＋Ｄn ただし、Ｘn は補償画素２０４に割当てられる強度値で
あり、Ａは該補償画素のために評価されたｓｉｎｃ関数
の値（この例では−．２１２２）であり、Ｂは欠陥画素
２０２の実際の強度値であり、Ｃは欠陥画素２０２の所
望強度値であり、Ｄn は該補償画素の所望値である。
【００３５】この第２の方法は、原強度値の集合に含ま
れる画像情報を失わない利点を有する。原補償強度値に
含まれる情報の損失は、図３におけるように全画素に対
する所望値が等しい時には、ディスプレイされる画像を
変化させることはないが、特にもし強度の輪郭に、ビデ
オディスプレイ装置の相次ぐ画像の間の画像移動が伴っ
た場合は、前記損失は、図１３に示されているような強
度「エッジ」または強度「輪郭」を含んでいた画像を劣
化させる。図１４および図１５は、オンに固着（図１
４）またはオフに固着（図１５）した欠陥画素２０２を
補償するために、８補償画素が上記の式によってオフセ
ットされた時、図１３のマトリックスに対して実際にデ
ィスプレイされる強度値を示す。図１４および図１５に
示されているように、補償画素２０４は、欠陥画素２０
２を補償するためにオフセットされつつ、原強度輪郭を
維持する。図１４においては、それぞれの補償画素２０
４の強度値は、２７減少せしめられ、一方図１５におい
ては、それぞれの補償画素２０４の強度値は、２７増加
せしめられている。
【００３６】本発明の第３の方法は、周囲の基準画素２
０６、すなわちＡ１からＡ５まで、Ｂ１、Ｂ５、Ｃ１、
Ｃ５、Ｄ１、Ｄ５、およびＥ１からＥ５まで、を用いて
補償画素の値、または補償画素２０４に対するオフセッ
トを計算する。補償画素に対して値を割当てるために
は、次式が用いられる。
【００３７】
【数４】Ｘ＝Ａ（Ｂ−Ｃ）＋Ｄ ただし、Ｘは補償画素２０４に割当てられる強度値であ
り、Ａは該補償画素のために評価されたｓｉｎｃ関数の
値（この例では−．２１２２）であり、Ｂは欠陥画素２
０２の実際の強度値であり、Ｃは１６基準画素２０６の
平均値であり、Ｄは欠陥画素２０２の所望強度値であ
る。補償画素をオフセットすることによって欠陥画素２
０２を補償するためには、次式が用いられる。
【００３８】
【数５】Ｘn ＝Ａ（Ｂ−Ｃ）＋Ｄn ただし、Ｘn は補償画素２０４に割当てられる強度値で
あり、Ａは該補償画素のために評価されたｓｉｎｃ関数
の値（この例では−．２１２２）であり、Ｂは欠陥画素
２０２の実際の強度値であり、Ｃは基準画素２０６の平
均値であり、Ｄnは該補償画素の所望値である。
【００３９】この第３の方法に代わる方法は、上記の式
における「Ｃ」の代わりに、１６基準画素２０６と、欠
陥画素２０２の所望値との平均値を用いて、補償画素の
値を決定する。図１６および図１７は、８補償画素２０
４が上記の式によってオフセットされ、それによって、
オンに固着（図１６）またはオフに固着（図１７）した
欠陥画素２０２が補償された時に、図１３のマトリック
スに対して実際にディスプレイされる強度値を示す。図
１６においては、それぞれの補償画素２０４の強度値
は、２０減少せしめられ、一方図１７においては、それ
ぞれの補償画素２０４の強度値は、３４増加せしめられ
ている。
【００４０】上述の実施例は、原補償画素２０４からの
情報を保存することを助けるが、ディスプレイされる画
像内に顕著な強度の輪郭またはエッジが存在する時は、
それはなお補償画素２０４内に含まれる情報を失う傾向
を有する。図１３は、列３および４の間の鮮明な強度変
化をディスプレイする直交画素アレイ２００に対する所
望強度値を示す。画素Ｃ３がオンに固着した時は、前の
アルゴリズムは全ての補償画素２０４を２０だけ減少さ
せることを要求する。列３および４の間の明瞭なエッジ
のために、全ての基準画素２０６を平均すると、補償画
素２０４のＢ２、Ｂ３、Ｃ２、Ｄ２、およびＤ３の減少
を小さくしすぎ、補償画素２０４のＢ４、Ｃ４、および
Ｄ４の減少を大きくしすぎる。
【００４１】原強度値データの集合内に存在しうるエッ
ジおよび輪郭を保存しつつ欠陥画素２０２を補償する、
本発明の第４の方法は、個々の補償画素２０４に対する
値またはオフセットを計算する時の、基準画素２０６の
一部のみの使用を含む。図１８に示されているように、
第１の方法は、それぞれの補償画素１８０４に関し欠陥
画素１８０２の反対側にある基準画素１８０６のみを用
いる。例えば、基準画素１８０６のＡ３の値のみを用い
