JPH0850234A - カメラ用測距装置 - Google Patents
カメラ用測距装置Info
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- JPH0850234A JPH0850234A JP7110726A JP11072695A JPH0850234A JP H0850234 A JPH0850234 A JP H0850234A JP 7110726 A JP7110726 A JP 7110726A JP 11072695 A JP11072695 A JP 11072695A JP H0850234 A JPH0850234 A JP H0850234A
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- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/30—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line
- G02B7/32—Systems for automatic generation of focusing signals using parallactic triangle with a base line using active means, e.g. light emitter
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/48—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S17/00
- G01S7/491—Details of non-pulse systems
- G01S7/4912—Receivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01S7/491—Details of non-pulse systems
- G01S7/4912—Receivers
- G01S7/4918—Controlling received signal intensity, gain or exposure of sensor
Abstract
(57)【要約】
【構成】 アクティブ式の測距装置で、投光回数をカウ
ントするカウンタと、積分電圧が所定の電圧を超えるか
あるいはカウンタの出力値が所定の値を超えた場合に投
光動作を終了し、その時点での出力電圧と出力値とから
距離信号を得る演算手段を有する。 【効果】 積分電圧の検知と投光回数のカウントを同時
に行い、いずれかが所定の条件を満たした時点で測距を
終了し、その時点で得られた積分電圧とカウント回数と
から距離信号を得ることで、測距時間が必要以上に長く
なるのを防いでいる。よって全体の測距時間を短縮する
ことができ、シャッタチャンスに対しても有利になる。
ントするカウンタと、積分電圧が所定の電圧を超えるか
あるいはカウンタの出力値が所定の値を超えた場合に投
光動作を終了し、その時点での出力電圧と出力値とから
距離信号を得る演算手段を有する。 【効果】 積分電圧の検知と投光回数のカウントを同時
に行い、いずれかが所定の条件を満たした時点で測距を
終了し、その時点で得られた積分電圧とカウント回数と
から距離信号を得ることで、測距時間が必要以上に長く
なるのを防いでいる。よって全体の測距時間を短縮する
ことができ、シャッタチャンスに対しても有利になる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はカメラ等の測距装置に関
するものである。
するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から積分回路を使った投受光タイプ
のさまざまな測距装置が提案されているが、これらは投
光回路を動作させ、その積分電圧が所定の電圧を越える
までの投光回数あるいは時間を計測することにより被写
体までの距離を算出していた。
のさまざまな測距装置が提案されているが、これらは投
光回路を動作させ、その積分電圧が所定の電圧を越える
までの投光回数あるいは時間を計測することにより被写
体までの距離を算出していた。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところが前記のような
測距装置では、積分電圧が所定の電圧を超えるまでの時
間が予測できないので、被写体が非常に遠い場合あるい
は被写体からの反射光が非常に小さい場合などは測距に
時間がかかり過ぎてしまい、シャッターチャンスを逃し
てしまったり、動被写体の撮影や連写時に非常に不利で
あった。
測距装置では、積分電圧が所定の電圧を超えるまでの時
間が予測できないので、被写体が非常に遠い場合あるい
は被写体からの反射光が非常に小さい場合などは測距に
時間がかかり過ぎてしまい、シャッターチャンスを逃し
てしまったり、動被写体の撮影や連写時に非常に不利で
あった。
【0004】
【課題を解決するための手段】以上の課題を解決するた
め、本発明では、被写体へパルス光を照射する投光手段
と、前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光
する受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換
する電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力
信号を増幅する増幅回路と、前記増幅回路の出力信号を
積分する積分回路と、前記投光手段の投光回数をカウン
トするカウント手段と、前記積分手段の出力電圧が所定
の電圧を超えるかあるいは前記カウント手段の出力値が
所定の値を超えた場合に前記投光動作を終了し、その時
点での出力電圧と出力値とから距離信号を得る演算手段
とを備えている。
