JPH0844776A - 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法 - Google Patents

半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法

Info

Publication number
JPH0844776A
JPH0844776A JP6178325A JP17832594A JPH0844776A JP H0844776 A JPH0844776 A JP H0844776A JP 6178325 A JP6178325 A JP 6178325A JP 17832594 A JP17832594 A JP 17832594A JP H0844776 A JPH0844776 A JP H0844776A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
clock
circuit
wiring
delay time
buffer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
JP6178325A
Other languages
English (en)
Inventor
Takashi Iida
隆司 飯田
Satoru Sumi
悟 角
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP6178325A priority Critical patent/JPH0844776A/ja
Publication of JPH0844776A publication Critical patent/JPH0844776A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方
法に関するものであり、回路素子に印加されるクロック
信号の時間差であるクロックスキューを抑制する改良で
ある。 【構成】 論理設計を行い、次に、レイアウト設計を行
い、クロックバッファ2をツリー状に配置する半導体集
積回路のクロック配線回路の設計方法において、論理設
計時のクロック回路にはクロックバッファ2を設けず、
I/O入力バッファ1のみを設けてクロック信号を必要
とする回路素子3に直接接続し、レイアウト設計時にク
ロック回路としてクロック信号を必要とする回路素子3
の数より決まるクロックバッファ2をツリー状に配置
し、クロック配線枝パターン5は、クロック配線幹パタ
ーン4の遅延時間を半導体集積回路全体の面積より想定
されるクロック信号配線の配線遅延時間より差し引いた
遅延時間に近づくように配置する半導体集積回路のクロ
ック配線回路の設計方法である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、半導体集積回路のクロ
ック配線回路の設計方法に関する。クロック信号を必要
とする回路素子に印加されるクロック信号が異なる回路
素子に対して時間差(クロックスキューと云う。)を生
ずる。このクロックスキューの発生を抑制することを可
能にする改良に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路はより高速で大規
模な回路を集積するように要望され、半導体集積回路の
構造の微細化が進展している。これに伴い、半導体集積
回路内部のクロックスキューを少なくすることが半導体
集積回路の性能を最大限に生かすために重要となってき
ている。このため、従来は論理設計段階において、先
ず、要求される仕様を実行しうる論理回路をクロック回
路を除いて設計し、次に、この論理回路を達成する機能
毎に論理ブロックに分割し、この論理ブロックを構成す
る回路素子の中のクロック信号を必要とする回路素子に
対して、クロックスキューができるだけ発生しないよう
に、クロック回路を設計する。
【0003】図4参照 図4は従来技術に係る論理設計時のクロック回路の1例
である。図4において、1は外部よりクロック信号が入
力されるI/O入力バッファであり、2はクロックバッ
ファであり、3はクロック信号を必要とする回路素子で
あり、6は論理設計された論理回路を機能毎に分解した
論理ブロックである。
【0004】I/O入力バッファ1ならびにクロックバ
ッファ2は共に駆動しうる負荷が決まっている。図4に
示す例においては、クロック信号を必要とする回路素子
3の数が多いのでI/O入力バッファ1のみで全てのク
ロック信号を必要とする回路素子3を直接駆動すること
ができないので、各論理ブロック6毎にクロックバッフ
ァ2を設けている。なお、ある論理ブロック6中のクロ
ック信号を必要とする回路素子3の数が多いときは、そ
の論理ブロック6に複数のクロックバッファ2を設ける
こととなる。そして、クロックバッファ2の数が多くな
り、I/O入力バッファ1の駆動能力を超えるときは、
クロックバッファ2の回路を2段の階層構造とし一つの
クロックバッファ2により複数のクロックバッファ2を
駆動するように構成する。このように、複数段の階層構
造とすることによりクロック信号を必要とする回路素子
3の数が多い大規模集積回路にも対処できる。クロック
バッファ2の階層構造をツリー状構造またはツリー状配
置と呼んでいる。
【0005】ツリー状にクロックバッファ2を配置する
とき、I/O入力バッファ1と各クロック信号を必要と
する回路素子3との間のクロックバッファ2の数は同一
になるように設計し、クロックバッファ2の遅延時間に
よってクロックスキューが増加しないように配慮してい
る。論理回路ができるとこの論理回路に基づいて仮のシ
ミュレーションにより論理回路の動作確認を行い、論理
設計を終了する。
【0006】次のレイアウト設計においては、先ずフロ
アプランと呼ばれる、半導体基板上に論理ブロック6相
互間の関係を考慮して配置した論理ブロック6の配置図
を作成する。フロアープランが決まると各論理ブロック
6内の各回路素子と各回路素子相互を接続する配線パタ
ーンとの詳細配置を決める。これにより、クロック回路
の配線パターンが決定され、従来技術に係る半導体集積
回路のクロック配線回路の設計方法が終了する。
【0007】なお、レイアウト設計が終了すると論理回
路や配線の抵抗や静電容量の計算を行い、これらの値を