て、補償画素１８０４のＢ３の値を決定する。図１８内
のそれぞれの矢印１８０８は、基準画素１８０６から補
償画素１８０４へ向かい、補償画素１８０４は基準画素
１８０６によって修正される。図１３に示されている強
度データの集合に、この第１の方法を適用すると、画素
Ｃ３がオンに固着した時は図１９に示され、また、画素
Ｃ３がオフに固着した時は図２０に示されている、補償
画素１８０４に対して示された値が得られる。
【００４２】上述の例は、補償画素１８０４の強度値を
得るために単一の基準画素のみを用いているが、任意の
数の画素が用いられうる。１つの例が図２１に示されて
いるが、これもやはり基準画素２１０６から、それが修
正する補償画素２１０４へ向かう矢印２１０８を用いて
いる。図２１に示されているように、それぞれの補償画
素の強度値は、３基準画素２１０６の値に依存する。こ
こに教示される方法から逸脱することなく、基準画素２
１０６を取巻く領域内の画素を基準画素として用いる方
法を含めて、補償画素２１０４の強度値を補償するのに
は、多くの他の基準画素２１０６のグループが用いられ
うる。
【００４３】以上の例は、孤立した欠陥画素２０２の影
響の補償を示すものであったが、同じ補償技術は、互い
に近くにある、または隣り合ってさえいる、多重欠陥画
素に対しても用いられうる。例えば、画像が、６×８ア
レイの画素から構成され、そのそれぞれが１８０の所望
強度値を有するものと仮定する。図２２は、画素Ｃ３が
オンに固着し、画素Ｄ５およびＣ６がオフに固着したと
仮定した時、ディスプレイされる実際の強度値を示す。
本発明によれば、−１６のオフセットが画素Ｃ３を補償
するのに用いられ、＋３８のオフセットが画素Ｄ５およ
びＣ６を補償するのに用いられる。画素Ｃ４およびＤ４
は、画素Ｃ３およびＤ５の双方を補償するのに用いられ
る。従って、画素Ｃ４およびＤ４は、１８０の所望強度
値に加算される＋２２の正味オフセットを有する。画素
Ｃ５およびＤ６は、画素Ｄ５およびＣ６の双方を補償す
るのに用いられ、従って１８０の所望強度値に加算され
る＋７６の正味オフセットを有する。ここでの例は、８
ビットの強度データワードを仮定しており、それは２５
５の最大強度値を有するので、画素Ｃ５およびＤ６によ
りディスプレイされる実際の強度値は、計算値の２５６
ではなく２５５になる。
【００４４】ここで教示された補償技術は、直交画素ア
レイ内の欠陥画素の補償のためのものと限定されるわけ
ではなく、この技術は、任意の形式の画素アレイに対
し、容易に修正され且つ適用されうる。例えば、図２３
の画素アレイ２３００は、１／２画素だけスタガまたは
シフトされた画素の行を有する。この形式のアレイは通
常、れんが状、スタガ、および基本アレイ、を含むいく
つかの名称によって呼ばれる。図２３においては、画素
２３０２が欠陥画素であるものと仮定される。本発明に
よれば、欠陥画素２３０２を取巻く画素が補償画素２３
０４であり、補償画素２３０４を取巻く画素が基準画素
２３０６である。
【００４５】ここで教示される方法を有利としうる第２
形式の画素アレイは、非方形画素から構成されるアレ
イ、例えば、図２４に示されている６角形画素アレイ２
４００である。図２４においては、画素２４０２が欠陥
画素であるものと仮定される。やはり、欠陥画素２４０
２を取巻く画素が補償画素２４０４であり、補償画素２
４０４を取巻く画素が基準画素２４０６である。
【００４６】ここで教示された、補償画素２０４を補償
するオフセットを決定するための、基準画素２０６の部
分集合の利用方法は、図２５から図２８までに示されて
いるような非直交画素グリッドに対し容易に適用されう
る。図２５から図２８までのそれぞれにおいて、矢印
は、補償画素のそれぞれに関連する基準画素を示す。図
２５は、スタガ画素アレイ２５００を示し、そこでは、
それぞれの補償画素２５０４に適用されるオフセットを
決定するために、１基準画素２５０６が用いられる。図
２６は、スタガ画素アレイ２６００を示し、そこでは、
それぞれの補償画素２６０４に適用されるオフセットを
決定するために、３基準画素２６０６が用いられる。図
２７は、６角形画素アレイ２７００を示し、そこでは、
それぞれの補償画素２７０４に適用されるオフセットを
決定するために、１基準画素２７０６が用いられる。図
２８は、６角形画素アレイ２８００を示し、そこでは、
それぞれの補償画素２８０４に適用されるオフセットを
