JPH08249661A - 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置 - Google Patents
光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置Info
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- JPH08249661A JPH08249661A JP7051238A JP5123895A JPH08249661A JP H08249661 A JPH08249661 A JP H08249661A JP 7051238 A JP7051238 A JP 7051238A JP 5123895 A JP5123895 A JP 5123895A JP H08249661 A JPH08249661 A JP H08249661A
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 １台の装置で２つの異なる変調方式に対応す
る記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッ
ジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系
の規模を増大させることのないようにすること。 【構成】 試し書きデータの記録マークに応じた記録パ
ルス列として、正規の情報の入力データビット列の記録
を行う変調方式に基づく第１の記録パルス列と、この第
１の記録パルス列とは方式の異なる第２の記録パルス列
とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネ
ルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、
記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号か
ら、２種類の試し書きパターンの中心レベルを検出し
て、その差が０となるときの記録パワーを最適記録パワ
ーとして設定する
る記録制御、例えばピットポジション記録とピットエッ
ジ記録とを行う場合にも、試し書き処理のための回路系
の規模を増大させることのないようにすること。 【構成】 試し書きデータの記録マークに応じた記録パ
ルス列として、正規の情報の入力データビット列の記録
を行う変調方式に基づく第１の記録パルス列と、この第
１の記録パルス列とは方式の異なる第２の記録パルス列
とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネ
ルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、
記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号か
ら、２種類の試し書きパターンの中心レベルを検出し
て、その差が０となるときの記録パワーを最適記録パワ
ーとして設定する
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスクや相変
化型光ディスクのような書換え可能型の光学ディスクの
記録制御方法、およびその光学ディスクを用いる光学デ
ィスク装置に係り、特に、記録マークの高精度な記録制
御を要求される光学ディスクの記録制御方法、およびそ
の光学ディスクを用いる光学ディスク装置に関する。
化型光ディスクのような書換え可能型の光学ディスクの
記録制御方法、およびその光学ディスクを用いる光学デ
ィスク装置に係り、特に、記録マークの高精度な記録制
御を要求される光学ディスクの記録制御方法、およびそ
の光学ディスクを用いる光学ディスク装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】この種の光学ディスク装置において、正
規の記録を開始する前に、試し書き処理を行い、記録媒
体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する記
録感度変動に対応して、最適パワーを決定するようにし
た技術が知られている。
規の記録を開始する前に、試し書き処理を行い、記録媒
体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対する記
録感度変動に対応して、最適パワーを決定するようにし
た技術が知られている。
【０００３】例えば、特開平６−３６３７７号公報に開
示された、１−７ＲＬＬ（Run Length Limited）変調方
式を用いたピットエッジ記録（状態変化パターンの前，
後縁の両エッジが数値「１」を表わし、エッジ無しが
「０」を表わす記録方式で、本発明ではこれを総称して
ピットエッジ記録と称す）よる試し書き制御技術では、
記録マークの記録符号列をパルス化し、記録符号列の長
さに対応する一連のパルス列を形成してパルス列の長
さ，振幅を制御し、正規のデータの変調方式から形成さ
れる最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを
用いた試し書き処理によって、最適パワーを求めるよう
にしている。
示された、１−７ＲＬＬ（Run Length Limited）変調方
式を用いたピットエッジ記録（状態変化パターンの前，
後縁の両エッジが数値「１」を表わし、エッジ無しが
「０」を表わす記録方式で、本発明ではこれを総称して
ピットエッジ記録と称す）よる試し書き制御技術では、
記録マークの記録符号列をパルス化し、記録符号列の長
さに対応する一連のパルス列を形成してパルス列の長
さ，振幅を制御し、正規のデータの変調方式から形成さ
れる最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを
用いた試し書き処理によって、最適パワーを求めるよう
にしている。
【０００４】また、特開平６−２３１４６３号公報に開
示された、２−７ＲＬＬ変調方式を用いたピットポジシ
ョン記録による試し書き制御技術では、正規のデータの
変調方式で形成される最密パターンのみを、パワーを可
変しながら記録し、記録したセクタを再生しながら信号
振幅を計測して、その振幅が最大となる記録パワーを最
適パワーとする方式となっていた。
示された、２−７ＲＬＬ変調方式を用いたピットポジシ
ョン記録による試し書き制御技術では、正規のデータの
変調方式で形成される最密パターンのみを、パワーを可
変しながら記録し、記録したセクタを再生しながら信号
振幅を計測して、その振幅が最大となる記録パワーを最
適パワーとする方式となっていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】上記した従来技術は、
記録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対
する記録感度変動が発生する点については考慮されてい
るが、ピットポジション記録とピットエッジ記録など２
つの異なる変調方式による記録制御を、１台の装置（光
学ディスク装置）で回路規模を増大させることなく対処
する点については、何等の考慮もなされていない。
記録媒体の膜厚変動や環境温度変動による記録媒体に対
する記録感度変動が発生する点については考慮されてい
るが、ピットポジション記録とピットエッジ記録など２
つの異なる変調方式による記録制御を、１台の装置（光
学ディスク装置）で回路規模を増大させることなく対処
する点については、何等の考慮もなされていない。
【０００６】すなわち、２−７ＲＬＬ変調方式を用いる
ピットポジション記録を行うディスク装置は相当に以前
から出回っており、これに対し、近時出回り始めた高密
度記録が可能なピットエッジ記録を行うディスク装置
は、１−７ＲＬＬ変調方式を用いており、ピットポジシ
ョン記録を行うディスク装置における、試し書き処理時
の書き込みパターンの設定手法および最適記録パワーの
算出手法と、ピットエッジ記録を行うディスク装置にお
ける、試し書き処理時の書き込みパターンの設定手法お
よび最適記録パワーの算出手法とは、異なったものとな
っている。
ピットポジション記録を行うディスク装置は相当に以前
から出回っており、これに対し、近時出回り始めた高密
度記録が可能なピットエッジ記録を行うディスク装置
は、１−７ＲＬＬ変調方式を用いており、ピットポジシ
ョン記録を行うディスク装置における、試し書き処理時
の書き込みパターンの設定手法および最適記録パワーの
算出手法と、ピットエッジ記録を行うディスク装置にお
ける、試し書き処理時の書き込みパターンの設定手法お
よび最適記録パワーの算出手法とは、異なったものとな
っている。
【０００７】したがって、１台のディスク装置におい
て、ピットエッジ記録を行う記録媒体とピットポジショ
