JPH0844584A - コンピュータ試験方式 - Google Patents

コンピュータ試験方式

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JPH0844584A
JPH0844584A JP6180132A JP18013294A JPH0844584A JP H0844584 A JPH0844584 A JP H0844584A JP 6180132 A JP6180132 A JP 6180132A JP 18013294 A JP18013294 A JP 18013294A JP H0844584 A JPH0844584 A JP H0844584A
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JP
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fault
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computer
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JP6180132A
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Shuya Hirayama
修也 平山
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NEC Engineering Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 きめ細やかな障害処理を試験可能とする。 【構成】 障害設定制御部2のソフトウェアインタフェ
ース部21はセレクタ22を切換え、カウンタ23に擬
似障害を発生させるための時間帯を示すカウント値を設
定する。ソフトウェアインタフェース部21はカウント
値の設定が終了すると、セレクタ22を切換えてカウン
タ23に減算器24の出力を入力する。カウンタ23の
カウンタ値は減算器24によって1ずつ減算される。オ
アゲート25はカウンタ23の出力の各ビットの論理和
をとり、その演算結果をオアゲート15を介してデコー
ダ16に出力する。デコーダ16はカウンタ23に設定
されたカウント値が「0」となるまで有効となる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はコンピュータ試験方式に
関し、特に診断処理装置の制御によってコンピュータ装
置に擬似的な障害を発生させることでコンピュータ装置
の動作確認や障害処理、及び診断処理等のRAS(Re
liability Availability Se
rviceability)機能の確認を行う試験方式
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の試験方式では、図2に示
すように、コンピュータ装置3での動作とは独立に診断
処理等を行う診断処理装置4が接続されている。この診
断処理装置4には障害発生時のコンピュータ装置3の動
作、診断処理装置4における障害処理、再立上げ処理等
のRAS機能を評価するために擬似的に障害を発生させ
る擬似障害発生機能を有している。
【0003】すなわち、診断処理装置4はコンピュータ
装置3のRAS機能を評価する場合、ファームウェア制
御部41からのファームウェア命令でレジスタ42に設
定された障害種別情報をデコーダ(DEC)46でデコ
ードし、障害発生指示201をコンピュータ装置3に出
力する。
【0004】コンピュータ装置3では診断処理装置4か
らの障害発生指示201に基づいて所定位置に障害を発
生させる。例えば、論理回路31が障害発生指示201
で指示された部位へのアクセスを行った場合等に障害が
発生するようになっている。
【0005】コンピュータ装置3の論理回路31に障害
が発生した場合、コンピュータ装置3に対する障害処理
は以下のようにして行われる。
【0006】論理回路31に障害が発生すると、コンピ
ュータ装置3は該当エラー表示ビット(EIF)32を
点灯し、正常動作が不能となったことを障害報告線10
3を介して診断処理装置4の障害処理部47に通知す
る。
【0007】診断処理装置4の障害処理部47はコンピ
ュータ装置3から障害発生の通知を受取ると、コンピュ
ータ装置3に対する障害処理を実行する。この障害処理
ではコンピュータ装置3内の情報を収集した後に、リセ
ット指示202をコンピュータ装置3に出力する。
【0008】コンピュータ装置3では診断処理装置4の
障害処理部47からのリセット指示202に応答してエ
ラー表示ビット32等の障害状態をリセットしてから、
