JPH08330399A - 接触式サーモチャック及びその製造方法 - Google Patents

接触式サーモチャック及びその製造方法

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JPH08330399A
JPH08330399A JP26885495A JP26885495A JPH08330399A JP H08330399 A JPH08330399 A JP H08330399A JP 26885495 A JP26885495 A JP 26885495A JP 26885495 A JP26885495 A JP 26885495A JP H08330399 A JPH08330399 A JP H08330399A
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JP
Japan
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wafer
thermochuck
chuck
flaking
oxide film
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JP26885495A
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English (en)
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Ka-Soon Yim
街淳 任
Kyung-Bo Sim
シム・キュンボ
Byeng-Jun Kang
炳珍 姜
Sogen Kin
相元 金
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Samsung Electronics Co Ltd
Original Assignee
Samsung Electronics Co Ltd
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    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
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    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 写真食刻工程において周期的に急速な加熱/
冷却機能を繰り返して遂行するサーモチャックを提供す
る。 【解決手段】 ウェーハと接する陽極酸化膜のフレーキ
ングを防止するための手段として耐熱性及びウェーハと
陽極酸化膜との密着性の優れたポリ四フッ化エチレンコ
ーティング膜を使用することにより、ウェーハの背面の
汚染を防止することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体装置の製作の
ために写真食刻工程でウェーハを積載して加熱するため
の接触式サーモチャック(Thermo chuck)
及びその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】サブミクロン技術の発展と共に半導体素
子はパターン大きさの微細化、構造の高層化及び高信頼
性を追求している。
【0003】写真食刻工程は各種半導体材料の超微細立
体的な構造の実現のために最も必須的な半導体工程と認
められており、パターンの制御性、微細化及び低い食刻
損傷等の要求は一層厳しくなっている。
【0004】これにより、素子設計及び製造工程で必要
とする各種要求条件を満たすための工程装備及び工程技
術の開発に多くの研究と努力があった。
【0005】サーモチャックは写真食刻工程でウェーハ
を積載して加熱するための所定の処理、例えばベーキン
グ又は感光膜を除去するためのアッシング(ashin
g)の際使用される工程装備である。したがって、サー
モチャックは急速な加熱/冷却サイクル(例えば、10
0°C〜300°C程度の温度範囲で分当たり1回以
上)を周期的に繰り返して遂行する。
【0006】図1は従来の技術による接触式サーモチャ
ックの概略的な断面構造を示す。図1に示されたよう
に、加工されるウェーハ(図示せず)が積載される従来
のサーモチャック10は熱伝導率の高い金属、例えば純
粋なアルミニウムより構成され、このアルミニウムチャ
ック10の上部にはウェーハとアルミニウムチャック1
0間の絶縁手段として硬質陽極酸化のような表面処理方
法を通じて形成させた薄型の陽極酸化膜15を具備して
いる。
【0007】このような構成を有するコンタクトタイプ
のサーモチャックはサーモチャックの慢性的な問題のフ
レーキング現象を起こす。即ち、前記薄型の陽極酸化膜
15は、剥げてプロセス中であるウェーハの背面にくっ
つく薄片(約0.5μmの厚さ)を発生させる。この屑
のような異物質は以後に行われる工程における工程不良
を招くパチクルソースとして作用する。特に、前記陽極
酸化膜15と接触されるウェーハの背面にくっついた異
物質は精密な均一性の要求される写真食刻工程中ローカ
ルフォーカスの原因となる。
【0008】前記の問題を解決するために、フレーキン
グ発生源の陽極酸化膜の上部に耐熱性の優れたカップト
ンテープ(Kapton Tape)を形成する方案が
本出願人により出願されたことがある。
【0009】図2は陽極酸化膜25のフレーキングを防
止するために、カップトンテープ27を付加した改善さ
れたサーモチャックの断面構造を示す。しかしながら、
この方法も次のような問題を発生させる。即ち、前記カ
ップトンテープ27の長時間使用時前記陽極酸化膜25
とカップトンテープ27との間の接着剤の接着力が前述
した200〜300°C程度の急速な温度差により劣化
しながら、バブル(bubble)現象が発生される。
その結果、ウェーハの着脱の際、ロボットのピックアッ
プエラー又はウェーハのドロッピング(wafer d
ropping)現象が発生される。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は前記の
問題点を根本的に解決しうるフレーキング防止手段を備
えたサーモチャックを提供するにある。
【0011】本発明の他の目的はフレーキング防止手段
を備えたサーモチャックを効率的に製作しうる製造方法
を提供するにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記の目的を達成するた
めに本発明は、ウェーハを積載して加熱するための接触
式サーモチャックにおいて、前記サーモチャックの全面
に形成されたウェーハとサーモチャックとの絶縁のため
の陽極酸化膜と、前記サーモチャックの周期的な加熱/
冷却周期の急速な変化による前記陽極酸化膜の表面のフ
レーキングを防止するために前記陽極酸化膜の全面にポ
リ四フッ化エチレンで形成されたフレーキング防止手段
とを含むことを特徴とする。
【0013】前記他の目的を達成するために本発明は、
ウェーハを積載して加熱するためのサーモチャックを製
作する方法において、純粋なアルミニウムチャックを備
える段階と、前記アルミニウムチャックの上部に陽極酸
化膜を形成するためにアルミニウムチャックを硬質陽極
酸化する段階と、前記陽極酸化膜を平坦化するためにラ
ッピングする段階と、前記陽極酸化膜のフレーキングを
防止するためにポリ四フッ化エチレンでコーティングす
る段階とよりなる。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、添付した図面に基づき本発
明を詳細に説明する。
【0015】図3は本発明によるサーモチャックの断面
図を示す。図3において、参照符号30は熱伝導率の優
れた純粋なアルミニウムチャックを示す。前記アルミニ
ウムチャック30の上部には、ウェーハとの絶縁のため
に、アルミニウムチャック30を硬質陽極酸化のような
表面処理を行なうことにより形成された陽極酸化膜35
が形成されている。
【0016】前記陽極酸化膜35の全面にはフレーキン
グ防止手段37が形成されている。該フレーキング防止
手段37は時間当たり20回以上の周期的な加熱/冷却
サイクルの急速な繰り返しに対してもフレーキングやい
ずれの工程不良も発生させない。
【0017】本発明では前記フレーキング防止手段37
として、従来のバブル現象を起こすカップトンテープの
代わりに耐熱性及びウェーハと陽極酸化膜との密着性の
優れたポリ四フッ化エチレンコーティング膜を使用す
る。
【0018】前述した構成を有するサーモチャックの製
造方法を説明すると、次の通りである。
【0019】第1段階は積載されたウェーハを加熱する
ために熱伝導率の高い高純度のアルミニウムチャック3
0を備える段階である。
【0020】第2段階は前記アルミニウムチャック30
の上部に陽極酸化膜35を形成するためにアルミニウム
チャック35を硬質陽極酸化する段階である。
【0021】第3段階は前記段階を通じて形成された陽
極酸化膜35を平坦化するためにラッピングを施す。
【0022】最終的に、平坦化された前記陽極酸化膜3
5の急速な温度差によるフレーキング現象を防止するた
めにポリ四フッ化エチレンコーティングする段階を施し
てウェーハと陽極酸化膜35との界面に密着性及び耐熱
性の優秀なポリ四フッ化エチレンコーティング膜37を
形成すると、本発明によるサーモチャックが完成され
る。
【0023】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は半導体製
造装置の核心装備中の一つであるサーモチャックのフレ
ーキングを防止するための手段として従来のバブル現象
を起こすカップトンテープの代わりに耐熱性及びウェー
ハと陽極酸化膜との密着性の優れたポリ四フッ化エチレ
ンコーティング膜を使用することにより、ウェーハ背面
の異物質発生源を取り除くことができ、その結果、後続
する工程の安定化及び製品の品質も向上させる。
【0024】以上、実施例を通じて本発明を具体的に説
明したが、本発明はこれに限定されず、本発明の技術的
思想内の当分野で通常の知識によりその変形や改良が可
能なことは勿論である。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の技術による接触式サーモチャックの断面
図である。
【図2】従来の他の技術によるサーモチャックの断面図
である。
【図3】本発明による接触式サーモチャックの断面図で
ある。
【符号の説明】
30 アルミニウムチャック 35 陽極酸化膜 37 フレーキング防止手段
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 金 相元 大韓民国京畿道水原市八達區牛滿洞419− 5番地