決定するために、３基準画素２８０６が用いられる。上
述のように、本発明から逸脱することなく、基準および
補償画素の多くの他の配置が可能である。
【００４７】本発明の説明のために用いられた例は、こ
れまではオンに固着、またはオフに固着した欠陥画素に
関するものであったが、本発明はまた、出力が完全なオ
ンと完全なオフとの間にありうる欠陥または動作不能画
素を、補償するためにも用いられる。例えば、発光ダイ
オード（ＬＥＤ）または液晶デバイス（ＬＣＤ）ディス
プレイは、恐らくは下部のアドレス指定回路内の漏れ電
流により、完全に照明化または暗化されえないいくつか
の画素を含みうる。その場合には、隣接画素が、その動
作不能または欠陥画素を補償するために上述のように用
いられうる。
【００４８】図２９は、本発明によるディスプレイ装置
の１例２９００の概略図である。アナログビデオデータ
が、アナログディジタル変換器２９０２によってサンプ
リングされ、プロセッサ２９０４へ送られる。プロセッ
サ２９０４は、データ調整、ガンマ補正、デインタレー
シング、およびデータフォーマッティング、のような多
くの機能を行い、それらの全ては従来技術において公知
である。プロセッサ２９０４によって行われる目下の機
能のほかに、プロセッサ２９０４はまた、本発明により
補償画素に対してオフセットを計算し、かつ適用する。
補償されたディジタルビデオデータは、次にＲＡＭ２９
０６ａ、２９０６ｂ内に記憶され、その後ＳＬＭ２９０
８へ供給される。
【００４９】欠陥画素２０２を補償するために、プロセ
ッサ２９０４は、ここで示唆された任意のアルゴリズム
を用いうる。いずれのアルゴリズムが選択されるかは、
主として、得られる処理スループットの量と、ディスプ
レイされる画像のタイプとに依存する。例えば、前記プ
ロセッサは、欠陥画素の近くに画像の移動がある時は、
補償画素に対する共通値を決定するために、全ての基準
画素２０６を用いるアルゴリズムを選択しうる。このア
ルゴリズムは、実行するのに多くの処理電力を必要とせ
ず、他のプロセスが必要とする処理電力はシーン移動が
ある時には増加しうるので、これは利点である。さら
に、シーン内に移動がある時には、人の目は著しく解像
度を低下するので、観察者が、補償アルゴリズムが簡単
であることによって発生せしめられるなんらかの欠陥を
検出する可能性は少なくなる。
【００５０】前記プロセッサは、欠陥画素マップ２９１
０の内容を読取ることにより、いずれの画素が欠陥画素
であるかを決定する。欠陥画素２０２の位置は、ディス
プレイが組立てられる時、欠陥画素画素マップ２９１０
内に記憶されうる。しかし、ＤＭＤに関しては上述した
ように、ＤＭＤの動作中に、画素が非固着状態になる、
または固着状態になる傾向が存在する。断続的に欠陥性
となる画素の補償は、欠陥画素画素マップ２９１０が、
現在欠陥画素である全ての画素の位置を含むように、周
期的に更新されることを要求する。図３０には、画素の
動作状態を監視しうる装置が示されている。図３０にお
いて、ＳＬＭ２９０８からの光３００２は、大部分の光
３００６をディスプレイスクリーン３００８へ通過させ
るビームスプリッタ３００４を通過する。小部分の光３
０１０は、ビームスプリッタ３００４により、検出器３
０１２へ向けて送られる。第１検出実施例においては、
検出器３０１２は、検出器画素とＳＬＭ画素との間の１
対１の対応を有する検出器アレイである。画像がディス
プレイされている間に、検出器アレイ３０１２の出力を
監視することによって、プロセッサ２９０４は、いずれ
の画素が欠陥画素であるかを決定する。この実施例は、
高価な検出器アレイ３０１２を使用するが、単一画像フ
レーム内の欠陥画素の検出を可能ならしめる。検出器ア
レイ３０１２を使用する装置３０００に代わる装置は、
単一検出器素子３０１２を用いて、画像全体からの光を
測定する。この第２実施例においては、プロセッサ２９
０４は、いずれの画素が固着しているかを推定するの
に、データのために多くのフレームを監視しなくてはな
らない。この第２実施例は、欠陥画素を検出するために
多くの処理電力を使用する欠点を有する。第３実施例
は、単一検出器素子３０１２を用い、ビデオテストフレ
ームの専用シーケンスをディスプレイすることによって
欠陥画素の位置を決定する。これらのテストフレーム
は、観察者によって見つけられないように、十分に遅い
レートで実際の画像フレーム間に散在せしめられうる。