再立上げ処理に移行する。
【0009】診断処理装置4内の障害有効ビット43,
44はファームウェア制御部41からのファームウェア
命令に応じてデコーダ46を有効とする情報を保持す
る。これら障害有効ビット43,44のうち、障害有効
ビット43はコンピュータ装置3に固定障害を発生させ
る場合に設定され、障害有効ビット44はコンピュータ
装置3に間欠障害を発生させる場合に設定される。
【0010】すなわち、障害有効ビット44はいったん
値が設定されても、その値は障害処理部47からのリセ
ット指示202によってリセットされるのに対し、障害
有効ビット43はいったん値が設定されると、障害処理
部47からのリセット指示202でリセットされること
はない。
【0011】よって、障害有効ビット43に値を設定し
てコンピュータ装置3に固定障害を発生させると、障害
処理部47からのリセット指示202がコンピュータ装
置3に送出されても、コンピュータ装置3内の障害がリ
セットされることはなく、コンピュータ装置3の再立上
げは失敗する。
【0012】一方、障害有効ビット44に値を設定して
コンピュータ装置3に間欠障害を発生させると、障害処
理部47からリセット指示202がコンピュータ装置3
に送出されるので、コンピュータ装置3内の障害状態が
リセットされ、コンピュータ装置3の再立上げが行われ
る。
【0013】すなわち、図3に示すように、コンピュー
タ装置3内で障害が発生すると(図3ステップS1)、
オアゲート33から障害報告線103を介して診断処理
装置4の障害処理部47に障害報告が通知される(図3
ステップS2)。
【0014】障害処理部47は障害報告が通知される
と、コンピュータ装置3内の情報を収集し(図3ステッ
プS3)、リセット指示202を出力してコンピュータ
装置3内の障害状態をリセットする(図3ステップS
4)。
【0015】この後に、障害処理部47はコンピュータ
装置3の再立上げ処理を実行し(図3ステップS5)、
コンピュータ装置3の再立上げが成功したか否かを判定
する(図3ステップS6)。
【0016】障害処理部47はコンピュータ装置3の再
立上げが成功すれば、障害処理を終了する。一方、障害
処理部47はコンピュータ装置3の再立上げが失敗する
と、その再立上げの回数が予め定めたN回(Nは正の整
数)未満か否かを判定する(図3ステップS7)。
【0017】障害処理部47はコンピュータ装置3の再
立上げの回数がN回未満であれば、ステップS5に戻っ
てその回数がN回以上となるまで再立上げ処理を繰返し
実行する(図3ステップS5〜S7)。
【0018】障害処理部47はコンピュータ装置3の再
立上げの回数がN回以上になると、その障害を固定障害
と判断し、装置の切離し等の固定障害処理を実行し(図
3ステップS8)、障害処理を終了する。
【0019】上述した従来の試験方式では、障害有効ビ
ット44のみが障害処理部47からのリセット指示20
2でリセットされるようになっており、レジスタ42及
び障害有効ビット43はリセットされないようになって
いる。
【0020】そこで、コンピュータ装置3に固定故障を
発生させる場合には障害有効ビット43を設定する。こ
の場合、コンピュータ装置3では診断処理装置4からの
リセット指示202によってエラー表示ビット32がリ
セットされるが、診断処理装置4のレジスタ42及び障
害有効ビット43がリセットされないため、診断処理装
置4からの障害発生指示201に基づいて所定位置に障
害が再発生する。
【0021】よって、コンピュータ装置3の再立上げは
失敗する。このコンピュータ装置3の再立上げは連続し
て行われるが、その度に障害が発生し、その障害が固定
的となる。
【0022】一方、コンピュータ装置3に間欠故障を発
生させる場合には障害有効ビット44を設定する。この
場合、コンピュータ装置3では診断処理装置4からのリ
セット指示202によってエラー表示ビット32がリセ
ットされ、診断処理装置4の障害有効ビット44もリセ
ットされるため、コンピュータ装置3の再立上げは成功
する。すなわち、擬似的に間欠障害を発生させることが
できる。
【0023】上記の従来の試験方式では、障害種別情報
や障害有効ビットの設定によって発生する障害の期待値
が予め判明しており、プログラムによってコンピュータ
装置3及び診断処理装置4のRAS機能の確認を容易に
行うことができる。
【0024】尚、実開昭58−124834号公報に
は、予め擬似障害発生装置内に入力したパラメータによ
って、固定的または間欠的に、1回またはランダムに、
または時間をおいて繰返し擬似障害を設定及び制御、あ
るいは擬似障害発生の間欠的故障位置を設定することを
可能とする技術が開示されている。