使用して最終的なシミュレーションを行って半導体集積
回路の動作を確認する。要求仕様を満足していることを
確認して、半導体集積回路の設計を完了する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来技術に
係る半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法にお
いては、論理設計時にクロック回路の設計を行い、レイ
アウト設計時にクロック配線パターンの設計を行ってい
た。このため、クロックバッファ2の論理的配置、すな
わち、どのクロック信号を必要とする回路素子3を駆動
するかは論理設計において既に決められており、レイア
ウト設計時に、クロックバッファ2やクロック信号を必
要とする回路素子3の物理的配置を決めるとき図5のよ
うなことが生ずる。
【0009】図5参照 図5は従来技術に係る半導体集積回路のクロック配線回
路の設計方法において、レイアウト設計時の最終配置図
である。図5において、4はI/O入力バッファ1とク
ロックバッファ2とを結ぶクロック配線幹パターンであ
り、5はクロックバッファ2とクロック信号を必要とす
る回路素子3とを結ぶクロック配線枝パターンである。
クロック信号を必要とする回路素子3の内、aの回路素
子とbの回路素子とでは、クロック配線枝パターン5の
配線長が大きく異なる。配線長に比例して静電容量と抵
抗とが共に増大するため、遅延時間も増大する。このた
め、遅延時間に差が生じ、論理設計段階では想定してい
なかったクロックスキューが発生することになる。半導
体集積回路が大規模化されるに伴い、全てのクロック配
線パターンの配線長を同程度にすることが困難になり、
クロックスキューの発生頻度が増大する。このクロック
スキューは最終的なシミュレーションにおいて問題が顕
在化し、論理設計からやり直す羽目にもなりかねない。
【0010】本発明の目的は、これらの問題を解消する
ことにあり、大規模な半導体集積回路であってもクロッ
クスキューの発生を抑制しうる半導体集積回路のクロッ
ク配線回路の設計方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】上記の目的は、論理設計
を行い、次に、レイアウト設計を行い、クロックバッフ
ァ(2)をツリー状に配置する半導体集積回路のクロッ
ク配線回路の設計方法において、論理設計時のクロック
回路にはクロックバッファ(2)を設けず、クロック信
号が入力されるI/O入力バッファ(1)のみを設け、
このI/O入力バッファ(1)よりクロック信号を必要
とする回路素子(3)に直接接続し、レイアウト設計時
にクロック回路としてクロック信号を必要とする回路素
子(3)の数より決まる前記のクロックバッファ(2)
をツリー状に配置し、ツリー状に配置された前記のクロ
ックバッファ(2)の内直接前記のI/O入力バッファ
(1)と接続されるクロックバッファ(2)と前記のI
/O入力バッファ(1)とを接続するクロック配線幹パ
ターン(4)を配置し、ツリー状に配置された前記のク
ロックバッファ(2)と前記のクロック信号を必要とす
る回路素子(3)とを接続するクロック配線枝パターン
(5)は、このクロック配線枝パターン(5)と関連す
る前記のクロック配線幹パターン(4)の遅延時間を半
導体集積回路全体の面積より想定されるクロック信号配
線の配線遅延時間より差し引いた遅延時間に近づくよう
に配置する半導体集積回路のクロック配線回路の設計方
法によって達成される。
【0012】また、論理設計時の前記のI/O入力バッ
ファ(1)の遅延時間として、このI/O入力バッファ
(1)の遅延時間に、前記のクロック信号を必要とする
回路素子(3)の数より決まる前記のクロックバッファ
(2)の遅延時間と前記の配線遅延時間との合計時間を
加算した時間であるとして論理設計を行うようにしてあ
ると、論理設計段階でのシミュレーションの確度が高
く、最終シミュレーションの後再度論理設計に戻ること
をなくしうるので都合がよい。
【0013】
【作用】本発明に係る半導体集積回路のクロック配線回
路の設計方法においては、 イ.クロックバッファ2は論理設計時には配置せず、レ
イアウト設計時にクロックバッファ2の配置を決めてい
る。
【0014】ロ.クロック配線枝パターン5は、このク
ロック配線枝パターン5と関連するクロック配線幹パタ
ーン4の遅延時間を半導体集積回路全体の面積より想定
されるクロック信号配線の配線遅延時間より差し引いた
遅延時間に近づくように配置を決めている。
【0015】このため、 ハ.クロックバッファ2とクロック信号を必要とする回
路素子3との物理的配置を見てクロックバッファ2の論
理的配置を決めることができ、クロックバッファ2の物
理的配置を、そのクロックバッファ2に接続される複数
のクロック信号を必要とする回路素子3までの距離の差
がそれほど無いように決めることができる。そして、ク
ロック信号を必要とする回路素子3までの配線長の多少
の差はクロック配線枝パターン5の配置を若干変更する
ことにより無くしうるので、このクロックバッファ2に
接続されるクロック信号を必要とする回路素子3におけ
るクロックスキューを無くすことができる。
【0016】ニ.I/O入力バッファ1から直接接続さ
れる異なるクロックバッファ2に接続されるクロック信
号を必要とする回路素子3相互間においては、クロック
配線幹パターン4とクロック配線枝パターン5との和の
遅延時間が配線遅延時間に近づくようにしているから、
クロックスキューの増加を抑制することができる。
【0017】
【実施例】以下、図面を参照して、本発明の1実施例に
係る半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法につ
いてさらに詳細に説明する。
【0018】図1参照 図1は本発明の1実施例に係る半導体集積回路のクロッ
ク配線回路の設計方法において、論理設計時のクロック
回路である。図1において、1は外部よりクロック信号
が入力されるI/O入力バッファであり、3はクロック
信号を必要とする回路素子であり、6は論理設計された
論理回路を機能毎に分解した論理ブロックである。この
クロック回路図ではI/O入力バッファ1の駆動能力は
考慮せずに、クロック信号を必要とする回路素子3のす
