JPH0829497A - Ｉｃテスタのデータ転送回路 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 パターンデータ１１とリレーデータ２１を１
ラインで共用するＩＣテスタのデータ転送回路を提供す
る。 【構成】 フォーマットカード１とピンカード３のデー
タ転送用ラインを１ラインにする。フォーマットカード
１のセレクタ１Ａは、リレーコントローラ２の切換信号
２２で、パターンデータ１１とリレーデータ２１を交互
に出力する。パターンデータ１１はセレクタ３Ａとレジ
スタ３Ｂに並列に入力される。パターンデータ１１をピ
ンカード３に出力したときは、パターンデータ１１はセ
レクタ３Ａを介してドライバ３Ｃに出力する。リレーデ
ータ２１をピンカード３に出力したときは、レジスタ３
Ｂに保持されたパターンデータ１１はセレクタ３Ａを介
してドライバ３Ｃに出力され、リレーデータ２１はリレ
ーデータ保持回路３Ｄに保持され、ＤＵＴの試験機能を
切り換える。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】この発明は、ＩＣテスタのデータ
転送回路についてのものである。特に、フォーマッタの
フォマートカードとピンエレクトロニクスのピンカード
とのデータ転送回路についてのものである。

【０００２】

【従来の技術】次に、従来技術によるデータ転送回路の
構成を図２により説明する。図２の１０はフォーマッタ
のフォマートカード、２０はリレーコントローラ、３０
はピンエレクトロニクスのピンカードである。図２で
は、フォマートカード１０はパターンデータ１１をピン
カード３０へ送出する。リレーコントローラ２０はリレ
ーデータ２１とリレーアドレス２５とクロック２６をピ
ンカード３０へ送出する。

【０００３】次に、図２の動作を説明する。リレーコン
トローラ２０はピンカード３０へリレーデータ２１・リ
レーアドレス２５・クロック２６を送出することにより
ピンカード３０内のリレーを設定する。次に、フォーマ
ットカード１０からピンカード３０へパターンデータ１
１が送出され、ＤＵＴを測定する。図２では、リレーデ
ータ２１とパターンデータ１１のデータはピンカード３
０に同時に転送されることはない。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】図２ではパターンデー
タ１１とリレーデータ２１は別ラインで接続されている
ので、ＤＵＴのピン数がＮ倍に増加すると、パタンデー
タ１１の接続線とリレーデータ２１の接続線もＮ倍さ
れ、線材の増加はまぬがれない。

【０００５】この発明は、ピンカードへ送出されるパタ
ーンデータとリレーデータを時分割し、前記両データを
１本のラインで共用するＩＣテスタのデータ転送回路を
提供することを目的とする。

【０００６】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、フォーマットカード１はＤＵＴを試験
するパターンデータ１１が入力されるセレクタ１Ａをも
ち、リレーコントローラ２はＤＵＴの試験機能を切り換
えるリレーデータ２１をセレクタ１Ａに入力し、セレク
タ１Ａは切換信号２２を入力することによりセレクタ１
Ａの出力をパターンデータ１１からリレーデータ２１に
切り換え、保持クロック２３と、切換信号２４と、リレ
ーアドレス２５と、クロック２６とを出力し、ピンカー
ド３はセレクタ３Ａとレジスタ３Ｂとドライバ３Ｃとリ
レーデータ保持回路３Ｄとで構成し、セレクタ３Ａはセ
レクタ１Ａのパターンデータ１１が入力され、レジスタ
３Ｂはパターンデータ１１が入力され、保持クロック２
３の出力タイミングでパターンデータ１１をレジスタ３
Ｂに保持し、セレクタ３Ａは切換信号２４を入力するこ
とによりセレクタ１Ａのパターンデータ１１からレジス
タ３Ｂが保持するパターンデータ１１に入力切り換え
し、ドライバ３Ｃはパターンデータ１１が入力され、Ｄ
ＵＴを試験するレベルに変換されたテストパターンを出
力し、リレーデータ保持回路３Ｄはリレーアドレス２５
とクロック２６が入力され、セレクタ１Ａのリレーデー
タ２１が入力保持される。

【０００７】

【作用】前述の構成に依れば、フォーマットカード１の
セレクタ１Ａは、リレーコントローラ２からの切換信号
２２により、パターンデータ１１とリレーデータ２１に
出力を切り換える。フォーマットカード１とピンカード
３のデータ転送用ラインは１ラインであり、前記ライン
にパターンデータ１１とリレーデータ２１が交互に送出
される。

【０００８】ピンカード３に入力されたパターンデータ
１１はセレクタ３Ａとレジスタ３Ｂに並列に入力され
る。パターンデータ１１がピンカード３に出力されたと
きは、前記パターンデータ１１はセレクタ３Ａを介して
ドライバ３Ｃに出力される。リレーデータ２１がピンカ
ード３に出力されたときは、前もってレジスタ３Ｂに保
持された前記パターンデータ１１は切換信号２４により
セレクタ３Ａを介してドライバ３Ｃに出力される。前記
リレーデータ２１はリレーデータ保持回路３Ｄに保持さ
れ、リレーアドレス２５とクロック２６によりＤＵＴの
試験機能を切り換える。

【０００９】

【実施例】次に、この発明によるデータ転送回路の構成
を図１の実施例により説明する。図１の１はフォーマッ
タのフォマートカード、２はリレーコントローラ、３は
ピンエレクトロニクスのピンカードである。

