JPH11218467A - レンズメーター - Google Patents

レンズメーター

Info

Publication number
JPH11218467A
JPH11218467A JP33159298A JP33159298A JPH11218467A JP H11218467 A JPH11218467 A JP H11218467A JP 33159298 A JP33159298 A JP 33159298A JP 33159298 A JP33159298 A JP 33159298A JP H11218467 A JPH11218467 A JP H11218467A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
distance
power
mark
sequencer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP33159298A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3115279B2 (ja
Inventor
Fumio Otomo
文夫 大友
Shinichi Nakamura
新一 中村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Topcon Corp
Original Assignee
Topcon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Topcon Corp filed Critical Topcon Corp
Priority to JP10331592A priority Critical patent/JP3115279B2/ja
Publication of JPH11218467A publication Critical patent/JPH11218467A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3115279B2 publication Critical patent/JP3115279B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 隠しマーク、メーカー提供のレンズマークシ
ートを必要とせず、かつ、素性の明かでない累進多焦点
レンズであってもその近用度数を正確かつ迅速に測定で
きるレンズメーターを提供すること。 【解決手段】 累進多焦点レンズの遠用部において測定
された遠用度数としての球面度数、円柱度数及び軸角度
を記憶する記憶手段と;前記記憶手段に記憶された円柱
度数を測定している部位の円柱度数と比較して円柱度数
が変化したか否かを判別する比較手段と;前記比較手段
の円柱度数の比較結果の出力に基づいて該測定部位が累
進帯部からはずれたことを判別する判別手段とを有する
ことを特徴とするレンズメーター。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、隠しマーク、メー
カー提供のマークシートを必要とせずフレーム入りの累
進多焦点レンズ、素性の明かでない累進多焦点レンズの
近用度数を正確かつ迅速に測定することのできるレンズ
メータに関する。
【0002】
【従来技術】従来から、老視矯正用として、境目のない
累進多焦点レンズがあるが、この累進多焦点レンズは遠
用部、近用部及び両者の間の累進帯部が複雑な非球面で
連続的に構成されているので、二重焦点レンズのように
外観で遠用部、近用部を知ることができず、このため、
レンズメーカーは眼鏡店に納品される円形のアンカット
レンズに各種のマーク、たとえば、遠用部マーク、近用
部マーク、幾何学中心及び光学中心を示すマーク、隠し
マーク等を設け、レンズメータによりたとえば遠用部に
おける球面度数の測定を行う場合には遠用部マークをレ
ンズメータの測定光軸に合わせ、近用部における球面度
数の測定を行う場合には、近用部マークをレンズメータ
の測定光軸に合わせて測定を行っている。
【0003】ところで、アンカットレンズの周囲が研削
されて眼鏡フレームに入れられたフレーム入り累進多焦
点レンズ(眼鏡レンズともいう)を測定することが必要
となることがあるが、フレーム入り累進多焦点レンズで
は周囲が研削されてアンカットレンズに設けられていた
各種のマークのうち遠用部マーク近用部マークを含めて
そのいくつかが消されてなくなっており、かつ、フレー
ム入り累進多焦点レンズは形状が対称的ではないので遠
用部、近用部を外観で見分けるのが困難である。そこ
で、従来、各メーカーはレンズマークシートをあらかじ
め準備し、眼鏡店ではその隠しマークとレンズマークシ
