JPH0843401A - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
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- JPH0843401A JPH0843401A JP17427294A JP17427294A JPH0843401A JP H0843401 A JPH0843401 A JP H0843401A JP 17427294 A JP17427294 A JP 17427294A JP 17427294 A JP17427294 A JP 17427294A JP H0843401 A JPH0843401 A JP H0843401A
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- power supply
- temperature
- time
- power
- circuit
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Abstract
(57)【要約】
【目的】装置立ち上げ時の不要な電力消費を低減するこ
とのできる自動分析装置を提供する。 【構成】ランプ７および演算回路１１への電力供給をヒ
ータ４への電力供給よりも所定時間遅らせて開始する電
源制御回路１６を設けたことを特徴とする。
とのできる自動分析装置を提供する。 【構成】ランプ７および演算回路１１への電力供給をヒ
ータ４への電力供給よりも所定時間遅らせて開始する電
源制御回路１６を設けたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、血液や尿などの液体
中に含まれる成分を自動的に分析する自動分析装置に関
するものである。
中に含まれる成分を自動的に分析する自動分析装置に関
するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、血液や尿などの液体中に含まれる
成分を自動的に分析する装置として、特開昭５４−７３
０９４号公報あるいは特開昭５６−１３２５６６号公報
に記載された自動分析装置がある。これらの自動分析装
置は、反応容器内に分注された液体試料に試薬を加えて
液体試料と試薬を化学反応させた後、液体試料に光を照
射し、その透過光量から液体試料の成分を分析演算する
ものであり、安定した化学反応を起こさせるために反応
容器内に分注された液体試料を所定温度に加熱する加熱
手段としての恒温槽や、液体試料に光を照射するランプ
の他に、分析結果を表示するＣＲＴディスプレイ等の表
示装置を備えている。
成分を自動的に分析する装置として、特開昭５４−７３
０９４号公報あるいは特開昭５６−１３２５６６号公報
に記載された自動分析装置がある。これらの自動分析装
置は、反応容器内に分注された液体試料に試薬を加えて
液体試料と試薬を化学反応させた後、液体試料に光を照
射し、その透過光量から液体試料の成分を分析演算する
ものであり、安定した化学反応を起こさせるために反応
容器内に分注された液体試料を所定温度に加熱する加熱
手段としての恒温槽や、液体試料に光を照射するランプ
の他に、分析結果を表示するＣＲＴディスプレイ等の表
示装置を備えている。
【０００３】ところで、このような自動分析装置は、分
析作業を開始する直前に電源スイッチを投入すると、恒
温槽が安定した温度に達するまでに１時間程度かかり、
待ち時間が長いという難点がある。
析作業を開始する直前に電源スイッチを投入すると、恒
温槽が安定した温度に達するまでに１時間程度かかり、
待ち時間が長いという難点がある。
【０００４】そこで、分析作業開始までの時間を短縮す
るために、タイマー装置で設定した時刻に電源を立ち上
げておくことにより、予め恒温槽を所定温度まで上昇さ
せておくとともに、ランプや電気回路などを早めに安定
させるようにしたものがある。
るために、タイマー装置で設定した時刻に電源を立ち上
げておくことにより、予め恒温槽を所定温度まで上昇さ
せておくとともに、ランプや電気回路などを早めに安定
させるようにしたものがある。
【０００５】この種の自動分析装置は、タイマー装置に
制御される電源制御部（ＳＳＲ，リレー等）を介して電
源に接続されている。このため、予め設定された時刻に
なると、タイマー装置は電源制御部へ信号を出力し、装
置各部へ電力を供給する構成となっている。そして、装
置各部に電力が供給され、一定時間経過すると、装置各
部が安定した状態になる。
制御される電源制御部（ＳＳＲ，リレー等）を介して電
源に接続されている。このため、予め設定された時刻に
なると、タイマー装置は電源制御部へ信号を出力し、装
置各部へ電力を供給する構成となっている。そして、装
置各部に電力が供給され、一定時間経過すると、装置各