め、本発明では、被写体へパルス光を照射する投光手段
と、前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光
する受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換
する電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力
信号を増幅する増幅回路と、前記増幅回路の出力信号を
積分する積分回路と、前記投光手段の投光回数をカウン
トするカウント手段と、前記積分手段の出力電圧が所定
の電圧を超えるかあるいは前記カウント手段の出力値が
所定の値を超えた場合に前記投光動作を終了し、その時
点での出力電圧と出力値とから距離信号を得る演算手段
とを備えている。
【0005】
【作用】被写体への投光中に積分電圧の検知と投光回数
のカウントを同時に行い、いずれかが所定の条件を満た
した時点で測距を終了し、その時点で得られた積分電圧
とカウント回数とから距離信号を得る。
のカウントを同時に行い、いずれかが所定の条件を満た
した時点で測距を終了し、その時点で得られた積分電圧
とカウント回数とから距離信号を得る。
【0006】
【実施例】本発明の構成を図1に基づいて説明する。投
光回路10は近赤外発光素子(以下IREDという)1
4を駆動するための駆動回路であり、トランジスタ1
1、抵抗12、13およびIRED14からなる。演算
回路80(以下CPUという)から投光信号が出力され
ると、IRED14は発光する。発光した光は投光レン
ズ1を通り、不図示の被写体によってその一部を反射さ
れ、反射した光の一部は受光レンズ2を通ってPSD3
に入射する。実際にはIRED14はパルス駆動され
る。
光回路10は近赤外発光素子(以下IREDという)1
4を駆動するための駆動回路であり、トランジスタ1
1、抵抗12、13およびIRED14からなる。演算
回路80(以下CPUという)から投光信号が出力され
ると、IRED14は発光する。発光した光は投光レン
ズ1を通り、不図示の被写体によってその一部を反射さ
れ、反射した光の一部は受光レンズ2を通ってPSD3
に入射する。実際にはIRED14はパルス駆動され
る。
【0007】第1の電流電圧変換回路20、第2の電流
電圧変換回路30は半導体位置検出素子3(以下PSD
という)と一体となって1つの受光回路を構成する。P
SD3に光信号が入射すると、PSD3はその強度と入
射位置に応じた電流を電流電圧変換回路20、30に出
力する。第1の電流電圧変換回路20はアンプ21と帰
還抵抗22で構成された、入力電流に比例した電圧を出
力する回路である。第2の電流電圧変換回路30はアン
プ31と帰還抵抗32とで構成され、電流電圧変換回路
20と同じ構成で、やはり信号電流に比例した電圧を出
力する。スイッチ4は電流電圧変換回路20と30のい
ずれかの出力を増幅回路40に出力する。スイッチ4は
CPU80によって制御され、遠距離側の測距を行うと
きは第1の電流電圧変換回路20側に、近距離側の測距
を行うときは第2の電流電圧変換回路30側にオンす
る。
電圧変換回路30は半導体位置検出素子3(以下PSD
という)と一体となって1つの受光回路を構成する。P
SD3に光信号が入射すると、PSD3はその強度と入
射位置に応じた電流を電流電圧変換回路20、30に出
力する。第1の電流電圧変換回路20はアンプ21と帰
還抵抗22で構成された、入力電流に比例した電圧を出
力する回路である。第2の電流電圧変換回路30はアン
プ31と帰還抵抗32とで構成され、電流電圧変換回路
20と同じ構成で、やはり信号電流に比例した電圧を出
力する。スイッチ4は電流電圧変換回路20と30のい
ずれかの出力を増幅回路40に出力する。スイッチ4は
CPU80によって制御され、遠距離側の測距を行うと
きは第1の電流電圧変換回路20側に、近距離側の測距
を行うときは第2の電流電圧変換回路30側にオンす
る。
【0008】第1の増幅回路40と第2の増幅回路50
は、ゲイン切換の可能な増幅回路である。これらの増幅
回路は同様な構成なので、第1の増幅回路40を例にと
って説明する。増幅回路40の前にはコンデンサ5が接
続され、入力信号の直流分はここでカットされる。増幅
回路40はアンプ41と、3つの帰還抵抗と、それらの
抵抗をオンまたはオフするスイッチ46とスイッチ47
で構成された、入力信号をある一定のゲインで増幅する
回路である。スイッチ46とスイッチ47はCPU80
によって制御される。スイッチ46は帰還抵抗45を、
スイッチ47は帰還抵抗44と帰還抵抗45とをそれぞ
れ短絡または解放するので、これらのスイッチの状態に
よりアンプ41のゲインが段階的に変化する。したがっ
て信号電流から電圧への変換も、この変化したゲインに
応じて行われ、後段の回路に出力される。第2の増幅回
路50もまったく同様な動作をし、CPU80はスイッ
チ56とスイッチ57を操作して適切なゲインを設定
し、それにしたがって増幅回路40の出力した信号の増
幅が行われる。増幅回路50の出力信号はスイッチ7を
経て積分回路60に出力される。
は、ゲイン切換の可能な増幅回路である。これらの増幅
回路は同様な構成なので、第1の増幅回路40を例にと
って説明する。増幅回路40の前にはコンデンサ5が接
続され、入力信号の直流分はここでカットされる。増幅
回路40はアンプ41と、3つの帰還抵抗と、それらの
抵抗をオンまたはオフするスイッチ46とスイッチ47
で構成された、入力信号をある一定のゲインで増幅する
回路である。スイッチ46とスイッチ47はCPU80
によって制御される。スイッチ46は帰還抵抗45を、
スイッチ47は帰還抵抗44と帰還抵抗45とをそれぞ
れ短絡または解放するので、これらのスイッチの状態に
よりアンプ41のゲインが段階的に変化する。したがっ
て信号電流から電圧への変換も、この変化したゲインに
応じて行われ、後段の回路に出力される。第2の増幅回