べてが直接I/O入力バッファ1に接続されている。な
お、Aはクロック信号を必要とする回路素子3の数が多
く1個のクロックバッファ2では駆動できない論理ブロ
ック6である。
【0019】そして、論理設計段階におけるシミュレー
ションのために、I/O入力バッファ1の遅延時間は、
クロック信号を必要とする回路素子3の数より決まるク
ロックバッファ2の遅延時間と半導体集積回路全体の面
積より想定されるクロック信号配線の配線遅延時間(ク
ロック配線遅延時間をXとする。)との合計時間をI/
O入力バッファ1自身の遅延時間に加算した時間である
としている。シミュレーションの結果、要求仕様を満足
しておれば、論理設計は完了である。
【0020】図2参照 図2は本発明の1実施例に係る半導体集積回路のクロッ
ク配線回路の設計方法において、レイアウト設計時間の
フロアプラン図である。図2において、2はクロックバ
ッファであり、4はI/O入力バッファ1とクロックバ
ッファ2とを接続するクロック配線幹パターンである。
図2のフロアプラン図に示されているクロック回路に
は、図1のクロック回路に対して、I/O入力バッファ
1に直接接続され、クロック信号を必要とする回路素子
3の数より決まるクロックバッファ2が追加されてい
る。Aをもって示されている論理ブロック6に2個のク
ロックバッファ2が設けられているのは、この論理ブロ
ック6にクロック信号を必要とする回路素子3の数が多
く1個のクロックバッファ2では駆動できないことを示
している。これに対して、Bをもって示されている論理
ブロック6のクロックバッファ2が1個であるのは、こ
の論理ブロック6にあるクロック信号を必要とする回路
素子3の全てが1個のクロックバッファ2で駆動できる
ことを示している。
【0021】なお、このフロアプラン図の段階では、A
をもって示されている論理ブロック6の2個のクロック
バッファ2のそれぞれが図1のAの論理ブロック6のク
ロック信号を必要とする回路素子3のどれとどれとを駆
動するかは、まだ決定されていない。
【0022】図3参照 図3は本発明の1実施例に係る半導体集積回路のクロッ
ク配線回路の設計方法において、レイアウト設計時の最
終配置図である。図3において、5はクロックバッファ
2とクロック信号を必要とする回路素子3とを接続する
クロック配線枝パターンである。この段階で、Aをもっ
て示されている論理ブロック6の2個のクロックバッフ
ァ2のそれぞれが図1のAの論理ブロック6のクロック
信号を必要とする回路素子3のどれとどれとを駆動する
かがクロック配線枝パターン5の配線長ができるだけ等
しくなるように決定される。そして、クロック配線枝パ
ターン5の物理的配置は次のように行う。すなわち、先
ず、クロック配線幹パターン4の配線遅延時間を計算す
る。図中のYA1、YA2、YB はクロック配線幹パターン
4の配線遅延時間である。次に、クロック配線枝パター
ン5の配線遅延時間とこのクロック配線枝パターン5に
関係するクロック配線幹パターン4の配線遅延時間との
和がクロック配線遅延時間Xになるように配線すればよ
い。すなわち、クロック配線枝パターン5の配線遅延時
間である図中のZA1、ZA2、ZB がそれぞれ、ZA1=X
−YA1、ZA2=X−YA2、ZB =X−YB となるように
クロック配線枝パターン5を配線すればよい。
【0023】また、半導体集積回路中のクロック信号を
必要とする回路素子3の数が多いときは、クロックバッ
ファ2を多層のツリー状に配置する。このときも上記と
全く同様に、クロック配線枝パターン5の配線遅延時間
とこのクロック配線枝パターン5に関係するクロック配
線幹パターン4の配線遅延時間との和がクロック配線遅
延時間Xになるように配線すればよい。但しこの場合に
は、クロック配線枝パターン5はクロックバッファ2相
互を接続するクロック配線とクロックバッファ2とクロ
ック信号を必要とする回路素子3とを接続するクロック
配線との2種類のクロック配線からなることに注意する
必要がある。
【0024】以上により、本発明の1実施例に係る半導
体集積回路のクロック配線回路の設計方法を終了する。
この方法によれば、クロックスキューを最小にすること
ができ、論理設計段階においてほゞ最終シミュレーショ
ン段階に近い遅延時間となっているので、クロック回路
やクロック配線パターンにもとづく設計のやり直しを防
止することができる。
【0025】なお、フロアプランの段階においてクロッ
ク配線幹パターン4相互の遅延時間の差が大きいときは
遅延時間の短いクロック配線幹パターン4に素子を付加
するなどして遅延時間の差を縮めることもできる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る半導
体集積回路のクロック配線回路の設計方法によれば、レ
イアウト設計のフロアプラン後の詳細配置の段階におい
て、クロック回路を完成させている。このため、I/O
入力バッファから直接接続されるクロックバッファにつ
いてのクロックスキューを抑制することができる。さら
に、半導体集積回路全体の面積より想定されるクロック
配線遅延時間Xに対して、クロック配線枝パターンの配
線遅延時間とこのクロック配線枝パターンに関係するク
ロック配線幹パターンの配線遅延時間との和がクロック
配線遅延時間Xになるように配線しているので、半導体
集積回路全体のクロックスキューをも抑制することがで
きる。さらに、論理設計段階において、I/O入力バッ
ファの遅延時間としてクロックバッファの遅延時間とク
ロック配線遅延時間とを含めてシミュレーションを行っ
ているので、ほゞ最終シミュレーションに近いシミュレ
ーションを行うことができ、再設計の必要がない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の1実施例に係る論理設計時のクロック
回路である。
【図2】本発明の1実施例に係るレイアウト設計時のフ
ロアプラン図である。
【図3】本発明の1実施例に係るレイアウト設計時の最
終配置図である。
【図4】従来技術に係る論理設計時のクロック回路であ
る。
【図5】従来技術に係るレイアウト設計時の最終配置図
である。
【符号の説明】
1 I/O入力バッファ 2 クロックバッファ 3 クロック信号を必要とする回路素子 4 クロック配線幹パターン 5 クロック配線枝パターン 6 論理ブロック

