JPH08307098A - Icパッケージの位置決め方法および装置 - Google Patents

Icパッケージの位置決め方法および装置

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JPH08307098A
JPH08307098A JP11159895A JP11159895A JPH08307098A JP H08307098 A JPH08307098 A JP H08307098A JP 11159895 A JP11159895 A JP 11159895A JP 11159895 A JP11159895 A JP 11159895A JP H08307098 A JPH08307098 A JP H08307098A
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JP
Japan
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package
positioning
dropped
lead
stage
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP11159895A
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English (en)
Inventor
Mitsuru Watanabe
満 渡辺
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
Application filed by Oki Electric Industry Co Ltd filed Critical Oki Electric Industry Co Ltd
Priority to JP11159895A priority Critical patent/JPH08307098A/ja
Publication of JPH08307098A publication Critical patent/JPH08307098A/ja
Withdrawn legal-status Critical Current

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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 リードに付着した樹脂カス等の影響を受けず
に確実に位置決めを行うことのできるICパッケージの
位置決め方法および装置を提供することを目的とする。 【構成】 底面と、この底面から錐状に広がる側壁と、
この底面周囲の開口部とを有する位置決めステージを用
いてICパッケージの位置決めを行う。また、位置決め
ステージに振動手段を設け、ICパッケージを落とし込
むと同時に位置決めステージに振動を与えることにより
確実な位置決めを行う。また、ICパッケージを落とし
込むと同時に位置決めステージ上方からガス噴射手段に
よりガスを供給することにより確実な位置決めを行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、ICパッケージのリ
ード外観検査装置および特性選別装置などの検査を行う
際のICパッケージの位置決め方法および装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】表面実装型のICパッケージの検査工程
においては、リードの浮き、ピッチ等を測定するリード
外観検査装置及びICの電気的特性試験を行う特性選別
装置がある。いずれの装置においても一般にICパッケ
ージが一定数量入れられたトレイをローダ部に装填し、
ICパッケージを1個づつ順次ロボットハンド等によっ
て吸着して搬送し、アライメントステージにて位置決め
した後、次に検査部に搬送され良否判定を行った後アン
ローダー側の所定のトレイに搬送されて収納されるよう
に構成されている。ここでアライメントステージの形状
としては、パッケージ下部のモールド外形が嵌まり込む
ように4辺のテーパー形状のコマが設けられた構造とな
っている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記構
成の試験装置においては、トレイからアライメントステ
ージに搬送する際、若干のずれがあり、このとき例えば
被試験ICパッケージが途中で引掛かって斜めになって
しまったりして確実に位置決めすることができずこの状
態で検査部に搬送された場合、リード外観検査装置では
検査不良となってしまったり、特性選別装置では、ソケ
ットに確実にICリードが接触しないといったコンタク
ト不良が発生してしまったり、場合によっては特性試験
ができないばかりかICのリードを変形させてしまうと
いう問題があった。
【0004】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に本願発明では、底面と、この底面から錐状に広がる側
壁と、底面周囲の開口部とを有する位置決めステージを
用いることによりICパッケージの位置決めを行う。さ
らに、このステージに振動を与える手段を設け、振動を
与えながらICパッケージをステージに落し込む。ま
た、このステージ上方からガスを吹き付ける手段を設
け、ICパッケージにガスを吹き付けながらステージに
落し込む。
【0005】
【作用】この発明によれば、錐状の上部からICパッケ
ージを落し込むため、この斜面に添ってICパッケージ
が落し込まれ、位置決めを行う。また、ステージに与え
た振動により、ICパッケージが傾いて落し込まれた場
合でも確実に位置決めを行うことができる。また、上方
からガスを吹き付けることにより同様に確実に位置決め
をすることができる。
【0006】
【実施例】本願発明の実施例を図面を用いて説明する。
図1は本願発明のアライメントステージであり、(a)
は上面図、(b)はA−A’断面図、(c)はB−B’
断面図である。
【0007】本願発明の第1の実施例として図1のアラ
イメントステージを用いて、短手方向両端にリードが出
ているパッケージを位置決めする方法について説明す
る。このアライメントステージは、パッケージの4方向
をテーパーガイド1〜4でサポートして、落し込むよう
にして位置決めするものであり、上記パッケージ形状か
らモールド部分2辺をテーパーガイド1、2で、リード
部分2辺をテーパーガイド3、4でそれぞれガイドする
ように構成したものである。このテーパーガイド部分の
長手方向L1および短手方向L2の寸法は、搬送ロボッ
ト等によるアライメントステージのの中心位置までの搬
送誤差分を吸収できる寸法に形成してある。
【0008】テーパガイド部におけるトレイよりアライ
メントステージまでのティーチング誤差分を吸収するよ
うに形成されたL1・L2のテーパー部に落し込まれた
パッケージは載置部L3・L4にて位置決めされる。こ
の際のリード側寸法L3は例えば14.0m/m±0.2
に対して14.3m/mに形成され、モールド側寸法L4
は例えば8.0m/m±0.1に対して、8.2m/mに形成
されている。ここで上記L1・L2部の寸法はアライメ
ントステージ中心より各XY(+・−)方向で数箇所移
動させた実験を行い、最適に落し込まれた値となってい
る。また、このテーパー部の角度は、例えば水平方向に
対して60°に形成したとき、最も効果的にパッケージ
を落し込むことが出来た。さらに載置部において開口部
5がリードに対する両端部に形成されておりリード部が
接触しないよう逃がしてある。載置部において逃げを設
けた理由は、リード浮き、曲がり、樹脂カス付着などの
リード形成状態に依存されないためである。
【0009】これにより、パッケージの傾き、ずれ等を
防いだ正確な位置決めを行うことができる。また、開口
部5を設けることにより、リードからはがれ落ちた樹脂
カス等の再付着を防止することができる。さらに、この
開口部に吸引装置を接続し、樹脂カス等を吸引するよう
にすれば、より効果的に樹脂カス等の再付着を防止でき
る。
【0010】次に、本願発明の第2の実施例について説
明する。第2の実施例が、第1の実施例と異なっている
点はアライメントステージに振動手段を設けている点で
ある。この第2の実施例ではアライメントステージにパ
ッケージを落し込むことによって位置決めを行う際に、
図示しないロボットハンド等の搬送手段よりこのパッケ
ージを落し込むと同時にアライメント部に連動する振動
手段を作動させることによって位置決めをするようにし
たものである。振動手段の構成例としては図2に示すよ
うなアライメント部に接続された小型バイブレータ6
(周波数可変)を作動させることによってこの振動によ
りテーパー部をパッケージが滑動することによって確実
に載置部にて位置決めするようにしたものである。ここ
で小型バイブレータ6の振動周波数としては例えば10
000〜13000VPM(振動数/分)とするとよ
い。
【0011】第2の実施例によれば小型バイブレータに
よりアライメント部に振動を与えるのでテーパー部にゴ
ミおよびリード部分に樹脂カス等が付着していた場合ま
たは異常なリード形状の場合においても与えた振動によ
り付着した樹脂カスが取れ、確実に位置決めすることが
可能となった。
【0012】次に本願発明の第3の実施例について説明
する。第3の実施例は、第1の実施例で構成されたアラ
イメントステージにパッケージが落し込まれた後、アラ
イメントステージ上部近傍より不活性ガスなどを吹き付
ける手段を設けたものである。この構成としては例えば
図3に示すようにアライメントステージ上部に設けられ
た噴射ノズル7から、吹き付け角度を水平方向に対して
50°程度の角度で、位置決めをするパッケージに不活
性ガスまたは、ドライエアーを0.1〜0.5Kgf/mm2
程度吹き付ける構成となっている。このように第3の実
施例では、不活性ガス等を吹き付けているため、リード
に付着していた樹脂カス等が効果的に載置部の開口部に
落ち、樹脂カス等の再付着の影響を受けずに確実なアラ
イメントが行える。また、吹き付けるガスを利用してパ
ッケージに帯電した静電気を除去するイオナイザーブロ
ーとしても効果が期待できる。
【0013】
【発明の効果】本願発明によれば、テーバーを有し、か
つ底面周囲に開口部を設けた構成のアライメントステー
ジによりパッケージの位置決めを行うので、リードに付
着した樹脂カス等に影響されずに確実にパッケージの位
置決めを行うことができる。また、アライメントステー
ジに振動手段を付加したため、アライメントステージに
傾いてパッケージが落し込まれた時もこの振動手段によ
り与えられる振動により確実に位置決めすることができ
る。また、アライメントステージ上部近傍よりガスを噴
射するようにしたため、パッケージを確実に位置決めす
ると共に、リードに付着した樹脂カス等も取り除くこと
ができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本願発明の第1の実施例の位置決め装置の概略
構成図である。
【図2】本願発明の第2の実施例の位置決め装置の概略
構成図である。
【図3】本願発明の第3の実施例の位置決め装置の概略
構成図である。
【符号の説明】
1〜4 テーパーガイド 5 開口部