路50もまったく同様な動作をし、CPU80はスイッ
チ56とスイッチ57を操作して適切なゲインを設定
し、それにしたがって増幅回路40の出力した信号の増
幅が行われる。増幅回路50の出力信号はスイッチ7を
経て積分回路60に出力される。
【0009】積分回路60はアンプ61、入力抵抗6
2、積分コンデンサ63、スイッチ64、電圧ホロワ6
5で構成され、入力信号を積分するための回路である。
スイッチ64がオンすると積分コンデンサ63の電荷は
放電される。積分コンデンサ63の端子間積分電圧Vi
は、電圧ホロワ65を経てADC70に出力される。A
DC70は積分電圧Viをデジタル値に変換してCPU
80に出力する。
2、積分コンデンサ63、スイッチ64、電圧ホロワ6
5で構成され、入力信号を積分するための回路である。
スイッチ64がオンすると積分コンデンサ63の電荷は
放電される。積分コンデンサ63の端子間積分電圧Vi
は、電圧ホロワ65を経てADC70に出力される。A
DC70は積分電圧Viをデジタル値に変換してCPU
80に出力する。
【0010】読み書き可能な揮発性のメモリ81(以下
RAMという)は、CPU80の演算およびカウント値
やフラグなどの一時的な記憶に使用され、読み出し可能
な不揮発性のメモリ82(以下ROMという)は、CP
U80のプログラムおよびデータの格納に使用される。
RAMという)は、CPU80の演算およびカウント値
やフラグなどの一時的な記憶に使用され、読み出し可能
な不揮発性のメモリ82(以下ROMという)は、CP
U80のプログラムおよびデータの格納に使用される。
【0011】次に本発明の実施例の回路の動作について
説明する。この測距ルーチンに入ると、まず図1内のす
べての回路の電源をオンする。次にRAM81の内容を
クリアし、増幅回路40と増幅回路50の最適なゲイン
を決定する。このゲイン決定の動作中に、被写体が非常
に近いかまたは被写体からの反射光が非常に大きいと判
断された場合には、RAM81中の至近フラグFnがセ
ットされるので、その場合は測距を行わずに最至近と判
定し、値Xを1とする。それから第1の電流電圧変換回
路20で測距し、次の式(1)で与えられる値XfをR
AM81の適切なアドレスに保存する。
説明する。この測距ルーチンに入ると、まず図1内のす
べての回路の電源をオンする。次にRAM81の内容を
クリアし、増幅回路40と増幅回路50の最適なゲイン
を決定する。このゲイン決定の動作中に、被写体が非常
に近いかまたは被写体からの反射光が非常に大きいと判
断された場合には、RAM81中の至近フラグFnがセ
ットされるので、その場合は測距を行わずに最至近と判
定し、値Xを1とする。それから第1の電流電圧変換回
路20で測距し、次の式(1)で与えられる値XfをR
AM81の適切なアドレスに保存する。
【0012】 Xf=Nf・V3/Vf (1) それから第2の電流電圧変換回路30で測距し、次の式
(2)で与えられる値XnをRAM81の適切なアドレ
スに保存する。
(2)で与えられる値XnをRAM81の適切なアドレ
スに保存する。
【0013】 Xn=Nn・V3/Vn (2) この第1および第2の測距の実行中に、被写体が非常に
遠いかまたは被写体からの反射光が非常に小さいと判断
された場合には、RAM81中の無限遠フラグFfがセ
ットされるので、その場合は無限遠と判定し、値Xを
0.5とする。以上で測距動作を終了すると、無限遠フ
ラグFfがセットされていれば無限遠、至近フラグFn
がセットされていれば至近、いずれでもなければRAM
81に保存されている回数NfおよびNnを用いて、次
のような式(3)で与えられる値Xを算出する。
遠いかまたは被写体からの反射光が非常に小さいと判断
された場合には、RAM81中の無限遠フラグFfがセ
ットされるので、その場合は無限遠と判定し、値Xを
0.5とする。以上で測距動作を終了すると、無限遠フ
ラグFfがセットされていれば無限遠、至近フラグFn
がセットされていれば至近、いずれでもなければRAM
81に保存されている回数NfおよびNnを用いて、次
のような式(3)で与えられる値Xを算出する。
【0014】 X=Xf/(Xf+Xn) (3) 値Xが定まると、それによって一義的に定まるROM8
2のアドレスを参照して(図6)、被写体までの距離を
得る。最後にモータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦
位置まで駆動した後、測距回路の電源をオフして、この
ルーチンを抜ける。
2のアドレスを参照して(図6)、被写体までの距離を
得る。最後にモータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦
位置まで駆動した後、測距回路の電源をオフして、この
ルーチンを抜ける。
【0015】次に、第1の増幅回路40と第2の増幅回
路50のゲイン決定の動作を図2を使って詳細に説明す
る。最初にCPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路
20側にオンする。それからスイッチ64をオンし、積
分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させる(図
2のa)。十分に電荷を放電した後、スイッチ64をオ
フし(図2のb)、クリア信号CRを発生して回数Nf
を0にクリアする(図2のc)。そしてCPU80は投
光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIRE
D14を駆動し投光を開始する(図2のd)。投光開始
に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影響
とを軽減するため、投光後時間T1を経過してからスイ
ッチ7をオンし、時間T2の間だけ積分する(図2の
e)。それが終わると投光を停止すると共にスイッチ7