ン記録を行う記録媒体とを共に取り扱い、異なる変調方
式に対応する２種の記録媒体に対し最適記録パワーで記
録を行うには、ピットポジション記録による試し書き処
理のための回路系と、ピットエッジ記録による試し書き
処理のための回路系とを、別々の試し書きアルゴリズム
に従って設ける必要があり、回路規模が増大し、不経済
であるという問題があった。
て、ピットエッジ記録を行う記録媒体とピットポジショ
ン記録を行う記録媒体とを共に取り扱い、異なる変調方
式に対応する２種の記録媒体に対し最適記録パワーで記
録を行うには、ピットポジション記録による試し書き処
理のための回路系と、ピットエッジ記録による試し書き
処理のための回路系とを、別々の試し書きアルゴリズム
に従って設ける必要があり、回路規模が増大し、不経済
であるという問題があった。
【０００８】本発明は上記の点に鑑みなされたもので、
その目的とするところは、１台の装置で２つの異なる変
調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記
録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理
のための回路系の規模を増大させることのないようにす
ることにある。
その目的とするところは、１台の装置で２つの異なる変
調方式に対応する記録制御、例えばピットポジション記
録とピットエッジ記録とを行う場合にも、試し書き処理
のための回路系の規模を増大させることのないようにす
ることにある。
【０００９】また、本発明の他の目的とするところは、
環境変動等による記録マークの変動を極力抑制し、高精
度な記録マーク制御を行うことにある。また、本発明の
他の目的とするところは、光学ディスク装置と記録媒体
との相性を向上させるとともに、光学ディスク装置によ
る記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することに
ある。また、本発明の他の目的とするところは、光学デ
ィスク装置の信頼性及び記憶容量や情報の転送レートを
向上させることにある。
環境変動等による記録マークの変動を極力抑制し、高精
度な記録マーク制御を行うことにある。また、本発明の
他の目的とするところは、光学ディスク装置と記録媒体
との相性を向上させるとともに、光学ディスク装置によ
る記録感度変動さらに記録パワー変動も抑圧することに
ある。また、本発明の他の目的とするところは、光学デ
ィスク装置の信頼性及び記憶容量や情報の転送レートを
向上させることにある。
【００１０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、試し書きデータの記録マークに応じた記録パルス列
として、正規の情報の入力データビット列の記録を行う
第１の変調方式（例えば、２−７ＲＬＬ変調方式）に対
応するピットポジション記録用の記録パルス列と、もう
１つの異なる第２の変調方式（例えば、１−７ＲＬＬ変
調方式）に対応するピットエッジ記録用の記録パルス列
とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネ
ルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、
記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号か
ら、２種類の試し書きパターンの中心レベルを検出し
て、その差が０となるときの記録パワーを最適記録パワ
ーとして設定するようにしたものである。
に、試し書きデータの記録マークに応じた記録パルス列
として、正規の情報の入力データビット列の記録を行う
第１の変調方式（例えば、２−７ＲＬＬ変調方式）に対
応するピットポジション記録用の記録パルス列と、もう
１つの異なる第２の変調方式（例えば、１−７ＲＬＬ変
調方式）に対応するピットエッジ記録用の記録パルス列
とから構成し、記録パルス列に対する光強度またはエネ
ルギーレベルを用いて、記録媒体に記録するようにし、
記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号か
ら、２種類の試し書きパターンの中心レベルを検出し
て、その差が０となるときの記録パワーを最適記録パワ
ーとして設定するようにしたものである。
【００１１】
【作用】試し書きは、記録媒体と記録を行なう装置との
適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定
の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変
動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化
による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するため
に、記録マークを正規の情報の記録を行なう前に書き込
む動作をする。さらに、記録した試し書きデータから得
られる再生信号から、最適記録パワーを見つけ出すため
に、記録するための記録波形の光強度またはエネルギー
を変化させて記録動作を実行する。
適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体の所定
の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の膜厚変
動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特性変化
による記録媒体に対する記録感度変動等を検知するため
に、記録マークを正規の情報の記録を行なう前に書き込
む動作をする。さらに、記録した試し書きデータから得
られる再生信号から、最適記録パワーを見つけ出すため
に、記録するための記録波形の光強度またはエネルギー
を変化させて記録動作を実行する。
【００１２】そして、試し書きデータを最密パターンと
最疎パターンとの組み合わせで構成して、ピットポジシ
ョン記録に対応する記録パルス列中の、例えば最高周波
数の記録パルス列を最密パターンの記録用として用い、
この最密パターンによる周波数の１／４以下の周波数を
持つデータビット列から、ピットエッジ記録用として生
成した記録パルス列を最疎パターンの記録用として用い
る。そして、試し書きデータの再生信号において、最密
パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを
検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記
録パワーを、最適記録パワーとして設定する。
最疎パターンとの組み合わせで構成して、ピットポジシ
ョン記録に対応する記録パルス列中の、例えば最高周波
数の記録パルス列を最密パターンの記録用として用い、
この最密パターンによる周波数の１／４以下の周波数を
持つデータビット列から、ピットエッジ記録用として生
成した記録パルス列を最疎パターンの記録用として用い
る。そして、試し書きデータの再生信号において、最密
パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを
検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記
録パワーを、最適記録パワーとして設定する。
【００１３】このようにすることによって、ピットポジ
ション記録のための最適記録パワーが確実に設定できる
こととなる。また、ピットエッジ記録の試し書き処理
は、前記した特開平６−３６３７７号公報に開示された
ものと同様に、正規のデータの変調方式から形成される
最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを用い
ることで、同様に、再生信号において、最密パターンの
中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、
それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワー
を、最適記録パワーとして設定できる。したがって、試
し書き処理における再生処理系（最適記録パワー算出・
設定手段等）が、ピットポジション記録（２−７ＲＬＬ
変調方式）とピットエッジ記録（１−７ＲＬＬ変調方
式）とで共用化することができて、試し書き処理のため
の回路系の規模を増大させることなく、１台の光ディス
ク装置で２つの異なる変調方式に対応する試し書き処理
を行うことが可能となる。
ション記録のための最適記録パワーが確実に設定できる
こととなる。また、ピットエッジ記録の試し書き処理
は、前記した特開平６−３６３７７号公報に開示された
ものと同様に、正規のデータの変調方式から形成される
最密パターンと最疎パターンの繰り返しパターンを用い