テレビジョン装置においては、テストフレームは、チャ
ネル変更中に挿入されうる。あるいは、テストフレーム
は、装置がターンオンされた時、実際の画像データをデ
ィスプレイする前に実行される自己テストルーチンにお
いてディスプレイされうる。
【００５１】光の一部３０１０を検出器へ送るためのビ
ームスプリッタ３００４の使用は、スクリーン３００８
の方へ送られる光３００６の量を減少させる欠点を有す
る。スクリーン３００８の方へ送られる光３００６の減
少を避けるために、ビームスプリッタ３００４を用いな
いで、スクリーン３００８からの反射光を検出するよう
に検出器３０１２を配置することができる。
【００５２】これまで空間的光変調器ディスプレイ内に
存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法の特定の実
施例を説明してきたが、そのような特定の参考事項は、
特許請求の範囲の記載内容以外に、本発明の範囲を制限
するものと考えられるべきではない。さらに、本発明
を、ある特定の実施例に関連して説明してきたが、本技
術分野に習熟した者にとっては、さらなる改変および置
換の可能性が示唆されていることが理解されるはずであ
り、全てのそのような改変および置換は、特許請求の範
囲内に含まれるように意図されている。
【００５３】以上の説明に関して更に以下の項を開示す
る。 （１）画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響
を減少させる方法であって、該ディスプレイが画素のア
レイを含み、それぞれの無欠陥画素がアドレス指定機構
から供給される入力データに応答して、光が観察表面上
へ送られる「オン」状態と、光が該観察表面上へ送られ
ない「オフ」状態と、の間で選択的に動作可能であり、
欠陥が、前記入力データまたは前記アドレス指定機構の
動作にかかわらず前記「オン」または「オフ」状態に連
続的に留まる欠陥画素によるものであり、それぞれの欠
陥画素が、事実上、中心欠陥画素に隣接する第１リング
の補償画素によって直接取巻かれた該中心欠陥画素であ
り、該第１リングの補償画素が前記中心欠陥画素から間
隔をおいた第２リングの基準画素によって直接取巻かれ
ており、前記方法が、（ａ）欠陥を発生する欠陥画素を
識別するステップと、（ｂ）該欠陥画素を取巻く第１リ
ング内の少なくとも１つの補償画素のアドレス指定回路
決定値を、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＤINT ）＋ＤINT によって与えられる補正値であって、ＣNEW が前記補償
画素に割当てられる強度値であり、ＣSINCが該補償画素
に対して評価されたｓｉｎｃ関数の値であり、Ｄ ACT が
前記欠陥画素の実際の強度値であり、ＤINT が該欠陥画
素の意図された強度値である、前記補正値に変えるステ
ップと、を含む、画像ディスプレイ内に存在する欠陥の
視覚的影響を減少させる方法。
【００５４】（２）画像ディスプレイ内に存在する欠陥
の視覚的影響を減少させる方法であって、該ディスプレ
イが画素のアレイを含み、それぞれの無欠陥画素がアド
レス指定機構から供給される入力データに応答して、光
が観察表面上へ送られる「オン」状態と、光が該観察表
面上へ送られない「オフ」状態と、の間で選択的に動作
可能であり、欠陥が、前記入力データまたは前記アドレ
ス指定機構の動作にかかわらず前記「オン」または「オ
フ」状態に連続的に留まる欠陥画素によるものであり、
それぞれの欠陥画素が、事実上、中心欠陥画素に隣接す
る第１リングの補償画素によって直接取巻かれた該中心
欠陥画素であり、該第１リングの補償画素が前記中心欠
陥画素から間隔をおいた第２リングの基準画素によって
直接取巻かれており、前記方法が、（ａ）欠陥を発生す
る欠陥画素を識別するステップと、（ｂ）該欠陥画素を
取巻く第１リング内の少なくとも１つの補償画素のアド
レス指定回路決定値を補正値に変えるステップであっ
て、それによって前記欠陥の前記視覚的影響を減少さ
せ、該補正値が、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＲAVG ）＋ＤINT によって与えられ、ただしＣNEW が前記補償画素に割当
てられる強度値であり、ＣSINCが該補償画素に対して評
価されたｓｉｎｃ関数の値であり、ＤACT が前記欠陥画