ートとに基づき遠用部、近用部の測定を行うようにして
いるが、各メーカーのマークシートの全てが眼鏡店に準
備されているとは限らず、準備されていたとしてもその
管理が大変であり、また、その隠しマークを探し出すこ
と自体が困難であるのみならず、探し出してレンズマー
クシートをフレーム入り累進多焦点レンズに貼付けて測
定する作業も面倒であるという問題点がある。
【0004】ところで、各レンズメーカーは、眼鏡店に
納品する、眼鏡フレームのレンズ枠に入れる前のアンカ
ットレンズに種々のマーキングを施すことにより、眼鏡
店における屈折特性の測定や眼鏡フレームへの枠入れ時
のレンズ加工の便宜を図っている。図18はその一例を
示すもので、310は水平基準線、311はダイヤマー
ク、315は幾何学中心及び光学中心を示すマーク、3
12はフィッティングマーク、313は遠用屈折特性測
定部指示マーク、316は近用屈折特性測定部指示マー
ク、314は近用加入度数表示、317はメーカーマー
クをそれぞれ示している。そしてレンズメーカーでこの
レンズの遠用部屈折特性を測定するときは、313のマ
ークの○印内にレンズメーターの測定光軸が位置してレ
ンズメーターのレンズ受けの中心に313のマークが合
致するようにレンズをセットする。また近用屈折特性測
定時は、316のマークの丸印をレンズ受けに合致させ
るようにレンズをセットする。さらに必要に応じ、フィ
ッティングマーク312が示す位置における屈折特性を
知りたいときは、マーク312の交点312aをレンズ
受けの中心に合致させるようにレンズをセットする。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】特開昭61-200441 号公
報に開示されているように、フレーム入り累進多焦点レ
ンズの光学中心から各レンズメーカーが指定した寸法だ
けずらして遠用度数、近用度数を測定するという測定方
法が提案されているが、この測定方法は累進多焦点レン
ズの種類があらかじめわかっていないと遠用度数、近用
度数を測定できないという不具合がある。なお、特開昭
54-14757号公報に開示のように像の歪みを検出するレン
ズメータもあるが、このものは、遠用度数と密接な関連
にある近用度数を測定するというものではない。
【0006】本発明の目的は、隠しマーク、メーカー提
供のレンズマークシートを必要とせず、かつ、素性の明
かでない累進多焦点レンズであってもその近用度数を正
確かつ迅速に測定できるレンズメーターを提供すること
にある。
【0007】本発明は、累進多焦点レンズの遠用部にお
いて測定された遠用度数としての球面度数、円柱度数及
び軸角度を記憶する記憶手段と、前記記憶手段に記憶さ
れた円柱度数を測定している部位の円柱度数と比較して
円柱度数が変化したか否かを判別する比較手段と、前記
比較手段の円柱度数の比較結果の出力に基づいて該測定
部位が累進帯部からはずれたことを判別する判別手段と
を有することを特徴とするレンズメーターである。本発
明の実施態様は、前記記憶手段が、測定部位の累進帯部
からの距離を記憶することを特徴とする。本発明はま
た、遠用部及び近用部を有する累進多焦点レンズの光学
特性を測定可能なレンズメーターにおいて、遠用部の基
準円柱度数を記憶するための記憶部と、前記遠用部の基
準円柱度数と測定された円柱度数との差を演算するため
の演算部を有し、前記演算部の出力に基づいて累進多焦
点レンズの屈折特性の分布状態を検出し得るように構成
したことを特徴とするレンズメーターである。
【0008】
【発明の効果】本発明によれば、遠用度数を測定した
後、累進多焦点レンズを近用部の存在する方向に動かし
たとき、累進帯部からはずれると判別手段によりレンズ
メータの測定光軸が累進帯部からはずれたことが判別さ
れるので、表示手段をみながら近用部の位置を確認でき
ることになり、近用度数の測定を容易に行うことができ
る効果を有する。
【0009】
【発明の実施の形態】第1実施例 装置の機械構成 図1は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の機
械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61年
2月27日に同一出願人により出願された発明の名称
「披検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する
自動印点装置」の特許出願を参照されたい。この自動印
点装置は、図1に示すように、被検レンズまたは該レン
ズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、移動させるた
めの支持機構部10と、被検レンズを押さえるためのレ