をオフして(図2のf)、時間T3の間だけ待機し、カ
ウントアップ信号CUを発生して回数Nfに1を加える
(図2のg)。
路50のゲイン決定の動作を図2を使って詳細に説明す
る。最初にCPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路
20側にオンする。それからスイッチ64をオンし、積
分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させる(図
2のa)。十分に電荷を放電した後、スイッチ64をオ
フし(図2のb)、クリア信号CRを発生して回数Nf
を0にクリアする(図2のc)。そしてCPU80は投
光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIRE
D14を駆動し投光を開始する(図2のd)。投光開始
に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影響
とを軽減するため、投光後時間T1を経過してからスイ
ッチ7をオンし、時間T2の間だけ積分する(図2の
e)。それが終わると投光を停止すると共にスイッチ7
をオフして(図2のf)、時間T3の間だけ待機し、カ
ウントアップ信号CUを発生して回数Nfに1を加える
(図2のg)。
【0016】以上の動作をあらかじめ決められた回数N
g(たとえば10回)だけ繰り返した後、積分コンデン
サ63の端子間電圧すなわち積分電圧ViをADC70
に出力し、ADC70は、その結果をデジタル信号に変
換してCPU80に出力する。CPU80は、ADC7
0の出力が電圧V1より大きければ(図2のh)、スイ
ッチ46をオンし(図2のi)、もし電圧V1以下であ
れば最適なゲインに達したものとみなす。以下同様に、
積分動作と比較演算とをくり返し、ADC70の出力が
電圧V1より大きいならスイッチ56、47、57の順
でオンする。もしもすべてのスイッチをオンしてもまだ
電圧V1より大きいならば至近フラグFnをセットす
る。これで増幅回路全体としてのゲインが定まったこと
になる。図3には4回目のゲイン決定動作で、つまりス
イッチ46、56、47がオンした状態で、最適なゲイ
ンが得られた場合を示した。
g(たとえば10回)だけ繰り返した後、積分コンデン
サ63の端子間電圧すなわち積分電圧ViをADC70
に出力し、ADC70は、その結果をデジタル信号に変
換してCPU80に出力する。CPU80は、ADC7
0の出力が電圧V1より大きければ(図2のh)、スイ
ッチ46をオンし(図2のi)、もし電圧V1以下であ
れば最適なゲインに達したものとみなす。以下同様に、
積分動作と比較演算とをくり返し、ADC70の出力が
電圧V1より大きいならスイッチ56、47、57の順
でオンする。もしもすべてのスイッチをオンしてもまだ
電圧V1より大きいならば至近フラグFnをセットす
る。これで増幅回路全体としてのゲインが定まったこと
になる。図3には4回目のゲイン決定動作で、つまりス
イッチ46、56、47がオンした状態で、最適なゲイ
ンが得られた場合を示した。
【0017】次に、第1の電流電圧変換回路20による
測距を図4に基づいて詳細に説明する。最初にスイッチ
4を電流電圧変換回路20側にオンする(図4のa)。
次にスイッチ64をオンし、積分コンデンサ63にたま
っている電荷を放電させてからスイッチ64をオフする
(図4のb)。これで積分コンデンサ63の両端の電位
差は0になる。そしてクリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアする(図4のc)。そしてCPU80は
投光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIR
ED14を駆動し投光を開始する(図4のd)。投光開
始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影
響とを軽減するため、投光後時間T1を経過してから積
分回路を時間T2の間だけ動作させる(図4のe)。そ
れが終わると投光・積分を停止して(図4のf)、時間
T3の間だけ待機し、カウントアップ信号CUを発生し
て回数Nfに1を加える(図4のg)。続いて回数Nf
が回数Nfm(たとえば300回)に達せずかつ積分電
圧Viが電圧V3に達しない場合には、CPU80は以
上の図4d〜gの動作を繰り返しながら回数Nfを加算
していき、もし回数Nfが回数Nfmに達してもなお積
分電圧Viが電圧V2に達しない場合には、RAM81
中の無限遠フラグFfをセットし、達していれば値Xf
を算出して終了する。また回数Nfが回数Nfmに達し
ていなくても、積分電圧Viが電圧V3に達している場
合(図4のh)には、やはり値Xfを算出して終了す
る。
測距を図4に基づいて詳細に説明する。最初にスイッチ
4を電流電圧変換回路20側にオンする(図4のa)。
次にスイッチ64をオンし、積分コンデンサ63にたま
っている電荷を放電させてからスイッチ64をオフする
(図4のb)。これで積分コンデンサ63の両端の電位
差は0になる。そしてクリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアする(図4のc)。そしてCPU80は
投光回路10を動作させ、投光信号EMを発生してIR
ED14を駆動し投光を開始する(図4のd)。投光開
始に伴う各アンプの立ち上り時間の確保と電源変動の影
響とを軽減するため、投光後時間T1を経過してから積
分回路を時間T2の間だけ動作させる(図4のe)。そ
れが終わると投光・積分を停止して(図4のf)、時間
T3の間だけ待機し、カウントアップ信号CUを発生し
て回数Nfに1を加える(図4のg)。続いて回数Nf
が回数Nfm(たとえば300回)に達せずかつ積分電
圧Viが電圧V3に達しない場合には、CPU80は以
上の図4d〜gの動作を繰り返しながら回数Nfを加算