ることで、同様に、再生信号において、最密パターンの
中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出して、
それぞれの中心レベルが等しくなるような記録パワー
を、最適記録パワーとして設定できる。したがって、試
し書き処理における再生処理系（最適記録パワー算出・
設定手段等）が、ピットポジション記録（２−７ＲＬＬ
変調方式）とピットエッジ記録（１−７ＲＬＬ変調方
式）とで共用化することができて、試し書き処理のため
の回路系の規模を増大させることなく、１台の光ディス
ク装置で２つの異なる変調方式に対応する試し書き処理
を行うことが可能となる。
【００１４】
【実施例】以下、本発明の詳細を図示した実施例によっ
て説明する。図１は、本発明の１実施例に係る光磁気デ
ィスク装置の構成を示す図であり、本実施例の光磁気デ
ィスク装置は、レーザ（レーザ発生源）を含む光ヘッド
と、情報を記憶させるための記録媒体（光磁気ディス
ク）と、記録パルス生成回路を含む記録処理系と、光ヘ
ッドから得られた再生信号を情報に変換する再生回路を
含む再生処理系と、コントローラ系などによって構成さ
れている。
て説明する。図１は、本発明の１実施例に係る光磁気デ
ィスク装置の構成を示す図であり、本実施例の光磁気デ
ィスク装置は、レーザ（レーザ発生源）を含む光ヘッド
と、情報を記憶させるための記録媒体（光磁気ディス
ク）と、記録パルス生成回路を含む記録処理系と、光ヘ
ッドから得られた再生信号を情報に変換する再生回路を
含む再生処理系と、コントローラ系などによって構成さ
れている。
【００１５】図１において、１はレーザ（レーザ発生
源）、２は第１レンズ、３はビームスプリッタ、４は第
２レンズ、５は記録膜とそれを保持する基板から構成さ
れた記録媒体（光磁気ディスク）、６は外部磁場発生
器、７は光検出器、８は装置の統括制御を司るコントロ
ーラ、９はシンセサイザ、１０は試し書きパターン発生
回路、１１はセレクタ、１２は記録パルス生成回路、１
３はレーザドライバ、１４は高周波重畳回路、１５はプ
リアンプ、１６は再生回路、１７はＰＬＬ、１８は弁別
回路、１９は試し書きパターン中心レベル検出回路、２
０はＡ／Ｄ変換器である。
源）、２は第１レンズ、３はビームスプリッタ、４は第
２レンズ、５は記録膜とそれを保持する基板から構成さ
れた記録媒体（光磁気ディスク）、６は外部磁場発生
器、７は光検出器、８は装置の統括制御を司るコントロ
ーラ、９はシンセサイザ、１０は試し書きパターン発生
回路、１１はセレクタ、１２は記録パルス生成回路、１
３はレーザドライバ、１４は高周波重畳回路、１５はプ
リアンプ、１６は再生回路、１７はＰＬＬ、１８は弁別
回路、１９は試し書きパターン中心レベル検出回路、２
０はＡ／Ｄ変換器である。
【００１６】図１に示す構成において、上位ホストから
の命令や情報データは、コントローラ８において命令の
解読や記録データの変調が行われ、変調方式に対応する
符号列に変換される。シンセサイザ９は、装置全体の基
準クロックを発生させる発振器であり、記録媒体５の大
容量化の手法として、ゾーンごとに基準クロックを変え
て内外周での記録密度を略一定とする公知のＺＣＡＶ
（Zoned Constant Angular Velocity ）と呼ばれる記録
方法を採用した場合には、シンセサイザ９の発振周波数
もゾーンに応じて変えていく必要がある。
の命令や情報データは、コントローラ８において命令の
解読や記録データの変調が行われ、変調方式に対応する
符号列に変換される。シンセサイザ９は、装置全体の基
準クロックを発生させる発振器であり、記録媒体５の大
容量化の手法として、ゾーンごとに基準クロックを変え
て内外周での記録密度を略一定とする公知のＺＣＡＶ
（Zoned Constant Angular Velocity ）と呼ばれる記録
方法を採用した場合には、シンセサイザ９の発振周波数
もゾーンに応じて変えていく必要がある。
【００１７】試し書きは、記録媒体５と記録を行なう装
置との適合性を向上させるために、記録媒体５の交換に
ともなう膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう
装置の特性変化による記録媒体５に対する記録感度変動
等を検知するために、あらかじめ記録媒体の所定の位置
に試し書きパターンを、正規の情報の記録を行なう前に
書き込む動作をする。この試し書きパターンは、変調方
式に対応する符号列に変換されており、試し書きパター
ン発生回路１０において生成する。
置との適合性を向上させるために、記録媒体５の交換に
ともなう膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう
装置の特性変化による記録媒体５に対する記録感度変動
等を検知するために、あらかじめ記録媒体の所定の位置
に試し書きパターンを、正規の情報の記録を行なう前に
書き込む動作をする。この試し書きパターンは、変調方
式に対応する符号列に変換されており、試し書きパター
ン発生回路１０において生成する。
【００１８】コントローラ８からの正規の情報データに
応じて変調された符号列と、試し書きパターン発生回路
１０からの符号列とはセレクタ１１に入力され、コント
ローラ８の制御信号により、試し書き処理あるいは通常
の記録処理に対応して切り換えられる。セレクタ１１か
らの符号列は、記録パルス生成回路１２に入り、記録マ
ークの長さや幅を制御するための記録パルス列に変換さ
れる。これら記録パルス列はレーザドライバ１３に入力
され、レーザドライバ１３からの記録電流によりレーザ
１を高出力発振させ、レーザ１から出た光は第１レンズ
２で平行光となってビームスプリッタ３を通り、第２レ
ンズ４によって記録媒体５上に収束して、符号列に応じ
た記録マークを記録する。高周波重畳回路１４は、レー
ザ１に起因するレーザ雑音を低減するために設けてあ
り、記録／消去時にはレーザの寿命の関点から高周波重
畳を休止することもある。
応じて変調された符号列と、試し書きパターン発生回路
１０からの符号列とはセレクタ１１に入力され、コント
ローラ８の制御信号により、試し書き処理あるいは通常
の記録処理に対応して切り換えられる。セレクタ１１か
らの符号列は、記録パルス生成回路１２に入り、記録マ
ークの長さや幅を制御するための記録パルス列に変換さ
れる。これら記録パルス列はレーザドライバ１３に入力
され、レーザドライバ１３からの記録電流によりレーザ
１を高出力発振させ、レーザ１から出た光は第１レンズ
２で平行光となってビームスプリッタ３を通り、第２レ
ンズ４によって記録媒体５上に収束して、符号列に応じ
た記録マークを記録する。高周波重畳回路１４は、レー
ザ１に起因するレーザ雑音を低減するために設けてあ
り、記録／消去時にはレーザの寿命の関点から高周波重
畳を休止することもある。
【００１９】再生時はレーザ１を低出力発振させ、記録
媒体５に入射させる。記録媒体５からの反射光は、ビー
ムスプリッタ３で光路を分離して光検出器７に入射させ
る。そして、光検出器７で光電変換した後、プリアンプ
１５で増幅し、再生回路１６に入力する。再生回路１６
は、波形等化回路，自動利得制御回路，２値化回路など
から構成されており、入力された再生信号を２値化信号
とする。再生回路１６からの２値化信号はセルフクロッ
キングのためにＰＬＬ（Phase Locked Loop ）回路１７
に入力される。ＰＬＬ１７で得られる２値化信号に同期
した再生クロックと、再生回路１６からの２値化信号は
データ弁別のために弁別回路１８に入力され、その結果
としてのデータ弁別信号はコントローラ８に入力され、
データが復調される。
媒体５に入射させる。記録媒体５からの反射光は、ビー
ムスプリッタ３で光路を分離して光検出器７に入射させ
る。そして、光検出器７で光電変換した後、プリアンプ
１５で増幅し、再生回路１６に入力する。再生回路１６
は、波形等化回路，自動利得制御回路，２値化回路など
から構成されており、入力された再生信号を２値化信号
とする。再生回路１６からの２値化信号はセルフクロッ
キングのためにＰＬＬ（Phase Locked Loop ）回路１７
に入力される。ＰＬＬ１７で得られる２値化信号に同期
した再生クロックと、再生回路１６からの２値化信号は
データ弁別のために弁別回路１８に入力され、その結果
としてのデータ弁別信号はコントローラ８に入力され、
データが復調される。
【００２０】外部印加磁界を用いて情報の記録／消去を
行う本実施例のような光磁気ディスク装置においては、
外部磁場発生器６を設けて記録／消去時に磁界の向きを
切り換えて、記録／消去パワーを照射することにより実
施する。また、再生時は光検出器７の前に配置した波長
板（図示せず）により、反射光をｐ偏光，ｓ偏光に分離
して、光検出器（２分割）７でそれぞれを差動すること
により光磁気信号を得ることができる。
