JPH08247896A

JPH08247896A - レンズメーター

Info

Publication number: JPH08247896A
Application number: JP6867196A
Authority: JP
Inventors: Fumio Otomo; 文夫大友; Shinichi Nakamura; 新一中村
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1986-03-13
Filing date: 1996-03-25
Publication date: 1996-09-27
Anticipated expiration: 2013-12-16
Also published as: JP2838391B2

Abstract

(57)【要約】【課題】累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容
易にかつ明確に知ることができるレンズメーターを提供
すること【解決手段】測定光源からの光束を被検レンズを介し
て受光することにより屈折特性を求めるレンズメーター
において、被検レンズの異なる位置での屈折特性を測定
する測定手段と、該測定手段によって得られた測定値と
その測定位置とを記憶する記憶手段と、該記憶手段に記
憶されたデータに基づいて被検レンズの屈折特性の分布
状態を演算するための演算手段とを有することを特徴と
するレンズメーター

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、累進多焦点レンズ
の光学特性を測定可能なレンズメーターに関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、中高年の初期の老眼矯正用とし
て、境目のない累進多焦点レンズの需要が増加してい
る。この累進多焦点レンズは遠用部、近用部及び両者を
結ぶ累進帯部が複雑な非球面で連続的に構成されている
ため、従来の二重焦点レンズのように外観だけで遠用屈
折特性測定部や近用部屈折特性測定部を知ることができ
ない。ここで屈折特性とは、球面度数、円柱度数、円柱
軸角度、及びプリズム度数を総称した定義として使われ
る。このため、各レンズメーカーは、眼鏡店に納品す
る、眼鏡フレームのレンズ枠に入れる前のアンカットレ
ンズに種々のマーキングを施すことにより、眼鏡店にお
ける屈折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時のレン
ズ加工の便宜を図っている。図１８はその一例を示すも
ので、３１０は水平基準線、３１１はダイヤマーク、３
１５は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、３１２は
フィッティングマーク、３１３は遠用屈折特性測定部指
示マーク、３１６は近用屈折特性測定部指示マーク、３
１４は近用加入度数表示、３１７はメーカーマークをそ
れぞれ示している。そしてレンズメーカーでこのレンズ
の遠用部屈折特性を測定するときは、３１３のマークの
○印内にレンズメーターの測定光軸が位置してレンズメ
ーターのレンズ受けの中心に３１３のマークが合致する
ようにレンズをセットする。また近用屈折特性測定時
は、３１６のマークの丸印をレンズ受けに合致させるよ
うにレンズをセットする。さらに必要に応じ、フィッテ
ィングマーク３１２が示す位置における屈折特性を知り
たいときは、マーク３１２の交点３１２ａをレンズ受け
の中心に合致させるようにレンズをセットする。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上述したような解決を
もつ現在の累進多焦点レンズは、前述したように累進帯
及び近用部周辺が複雑な非球面構造をもつため、近用部
に正確に被装用者眼が位置するようにレンズを眼鏡フレ
ームに枠入れする必要がある。ところが、眼鏡フレーム
に枠入れされた後のレンズにおいては、ダイヤマーク３
１１、近用加入度表示３１４、及びメーカーマーク３１
７以外はすべて消される。しかし、累進多焦点レンズ
は、その屈折面が高次の関数曲面となっているため、そ
の非点収差分布、及び近用加入度数分布の等屈折力値分
布曲線は、複雑な形状となる。このため、トライ−アン
ド−エラーで近用測定部位置を決定することが極めて困
難であるばかりか、例えば近用測定部位置が、レンズに
よっては加入度最大位置及び／または非点収差（円柱
度）最小位置でない場所を指定しているものもある。従
って、トライ−アンド−エラー方式で測定部を決定する
ことはもちろん延いてはその位置に印点することもまっ
たく不可能なことがあった。この対策として、各レンズ
メーカーはチェックカードを用いる。図１８の各種マー
クを図示したカードを別品で用意し、チェックカードの
ダイヤマークと枠入れされたレンズに残っているダイヤ
マーク３１１を合わせるようにチェックカードをレンズ
に貼る。そしてチェックカード上の遠用及び近用屈折特
性測定部指示マークをもとにレンズ上に該マークにそっ
てマーカーペン等でマーキングしたのち、そのマーキン
グされたメガネを被装用者に装用してもらう。遠用作業
時及び近用作業時の被装用者眼の位置とマーキングされ
た指示マーク位置との位置関係から、レンズが正しく枠
入れされているか否か、あるいは眼鏡フレームのフィッ
ティングが正確か否かを判断しており、この判断には極
めて繁雑な作業を強いられていた。

【０００４】さらに、このチェックカードは、すべての
眼鏡店にすべてのレンズメーカーのものが保管されてい
るとは限らず、所定のチェックカードがないときは、こ
の判断のためにまったく手の打ちようがないというのが
現状であった。さらにたとえチェックカードがあったと
しても、前記マークはレンズに極めて薄く表示されてい
るため、このマークを見つけること自体極めてむづかし
いという問題があった。さらにチェックカードを利用し
て、遠用部及び近用部にマーキングまたは印点する場
合、レンズ上のダイヤマークとレンズの遠用測定部１
３、近用測定部１６のそれぞれの位置が個々のレンズに
より、バラツキがない、すなわち個体差がないことが前
提である。それゆえ、もしレンズメーカーのレンズ製作
上のミスでこれら三者の位置関係に誤差が生じた場合
は、もはや、正確に測定部の位置を決め、マーキングや
印点を高精度に行うことができない。このように従来方
法では、レンズの近用測定部すなわちレンズ装用者が近
用作業時にその部分を通して見ることを指定されている
部分の領域を知ることができず、装用者がはたして正し
く屈折矯正される近用部を利用しうるようにメガネを装
用しているか否かをまったく判定することができなかっ
た。

【０００５】本件発明の目的は、この従来技術の問題点
を解決し、累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容
易にかつ明確に知ることができるレンズメーターを提供
することにある。

【０００６】

【課題を解決するための手段】本発明は、測定光源から
の光束を被検レンズを介して受光することにより屈折特
性を求めるレンズメーターにおいて、被検レンズの異な
る位置での屈折特性を測定する測定手段と、該測定手段
によって得られた測定値とその測定位置とを記憶する記
憶手段と、該記憶手段に記憶されたデータに基づいて被
検レンズの屈折特性の分布状態を演算するための演算手
段とを有することを特徴とするレンズメーターである。