ンズ押え部20と、被検レンズに印点するための印点部
30と、被検レンズを受けるレンズ受け台40とから大
略構成されている。
【0010】支持機構部10はパルスモーターからなる
Y軸モータ11Mを有し、このモータ11Mの回動によ
りX軸送り機構部12を、例えば送りネジ機構でY軸方
向にそって移動させるY軸送り機構11と、パルスモー
タ12Mを有し、その回動により、例えば送りネジ機構
によりX軸方向にそってハンド開閉部13を移動させる
X軸送り機構12とを有する。ハンド開閉部13は、例
えば直流モータからなるハンドモータ13Mにより回動
される駆動プーリーと、従動プーリーと、両プーリー間
に掛けわたされた無端ベルトから構成された駆動部の該
ベルトに取り付けられ、モータ13Mの回動により矢印
131、132にそって互いに反対方向に移動する2つ
のハンド支持座とから構成される。
【0011】ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印1
33、134方向にそって所定範囲内に上下動すなわち
Z軸方向にそって移動可能にハンドテーブル135、1
36が取付けられている。ハンドテーブルのアーム13
7、138には、アンカットレンズのコバ面に挟持する
ための内側当接面141、151と、図示するように眼
鏡フレームFのテンプルTと当接する外側当接面14
2、152とを有する左、右のハンド14、15が軸1
43、153に回動自動に取付けられている。レンズ受
け台40は、本発明の自動印点装置が組込まれるレンズ
メーターの測定光学系の光軸Oが貫通する開口41を有
する円筒部材42と、その円筒部材42の上端部に植設
された3本のレンズ受けピン43とから構成されてい
る。レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押え
モータ20MによりZ軸方向にそってレンズ押えテーブ
ル21を上下動するためのレンズ押え送り機構22を有
し、レンズ押えテーブル21のアーム23から下方に張
出した支柱24の先端に3本のレンズ押えピン25を有
するレンズ押え座26を有している。
【0012】レンズ押えテーブル21には印点部30の
送り機構31が固定されている。送り機構31には印点
ベース32を矢印33方向に移動するためのパルスモー
ターからなる印点移動モータ30Mが組みこまれてい
る。印点ベース32には、ムービングコイル34により
Z軸方向に押し出される印点ピン35が取付けられてい
る。印点ベース32が初期位置にあるとき、印点ピン3
5の下方にはインク壺36が設置されている。
【0013】制御駆動回路系 図2は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示すブ
ロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出願
を参照されたい。X軸モータ12M、Y軸モータ11
M、及び印点移動モータ30Mは、パルス発生器(図示
せず)と、それからのパルスの各モータへの供給を制御
するパルスドライバ回路200に接続されている。レン
ズ押えモータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流
制御回路201に接続されて一定電流で駆動するため、
レンズの押え圧及びハンド14、15によるフレームF
の保持圧は一定に保たれる。印点ムービングコイル34
はドライバ回路202に接続されている。上記パルスド
ライバ回路200、定電流制御回路201、ドライバ回
路202は、マイクロコンピュータから成るシーケンサ
203に接続され、その制御をうける。
【0014】シーケンサ203には、被検レンズの保持
や眼鏡フレームFの初期の保持及び位置付けのコントロ
ールをするための初期コントロール回路204と、比較
回路206、検出器1からの情報に基づき被検レンズの
屈折特性を決定する屈折特性測定値処理部と、RAM
(ランダム アクセス メモリ)211と演算回路20
9と、プログラムメモリ213と、アライメント選択ス
イッチ205とが接続されている。レンズの屈折特性測
定値を表示するための例えばCRTディスプレイまたは
液晶ディスプレイから成る表示器208が処理部207
に接続されている。RAM211は、比較回路206
と、演算回路209とシーケンサ203と、初期コント
ロール回路204とに接続されている。このRAM21
1には遠用近用位置入力キーボード210が接続されて
いる。ROM(リードオンリーメモリ)212は演算回
路209と初期コントロール回路204に接続されてい
る。
【0015】作動シーケンス 眼鏡フレームのセット 図3は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れし
た眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャートで
ある。 〈ステップS−1〉初期コントロール回路204は、プ
ログラムメモリ213のプログラムに従って定電流制御
回路201を介してハンドモータ13Mを作動させ、ハ
ンド14、15を閉じさせる。 〈ステップS−2〉測定者は閉じられたハンド14、1
5上に印点したい眼鏡レンズを枠入れした眼鏡フレーム
Fを載置する。 〈ステップS−3〉初期コントロール回路204は定電
流制御回路201を介してハンドモータ13Mを反転さ
せ、ハンド14、15を開かせ、フレームFのテンプル
Tに外側当接面142、152を一定圧力で当接させて
フレームFを保持する。 〈ステップS−4〉初期コントロール回路204は右眼
の印点が終了しているか否かを判断し、YESの場合
は、ステップS−8へ、NOの場合は次ステップS−5
へ移行する。 〈ステップS−5〉右眼レンズを測定光学系1の光軸O
上に位置させるために、初期コントロール回路24はR
OM212に予めメモリされている指定PD値の半分の
距離に相当するパルス数を読み出し、パルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを回転させてハンド
開閉部13を移動させる。
【0016】〈ステップS−6〉初期コントロール回路
204は定電流制御回路201を介してレンズ押えモー
タ30Mを作動させ、レンズ押えテーブル21を下降さ
せる。これによりレンズ押えピン25が右眼レンズを押
える。すなわち、右眼レンズは、レンズ受け台40のレ
ンズ受けピン43とレンズ押えピン25で挟まれる。ま
た、フレームFはハンド14、15によっても保持され
るため十分な安定性をもって保持される。 〈ステップS−7〉後に詳述する印点サブルーチンによ
り印点された後ステップS−4にリターンし、ここで右
眼終了か否かを判定し、右眼終了と判定されて次ステッ
プS−8へ移行する。 〈ステップS−8〉初期コントロール回路204はモー
タ20Mを反転し、レンズ押え部20を初期位置へ復帰
させた後、前記ステップS−5とは逆方向にX軸モータ
12Mを回転させ、ROM212にメモリされている所
定PD値に相当する距離だけハンド開閉部13を移動さ
せる。 〈ステップS−9〉及び〈ステップS−10〉それぞれ
前記ステップS−6及び前記ステップS−7と同じ動作
を実行する。印点サブルーチン
【0017】次に、前記ステップS−7の印点サブルー
チンを図4に基づいて詳説する。 〈ステップ1〉測定者はアライメント選択スイッチ20
5を操作して、「光学中心」基準で印点するか「フレー
ム幾何学中心」基準で印点するかを選択する。「フレー
ム幾何学中心」基準は、例えばプリズムシーニング加工
が施されたレンズであって、遠用光学中心がレンズ外に
あるようなレンズが被検レンズとなった場合に選択され
る。「光学中心」基準が選択されたときは次ステップ2
に移行し、「フレーム幾何学中心」基準が選択された場
合はステップ4に移行する。 〈ステップ2〉測定者はメーカーマーク317(図18
参照)を調べることにより製品名を知り、レンズメーカ
ー発行のマニアルから予め遠用測定部313及び近用測
定部316の光学中心(または幾何学中心)315から
の距離A、B、Cがわかっている場合は、遠用・近用位
置入力キーボード210を操作してその値を入力する。
入力データはRAM211に記憶される。
【0018】距離データA、B、Cの入力がない場合
は、ROM212に予めメモリされている距離データ、
例えばマーケットシェアの高いレンズの距離データが利
用される。 〈ステップ3〉シーケンサ203は検出器1を作動さ
せ、レンズの遠用プリズム度数を測定する。検出器から
の検出データは処理部207で逐時プリズム度数データ
に変換処理され、比較回路に入力される。比較回路20
6はROM212に記憶されている判定基準プリズム度
数|PX |=0.03及び|PY |=0.03を読み出し、
これと処理部207からのプリズム度数測定データとを
比較し、その結果をシーケンサ203に入力する。
【0019】シーケンサ203はプリズム測定データP
X 、PY が|PX |<0.03、|P Y |<0.03となる
までパルスドライバ回路200を介してX軸12M、Y
軸モータ11Mを作動させてレンズを移動し、比較回路
206が|PX |<0.03及び|PY |<0.03と判定
したレンズ移動位置を、図19に示すように光学中心位
置(OX 、OY )としてRAM211へ記憶させる。そ
の後ステップ10へ移行する。 〈ステップ4〉前述のステップ1で「フレーム幾何学中
心」基準が選択された場合、測定者は左右眼の被検レン
ズ間のPD値(幾何学中心間の距離または装用者の瞳孔