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 論理設計を行い、次に、レイアウト設計
    を行い、クロックバッファをツリー状に配置する半導体
    集積回路のクロック配線回路の設計方法において、 論理設計時のクロック回路にはクロックバッファを設け
    ず、クロック信号が入力されるI/O入力バッファのみ
    を設け、該I/O入力バッファよりクロック信号を必要
    とする回路素子に直接接続し、 レイアウト設計時にクロック回路としてクロック信号を
    必要とする回路素子の数より決まる前記クロックバッフ
    ァをツリー状に配置し、ツリー状に配置された前記クロ
    ックバッファの内直接前記I/O入力バッファと接続さ
    れるクロックバッファと前記I/O入力バッファとを接
    続するクロック配線幹パターンを配置し、ツリー状に配
    置された前記クロックバッファと前記クロック信号を必
    要とする回路素子とを接続するクロック配線枝パターン
    は、該クロック配線枝パターンと関連する前記クロック
    配線幹パターンの遅延時間を半導体集積回路全体の面積
    より想定されるクロック信号配線の配線遅延時間より差
    し引いた遅延時間に近づくように配置することを特徴と
    する半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法。
  2. 【請求項2】 論理設計時の前記I/O入力バッファの
    遅延時間として、該I/O入力バッファの遅延時間に、
    前記クロック信号を必要とする回路素子の数より決まる
    前記クロックバッファの遅延時間と前記配線遅延時間と
    の合計時間を加算した時間であるとして論理設計を行う
    ことを特徴とする請求項1記載の半導体集積回路のクロ
    ック配線回路の設計方法。
JP6178325A 1994-07-29 1994-07-29 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法 Withdrawn JPH0844776A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6178325A JPH0844776A (ja) 1994-07-29 1994-07-29 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP6178325A JPH0844776A (ja) 1994-07-29 1994-07-29 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0844776A true JPH0844776A (ja) 1996-02-16