していき、もし回数Nfが回数Nfmに達してもなお積
分電圧Viが電圧V2に達しない場合には、RAM81
中の無限遠フラグFfをセットし、達していれば値Xf
を算出して終了する。また回数Nfが回数Nfmに達し
ていなくても、積分電圧Viが電圧V3に達している場
合(図4のh)には、やはり値Xfを算出して終了す
る。
【0018】同様に、第2の電流電圧変換回路30でも
測距を行う。最初にスイッチ4を電流電圧変換回路30
側にをオンする(図4のi)。次にスイッチ64をオン
し(図4のj)、積分コンデンサ63にたまっている電
荷を放電させてから、スイッチ64をオフする(図4の
k)。そしてクリア信号CRを発生して回数Nnを0に
クリアする(図4のl)。続いて投光を繰り返しながら
回数Nnを加算していき(図4のm)、回数Nnが回数
Nnm(たとえば700回)に達するか、積分電圧Vi
が電圧V3に達するまで続け、その結果によって値Xn
を算出するか、あるいは無限遠フラグFfをセットして
終了する。
測距を行う。最初にスイッチ4を電流電圧変換回路30
側にをオンする(図4のi)。次にスイッチ64をオン
し(図4のj)、積分コンデンサ63にたまっている電
荷を放電させてから、スイッチ64をオフする(図4の
k)。そしてクリア信号CRを発生して回数Nnを0に
クリアする(図4のl)。続いて投光を繰り返しながら
回数Nnを加算していき(図4のm)、回数Nnが回数
Nnm(たとえば700回)に達するか、積分電圧Vi
が電圧V3に達するまで続け、その結果によって値Xn
を算出するか、あるいは無限遠フラグFfをセットして
終了する。
【0019】以上に説明した増幅回路40,50のゲイ
ン決定動作の開始から、第2の電流電圧変換回路による
測距の終了までの一連の動作の最中の要部の動きを図5
のタイミングチャートに示した。
ン決定動作の開始から、第2の電流電圧変換回路による
測距の終了までの一連の動作の最中の要部の動きを図5
のタイミングチャートに示した。
【0020】以上が本実施例における回路の動作であ
る。以上の動作をフローチャートで表わすと図7〜図1
0のようになる。まず、メインルーチンを図7に基づい
て説明する。この測距ルーチンに入ると、CPU80は
測距回路全体の電源をオンし(#001)、各スイッチ
を設定する(#002)。次にRAM81の内容をクリ
アする(#003)。そして増幅回路40と増幅回路5
0のゲインを決定し(#004)、至近フラグFnの状
態を確認し(#005)、もし至近フラグFnがセット
されていれば値Xを1(最至近に相当する)に設定し#
013にジャンプする。もし至近フラグFnがセットさ
れていなければ、第1の電流電圧変換回路20で測距し
(#005)、それから無限遠フラグFfの状態を確認
し(#008)、セットされていれば値Xを0.5(無
限遠に相当する)に設定し(#009)、#013にジ
ャンプする。続いて第2の電流電圧変換回路30で測距
し(#010)、それから無限遠フラグFfの状態を確
認し(#011)、セットされていれば値Xを0.5
(無限遠に相当する)に設定し(#009)、#013
にジャンプする。
る。以上の動作をフローチャートで表わすと図7〜図1
0のようになる。まず、メインルーチンを図7に基づい
て説明する。この測距ルーチンに入ると、CPU80は
測距回路全体の電源をオンし(#001)、各スイッチ
を設定する(#002)。次にRAM81の内容をクリ
アする(#003)。そして増幅回路40と増幅回路5
0のゲインを決定し(#004)、至近フラグFnの状
態を確認し(#005)、もし至近フラグFnがセット
されていれば値Xを1(最至近に相当する)に設定し#
013にジャンプする。もし至近フラグFnがセットさ
れていなければ、第1の電流電圧変換回路20で測距し
(#005)、それから無限遠フラグFfの状態を確認
し(#008)、セットされていれば値Xを0.5(無
限遠に相当する)に設定し(#009)、#013にジ
ャンプする。続いて第2の電流電圧変換回路30で測距
し(#010)、それから無限遠フラグFfの状態を確
認し(#011)、セットされていれば値Xを0.5
(無限遠に相当する)に設定し(#009)、#013
にジャンプする。
【0021】サブルーチン#007と#010の操作で
得られた値Xfと値Xnから、値Xを算出する(#01
2)。その結果値Xによって一義的に定まるROM82
のアドレスを参照して、被写体までの距離を求める(#
013)。モータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦位
置まで駆動した後(#014)、最後に測距回路の電源
をオフし(#015)、このルーチンを抜ける。
得られた値Xfと値Xnから、値Xを算出する(#01
2)。その結果値Xによって一義的に定まるROM82
のアドレスを参照して、被写体までの距離を求める(#
013)。モータ83を制御しレンズ鏡筒84を合焦位
置まで駆動した後(#014)、最後に測距回路の電源
をオフし(#015)、このルーチンを抜ける。
【0022】次に、各サブルーチン内での動作を説明す
る。まず、後段の増幅回路(増幅回路40、増幅回路5
0)のゲイン決定のサブルーチンを図8に基づいて説明
する。後段の増幅回路のゲイン決定のサブルーチンに入
ると、CPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路20
側にオンし(#101)、回数Nsを0にクリアし(#
102)、スイッチ64をオンし積分コンデンサ63に
たまっている電荷を放電させてからスイッチ64をオフ
し(#103)、クリア信号CRを発生して回数Neを
0にクリアする(#104)。
る。まず、後段の増幅回路(増幅回路40、増幅回路5
0)のゲイン決定のサブルーチンを図8に基づいて説明
する。後段の増幅回路のゲイン決定のサブルーチンに入
ると、CPU80はスイッチ4を電流電圧変換回路20