行う本実施例のような光磁気ディスク装置においては、
外部磁場発生器６を設けて記録／消去時に磁界の向きを
切り換えて、記録／消去パワーを照射することにより実
施する。また、再生時は光検出器７の前に配置した波長
板（図示せず）により、反射光をｐ偏光，ｓ偏光に分離
して、光検出器（２分割）７でそれぞれを差動すること
により光磁気信号を得ることができる。
【００２１】試し書き処理時は、再生回路１６の中から
アナログ信号状態の再生信号を試し書きパターン中心レ
ベル検出回路１９に導く。試し書き処理時に使用する記
録パターンとして、当該装置における最高周波数の最密
パターンと、最低周波数もしくは最低周波数に近い周波
数の最疎パターンとの組合せパターンを用い、その再生
信号において最密パターンの中心レベルと最疎パターン
の中心レベルとを、試し書きパターン中心レベル検出回
路１９で検出して、その中心レベルの差をＡ／Ｄ変換器
２０によってコントローラ８に取り込み、その差が０
（零）となる時の記録パワーが最適記録パワーと判定し
て正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常
に最適パワーを設定することで高精度な記録マークを記
録することが可能となる。
アナログ信号状態の再生信号を試し書きパターン中心レ
ベル検出回路１９に導く。試し書き処理時に使用する記
録パターンとして、当該装置における最高周波数の最密
パターンと、最低周波数もしくは最低周波数に近い周波
数の最疎パターンとの組合せパターンを用い、その再生
信号において最密パターンの中心レベルと最疎パターン
の中心レベルとを、試し書きパターン中心レベル検出回
路１９で検出して、その中心レベルの差をＡ／Ｄ変換器
２０によってコントローラ８に取り込み、その差が０
（零）となる時の記録パワーが最適記録パワーと判定し
て正規の記録を実施する。この様に試し書きにより、常
に最適パワーを設定することで高精度な記録マークを記
録することが可能となる。
【００２２】図２に、本実施例において適用される記録
媒体上に記録する試し書き記録の１例を示す。ここで
は、変調方式として２−７ＲＬＬコードを採用し、ピッ
トポジション記録を行うための前提となる試し書き処理
について説明する。図２（ａ）は、図１で説明したコン
トローラ８からの正規の情報データに応じて変調された
符号列を示し、図２の（ｂ）は、試し書きパターン発生
回路１０で生成される最疎パターンの試し書きデータの
符号列を示している。
媒体上に記録する試し書き記録の１例を示す。ここで
は、変調方式として２−７ＲＬＬコードを採用し、ピッ
トポジション記録を行うための前提となる試し書き処理
について説明する。図２（ａ）は、図１で説明したコン
トローラ８からの正規の情報データに応じて変調された
符号列を示し、図２の（ｂ）は、試し書きパターン発生
回路１０で生成される最疎パターンの試し書きデータの
符号列を示している。
【００２３】図２の（ａ）の記録符号列は、２−７ＲＬ
Ｌコードの場合、３ＴW 〜８ＴW の６通りあり、ピット
ポジション記録のために変調コードの“１”がピット
（丸穴）に対応している。ここでＴW は窓幅を表わし、
シンセサイザ９で発振する基準クロック周期はＴW に等
しい。試し書きデータのうち、最密パターンはデータパ
ターンの最高周波数である３ＴW 間隔の記録パルス列を
用い、試し書きパターン発生回路１０からの出力に基づ
き記録パルス生成回路１２で生成する。
Ｌコードの場合、３ＴW 〜８ＴW の６通りあり、ピット
ポジション記録のために変調コードの“１”がピット
（丸穴）に対応している。ここでＴW は窓幅を表わし、
シンセサイザ９で発振する基準クロック周期はＴW に等
しい。試し書きデータのうち、最密パターンはデータパ
ターンの最高周波数である３ＴW 間隔の記録パルス列を
用い、試し書きパターン発生回路１０からの出力に基づ
き記録パルス生成回路１２で生成する。
【００２４】試し書きデータの最疎パターンには、図２
の（ｂ）に示すピットエッジ記録用の１２ＴW 周期（パ
ルス幅＝６ＴW ）を用い、試し書きパターン発生回路１
０からの出力に基づき記録パルス生成回路１２で記録パ
ルス列を生成する。ピットエッジ記録では長穴記録のた
めに、記録パルス生成回路１２によって、先頭パルスと
してパルス幅３／２ＴW とギャップ幅１／２ＴW 、後方
パルスとして４組のパルス幅１／２ＴW とギャップ幅１
／２ＴW （基準クロック波形と同じ）を、組合せたパル
ス列として生成される。これらのパルスは基準クロック
に同期して発生させる。これにより、パルス幅およびパ
ルス間隔の制御が向上する。
の（ｂ）に示すピットエッジ記録用の１２ＴW 周期（パ
ルス幅＝６ＴW ）を用い、試し書きパターン発生回路１
０からの出力に基づき記録パルス生成回路１２で記録パ
ルス列を生成する。ピットエッジ記録では長穴記録のた
めに、記録パルス生成回路１２によって、先頭パルスと
してパルス幅３／２ＴW とギャップ幅１／２ＴW 、後方
パルスとして４組のパルス幅１／２ＴW とギャップ幅１
／２ＴW （基準クロック波形と同じ）を、組合せたパル
ス列として生成される。これらのパルスは基準クロック
に同期して発生させる。これにより、パルス幅およびパ
ルス間隔の制御が向上する。
【００２５】図３に、記録マーク形状、レーザの記録電
流波形および制御信号を示す。レーザの記録電流波形
は、記録パルス列とギャップの組合せにより構成され、
それぞれの記録パルス列の後縁には、記録補助パルスに
よってある時間幅の休止期間を設ける。記録補助パルス
は、記録符号列の立ち下がり位置からある時間幅のギャ
ップ部を設けることによって、記録パルス列の最終立ち
下がり位置からの熱が、次の記録パルス列の先頭立ち上
がり位置の温度をほとんど変化させないようにする。
流波形および制御信号を示す。レーザの記録電流波形
は、記録パルス列とギャップの組合せにより構成され、
それぞれの記録パルス列の後縁には、記録補助パルスに
よってある時間幅の休止期間を設ける。記録補助パルス
は、記録符号列の立ち下がり位置からある時間幅のギャ
ップ部を設けることによって、記録パルス列の最終立ち
下がり位置からの熱が、次の記録パルス列の先頭立ち上
がり位置の温度をほとんど変化させないようにする。
【００２６】まず、情報データと試し書き時の最密パタ
ーンに対応する、ピットポジション記録の場合について
説明する。レーザパワーは、４つのパワーレベルに設定
されている。再生時の再生パワーがＰｒ、記録時に高周
波重畳を休止するために再生パワーが変調度分低下した
時の再生パワーがＰｒ’、記録補助パルスによる記録パ
ワーがＰｐｈ、先頭パルスの記録パワーがＰｗ１であ
る。このパワーを実現するために、電流源として再生パ
ワーを一定に保つＡＰＣ（Auto Power Control）からの
電流源Ｉｒ’，Ｉｒ’に重畳する記録補助パルス用電流
源Ｉｐｈ、さらに重畳する先頭パルス用電流源Ｉｗ１、
後方パルスを生成するのに必要な電流源Ｉｗｒをそれぞ
れ設けて、記録補助パルスパワーＰｐｈは電流をＩｒ’
＋Ｉｐｈとし、先頭パルスパワーＰｗ１はＩｒ’＋Ｉｐ
ｈ＋Ｉｗ１として、レーザを発光させることにより目的
の記録波形を得ることができる。
ーンに対応する、ピットポジション記録の場合について
説明する。レーザパワーは、４つのパワーレベルに設定
されている。再生時の再生パワーがＰｒ、記録時に高周
波重畳を休止するために再生パワーが変調度分低下した
時の再生パワーがＰｒ’、記録補助パルスによる記録パ
ワーがＰｐｈ、先頭パルスの記録パワーがＰｗ１であ
る。このパワーを実現するために、電流源として再生パ
ワーを一定に保つＡＰＣ（Auto Power Control）からの
電流源Ｉｒ’，Ｉｒ’に重畳する記録補助パルス用電流
源Ｉｐｈ、さらに重畳する先頭パルス用電流源Ｉｗ１、
後方パルスを生成するのに必要な電流源Ｉｗｒをそれぞ
れ設けて、記録補助パルスパワーＰｐｈは電流をＩｒ’
＋Ｉｐｈとし、先頭パルスパワーＰｗ１はＩｒ’＋Ｉｐ
ｈ＋Ｉｗ１として、レーザを発光させることにより目的
の記録波形を得ることができる。
【００２７】さらに試し書きパターンのうち、最疎パタ
ーンに対応するピットエッジ記録を行う場合について図
４で説明する。レーザパワーは、ピットポジション記録
に対して、後方パルス分のパワーレベルＰｗ２が追加さ
れて５つのパワーレベルに設定されている。Ｐｗ１まで
は図３で説明したとおりであり、後方パルスパワーＰｗ
２はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１＋Ｉｗ２として、レーザを
発光させることにより同様に目的の記録波形を得ること
ができる。
ーンに対応するピットエッジ記録を行う場合について図
４で説明する。レーザパワーは、ピットポジション記録
に対して、後方パルス分のパワーレベルＰｗ２が追加さ
れて５つのパワーレベルに設定されている。Ｐｗ１まで
は図３で説明したとおりであり、後方パルスパワーＰｗ