Family

ID=16046518

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP6178325A Withdrawn JPH0844776A (ja) 1994-07-29 1994-07-29 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0844776A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000031609A1 (en) * 1998-11-25 2000-06-02 Lattice Semiconductor Corporation A clock tree topology
US6564353B2 (en) 2001-06-13 2003-05-13 Fujitsu Limited Method and apparatus for designing a clock distributing circuit, and computer readable storage medium storing a design program
US7454735B2 (en) 2002-12-17 2008-11-18 International Business Machines Corporation ASIC clock floor planning method and structure

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2000031609A1 (en) * 1998-11-25 2000-06-02 Lattice Semiconductor Corporation A clock tree topology
US6353352B1 (en) 1998-11-25 2002-03-05 Vantis Corporation Clock tree topology
US6564353B2 (en) 2001-06-13 2003-05-13 Fujitsu Limited Method and apparatus for designing a clock distributing circuit, and computer readable storage medium storing a design program
US7454735B2 (en) 2002-12-17 2008-11-18 International Business Machines Corporation ASIC clock floor planning method and structure

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5172330A (en) Clock buffers arranged in a peripheral region of the logic circuit area
US7500214B2 (en) System and method for reducing design cycle time for designing input/output cells
JP2002299457A (ja) 半導体集積回路の配線方法及び構造
US6609241B2 (en) Method of designing clock wiring
JP2742735B2 (ja) 半導体集積回路装置およびそのレイアウト設計方法
JPH0677403A (ja) 半導体集積回路装置及びその設計方法
JPH0844776A (ja) 半導体集積回路のクロック配線回路の設計方法
US6373288B1 (en) Method of implementing clock trees in synchronous digital electronic circuits, and a programmable delay buffer stage therefor
JPH113945A (ja) 半導体集積回路のクロックツリー設計方法及びそれによる半導体集積回路
JPS62217632A (ja) 半導体集積回路
JP2002198430A (ja) 駆動力可変ブロックおよびこれを用いたlsi設計方法
JPH06204435A (ja) 半導体集積回路のクロックツリー設計方法及びそれによる半導体集積回路
JPH0786413A (ja) 半導体装置
JP2580982B2 (ja) Lsi電源配線レイアウトシステム
JPH11259555A (ja) マクロの設計方法
JPH081948B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JP3028938B2 (ja) 半導体集積回路のレイアウト方法
JPH07240468A (ja) 半導体装置の信号線の形成方法
JP2872174B2 (ja) マスタースライス方式の半導体集積回路及びそのレイアウト方法
JPH09146655A (ja) クロック分配方法
JP2005217299A (ja) 半導体集積回路装置及びその配線レイアウト方法
JP3052847B2 (ja) Lsiレイアウト方式
JP2786017B2 (ja) 半導体集積回路の製造方法
JPH07169914A (ja) 半導体集積回路
JP2002351937A (ja) レイアウト方法

Legal Events

Date Code Title Description
A300 Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300

Effective date: 20011002