JPH08319456A - 印刷回路用の水系処理可能な軟質の光画像化可能耐久被覆材 - Google Patents
印刷回路用の水系処理可能な軟質の光画像化可能耐久被覆材Info
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Abstract
可能耐久被覆材。 【解決手段】 印刷回路を保護する耐久被覆材として用
いるに優れた柔軟性を硬化後に示す水系処理可能な光重
合被覆材組成物を開示する。
Description
材として用いるに重要な特性を保持しながら優れた柔軟
性を示す水系処理可能な光重合性組成物に向けたもので
ある。
3,469,982号および3,547,730号など
から公知であり、上記特許には、カバーシートと一時的
支持体の間に光重合性層を位置させた形態のサンドイッ
チ型構造を有するフィルムレジストが記述されている。
例えば、このフィルムレジストを銅基板上に積層させ、
画像様式で露光させた後、有機溶媒または水溶液で現像
すると、明確なレジスト層が生じ得る。印刷回路板用の
銅基板は典型的に硬質であり、通常の銅被覆ファイバー
グラスエポキシ積層板のように、たわみは限定されてい
てほんの数度である。より最近になって、高い柔軟性を
示すフィルム基質上に印刷回路を作り出すことで電子パ
ッケージが作られ、このパッケージは折り畳み可能であ
りそして指定された形態または動的な機械運転に適合す
るように再折り畳みを1回以上行うことができる。
層は該基質上でここに選択的にエッチング、電気メッキ
またははんだ処理され得る。はんだレジストまたはマス
クとして機能する耐久被覆材としてフォトレジストフィ
ルムが用いられる場合、これらに対する要求が非常に高
くなる。この場合、その現像された光重合層は、300
℃に及ぶ温度に、劣化を起こすこともなく、接着力を失
うこともなくまた溶融はんだ内もしくはその上に残渣が
蓄積することもなく耐える必要がある。今日の印刷回路
板の最新技術を用いる場合、はんだマスクを光画像化す
る能力を持たせることが重要である。最新技術に従い、
上記はんだマスクは、液状組成物を基質上に噴霧、被覆
またはカレンダー加工するか或はまた基質上に乾燥フィ
ルムを積層させることでも製造可能である。
日では、現像が速くて水系現像可能なフォトポリマー系
が好まれる。酸官能、主にカルボキシル官能を有するフ
ォトポリマーレジストを用いると水系処理が可能になる
ことが知られている。しかしながら、このような基は次
に行われる数多くの段階または結果の点で不利である。
フォトレジストの場合、アルカリエッチングまたは金メ
ッキでレジストの層剥離が観察され、そしてはんだマス
クの場合、不適当な環境抵抗が生じ得る。上記欠点を克
服する目的でカルボキシル基をメラミンホルムアルデヒ
ド化合物で修飾することは公知である(ヨーロッパ特許
第01 15 354号および米国特許第4,247,
621号)。
しそしてこれを後で低反応性で水分感受性が低い種に変
化させることも公知である。米国特許第4,987,0
54号には、改良された特性を示す酸共重合体結合剤含
有光重合性調合物が開示されており、ここでの共重合体
構造単位はジカルボン酸の半酸/アミドである。この開
示されている調合物は通常の硬質印刷回路板と一緒に用
いられ、そしてこれは完全に水系のアルカリ溶液で処理
され、貯蔵安定性を示す。ヨーロッパ特許出願公開第4
30,175号にも米国特許第4,987,054号と
同様な光重合系が開示されている。
は、(a)低分子量のアミン酸コポリマーとカルボン酸
を含有する高分子量コポリマーから成る共結合剤(co
binder)、(b)アクリル化(acrylate
d)ウレタンモノマー成分、(c)光開始剤系、および
(d)熱架橋剤を含む、印刷回路用の水系処理可能な光
画像化可能(photoimageable)耐久被覆
材が開示されている。しかしながら、本発明の被覆材組
成物にはアミン酸コポリマー結合剤成分が入っておら
ず、本被覆材が示す粘着性は、WO 93/17368
に開示されている被覆材に比較して低い。
ンパクトなデバイスへと追い立てられていることから、
印刷回路分野では、一体性を維持しながら典型的な製造
工程条件、例えば溶融したはんだおよび連続的に変化す
る環境条件などに耐え得る、より高い柔軟性を示す耐久
被覆材が益々求められている。上記被覆材にいろいろな
条件に耐える能力を持たせることに加えて光画像化可能
で水系処理可能にすることができるならば、これはこの
技術分野における進展の要素になるであろう。軟質ポリ
イミド回路で現在用いられている保護被覆材の場合、積
層を行う前に機械的穴開けまたはドリル加工を行う必要
があり、これは全体的に費用がかかる低生産率の工程で
ある。特に好適なものは、より高い分解能を有する通常
の低コスト光成形製造方法で製造可能な軟質回路(この
軟質回路は曲げ応力を受けても機能を維持し得る)と一
緒に用いるに適した光画像化可能で水系処理可能な耐久
被覆材である。
性耐久被覆材組成物に関し、これに、(a)少なくとも
1種のカルボン酸含有構造単位を2から50重量%およ
び式
またはアリールであり、R2は、H、CH3、フェニル、
アリール、−COOR3、−CONR4R5または−CN
であり、そしてR3、R4およびR5は、独立して、H、
アルキルまたはアリールであり、これは未置換であるか
或は1個以上のヒドロキシ、エステル、ケト、エーテル
またはチオエーテル基で置換されている]で表される少
なくとも1種の構造単位を50から98重量%含んでい
て3,000から15,000の分子量を有する少なく
とも1種の低分子量コポリマー結合剤成分;および式
フェニル、アルキルフェニルまたはアリールであり、R
7は、フェニル、アルキルフェニル、アリール、−CO
OR8または−CONR4R5であり、R8は、Hまたはア
ルキルであり、そしてここで、アルキルは炭素原子を1
から8個含む]で表される構造単位を含んでいて40,
000から500,000の分子量を有する少なくとも
1種の高分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分;
を含む共結合剤系、(b)アクリル化ウレタンモノマー
成分、(c)光開始剤または光開始剤系、および(d)
ブロック化(blocked)ポリイソシアネート架橋
剤、を含める。
被覆材として用いるに適した水系処理可能で耐久性のあ
る光重合性組成物に関し、これは必須材料として本明細
書の以下に具体的に記述する如き(a)共結合剤系、
(b)アクリル化ウレタンモノマー成分、(c)光開始
剤または光開始剤系、および(d)ブロック化ポリイソ
シアネート架橋剤を含む。
ン酸含有構造単位を2から50重量%および式
またはアリール、好適にはHまたはCH3であり、R
2は、H、CH3、フェニル、アリール、−COOR3、
−CONR4R5または−CN、好適にはフェニル、−C
OOR3または−CONR4R5であり、そしてR3、R4
およびR5は、独立して、H、アルキルまたはアリール
(これは未置換であるか或は1個以上のヒドロキシ、エ
ステル、ケト、エーテルまたはチオエーテル基で置換さ
れている)、好適には未置換であるか或はヒドロキシで
置換されているアルキルまたはアリール基である]で表
される少なくとも1種の構造単位Aを50から98重量
%含有する低分子量コポリマー結合剤成分を含む。
剤成分のカルボン酸含有構造単位は、如何なるエチレン
系不飽和カルボン酸またはカルボン酸前駆体コモノマー
(これを後で反応させて酸を生じさせることができる)
からも製造可能であり、これを重合させると所望の低分
子量コポリマーが生じる。適切なエチレン系不飽和カル
ボン酸またはカルボン酸前駆体コモノマー類の例には、
アクリル酸およびメタアクリル酸;マレイン酸;マレイ
ン酸の半エステルもしくは無水物;イタコン酸;イタコ
ン酸の半エステルもしくは無水物;シトラコン酸;シト
ラコン酸の半エステルもしくは無水物;およびこれらの
置換類似物が含まれる。
アクリル酸およびメタアクリル酸である。この低分子量
コポリマー結合剤中のカルボン酸含有構造単位の比率は
2から50重量%、好適には5から25重量%の範囲で
ある。
マー結合剤の分子量は、ゲル浸透クロマトグラフィー
(GPC)で測定して、3,000から15,000、
好適には4,000から10,000の範囲である。
マー結合剤の構造単位Aを形成させるに適切なコモノマ
ー類には、スチレン、置換スチレン類および不飽和カル
ボン酸誘導体、例えばアクリル酸およびメタアクリル酸
のエステルおよびアミド類などが含まれる。メタアクリ
ル酸メチル、メタアクリル酸エチル、メタアクリル酸ブ
チル、メタアクリルアミド、アクリル酸メチル、アクリ
ル酸エチル、アクリル酸ブチル、アクリルアミド、アク
リル酸ヒドロキシエチル、メタアクリル酸ヒドロキシエ
チルおよびスチレンが好適である。
像を行うには、この組成物を水系アルカリ現像液中で処
理することを可能にするに充分な酸性基または他の基を