部が安定した状態になる。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
の自動分析装置では、タイマー装置で設定した時刻にな
ると、装置全体に電力が供給されるが、電力が供給され
てから安定した状態になるまでの時間は装置各部によっ
て異なる。
の自動分析装置では、タイマー装置で設定した時刻にな
ると、装置全体に電力が供給されるが、電力が供給され
てから安定した状態になるまでの時間は装置各部によっ
て異なる。
【０００７】例えば反応容器内に分注された液体試料を
所定温度に加熱する恒温槽を有する自動分析装置では、
多量の恒温液を所定の温度まで温めるまでに電源スイッ
チが投入されてから約１時間程度経過しないと、分析作
業を開始することができない。また、ランプは光量が安
定するまで３０分程かかる。
所定温度に加熱する恒温槽を有する自動分析装置では、
多量の恒温液を所定の温度まで温めるまでに電源スイッ
チが投入されてから約１時間程度経過しないと、分析作
業を開始することができない。また、ランプは光量が安
定するまで３０分程かかる。
【０００８】一方、表示装置、キーボード、制御回路等
は電源が供給されてから直ちに使用することができる。
従って、従来の自動分析装置では、電源スイッチを投入
してから安定した状態になるまでの時間が装置各部によ
って異なるにも拘らず、一度に電力の供給が開始される
ために不要な電力が消費されるという難点があった。
は電源が供給されてから直ちに使用することができる。
従って、従来の自動分析装置では、電源スイッチを投入
してから安定した状態になるまでの時間が装置各部によ
って異なるにも拘らず、一度に電力の供給が開始される
ために不要な電力が消費されるという難点があった。
【０００９】この発明は上述した問題点に鑑みてなされ
たもので、その目的は装置立ち上げ時の不要な電力消費
を低減することのできる自動分析装置を提供しようとす
るものである。
たもので、その目的は装置立ち上げ時の不要な電力消費
を低減することのできる自動分析装置を提供しようとす
るものである。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明は、反応容器内に分注された液体試料と試
薬を所定温度に恒温化する恒温化手段と、前記液体試料
の成分を光学的に分析する分析手段と、この分析手段で
得られた分析結果を表示する表示手段とを備えた自動分
析装置において、前記分析手段および前記表示手段への
電力供給を前記恒温化手段への電力供給よりも所定時間
遅らせて開始する電源制御手段を設けたことを特徴とす
るものである。
に、この発明は、反応容器内に分注された液体試料と試
薬を所定温度に恒温化する恒温化手段と、前記液体試料
の成分を光学的に分析する分析手段と、この分析手段で
得られた分析結果を表示する表示手段とを備えた自動分
析装置において、前記分析手段および前記表示手段への
電力供給を前記恒温化手段への電力供給よりも所定時間
遅らせて開始する電源制御手段を設けたことを特徴とす
るものである。
【００１１】
【作用】上記の構成において、恒温化手段へ電力が供給
されてから所定時間経過すると、分析手段および表示手
段への電力供給が開始される。従って、装置立ち上げ時
の不要な電力消費を低減することができる。
されてから所定時間経過すると、分析手段および表示手
段への電力供給が開始される。従って、装置立ち上げ時
の不要な電力消費を低減することができる。
【００１２】
【実施例】以下、この発明の第１の実施例を図１ないし
図３を参照して説明する。図１は、この発明の第１の実
施例に係る自動分析装置の概略構成を示している。同図
において、１は反応容器、２は反応容器１内に分注され
た液体試料と試薬を分析が可能となるような所定温度
（即ち、２０〜４０℃、特に２５〜３７℃といった温暖
な温度範囲のうちのいずれかの温度）に加熱する恒温化
手段としての恒温槽であり、この恒温槽２の内部には、
恒温槽２を加熱するための恒温液３が収容されていると
ともに、加熱源としてのヒータ４と温度センサ５が設け
られている。
図３を参照して説明する。図１は、この発明の第１の実
施例に係る自動分析装置の概略構成を示している。同図
において、１は反応容器、２は反応容器１内に分注され
た液体試料と試薬を分析が可能となるような所定温度
（即ち、２０〜４０℃、特に２５〜３７℃といった温暖
な温度範囲のうちのいずれかの温度）に加熱する恒温化
手段としての恒温槽であり、この恒温槽２の内部には、
恒温槽２を加熱するための恒温液３が収容されていると
ともに、加熱源としてのヒータ４と温度センサ５が設け
られている。
【００１３】なお、前記恒温槽２の上方には、恒温槽２
の上面に載置された反応容器１に液体試料を分注する試
料分注器６と反応容器１に試薬を分注する試料分注器７