２はＩｒ’＋Ｉｐｈ＋Ｉｗ１＋Ｉｗ２として、レーザを
発光させることにより同様に目的の記録波形を得ること
ができる。
【００２８】再生時は、Ｉｒ’と高周波重畳回路からの
電流Ｉｈｆの加算により、再生電流Ｉｒを実現する。
電流Ｉｈｆの加算により、再生電流Ｉｒを実現する。
【００２９】次に、記録時の制御信号の説明を行う。Ｗ
ＲＧＡＴＥ−Ｎは記録状態を表わすゲート信号であっ
て、通常のセクタ内の記録データ領域においてイネーブ
ルとなる。また、高周波重畳回路１４のＯＮ／ＯＦＦ制
御信号として用い、再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦす
るように動作する。ＷＲＰＬＳ−Ｐは記録パルス列に対
応し、ＰＨＰＬＳ−Ｐは記録補助パルスを生成する信号
であり、各記録パルス列の後端において熱遮断のために
ピットポジション記録の場合はＴw ／２、マークエッジ
記録の場合はＴW の休止期間を有している。ＰＥＡＫＰ
ＬＳ−Ｐは後方パルスを先頭パルスよりもパワーを上げ
るために用いる制御信号である。これらの制御信号は、
図５に示すレーザドライバ１３内の演算回路２１に入力
される。
ＲＧＡＴＥ−Ｎは記録状態を表わすゲート信号であっ
て、通常のセクタ内の記録データ領域においてイネーブ
ルとなる。また、高周波重畳回路１４のＯＮ／ＯＦＦ制
御信号として用い、再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦす
るように動作する。ＷＲＰＬＳ−Ｐは記録パルス列に対
応し、ＰＨＰＬＳ−Ｐは記録補助パルスを生成する信号
であり、各記録パルス列の後端において熱遮断のために
ピットポジション記録の場合はＴw ／２、マークエッジ
記録の場合はＴW の休止期間を有している。ＰＥＡＫＰ
ＬＳ−Ｐは後方パルスを先頭パルスよりもパワーを上げ
るために用いる制御信号である。これらの制御信号は、
図５に示すレーザドライバ１３内の演算回路２１に入力
される。
【００３０】重ね書きができない記録媒体を用いる装置
における消去時の制御信号は、ＷＲＰＬＳ−Ｐ，ＰＨＰ
ＬＳ−Ｐ，ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐを、ＷＲＧＡＴＥ−Ｐ
（ＷＲＧＡＴＥ−Ｎ信号の逆極性信号）と同じ波形にす
ることにより、データの消去が可能になる。
における消去時の制御信号は、ＷＲＰＬＳ−Ｐ，ＰＨＰ
ＬＳ−Ｐ，ＰＥＡＫＰＬＳ−Ｐを、ＷＲＧＡＴＥ−Ｐ
（ＷＲＧＡＴＥ−Ｎ信号の逆極性信号）と同じ波形にす
ることにより、データの消去が可能になる。
【００３１】図５に、レーザの記録波形を生成するレー
ザドライバ１３の１例を示す。記録電流波形に対して、
それぞれ電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈ、および再生パ
ワーを一定に保つＡＰＣ（Auto Power Control）からの
電流源Ｉｒ’を設ける。電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈ
は、ＺＣＡＶに対応して各ゾーンにおいて可変可能とし
ておく必要があり、これは、コントローラ８からのゾー
ンデータを、データバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐにより演算
回路２１経由で各電流源に設けたＤ／Ａ変換器にセット
することにより実現できる。また、Ｄ／Ａ変換器は、レ
ーザの発光効率，光ヘッドの利用効率を考慮して、所定
のパワーになるように出力ゲインを調整する。その調整
データは、それぞれのＤ／Ａ変換器に対して例えばＥＥ
ＰＲＯＭに内蔵しておくことにより実現できる。
ザドライバ１３の１例を示す。記録電流波形に対して、
それぞれ電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈ、および再生パ
ワーを一定に保つＡＰＣ（Auto Power Control）からの
電流源Ｉｒ’を設ける。電流源Ｉｗ１，Ｉｗ２，Ｉｐｈ
は、ＺＣＡＶに対応して各ゾーンにおいて可変可能とし
ておく必要があり、これは、コントローラ８からのゾー
ンデータを、データバスＤＢＵＳ０〜７−Ｐにより演算
回路２１経由で各電流源に設けたＤ／Ａ変換器にセット
することにより実現できる。また、Ｄ／Ａ変換器は、レ
ーザの発光効率，光ヘッドの利用効率を考慮して、所定
のパワーになるように出力ゲインを調整する。その調整
データは、それぞれのＤ／Ａ変換器に対して例えばＥＥ
ＰＲＯＭに内蔵しておくことにより実現できる。
【００３２】各電流源は、高速スイッチング可能なカレ
ントスイッチＣＳ１，ＣＳ２，ＣＳ３に接続されてお
り、図３，図４に示す記録パルス制御信号により高速ス
イッチングを実行し、所望の記録電流波形を得ることが
できる。この回路では、「＋」駆動レーザの高速スイッ
チングに対応するためにｐｎｐ形トランジスタの代わり
に、高速スイッチング可能なｎｐｎ形トランジスタを使
用する。電流源Ｉには、各電流源に設けたＤ／Ａ変換器
の合計電流をカレントミラー回路（図示せず）により合
計電流を流しておき、各カレントスイッチによってカレ
ントスイッチ側に電流を吸い込み、レーザに流れる電流
を制御する形をとる。「−」駆動レーザの場合は、それ
ぞれの電流源からの電流を加算することで実現できる。
高周波重畳回路１４は、制御信号ＷＲＧＡＴＥ−Ｐによ
って再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦするように動作す
る。ここで使用するスイッチとしては特開昭６３−９０
０３７号公報に記載のＰＩＮダイオードが好適である。
ントスイッチＣＳ１，ＣＳ２，ＣＳ３に接続されてお
り、図３，図４に示す記録パルス制御信号により高速ス
イッチングを実行し、所望の記録電流波形を得ることが
できる。この回路では、「＋」駆動レーザの高速スイッ
チングに対応するためにｐｎｐ形トランジスタの代わり
に、高速スイッチング可能なｎｐｎ形トランジスタを使
用する。電流源Ｉには、各電流源に設けたＤ／Ａ変換器
の合計電流をカレントミラー回路（図示せず）により合
計電流を流しておき、各カレントスイッチによってカレ
ントスイッチ側に電流を吸い込み、レーザに流れる電流
を制御する形をとる。「−」駆動レーザの場合は、それ
ぞれの電流源からの電流を加算することで実現できる。
高周波重畳回路１４は、制御信号ＷＲＧＡＴＥ−Ｐによ
って再生中はＯＮし、記録中はＯＦＦするように動作す
る。ここで使用するスイッチとしては特開昭６３−９０
０３７号公報に記載のＰＩＮダイオードが好適である。
【００３３】試し書き処理は記録媒体と記録を行なう装
置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体
の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の
膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特
性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知
し、常に最適条件下で記録を実行することを目的とし
て、正規の情報の記録を行なう前に記録媒体上に書き込
む動作をする。試し書きを行うトラックが光ディスクの
標準化などで規定されているディスクは、その特定のト
ラックで試し書きを実行し、もし無い場合には、最内周
部や最外周部に設けられているマニュファクラーゾーン
などを利用してもよい。試し書き用のトラックが規定さ
れている場合の１例としては、特開平６−３６３７７号
公報に開示された技術が挙げられる。
置との適合性を向上させるために、あらかじめ記録媒体
の所定の位置に、記録媒体の交換にともなう記録媒体の
膜厚変動等や、環境温度変動及び記録を行なう装置の特
性変化による記録媒体に対する記録感度変動等を検知
し、常に最適条件下で記録を実行することを目的とし
て、正規の情報の記録を行なう前に記録媒体上に書き込
む動作をする。試し書きを行うトラックが光ディスクの
標準化などで規定されているディスクは、その特定のト
ラックで試し書きを実行し、もし無い場合には、最内周
部や最外周部に設けられているマニュファクラーゾーン
などを利用してもよい。試し書き用のトラックが規定さ
れている場合の１例としては、特開平６−３６３７７号
公報に開示された技術が挙げられる。
【００３４】試し書きトラックが設置されておらず、最
内周部のマニュファクチャラーゾーンを使用する場合に
ついて、図６に試し書き処理手順のフローチャートの１
例を示す。内周での試し書き結果を基に全ゾーンの記録
条件を設定する方法をとる。まず最初に、内周の試し書
きトラックと決めたマニュファクチャラーゾンのトラッ
クへ光ヘッドを位置付ける。ここでは、予め所定の試し