素の実際の強度値であり、ＲAVG が少なくとも１つの基
準画素の平均値であり、ＤINT が前記欠陥画素の所望強
度値である、前記補正値に変えるステップと、を含む、
画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視覚的影響を減少
させる方法。
【００５５】（３）前記ステップ（ａ）が、前記欠陥画
素により前記観察スクリーン上へ送られる実際の光と、
該欠陥画素の前記アドレス指定回路決定値と、を比較す
ることによって行われる、第１項または第２項記載の方
法。 （４）前記欠陥画素の位置をメモリ内に記憶するステッ
プをさらに含む、第１項または第２項記載の方法。
【００５６】（５）少なくとも１つの欠陥画素と、該欠
陥画素に隣接する少なくとも１つの補償画素と、該少な
くとも１つの補償画素に隣接し且つ前記欠陥画素から間
隔をおいた少なくとも１つの基準画素と、を含む画素の
アレイから構成される変調器であって、該アレイの画素
に対応する画像データ値の集合を受け、該画像データ値
の集合を表すように前記画素を選択的に作動させる前記
変調器と、画像信号を受け、前記変調器への前記画像デ
ータ値の集合を計算するプロセッサであって、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＲAVG ）＋ＤINT ただし、ＣNEW は前記補償画素に割当てられる前記画像
データ値であり、ＣSI NCは該補償画素に対して評価され
たｓｉｎｃ関数の値であり、ＤACT は前記欠陥画素の実
際の強度値であり、ＲAVG は少なくとも１つの前記基準
画素の平均値であり、ＤINT は前記欠陥画素の所望強度
値である、に従って前記補償画素に対応する前記画像デ
ータ値を変更する前記プロセッサと、を含む、ディスプ
レイ装置。
【００５７】（６）前記欠陥画素の前記所望強度値であ
るＤINT が、前記補償画素の原値であるＣORG によって
置換される、第２項記載の方法または第５項記載の装
置。
【００５８】（７）ＲAVG が、少なくとも１つの基準画
素と、前記欠陥画素の前記所望値と、の平均値である、
第２項記載の方法または第５項記載の装置。
【００５９】（８）少なくとも１つの欠陥画素と、該欠
陥画素に隣接する少なくとも１つの補償画素と、該少な
くとも１つの補償画素に隣接し且つ前記欠陥画素から間
隔をおいた少なくとも１つの基準画素と、を含む画素の
アレイから構成される変調器であって、該アレイの画素
に対応する画像データ値の集合を受け、該画像データ値
の集合を表すように前記画素を選択的に作動させる前記
変調器と、画像信号を受け、前記変調器への前記画像デ
ータ値の集合を計算するプロセッサであって、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＤINT ）＋ＤINT ただし、ＣNEW は前記補償画素に割当てられる前記画像
データ値であり、ＣSI NCは該補償画素に対して評価され
たｓｉｎｃ関数の値であり、ＤACT は前記欠陥画素の実
際の強度値であり、ＤINT は前記欠陥画素の所望強度値
である、に従って前記補償画素に対応する前記画像デー
タ値を変更する前記プロセッサと、を含む、ディスプレ
イ装置。
【００６０】（９）前記欠陥画素の位置を含むメモリを
さらに含み、該メモリが該欠陥画素の該位置を前記プロ
セッサへ通信する、第５項または第８項記載のディスプ
レイ装置。
【００６１】（１０）前記欠陥画素の位置を検出する手
段をさらに含み、該検出手段が該欠陥画素の該位置を前
記プロセッサへ通信する、第５項または第８項記載のデ
ィスプレイ装置。
【００６２】（１１）前記欠陥画素の前記位置を検出す
る前記手段がカメラである、第１０項記載のディスプレ
イ装置。 （１２）全ての補償画素が同じ値を割当てられる、第１
項または第２項記載の方法、または第５項または第８項
記載の装置。
【００６３】（１３）本発明は、画像ディスプレイ内に
存在する欠陥の視覚的影響を減少させる方法およびディ
スプレイ装置を提供する。該ディスプレイは、それぞれ
の無欠陥画素が、アドレス指定機構による入力データに
応答して、光が観察表面上へ送られる「オン」状態と、
光が該観察表面上へ送られない「オフ」状態と、の間で
選択的に動作可能である画素のアレイ２００を含む。欠
陥は、前記アドレス指定機構から与えられた前記入力デ
