JPH0825072A - レーザ溶接機用の溶接状態監視装置およびその監視方法 - Google Patents

レーザ溶接機用の溶接状態監視装置およびその監視方法

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JPH0825072A
JPH0825072A JP6155917A JP15591794A JPH0825072A JP H0825072 A JPH0825072 A JP H0825072A JP 6155917 A JP6155917 A JP 6155917A JP 15591794 A JP15591794 A JP 15591794A JP H0825072 A JPH0825072 A JP H0825072A
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 再現性のある高品質なレーザ溶接加工を行う
ために、信頼性の高い溶接状態監視装置を提供する。 【構成】 溶接加工用のレーザ光10が被加工物13に
照射される前の直接光11を監視し、その監視結果を光
強度の経時変化を示すモニタ出力15を出力する光検出
器7と、前記レーザ光10が前記被加工物13に照射さ
れた後の反射光12を監視し、その監視結果を光強度の
経時変化を示すモニタ出力16を出力する光検出器8
と、前記光検出器7から出力されるモニタ出力15と前
記光検出器8から出力されるモニタ出力16とに基づい
て、前記被加工物13における溶接状態を判定する比較
部9とを備え、被加工物13におけるレーザ光10の吸
収率の経時変化から溶接状態の良否を判定する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、レーザ溶接機による溶
接において、被加工物の溶接状態の良否判定を溶接加工
と同時に、かつ、被加工物を破壊することなく行うこと
のできるレーザ溶接機の溶接状態監視装置およびその監
視方法に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の溶接状態監視装置は、図3に示す
ように、溶接機31の外部に設置されたモニタ専用光源
32からの照射光を全反射ミラー34、反射ミラー35
等の光学系により被加工物13まで導き、その照射光の
被加工物13での反射散乱光を検出装置33でモニタし
ていた。この検出装置33としては、溶接部分の形状を
検出するイメージセンサや、被加工物13からの熱線を
検出するイメージセンサ等があった。そして、検出装置
13における検出結果に基づいて、被加工物13の溶接
部分の状態を監視していた。
【0003】この従来の溶接状態監視装置は、例えば、
特開昭61−199577号公報や、特開平3−278
82号公報に開示されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】この従来の溶接状態監
視装置では、溶接部の表面の状態しかモニタすることが
できない。したがって、溶接の良否判定を、溶接部の表
面状態の情報だけに基づいて推測で行わなければなら
ず、甚だ信頼性に欠けるという問題点があった。
【0005】また、溶接加工用の光源(熱源)の他に、
モニタ専用の光源が必要なため、装置が複雑化、大規模
化してしまうという問題点もあった。
【0006】さらに、レーザ溶接機におけるモニタの場
合は、溶接加工に用いられるレーザ光が、モニタ用の照
射光に影響を及ぼし、モニタすべき反射光を著しく不安
定なものにしてしまうという問題点もあった。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、本発明のレーザ溶接機用の溶接状態監視装置は、
溶接加工用のレーザ光が被加工物上に照射される前の直
接光を監視し、その監視結果を光強度の経時変化を示す
第1の波形として出力する第1の光検出手段と、前記レ
ーザ光が前記被加工物に照射された後の反射光を監視
し、その監視結果を光強度の経時変化を示す第2の波形
として出力する第2の光検出手段と、前記第1の光検出
手段から出力される第1の波形と前記第2の光検出手段
から出力される第2の波形とに基づいて、前記被加工物
における溶接状態を判定する比較判定手段とを有する。
【0008】
【実施例】次に、本発明の実施例について図面を参照し
て説明する。
【0009】図1は、本発明のレーザ溶接機用の溶接状
態監視装置を適用したレーザ溶接機全体の構成を示す図
である。
【0010】レーザ発振器1は、被加工物13を溶接す
るためのレーザ光10を出射する。レーザ光10は、全
反射ミラー2により全反射ミラー3に向けて反射される