この低分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分に含
める必要がある。この組成物から生じさせた被覆層を4
0℃の温度の水系アルカリ液、例えば炭酸ナトリウムま
たはカリウムが1重量%入っている完全に水系の溶液で
5分間現像する間、その放射線露光部分は実質的な影響
を受けないで未露光部分が除去される。
の一体性、接着性、硬度、酸素透過性、水分感受性、並
びにこれの処理中または最終使用で必要とされる他の物
理的または化学的特性を修飾する目的で、少なくとも1
種の高分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分を含
める。該低分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分
と組み合わせて用いるに適切な高分子量コポリマー共結
合剤は、構造単位B:
N、フェニル、アルキルフェニルまたはアリールであ
り、R7は、フェニル、アルキルフェニル、アリール、
−COOR8または−CONR4R5であり、R8は、Hま
たはアルキルであり、R4およびR5は、独立して、H、
アルキルまたはアリール(これは未置換であるか或は1
個以上のヒドロキシ、エステル、ケト、エーテルまたは
チオエーテル基で置換されている)、好適には未置換で
あるか或はヒドロキシで置換されているアルキルまたは
アリール基である]を形成するモノマー類を包含する。
剤成分のカルボン酸含有構造単位は、如何なるエチレン
系不飽和カルボン酸またはカルボン酸前駆体コモノマー
(これを後で反応させて酸を生じさせることができる)
からも製造可能であり、これを重合させると所望の高分
子量コポリマーが生じる。適切なエチレン系不飽和カル
ボン酸またはカルボン酸前駆体コモノマー類の例には、
アクリル酸およびメタアクリル酸;マレイン酸;マレイ
ン酸の半エステルもしくは無水物;イタコン酸;イタコ
ン酸の半エステルもしくは無水物;シトラコン酸;シト
ラコン酸の半エステルもしくは無水物;およびこれらの
置換類似物が含まれる。
いるに好適なコモノマー類は、スチレン、メタアクリル
酸、メタアクリル酸メチル、メタアクリル酸エチル、メ
タアクリル酸ブチル、アクリル酸、アクリル酸メチル、
アクリル酸エチル、オクチルアクリルアミド、メタアク
リル酸ヒドロキシプロピル、メタアクリル酸t−ブチル
アミノエチル、アクリル酸ヒドロキシエチル、メタアク
リル酸ヒドロキシエチルおよびアクリル酸ブチルであ
る。メタアクリル酸およびアクリル酸が水系アルカリ現
像液用共結合剤に特に好適なコモノマー類である。他の
適切な高分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤は、ス
チレンとマレイン酸の無水物/酸/半エステル/エステ
ルおよびこれらの置換類似物で出来ている結合剤であ
る。
子量酸含有コポリマー結合剤成分の比率を2から50重
量%の範囲にしそして高分子量カルボン酸コポリマー結
合剤成分の比率を50から98重量%の範囲にする。
コポリマー結合剤成分を含む本発明の共結合剤系は、本
被覆材組成物の所望特性を得るに重要である。この低分
子量のカルボン酸含有結合剤成分は、最終使用特性を達
成するに役立ち、例えば空気を捕捉することなく回路パ
ターンをカプセル封じし、水系の炭酸塩現像液中の現像
を速め、柔軟にし、接着力を与え、環境条件に対する抵
抗力を与え、そしてアルカリエッチングまたはメッキ溶
液に対する抵抗力を与える。硬化フィルムにフィルム一
体性および柔軟性を与える目的で高分子量のコポリマー
結合剤成分を用いる必要がある。
ことで硬化後に低い反応性および低い水分感受性を示す
種に変化させるべきカルボン酸基を含有するポリマー
類、例えばジカルボン酸の半酸/アミドを含有するアミ
ン酸コポリマー結合剤などを用いる必要はない。更に、
本発明では、軟質回路板、例えば銅、積層接着剤または
ポリイミド積層材料などへの充分な接着力を得ようとし
てそのようなアミン酸ポリマーを用いる必要もない。更
に、本発明の共結合剤系は、アミン酸官能性を含まない
ことで、架橋剤として用いるブロック化イソシアネート
との複雑な副反応を起こさずかつ水系現像液を用いた時
に生じる残渣量が少なくなる傾向がある。加うるに、本
発明の低分子量コポリマー類は、低分子量のアミン酸ポ
リマー類に比較して、硬化およびはんだ付け温度で遊離
して来る揮発物の量が少ない。
組成物の5重量%用いると、これは、積層を行っている
間のカプセル封じを改良し、要する現像時間を短くし、
かつ接着力を改良する補助となる。この低分子量コポリ
マー成分は該高分子量コポリマー成分を可塑化する働き
をする。これにより、真空積層を行っている間の流れが
より良好になると共に空気捕捉なしに回路パターンをカ
プセル封じすることが可能になる。このような可塑化効
果によりまた本被覆材組成物の現像時間が該低分子量コ
ポリマー存在なしの時に要する時間より短くなり得る。
この低分子量コポリマーを添加すると接着力が改良さ
れ、その結果として、該基質への積層がより良好にな
る。加うるに、硬化中および高温はんだ接触中に遊離し
て来る揮発物量も、低分子量のアミン酸を本発明の低分
子量カルボン酸コポリマーで置き換えると低くなる。
から15,000、最も好適には4,000から10,
000の範囲の分子量、5から400、最も好適には3
0から200の酸価および50℃以下、好適には25℃
以下のTgを有する酸含有低分子量コポリマー成分が2
から50重量%、最も好適には4から45重量%であり
そして40,000から500,000、最も好適には
100,000から250,000の範囲の分子量、3
5から400、好適には50から200の酸価および2
5℃から100℃、好適には30℃から55℃のTgを
有する酸含有高分子量コポリマー成分が50から98重
量%、好適には55から96重量%である混和物を含
む。高分子量コポリマーに対する低分子量コポリマーの
最適比は0.05から0.55、好適には0.1から
0.3の範囲である。
ル酸エチル/アクリル酸モノマー組成が92/8(重
量)で分子量が7,000で酸価が63でTgが−14
℃の酸含有低分子量コポリマー成分が11.8重量%で
ありそしてメタアクリル酸メチル/アクリル酸エチル/
アクリル酸モノマー組成が32/58/10(重量)で
分子量が200,000で酸価が80でTgが37℃の
酸含有高分子量コポリマー成分が88.2重量%である
混和物を含む。
一緒に正確な比率で用いると硬化層に向上した柔軟性を
与えそして脆さを低くすることから、本光重合性組成物
の必須成分である。数多くの要因が特性(例えばガラス
転移温度など)に影響を与え、従ってウレタン構造が個
々の用途で示す性能に影響を与えることが知られてい
る。このような要因には、ジイソシアネートの種類、ジ
オールの種類(即ちポリエステル、ポリエステルアミ
ド、ポリエーテル)、ジオールの分子量、コジオール類
(即ち短鎖ジオール類)、ジオール対コジオールの比
率、並びに結果として生じるポリウレタンの分枝度およ
び分子量などが含まれる。アクリル化後の特性も相当し
て変化するであろう。本耐久被覆材における柔軟性、じ
ん性および耐薬品性の適切なバランスを得るには、適切
なアクリル化ウレタンを選択することとこれと他の必須
材料との相対的な量を適切に選択することが重要であ
る。このアクリル化ウレタンを5から30重量部の量で
存在させ、そしてこれに少なくとも1種のアクリレート
またはメタアクリレート基を含める。
般式:
或は低級アルキル基で置換されていてもよくそして連結
員として低級アルキレン基を含んでいてもよい芳香族基
であり、Q2およびQ3は、独立して、1から10個の炭
素原子を有するポリオキシアルキレンであり、Q5およ
びQ6は、独立して、1から3個の炭素原子を有するア
ルキルまたはHであり、そしてnは、少なくとも1であ
る]で表される。
イソシアネートとポリオールを反応させそしてその末端
イソシアネート基をアクリル酸ヒドロキシエチルでエン
ドキャップさせた(end−capped)生成物であ
るウレタンジアクリレートである。
キシル化して酸価を1から50の範囲またはそれ以上に
しそして分子量を500から5000の範囲にしたジア
クリレート類およびトリアクリレート類も含まれ得る。
カルボキシル化したウレタンジアクリレート類およびト
リアクリレート類は水系の塩基性現像液中でより明瞭な
現像を与えることから、これらが特に有利である。
いることができる適切なコモノマー類には下記が含まれ
る:1,5−ペンタンジオールジアクリレート、ジエチ
レングリコールジアクリレート、ヘキサメチレングリコ
ールジアクリレート、1,3−プロパンジオールジアク
リレート、デカメチレングリコールジアクリレート、デ
カメチレングリコールジメタアクリレート、1,4−シ
クロヘキサンジオールジアクリレート、2,2−ジメチ
ロールプロパンジアクリレート、グリセロールジアクリ