が設けられている。また、前記恒温槽２は円形状をなし
ており、図示しない駆動装置により適宜の回転角度ごと
に間欠的に回転駆動されるようになっている。ここで、
分析項目によっては、反応容器１内に分注された試料や
試薬を均一に混合したり、反応を促進するための攪拌手
段や、反応容器１の内面を水、緩衝液のような洗浄水で
洗浄する洗浄手段や、分析後の反応容器１を新しい反応
容器１と交換する交換手段等を設けてもよい。
の上面に載置された反応容器１に液体試料を分注する試
料分注器６と反応容器１に試薬を分注する試料分注器７
が設けられている。また、前記恒温槽２は円形状をなし
ており、図示しない駆動装置により適宜の回転角度ごと
に間欠的に回転駆動されるようになっている。ここで、
分析項目によっては、反応容器１内に分注された試料や
試薬を均一に混合したり、反応を促進するための攪拌手
段や、反応容器１の内面を水、緩衝液のような洗浄水で
洗浄する洗浄手段や、分析後の反応容器１を新しい反応
容器１と交換する交換手段等を設けてもよい。
【００１４】前記温度センサ５は恒温液３の温度を検出
するためのものであり、この温度センサ５から出力され
た信号は、ヒータ４への通電を制御して恒温液３の温度
を所定温度に保つ温度制御回路８に供給されるようにな
っている。
するためのものであり、この温度センサ５から出力され
た信号は、ヒータ４への通電を制御して恒温液３の温度
を所定温度に保つ温度制御回路８に供給されるようにな
っている。
【００１５】また、９は前記反応容器１内に分注された
液体試料と試薬に光を照射するランプであり、このラン
プ９と反応容器１を挟んで対向する位置には、反応容器
１からの透過光を検出する光センサ１０が分析手段とし
て設けられている。ここで、測定原理によっては、透過
光以外にも蛍光、発光、電解質濃度等を検出する構成を
有する他の分析手段を設けてもよい。
液体試料と試薬に光を照射するランプであり、このラン
プ９と反応容器１を挟んで対向する位置には、反応容器
１からの透過光を検出する光センサ１０が分析手段とし
て設けられている。ここで、測定原理によっては、透過
光以外にも蛍光、発光、電解質濃度等を検出する構成を
有する他の分析手段を設けてもよい。
【００１６】また、１１は前記光センサ８から出力され
た信号に基づいて液体試料の成分を分析演算する演算回
路であり、この演算回路１１の信号入出力端子には、演
算回路１１で得られた分析結果を表示するＣＲＴディス
プレイ１２、分析結果を記憶するハードディスク装置１
３および分析条件等を演算回路１１に入力するためのキ
ーボード装置１４が接続されている。
た信号に基づいて液体試料の成分を分析演算する演算回
路であり、この演算回路１１の信号入出力端子には、演
算回路１１で得られた分析結果を表示するＣＲＴディス
プレイ１２、分析結果を記憶するハードディスク装置１
３および分析条件等を演算回路１１に入力するためのキ
ーボード装置１４が接続されている。
【００１７】前記温度制御回路８、ランプ９、演算回路
１１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１
３およびキーボード装置１４は、電源ケーブル１５ａ，
１５ｂ，１５ｃを介して電源制御回路１６に接続されて
いる。この電源制御回路１６は電源３０からの電力を装
置各部へ供給するためのものであり、図２に示すよう
に、電源スイッチ１７、遅延回路１８ａ，１８ｂ、ドラ
イバー回路１９ａ，１９ｂ、ＳＳＲ２０ａ，２０ｂ等か
ら構成されている。
１１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１
３およびキーボード装置１４は、電源ケーブル１５ａ，
１５ｂ，１５ｃを介して電源制御回路１６に接続されて
いる。この電源制御回路１６は電源３０からの電力を装
置各部へ供給するためのものであり、図２に示すよう
に、電源スイッチ１７、遅延回路１８ａ，１８ｂ、ドラ
イバー回路１９ａ，１９ｂ、ＳＳＲ２０ａ，２０ｂ等か
ら構成されている。
【００１８】前記遅延回路１８ａ，１８ｂは電源スイッ
チ１７からの電力信号を所定時間だけ遅延してドライバ
ー回路１９ａ，１９ｂに供給するものであり、遅延回路
１８ａからドライバー回路１９ａに供給された信号はＳ
ＳＲ２０ａおよび電源ケーブル１５ｂを介してランプ９
に供給され、また遅延回路１８ｂからドライバー回路１
９ｂに供給された電源信号はＳＳＲ２０ｂおよび電源ケ
ーブル１５ｃを介して演算回路１１、ＣＲＴディスプレ
イ１２、ハードディスク装置１３およびキーボード装置
１４に供給されるようになっている。
チ１７からの電力信号を所定時間だけ遅延してドライバ
ー回路１９ａ，１９ｂに供給するものであり、遅延回路
１８ａからドライバー回路１９ａに供給された信号はＳ
ＳＲ２０ａおよび電源ケーブル１５ｂを介してランプ９