【０００７】

【発明の効果】本発明によれば、累進多焦点レンズの屈
折特性、すなわち円柱度数の分布、加入度数の分布を容
易に知ることができる効果を有する。

【０００８】

【発明の実施の形態】

第１実施例装置の機械構成図１は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の機
械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和６１年
２月２７日に同一出願人により出願された発明の名称
「披検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。この自動印
点装置は、図１に示すように、被検レンズまたは該レン
ズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、移動させるた
めの支持機構部１０と、被検レンズを押さえるためのレ
ンズ押え部２０と、被検レンズに印点するための印点部
３０と、被検レンズを受けるレンズ受け台４０とから大
略構成されている。支持機構部１０はパルスモーターか
らなるＹ軸モータ１１Ｍを有し、このモータ１１Ｍの回
動によりＸ軸送り機構部１２を、例えば送りネジ機構で
Ｙ軸方向にそって移動させるＹ軸送り機構１１と、パル
スモータ１２Ｍを有し、その回動により、例えば送りネ
ジ機構によりＸ軸方向にそってハンド開閉部１３を移動
させるＸ軸送り機構１２とを有する。ハンド開閉部１３
は、例えば直流モータからなるハンドモータ１３Ｍによ
り回動される駆動プーリーと、従動プーリーと、両プー
リー間に掛けわたされた無端ベルトから構成された駆動
部の該ベルトに取り付けられ、モータ１３Ｍの回動によ
り矢印１３１、１３２にそって互いに反対方向に移動す
る２つのハンド支持座とから構成される。

【０００９】ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印１
３３、１３４方向にそって所定範囲内に上下動すなわち
Ｚ軸方向にそって移動可能にハンドテーブル１３５、１
３６が取付けられている。ハンドテーブルのアーム１３
７、１３８には、アンカットレンズのコバ面に挟持する
ための内側当接面１４１、１５１と、図示するように眼
鏡フレームＦのテンプルＴと当接する外側当接面１４
２、１５２とを有する左、右のハンド１４、１５が軸１
４３、１５３に回動自動に取付けられている。レンズ受
け台４０は、本発明の自動印点装置が組込まれるレンズ
メーターの測定光学系の光軸Ｏが貫通する開口４１を有
する円筒部材４２と、その円筒部材４２の上端部に植設
された３本のレンズ受けピン４３とから構成されてい
る。レンズ押え部２０は直流モータからなるレンズ押え
モータ２０ＭによりＺ軸方向にそってレンズ押えテーブ
ル２１を上下動するためのレンズ押え送り機構２２を有
し、レンズ押えテーブル２１のアーム２３から下方に張
出した支柱２４の先端に３本のレンズ押えピン２５を有
するレンズ押え座２６を有している。レンズ押えテーブ
ル２１には印点部３０の送り機構３１が固定されてい
る。送り機構３１には印点ベース３２を矢印３３方向に
移動するためのパルスモーターからなる印点移動モータ
３０Ｍが組みこまれている。印点ベース３２には、ムー
ビングコイル３４によりＺ軸方向に押し出される印点ピ
ン３５が取付けられている。印点ベース３２が初期位置
にあるとき、印点ピン３５の下方にはインク壺３６が設
置されている。制御駆動回路系図２は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示すブ
ロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出願
を参照されたい。Ｘ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１
Ｍ、及び印点移動モータ３０Ｍは、パルス発生器（図示
せず）と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路２００に接続されている。レン
ズ押えモータ３０Ｍと、ハンドモータ１３Ｍは、定電流
制御回路２０１に接続されて一定電流で駆動するため、
レンズの押え圧及びハンド１４、１５によるフレームＦ
の保持圧は一定に保たれる。印点ムービングコイル３４
はドライバ回路２０２に接続されている。

【００１０】上記パルスドライバ回路２００、定電流制
御回路２０１、ドライバ回路２０２は、マイクロコンピ
ュータから成るシーケンサ２０３に接続され、その制御
をうける。シーケンサ２０３には、被検レンズの保持や
眼鏡フレームＦの初期の保持及び位置付けのコントロー
ルをするための初期コントロール回路２０４と、比較回
路２０６、検出器１からの情報に基づき被検レンズの屈
折特性を決定する屈折特性測定値処理部と、ＲＡＭ（ラ
ンダムアクセスメモリ）２１１と演算回路２０９
と、プログラムメモリ２１３と、アライメント選択スイ
ッチ２０５とが接続されている。レンズの屈折特性測定
値を表示するための例えばＣＲＴディスプレイまたは液
晶ディスプレイから成る表示器２０８が処理部２０７に
接続されている。ＲＡＭ２１１は、比較回路２０６と、
演算回路２０９とシーケンサ２０３と、初期コントロー
ル回路２０４とに接続されている。このＲＡＭ２１１に
は遠用近用位置入力キーボード２１０が接続されてい
る。ＲＯＭ（リードオンリーメモリ）２１２は演算回路
２０９と初期コントロール回路２０４に接続されてい
る。作動シーケンス眼鏡フレームのセット図３は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れし
た眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャートで
ある。〈ステップＳ−１〉初期コントロール回路２０４は、プ
ログラムメモリ２１３のプログラムに従って定電流制御
回路２０１を介してハンドモータ１３Ｍを作動させ、ハ
ンド１４、１５を閉じさせる。〈ステップＳ−２〉測定者は閉じられたハンド１４、１
５上に印点したい眼鏡レンズを枠入れした眼鏡フレーム
Ｆを載置する。〈ステップＳ−３〉初期コントロール回路２０４は定電
流制御回路２０１を介してハンドモータ１３Ｍを反転さ
せ、ハンド１４、１５を開かせ、フレームＦのテンプル
Ｔに外側当接面１４２、１５２を一定圧力で当接させて
フレームＦを保持する。〈ステップＳ−４〉初期コントロール回路２０４は右眼
の印点が終了しているか否かを判断し、ＹＥＳの場合
は、ステップＳ−８へ、ＮＯの場合は次ステップＳ−５
へ移行する。〈ステップＳ−５〉右眼レンズを測定光学系１の光軸Ｏ
上に位置させるために、初期コントロール回路２４はＲ
ＯＭ２１２に予めメモリされている指定ＰＤ値の半分の
距離に相当するパルス数を読み出し、パルスドライバ回
路２００を介してＸ軸モータ１２Ｍを回転させてハンド
開閉部１３を移動させる。〈ステップＳ−６〉初期コントロール回路２０４は定電
流制御回路２０１を介してレンズ押えモータ３０Ｍを作
動させ、レンズ押えテーブル２１を下降させる。これに
よりレンズ押えピン２５が右眼レンズを押える。