ータに応答しない欠陥画素２０２により、通常はそれが
「オン」または「オフ」状態に連続的に留まることによ
って、生じるものである。それぞれの欠陥画素２０２
は、該中心欠陥画素２０２に隣接する第１リングの補償
画素２０４によって直接取巻かれている。該補償画素２
０４は、前記中心欠陥画素２０２から間隔をおいた第２
リングの基準画素２０６によって直接取巻かれている。
前記欠陥の前記視覚的影響を減少させるために、該欠陥
画素を取巻く第１リング内の少なくとも１つの補償画素
２０４の前記アドレス指定回路決定値が補正値に変えら
れる。
【図面の簡単な説明】
【図１】８つの別個のサブフレーム期間を含む１フレー
ム周期を示す、従来技術による時間線を示す図。
【図２】欠陥、補償、および基準画素の位置を示す、直
交またはマンハッタンフォーマットを有する画素アレイ
を示す図。
【図３】図２の画素アレイ上にディスプレイされるべき
強度値のマトリックスを示す図。
【図４】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明の
１実施例により修正された図３の強度値のマトリックス
を示す図。
【図５】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明の
１実施例により修正された図３の強度値のマトリックス
を示す図。
【図６】ｓｉｎｃ関数のプロットを示す図。
【図７】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明の
１実施例により修正された図３の強度値のマトリックス
を示す図。
【図８】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明の
１実施例により修正された図３の強度値のマトリックス
を示す図。
【図９】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明の
１実施例により修正された図３の強度値のマトリックス
を示す図。
【図１０】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図３の強度値のマトリック
スを示す図。
【図１１】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図３の強度値のマトリック
スを示す図。
【図１２】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図３の強度値のマトリック
スを示す図。
【図１３】図２の画素アレイ上にディスプレイされるべ
き強度勾配を有する強度値のマトリックスを示す図。
【図１４】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図１５】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図１６】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図１７】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図１８】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間の１つの可能な対応を示す直交画素アレイを示
す図。
【図１９】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図２０】欠陥画素の影響を最小化するために、本発明
の１実施例により修正された図１３の強度値のマトリッ
クスを示す図。
【図２１】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間のもう１つの可能な対応を示す直交画素アレイ
を示す図。
【図２２】３欠陥画素の影響を最小化するために、本発
明の１実施例により修正された強度値のマトリックスを
示す図。
【図２３】欠陥、補償、および基準画素の位置を示す、
スタガ、基本、またはれんが状フォーマットを有する画
素アレイを示す図。
【図２４】欠陥、補償、および基準画素の位置を示す、
６角形フォーマットを有する画素アレイを示す図。
【図２５】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間の１つの可能な対応を示すスタガ画素アレイを