に供給され、また遅延回路１８ｂからドライバー回路１
９ｂに供給された電源信号はＳＳＲ２０ｂおよび電源ケ
ーブル１５ｃを介して演算回路１１、ＣＲＴディスプレ
イ１２、ハードディスク装置１３およびキーボード装置
１４に供給されるようになっている。
【００１９】なお、前記温度制御回路８には電源スイッ
チ１７からの電力信号が遅延回路１８ａ，１８ｂを経由
せずに電源ケーブル１５ａを介して供給されるようにな
っている。
チ１７からの電力信号が遅延回路１８ａ，１８ｂを経由
せずに電源ケーブル１５ａを介して供給されるようにな
っている。
【００２０】このような構成において、時刻ｔ0 に電源
を供給すると、恒温槽２は図３（ａ）に示すように温度
が上昇し、時刻ｔ0 から所定時間経過した時刻ｔ1 に安
定し、使用可能な状態となる。このとき、ランプ９は、
図３（ｂ）に示すように、時刻ｔ0 から所定時間経過し
た時刻ｔ2 に使用可能な状態となる。また、演算回路１
１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１３
およびキーボード装置１４は、図３（ｃ）に示すよう
に、時刻ｔ0 から所定時間経過した時刻ｔ3 に使用可能
な状態となる。
を供給すると、恒温槽２は図３（ａ）に示すように温度
が上昇し、時刻ｔ0 から所定時間経過した時刻ｔ1 に安
定し、使用可能な状態となる。このとき、ランプ９は、
図３（ｂ）に示すように、時刻ｔ0 から所定時間経過し
た時刻ｔ2 に使用可能な状態となる。また、演算回路１
１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１３
およびキーボード装置１４は、図３（ｃ）に示すよう
に、時刻ｔ0 から所定時間経過した時刻ｔ3 に使用可能
な状態となる。
【００２１】従って、ランプ９および演算回路１１が使
用可能な状態になるまでの時間Ｔ1（＝ｔ1 −ｔ2 ）及
びＴ2 （＝ｔ1 −ｔ3 ）を前記遅延回路１８ａ，１８ｂ
に予め設定しておく。
用可能な状態になるまでの時間Ｔ1（＝ｔ1 −ｔ2 ）及
びＴ2 （＝ｔ1 −ｔ3 ）を前記遅延回路１８ａ，１８ｂ
に予め設定しておく。
【００２２】遅延回路１８ａ，１８ｂに遅延時間を設定
する方法は、例えば遅延回路１８ａ，１８ｂ内にＰＲＯ
Ｍ、スイッチ等で半固定的に設定しても良いし、装置の
設置環境等に応じてキーボード装置１４からのキー入力
やハードディスク装置１３に記憶されたデータを基に演
算回路１１によって通信線２１を介して設定しても良
い。
する方法は、例えば遅延回路１８ａ，１８ｂ内にＰＲＯ
Ｍ、スイッチ等で半固定的に設定しても良いし、装置の
設置環境等に応じてキーボード装置１４からのキー入力
やハードディスク装置１３に記憶されたデータを基に演
算回路１１によって通信線２１を介して設定しても良
い。
【００２３】なお、周囲温度等によって使用可能になる
までの時間が変化するので、前述した後者の設定方法が
より適切である。電源制御回路１６の電源スイッチ１７
が投入されると、ヒータ４が発熱し、恒温槽２の恒温液
３がヒータ４によって加熱される（時刻ｔ0 ）。そし
て、恒温液３が所定温度に達すると、温度制御回路８か
らヒータ４への電力供給が制御されることにより恒温液
３の温度が所定温度に保たれる。
までの時間が変化するので、前述した後者の設定方法が
より適切である。電源制御回路１６の電源スイッチ１７
が投入されると、ヒータ４が発熱し、恒温槽２の恒温液
３がヒータ４によって加熱される（時刻ｔ0 ）。そし
て、恒温液３が所定温度に達すると、温度制御回路８か
らヒータ４への電力供給が制御されることにより恒温液
３の温度が所定温度に保たれる。
【００２４】また、電源スイッチ１７を投入してからＴ
1 （＝ｔ1 −ｔ2 ）時間経過すると、遅延回路１８ａか
らドライバー回路１９ａに信号が送出され、遅延回路１
８ａからの信号によってドライバー回路１９ａがオンと
なる。そして、ドライバー回路１９ａがオンになると、
ドライバー回路１９ａからの信号によってＳＳＲ２０ａ
がオンとなり、ＳＳＲ２０ａから分析手段のランプ９に
電力が供給される。
1 （＝ｔ1 −ｔ2 ）時間経過すると、遅延回路１８ａか
らドライバー回路１９ａに信号が送出され、遅延回路１
８ａからの信号によってドライバー回路１９ａがオンと
なる。そして、ドライバー回路１９ａがオンになると、
ドライバー回路１９ａからの信号によってＳＳＲ２０ａ
がオンとなり、ＳＳＲ２０ａから分析手段のランプ９に
電力が供給される。
【００２５】また、電源スイッチ１７を投入してからＴ
2 （＝ｔ1 −ｔ3 ）時間経過すると、分析手段が使用可
能な状態になるので、これに伴って遅延回路１８ｂから
ドライバー回路１９ｂに信号が送出され、遅延回路１８
ｂからの信号によってドライバー回路１９ｂがオンとな
る。そして、ドライバー回路１９ｂがオンになると、ド