とともに、その一部が透過されて光検出器7へ入力され
る。全反射ミラー3は、全反射ミラー2で反射されたレ
ーザ光10を反射するとともに、このレーザ光10が被
加工物13上で反射した反射光を一部(1%程度)透過
する。全反射ミラー3で反射されたレーザ光10は、結
合レンズ4により結合され、光ファイバ5に入射され
る。光ファイバ5は、結合レンズ4により入射されたレ
ーザ光10を被加工物13上まで導く。光ファイバ5に
より導かれたレーザ光10は集光レンズ6で被加工物1
3上に集光される。光検出器7は、全反射ミラー2を透
過してきた直接透過光11を検出し、直接光モニタ出力
15を出力する。光検出器8は、全反射ミラー3を透過
した反射透過光12を検出し、反射光モニタ出力16を
出力する。比較部9は、光検出器7から出力される直接
光モニタ出力15と光検出器8から出力される反射光モ
ニタ出力16とを比較して被加工物13上の溶接状態を
判定し、溶接状態が悪ければ、異常出力17を出力す
る。
【0011】このような構成を有するレーザ溶接機で
は、レーザ発振器1から出射されたレーザ光10が、全
反射ミラー2および全反射ミラー3によって折り返さ
れ、結合レンズ4において結合されて光ファイバ5に入
射される。
【0012】一方、全反射ミラー2においては、レーザ
発振器1から出射されたレーザ光10の一部が透過され
る。そして、透過された直接透過光11を光検出器7で
検出し、直接光モニタ出力15を出力する。
【0013】次に、レーザ光10は光ファイバ5により
被加工物13まで導かれ、集光レンズ6によって被加工
物13上に集光される。この集光されたレーザ光10
は、一部が被加工物13に吸収されて溶接加工に使用さ
れ、残りは反射散乱する。
【0014】被加工物13で反射散乱した反射光は、集
光レンズ6により集光されて光ファイバ5に入射され
る。そして、光ファイバ5から出射した後、全反射ミラ
ー3で大部分が折り返されるが、その一部(1%程度)
が透過する。この全反射ミラー3を透過した反射透過光
12を光検出器8で検出し、反射光モニタ出力16を出
力する。
【0015】通常、レーザ光による溶接加工では、被加
工物にレーザ光が照射されると、被加工物の溶融が進行
し溶接されていく。そして、溶融の進行にしたがって、
レーザ光の反射率が刻々と変化していく。その反射率の
変化のしかたは、被加工物の材質・表面状態、レーザ出
力、レーザビームモード等様々な要因で異なる。したが
って、光検出器7および光検出器8では、反射透過光の
光量を検出するだけではなく、その反射透過光の強度の
変化をリアルタイムで検出しなければならない。つま
り、直接光モニタ出力15および反射光モニタ出力16
は、光強度の経時変化を示したデータとして出力され
る。
【0016】次に、光検出器7から出力される直接光モ
ニタ出力15と、光検出器8から出力される反射光モニ
タ出力16とが比較部9に入力される。比較部9におい
て、直接光モニタ出力15および反射光モニタ出力16
に基づいて、レーザ光10の被加工物13上における吸
収率が算出される。さらに、比較部9において、算出さ
れた吸収率が正常な溶接加工が行われた場合の吸収率と
比較して一致しているかどうかが検出され、この検出結
果に基づいて、被加工物13の溶接状態の良否が判定さ
れる。ここで、溶接状態が悪いと判定された場合には、
異常出力17が出力される。この異常出力17が出力さ
れた場合には、例えば、直ちに溶接加工を中断して加工
のやり直しを行ったり、溶接状態の判定結果によって
は、レーザ光の出力制御を行ったりするなど、適切な処
置を施す。
【0017】次に、比較部について図1および図2を参
照して説明する。
【0018】図2は、比較部の構成を示す図であり、差
分回路21は、光検出器7から出力された直接光モニタ
出力15と光検出器8から出力された反射光モニタ出力
16とが入力され、その差分データ24を算出する。比
較回路22は、差分回路21で算出された直接光モニタ
出力15と反射光モニタ出力16との差分データ24を
予め基準データ設定部23に設定された基準データ25
と比較することで、被加工物13の溶接状態を判定し、
溶接状態が悪いと判定した場合には、異常出力17を出
力する。
【0019】このような構成を有する比較部9では、ま
ず、差分回路21において、直接光モニタ出力15と反
射光モニタ出力16とに基づいて、リアルタイムで差分
データ24が算出されていく。この差分データ24は、
経時的に変化していく被加工物13上におけるレーザ光
10の吸収率を示す。つまり、差分回路21では、レー
ザ光10がどのように被加工物13に吸収されているか