【００１１】すなわち、右眼レンズは、レンズ受け台４
０のレンズ受けピン４３とレンズ押えピン２５で挟まれ
る。また、フレームＦはハンド１４、１５によっても保
持されるため十分な安定性をもって保持される。〈ステップＳ−７〉後に詳述する印点サブルーチンによ
り印点された後ステップＳ−４にリターンし、ここで右
眼終了か否かを判定し、右眼終了と判定されて次ステッ
プＳ−８へ移行する。〈ステップＳ−８〉初期コントロール回路２０４はモー
タ２０Ｍを反転し、レンズ押え部２０を初期位置へ復帰
させた後、前記ステップＳ−５とは逆方向にＸ軸モータ
１２Ｍを回転させ、ＲＯＭ２１２にメモリされている所
定ＰＤ値に相当する距離だけハンド開閉部１３を移動さ
せる。〈ステップＳ−９〉及び〈ステップＳ−１０〉それぞれ
前記ステップＳ−６及び前記ステップＳ−７と同じ動作
を実行する。印点サブルーチン次に、前記ステップＳ−７の印点サブルーチンを図４に
基づいて詳説する。〈ステップ１〉測定者はアライメント選択スイッチ２０
５を操作して、「光学中心」基準で印点するか「フレー
ム幾何学中心」基準で印点するかを選択する。「フレー
ム幾何学中心」基準は、例えばプリズムシーニング加工
が施されたレンズであって、遠用光学中心がレンズ外に
あるようなレンズが被検レンズとなった場合に選択され
る。「光学中心」基準が選択されたときは次ステップ２
に移行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場
合はステップ４に移行する。〈ステップ２〉測定者はメーカーマーク３１７（図１８
参照）を調べることにより製品名を知り、レンズメーカ
ー発行のマニアルから予め遠用測定部３１３及び近用測
定部３１６の光学中心（または幾何学中心）３１５から
の距離Ａ、Ｂ、Ｃがわかっている場合は、遠用・近用位
置入力キーボード２１０を操作してその値を入力する。
入力データはＲＡＭ２１１に記憶される。

【００１２】距離データＡ、Ｂ、Ｃの入力がない場合
は、ＲＯＭ２１２に予めメモリされている距離データ、
例えばマーケットシェアの高いレンズの距離データが利
用される。〈ステップ３〉シーケンサ２０３は検出器１を作動さ
せ、レンズの遠用プリズム度数を測定する。検出器から
の検出データは処理部２０７で逐時プリズム度数データ
に変換処理され、比較回路に入力される。比較回路２０
６はＲＯＭ２１２に記憶されている判定基準プリズム度
数｜Ｐ_X｜＝0.０３及び｜Ｐ_Y｜＝0.０３を読み出し、
これと処理部２０７からのプリズム度数測定データとを
比較し、その結果をシーケンサ２０３に入力する。シー
ケンサ２０３はプリズム測定データＰ_X、Ｐ_Yが｜Ｐ_X
｜＜0.０３、｜Ｐ _Y｜＜0.０３となるまでパルスドライ
バ回路２００を介してＸ軸１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを
作動させてレンズを移動し、比較回路２０６が｜Ｐ_X｜
＜0.０３及び｜Ｐ_Y｜＜0.０３と判定したレンズ移動位
置を、図１９に示すように光学中心位置（Ｏ_X、Ｏ_Y）
としてＲＡＭ２１１へ記憶させる。その後ステップ１０
へ移行する。〈ステップ４〉前述のステップ１で「フレーム幾何学中
心」基準が選択された場合、測定者は左右眼の被検レン
ズ間のＰＤ値（幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔
間距離）を入力する。ＰＤ値の入力がないときは、標準
値として予め定められＲＯＭ２１２に記憶されているＰ
Ｄ値を利用する。〈ステップ５〉前述ステップ２と同様の動作を実行す
る。〈ステップ６〉初期コントロール回路２０４はステップ
３のＰＤ値に基づいてパルスドライバ回路２００を介し
てＸ軸モータ１２Ｍを作動させ、指定ＰＤ位置すなわち
測定点が光軸Ｏ上にくるようにレンズを移動する。例え
ばステップ２の入力ＰＤ値が６８ｍ／ｍであり、本印点
装置のＲＯＭ２１２に記憶設定されていた標準ＰＤ値が
６４ｍ／ｍの場合、前記ステップＳ−５でＰＤ６４ｍ／
ｍの標準位置に位置付けられているから、（６８−６
４）÷２＝２ｍ／ｍ分ハンド開閉部を移動させることに
より指定ＰＤ位置が光軸Ｏ上に位置される。〈ステップ７〉シーケンサ２０３は検出器１を作動させ
ると同時にパルスドライバ回路２００を介してＹ軸モー
タ１１Ｍを作動させ、レンズをＹ軸方向に移動させる。
そしてフレームＦのレンズ枠ＬＦの上側リムＵＬ（図１
９参照）が光軸Ｏ上に位置し、検出器１による測定が不
能になるまでのＹ軸モータ１１Ｍへのパルス供給数をＲ
ＡＭ２１１に一時的に記憶させる。〈ステップ８〉シーケンサ２０３はパルスドライバ回路
２００を制御してＹ軸モータ１１Ｍを反転させ、下側リ
ムＬＬが光軸Ｏ上に位置するまでのＹ軸モータ１１Ｍへ
の供給パルス数をＲＡＭ２１１に一時的に記憶させる。〈ステップ９〉前記ステップ７とステップ８で得られた
上側リムＵＬ及び下側リムＬＬ検出までのＹ軸モータ１
１Ｍへの供給パルス数間の差の半分の値を計算し、その
結果及び前記ステップ６の位置から図１９に示すように
フレーム幾何学的中心（Ｇ_X、Ｇ_Y）を決定する。〈ステップ１０〉シーケンサ２０３はＲＡＭ２１１から
前記ステップ２またはステップ４で入力された遠用測定
部距離Ａ（入力がない場合は、ＲＯＭ２１２に記憶され
ている所定値、以下同じ）を読み出し、パルスドライバ
回路２００を介してＹ軸モータ１１Ｍを作動させる。ス
テップ１で「光学中心」基準を指定した場合はサブステ
ップ１で決定された光学中心（Ｏ_X、Ｏ_Y）、またはス
テップ１で「幾何中心」基準を指定した時はサブステッ
プ２で決定された幾何学中心（Ｇ_X、Ｇ_Y）から距離だ
けレンズを移動させ、遠用測定部３１３を測定光学系１
の光軸Ｏと一致させる。（ステップ２または５でのＡの
入力がない場合は、レンズ本来の遠用測定部３１３と光
軸Ｏとは一致しない。）〈ステップ１１〉シーケンサ２０３は検出器１と処理部
２０７を作動させて遠用測定部３１３の屈折特性を測定
し、その結果を表示器２０８で表示するとともに、その
結果を基準遠用球面度数ＭＳ、基準遠用円柱度数ＭＣと
してＲＡＭ２１１に記憶させる。〈ステップ１２〉シーケンサ２０３はＲＡＭ２１１から
ステップ２またはステップ４で入力された近用測定部距
離Ｂ、Ｃを読み出し、パルスドライバ回路２００を介し
てＸ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを作動させレン
ズの近用測定部３１６を光軸Ｏ上に移動させる。（ステ
ップ２または５でＢ、Ｃの入力がない場合は、レンズ本
来の近用測定部３１６と光軸Ｏは一致しない。）〈ステップ１３〉シーケンサ２０３はパルスドライバ回
路２００を介してＸ軸モータ１２Ｍを作動させ、レンズ
を鼻側及び耳側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレ
ンズの屈折特性値Ｓ（球面度数）及びＣ（円柱度数）を
処理部２０７から演算回路２０９へ入力させる。処理部
２０７から演算回路２０９へ入力させる。処理部２０７
は、基準遠用球面度数ＭＳと、基準遠用円柱度数ＭＣ
と、時々刻々の近用屈折特性測定値Ｓ及びＣとから近用
加入度ＡＤＤを