側にオンし(#101)、回数Nsを0にクリアし(#
102)、スイッチ64をオンし積分コンデンサ63に
たまっている電荷を放電させてからスイッチ64をオフ
し(#103)、クリア信号CRを発生して回数Neを
0にクリアする(#104)。
【0023】続いてCPU80は投光信号EMを発生
し、投光回路10を動作して投光を始め(#105)、
時間T1だけ待機する(#106)と、スイッチ7をオ
ンし、積分動作をしながら(#107)、時間T2だけ
待機する。この間積分コンデンサ63には電荷が貯えら
れる(#108)。それから投光回路10の動作を止め
て投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終
えて(#109)、カウントアップ信号CUを発生して
回数Neに1を加える(#110)。回数Neがあらか
じめ決められた回数Ng未満ならば#105にジャンプ
する(#111)。回数Nfが回数Ngに達したらCP
U80はスイッチ7をオフし、ADC70を通じて積分
電圧Viを読み込む(#112)。CPU80は積分電
圧Viを電圧V1とを比較し(#113)、電圧V1以
下であればメインルーチンに戻る。
し、投光回路10を動作して投光を始め(#105)、
時間T1だけ待機する(#106)と、スイッチ7をオ
ンし、積分動作をしながら(#107)、時間T2だけ
待機する。この間積分コンデンサ63には電荷が貯えら
れる(#108)。それから投光回路10の動作を止め
て投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終
えて(#109)、カウントアップ信号CUを発生して
回数Neに1を加える(#110)。回数Neがあらか
じめ決められた回数Ng未満ならば#105にジャンプ
する(#111)。回数Nfが回数Ngに達したらCP
U80はスイッチ7をオフし、ADC70を通じて積分
電圧Viを読み込む(#112)。CPU80は積分電
圧Viを電圧V1とを比較し(#113)、電圧V1以
下であればメインルーチンに戻る。
【0024】積分電圧Viが電圧V1より大きかった場
合、回数Nsが0ならば(#114)、スイッチ46を
(#115)、回数Nsが1ならば(#116)、スイ
ッチ56を(#117)、回数Nsが2ならば(#11
8)、スイッチ47を(#119)、回数Nsが3なら
ば(#120)、スイッチ57を(#121)、それぞ
れオンし、回数Nsに1を加えて(#122)、#10
2に戻る。もし回数Nsが0から3のいずれでもなけれ
ば至近フラグFnをセットし(#122)、このサブル
ーチンを抜け、メインルーチンに戻る。
合、回数Nsが0ならば(#114)、スイッチ46を
(#115)、回数Nsが1ならば(#116)、スイ
ッチ56を(#117)、回数Nsが2ならば(#11
8)、スイッチ47を(#119)、回数Nsが3なら
ば(#120)、スイッチ57を(#121)、それぞ
れオンし、回数Nsに1を加えて(#122)、#10
2に戻る。もし回数Nsが0から3のいずれでもなけれ
ば至近フラグFnをセットし(#122)、このサブル
ーチンを抜け、メインルーチンに戻る。
【0025】次に、第1の電流電圧変換回路20による
値Xfの算出のサブルーチンを図9に基づいて説明す
る。電流電圧変換回路20による測距のサブルーチンに
入ると、スイッチ4を第1の電流電圧変換回路20側に
オンし(#201)、クリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアし(#202)、スイッチ64をオンし
積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させてか
らスイッチ64をオフする(#203)。
値Xfの算出のサブルーチンを図9に基づいて説明す
る。電流電圧変換回路20による測距のサブルーチンに
入ると、スイッチ4を第1の電流電圧変換回路20側に
オンし(#201)、クリア信号CRを発生して回数N
fを0にクリアし(#202)、スイッチ64をオンし
積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させてか
らスイッチ64をオフする(#203)。
【0026】続いてCPU80は投光信号EMを出力
し、投光回路10を動作して投光を始め(#204)、
時間T1だけ待機すると(#205)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#206)、時間T2だけ待
機する(#207)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#208)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nfに1を加える(#209)。ここで回数NfをN
fmと比較し(#210)、回数NfがNfmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#211)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#212)、Viと等しいか大きければ値Xf
を算出し(#213)、メインルーチンに戻る。また積
分電圧ViがV2以下であれば、ADC70は積分回路
60の出力積分電圧ViをA/D変換してCPU80に
出力する。CPU80は積分電圧ViとV3とを比較し
(#214)、積分電圧ViがV3以下であれば#20
3にジャンプし、電圧Vfよりも大きければ値Xfを算
出し(#213)、メインルーチンに戻る。
し、投光回路10を動作して投光を始め(#204)、
時間T1だけ待機すると(#205)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#206)、時間T2だけ待