ライバー回路１９ｂからの信号によってＳＳＲ２０ｂが
オンとなり、ＳＳＲ２０ｂから演算回路１１、ＣＲＴデ
ィスプレイ１２、ハードディスク装置１３およびキーボ
ード装置１４に電力が供給される。
2 （＝ｔ1 −ｔ3 ）時間経過すると、分析手段が使用可
能な状態になるので、これに伴って遅延回路１８ｂから
ドライバー回路１９ｂに信号が送出され、遅延回路１８
ｂからの信号によってドライバー回路１９ｂがオンとな
る。そして、ドライバー回路１９ｂがオンになると、ド
ライバー回路１９ｂからの信号によってＳＳＲ２０ｂが
オンとなり、ＳＳＲ２０ｂから演算回路１１、ＣＲＴデ
ィスプレイ１２、ハードディスク装置１３およびキーボ
ード装置１４に電力が供給される。
【００２６】従って、この発明の第１の実施例では、図
３（ｄ）に示すように、時刻ｔ1 で装置の各部が使用可
能な状態となるように、立ち上げ時間が長いものから順
に電力を供給していくので、無駄な電力消費を防止する
ことができるとともに、ランプ９等の寿命を低下させる
こともない。
３（ｄ）に示すように、時刻ｔ1 で装置の各部が使用可
能な状態となるように、立ち上げ時間が長いものから順
に電力を供給していくので、無駄な電力消費を防止する
ことができるとともに、ランプ９等の寿命を低下させる
こともない。
【００２７】なお、上述した実施例では電源スイッチ１
７の投入時刻を基準にして遅延回路１８ａ，１８ｂの遅
延時間を設定しているが、遅延回路１８ａがオンになっ
た時刻を基準にして遅延回路１８ｂの遅延時間を設定し
ても良い。
７の投入時刻を基準にして遅延回路１８ａ，１８ｂの遅
延時間を設定しているが、遅延回路１８ａがオンになっ
た時刻を基準にして遅延回路１８ｂの遅延時間を設定し
ても良い。
【００２８】次に、この発明の第２の実施例を図４を参
照して説明する。なお、図１および図２に示したものと
同一部分には同一符号を付し、その部分の詳細な説明は
省略する。
照して説明する。なお、図１および図２に示したものと
同一部分には同一符号を付し、その部分の詳細な説明は
省略する。
【００２９】この第２の実施例では、図１に示したキー
ボード装置１４からのキー入力やハードディスク装置１
３に記憶された装置立ち上げ時刻のデータを基に、演算
回路１１によって通信線２１を介して電源制御回路１６
内のタイマー回路２２ａ，２２ｂ，２２ｃに電力供給開
始時刻を設定する。
ボード装置１４からのキー入力やハードディスク装置１
３に記憶された装置立ち上げ時刻のデータを基に、演算
回路１１によって通信線２１を介して電源制御回路１６
内のタイマー回路２２ａ，２２ｂ，２２ｃに電力供給開
始時刻を設定する。
【００３０】前記タイマー回路２２ａの設定時刻ｔ0
は、装置使用開始時刻ｔ1 から図３（ａ）に示す恒温槽
２の立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ0 ）を差し引いた時刻で
あり、前記タイマー回路２２ｂの設定時刻ｔ4 は、装置
使用開始時刻ｔ1 から図３（ｂ）に示すランプ立ち上が
り時間（ｔ2 −ｔ0 ）を差し引いた時刻である。そし
て、前記タイマー回路２２ｂの設定時刻ｔ5 は、装置使
用開始時刻ｔ1 から図３（ｃ）に示す演算回路立ち上が
り時間（ｔ3 −ｔ0 ）を差し引いた時刻である。
は、装置使用開始時刻ｔ1 から図３（ａ）に示す恒温槽
２の立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ0 ）を差し引いた時刻で
あり、前記タイマー回路２２ｂの設定時刻ｔ4 は、装置
使用開始時刻ｔ1 から図３（ｂ）に示すランプ立ち上が
り時間（ｔ2 −ｔ0 ）を差し引いた時刻である。そし
て、前記タイマー回路２２ｂの設定時刻ｔ5 は、装置使
用開始時刻ｔ1 から図３（ｃ）に示す演算回路立ち上が
り時間（ｔ3 −ｔ0 ）を差し引いた時刻である。
【００３１】各タイマー回路２２ａ，２２ｂ，２２ｃの
設定時刻ｔ0 ，ｔ4 ，ｔ5 は、操作者がキーボード装置
１４から各々入力しても良いが、操作者がタイマー回路
２２ａの設定時刻ｔ0 を入力すれば、演算回路１１がタ
イマー回路２２ｂ，２２ｃの設定時刻ｔ4 ，ｔ5 を自動
的に算出して設定することも可能である。
設定時刻ｔ0 ，ｔ4 ，ｔ5 は、操作者がキーボード装置
１４から各々入力しても良いが、操作者がタイマー回路
２２ａの設定時刻ｔ0 を入力すれば、演算回路１１がタ
イマー回路２２ｂ，２２ｃの設定時刻ｔ4 ，ｔ5 を自動
的に算出して設定することも可能である。
【００３２】さらに、装置の設置環境、使用時期、時刻
等に応じて各部の立ち上がり時間が変化するので、それ
らの条件を考慮した最適な電源ＯＮ時刻を演算回路１１
に設定すると、より効果的である。また、分析項目や測
定項目によっては、恒温化すべき温度や分析手段の構成