【００１３】

【数１】として計算し、比較回路２０６に入力する。比較回路２
０６は、処理部２０７から時々刻々入力されるＡＤＤ値
からその最大の値ＡＤＤ_Mをもつレンズの移動位置Ｋ₁(
_Xk1,yk1)を決定し、シーケンサ２０３にその位置情報を
出力する。これと同時に最大近用加入度数ＡＤＤ_MをＲ
ＡＭ２１１に記憶させる。シーケンサ２０３は、その位
置情報Ｋ₁(_Xk1,yk1)に基づいてＸ軸モータ１２Ｍ及びＹ
軸モータ１１Ｍを作動させ、レンズを位置Ｋ₁(_Xk1,yk ₁)
に移動させる。〈ステップ１４〉演算回路２０９は、ＲＡＭ２１１に記
憶されている最大近用加入度数ＡＤＤ_MとＲＯＭ２１２
に予め記憶させている定数群とから遠用部加入度数境界
値Ａe 、遠用部円柱度数境界値Ｃe 、近用部加入度数境
界値Ａ_k、及び近用部円柱度数境界値Ｃ_kを、例えば

【００１４】

【数２】から計算し、この各境界値Ａ_e、Ｃ_e、Ａ_k、Ｃ_kをＲ
ＡＭ２１１に記憶させる。〈ステップ１５〉シーケンサ２０３はパルスドライバ回
路２００を介してＸ軸モータ１２Ｍを作動させ、図９に
示すようにレンズをＫ₁位置から鼻側と耳側に順次移動
させる。演算回路２０９はレンズ移動中の時々刻々変化
する測定点毎の処理部２０７からの測定円柱度数ＣとＲ
ＡＭ２１１に記憶されている基準遠用円柱度ＭＣとから
（Ｃ−ＭＣ）を計算し、その結果を比較回路２０６へ入
力する。処理部２０７は上記（ａ）式にしたがって加入
度数ＡＤＤを演算し、その値を比較回路２０６へ入力す
る。比較回路２０６は処理部２０７からのＡＤＤ値及び
演算回路２０９からのＣ−ＭＣ値とＲＡＭ２１１に記憶
させた境界値Ａ_k、及びＣ_kとを時々刻々に比較し、レ
ンズの鼻側及び耳側の両方で

【００１５】

【数３】が成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ２０３へ入力する。〈ステップ１６〉尚ステップ１５で式成立測定点が鼻
側と耳側両方にあると比較回路２０６が判定したとき
は、図９に示すようにシーケンサ２０３はＸ軸モータ１
２Ｍを再度作動させレンズを耳側に移動し、鼻側の式
が成立する測定点Ｋ₂(_Xk2,yk1)に移動する。次に、ドラ
イバ回路２０２を作動させ印点部３０の中央の印点針３
５のムービングコイル３４を励磁し、印点針３５をイン
クツボ３６に浸した後、パルスドライバ回路２００を介
して、印点部移動モータ３０Ｍを作動させて印点ベース
３２を降下させ、中央印点針３５を光軸Ｏ上に位置させ
る。その後ドライバ回路２０２を介してムービングコイ
ル３４を励磁し、レンズ上に印点をする。〈ステップ１
７〉シーケンサ２０３は次に印点移動モータ３０Ｍを反
転させて、印点ベース３２を初期位置に復帰された後、
Ｘ軸モータ１２Ｍを反転させてレンズを鼻側へ移動し、
レンズの耳側で式が成立する測定点Ｋ₃(_Xk3,yk1)へ移
動し、以下ステップ１６と同様の動作で、その測定点Ｋ
₃へ印点する。〈ステップ１８〉シーケンサ２０３は近用加入度ＡＤＤ
最大位置Ｋ₁(_Xk1,yk1)のｘ座標値_Xk1をＲＡＭ２１１か
ら読み出し、パルスドライバ回路２００を介してＸモー
タ１２Ｍを駆動してレンズをＫ₁位置へ復帰させる。〈ステップ１９〉シーケンサ２０３は、次にＹ軸モータ
１１Ｍを作動させ、レンズを近用方向に移動させ、レン
ズの遠用方向よりの近用部分に測定点を求める。時々刻
々移動中のレンズの屈折特性は処理部２０７から比較回
路２０６に入力され、比較回路２０６は上記式の条件
を満足するか否かを判定し、その結果をシーケンサ２０
３に入力する。シーケンサ２０３は比較回路２０６から
条件式を「満足する」旨指令が入力されると、Ｙ軸モ
ータ１１Ｍの作動を停止すると同時に、図９に示すよう
に測定点Ｋ₅(_Xk5,yk5)に印点する。