【0025】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のRAS
機能の確認を行う試験方式では、固定障害と間欠障害と
を切り分けて擬似的に発生させることができるが、その
場合に固定障害は完全に固定となるものであり、間欠障
害はコンピュータ装置に対するリセット時に障害要因が
リセットされてあたかも間欠障害のように見えるもので
ある。
【0026】コンピュータ装置の障害処理では間欠障害
の場合に再立上げを行ってコンピュータ装置を復旧させ
る方法がとられている。
【0027】その際、再立上げに失敗しても予め設定さ
れた回数までは再立上げを繰返し実行して復旧を試みる
ことで、極力コンピュータ装置の完全ダウンを防止する
救済策がとる場合もあり、コンピュータ装置の障害処理
がきめ細やかになっている。
【0028】このきめ細やかな障害処理を試験するため
に、障害発生状態として様々なケースを作り出す必要が
あるが、上記の試験方式では固定障害であればその障害
要因が解除されるまで固定となってしまい、間欠障害で
あれば1度の再立上げで障害要因がリセットされてしま
うので、きめ細やかな障害処理を試験することができな
い。尚、上記の実開昭58−124834号公報に開示
された技術を用いても、このきめ細やかな障害処理を試
験することはできない。
【0029】そこで、本発明の目的は上記の問題点を解
除し、きめ細やかな障害処理を試験することができるコ
ンピュータ試験方式を提供することにある。
【0030】
【課題を解決するための手段】本発明によるコンピュー
タ試験方式は、ファームウェア命令によって設定自在な
障害種別情報を保持する保持手段と、この障害種別情報
の有効無効を指示するフラグとを含む診断処理装置のコ
ンピュータ試験方式であって、前記保持手段に保持され
た障害種別情報を予め設定された時間有効とする手段を
備えている。
【0031】本発明による他のコンピュータ試験方式
は、ファームウェア命令によって設定自在な障害種別情
報を保持する保持手段と、この障害種別情報の有効無効
を指示するフラグと、前記フラグが前記障害種別情報の
有効を指示しかつ試験対象装置が前記障害種別情報の条
件に適合した時に前記試験対象装置に擬似障害を発生さ
せる手段とを含む診断処理装置のコンピュータ試験方式
であって、前記保持手段に保持された障害種別情報を予
め設定された時間有効とする手段を備えている。
【0032】本発明による別のコンピュータ試験方式
は、ファームウェア命令によって設定自在な障害種別情
報を保持する保持手段と、試験対象装置が前記障害種別
情報の条件に適合した時に擬似障害を発生するよう前記
試験対象装置に指示するデコーダとを含む診断処理装置
のコンピュータ試験方式であって、前記デコーダからの
指示を予め設定された時間有効とするタイマ手段を備え
ている。
【0033】本発明によるさらに別のコンピュータ試験
方式は、ファームウェア命令によって設定自在な障害種
別情報を保持する保持手段と、この障害種別情報の有効
無効を指示するフラグと、前記フラグが前記障害種別情
報の有効を指示している場合に試験対象装置が前記障害
種別情報の条件に適合した時に擬似障害を発生するよう
前記試験対象装置に指示するデコーダとを含む診断処理
装置のコンピュータ試験方式であって、前記デコーダか
らの指示を予め設定された時間有効とするタイマ手段を
備えている。
【0034】
【作用】コンピュータ装置とは独立した診断処理装置に
おいて、ファームウェア命令でレジスタに保持された障
害種別情報をデコードするデコーダを障害設定制御部に
よって予め設定された時間有効とする。
【0035】これによって、コンピュータ装置に対して
障害発生可能な時間幅を制御することが可能となり、擬
似的な固定障害及び間欠障害が発生可能となる。よっ
て、例えば再立上げ処理を複数回繰返した後に再立上げ
処理が成功するような場合等の従来にないRAS機能の
試験が可能となる。
【0036】
【実施例】次に、本発明の一実施例について図面を参照
して説明する。
【0037】図1は本発明の一実施例の構成を示すブロ
ック図である。図において、診断処理装置1はファーム
ウェア制御部11と、レジスタ12と、障害有効ビット
13,14と、オアゲート15と、デコーダ(DEC)
16と、障害処理部17と、障害設定制御部2とから構
成されている。
【0038】レジスタ12は障害種別情報を保持するレ
ジスタであり、ファームウェア制御部11の制御による
コンピュータ装置3のファームウェア命令で障害種別情
報の設定が自在となっている。
【0039】デコーダ16はレジスタ12に保持された
障害種別情報をデコードし、障害発生指示101をコン
ピュータ装置3に出力することで、コンピュータ装置3
の所定位置に障害を発生させる。例えば、論理回路31