（特にランプの種類や透過光以外の蛍光、発光、イオン
濃度等の計測用センサの種類）が異なることがあるの
で、それらを項目毎に最適な電源ＯＮ時刻を設定するよ
うにしても良い。
等に応じて各部の立ち上がり時間が変化するので、それ
らの条件を考慮した最適な電源ＯＮ時刻を演算回路１１
に設定すると、より効果的である。また、分析項目や測
定項目によっては、恒温化すべき温度や分析手段の構成
（特にランプの種類や透過光以外の蛍光、発光、イオン
濃度等の計測用センサの種類）が異なることがあるの
で、それらを項目毎に最適な電源ＯＮ時刻を設定するよ
うにしても良い。
【００３３】上記のように各タイマー回路２２ａ，２２
ｂ，２２ｃに電力供給開始時刻を設定することにより、
時刻ｔ0 にヒータ４がオンとなり、時刻ｔ4 にランプ９
が点灯する。そして、時刻ｔ5 に演算回路１１、ＣＲＴ
ディスプレイ１２、ハードディスク装置１３およびキー
ボード装置１４への電力供給が開始される。
ｂ，２２ｃに電力供給開始時刻を設定することにより、
時刻ｔ0 にヒータ４がオンとなり、時刻ｔ4 にランプ９
が点灯する。そして、時刻ｔ5 に演算回路１１、ＣＲＴ
ディスプレイ１２、ハードディスク装置１３およびキー
ボード装置１４への電力供給が開始される。
【００３４】なお、タイマー回路２２ｂ，２２ｃを遅延
回路に置き換えても良い。タイマー回路２２ｂ，２２ｃ
を遅延回路に置き換えることにより、タイマー回路２２
ａに並列に電源スイッチ１７を入れることができ、任意
の時刻に電源スイッチ１７により電源をＯＮすることが
できる。
回路に置き換えても良い。タイマー回路２２ｂ，２２ｃ
を遅延回路に置き換えることにより、タイマー回路２２
ａに並列に電源スイッチ１７を入れることができ、任意
の時刻に電源スイッチ１７により電源をＯＮすることが
できる。
【００３５】次に本発明の第３の実施例を図５及び図６
を参照して説明する。なお、図１および図２に示したも
のと同一部分には同一符号を付し、その部分の詳細な説
明は省略する。
を参照して説明する。なお、図１および図２に示したも
のと同一部分には同一符号を付し、その部分の詳細な説
明は省略する。
【００３６】図１に示した第１の実施例では、装置各部
の電力供給を制御するために、各部が使用可能になるま
での時間を基に制御していた。しかし、立ち上がり時間
は使用環境（主に温度）によって変化する。さらに、電
源ＯＦＦ後、短時間内の再立ち上げ時などは大幅に変化
している上に立ち上がり時間を決めることが難しい。そ
こで、図５に示す第３の実施例では、反応容器１が分析
可能な温度まで上昇したか否かを検知する反応容器モニ
タ２３と、ランプ９の発光量が安定して使用可能になっ
たか否かを検知するランプモニタ２４とを付加し、反応
容器モニタ２３およびランプモニタ２４からの信号を電
源制御回路１６へ供給する構成となっている。
の電力供給を制御するために、各部が使用可能になるま
での時間を基に制御していた。しかし、立ち上がり時間
は使用環境（主に温度）によって変化する。さらに、電
源ＯＦＦ後、短時間内の再立ち上げ時などは大幅に変化
している上に立ち上がり時間を決めることが難しい。そ
こで、図５に示す第３の実施例では、反応容器１が分析
可能な温度まで上昇したか否かを検知する反応容器モニ
タ２３と、ランプ９の発光量が安定して使用可能になっ
たか否かを検知するランプモニタ２４とを付加し、反応
容器モニタ２３およびランプモニタ２４からの信号を電
源制御回路１６へ供給する構成となっている。
【００３７】図６は、図５に示した電源制御回路１６の
概略構成を示している。同図に示すように、電源制御回
路１６は、電源スイッチ１７、遅延回路１８ａ，１８
ｂ、ドライバー回路１９ａ，１９ｂ、ＳＳＲ２０ａ，２
０ｂの他に、前記反応容器モニタ２３からの信号に基づ
いて反応容器１が使用可能な温度まで上昇したか否かを
検知する反応容器使用可能検知回路２５と、前記ランプ
モニタ２４からの信号に基づいてランプ光量が安定して
使用可能になったか否かを検知するランプ使用可能検知
回路２６と、反応容器使用可能検知回路２５または遅延
回路１８ａのいずれか一方からオン信号が出力されたと
きにドライバー回路１９ａにオン信号を出力するＯＲ回
路２７と、ランプ使用可能検知回路２６または遅延回路
１８ｂのいずれか一方からオン信号が出力されたときに
ドライバー回路１９ｂにオン信号を出力するＯＲ回路２
８とを備えている。
概略構成を示している。同図に示すように、電源制御回
路１６は、電源スイッチ１７、遅延回路１８ａ，１８
ｂ、ドライバー回路１９ａ，１９ｂ、ＳＳＲ２０ａ，２
０ｂの他に、前記反応容器モニタ２３からの信号に基づ
いて反応容器１が使用可能な温度まで上昇したか否かを
検知する反応容器使用可能検知回路２５と、前記ランプ
モニタ２４からの信号に基づいてランプ光量が安定して
使用可能になったか否かを検知するランプ使用可能検知
回路２６と、反応容器使用可能検知回路２５または遅延
回路１８ａのいずれか一方からオン信号が出力されたと
きにドライバー回路１９ａにオン信号を出力するＯＲ回
路２７と、ランプ使用可能検知回路２６または遅延回路
１８ｂのいずれか一方からオン信号が出力されたときに
ドライバー回路１９ｂにオン信号を出力するＯＲ回路２
８とを備えている。
【００３８】従って、反応容器１が遅延回路１８ａに設
定された立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ2 ）よりも早く使用
可能になった場合は、反応容器使用可能検知回路２５か
らのオン信号によりドライバー回路１９ａおよびＳＳＲ
２０ａがオンとなり、電源ケーブル１５ｂを通じてラン
プ９に電力が供給される。
定された立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ2 ）よりも早く使用
可能になった場合は、反応容器使用可能検知回路２５か
らのオン信号によりドライバー回路１９ａおよびＳＳＲ
２０ａがオンとなり、電源ケーブル１５ｂを通じてラン
プ９に電力が供給される。
【００３９】一方、ランプ９が遅延回路１８ｂに設定さ
れた立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ3 ）よりも早く使用可能
になった場合は、ランプ使用可能検知回路２６からのオ
ン信号によりドライバー回路１９ｂおよびＳＳＲ２０ｂ
がオンとなり、電源ケーブル１５ｃを通じて演算回路１
１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１３
およびキーボード装置１４に電力が供給される。
れた立ち上がり時間（ｔ1 −ｔ3 ）よりも早く使用可能
になった場合は、ランプ使用可能検知回路２６からのオ
ン信号によりドライバー回路１９ｂおよびＳＳＲ２０ｂ
がオンとなり、電源ケーブル１５ｃを通じて演算回路１
１、ＣＲＴディスプレイ１２、ハードディスク装置１３
およびキーボード装置１４に電力が供給される。
【００４０】従って、この第３の実施例では、前述した
第１の実施例および第２の実施例と同様に、電力の無駄
な消費を防止することができるとともに、ランプ等の寿
命を低下させることもない。さらに、電源スイッチ１７
を再投入した時などは、立ち上がり時間を短くすること
ができる。
第１の実施例および第２の実施例と同様に、電力の無駄
な消費を防止することができるとともに、ランプ等の寿
命を低下させることもない。さらに、電源スイッチ１７
を再投入した時などは、立ち上がり時間を短くすること
ができる。
【００４１】なお、本発明は上述した実施例に限定され
ず、種々の変更が可能である。例えば上述した実施例で
は恒温化手段として加熱を行う場合について説明した
が、液体試料の種類や分析項目等によっては、液体試料
の恒温化温度を低温（すなわち、０〜２０℃、特に４〜
１０℃）な範囲のうちいずれかの温度に冷却するための
冷却手段に代替するか、あるいは加熱手段と共働作用さ
せることで汎用性を高めても良い。
ず、種々の変更が可能である。例えば上述した実施例で
は恒温化手段として加熱を行う場合について説明した
が、液体試料の種類や分析項目等によっては、液体試料
の恒温化温度を低温（すなわち、０〜２０℃、特に４〜
１０℃）な範囲のうちいずれかの温度に冷却するための
冷却手段に代替するか、あるいは加熱手段と共働作用さ
せることで汎用性を高めても良い。
【００４２】
【発明の効果】以上説明したように、この発明によれ
ば、装置立ち上げ時の不要な電力消費を低減することの
できる自動分析装置を提供できる。
ば、装置立ち上げ時の不要な電力消費を低減することの
できる自動分析装置を提供できる。
【図１】この発明の第１の実施例に係る自動分析装置の
概略構成図。
概略構成図。
【図２】同実施例の要部の構成を示す図。
【図３】同実施例の作用説明図。
【図４】この発明の第２の実施例の要部構成を示す図。
【図５】この発明の第３の実施例に係る自動分析装置の
概略構成図。
概略構成図。
【図６】同実施例の要部の構成を示す図。
１…反応容器 ２…恒温槽 ４…ヒータ ９…ランプ １１…演算回路 １５ａ，１５ｂ，１５ｃ…電源ケーブル １６…電源制御回路 １７…電源スイッチ １８ａ，１８ｂ…遅延回路 １９ａ，１９ｂ…ドライバー回路 ２０ａ，２０ｂ…ＳＳＲ ２２ａ，２２ｂ，２２ｃ…タイマー回路 ２３…反応容器モニタ ２４…ランプモニタ ２５…反応容器使用可能検知回路 ２６…ランプ使用可能検知回路 ２７，２８…ＯＲ回路
Claims (5)
- 【請求項１】 反応容器内に分注された液体試料と試薬
を所定温度に恒温化する恒温化手段と、前記液体試料の
成分を光学的に分析する分析手段と、この分析手段で得
られた分析結果を表示する表示手段とを備えた自動分析
装置において、前記分析手段および前記表示手段への電
力供給を前記恒温化手段への電力供給よりも所定時間遅
らせて開始する電源制御手段を設けたことを特徴とする
自動分析装置。 - 【請求項２】 前記電源制御手段は、前記恒温化手段に
よる前記液体試料及び前記試薬の温度が所定温度に達し
てから前記分析手段および前記表示手段への電力供給を
開始することを特徴とする請求項１記載の自動分析装
置。 - 【請求項３】 前記電源制御手段は、前記恒温化手段に
よる前記液体試料及び前記試薬の温度が所定温度に達し
たか否かを検知する反応容器使用可能検知手段を備えて
いることを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。 - 【請求項４】 前記電源制御手段は、前記分析手段が使
用可能な状態か否かを検知するランプ使用可能検知手段
を備えていることを特徴とする請求項１記載の自動分析
装置。 - 【請求項５】 前記電源制御手段は、前記分析手段およ
び前記表示手段に対応する遅延回路またはタイマ回路を
有することを特徴とする請求項１記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17427294A JP3445369B2 (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17427294A JP3445369B2 (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0843401A true JPH0843401A (ja) | 1996-02-16 |
| JP3445369B2 JP3445369B2 (ja) | 2003-09-08 |
Family
ID=15975760
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17427294A Expired - Fee Related JP3445369B2 (ja) | 1994-07-26 | 1994-07-26 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3445369B2 (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006030144A (ja) * | 2004-07-21 | 2006-02-02 | Kajikkusu Trading:Kk | 試料管保温トレー及びマルチウエルプレート用保温箱 |
| JP2011117862A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びモータの駆動制御装置 |
| JP2013238478A (ja) * | 2012-05-15 | 2013-11-28 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2015010986A (ja) * | 2013-07-01 | 2015-01-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
-
1994
- 1994-07-26 JP JP17427294A patent/JP3445369B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006030144A (ja) * | 2004-07-21 | 2006-02-02 | Kajikkusu Trading:Kk | 試料管保温トレー及びマルチウエルプレート用保温箱 |
| JP2011117862A (ja) * | 2009-12-04 | 2011-06-16 | Toshiba Corp | 自動分析装置及びモータの駆動制御装置 |
| JP2013238478A (ja) * | 2012-05-15 | 2013-11-28 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| JP2015010986A (ja) * | 2013-07-01 | 2015-01-19 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
| JP2016090345A (ja) * | 2014-10-31 | 2016-05-23 | 株式会社東芝 | 臨床検査装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3445369B2 (ja) | 2003-09-08 |
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