示す図。
【図２６】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間のもう１つの可能な対応を示すスタガ画素アレ
イを示す図。
【図２７】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間の１つの可能な対応を示す６角形画素アレイを
示す図。
【図２８】本発明の１実施例による、基準画素と補償画
素との間のもう１つの可能な対応を示す６角形画素アレ
イを示す図。
【図２９】本発明の１実施例による、ディスプレイ装置
のブロック図を示す図。
【図３０】光投射経路と、帰還経路内の光検出器とを含
む、本発明の１実施例によるディスプレイ装置のブロッ
ク図を示す図。
【符号の説明】
２００ 直交画素アレイ ２０２ 欠陥画素 ２０４ 補償画素 ２０６ 基準画素 ２３００ スタガ画素アレイ ２３０２ 欠陥画素 ２３０４ 補償画素 ２３０６ 基準画素 ２４００ ６角形画素アレイ ２４０２ 欠陥画素 ２４０４ 補償画素 ２４０６ 基準画素 ２９００ ディスプレイ装置 ２９０４ プロセッサ ２９０８ 空間的光変調器 ３０００ ディスプレイ装置 ３００８ ディスプレイスクリーン

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項１】 画像ディスプレイ内に存在する欠陥の視
    覚的影響を減少させる方法であって、該ディスプレイが
    画素のアレイを含み、それぞれの無欠陥画素がアドレス
    指定機構から供給される入力データに応答して、光が観
    察表面上へ送られる「オン」状態と、光が該観察表面上
    へ送られない「オフ」状態と、の間で選択的に動作可能
    であり、欠陥が、前記入力データまたは前記アドレス指
    定機構の動作にかかわらず前記「オン」または「オフ」
    状態に連続的に留まる欠陥画素によるものであり、それ
    ぞれの欠陥画素が、事実上、中心欠陥画素に隣接する第
    １リングの補償画素によって直接取巻かれた該中心欠陥
    画素であり、該第１リングの補償画素が前記中心欠陥画
    素から間隔をおいた第２リングの基準画素によって直接
    取巻かれており、前記方法が、（ａ）欠陥を発生する欠
    陥画素を識別するステップと、（ｂ）該欠陥画素を取巻
    く第１リング内の少なくとも１つの補償画素のアドレス
    指定回路決定値を、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＤINT ）＋ＤINT によって与えられる補正値であって、ＣNEW が前記補償
    画素に割当てられる強度値であり、ＣSINCが該補償画素
    に対して評価されたｓｉｎｃ関数の値であり、Ｄ ACT が
    前記欠陥画素の実際の強度値であり、ＤINT が該欠陥画
    素の意図された強度値である、前記補正値に変えるステ
    ップと、を含む、画像ディスプレイ内に存在する欠陥の
    視覚的影響を減少させる方法。
  2. 【請求項２】 少なくとも１つの欠陥画素と、該欠陥画
    素に隣接する少なくとも１つの補償画素と、該少なくと
    も１つの補償画素に隣接し且つ前記欠陥画素から間隔を
    おいた少なくとも１つの基準画素と、を含む画素のアレ
    イから構成される変調器であって、該アレイの画素に対
    応する画像データ値の集合を受け、該画像データ値の集
    合を表すように前記画素を選択的に作動させる前記変調
    器と、画像信号を受け、前記変調器への前記画像データ
    値の集合を計算するプロセッサであって、 ＣNEW ＝ＣSINC（ＤACT −ＲAVG ）＋ＤINT ただし、ＣNEW は前記補償画素に割当てられる前記画像
    データ値であり、ＣSINCは該補償画素に対して評価され
    たｓｉｎｃ関数の値であり、ＤACT は前記欠陥画素の実
    際の強度値であり、ＲAVG は少なくとも１つの前記基準
    画素の平均値であり、ＤINT は前記欠陥画素の所望強度
    値である、に従って前記補償画素に対応する前記画像デ
    ータ値を変更する前記プロセッサと、を含む、ディスプ
    レイ装置。
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