が障害発生指示101によって指示された部位へのアク
セスを行った場合等に障害を発生させるようになってい
る。
【0040】この障害発生時に、コンピュータ装置3で
は障害種別に対応するエラー表示ビット(EIF)32
が点灯し、オアゲート33から障害通知線103を介し
て正常動作が不能となったことが診断処理装置1に通知
される。
【0041】診断処理装置1の障害処理部17はコンピ
ュータ装置3から正常動作不能の通知を受けると、コン
ピュータ装置3の障害処理を実行する。この障害処理で
はコンピュータ装置3内の情報を収集し、エラー表示ビ
ット32等の障害状態をリセットしてから再立上げ処理
に移行する。
【0042】障害有効ビット13,14はデコーダ16
を有効とするものであり、固定障害を発生させるときに
は障害有効ビット13を、間欠障害を発生させるときに
は障害有効ビット14を夫々設定する。
【0043】固定障害発生の場合、コンピュータ装置3
では診断処理装置1からのリセット指示101によって
エラー表示ビット32がリセットされるが、診断処理装
置1のレジスタ12及び障害有効ビット13がリセット
指示101によってリセットされないため、コンピュー
タ装置3で障害が再発し、コンピュータ装置3の再立上
げが失敗する。その場合、コンピュータ装置3の再立上
げは連続して行われるが、上記の障害は固定的に発生す
ることとなる。
【0044】間欠障害発生の場合、コンピュータ装置3
では診断処理装置1からのリセット指示101によって
エラー表示ビット32がリセットされ、診断処理装置1
の障害有効ビット14もリセット指示101によってリ
セットされるため、コンピュータ装置3の再立上げが成
功する。すなわち、コンピュータ装置3では擬似的に間
欠障害を発生させることができる。
【0045】本発明の一実施例では上記の擬似的な障害
の発生の他に、障害設定制御部2による擬似的な障害の
発生も行われる。ここで、障害設定制御部2はソフトウ
ェアインタフェース部21と、セレクタ22と、カウン
タ23と、減算器24と、オアゲート25とから構成さ
れている。
【0046】この障害設定制御部2の制御によってコン
ピュータ装置3に擬似的な障害を発生させる場合、まず
所定の擬似障害に対応する障害種別情報をレジスタ12
に設定する。
【0047】その後に、ソフトウェアインタフェース部
21はソフトウェア命令の指示によってセレクタ22を
切換え、カウンタ23に擬似障害を発生させるための時
間帯を示すカウント値を設定する。
【0048】ソフトウェアインタフェース部21はカウ
ンタ23へのカウント値の設定が終了すると、セレクタ
22を切換えてカウンタ23に減算器24の出力が入力
されるようにする。
【0049】カウンタ23の出力の全ビットは減算器2
4に出力され、減算器で1減算された後にセレクタ22
を介してカウンタ23にセットされる。つまり、カウン
タ23のカウンタ値は減算器24によって1ずつ減算さ
れていくこととなる。
【0050】また、カウンタ23の出力の各ビットは夫
々オアゲート25に入力され、これら各ビットの論理和
がオアゲート25でとられる。したがって、オアゲート
25はカウンタ23のカウント値が「0」になるまでは
“1”を出力するが、カウンタ23のカウント値が
「0」になると“0”を出力する。
【0051】このオアゲート25の出力値はオアゲート
15を介してデコーダ16に出力されているので、デコ
ーダ16はカウンタ23に設定されたカウント値が
「0」となるまで有効となる。その間、コンピュータ装
置3の所定位置での障害発生が可能となり、例えば論理
回路31が所定位置へのアクセスを行う度に障害が発生
することとなる。
【0052】ソフトウェアはカウンタ23に種々のカウ
ント値を設定することによって、コンピュータ装置3に
対して障害発生可能な時間幅を制御することが可能とな
り、カウント値を非常に大きく設定すれば擬似的に固定
障害を、カウント値を必要に応じて設定すれば擬似的に
間欠障害を発生させることができる。
【0053】上記の方法はコンピュータ装置3のリセッ
トによって擬似障害の固定または間欠を制御する従来の
方式とは異なり、コンピュータ装置3の動作に同期する
ことなく、ランダムな時間幅の擬似障害、つまり時間幅
を変えることで発生回数が異なる擬似障害を発生させる
ことができる。
【0054】よって、再立上げに失敗しても予め設定さ
れた回数までは再立上げを繰返し実行して復旧を試みる
ことで、極力コンピュータ装置3の完全ダウンを防止す
る救済策がとる場合のきめ細やかな障害処理を試験する
ことができる。
【0055】尚、上記の説明ではオアゲート15で障害
有効ビット13,14各々の出力と障害設定制御部2の
オアゲート25の出力との論理和をとっているが、オア
ゲート25の出力をそのままデコーダ16に入力するこ
とで、障害設定制御部2の制御のみで固定障害または間
欠障害を発生させることも可能である。
【0056】このように、コンピュータ装置3とは独立
した診断処理装置1においてレジスタ12の障害種別情
報をデコードするデコーダ16を障害設定制御部2によ
って予め設定された時間有効とすることによって、コン
ピュータ装置3に対して障害発生可能な時間幅を制御す
ることが可能となり、擬似的に固定障害及び間欠障害を
発生させることができる。
【0057】これはコンピュータ装置3のリセットによ
って擬似障害の固定または間欠を制御する従来の方式と
は異なり、コンピュータ装置3の動作に同期することな
く、ランダムな時間幅の擬似障害を発生させることがで
きる。
【0058】よって、例えば再立上げ処理を複数回繰返
した後に再立上げ処理が成功するような場合等の従来に
ないRAS機能の試験を行うことができ、きめ細やかな
障害処理を試験することができる。
【0059】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、保
持手段に保持されかつファームウェア命令によって設定
自在な障害種別情報を予め設定された時間有効とするこ
とによって、きめ細やかな障害処理を試験することがで
きるという効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示すブロック図であ
る。
【図2】従来例の構成を示すブロック図である。
【図3】従来例の障害処理動作を示すフローチャートで
ある。
【符号の説明】
1 診断処理装置 2 障害設定制御部 3 コンピュータ装置 11 ファームウェア制御部 12 レジスタ 13,14 障害有効ビット 15,25 オアゲート 16 デコーダ 17 障害処理部 21 ソフトウェアインタフェース部 22 セレクタ 23 カウンタ 24 減算器

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ファームウェア命令によって設定自在な
    障害種別情報を保持する保持手段と、この障害種別情報
    の有効無効を指示するフラグとを含む診断処理装置のコ
    ンピュータ試験方式であって、前記保持手段に保持され
    た障害種別情報を予め設定された時間有効とする手段を
    有することを特徴とするコンピュータ試験方式。
  2. 【請求項2】 ファームウェア命令によって設定自在な
    障害種別情報を保持する保持手段と、この障害種別情報
    の有効無効を指示するフラグと、前記フラグが前記障害
    種別情報の有効を指示しかつ試験対象装置が前記障害種
    別情報の条件に適合した時に前記試験対象装置に擬似障
    害を発生させる手段とを含む診断処理装置のコンピュー
    タ試験方式であって、前記保持手段に保持された障害種
    別情報を予め設定された時間有効とする手段を有するこ
    とを特徴とするコンピュータ試験方式。
  3. 【請求項3】 ファームウェア命令によって設定自在な
    障害種別情報を保持する保持手段と、試験対象装置が前
    記障害種別情報の条件に適合した時に擬似障害を発生す
    るよう前記試験対象装置に指示するデコーダとを含む診
    断処理装置のコンピュータ試験方式であって、前記デコ
    ーダからの指示を予め設定された時間有効とするタイマ
    手段を有することを特徴とするコンピュータ試験方式。
  4. 【請求項4】 ファームウェア命令によって設定自在な
    障害種別情報を保持する保持手段と、この障害種別情報
    の有効無効を指示するフラグと、前記フラグが前記障害
    種別情報の有効を指示している場合に試験対象装置が前
    記障害種別情報の条件に適合した時に擬似障害を発生す
    るよう前記試験対象装置に指示するデコーダとを含む診
    断処理装置のコンピュータ試験方式であって、前記デコ
    ーダからの指示を予め設定された時間有効とするタイマ
    手段を有することを特徴とするコンピュータ試験方式。
JP6180132A 1994-08-01 1994-08-01 コンピュータ試験方式 Withdrawn JPH0844584A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101322064B1 (ko) * 2010-09-27 2013-10-28 후지쯔 가부시끼가이샤 의사 에러 발생 장치

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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