を検出することができる。
【0020】次に、比較回路22には、差分回路21か
ら出力される差分データが逐次、入力される。また、こ
の差分データ24と同期して、基準データ設定部23に
設定された基準データ25も比較回路22に入力され
る。ここで、基準データ25は、正常な溶接加工を行っ
た場合の被加工物13上におけるレーザ光10の吸収率
の経時変化を示したデータである。
【0021】そして、比較回路22において、差分デー
タ24と基準データ25とが逐次、比較され、それぞれ
のデータが異なった場合には異常出力17が出力され
る。
【0022】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレーザ溶
接機用の溶接状態監視装置は、加工用のレーザ光をモニ
タ用として兼用しているために、光源を複数設ける必要
がなく、装置の構成を簡単にしている。
【0023】さらに、加工用の光ビームとモニタ用の光
ビームが干渉することもないので、安定したモニタを行
うことができる。
【0024】また、レーザ発振器から出射されたレーザ
光の直接光の強度と反射光の強度とを比較しているため
に、被加工物の表面状態だけでなく、レーザ光が被加工
物にどれだけ吸収されたかを直接検出することができ、
さらに、直接光および反射光の強度を時間波形としてモ
ニタしているので、溶接プロセスの変化を検知すること
ができ、より信頼性の高い溶接状態の良否判定を行うこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例の構成を示す図。
【図2】図1の比較部の構成を示す図。
【図3】従来の溶接状態監視装置の構成を示す図。
【符号の説明】
1 レーザ発振器 2、3 全反射ミラー 4 結合レンズ 5 光ファイバ 6 集光レンズ 7、8 光検出器 9 比較部 10 レーザ光 11 直接透過光 12 反射透過光 13 被加工物 15 直接光モニタ出力 16 反射光モニタ出力 17 異常出力 21 差分回路 22 比較回路 23 基準データ設定部 24 差分データ 25 基準データ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 溶接加工用のレーザ光が被加工物上に照
    射される前の直接光を監視し、その監視結果を光強度の
    経時変化を示す第1の波形として出力する第1の光検出
    手段と、 前記レーザ光が前記被加工物に照射された後の反射光を
    監視し、その監視結果を光強度の経時変化を示す第2の
    波形として出力する第2の光検出手段と、 前記第1の光検出手段から出力される第1の波形と前記
    第2の光検出手段から出力される第2の波形とに基づい
    て、前記被加工物における溶接状態を判定する比較判定
    手段とを有することを特徴とするレーザ溶接機用の溶接
    状態監視装置。
  2. 【請求項2】 前記比較判定手段は、 前記第1の波形と前記第2の波形との差分を算出する差
    分回路と、 前記差分回路から出力される差分データと、予め設定さ
    れた基準データとを比較し、その比較結果に基づいて前
    記被加工物における溶接状態を判定する比較回路とを有
    することを特徴とする前記請求項1に記載のレーザ溶接
    機用の溶接状態監視装置。
  3. 【請求項3】 前記差分回路は、 前記レーザ光の被加工物上における吸収率の経時変化を
    算出することを特徴とする前記請求項2に記載のレーザ
    溶接機用の溶接状態監視装置。
  4. 【請求項4】 前記基準データは、 レーザ溶接加工が正常に行われた場合のレーザ光の被加
    工物における吸収率の変化を示すデータであることを特
    徴とする前記請求項2に記載のレーザ溶接機用の溶接状
    態監視装置。
  5. 【請求項5】 溶接加工用のレーザ光が被加工物上に照
    射される前の直接光と前記レーザ光が前記被加工物に照
    射された後の反射光とをリアルタイムでそれぞれ監視
    し、その監視結果を光強度の経時変化を示す波形として
    出力する第1のステップと、 前記直接光の波形と前記反射光の波形との差分データを
    リアルタイムで算出する第2のステップと、 前記差分データを予め設定された基準データとを比較す
    る第3のステップと、 前記比較の結果に基づいて、前記被加工物における溶接
    状態の良否を判定する第4のステップとを含むことを特
    徴とするレーザ溶接機における溶接状態監視方法。
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