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ウェーハを積載し加熱するための接触式
    サーモチャックにおいて、 前記サーモチャックの全面に形成されたウェーハとサー
    モチャックとの絶縁のための陽極酸化膜と、 前記サーモチャックの周期的な加熱/冷却周期の急速な
    繰り返しによる前記陽極酸化膜の表面のフレーキングを
    防止するために前記陽極酸化膜の全面にポリ四フッ化エ
    チレンで形成されたフレーキング防止手段とを含むこと
    を特徴とするサーモチャック。
  2. 【請求項2】 ウェーハを積載して加熱するためのサー
    モチャックを製作する方法において、 純粋なアルミニウムチャックを備える段階と、 前記アルミニウムチャックの上部に陽極酸化膜を形成す
    るためにアルミニウムチャックを硬質陽極酸化する段階
    と、 前記陽極酸化膜を平坦化するためにラッピングする段階
    と、 前記陽極酸化膜のフレーキングを防止するためにポリ四
    フッ化エチレンでコーティングする段階とよりなること
    を特徴とするサーモチャックの製造方法。
JP26885495A 1995-05-29 1995-10-17 接触式サーモチャック及びその製造方法 Pending JPH08330399A (ja)

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KR1019950013696A KR960043037A (ko) 1995-05-29 1995-05-29 접촉식 서머척 및 그 제조방법
KR1995-P-013696 1995-05-29

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CN (1) CN1139766A (ja)
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KR960043037A (ko) 1996-12-21
GB2301480A (en) 1996-12-04
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