レート、トリプロピレングリコールジアクリレート、グ
リセロールトリアクリレート、トリメチロールプロパン
トリアクリレート、ペンタエリスリトールトリアクリレ
ート、ポリオキシエチル化トリメチロールプロパンのト
リアクリレートおよびトリメタアクリレート、および米
国特許第3,380,831号に開示されている如き同
様な化合物、2,2−ジ−(p−ヒドロキシフェニル)
−プロパンジアクリレート、ペンタエリスリトールテト
ラアクリレート、2,2−ジ−(p−ヒドロキシフェニ
ル)−プロパンジメタアクリレート、トリエチレングリ
コールジアクリレート、ポリオキシエチル−2,2−ジ
−(p−ヒドロキシフェニル)−プロパンジメタアクリ
レート、ビスフェノール−Aのジ−(3−メタアクリル
オキシ−2−ヒドロキシプロピル)エーテル、ビスフェ
ノール−Aのジ−(2−メタアクリルオキシエチル)エ
ーテル、ビスフェノール−Aのジ−(3−アクリルオキ
シ−2−ヒドロキシプロピル)エーテル、ビスフェノー
ル−Aのジ−(2−アクリルオキシエチル)エーテル、
テトラクロロ−ビスフェノール−Aのジ−(3−メタア
クリルオキシ−2−ヒドロキシプロピル)エーテル、テ
トラクロロ−ビスフェノール−Aのジ−(2−メタアク
リルオキシエチル)エーテル、テトラブロモ−ビスフェ
ノール−Aのジ−(3−メタアクリルオキシ−2−ヒド
ロキシプロピル)エーテル、テトラブロモ−ビスフェノ
ール−Aのジ−(2−メタアクリルオキシエチル)エー
テル、1,4−ブタンジオールのジ−(3−メタアクリ
ルオキシ−2−ヒドロキシプロピル)エーテル、トリエ
チレングリコールジメタアクリレート、トリメチロール
プロパントリアクリレート、エチレングリコールジメタ
アクリレート、ブチレングリコールジメタアクリレー
ト、1,3−プロパンジオールジメタアクリレート、
1,2,4−ブタントリオールトリメタアクリレート、
2,2,4−トリメチル−1,3−ペンタンジオールジ
メタアクリレート、ペンタエリスリトールトリメタアク
リレート、1−フェニルエチレン−1,2−ジメタアク
リレート、ペンタエリスリトールテトラメタアクリレー
ト、トリメチロールプロパントリメタアクリレート、
1,5−ペンタンジオールジメタアクリレート、1,4
−ベンゼンジオールジメタアクリレート、並びに1,
3,5−トリイソプロペニルベンゼンおよびポリカプロ
ラクトンジアクリレート。三官能のアクリレートモノマ
ー類を過剰量で用いると必要な柔軟性が低下し得る。
キシC1−C10−アルキルアクリレート、ヘキサメチレ
ングリコールジアクリレート、トリエチレングリコール
ジアクリレート、トリプロピレングリコールジアクリレ
ート、ペンタエリスリトールトリアクリレート、トリメ
チロールプロパントリアクリレート、ポリオキシエチル
化トリメチロールプロパンのトリアクリレート、ビスフ
ェノール−Aのジ−(3−アクリルオキシ−2−ヒドロ
キシプロピル)エーテル、テトラブロモ−ビスフェノー
ル−Aのジ−(3−アクリルオキシ−2−ヒドロキシプ
ロピル)エーテル、或はこれらのメタアクリレート類似
物である。
ジカルを直接与える開始剤化合物を1種以上含める。こ
の系にまた、化学放射線で活性化を受ける(この活性化
により該開始剤化合物がフリーラジカルを与える)増感
剤を含めてもよい。この増感剤はスペクトル応答を近紫
外、可視および近赤外スペクトル領域にまで広げ得る。
く知られており、本被覆材組成物の他の材料に適合し得
ることを条件として、本明細書でこれらを用いることが
できる。酸化還元系、例えばローズベンガル/2−ジブ
チルアミノエタノールを含む数多くのフリーラジカル発
生化合物を有利に選択することができる。染料増感光重
合に関する有用な考察を「Adv. in Photo
chemistry」、13巻、D.H.Volma
n、G.S.HammondおよびK.Gollini
ck編集、Wiley−Interscience、N
ew York、1986、427−487頁のD.
F.Eaton著「Dye Sensitized P
hoto−polymerization」の中に見付
け出すことができる。
は、メチレンブルーおよび米国特許第3,554,75
3;3,563,750;3,563,751;3,647,
467;3,652,275;4,162,162;4,2
68,667;4,351,893;4,454,218;
4,535,052;および4,565,769に開示され
ている増感剤が含まれる。好適な群の増感剤には、Ba
um他の米国特許第3,652,275号に開示されて
いるビス(p−ジアルキル−アミノベンジリデン)ケト
ン類およびDueber他の米国特許第4,162,1
62号に開示されているアリーリデンアリールケトン類
が含まれ、これらは引用することによって本明細書に組
み入れられる。
素供与体と組み合わせた2,4,5−トリフェニルイミ
ダゾリル二量体、例えば米国特許第3,479,185
号、3,784,557号、4,311,783号およ
び4,622,286号(これらは引用することによっ
て本明細書に組み入れられる)の中に開示されている如
き光開始剤系である。好適なヘキサアリールビイミダゾ
ール類(HABI)は2−o−クロロ置換ヘキサフェニ
ル−ビイミダゾール類であり、ここで、このフェニル基
上の他の位置は未置換であるか或はクロロ、メチルまた
はメトキシで置換されている。最も好適な開始剤はo−
Cl−HABI、即ち1,1’−ビイミダゾール、2,
2’−ビス(o−クロロフェニル)−4,4’,5,
5’−テトラフェニル−イミダゾール二量体である。
として機能する水素供与体化合物には、2−メルカプト
ベンゾキサゾール、2−メルカプトベンゾチアゾール、
4−メチル−4H−1,2,4−トリアゾール−3−チ
オールなど、並びに多様な種類の化合物、例えば(a)
エーテル類、(b)エステル類、(c)アルコール類、
(d)アリル系水素またはベンジル系水素を含む化合
物、(e)アセタール類、(f)アルデヒド類、および
(g)MacLachlanの米国特許第3,390,
996号のコラム12、18から58行に開示されてい
るアミド類などが含まれる。ビイミダゾール型の開始剤
とN−ビニルカルバゾールの両方を含有する系で用いる
に適切な水素供与体化合物は、5−クロロ−2−メルカ
プトベンゾ−チアゾール、2−メルカプトベンゾチアゾ
ール、1H−1,2,4−トリアゾール−3−チオー
ル、6−エトキシ−2−メルカプトベンゾ−チアゾー
ル、4−メチル−4H−1,2,4−トリアゾール−3
−チオール、1−ドデカンチオールおよびこれらの混合
物である。
は、ベンゾフェノン、ミヒラーケトン、エチルミヒラー
ケトン、p−ジアルキルアミノベンズアルデヒド類、p
−ジアルキルアミノベンゾエートアルキルエステル類、
多核キノン類、チオキサントン類、ヘキサアリールビイ
ミダゾール類、シクロヘキサジエノン類、ベンゾイン、
ベンゾインジアルキルエーテル類またはこれらの組み合
わせであり、ここでアルキルは炭素原子を1から4個含
む。
剤 一般的には積層を行うか或は溶液を用いて本発明の光重
合性組成物を基質に付ける。このような方法では、例え
ば、積層操作を行っている間か、或は溶液を用いて塗布
した後、溶媒を蒸発させている間、該組成物を加熱す
る。光構造化(photostructuring)前
でも未暴露領域に架橋が部分的に起こる可能性があり、
その結果として画像品質が悪化する可能性がある。従っ
て、この光重合性組成物に望ましい特性は、そのような
熱処理が原因でこれが受ける架橋ができるだけ小さいこ
とである。他方、高い処理能力を得ると同時にエネルギ
ーコストを節約するにはまた、塗布して画像様式で露光
させた後の組成物の硬化が適度な温度で迅速に起こるこ
とが望ましい。
用いるが、これは、該コポリマー結合剤成分中および本
光画像化可能被覆材組成物の他の材料中に存在する反応
性を示す官能基、例えばヒドロキシル、カルボキシル、
アミドおよびアミン基などと一緒に架橋を形成する。適
切な架橋を存在させると、溶融はんだ温度に耐える能力
が得られ、そして最終使用製品で必要とされる耐薬品性
または他の物理的もしくは化学的特性が改良される。
くとも100℃の開裂温度を有するブロック化ポリイソ
シアネートまたはこの種類のポリイソシアネート類の混
合物である。この記述に関連して、これは、そのブロッ
クされているイソシアネート基の少なくとも半分が少な
くとも100℃の温度で脱ブロックを受ける(debl
ocked)ことで本光画像化可能組成物の他の成分が
有するイソシアネート反応性官能基との反応で利用され
得るブロック化ポリイソシアネートを意味するとして理
解されるべきである。
アネートは、イソシアネート基を少なくとも2個、好適
には2から4個有していてイソシアネート基に不活性な
さらなる置換基、例えばアルキルまたはアルコキシ基な
どを有していてもよい如何なる脂肪族、環状脂肪族、芳
香族または芳香脂肪族化合物であってもよい。
る:2,4−ジイソシアナトトルエンおよびこれと2,