【００１６】または、これと同時に印点位置Ｋ₅(
_Xk5,yk5)のＸ−Ｙ座標値はＲＡＭ２１１で記憶される。〈ステップ２０〉演算回路２０９はＲＡＭ２１１から位
置Ｋ₁と印点位置Ｋ₅のｙ座標_yk1、及び_yk5を読み出
し、

【００１７】

【数４】のｙ座標を有し、ｘ座標は_Xk5(=_Xk5)をもつ移動位置Ｋ
₆(_Xk5,yk6)≡Ｋ₆(_Xk6,yk ₆)を演算で求める。このデータ
を基にシーケンサ２０３はＹ軸モータ１１Ｍを作動さ
せ、移動位置Ｋ₆が光軸Ｏと一致するようにレンズを移
動させる。〈ステップ２１〉前記ステップ１６及びステップ１７と
同様の動作により図９に示すようにＫ₇、Ｋ₈を印点す
る。その後前記位置Ｋ₅へ復帰する。〈ステップ２２〉前記ステップ１６で比較回路２０６が
条件式を耳側・鼻側の両側で「満足しない」と判定し
たときは、図１０に示すように、シーケンサ２０３はＸ
軸モータ１２Ｍを作動させ、ＲＡＭ２１１の位置Ｋ₁の
座標データ（_Xk1,yk1)を基にレンズをＫ₁へ移動させ
る。〈ステップ２３〉次にシーケンサ２０３はＹ軸モータ１
１Ｍを作動させ、条件の式を満足するまでレンズを遠用
方向へ移送させ、条件式を満足する測定点Ｋ₉(
_Xk9,yk9)が光軸Ｏと一致したときＹ軸モータ１１Ｍを停
止させ、ドライバ回路２０２を介して測定点Ｋ₉に印点
する。〈ステップ２４〉図１０に示すように印点位置Ｋ₉のｘ
座標_Xk9に予め定めた距離ａをＲＯＭ２１２から読み出
し、演算回路２０９で( _Xk9-ａ）をｘ座標とする位置Ｋ
₁₀( _Xk9- _a,yk9)≡Ｋ₁₀( _Xk10,yk10)を演算させ、シーケ
ンサ２０３はレンズをＫ₁₀へ移動するためにパルスドラ
イバ回路２００を介してＸ軸モータ１２Ｍを作動させ
る。〈ステップ２５〉レンズを位置Ｋ₁₀に移動させた後、シ
ーケンサ２０３はＹ軸モータ１１Ｍを作動させ、レンズ
の近用方向に測定点を求めるためにレンズを移動させ、
近用部加入度数境界値Ａ_kと近用部円柱度数境界値Ｃ_k
に対し、レンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測
定値に基づく処理部２０７からの加入度数ＡＤＤ及び近
用円柱度数Ｃ−ＭＣが

【００１８】

【数５】を満たすまで測定点をＹ軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件式を満足する位置へ移動したら、次にシー
ケンサ２０３はＹ軸モータ１１Ｍを反転させてレンズの
遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、その
移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記条件
式を満足する測定点Ｋ₁₁（_Xk11,yk11)にレンズ移動
し、測定点Ｋ₁₁に印点する。これと同時に印点位置Ｋ₁₁
（_Xk11,yk11)の座標データをＲＡＭ２１１に記憶させ
る。〈ステップ２６〉演算回路２０９はＲＡＭ２１１の印点
位置Ｋ₁₁の座標データ（_Xk11,yk11)のｘ座標_Xk11を読み
出し、これにＲＯＭ２１２に予め定数として記憶されて
いる距離データａを基にして（_Xk11+2a)≡_Xk12を演算す
る。この演算結果に基づいてシーケンサ２０３はＸ軸モ
ータ１２Ｍを作動させ、（_Xk11+2a,_yk11) を位置座標と
する移動位置Ｋ₁₂が光軸Ｏと一致するようにレンズを移
動させる。〈ステップ２７〉前記ステップ２５と同様の動作で位置
Ｋ₁₃に印点する。〈ステップ２８〉比較回路２０６は印点位置Ｋ₉、Ｋ₁₁
及びＫ₁₃の各ｙ座標_yk9、_yk11、_yk13の大小を比較し、
図１０のように｜_yk11｜＞｜_yk9｜＜｜_yk13｜すなわち
中央の印点位置Ｋ₉がもっとも遠用方向側にあるときは
次ステップ３０へ移行させる。比較回路２０６が｜_yk11
｜＞｜_yk9｜＜｜_yk13｜、すなわち図１１に示すよう
に、耳側の印点位置Ｋ₁₃がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ３１へ移動する。さらに比較
回路２０６が｜_yk11｜＜｜_yk9｜＜｜_yk13｜、すなわち
図１２に示すように、鼻側の印点位置Ｋ₁₁がもっとも遠
用方向よりにあると判定したときはステップ３８へ移行
する。〈ステップ３０〉シーケンサ２０３は、パルスドライバ
回路２００を介してＸ軸モータ１２Ｍ及びＹ軸モータ１
１Ｍを、ＲＡＭ２１１に記憶されている印点位置Ｋ₉(
_Xk9,yk9)の座標データに基づいて駆動制御し、印点位置
Ｋ₉にレンズを復帰させる。〈ステップ３１〉演算回路２０９はＲＡＭ２１１に記憶
されている位置Ｋ₁のｘ座標_Xk1にＲＯＭ２１２に予め
定数として記憶してある距離ｂを加算し、新たに移動位
置Ｋ₁₄( _Xk1-b _,yk13)≡Ｋ₁₄( _Xk14,yk14)を求める。こ
の位置Ｋ₁₄の座標データに基づいてシーケンサ２０３は
Ｘ軸モータ１２Ｍを作動させ、レンズを鼻側に移動し、
図１１に示すようにＫ₁₄に光軸Ｏが位置するようにレン
ズを移動させる。〈ステップ３２〉前述のステップ２５と同様の動作を実
行し、位置Ｋ₁₅に印点する。〈ステップ３３〉比較回路２０６は、ステップ２５で印
点された印点位置Ｋ₁₁と前ステップ３２で印点された印
点位置Ｋ₁₅の座標_yk11と_yk15の大小を比較する。比較回
路２０６が｜_yk15｜＜｜_yk11｜と判定したとき（図１１
に×印でＫ'₁₅のように印点されたとき）は次ステップ
３４へ移行し、｜_yk15｜＞｜_yk11｜と判定したときはス
テップ３５へ移行する。〈ステップ３４〉シーケンサ２０３はＲＡＭ２１１の印
点位置Ｋ₁₁（_Xk11,yk11)の座標データを読み取り、Ｘ軸
モータ１２Ｍ及びＹ軸モータ１１Ｍを駆動制御し、レン
ズを印点位置Ｋ₁₃に復帰させる。〈ステップ３５〉演算回路２０３はＲＯＭ２１２に予め
定数として記憶されている距離データｃ（ｃ＞ｂ）を読
み込み、新たな移動位置Ｋ₁₆( _Xk1-c _,yk15)≡Ｋ₁₆(
_Xk16,yk16)を求める。シーケンサ２０３はこのＫ₁₆の座
標データに基づいてＸ軸モータ１２Ｍを駆動制御し、位
置Ｋ₁₆にレンズを移動する。〈ステップ３６〉前述のステップ２５と同様の動作を実
行し、Ｋ₁₇に印点する。〈ステップ３７〉シーケンサ２０３はレンズをＫ₁₃に復
帰させる。〈ステップ３８〉演算回路２０９はＲＯＭ２１２に記憶
されている定数ｂを読み出し、図１２に示すように新た
な移動位置Ｋ₁₈( _Xk1+b _,yk11)≡Ｋ₁₈( _Xk18,yk18)を求
め、シーケンサ２０３は位置Ｋ₁₈にレンズを移動させ
る。〈ステップ３９〉前述のステップ３２ないしステップ３
７と同様の動作を実行し、図１２に示すように位置
Ｋ₁₉、Ｋ₂₁にそれぞれ印点する。なお、本ステップでは
印点位置Ｋ₁₉のｙ座標_yk19と印点位置Ｋ₁₃のｙ座標、
_yk13の大小を比較する。｜_yk19｜＞｜_yk13｜のとき、新
たな位置、Ｋ₂₀はＫ₂₀( _Xk1+c _,yk19)≡Ｋ₂₀( _Xk
_20,yk20)を求める点か前述のステップ３２ないしステッ
プ３７と相違する。その後、印点位置Ｋ₁₁にレンズを復
帰させる。