書きトラックが消去されているものとする。もし、デー
タが記録されている場合には消去動作により、試し書き
に備える。この時の消去パワーとしては、記録膜の消去
耐力を想定して標準パワーに設定しておけばよい。も
し、消去エラーが発生した場合には消去リトライを実行
する。次に、試し書きの記録開始パワーを設定する。こ
の時の設定パワーは低くする必要があり、たとえば５０
°Ｃ時の記録パワーとする。当該トラックにおいて試し
書き先頭セクタが検出されたならば、試し書きパターン
を記録し始める。
内周部のマニュファクチャラーゾーンを使用する場合に
ついて、図６に試し書き処理手順のフローチャートの１
例を示す。内周での試し書き結果を基に全ゾーンの記録
条件を設定する方法をとる。まず最初に、内周の試し書
きトラックと決めたマニュファクチャラーゾンのトラッ
クへ光ヘッドを位置付ける。ここでは、予め所定の試し
書きトラックが消去されているものとする。もし、デー
タが記録されている場合には消去動作により、試し書き
に備える。この時の消去パワーとしては、記録膜の消去
耐力を想定して標準パワーに設定しておけばよい。も
し、消去エラーが発生した場合には消去リトライを実行
する。次に、試し書きの記録開始パワーを設定する。こ
の時の設定パワーは低くする必要があり、たとえば５０
°Ｃ時の記録パワーとする。当該トラックにおいて試し
書き先頭セクタが検出されたならば、試し書きパターン
を記録し始める。
【００３５】図７に、試し書きパターンの１例と記録パ
ワーの設定方法について示す。試し書きパターンは、前
述した如く情報データの最高周波数である３ＴW 間隔の
最密パターンと、ピットエッジ記録を行うための最疎パ
ターン（１２ＴW 間隔／６ＴW パルス幅）の繰り返しパ
ターンとを使用する。
ワーの設定方法について示す。試し書きパターンは、前
述した如く情報データの最高周波数である３ＴW 間隔の
最密パターンと、ピットエッジ記録を行うための最疎パ
ターン（１２ＴW 間隔／６ＴW パルス幅）の繰り返しパ
ターンとを使用する。
【００３６】ピットエッジ記録による最疎パターンは、
ピットポジション記録による情報データの最密パターン
の振幅を保証する基準パターンとして用いるものであ
り、最密パターンが最疎パターンの再生信号の中心レベ
ルと等しいときには、最密パターンのデューティがほぼ
５０％で信号振幅が最大値となり、この時の記録パワー
を最適パワーとする。記録パワーは１セクタあたり１条
件として、順次セクタを更新しながら記録パワーを更新
していく。記録条件はコントローラ８からデータバスＤ
ＢＵＳ０〜７−Ｐを経由してレーザドライバ１３に設定
する必要があり、その設定時間を考慮すると記録するセ
クタは最低１セクタおきとする（図７）。
ピットポジション記録による情報データの最密パターン
の振幅を保証する基準パターンとして用いるものであ
り、最密パターンが最疎パターンの再生信号の中心レベ
ルと等しいときには、最密パターンのデューティがほぼ
５０％で信号振幅が最大値となり、この時の記録パワー
を最適パワーとする。記録パワーは１セクタあたり１条
件として、順次セクタを更新しながら記録パワーを更新
していく。記録条件はコントローラ８からデータバスＤ
ＢＵＳ０〜７−Ｐを経由してレーザドライバ１３に設定
する必要があり、その設定時間を考慮すると記録するセ
クタは最低１セクタおきとする（図７）。
【００３７】１処理あたりの記録条件数は、１トラック
以内で記録処理を考慮すると５〜１５程度となる。最密
パターンと最疎パターンを１組としたときの１セクタ内
の繰り返し周期は、再生時の信号変動よりも高く選択す
れば、試し書きパターン信号と信号変動を分離すること
が可能となり、検出精度を高くすることができる。再生
時の信号変動成分としてはディスク基板自身が持つリタ
ーデーションによる周波数成分が主流であり、試し書き
パターンの繰り返し周期としてリターデーションの主周
期の２倍以上の周期を選択するとよい。
以内で記録処理を考慮すると５〜１５程度となる。最密
パターンと最疎パターンを１組としたときの１セクタ内
の繰り返し周期は、再生時の信号変動よりも高く選択す
れば、試し書きパターン信号と信号変動を分離すること
が可能となり、検出精度を高くすることができる。再生
時の信号変動成分としてはディスク基板自身が持つリタ
ーデーションによる周波数成分が主流であり、試し書き
パターンの繰り返し周期としてリターデーションの主周
期の２倍以上の周期を選択するとよい。
【００３８】試し書き処理の再生動作は、光ヘッドを試
し書きトラックに位置付けることから始まる。上述した
記録動作にてパワーを変えながら記録したセクタを、選
択的に順次読み出していく。
し書きトラックに位置付けることから始まる。上述した
記録動作にてパワーを変えながら記録したセクタを、選
択的に順次読み出していく。
【００３９】図１の試し書きパターン中心レベル検出回
路１９において、各セクタの再生信号の中から最密パタ
ーンの中心レベル（Ｖ1 ）と最疎パターンの中心レベル
（Ｖ2 ）とを検出し、その電圧差ΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求
める。試し書きパターン中心レベル検出回路１９として
は、帯域通過フィルタ(Ｂand Ｐass Ｆilter）とサンプ
ルホールド回路の組合せが有効である。ΔＶは、Ａ／Ｄ
変換器２０でディジタルデータとしてコントローラ８に
取り込み、その中から最適記録パワーの判定条件である
ΔＶ＝０となるセクタの記録条件を見つけ出す。
路１９において、各セクタの再生信号の中から最密パタ
ーンの中心レベル（Ｖ1 ）と最疎パターンの中心レベル
（Ｖ2 ）とを検出し、その電圧差ΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求
める。試し書きパターン中心レベル検出回路１９として
は、帯域通過フィルタ(Ｂand Ｐass Ｆilter）とサンプ
ルホールド回路の組合せが有効である。ΔＶは、Ａ／Ｄ
変換器２０でディジタルデータとしてコントローラ８に
取り込み、その中から最適記録パワーの判定条件である
ΔＶ＝０となるセクタの記録条件を見つけ出す。
【００４０】この一連の処理において、ΔＶ＝０となる
セクタがない場合には、ΔＶの正負極性から記録条件の
大小を判定して、それに応じて再度記録開始パワーを設
定し、試し書き処理を実行する。同一トラックまたは複
数のトラックにおいて２回以上の試し書き処理を実行し
てもΔＶ＝０となるセクタがない場合は、装置異常とし
て処理を終了する。
セクタがない場合には、ΔＶの正負極性から記録条件の
大小を判定して、それに応じて再度記録開始パワーを設
定し、試し書き処理を実行する。同一トラックまたは複
数のトラックにおいて２回以上の試し書き処理を実行し
てもΔＶ＝０となるセクタがない場合は、装置異常とし
て処理を終了する。
【００４１】ΔＶ＝０となるセクタを見つけ出した後
は、このセクタに対する設定パワーを最適パワーとし
て、コントローラ８内のメモリに保管しておく。こうし
て試し書きにより最適パワーが決定した試し書きトラッ
クは、次の試し書き処理に備えるために消去しておく。
このときの消去パワーは、当該試し書き処理に使用した
最大記録パワーに設定することにより、消し残りなく消
去することができる。
は、このセクタに対する設定パワーを最適パワーとし
て、コントローラ８内のメモリに保管しておく。こうし
て試し書きにより最適パワーが決定した試し書きトラッ
クは、次の試し書き処理に備えるために消去しておく。
このときの消去パワーは、当該試し書き処理に使用した
最大記録パワーに設定することにより、消し残りなく消
去することができる。
【００４２】内周で求めた最適パワーから、外挿計算に
よって各ゾーンの最適パワーを計算してメモリ内に記憶
することにより、試し書き処理が終了し、正規の情報の
記録再生を開始する。また、試し書き領域として外周部
のマニュファクチャラーゾーンが利用できるときは内周
と外周の２か所で試し書きを行い、それぞれの位置で求
まった最適パワーから内挿計算して、各ゾーンの記録パ
ワーを求めることができる。
よって各ゾーンの最適パワーを計算してメモリ内に記憶
することにより、試し書き処理が終了し、正規の情報の
記録再生を開始する。また、試し書き領域として外周部
のマニュファクチャラーゾーンが利用できるときは内周
と外周の２か所で試し書きを行い、それぞれの位置で求
まった最適パワーから内挿計算して、各ゾーンの記録パ
ワーを求めることができる。
【００４３】図８に、試し書き処理において得られた再
生信号と実測例の１例を示す。再生信号において、記録
パワーの大きさによって最密パターンと最疎パターンの
再生信号の中心レベルの差ΔＶが変化する。試し書きパ
ターン中心レベル検出回路１９において各セクタの再生
信号の中から、最密パターンの中心レベル（Ｖ1 ）と最
疎パターンの中心レベル（Ｖ2 ）を検出し、その電圧差
ΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求める。最密パターンと最疎パター
ンの周期に合わせて、サンプリングパルスＳＡＭＰＬＥ
−Ｐをコントローラ８より発行し、その立上りエッジで
最密パターンの中心レベルとしてＶ1 、その立下がりエ
ッジで最疎パターンの中心レベルとしてＶ2 を検出す
る。このように、ΔＶを試し書きパターン中心レベル検
出回路１９で求めた後、Ａ／Ｄ変換器２０でディジタル
データとしてコントローラ８に取り込んでも良いし、Ａ
／Ｄ変換器２０でＶ1 とＶ2 をディジタルデータとした
後、コントローラ８でΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求めても良
い。
生信号と実測例の１例を示す。再生信号において、記録
パワーの大きさによって最密パターンと最疎パターンの
再生信号の中心レベルの差ΔＶが変化する。試し書きパ
ターン中心レベル検出回路１９において各セクタの再生
信号の中から、最密パターンの中心レベル（Ｖ1 ）と最
疎パターンの中心レベル（Ｖ2 ）を検出し、その電圧差
ΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求める。最密パターンと最疎パター
ンの周期に合わせて、サンプリングパルスＳＡＭＰＬＥ
−Ｐをコントローラ８より発行し、その立上りエッジで
最密パターンの中心レベルとしてＶ1 、その立下がりエ
ッジで最疎パターンの中心レベルとしてＶ2 を検出す
る。このように、ΔＶを試し書きパターン中心レベル検
出回路１９で求めた後、Ａ／Ｄ変換器２０でディジタル
データとしてコントローラ８に取り込んでも良いし、Ａ
／Ｄ変換器２０でＶ1 とＶ2 をディジタルデータとした
後、コントローラ８でΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 を求めても良
い。
【００４４】図８の（３）に、試し書き処理において得
られた記録パワー条件に対するΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 の１実
測例を示す。図から明らかなように、記録パワーとΔＶ
はほぼ比例関係にあることがわかる。
られた記録パワー条件に対するΔＶ＝Ｖ1 −Ｖ2 の１実
測例を示す。図から明らかなように、記録パワーとΔＶ
はほぼ比例関係にあることがわかる。
【００４５】なお、上述してきた説明では、２−７ＲＬ
Ｌ変調を用いたピットポジション記録のための試し書き
処理について説明した。ここで図１に示した本実施例で
は、１−７ＲＬＬ変調を用いたピットエッジ記録のため
の試し書き処理も実行可能となっており、これは前記し
た特開平６−３６３７７号公報に開示された手法と同様
にして行われる。すなわち、ピットエッジ記録のための
図示せぬ試し書き用の試し書きパターン発生回路を図１
に付設、ないしは、図１の試し書きパターン発生回路１
０に、ピットエッジ記録のための試し書きパターン発生
機能を付加し、１−７ＲＬＬ変調方式から形成される最
密パターンと最疎パターンを生成して、ピットポジショ
ン記録のための試し書き処理とほぼ同様にして、最密パ
ターンと最疎パターンの繰り返しパターンによる試し書
きを行うようにされる。そして、再生信号において、最
密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルと
を検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような
記録パワーを、最適記録パワーとして設定するようにさ
れる。
Ｌ変調を用いたピットポジション記録のための試し書き
処理について説明した。ここで図１に示した本実施例で
は、１−７ＲＬＬ変調を用いたピットエッジ記録のため
の試し書き処理も実行可能となっており、これは前記し
た特開平６−３６３７７号公報に開示された手法と同様
にして行われる。すなわち、ピットエッジ記録のための
図示せぬ試し書き用の試し書きパターン発生回路を図１
に付設、ないしは、図１の試し書きパターン発生回路１
０に、ピットエッジ記録のための試し書きパターン発生
機能を付加し、１−７ＲＬＬ変調方式から形成される最
密パターンと最疎パターンを生成して、ピットポジショ
ン記録のための試し書き処理とほぼ同様にして、最密パ
ターンと最疎パターンの繰り返しパターンによる試し書
きを行うようにされる。そして、再生信号において、最
密パターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルと
を検出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような
記録パワーを、最適記録パワーとして設定するようにさ
れる。
【００４６】したがって、試し書き処理における再生処
理系（最適記録パワー算出・設定手段等）が、ピットポ
ジション記録（２−７ＲＬＬ変調方式）とピットエッジ
記録（１−７ＲＬＬ変調方式）とで共用化することがで
きて、試し書き処理のための回路系の規模を増大させる
ことなく、１台の光ディスク装置で２つの異なる変調方
式に対応する試し書き処理を行うことが可能となる。
理系（最適記録パワー算出・設定手段等）が、ピットポ
ジション記録（２−７ＲＬＬ変調方式）とピットエッジ
記録（１−７ＲＬＬ変調方式）とで共用化することがで
きて、試し書き処理のための回路系の規模を増大させる
ことなく、１台の光ディスク装置で２つの異なる変調方
式に対応する試し書き処理を行うことが可能となる。
【００４７】なお、上述してきた実施例においては、記
録媒体として光磁気ディスクを例にとったが、本発明は
記録媒体として相変化型等の書換え可能な光ディスクを
用いる場合の記録制御方式としても適用可能である。
録媒体として光磁気ディスクを例にとったが、本発明は
記録媒体として相変化型等の書換え可能な光ディスクを
用いる場合の記録制御方式としても適用可能である。
【００４８】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、２つの異
なる変調方式に対応する最適記録パワー設定のための試
し書き処理を、ほぼ同様の最密パターンと最疎パターン
の繰り返しパターンで行い、再生信号において最密パタ
ーンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出
・対比することにより、最適記録パワーを求めるように
しているので、１台の光ディスク装置で２つの異なる変
調方式に対応する最適記録制御が可能となるばかりか、
試し書き処理のための回路系の規模を増大させることが
なくなる。
なる変調方式に対応する最適記録パワー設定のための試
し書き処理を、ほぼ同様の最密パターンと最疎パターン
の繰り返しパターンで行い、再生信号において最密パタ
ーンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検出
・対比することにより、最適記録パワーを求めるように
しているので、１台の光ディスク装置で２つの異なる変
調方式に対応する最適記録制御が可能となるばかりか、
試し書き処理のための回路系の規模を増大させることが
なくなる。
【００４９】また、記録媒体の膜厚変動や環境温度変動
による記録媒体に対する記録感度変動および記録再生装
置による記録感度変動も抑圧し、記録再生装置と記録媒
体との適合性を向上させるとともに、高精度に記録マー
クを制御できるので、記録再生装置の信頼性、および記
録容量や情報の転送レートを向上させる効果がある。
による記録媒体に対する記録感度変動および記録再生装
置による記録感度変動も抑圧し、記録再生装置と記録媒
体との適合性を向上させるとともに、高精度に記録マー
クを制御できるので、記録再生装置の信頼性、および記
録容量や情報の転送レートを向上させる効果がある。
【図１】本発明の１実施例に係る光磁気ディスク装置の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の１実施例において適用される、記録媒
体への記録方式の１例による記録符号列と記録パルス列
を示す説明図である。
体への記録方式の１例による記録符号列と記録パルス列
を示す説明図である。
【図３】本発明の１実施例による、ピットポジション記
録時の記録電流波形を示す説明図である。
録時の記録電流波形を示す説明図である。
【図４】本発明の１実施例による、ピットエッジ記録時
の記録電流波形を示す説明図である。
の記録電流波形を示す説明図である。
【図５】図１中のレーザドライバの構成を示すブロック
図である。
図である。
【図６】本発明の１実施例による、試し書き処理手順の
１例を示すフローチャート図である。
１例を示すフローチャート図である。
【図７】本発明の１実施例による、試し書きパターンの