6−ジイソシアナトトルエンの工業グレード混合物、
1,5−ジイソシアナトナフタレン、1,4−ジイソシ
アナトナフタレン、4,4’−ジイソシアナトジフェニ
ルメタンおよび種々のジイソシアナトジフェニルメタン
類の工業グレード混合物(例えば4,4’−および2,
4’−異性体)、ジイソシアナト−m−キシリレン、
N,N’−ジ(4−メチル−3−イソシアナトフェニ
ル)尿素、1,6−ジイソシアナトヘキサン、1,12
−ジイソシアナトドデカン、3,3,5−トリメチル−
1−イソシアナトメチルシクロヘキサン(イソホロンジ
イソシアネート)、トリメチル−1,6−ジイソシアナ
トヘキサン、1−メチル−2,4−ジイソシアナトシク
ロヘキサン、トリスイソシアナト−トリフェニルメタン
および4,4’−ジイソシアナトジシクロ−ヘキシルメ
タン。
ロックすることができる。適切なブロッキング成分の例
はベータ−ジカルボニル化合物、例えばマロネート類、
アセトアセテート類または2,4−ペンタンジオンな
ど、或はヒドロキサメート類、トリアゾール類、イミダ
ゾール類、テトラヒドロピリミジン類、ラクタム類、オ
キシム類、ケトキシム類、低分子量アルコール類、或は
フェノール類またはチオフェノール類などである。
類は、ウレタン化、カルボジイミド化、ビウレット化、
または二量化もしくは三量化したポリイソシアネート、
或はイソシアヌレート環含有三量体、二環状尿素化合
物、ポリマー状イソシアネート、2種以上のジイソシア
ネート類のコポリマー、或は開裂温度が少なくとも10
0℃である限り100℃以下で不活性な他の形態のポリ
イソシアネート類であってもよい。これらの例は、ウレ
タン化4,4’−ジイソシアナト−ジフェニルメタン、
カルボジイミド化4,4’−ジイソシアナトジフェニル
メタン、2,4−ジイソシアナトトルエンのウレトジオ
ン、ジイソシアナトトルエンの三量体、N,N’,N”
−トリ(6−イソシアナトヘキシル)−ビウレット、イ
ソホロンジイソシアネート、三量体ヘキサンジイソシア
ネート類、三量体ドデカンジイソシアネート類、アジポ
イルビス(プロピレン尿素)およびアゼラオイルビス
(プロピレン尿素)などである。
100℃から200℃の範囲に開裂温度を有する。本明
細書で特に好適なものは、メチルエチルケトキシムでブ
ロックされた1,6−ジイソシアナトヘキサン三量体お
よびメチルエチルケトキシムでブロックされたイソホロ
ンジイソシアネートである。
組成物は、メラミン−ホルムアルデヒド架橋剤を用いて
硬化させた光重合性組成物に比較して、より低い硬化温
度で硬化させても高い伸びと良好な耐薬品性を示すと言
った特徴を有する。加うるに、本硬化被覆材は硬化後に
柔軟性を維持するが、メラミン−ホルムアルデヒド架橋
剤が用いられている被覆材の場合、硬化後にそれと同じ
程度の曲げ安定性を得るには20℃高い硬化温度を用い
る必要があり、そして時には、冷および/または乾燥条
件下で熟成させている間にその柔軟性がいくらか失われ
る。積層材料の安定性を維持するには、硬化温度ができ
るだけ100℃よりあまり高くならないようにすべきで
ある、と言うのは、硬化温度を高くすればするほど軟質
回路がより大きな変形を受けるからである。
任意に、予め製造した高分子エラストマー成分を有機充
填材として含めてもよい。このエラストマー成分を、典
型的には、本水系処理可能耐久被覆材組成物の中に個別
のミクロ相として存在させ、そしてこれはそのまま本組
成物のエラストマー充填材として機能すると考える。こ
のような有機成分は典型的に酸性基を実質的に全く含ま
ず、その結果として、これは水系のアルカリ現像液に不
溶である。しかしながら、上記現像を改良することが求
められている場合、カルボン酸基を充分な量で該有機充
填材成分に組み込むことにより、本耐久被覆材組成物お
よび水系のアルカリ現像液中の分散性を改良することが
できる。
マー類を使用することができるが、ポリ(メタアクリル
酸メチル−コ−ブタジエン−コ−スチレン)が好適であ
る。使用可能な他の有機充填材には、合成の軟質ポリマ
ー類およびゴム、例えばブタジエン−コ−アクリロニト
リル、アクリロニトリル−コ−ブタジエン−コ−スチレ
ン、メタアクリレート−コ−アクリロニトリル−コ−ブ
タジエン−コ−スチレンのコポリマー類、およびスチレ
ン−コ−ブタジエン−コ−スチレン、スチレン−コ−イ
ソプレン−コ−スチレンのブロックコポリマー類、飽和
ポリウレタン類、ポリ(メタアクリル酸メチル−コ−ア
クリル酸ブチル)などが含まれる。有機充填材成分のさ
らなる例には、J.Grant編集の「Hackh’s
Chemical Dictionary」、第4
版、McGraw−Hill Book Compan
y、1972の232頁に定義されている如き通常のエ
ラストマー類が含まれる。
または無機粒子を含めることで処理中または最終使用で
必要とされる物理的または化学的特性を修飾することも
可能である。適切な充填材には、米国特許第2,76
0,863号に開示されている如き本質的に透明な無機
もしくは有機補強材、例えば親有機性(organop
hilic)シリカベントナイト、シリカ、および粒子
サイズが0.4ミクロメートル未満の粉末ガラスなど、
米国特許第3,525,615号に開示されている如き
無機チキソトロピー材料、例えばベーマイトアルミナな
ど、高いチキソトロピーを示すシリケートオキサイドの
粘土混合物、例えばベントナイト、およびシリカを9
9.5%および混合金属酸化物を0.5%含有する微細
チキソトロピーゲルなど、米国特許第3,754,92
0号に開示されている如き微結晶性増粘剤、例えば微結
晶性セルロースおよび微結晶性シリカ、粘土、アルミ
ナ、ベントナイト、カロナイト、アタパルタイトおよび
モントモリロナイトなど、米国特許第3,891,44
1号に開示されている如き粒子サイズが0.5から10
ミクロメートルの微細粉末、例えば酸化ケイ素、酸化亜
鉛および他の市販顔料など、並びにヨーロッパ特許出願
公開第87113013.4号に開示されている如き結
合剤で会合させた透明な無機粒子、例えばケイ酸マグネ
シウム(タルク)、ケイ酸アルミニウム(粘土)、炭酸
カルシウムおよびアルミナなどが含まれる。画像形成露
光中に悪影響が生じないように、この充填材は典型的に
化学放射線を透過する。この充填材は、これが本光重合
性組成物で果す機能に応じて、コロイド状であってもよ
いか、或はこれに直径が0.5ミクロメートルまたはそ
れ以上の平均粒子サイズを持たせてもよい。
化合物を含めることで処理中または最終使用製品におい
てこの被覆材が金属回路パターンに対して示す接着力を
改良することも可能である。適切な接着促進剤には複素
環化合物、例えばHurley他の米国特許第3,62
2,334号、Jonesの米国特許第3,645,7
72号およびWeedの米国特許第4,710,262
号(これらは引用することによって本明細書に組み入れ
られる)の中に開示されている如き複素環化合物が含ま
れる。好適な接着促進剤にはベンゾトリアゾール、5−
クロロ−ベンゾトリアゾール、1−クロロ−ベンゾトリ
アゾール、1−カルボキシ−ベンゾトリアゾール、1−
ヒドロキシ−ベンゾトリアゾール、2−メルカプトベン
ゾキサゾール、1H−1,2,4−トリアゾール−3−
チオール、5−アミノ−1,3,4−チアジアゾール−
2−チオールおよびメルカプトベンズイミダゾールが含
まれる。
物を本耐久被覆材に存在させることでフィルムの物性を
修飾することも可能である。このような成分には熱安定
剤、着色剤、例えば染料および顔料など、被覆助剤、湿
潤剤、剥離剤などが含まれる。
止剤は、Irganox(商標)1010、p−メトキ
シフェノール、ヒドロキノン、およびアルキルおよびア
リール置換ヒドロキノン類およびキノン類、t−ブチル
カテコール、ピロガロール、樹脂酸銅、ナフチルアミン
類、ベータ−ナフトール、塩化第一銅、2,6−ジ−t
−ブチル−p−クレゾール、フェノチアジン、p−トル
キノンおよびクロラニルなどである。また、熱重合禁止
剤として有用なものは、米国特許第4,168,982
号に開示されているニトロソ化合物である。
画像の可視性を高めることができる。しかしながら、使
用する如何なる着色剤も好適には使用化学放射線を透過
すべきである。
分子量コポリマー成分と高分子量のカルボン酸含有コポ
リマーを含む共結合剤系と(b)アクリル化ウレタンと
(c)光開始剤系と(d)ブロック化ポリイソシアネー
ト架橋剤を基準にした適切な濃度は、成分(a)が20
から80重量部、成分(b)が10から40重量部、成
分(c)が0.5から10重量部、および成分(d)が
5から25重量部である。
中に印刷回路を保護しそして/または使用中に環境の影
響から回路板を保護するはんだマスクとして使用可能で
ある。耐久被覆材はまた、多層印刷回路板の製造で、現
像を行うか或は行わないかに拘らず中間絶縁層として用
いられる。
強エポキシなどの如き半硬質の基質上か或はポリイミド
またはポリエステルフィルムを基とする軟質フィルム基