【００１９】以上にて近用部の印点を終了し、次ステッ
プ４０以降遠用部の印点へ移行する。〈ステップ４０〉前述のステップ２１の復帰後の印点位
置Ｋ₅、ステップ３０が実行されたときは復帰位置
Ｋ₉、ステップ３４または３７が実行されたときは復帰
位置Ｋ₁₃、ステップ３９が実行されたときは復帰位置Ｋ
₁₁を起点として、図９に示すようにシーケンサ２０３に
パルスドライバ回路２００を介してＹ軸モータ１１Ｍを
作動させる。これらによりレンズは近用方向に移動し、
レンズの遠用方向側に測定点を求める。処理部２０７か
らはレンズ移動中時々刻々の測定点屈折特性値すなわち
測定遠用加入度数ＡＤＤが比較回路２０６に入力され、
一方測定円柱度数Ｃ、は演算回路２０９に入力される。
演算回路２０９はＲＡＭ２１１に記憶されていた前述の
ステップ１１で得られた基準遠用円柱度数ＭＣを入力さ
れた測定円柱度数Ｃから減算し、その結果（Ｃ−ＭＣ）
を比較回路２０６へ入力する。比較回路２０６は、ＲＡ
Ｍ２１１に入力されていた遠用加入度数境界値Ａｅと遠
用円柱度数境界値Ｃｅを読み出し、演算回路２０９から
の入力値（Ｃ−ＭＣ）と処理部２０７からの遠用加入度
数ＡＤＤとから、移動中のレンズの測定点の加入度数Ａ
ＤＤと円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）が

【００２０】

【数６】を満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ２０
３にその旨を指令する。〈ステップ４１〉シーケンサ２０３は比較回路２０６か
らの「条件満足」の信号を受けると、パルスドライバ
回路２００を介してＹ軸モータ１１Ｍを反転させ、レン
ズの近用方向が測定点となるようにレンズを前回とは逆
に移動させる。この反転移動中の処理部２０７からの時
々刻々の測定点毎の加入度数ＡＤＤと円柱度数Ｃとは上
述と同様に演算回路２０９で円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）が
演算される。比較回路２０６は加入度数ＡＤＤと円柱度
数差（Ｃ−ＭＣ）を遠用加入度数境界値Ａｅ及び遠用円
柱度数境界値Ｃｅと比較して

【００２１】

【数７】が成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ２０３に出力する。シーケンサ２０３は比較回路
２０６からの指令を受けるとＹ軸モータ１１Ｍを停止さ
せレンズ移動を止めるとともに、ドライバ回路２０２を
介して条件式の成立測定点位置Ｅ₁に印点する。それ
とともにＥ₁の座標 (_XE1,YE1)をＲＡＭ２１１に記憶さ
せる。〈ステップ４２〉シーケンサ２０３はＲＯＭ２１２から
予め定数として記憶されている距離ｄを読み出し、Ｘ軸
モータ１２Ｍを作動し、その距離ｄだけレンズの鼻側が
測定点となるようにレンズを耳側に移動し、移動位置Ｅ
₂を測定点とする。〈ステップ４３〉前述のステップ４０及びステップ４１
と同様の動作を実行し、条件式を満足する測定点Ｅ₃
を印点する。〈ステップ４４〉シーケンサ２０３はＲＯＭ２１２に記
憶されている距離ｄの２倍の２ｄだけレンズを鼻側へ移
動し、Ｅ₄を測定点とした後、前述のステップ４０及び
４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ₅に印点する。〈ステップ４５〉ステップ４１ないしステップ４４で印
点されたＥ₁、Ｅ₃及びＥ₅の各々のｙ座
標_YE1、_YE3、_YE5、_YE5と近用部の印点位置Ｋ₅（ま
たはＫ₁、Ｋ₁₁あるいはＫ₁₃) のｙ座標_YE5とのＹ軸方
向距離Ｙ_E1、Ｙ_E3、Ｙ_E5を演算回路２０９で演算する。
この演算結果を比較回路２０６に出力する。比較回路２
０６はＹ_E3≧Ｙ _E1≦Ｙ_E5のとき、すなわち中央の印点位
置Ｅ₁がもっとも近用方向よりのときは次ステップ４６
に移行し、図１３に示すように、Ｙ_E3＜Ｙ_E1＜Ｙ_E5のと
きはステップ４８へ移行し、図１４に示すようにＹ_E3＞
Ｙ_E1＞Ｙ_E3のときはステップ４９へ移行する。〈ステップ４６〉図９に示すように、距離ｄだけさらに
耳側方向へ測定点を移動させＥ₆を測定点とする。その
後、ステップ４０及び４１と同様な動作を実行し、Ｅ₇
印点する。その後Ｅ₇点から距離４ｄだけレンズを耳側
に移動し、Ｅ₈を測定点としたのち、ステップ４０及び
４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ₉を印点する。〈ステップ４８〉図１３に示すように、印点位置Ｅ₅か
ら距離３ｄだけレンズをＹ軸方向にそって耳側へ移動
し、鼻側の測定点Ｅ₁₀を得る。その後、ステップ４０、
４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ₁₁に印点し、さら
に距離Ｌだけ鼻側に測定点を移動し、Ｅ₁₂を測定点とし
ステップ４０、４１と同様の動作を実行し、測定点Ｅ₁₃
を印点する。〈ステップ４９〉図１４に示すように印点位置Ｅ₅から
距離ｄさらに耳側の測定点Ｅ₁₄を得た後、ステップ４
０、４１と同様の動作を実行しＥ₁₅に印点する。さらに
耳側の測定点Ｅ₁₆へ移動し、ステップ４０、４１と同様
の動作から測定点Ｅ₁₇に印点する。