機する(#207)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#208)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nfに1を加える(#209)。ここで回数NfをN
fmと比較し(#210)、回数NfがNfmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#211)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#212)、Viと等しいか大きければ値Xf
を算出し(#213)、メインルーチンに戻る。また積
分電圧ViがV2以下であれば、ADC70は積分回路
60の出力積分電圧ViをA/D変換してCPU80に
出力する。CPU80は積分電圧ViとV3とを比較し
(#214)、積分電圧ViがV3以下であれば#20
3にジャンプし、電圧Vfよりも大きければ値Xfを算
出し(#213)、メインルーチンに戻る。
【0027】次に、第2の電流電圧変換回路30による
値Xnの算出のサブルーチンを、図10に基づいて説明
する。電流電圧変換回路30による測距のサブルーチン
に入ると、スイッチ4を第2の電流電圧変換回路30側
にオンし(#301)、クリア信号CRを発生して回数
Nnを0にクリアし(#302)、スイッチ64をオン
し積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させて
からスイッチ64をオフする(#303)。
値Xnの算出のサブルーチンを、図10に基づいて説明
する。電流電圧変換回路30による測距のサブルーチン
に入ると、スイッチ4を第2の電流電圧変換回路30側
にオンし(#301)、クリア信号CRを発生して回数
Nnを0にクリアし(#302)、スイッチ64をオン
し積分コンデンサ63にたまっている電荷を放電させて
からスイッチ64をオフする(#303)。
【0028】続いてCPU80は投光信号EMを出力
し、投光回路10を動作して投光を始め(#304)、
時間T1だけ待機すると(#305)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#306)、時間T2だけ待
機する(#307)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#308)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nnに1を加える(#309)。ここで回数NnをN
nmと比較し(#310)、回数NnがNnmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#311)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#312)、V2と等しいか大きければ値Xn
を算出し(#313)、メインルーチンに戻る。また積
分電圧ViがV2以下であればADC70は積分回路6
0の出力積分電圧ViをA/D変換してCPU80に出
力する。CPU80は積分電圧ViとV3とを比較し
(#314)、積分電圧ViがV3以下であれば#30
3にジャンプし、V3よりも大きければ値Xnを算出し
(#313)、メインルーチンに戻る。以上の動作によ
り、被写体までの距離が測定される。
し、投光回路10を動作して投光を始め(#304)、
時間T1だけ待機すると(#305)、スイッチ7をオ
ンし積分動作をしながら(#306)、時間T2だけ待
機する(#307)。この間積分コンデンサ63には電
荷が貯えられる。それから投光回路10の動作を止めて
投光動作を終了し、スイッチ7をオフし積分動作を終え
て(#308)、カウントアップ信号CUを発生して回
数Nnに1を加える(#309)。ここで回数NnをN
nmと比較し(#310)、回数NnがNnmより大き
ければ積分電圧ViをV2と比較し(#311)、積分
電圧ViがV2よりも小さければ無限遠フラグFfをセ
ットし(#312)、V2と等しいか大きければ値Xn
を算出し(#313)、メインルーチンに戻る。また積
分電圧ViがV2以下であればADC70は積分回路6
0の出力積分電圧ViをA/D変換してCPU80に出
力する。CPU80は積分電圧ViとV3とを比較し
(#314)、積分電圧ViがV3以下であれば#30
3にジャンプし、V3よりも大きければ値Xnを算出し
(#313)、メインルーチンに戻る。以上の動作によ
り、被写体までの距離が測定される。
【0029】以上の実施例では回数Nfm、Nnm、電
圧V3は固定となっているが、回数NfmおよびNnm
を小さめに設定するか、あるいは電圧V3を低めに設定
することでより高速の測距ができるので、レリーズスイ
ッチのオンから撮影までの時間が短くなり、連写撮影の
スピードを上げることができる。
圧V3は固定となっているが、回数NfmおよびNnm
を小さめに設定するか、あるいは電圧V3を低めに設定
することでより高速の測距ができるので、レリーズスイ
ッチのオンから撮影までの時間が短くなり、連写撮影の
スピードを上げることができる。
【0030】
【発明の効果】本発明のカメラ用測距装置では、積分電
圧の検知と投光回数のカウントを同時に行い、いずれか
が所定の条件を満たした時点で測距を終了し、その時点
で得られた積分電圧とカウント回数とから距離信号を得
ることで、測距時間が必要以上に長くなるのを防いでい
る。よって全体の測距時間を短縮することができ、シャ
ッタチャンスに対しても有利になる。
圧の検知と投光回数のカウントを同時に行い、いずれか
が所定の条件を満たした時点で測距を終了し、その時点
で得られた積分電圧とカウント回数とから距離信号を得
ることで、測距時間が必要以上に長くなるのを防いでい
る。よって全体の測距時間を短縮することができ、シャ
ッタチャンスに対しても有利になる。