質上の印刷回路レリーフパターンである印刷回路基質
に、典型的には厚さが10から125ミクロメートル
(0.4から5ミル)の光重合性耐久被覆層を付ける。
次に、この付けた光重合性耐久被覆層を化学放射線に画
像様式で露光させることにより、その露光領域を硬化さ
せるか或は不溶にする。次に、典型的には、露光領域の
一体性または接着力に悪影響を与えることなく未露光領
域を選択的に溶かすか或は剥がすか或は分散させるアル
カリ性の炭酸ナトリウムもしくはカリウム水現像液を用
いて、如何なる未露光領域も完全に除去する。この現像
した耐久レジスト画像を、最初に、高温、例えば150
℃で1時間焼くか、化学放射線に更に均一露光させる
か、或はこれらを組み合わせた処理を受けさせること
で、これを更に硬化させるか或は堅くすることにより、
未露光領域(これは既に現像で除去されている)を除く
全領域を覆う硬化した耐久レジスト層を有する回路板を
生じさせる。次に、電気構成要素を貫通穴(throu
gh−holes)の中に挿入するか或は表面取り付け
領域(surface mount areas)上に
位置させそしてこれらを適当な位置にはんだ付けするこ
とで、パッケージ型電気構成要素を生じさせる。
予め成形した乾燥フィルムとしてか、或は液体と乾燥フ
ィルムの組み合わせとして、印刷回路基質に付けること
ができる。
ストを印刷回路基質上に液体として被覆することができ
る。この液体は本耐久被覆材組成物の溶液または分散液
であってもよく、この場合、これを被覆した後、溶媒を
除去することで乾燥した固体状のカバーレイ(cove
rlay)層を生じさせ、この被覆に続いて、これを直
接画像化するか或は化学放射線に露光させることで硬化
したカバーレイ層を生じさせる。この液体は、上記Co
ombs、上記DeForest、Lipson他の米
国特許第4,064,287号またはOddi他の米国
特許第4,376,815号の中に開示されているよう
に、ローラーコート、スピンコート、スクリーンコート
または印刷可能である。また、Losert他が米国特
許第4,230,793号の中で開示しているように、
この液体を典型的には溶液としてカーテンコートするこ
とも可能である。フィルム基質の連続ウエブ上で印刷回
路を製造する場合、通常のウエブ被覆方法いずれかを用
いて耐久被覆材の液を被覆することができる。
述されている如き積層方法を用い、予め成形した乾燥フ
ィルムである光重合性耐久被覆層を、多層トランスファ
ーカバーレイ要素(multi−ply transf
er,coverlay element)から付け
る。この多層耐久被覆要素は、順に、化学放射線を透過
する一時的支持フィルム、例えばポリエチレンテレフタ
レートまたはシリコン処理ポリエチレンテレフタレート
など、光重合性の薄い耐久被覆層、および貯蔵中の耐久
被覆要素を保護する任意の取り外し可能カバーシート、
例えばポリエチレンまたはポリプロピレンなどで出来て
いる。本光重合性耐久被覆層を印刷回路基質上で用いる
場合、10から125ミクロン(0.4から5ミル)の
厚み範囲でこれを存在させる。上記Celesteが記
述しているように、カバーシートを存在させる場合、こ
れを最初に取り外した後、熱および/または圧力を用
い、例えば通常のホットロール積層装置を用いて、その
カバーを取り外した耐久被覆材表面を、該基質の予め奇
麗にした銅印刷回路表面に積層させる。典型的には、一
時的支持フィルムを通してこの積層物を化学放射線に画
像様式で露光させるが、ある場合には、分解能および他
のそのような特性を改良する目的で、画像形成を行うに
先立ってその一時的支持体を取り外すことも可能であ
る。ある場合には、積層時か或は積層を行う直前に基質
表面を液体で処理することにより、この基質に対して耐
久被覆材が示す接着力を改良することができる。この液
体は化学放射線に敏感でなくてもよく、そしてこれは、
Jonesの米国特許第3,645,772号に開示さ
れている如き接着促進剤の溶液、Fickesの米国特
許第4,069,076号に開示されている如きカバー
レイ層のための溶媒または膨潤剤、Cohenの米国特
許第4,405,394号およびヨーロッパ特許第00
41639号、Pilette他の米国特許第4,37
8,264号およびWeiner他のヨーロッパ特許第
0040842号に開示されている如き非溶媒、或はL
au他の米国特許第4,698,294号に開示されて
いる如き耐久被覆層の液状成分であってもよい。ある場
合には、この液体は感光し得る。低い回路レリーフを有
する印刷回路基質に乾燥フィルムを積層させる場合、典
型的には、例えば周囲の回路ラインから空気が捕捉され
ないようにする方策を取る必要がある。Frielの米
国特許第4,127,436号の真空積層方法、Col
lier他の米国特許第4,071,367号の溝付き
ロール積層方法、または上記Fickesおよび上記L
au他が記述している如き液状処理剤を用いて、空気の
捕捉をなくす。
る必要があり、これによって逆に回路の基質として用い
られる材料の種類が左右される。苛酷な用途は、特別な
空間的要求で折り畳むか或は曲げることが必要とされる
軟質印刷回路、例えばカメラまたはビデオカセットレコ
ーダー(VCR)などの用途であり、ここでは、コンピ
ューターディスクドライブの場合のように多数回の曲げ
に生き残る能力が必要とされ得る。ある用途では、軟質
回路を硬質回路と組み合わせて軟質−硬質多層印刷回路
が作られる。軟質回路の最終使用試験では、接着力と1
回または多数回の曲げに耐える能力に焦点を当てる。加
うるに、周囲条件下で長期間に渡って耐えることに関す
るフィルム老化の実際問題を模擬するにとって促進老化
は有効な試験である。このフィルムを熱および湿度にさ
らすことによる促進老化は、他のものよりも迅速に酸化
または劣化し得るフィルム成分を同定するに有効であ
る。本出願における実施例の確証を行う目的で用いる試
験を本明細書に記述する。
評価する。カバーレイを硬質基質上に積層した後、1%
の炭酸ナトリウムまたは炭酸カリウム現像液(これの温
度は実際の処理で用いられる温度と同じでなければなら
ず、典型的には40℃である)の中に入れて時間を測定
する。サンプルを現像液に入れた時間から開始して未露
光カバーレイが全部その基質から洗い流される時間で終
結する全「浄化時間(time to clear)」
を秒で報告する。
バーレイを基質上に積層した後、21ステップのSto
uffer感度フォトパターンに通して500mj/c
m2UVに露光させる。このサンプルの現像を行った
後、その結果として生じるステップ−ウエッジパターン
(step−wedge pattern)を分析す
る。X−Y範囲で値を報告し、ここで、X値は、現像液
の攻撃が全く見られない最終段階であり、Yは、カバー
レイを含有する最終段階である。y値が10から12の
時に最適露光レベルが得られる。x値が高いことは、現
像液によるフォトポリマーの攻撃が低いことを示してい
る。
を評価する。この試験で選択する基質およびカバーレイ
は最終使用用途でそれらを代表すべきである。
これをカバーレイと一緒に実際の製造で行われているの
と全く同様に処理する。処理後、10X倍率を用いてサ
ンプルを如何なるヘイローイング(haloing)お
よび/または層剥離(これらは不合格の要素となる)に
関しても評価する。加うるに、このサンプルを回路ライ
ンの縁に沿って切断し、その横断面を拡大して評価する
ことにより、カバーレイがその領域を「ソーダ−ストロ
ーイング(soda−strawing)」欠陥なしに
充分に覆っていることを確かめた。サンプルにさらなる
処理を受けさせるに先立ってこれらはこのカプセル封じ
試験に合格しなければならない。本発明の実施例は全部
このカプセル封じ試験に合格した。
験を実施する。最終使用で典型的に用いられる材料とそ
っくり同じになるように試験基質を選択し、そして実際
の処理が反映されるように処理を行う。
か、或は銅表面の前浄化またはエッチングを全く受けさ
せないで基質を用いる。化学的に奇麗にするサンプルの
場合、最初にVersa Clean(商標)415の
中に45から50℃で2分間浸漬した後、脱イオン水浴
の中に30秒間浸漬する一連の段階でこのサンプルを奇
麗にする。次に、このサンプルをSure Etch
(商標)550ミクロエッチング溶液に35℃で1分間
浸漬した後、脱イオン水で30秒間濯ぐ。最後に、この
サンプルを10%硫酸溶液に室温で30秒間浸漬した
後、最終的に脱イオン水で濯ぐ。サンプルを乾燥させた
後直ちに窒素雰囲気の中に入れ、使用するまでその中に
入れておく。
剤領域である。試験片を、「硬化後」に加えて、PCB
加工中のはんだ接触を模擬する「はんだ(接触)後」に
試験する。典型的な「はんだ後」試験片の場合、これを
288℃の錫/鉛(60/40)はんだの中に30秒間
浮かべる。その後、評価する前に残存はんだを除去す
る。10ブレードのGardcoブレードを用いて全て