【００２２】以上の印点動作により、図１５に示すよう
に、条件式、すなわち測定加入度数ＡＤＤが近用加入
度数境界値Ａ_kに対し、ＡＤＤ≦Ａ_kとなるか、または
測定円柱度数Ｃと遠用部円柱度数ＭＣとの差（Ｃ−Ｍ
Ｃ）が近用円柱度数境界値Ｃ_kに対し（Ｃ−ＭＣ）≧Ｃ
_kとなる境界線４０１上に印点される。このことは境界
線４０１に囲まれた領域４０１は「ＡＤＤ≧Ａ_k及び
（Ｃ−ＭＣ）≦Ｃ_k」の領域となる。この領域４１０は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.００Ｄのレンズでは、例えば（ｂ）式より

【００２３】

【数８】とあたえられる。従って、領域４１０は、加入度数0.７
５Ｄ以上でかつ円柱度数0.２５Ｄ以下の領域となる。そ
してこの領域には必ずレンズメーカー指定の近用測定部
３１６が含まれる。また、図１５に示すように、条件
式で、すなわち測定加入度数ＡＤＤが遠用加入度数境界
値Ａｅ以上か、または測定円柱度数差（Ｃ−ＭＣ）が遠
用円柱度数境界値Ｃｅより大きい境界線４０２上にも印
点される。この境界線４０２より遠用方向側はＡＤＤ≦
Ａｅかつ（Ｃ−ＭＣ）≦Ｃｅの領域４２０となり、遠用
作業が楽にできる領域である。例えば加入度数ＡＤＤ_M
が1.００Ｄのレンズを例に、例えば（ｂ）式を境界値と
すると、

【００２４】

【数９】となるから、領域４２０は、加入度数が0.３３Ｄ以下で
かつ円柱度数差が0.３３Ｄ以下の領域となる。この領域
４２０内には必ずレンズメーカー指定の遠用測定部３１
３が入いる。第２実施例次に図１６及び図１７に基づいて本発明の第２の実施例
を説明する。本実施例は前述の第１実施例と装置構成は
同様で図３に示したフローチャートの印点サブルーチン
（ステップＳ−７及びステップＳ−１０）のみ相異す
る。図１６はその印点サブルーチンのみを示している。
以下この第２実施例の印点サブルーチンを説明する。〈ステップ２−１〉前述の第１実施例の印点サブルーチ
ンのステップ１ないし１４を実行する。〈ステップ２−２〉シーケンサ２０３はパルスドライバ
回路２００を介してＸ軸モータ１２ＭとＹ軸モータ１１
Ｍに互いに同期させて同時にパルスを供給し、位置Ｋ₁
を起点として測定点を鼻側に４５°方向に移動させる。

【００２５】レンズ移動中の時々刻々の処理部２０７か
らの測定加入度数ＡＤＤ及び測定円柱度数Ｃを基に演算
回路２０９及び比較回路２０６は前述のステップ１５
（第１実施例）と同様の動作で条件式が成立する測定
点Ｋ₂を探し、シーケンサ２０３はパルスドライバ回路
２００を介して印点移動モータ３０Ｍを作動し、その後
ドライバ回路２０２を介してその測定点Ｋ₂に印点す
る。〈ステップ２−３〉シーケンサ２０３はパルスドライバ
回路２００がＸ軸モータ１２Ｍを作動させ、測定点を耳
側に図１７に示すように距離ｅ移動させる。なお、距離
ｅはＲＯＭ２１２に定数として予め記憶されている。〈ステップ２−４〉シーケンサ２０３はパルスドライバ
回路２００を介してＸ軸モータ１２ＭとＹ軸モータ１１
Ｍに互いに同期させてパルスを供給し、駆動することに
より近用方向に４５°方向にそって測定点を移動させ
る。この測定点移動中の時々刻々の処理部２０７からの
測定加入度数ＡＤＤと円柱度数Ｃとから演算回路２０９
と比較回路２０６は前述のステップ２５（第１実施例）
と同様に条件式を満足する測定点を探す。〈ステップ２−５〉シーケンサ２０３は次に、Ｘ軸モー
タ１２ＭとＹ軸１１Ｍを逆転させ、前記ステップ２−４
の移動ルートを逆方向に同一ルートにそって条件式を
満足する測定点を探す。