【００１０】図１では、フォーマットカード１はセレク
タ１Ａを備えている。セレクタ１Ａの第１の入力端子Ａ
にはフォーマットカード１が生成するパターンデータ１
１が入力される。セレクタ１Ａの第２の入力端子Ｂには
リレーコントローラ２から送出されるリレーデータ２１
が入力される。セレクタ１Ａの切換端子ＳＥＬにリレー
コントローラ２の切換信号２２が入力されると、セレク
タ１Ａの出力をパターンデータ１１とリレーデータ２１
に切り換える。

【００１１】リレーコントローラ２は複数のフォーマッ
トカード１へ複数のリレーデータ２１と切換信号２２を
送出する。また、リレーコントローラ２はピンカード３
のレジスタ３Ｂへ保持クロック２３を送出し、ピンカー
ド３のセレクタ３Ａに切換信号２４を送出する。リレー
コントローラ２のリレーアドレス２５およびクロック２
６はピンカード３のリレーデータ保持回路３Ｄの送出さ
れる。

【００１２】ピンカード３はセレクタ３Ａとレジスタ３
Ｂとドライバ３Ｃとリレーデータ保持回路３Ｄとで構成
される。セレクタ１Ａの出力はセレクタ３Ａの入力端子
Ａに入力されると共に、レジスタ３Ｂの入力端子Ｄに並
列に入力される。セレクタ３Ａはパターンデータ１１を
ドライバ３Ｃに入力する。また、セレクタ１Ａの出力は
リレーデータ保持回路３Ｄの入力端子Ｄに入力される。

【００１３】次に、図１の作用を説明する。図１では、
ドライバ機能のときセレクタ１Ａの切換信号２２はセレ
クタ１Ａの入力端子Ａ側のパターンデータ１１を選び、
セレクタ３Ａの切換信号２４はセレクタ３Ａの入力端子
Ａ側を選んでいる。

【００１４】図１では、パターンデータ１１はセレクタ
３Ａを介してドライバ３Ｃに接続しているため、リレー
データ２１をピンカード３に送る前にはパターンデータ
１１をピンカード３内に保持しておく必要がある。すな
わち、この発明では、ピンカード内のドライバ機能の他
の測定機能を動作させるため、リレーデータ２１を作り
直す間、レジスタ３Ｂのパターンデータ１１をドライバ
３Ｃに送出する。

【００１５】このため、レジスタ３Ｂに保持クロック２
３を送り、パターンデータ１１を保持しておき、セレク
タ３Ａへの切換信号２４を用いてセレクタ３Ａを入力端
子Ｂ側を選び、ドライバ３Ｃへのパターンデータ１１を
保持する。

【００１６】次に、リレーデータ２１を転送する。リレ
ーデータ２１の転送時はセレクタ１Ａの切換信号２２を
用いてセレクタ１Ａを入力端子Ｂ側に切り換え、リレー
コントローラ２からリレーデータ２１とリレーアドレス
２５とクロック２６がピンカード３内のリレーデータ保
持回路３Ｄへ送られ転送を終了する。

【００１７】次に、パターンデータ１１を転送する。パ
ターンデータ１１の転送時はセレクタ１Ａの切換信号２
２を用いて、セレクタ１Ａを入力端子Ａ側に切り換える
と共に、セレクタ３Ａの切換信号２４を用いてセレクタ
３Ａを入力Ａ側に切り換えた後、パターンデータ１１が
ピンカード３のドライバ３Ｃへ送られＤＵＴを測定す
る。

【００１８】

【発明の効果】この発明は、リレーデータとパターンデ
ータを１本のラインで共用し、リレーデータとパターン
データを時分割してデータ転送するので、ピンカードへ
接続されるデータ転送用の線材が半減できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明によるデータ転送回路の構成図であ
る。

【図２】従来技術によるデータ転送回路の構成図であ
る。

【符号の説明】

１ フォーマットカード １Ａ セレクタ ２ リレーコントローラ ３ ピンカード ３Ａ セレクタ ３Ｂ レジスタ ３Ｃ ドライバ ３Ｄ リレーデータ保持回路 １１ パターンデータ ２１ リレーデータ ２２ 切換信号 ２３ 保持クロック ２４ 切換信号 ２５ リレーアドレス ２６ クロック

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 フォーマットカード(1) はＤＵＴを試験
   するパターンデータ(11)が入力される第１のセレクタ(1
   A)をもち、 リレーコントローラ(2) はＤＵＴの試験機能を切り換え
   るリレーデータ(21)を第１のセレクタ(1A)に入力し、第
   １のセレクタ(1A)は第１の切換信号(22)を入力すること
   により第１のセレクタ(1A)の出力をパターンデータ(11)
   からリレーデータ(21)に切り換え、保持クロック(23)
   と、第２の切換信号(24)と、リレーアドレス(25)と、ク
   ロック(26)とを出力し、 ピンカード(3) は第２のセレクタ(3A)とレジスタ(3B)と
   ドライバ(3C)とリレーデータ保持回路(3D)とで構成し、 第２のセレクタ(3A)は第１のセレクタ(1A)のパターンデ
   ータ(11)が入力され、 レジスタ(3B)はパターンデータ(11)が入力され、保持ク
   ロック(23)の出力タイミングでパターンデータ(11)をレ
   ジスタ(3B)に保持し、 第２のセレクタ(3A)は第２の切換信号(24)を入力するこ
   とにより第１のセレクタ(1A)のパターンデータ(11)から
   レジスタ(3B)が保持するパターンデータ(11)に入力切り
   換えし、 ドライバ(3C)はパターンデータ(11)が入力され、ＤＵＴ
   を試験するレベルに変換されたテストパターンを出力
   し、 リレーデータ保持回路(3D)はリレーアドレス(25)とクロ
   ック(26)が入力され、第１のセレクタ(1A)のリレーデー
   タ(21)が入力保持されることを特徴とするＩＣテスタの
   データ転送回路。