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 モールド部と、このモールド部から突出
    した外部リードとを有するICパッケージを準備する工
    程と、 前記ICパッケージと略同一形状の底面を有し、且つ、
    この底面から錐状に広がる側壁とを有し、且つ、前記底
    面周囲に開口部を有する位置決めステージに落とし込む
    工程とを含むことを特徴とするICパッケージの位置決
    め方法。
  2. 【請求項2】 請求項1項記載のICパッケージの位置
    決め方法において、 前記ICパッケージを前記位置決めステージに落とし込
    む際に、前記位置決めステージに振動を与えながら落と
    し込むことを特徴とするICパッケージの位置決め方
    法。
  3. 【請求項3】 請求項1項記載のICパッケージの位置
    決め方法において、 前記ICパッケージを前記位置決めステージに落とし込
    む際に、前記位置決めステージ上から前記ICパッケー
    ジに向けて気体を吹き付けながら落とし込むことを特徴
    とするICパッケージの位置決め方法。
  4. 【請求項4】 底面と、 前記底面から錐状に広がる側壁と、 前記底面周囲の開口部とを有するICパッケージの位置
    決め装置。
  5. 【請求項5】 請求項4項記載のICパッケージの位置
    決め装置において、 さらに前記位置決め装置に振動を与える振動供給手段を
    備えたことを特徴とするICパッケージの位置決め装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項4項記載の位置決め装置におい
    て、 さらに前記位置決めステージ上方から前記位置決め装置
    の底面方向に気体を吹き付ける気体噴射手段を備えたこ
    とを特徴とするICパッケージの位置決め装置。
JP11159895A 1995-05-10 1995-05-10 Icパッケージの位置決め方法および装置 Withdrawn JPH08307098A (ja)

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JP11159895A JPH08307098A (ja) 1995-05-10 1995-05-10 Icパッケージの位置決め方法および装置

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JPH08307098A true JPH08307098A (ja) 1996-11-22

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015211188A (ja) * 2014-04-30 2015-11-24 株式会社春日工作所 位置決め装置及び半導体検査装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015211188A (ja) * 2014-04-30 2015-11-24 株式会社春日工作所 位置決め装置及び半導体検査装置

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