【００２６】条件式を満足する測定点のｘ座標とＲＡ
Ｍ２１１に記憶させておいた加入度数最大位置Ｋ₁のｘ
座標_Xk1との差（ｘ−ｘk₁) を演算回路２０９で演算
し、（ｘ−ｘk₁) の正負を比較回路２０６で判定させ
る。この判定が「正」のときはステップ２−７に移行
し、「負」または「等しい」ときはステップ２−６へ移
行する。〈ステップ２−６〉シーケンサ２０３はパルスドライバ
回路２００を介して印点移動モータ３０Ｍを駆動し、印
点ベース３２を下降させた後、ドライバ回路２０２を介
してムービングコイル３４を励磁し、中央の印点針３５
で測定点Ｋ_nを印点する。〈ステップ２−７〉シーケンサ２０３は位置Ｋ₁の_X1y
座標値( _Xk1,yk1)をＲＡＭ２１１から読み取り、その値
に基づいてＸ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを駆動
してレンズ移動し、加入度数最大位置Ｋ₁に測定点を復
帰させる。〈ステップ２−８〉シーケンサ２０３は、Ｘ軸モータ１
２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍに同数のパルスを同期させ供給
し、測定点を耳側に４５°方向に移動させる。そしてレ
ンズ移動中に時々刻々の測定加入度数ＡＤＤと測定円柱
度数から条件式を満足する測定を探し、条件式を満
足する測定点Ｋ₃に印点する。〈ステップ２−９〉前述のステップ２−４ないしステッ
プ２−６と同様の動作を実行し、条件式を満足する測
定点Ｋｅ（ｅ＝４、５or６）に印点する。ただし、本ス
テップでは前述のステップ２−５の「鼻側に４５°移
動」ステップが「耳側に４５°移動」となり、また「ｘ
−ｘｋ１＞０」の判定ステップが「ｘ−ｘｋ１＜０」に
なる点が相違する。以上のステップ２−１ないしステッ
プ２−９で近用部の印点を終了する。〈ステップ２−１０〉シーケンサ２０３は前述のステッ
プ２またはステップ５（第１実施例参照）で指定された
遠用指定位置Ｅ₁の座標値（_XE1,YE1）をＲＡＭ２１１
から読み取り、Ｘ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モータ１１Ｍを
駆動制御して測定点をＥ₁上に移動させるべくレンズを
移動させる。〈ステップ２−１１〉前記ステップ２−２と同様の動作
を実行し、測定点Ｅ₂に印点する。〈ステップ２−１２〉前記ステップ２−３と同様の動作
を実行し、測定点を耳側に移動させる。なお、このとき
移動距離は予めＲＯＭ２１２に記憶されていたｆとす
る。（ｆ＝ｅと定めてもよい）。〈ステップ２−１３〉シーケンサ２０３はＸ軸モータ１
２ＭとＹ軸モータ１１Ｍを駆動制御して遠用方向に４５
°方向にそって測定点を移動すべくレンズを移動させ
る。レンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ＡＤＤと測
定円柱度数Ｃとから前述の条件式（第１実施例参照）
を満足する測定点を探す。〈ステップ２−１４〉条件式を満足する測定点をみつ
けたら、シーケンサ２０３はＸ軸モータ１２Ｍ、Ｙ軸モ
ータ１１Ｍを反転させ、ステップ２−１３の移動ルート
を逆に測定点を進め前述の条件式（第１実施例参照）
を満足する測定点を探す。

【００２７】条件式を満足する測定点のｘ座標と指定
遠用位置Ｅ₁のｘ座標_XE1の差（ｘ−_XE1）の正負を比
較回路２０６で判定し、「負」または、「等しい」とき
はステップ２−１５に移行し、「正」のときはステップ
２−１６に移行する。〈ステップ２−１５〉測定点Ｅ_n（ｎ＝４、６or 8) に
印点する。〈ステップ２−１６〉指定遠用位置Ｅ₁に測定点に復帰
させる。〈ステップ２−１７〉指定遠用位置Ｅ₁を起点として耳
側４５°方向に測定点を移動すべくレンズを移動させ、
条件式を満足する測定点Ｅ₃に印点する。〈ステップ２−１８〉前記ステップ２−１２ないしステ
ップ２−１５と同様の動作を実行し、条件式を満足す
る測定点Ｅｅ（ｅ＝５、７or９）に印点する。ただし本
ステップでは前記ステップ２−１２の「耳側」を「鼻
側」とし、ステップ２−１４の「鼻側」を「耳側」と
し、「ｘ−_XE1＞０」を「ｘ−_XE1＜０」とする点が相
違する。

【００２８】以上説明した第１及び第２の実施例では、
いずれも近用部と遠用部の両方に印点しているが、本発
明は必ずしもこれに限定されない。必要に応じ遠用部の
み、または近用部のみの印点シーケンスを実行するよう
にシーケンサ２０３の実行フローを選択できるように構
成してもよい。また上記実施例では、条件式ないし条
件式では測定加入度数ＡＤＤと測定円柱度数差（Ｃ−
ＭＣ）の両方について境界値と比較しているが、測定加
入度数についてのみ比較してもよい。さらに上述の実施
例では、条件式または式を満足する測定点上に測定
毎に印点したが、そのかわりにそれら条件を満足する測
定点座標データ一時的にＲＡＭ２１１に全て記憶させ
る。そして全測定点のデータ取り込み後、印点動作のみ
を集中的に実行してもよい。また、印点位置は測定点上
である必要は必ずしもなく、条件式を満足する領域内で
あれば測定点から所定距離隔てた点に印点してもよい。
このことは、印点マークがレンズ押えピン２５によりレ
ンズ移動中に消されるのを防止するために、印点位置と
レンズ押えピン２５の配位関係をレンズ移動に計算し、
次々に測定点、すなわち印点点を決定していくとき有効
である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示す
斜視図、図２はレンズ印点装置の

【図２】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、

【図３】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、

【図４】図３のフローチャートの印点サブルーチンの第
１の実施例を示すフローチャート図、

【図５】図３のフローチャートの印点サブルーチンの第
１の実施例を示すフローチャート図、

【図６】図３のフローチャートの印点サブルーチンの第
１の実施例を示すフローチャート図、

【図７】図３のフローチャートの印点サブルーチンの第
１の実施例を示すフローチャート図、

【図８】図３のフローチャートの印点サブルーチンの第
１の実施例を示すフローチャート図、

【図９】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定点
の移動ルートとともに示す模式図、

【図１０】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１１】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１２】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１３】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１４】第１実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１５】第１実施例によるレンズへの印点の一例を遠
用領域及び近用領域とともに示す模式図、

【図１６】印点サブルーチンの第２の実施例を示すフロ
ーチャート図、

【図１７】第２実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、

【図１８】未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一
例を示す図、

【図１９】指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す模
式図。

【符号の説明】

１……測定光学系及び検出器１１……Ｙ軸送り機構１２……Ｘ軸送り機構１４、１５……ハンド２０……レンズ押え部３０……印点部２０３……シーケンサ２０６……比較回路２０９……演算回路２１１……ＲＡＭ２１２……ＲＯＭ

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】測定光源からの光束を被検レンズを介し
て受光することにより屈折特性を求めるレンズメーター
において、被検レンズの異なる位置での屈折特性を測定する測定手
段と、該測定手段によって得られた測定値とその測定位置とを
記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶されたデータに基づいて被検レンズの
屈折特性の分布状態を演算するための演算手段とを有す
ることを特徴とするレンズメーター。