１例と記録パワー設定手法を示す説明図である。
１例と記録パワー設定手法を示す説明図である。
【図８】本発明の１実施例による、試し書き処理におい
て得られた再生信号と、それから得られた差電圧の１実
測例とを示す説明図である。
て得られた再生信号と、それから得られた差電圧の１実
測例とを示す説明図である。
８ コントローラ １０ 試し書きパターン発生回路 １２ 記録パルス生成回路 １３ レーザドライバ １６ 再生回路 １７ ＰＬＬ １８ 弁別回路 １９ 試し書きパターン中心レベル検出回路 ２０ Ａ／Ｄ変換器
Claims (3)
- 【請求項１】 記録媒体と記録を行なう装置との適合性
を向上させるために、記録媒体の所定の位置に試し書き
データを記録パワーを可変しながら記録し、記録された
試し書きデータの再生信号から得られる最適記録パワー
の情報をもとに、記録媒体に正規の情報の記録を開始す
る光学ディスクの記録制御方法において、 上記試し書きデータを、正規情報の入力データビット列
の記録を行う変調方式に基づく第１の記録パルス列と、
この第１の記録パルス列とは異なる方式の第２の記録パ
ルス列とから生成し、光源を駆動して記録媒体に記録領
域を形成することによって記録を行なうことを特徴とす
る光学ディスクの記録制御方法。 - 【請求項２】 請求項１記載において、 試し書き処理時に使用する記録パターンを最密パターン
と最疎パターンとの組み合わせで構成し、最密パターン
を形成するための前記第１の記録パルス列として、正規
情報の入力データビット列の記録を行う前記変調方式に
基づく記録パルス列のうちの最高周波数の記録パルス列
を用い、また、最疎パターンを形成するための前記第２
の記録パルス列として、上記最密パターンによる周波数
の１／４以下の周波数を持つデータビット列から生成し
た記録パルス列を用い、その再生信号において、最密パ
ターンの中心レベルと最疎パターンの中心レベルとを検
出して、それぞれの中心レベルが等しくなるような記録
パワーに設定して、正規の記録を実施することを特徴と
する光学ディスクの記録制御方法。 - 【請求項３】 記録媒体と記録を行なう装置との適合性
を向上させるために、記録媒体の所定の位置に試し書き
データを記録パワーを可変しながら記録し、記録された
試し書きデータの再生信号から得られる最適記録パワー
の情報をもとに、記録媒体に正規の情報の記録を開始す
る光学ディスク装置において、 正規情報の入力データビット列の記録を行う変調方式に
基づく第１の記録パルス列を生成する手段と、 上記第１の記録パルス列とは方式の異なる第２の記録パ
ルス列を生成する手段と、 上記第１の記録パルス列と上記第２の記録パルス列とか
らなる試し書きデータを、記録媒体上の所定領域に光ヘ
ッドにより記録する手段と、 記録媒体上の試し書きデータ記録領域からの再生信号よ
り、２種類の試し書きパターンの中心レベルを検出する
手段と、 上記２種類の試し書きパターンの中心レベルの差が０と
なるときの記録パワーを最適記録パワーとして設定する
手段と、を具備したことを特徴とする光学ディスク装
置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7051238A JP2999684B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置 |
| US08/612,328 US5629913A (en) | 1995-03-10 | 1996-03-07 | Optical disk recording control method and apparatus for recording user data based on test signal |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7051238A JP2999684B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08249661A true JPH08249661A (ja) | 1996-09-27 |
| JP2999684B2 JP2999684B2 (ja) | 2000-01-17 |
Family
ID=12881373
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7051238A Expired - Fee Related JP2999684B2 (ja) | 1995-03-10 | 1995-03-10 | 光学ディスクの記録制御方法および光学ディスク装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5629913A (ja) |
| JP (1) | JP2999684B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7522494B2 (en) | 2003-08-27 | 2009-04-21 | Ricoh Company, Ltd | Control of laser emission power for recording information on optical disc |
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| JP3124720B2 (ja) * | 1995-04-14 | 2001-01-15 | 株式会社リコー | 情報記録再生方法、情報記録再生装置及び情報記録媒体 |
| US5696756A (en) * | 1995-04-14 | 1997-12-09 | Kabushiki Kaishia Toshiba | Optical disk having an evaluation pattern for evaluating the optical disk |
| CN1136547C (zh) * | 1995-08-22 | 2004-01-28 | 松下电器产业株式会社 | 光盘记录和／或重放装置及设定记录功率及清除功率的方法 |
| JP3123591B2 (ja) * | 1995-12-20 | 2001-01-15 | 富士通株式会社 | 光ディスク装置 |
| US5808972A (en) * | 1995-12-28 | 1998-09-15 | Nikon Corporation | Stabilized overwriteable optical recording method using laser beam intensity settings |
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| CN1214789A (zh) * | 1996-12-06 | 1999-04-21 | 皇家菲利浦电子有限公司 | 光学记录媒质 |
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| JP3771859B2 (ja) * | 2002-03-27 | 2006-04-26 | 株式会社リコー | 光情報記録方法及び光情報記録装置 |
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| US20060188684A1 (en) * | 2005-02-22 | 2006-08-24 | Katsuyuki Yamada | Optical recording medium, optical recording method and apparatus |
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-
1995
- 1995-03-10 JP JP7051238A patent/JP2999684B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-03-07 US US08/612,328 patent/US5629913A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7522494B2 (en) | 2003-08-27 | 2009-04-21 | Ricoh Company, Ltd | Control of laser emission power for recording information on optical disc |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2999684B2 (ja) | 2000-01-17 |
| US5629913A (en) | 1997-05-13 |
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