の試験片に刻み目を付けた後、このサンプルを90度回
転させて再び刻み目を付けることで、このカバーレイの
表面に100個の正方形から成る網目模様の刻み目を付
ける。接着テープを付けてこすることで良好な接着を確
保した後、滑らかな流体の運動において、90度の角度
で引き離す。10X倍率でサンプルを欠陥、典型的には
層剥離または微細亀裂に関して試験する。カッティング
ブレードからのピックオフ(pick off)が1−
2%であるならば不合格と見なさず、ピックオフが>2
%のサンプルは不合格サンプルである。
ン(flexuralendurance patte
rn)である。このMITパターンは、試験領域内に1
mmの線と空間が交互に存在する雷文パターンである。
この線と空間の方向に対して垂直にサンプルを折り畳
む。この基質は、典型的に、実際の製品用途で用いられ
るのと同じ種類である。評価が真のシミュレーションを
反映するように、基質(銅、接着剤)の厚さおよび種類
および処理段階(前浄化、積層、硬化、はんだ接触)を
そっくり同じにする。典型的には、TecLam LF
9111基質を用い、これの1つの側から銅をエッチン
グで除去する。Riston(商標)フォトレジストを
ダブルサイドクラッド(double sidecla
d)の1つの側に取り付け、そして58℃の塩化第一銅
アンモニア溶液を用いてもう一方の側から銅をエッチン
グで除去する。次に、Riston(商標)フィルムを
MITパターンに露光させ、未露光のフォトレジストを
1%の炭酸ナトリウム溶液中で現像して除去し、そして
露光レジストを水酸化カリウム溶液中で除去すること
で、銅雷文パターンを出現させる。手を用いてサンプル
を各サンプルのいろいろな領域10カ所で線および空間
に対して垂直に90度曲げて折り畳んだ後、10X倍率
で亀裂または層剥離などの如き欠陥に関して試験した。
報告する全ての欠陥は不合格の要素となる。サンプルを
「硬化後」および「はんだ後」評価し、この場合、サン
プルを288℃の錫/鉛(60/40)はんだの中にカ
バーレイ側を上にして30秒間浮かせた後、室温に冷却
し、そして上に記述した如く評価を行う。
に起こるフィルム特性の如何なる劣化も分析するように
設計した試験である。回路模様を付けた基質(使用する
回路および基質は実際の使用で見られるのと同じ種類の
ものでなければならない)上でカバーレイを処理する。
処理で典型的に用いられる化学品の中に各サンプルを1
5分に及んで浸漬する。この化学品にメッキ用化学品、
例えば10%のNaOH、10%のHCl、10%のH
2SO4など、および洗浄用溶媒、例えばメチルエチルケ
トン(MEK)、トリクロロエチレン(TCE)および
イソプロパノール(IPA)などを含める。浸漬後、1
0X倍率を用いて各サンプルを層剥離、ウイッキング
(wicking)、ぜい化または溶媒攻撃などの如き
欠陥に関して検査する。確認される如何なる欠陥も不合
格として報告する。
定するように設計した試験である。サンプルを5%のM
etex(商標)クリーナーに3分間入れた後、25%
のPreposit(商標)746の中に入れて10μ
インチのエッチングを受けさせる。このエッチングを受
けさせたサンプルをCopper Gleem(商標)
(PCM+)の中に入れて30アンペア/平方フィート
で36分間メッキを行うことで1ミルの厚さのメッキを
生じさせ、スルファミン酸ニッケルの中に入れて30ア
ンペア/平方フィートで8分間メッキを行うことで0.
2ミルの厚さのメッキを生じさせ、そしてシアン化金カ
リウムの中に入れて5アンペア/平方フィートで8分間
メッキを行うことで0.04ミル(1ミクロン)の厚さ
のメッキを生じさせる。金メッキした後のサンプルを、
金メッキをする前の銅上に残存していて金表面の滑らか
さと均一さを低下させる残渣の影響に関して試験する。
加うるに、このメッキした金回路トレース(trace
s)の上に接着テープを付けてこれを迅速に引きはがす
ことにより、接着力を評価する。また、このカバーレイ
の上にも接着テープを付けて同じ様式で引きはがすこと
により、金メッキした後の接着力を評価する。除去され
る金またはカバーレイの量が1%未満である時、サンプ
ルは合格である。
00mj/平方cmで露光させ、未画像化材料の現像が
起こる時間の2倍の時間、40℃で現像を受けさせ、空
気乾燥させた後、硬化を170℃で1時間受けさせる。
JDC精密サンプルカッター(Thwing−Albe
rt Instrument Co.)を用いてサンプ
ルを幅が半インチの片に切断する。条件付けを受けさせ
ない材料として試験するサンプルの場合、試験を行うま
でこれをファスナー付きバッグの中に入れる。条件付け
を受けさせるサンプルの場合、100℃の窒素パージオ
ーブンの中にこれを入れ、この温度を1時間保持した
後、3時間かけてサンプルをゆっくりと室温に冷却す
る。このサンプルを、乾燥硫酸マグネシウムと一緒にデ
シケーターの中に入れ、ASTM D−882−83
(方法A)に従うInstron試験装置で試験するま
で、そのような乾燥条件下に保持する。Instron
のソフトウエアであるSeries IX Autom
ated Materials Testing Sy
stem 1.02Cを用いて応力−歪みデータから伸
びパーセントをコンピューターで計算する。
示す。本実施例で用いる材料は下記の通りである。
から入手したアクリル酸含有コポリマー。これのTgは
37℃で、分子量は200Mで、酸価は80である。
から入手したアクリル酸含有コポリマー。これのTgは
70℃で、分子量は180Mで、酸価は100である。
91.0のメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
アクリル酸(61.7/25.7/12.6)のコポリ
マー。
71.8のメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
アクリル酸(32/58/10)のコポリマー。
84.6のメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
アクリル酸(32/56.7/11.3)のコポリマ
ー。
90.4のメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
アクリル酸(32/55.4/12.6)のコポリマ
ー。
81.5のメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
アクリル酸(46.8/41.9/11.3)のコポリ
マー。
から入手したTgが−14℃で分子量が7000で酸価
が63のアクリル酸含有コポリマー。
17のアクリル酸エチルとアクリル酸(83/17)の
コポリマー。
102のアクリル酸エチルとアクリル酸(87/13)
のコポリマー。
114のアクリル酸エチルとアクリル酸とメタアクリル
酸メチル(73/17/10)のコポリマー。
入手したビスフェノール−A−ジグリシジルエーテルの
ジアクリレート。
入手したウレタンのジアクリレート。
ando、FLから入手したウレタンのジアクリレー
ト。
ando、FLから入手したカルボキシル化ウレタンの
ジアクリレート。
ネートを基としておりそしてプロピレングリコールメチ
ルエーテルアセテート中に75%固体量で溶解している
ヘキサメチレンジイソシアネート。
ネートを基としておりそして酢酸エチル中に75%固体
量で溶解しているヘキサメチレンジイソシアネート。
City TXから入手したポリビニルピロリジン。
NYから入手した抗酸化剤。
から入手した緑色の染料。
から入手した青色の染料。
ncinnati、OHから入手したカルボキシベンゾ
トリアゾールの4および5置換異性体の50/50混合
物。
and、MAから入手した3−メルカプト−1H−1,
2,4−トリアゾール。
ル。
ls,Inc.、Plainfield、NJから入手
した1726タルク充填材。
c.、Gonzales、TXから入手したアルキル第
四級アンモニウムモントモリロナイト。
150gの酢酸エチルと100gのメタノールから成る
溶液と95gのCyprubond(商標)Talcを
予め混合した後、これを直径が1.2mmのセラミック
媒体が900g入っているアトリターに加えることを通
して、実施例14で用いるタルク分散液を調製した。こ
の分散液の製粉を45分間行った後、スクリーンに通し
て注ぐことで、この分散液を集めた。上記セラミック媒
体を200gの酢酸エチル/メタノール(60/40)
で濯いだ。固体%は18.2%であると測定した。
625gの酢酸エチル/メタノール(60/40)の中
に40gのClaytone(商標)APA粘土充填材
を入れてスラリーを生じさせることにより、実施例15
で用いる粘土充填材分散液を調製した。このスラリーの
一定分量(195g)を30分間製粉した後、86gの
酢酸エチル/メタノール(60/40)を加えること
で、スクリーンに通す濾過の補助とした。固体%は8.