【0031】また、測距を終了する積分電圧を変えるこ
とができるため、通常の撮影ならば高めに、連写時には
低めに設定するなどの処理によって、状況に応じてより
適切な撮影を行うことができる。
とができるため、通常の撮影ならば高めに、連写時には
低めに設定するなどの処理によって、状況に応じてより
適切な撮影を行うことができる。
【図1】本発明の実施例を示す構成図である。
【図2】本発明の実施例の積分動作を説明する動作図で
ある。
ある。
【図3】本発明の実施例のゲイン決定時の一連の動作を
を説明する動作図である。
を説明する動作図である。
【図4】本発明の実施例の回数NfとNnの算出方法を
説明する動作図である。
説明する動作図である。
【図5】本発明の実施例の測距時の一連の動作をを説明
する動作図である。
する動作図である。
【図6】本発明の実施例の値Xから距離を求めるROM
82上のテーブルである。
82上のテーブルである。
【図7】本発明の実施例の動作を示すフローチャートで
ある。
ある。
【図8】図7のフローチャートの増幅回路40およひ増
幅回路50のゲイン決定の部分のサブルーチンを示すフ
ローチャートである。
幅回路50のゲイン決定の部分のサブルーチンを示すフ
ローチャートである。
【図9】図7のフローチャートの第1の電流電圧変換回
路20による測距の部分のサブルーチンを示すフローチ
ャートである。
路20による測距の部分のサブルーチンを示すフローチ
ャートである。
【図10】図7のフローチャートの第2の電流電圧変換
回路30による測距の部分のサブルーチンを示すフロー
チャートである。
回路30による測距の部分のサブルーチンを示すフロー
チャートである。
3 PSD 10 投光回路 14 IRED 20、30 電流電圧変換回路 40、50 増幅回路 60 積分回路 80 演算回路(CPU)
Claims (1)
- 【請求項1】被写体へパルス光を照射する投光手段と、
前記投光手段の照射光が被写体で反射する光を受光する
受光手段と、前記受光手段の出力電流を電圧に変換する
電流電圧変換回路と、前記電流電圧変換回路の出力信号
を増幅する増幅回路と、前記増幅回路の出力信号を積分
する積分回路と、前記投光手段の投光回数をカウントす
るカウント手段と、前記積分手段の出力電圧が所定の電
圧を超えるかあるいは前記カウント手段の出力値が所定
の値を超えた場合に前記投光動作を終了し、その時点で
の前記積分手段の出力電圧と前記カウント手段の出力値
とから距離信号を得る演算手段とを有することを特徴と
するカメラ用測距装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11072695A JP3174941B2 (ja) | 1994-05-30 | 1995-05-09 | カメラ用測距装置 |
GB9510907A GB2290001A (en) | 1994-05-30 | 1995-05-30 | Rangefinder |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11655994 | 1994-05-30 | ||
JP6-116559 | 1994-05-30 | ||
JP11072695A JP3174941B2 (ja) | 1994-05-30 | 1995-05-09 | カメラ用測距装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0850234A true JPH0850234A (ja) | 1996-02-20 |
JP3174941B2 JP3174941B2 (ja) | 2001-06-11 |
Family
ID=26450283
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11072695A Expired - Fee Related JP3174941B2 (ja) | 1994-05-30 | 1995-05-09 | カメラ用測距装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3174941B2 (ja) |
GB (1) | GB2290001A (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FI97085C (fi) * | 1995-03-29 | 1996-10-10 | Valtion Teknillinen | Menetelmä ja kuvauslaitteisto etäisyyden määrittämiseen ja sen käyttö |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2141000B (en) * | 1983-04-28 | 1986-10-08 | Canon Kk | Automatic focus |
JP2684574B2 (ja) * | 1989-10-03 | 1997-12-03 | キヤノン株式会社 | 測距装置 |
-
1995
- 1995-05-09 JP JP11072695A patent/JP3174941B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1995-05-30 GB GB9510907A patent/GB2290001A/en not_active Withdrawn
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB9510907D0 (en) | 1995-07-26 |
GB2290001A (en) | 1995-12-06 |
JP3174941B2 (ja) | 2001-06-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |