JPH08334384A - 測定装置 - Google Patents
測定装置Info
- Publication number
- JPH08334384A JPH08334384A JP14052195A JP14052195A JPH08334384A JP H08334384 A JPH08334384 A JP H08334384A JP 14052195 A JP14052195 A JP 14052195A JP 14052195 A JP14052195 A JP 14052195A JP H08334384 A JPH08334384 A JP H08334384A
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- JP
- Japan
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- memory
- data
- acquisition
- measurement
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 内部メモリの容量が小さくても、連続して長
時間測定することができる手段を備えた測定装置を提供
することを目的とする。 【構成】 本発明は、被測定入力が加えられる入力モジ
ュールの出力データを格納するアクイジョン用メモリ
と、マイクロプロセッサによってその読み出しが制御さ
れるリードオンリメモリと、このリードオンリメモリに
格納されているプログラムに従って被測定入力の測定条
件を格納するシステム用メモリとを備え、このシステム
用メモリに設定された測定条件に従って前記アクイジョ
ン用メモリに格納された測定データを記録及び又は表示
させるようにした装置において、外部記憶装置を設け、
前記アクイジョン用メモリに格納されるデータ点数が指
定値に達する毎に前記外部記憶装置にそのデータをセー
ブするようにしたことを特徴とする。
時間測定することができる手段を備えた測定装置を提供
することを目的とする。 【構成】 本発明は、被測定入力が加えられる入力モジ
ュールの出力データを格納するアクイジョン用メモリ
と、マイクロプロセッサによってその読み出しが制御さ
れるリードオンリメモリと、このリードオンリメモリに
格納されているプログラムに従って被測定入力の測定条
件を格納するシステム用メモリとを備え、このシステム
用メモリに設定された測定条件に従って前記アクイジョ
ン用メモリに格納された測定データを記録及び又は表示
させるようにした装置において、外部記憶装置を設け、
前記アクイジョン用メモリに格納されるデータ点数が指
定値に達する毎に前記外部記憶装置にそのデータをセー
ブするようにしたことを特徴とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、波形データ等，被測定
のデータをセーブするセーブ手段に改良を施した測定装
置に関するものである。
のデータをセーブするセーブ手段に改良を施した測定装
置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】例えば波形等を測定する装置にあって
は、入力された測定データを内部のメモリに順次格納し
たのち記録，表示，或いは解析するようにしているが、
長時間連続して入力を測定する場合には、従来は内部メ
モリが満杯になつたところで測定を一時ストップし、内
部メモリ蓄えたデータを外部メモリに写し変えて保存す
るようにしていた。その為、内部メモリの容量の関係で
連続した測定にはかなり制限されるという問題があっ
た。
は、入力された測定データを内部のメモリに順次格納し
たのち記録，表示，或いは解析するようにしているが、
長時間連続して入力を測定する場合には、従来は内部メ
モリが満杯になつたところで測定を一時ストップし、内
部メモリ蓄えたデータを外部メモリに写し変えて保存す
るようにしていた。その為、内部メモリの容量の関係で
連続した測定にはかなり制限されるという問題があっ
た。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】本発明はこのような問
題点を解決する為になされたもので、内部メモリの容量
が小さくても、連続して長時間連続して測定することが
できる手段を備えたこの種の測定装置を提供することを
目的としたものである。
題点を解決する為になされたもので、内部メモリの容量
が小さくても、連続して長時間連続して測定することが
できる手段を備えたこの種の測定装置を提供することを
目的としたものである。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、被測定入力が
加えられる入力モジュールの出力データを格納するアク
イジョン用メモリと、マイクロプロセッサによってその
読み出しが制御されるリードオンリメモリと、このリー
ドオンリメモリに格納されているプログラムに従って被
測定入力の測定条件を格納するシステム用メモリとを備
え、このシステム用メモリに設定された測定条件に従っ
て前記アクイジョン用メモリに格納された測定データを
記録及び又は表示させるようにした装置において、外部
記憶装置を設け、前記アクイジョン用メモリに格納され
るデータ点数が指定値に達する毎に前記外部記憶装置に
そのデータをセーブするようにしたことを特徴としたも
のである。
加えられる入力モジュールの出力データを格納するアク
イジョン用メモリと、マイクロプロセッサによってその
読み出しが制御されるリードオンリメモリと、このリー
ドオンリメモリに格納されているプログラムに従って被
測定入力の測定条件を格納するシステム用メモリとを備
え、このシステム用メモリに設定された測定条件に従っ
て前記アクイジョン用メモリに格納された測定データを
記録及び又は表示させるようにした装置において、外部
記憶装置を設け、前記アクイジョン用メモリに格納され
るデータ点数が指定値に達する毎に前記外部記憶装置に
そのデータをセーブするようにしたことを特徴としたも
のである。
【０００５】
【作用】このような本発明では、アクイジョン用メモリ
に格納するデータが指定データ点数に達する毎にそのデ
ータは外部記憶装置にセーブされる。
に格納するデータが指定データ点数に達する毎にそのデ
ータは外部記憶装置にセーブされる。
【０００６】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例について
説明する。図１は本発明に係わる測定装置の一実施例の
ブロック図である。図において、１００はその測定装置
を示すもので、この装置は多点の入力モジュール１０、
アクイジョン用コントローラ２０、アクイジョン用メモ
リ（ＲＡＭ）３０、システム用メモリ（ＲＡＭ）４０、
リードオンリメモリ（ＲＯＭ）５０、マイクロプロセッ
サ（ＣＰＵ）６０、キーボード７０、記録／表示部８０
よりなり、これら各部は入力モジュール１０と共にバス
９０を介して相互に結合されている。
説明する。図１は本発明に係わる測定装置の一実施例の
ブロック図である。図において、１００はその測定装置
を示すもので、この装置は多点の入力モジュール１０、
アクイジョン用コントローラ２０、アクイジョン用メモ
リ（ＲＡＭ）３０、システム用メモリ（ＲＡＭ）４０、
リードオンリメモリ（ＲＯＭ）５０、マイクロプロセッ
サ（ＣＰＵ）６０、キーボード７０、記録／表示部８０
よりなり、これら各部は入力モジュール１０と共にバス
９０を介して相互に結合されている。
【０００７】このような各部からなる装置において、入
力モジュール１０の各チャンネルに加えられた被測定の
アナログ入力は、その入力モジュール内において夫々正
規化された後Ａ／Ｄ変換器（図示せず）によりディジタ
ルデータに変換され、そのディジタル・データはアクイ
ジョン用コントローラ２０の制御のもとに夫々アクイジ
ョン用メモリ３０に格納される。入力モジュール１０の
測定条件の設定は、ＲＯＭ５０に格納されているプログ
ラムに従ってマイクロプロセッサ６０によって行なわれ
る。この測定条件は入力モジュール毎にシステム用メモ
リ４０に格納されている。システム用メモリ４０に格納
される測定条件はキーボード７０のキー操作によって入
力される。システム用メモリ４０に格納された測定条件
に応じてアクイジョン用コントローラ２０が制御され、
そのアクイジョン用コントローラ２０を介してアクイジ
ョン用メモリ３０より測定データが得られる。その測定
データはマイクロプロセッサ６０の制御の基にバス９０
を介して記録／表示部８０に与えられ、この記録／表示
部８０において各チャンネル毎にそのデータが記録及び
又は表示される。
力モジュール１０の各チャンネルに加えられた被測定の
アナログ入力は、その入力モジュール内において夫々正
規化された後Ａ／Ｄ変換器（図示せず）によりディジタ
ルデータに変換され、そのディジタル・データはアクイ
ジョン用コントローラ２０の制御のもとに夫々アクイジ
ョン用メモリ３０に格納される。入力モジュール１０の
測定条件の設定は、ＲＯＭ５０に格納されているプログ
ラムに従ってマイクロプロセッサ６０によって行なわれ
る。この測定条件は入力モジュール毎にシステム用メモ
リ４０に格納されている。システム用メモリ４０に格納
される測定条件はキーボード７０のキー操作によって入
力される。システム用メモリ４０に格納された測定条件
に応じてアクイジョン用コントローラ２０が制御され、
そのアクイジョン用コントローラ２０を介してアクイジ
ョン用メモリ３０より測定データが得られる。その測定
データはマイクロプロセッサ６０の制御の基にバス９０
を介して記録／表示部８０に与えられ、この記録／表示
部８０において各チャンネル毎にそのデータが記録及び
又は表示される。
【０００８】ここで、アクイジョン用コントローラ２０
の制御の基に、入力モジュールの出力データである測定
データはアクイジョン用メモリ３０に順次書き込まれ、
このアクイジョン用メモリ３０には測定データが積み上
がって行くことになる。この場合、従来装置ではアクイ
ジョン用メモリ３０が満杯になると測定が出来なくな
り、その為長時間に渡る連続運転中に突発的に起こった
現象を捉えてその波形データを保存するような処理を行
うには不向きであった。即ち、連続運転の時間がアクイ
ジョン用メモリ３０の制限を受けるものとなっていた。
の制御の基に、入力モジュールの出力データである測定
データはアクイジョン用メモリ３０に順次書き込まれ、
このアクイジョン用メモリ３０には測定データが積み上
がって行くことになる。この場合、従来装置ではアクイ
ジョン用メモリ３０が満杯になると測定が出来なくな
り、その為長時間に渡る連続運転中に突発的に起こった
現象を捉えてその波形データを保存するような処理を行
うには不向きであった。即ち、連続運転の時間がアクイ
ジョン用メモリ３０の制限を受けるものとなっていた。
【０００９】そこで、本発明においては測定装置１００
の外部に光磁気ディスク，或いはハードディスク等の記
憶装置２００を設け、測定データをアクイジョン用メモ
リ３０に指定点数取り込む毎にそのデータを外部記憶装
置２００にセーブするようにしたものである。尚、図１
において３１はファイルシステムで、内部アクイジョン
用メモリ３０はこのファイルシステム３１を介してＳＣ
ＳＩケーブル３２により外部記憶装置２００に接続され
ている。
の外部に光磁気ディスク，或いはハードディスク等の記
憶装置２００を設け、測定データをアクイジョン用メモ
リ３０に指定点数取り込む毎にそのデータを外部記憶装
置２００にセーブするようにしたものである。尚、図１
において３１はファイルシステムで、内部アクイジョン
用メモリ３０はこのファイルシステム３１を介してＳＣ
ＳＩケーブル３２により外部記憶装置２００に接続され
ている。
【００１０】このような構成の本発明におけるデータセ
ーブ機能を備えた装置の動作を図２のフローを用いて説
明すると次の如くなる。先ず、入力モジュールより得ら
れる入力測定データをアクイジョン用メモリ３０に取り
込む（ステップ）。その取り込んだデータが指定した
データ点数に達したかどうかをアクイジョンコントロー
ラ２０によって検出する（ステップ）。アクイジョン
用メモリ３０が指定データ点数を取り込むと、アクイジ
ョンコントローラ２０はファイルシステム３１にセーブ
を要求する（ステップ）。これにより、ファイルシス
テム３１はアクイジョン用メモリ３０内の測定データは
ケーブル３２を介して外部に接続されている記録媒体２
００にセーブされる（ステップ）。
ーブ機能を備えた装置の動作を図２のフローを用いて説
明すると次の如くなる。先ず、入力モジュールより得ら
れる入力測定データをアクイジョン用メモリ３０に取り
込む（ステップ）。その取り込んだデータが指定した
データ点数に達したかどうかをアクイジョンコントロー
ラ２０によって検出する（ステップ）。アクイジョン
用メモリ３０が指定データ点数を取り込むと、アクイジ
ョンコントローラ２０はファイルシステム３１にセーブ
を要求する（ステップ）。これにより、ファイルシス
テム３１はアクイジョン用メモリ３０内の測定データは
ケーブル３２を介して外部に接続されている記録媒体２
００にセーブされる（ステップ）。
【００１１】上記の手順で処理を繰り返せば、内部に少
ない容量（例えば１２８Ｋワード〜４Ｍワード）のアク
イジョン用メモリ３０を用いた装置であっても、外部に
大容量の記憶装置（例えば光磁気ディスクでは２３０Ｍ
バイト，ハードディスクでは最大２Ｇバイト）２００を
用い、この外部記憶装置に測定データを直接セーブする
ことにより、アクイジョン用メモリ３０に測定データを
残しておく必要はなくなり、同じアクイジョン用メモリ
の保存領域で古い測定データを消去し、新しい測定デー
タを逐次書き込んで行くことができる。このように、本
発明においては外部記憶装置２００に直接アクイジョン
と同等の処理を行うことにより、測定装置は自身の持つ
内部アクイジョン用メモリの容量とは無関係に連続測定
を行うことができる。なお、外部記憶装置２００にセー
ブされた測定データは必要に応じてマイクロプロセッサ
の制御の基に読みだされ、その測定データは表示又は記
録部８０において表示及び又は記録され、その測定デー
タが解析される。
ない容量（例えば１２８Ｋワード〜４Ｍワード）のアク
イジョン用メモリ３０を用いた装置であっても、外部に
大容量の記憶装置（例えば光磁気ディスクでは２３０Ｍ
バイト，ハードディスクでは最大２Ｇバイト）２００を
用い、この外部記憶装置に測定データを直接セーブする
ことにより、アクイジョン用メモリ３０に測定データを
残しておく必要はなくなり、同じアクイジョン用メモリ
の保存領域で古い測定データを消去し、新しい測定デー
タを逐次書き込んで行くことができる。このように、本
発明においては外部記憶装置２００に直接アクイジョン
と同等の処理を行うことにより、測定装置は自身の持つ
内部アクイジョン用メモリの容量とは無関係に連続測定
を行うことができる。なお、外部記憶装置２００にセー
ブされた測定データは必要に応じてマイクロプロセッサ
の制御の基に読みだされ、その測定データは表示又は記
録部８０において表示及び又は記録され、その測定デー
タが解析される。
【００１２】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば測
定装置のアクイジョン用メモリに取り込んだデータが指
定データ点数になる毎に外部記憶装置に出力するように
したことにより、そのアクイジョン用メモリに過去の波
形データを保存しておく必要はなくなり、アクイジョン
用メモリの容量が満杯になって測定が不能になるという
問題は無くなる。その結果、測定時の内部アクイジョン
用メモリの容量に制限されずに連続測定が可能な測定装
置を得ることができる。
定装置のアクイジョン用メモリに取り込んだデータが指
定データ点数になる毎に外部記憶装置に出力するように
したことにより、そのアクイジョン用メモリに過去の波
形データを保存しておく必要はなくなり、アクイジョン
用メモリの容量が満杯になって測定が不能になるという
問題は無くなる。その結果、測定時の内部アクイジョン
用メモリの容量に制限されずに連続測定が可能な測定装
置を得ることができる。
【図１】本発明装置の一実施例を示したブロック図であ
る。
る。
【図２】本発明装置の動作を説明する為のフローであ
る。
る。
１０ 入力モジュール ２０ アクイジョン用コントローラ ３０ アクイジョン用メモリ ４０ システム用メモリ ５０ リードオンリ・メモリ ６０ マイクロプロセッサ ７０ キーボード ８０ 表示器 ９０ バス １００ 測定装置 ２００ 外部記憶装置
Claims (1)
- 【請求項１】被測定入力が加えられる入力モジュールの
出力データを格納するアクイジョン用メモリと、マイク
ロプロセッサによってその読み出しが制御されるリード
オンリメモリと、このリードオンリメモリに格納されて
いるプログラムに従って被測定入力の測定条件を格納す
るシステム用メモリとを備え、このシステム用メモリに
設定された測定条件に従って前記アクイジョン用メモリ
に格納された測定データを記録及び又は表示させるよう
にした装置において、 外部記憶装置を設け、前記アクイジョン用メモリに格納
されるデータ点数が指定値に達する毎に前記外部記憶装
置にそのデータをセーブするようにしたことを特徴とす
る測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14052195A JPH08334384A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14052195A JPH08334384A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08334384A true JPH08334384A (ja) | 1996-12-17 |
Family
ID=15270601
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14052195A Pending JPH08334384A (ja) | 1995-06-07 | 1995-06-07 | 測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08334384A (ja) |
-
1995
- 1995-06-07 JP JP14052195A patent/JPH08334384A/ja active Pending
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