4%であると測定した。
ilot Coaterまたは押出しダイスコーターな
どを用いて、液状の光画像可能組成物を乾燥フィルムに
変換した。Pilot Coaterを用いてフィルム
の被覆を行う場合、基質上に液状の組成物を押出しダイ
スで被覆するか或は10ミルのドクターナイフを用いて
被覆することで、厚さが約2ミルの乾燥フィルムを生じ
させた。典型的には、各ゾーンの長さが15フィートの
3ゾーン乾燥器を用い、この乾燥器の温度を50℃、9
8℃および115℃にし、そしてライン速度を1分当た
り20フィートにした。好適な被覆用基質は0.92ミ
ルのMylar(商標)ポリエステルフィルムであっ
た。この被覆した基質を貯蔵中保護する目的で、厚さが
1ミルの取り外し可能ポリエチレン製カバーシートを用
いた。
するいろいろな低MWコポリマー結合剤成分が入ってい
る被覆材組成物の特性を示す。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
apton(商標)ポリイミドフィルムの1つの側にエ
ポキシを基とする接着剤を1ミル被覆しそしてこの接着
剤側に銅箔を1オンス/平方フィート積層して硬化を受
けさせた積層材料であり、これはデュポン(E.I.d
u Pont de Nemours &Co.)から
入手可能である。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
するいろいろな高MWコポリマー結合剤が入っている被
覆材組成物の特性を示す。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
ンジアクリレートおよびカルボキシル化されていないウ
レタンジアクリレートが入っている被覆材組成物の特性
を示す。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
1。
用いると被覆材組成物の粘着性が低くなることを示す。
てもう一方の側にMITパターンを付けたTecLam
LF91111。
1。
被覆材組成物であって、(a)少なくとも1種のカルボ
ン酸含有構造単位を2から50重量%および式
またはアリールであり、R2は、H、CH3、フェニル、
アリール、−COOR3、−CONR4R5または−CN
であり、そしてR3、R4およびR5は、独立して、H、
アルキルまたはアリールであり、これは未置換であるか
或は1個以上のヒドロキシ、エステル、ケト、エーテル
またはチオエーテル基で置換されている]で表される少
なくとも1種の構造単位を50から98重量%含んでい
て3,000から15,000の分子量を有する少なく
とも1種の低分子量コポリマー結合剤成分;および式
フェニル、アルキルフェニルまたはアリールであり、R
7は、フェニル、アルキルフェニル、アリール、−CO
OR8または−CONR4R5であり、R8は、Hまたはア
ルキルであり、そしてここで、アルキルは炭素原子を1
から8個含む]で表される構造単位を含んでいて40,
000から500,000の分子量を有する少なくとも
1種の高分子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分;
を含む共結合剤系、(b)アクリル化ウレタンモノマー
成分、(c)光開始剤または光開始剤系、および(d)
ブロック化ポリイソシアネート架橋剤、を含む光重合性
耐久被覆材組成物。
ボン酸含有構造単位がエチレン系不飽和カルボン酸を含
む第1項の光重合性耐久被覆材組成物。
クリル酸、メタアクリル酸、マレイン酸、マレイン酸の
半エステルもしくは無水物、イタコン酸、イタコン酸の
半エステルもしくは無水物、シトラコン酸またはシトラ
コン酸の半エステルもしくは無水物を含む第2項の光重
合性耐久被覆材組成物。
クリル酸またはメタアクリル酸を含む第3項の光重合性
耐久被覆材組成物。
コポリマー結合剤の5から25重量%を構成する第1項
の光重合性耐久被覆材組成物。
単位(A)がスチレンまたはアクリル酸およびメタアク
リル酸のエステルおよびアミド類を含む第1項の光重合
性耐久被覆材組成物。
単位(A)がメタアクリル酸メチル、メタアクリル酸エ
チル、メタアクリル酸ブチル、メタアクリルアミド、ア
クリル酸メチル、アクリル酸エチル、アクリル酸ブチ
ル、アクリル酸ヒドロキシエチル、メタアクリル酸ヒド
ロキシエチル、アクリルアミドまたはスチレンを含む第
6項の光重合性耐久被覆材組成物。
ー結合剤成分の構造単位(B)がスチレン、メタアクリ
ル酸、メタアクリル酸メチル、メタアクリル酸エチル、
メタアクリル酸ブチル、アクリル酸、アクリル酸メチ
ル、アクリル酸エチル、アクリル酸ブチル、オクチルア
クリルアミド、アクリル酸ヒドロキシエチル、メタアク
リル酸ヒドロキシエチル、メタアクリル酸ヒドロキシプ
ロピルまたはメタアクリル酸t−ブチルアミノエチルを
含む第1項の光重合性耐久被覆材組成物。
またはアクリル酸を含む第8項の光重合性耐久被覆材組
成物。
ー結合剤がメタアクリル酸メチルとアクリル酸エチルと
メタアクリル酸のコポリマーを含む第1項の光重合性耐
久被覆材組成物。
ー結合剤がアクリル酸エチルとアクリル酸のコポリマー
を含む第1項の光重合性耐久被覆材組成物。
ー結合剤がスチレンとマレイン酸の無水物、酸、エステ
ル、半エステルまたは半アミドとのコポリマーを含む第
1項の光重合性耐久被覆材組成物。
て、該低分子量コポリマー結合剤成分を2から50重量
%および該高分子量カルボン酸コポリマー結合剤成分を
50から98重量%含む第1項の光重合性耐久被覆材。
分が構造:
1およびQ4は、未置換であるか或は低級アルキル基で置
換されていて連結員として低級アルキレン基を含んでい
てもよい芳香族基であり、Q2およびQ3は、独立して、
1から10個の炭素原子を有するポリオキシアルキレン
であり、そしてQ5およびQ6は、独立して、1から3個
の炭素原子を有するアルキルまたはHである]で表され
る第1項の光重合性耐久被覆材組成物。
分が、トルエンジイソシアネートとポリオールを反応さ
せそしてその末端イソシアネート基をアクリル酸ヒドロ
キシエチルでエンドキャップさせた生成物を含むウレタ
ンジアクリレートである第14項の光重合性耐久被覆材
組成物。
分が、トルエンジイソシアネートとポリオールを反応さ
せそしてその末端イソシアネート基をアクリル酸ヒドロ
キシエチルでエンドキャップさせた生成物を含むウレタ
ントリアクリレートである第14項の光重合性耐久被覆
材組成物。
分がウレタンのジアクリレートまたはトリアクリレート
である第1項の光重合性耐久被覆材組成物。
分がカルボン酸基を含有するウレタンジアクリレートま
たはトリアクリレートである第1項の光重合性耐久被覆
材組成物。
架橋剤が、ベータカルボニル化合物、ヒドロキサメート
類、トリアゾール類、イミダゾール類、テトラヒドロピ
リミジン類、ラクタム類、ケトキシミン類、オキシム
類、低分子量アルコール類、フェノール類またはチオフ
ェノール類でブロックされたイソシアネート基を有する
脂肪族、環状脂肪族、芳香族または芳香脂肪族のジ、ト
リもしくはテトライソシアネートを含む第1項の光重合
性耐久被覆材組成物。
が、メチルエチルケトキシムでブロックされたヘキサメ
チレンジイソシアネートの三量体を含む第19項の光重
合性耐久被覆材組成物。
が、メチルエチルケトキシムでブロックされたイソホロ
ンジイソシアネートを含む第19項の光重合性耐久被覆
材組成物。
を4から45重量%および該高分子量カルボン酸コポリ
マー結合剤成分を55から96重量%含む第13項の光
重合性耐久被覆材。
が4,000から10,000の範囲の分子量を有しそ
して該高分子量コポリマー結合剤成分が100,000
から250,000の範囲の分子量を有する第22項の
光重合性耐久被覆材。
に対する該低分子量コポリマー結合剤成分の比率が0.
05から0.55の範囲である第23項の光重合性耐久
被覆材。
酸エチルとアクリル酸のコポリマーを含みそして該高分
子量結合剤成分がメタアクリル酸メチルとアクリル酸エ
チルとアクリル酸のコポリマーを含む第23項の光重合
性耐久被覆材。
質基質、(b)該軟質基質の少なくとも1つの側上の導
電性回路パターン、および(c)該導電性回路パターン
上に付けた第1項の耐久被覆材組成物の最外層、を含む
印刷回路。
質基質、(b)該硬質基質の少なくとも1つの側上の導
電性回路パターン、および(c)該導電性回路パターン
上に付けた第1項の耐久被覆材組成物の最外層、を含む
印刷回路。
よび硬質両方の基質、(b)該軟質もしくは硬質基質の
少なくとも1つの側上の導電性回路パターン、および
(c)該導電性回路パターン上に付けた第1項の耐久被
覆材組成物の最外層、を含む印刷回路。
の最外層に隣接する第28項の印刷回路。
の最外層に隣接する第28項の印刷回路。
Claims (4)
- 【請求項1】 水系処理可能な軟質の光重合性耐久被覆
材組成物であって、 (a)少なくとも1種のカルボン酸含有構造単位を2か
ら50重量%および式 【化1】 [式中、R1は、H、アルキル、フェニルまたはアリー
ルであり、R2は、H、CH3、フェニル、アリール、−
COOR3、−CONR4R5または−CNであり、そし
てR3、R4およびR5は、独立して、H、アルキルまた
はアリールであり、これは未置換であるか或は1個以上
のヒドロキシ、エステル、ケト、エーテルまたはチオエ
ーテル基で置換されている]で表される少なくとも1種
の構造単位を50から98重量%含んでいて3,000
から15,000の分子量を有する少なくとも1種の低
分子量コポリマー結合剤成分;および式 【化2】 [式中、R6は、H、アルキル、−CN、フェニル、ア
ルキルフェニルまたはアリールであり、R7は、フェニ
ル、アルキルフェニル、アリール、−COOR8または
−CONR4R5であり、R8は、Hまたはアルキルであ
り、そしてここで、アルキルは炭素原子を1から8個含
む]で表される構造単位を含んでいて40,000から
500,000の分子量を有する少なくとも1種の高分
子量カルボン酸含有コポリマー結合剤成分;を含む共結
合剤系、 (b)アクリル化ウレタンモノマー成分、 (c)光開始剤または光開始剤系、および (d)ブロック化ポリイソシアネート架橋剤、を含む光
重合性耐久被覆材組成物。 - 【請求項2】 軟質印刷回路であって、 (a)軟質基質、 (b)該軟質基質の少なくとも1つの側上の導電性回路
パターン、および (c)該導電性回路パターン上に付けた請求項1の耐久
被覆材組成物の最外層、を含む印刷回路。 - 【請求項3】 硬質印刷回路であって、 (a)硬質基質、 (b)該硬質基質の少なくとも1つの側上の導電性回路
パターン、および (c)該導電性回路パターン上に付けた請求項1の耐久
被覆材組成物の最外層、を含む印刷回路。 - 【請求項4】 印刷回路であって、 (a)軟質および硬質両方の基質、 (b)該軟質もしくは硬質基質の少なくとも1つの側上
の導電性回路パターン、および (c)該導電性回路パターン上に付けた請求項1の耐久
被覆材組成物の最外層、を含む印刷回路。
Applications Claiming Priority (2)
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---|---|---|---|
US43121495A | 1995-04-28 | 1995-04-28 | |
US431214 | 1995-04-28 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
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Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP8126269A Pending JPH08319456A (ja) | 1995-04-28 | 1996-04-24 | 印刷回路用の水系処理可能な軟質の光画像化可能耐久被覆材 |
Country Status (5)
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---|---|
US (1) | US5728505A (ja) |
EP (1) | EP0740210B1 (ja) |
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KR (1) | KR100229831B1 (ja) |
DE (1) | DE69610519T2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6091137A (en) * | 1996-05-31 | 2000-07-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device substrate and method of manufacturing the same |
Families Citing this family (21)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0845479B1 (en) * | 1996-11-28 | 2004-07-14 | Kaneka Corporation | Method for producing a hydroxyl-terminated (meth)acrylic polymer, the said polymer |
US6017561A (en) * | 1997-04-04 | 2000-01-25 | The Clorox Company | Antimicrobial cleaning composition |
US6207346B1 (en) | 1997-04-09 | 2001-03-27 | Advanced Coatings International | Waterborne photoresists made from urethane acrylates |
US6004725A (en) * | 1997-12-01 | 1999-12-21 | Morton International, Inc. | Photoimageable compositions |
JP2001072960A (ja) * | 1999-09-02 | 2001-03-21 | Lintec Corp | カード用封止材組成物及びそれを用いたカードの製造方法 |
US7105583B2 (en) * | 2001-12-20 | 2006-09-12 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Radiation-curable compositions for optical fiber coating materials |
KR100445728B1 (ko) * | 2002-01-10 | 2004-08-25 | 주식회사 코오롱 | 페녹시 그룹을 갖는 감광성 올리고머와 그의 제조방법 |
TW200422336A (en) * | 2002-11-08 | 2004-11-01 | Mitsubishi Chem Corp | Radiation curable resin composition and cured product thereof |
US7064154B2 (en) | 2003-02-06 | 2006-06-20 | Ppg Industries Ohio, Inc. | Radiation-curable composition for optical fiber coating materials |
US7220490B2 (en) * | 2003-12-30 | 2007-05-22 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Polyimide based adhesive compositions useful in flexible circuit applications, and compositions and methods relating thereto |
KR100611446B1 (ko) * | 2004-05-18 | 2006-08-10 | 제일모직주식회사 | 수성 현상가능한 감광성 코팅액 조성물의 제조방법 |
JP2008516644A (ja) * | 2004-09-16 | 2008-05-22 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | コンパクトな誘導要素を持つ磁気共鳴受信コイル |
US7524617B2 (en) * | 2004-11-23 | 2009-04-28 | E.I. Du Pont De Nemours And Company | Low-temperature curable photosensitive compositions |
US7618766B2 (en) * | 2005-12-21 | 2009-11-17 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Flame retardant photoimagable coverlay compositions and methods relating thereto |
WO2007091442A1 (ja) * | 2006-02-10 | 2007-08-16 | Konica Minolta Medical & Graphic, Inc. | 平版印刷版材料 |
US20070236859A1 (en) * | 2006-04-10 | 2007-10-11 | Borland William J | Organic encapsulant compositions for protection of electronic components |
US20090191491A1 (en) * | 2008-01-28 | 2009-07-30 | John Ganjei | Method of Creating an Image in a Photoresist Laminate |
FR2927631B1 (fr) * | 2008-02-15 | 2010-03-05 | Arkema France | Utilisation d'un promoteur d'adherence dans une solution de nettoyage de la surface d'un substrat a base de tpe et/ou de pa, pour augmenter l'adherence dudit substrat avec les joints de colle aqueux. |
CN101650233A (zh) * | 2008-08-13 | 2010-02-17 | Abb技术股份公司 | 温度传感器 |
DE102008038875B3 (de) * | 2008-08-13 | 2010-01-28 | Abb Technology Ag | Temperaturfühler für eine prozesstechnische industrielle Anlage |
JP6707146B2 (ja) * | 2016-12-08 | 2020-06-10 | 富士フイルム株式会社 | 転写フィルム、電極保護膜、積層体、静電容量型入力装置、及び、タッチパネルの製造方法 |
Family Cites Families (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3547730A (en) * | 1966-12-16 | 1970-12-15 | Du Pont | Machine for making resist images |
US3469982A (en) * | 1968-09-11 | 1969-09-30 | Jack Richard Celeste | Process for making photoresists |
JPS592018B2 (ja) * | 1975-03-26 | 1984-01-17 | 住友化学工業株式会社 | カイリヨウサレタカンコウセイジユシソセイブツカラナルゲンケイ |
US4349620A (en) * | 1979-06-15 | 1982-09-14 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Solvent developable photoresist film |
JPS57204032A (en) * | 1981-06-10 | 1982-12-14 | Somar Corp | Photosensitive material |
DE3134123A1 (de) * | 1981-08-28 | 1983-03-17 | Hoechst Ag, 6000 Frankfurt | Durch strahlung polymerisierbares gemisch und daraushergestelltes photopolymerisierbares kopiermaterial |
US4621043A (en) * | 1983-01-31 | 1986-11-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Storage stable photopolymerizable composition |
US4937172A (en) * | 1986-12-02 | 1990-06-26 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Photopolymerizable composition having superior adhesion, articles and processes |
DE3814567A1 (de) * | 1988-04-29 | 1989-11-09 | Du Pont Deutschland | Photopolymerisierbare zusammensetzungen mit carboxylgruppen enthaltenden bindemitteln |
DE59009431D1 (de) * | 1989-06-16 | 1995-08-31 | Ciba Geigy Ag | Photoresist. |
JP2700933B2 (ja) * | 1989-11-28 | 1998-01-21 | 日本石油株式会社 | 永久保護膜用樹脂組成物および永久保護膜の製造方法 |
JPH04274428A (ja) * | 1991-03-01 | 1992-09-30 | Nippon Paint Co Ltd | オフセット印刷用感光性組成物 |
DE69321103T2 (de) * | 1992-02-24 | 1999-03-11 | E.I. Du Pont De Nemours And Co., Wilmington, Del. | Flexible, wässrig entwickelbare, durch licht abblidbare dauerhafte ueberzugsmittel fuer gedruckte schaltungen |
US5288589A (en) * | 1992-12-03 | 1994-02-22 | Mckeever Mark R | Aqueous processable, multilayer, photoimageable permanent coatings for printed circuits |
TW369557B (en) * | 1994-04-07 | 1999-09-11 | Du Pont | Pliable, aqueous processable, photoimageable permanent coatings for printed circuits |
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1996
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US6091137A (en) * | 1996-05-31 | 2000-07-18 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Semiconductor device substrate and method of manufacturing the same |
Also Published As
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