間距離)を入力する。PD値の入力がないときは、標準
値として予め定められROM212に記憶されているP
D値を利用する。 〈ステップ5〉前述ステップ2と同様の動作を実行す
る。 〈ステップ6〉初期コントロール回路204はステップ
3のPD値に基づいてパルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12Mを作動させ、指定PD位置すなわち
測定点が光軸O上にくるようにレンズを移動する。例え
ばステップ2の入力PD値が68m/mであり、本印点
装置のROM212に記憶設定されていた標準PD値が
64m/mの場合、前記ステップS−5でPD64m/
mの標準位置に位置付けられているから、(68−6
4)÷2=2m/m分ハンド開閉部を移動させることに
より指定PD位置が光軸O上に位置される。 〈ステップ7〉シーケンサ203は検出器1を作動させ
ると同時にパルスドライバ回路200を介してY軸モー
タ11Mを作動させ、レンズをY軸方向に移動させる。
そしてフレームFのレンズ枠LFの上側リムUL(図1
9参照)が光軸O上に位置し、検出器1による測定が不
能になるまでのY軸モータ11Mへのパルス供給数をR
AM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ8〉シーケンサ203はパルスドライバ回路
200を制御してY軸モータ11Mを反転させ、下側リ
ムLLが光軸O上に位置するまでのY軸モータ11Mへ
の供給パルス数をRAM211に一時的に記憶させる。 〈ステップ9〉前記ステップ7とステップ8で得られた
上側リムUL及び下側リムLL検出までのY軸モータ1
1Mへの供給パルス数間の差の半分の値を計算し、その
結果及び前記ステップ6の位置から図19に示すように
フレーム幾何学的中心(GX 、GY )を決定する。 〈ステップ10〉シーケンサ203はRAM211から
前記ステップ2またはステップ4で入力された遠用測定
部距離A(入力がない場合は、ROM212に記憶され
ている所定値、以下同じ)を読み出し、パルスドライバ
回路200を介してY軸モータ11Mを作動させる。ス
テップ1で「光学中心」基準を指定した場合はサブステ
ップ1で決定された光学中心(OX 、OY )、またはス
テップ1で「幾何中心」基準を指定した時はサブステッ
プ2で決定された幾何学中心(GX 、GY )から距離だ
けレンズを移動させ、遠用測定部313を測定光学系1
の光軸Oと一致させる。(ステップ2または5でのAの
入力がない場合は、レンズ本来の遠用測定部313と光
軸Oとは一致しない。) 〈ステップ11〉シーケンサ203は検出器1と処理部
207を作動させて遠用測定部313の屈折特性を測定
し、その結果を表示器208で表示するとともに、その
結果を基準遠用球面度数MS、基準遠用円柱度数MCと
してRAM211に記憶させる。 〈ステップ12〉シーケンサ203はRAM211から
ステップ2またはステップ4で入力された近用測定部距
離B、Cを読み出し、パルスドライバ回路200を介し
てX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを作動させレン
ズの近用測定部316を光軸O上に移動させる。(ステ
ップ2または5でB、Cの入力がない場合は、レンズ本
来の近用測定部316と光軸Oは一致しない。) 〈ステップ13〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、レンズ
を鼻側及び耳側に順次移動させ、移動中の時々刻々のレ
ンズの屈折特性値S(球面度数)及びC(円柱度数)を
処理部207から演算回路209へ入力させる。処理部
207から演算回路209へ入力させる。処理部207
は、基準遠用球面度数MSと、基準遠用円柱度数MC
と、時々刻々の近用屈折特性測定値S及びCとから近用
加入度ADDを
【0020】
【数1】
【0021】として計算し、比較回路206に入力す
る。比較回路206は、処理部207から時々刻々入力
されるADD値からその最大の値ADDM をもつレンズ
の移動位置K1(Xk1,yk1)を決定し、シーケンサ3にその
位置情報を出力する。これと同時に最大近用加入度数A
DDM をRAM211に記憶させる。シーケンサ203
は、その位置情報K1(Xk1,yk1)に基てX軸モータ12M
及びY軸モータ11Mを作動させ、レンズを位置K1(
Xk1,1)に移動させる。 〈ステップ14〉演算回路209は、RAM211に記
憶されている最大近用加入度数ADDMとROM212
に予め記憶させている定数群とから遠用部加入度数境界
値Ae 、遠用部円柱度数境界値Ce 、近用部加入度数境
界値Ak 、及び近用部円柱度数境界値Ck を、例えば
【0022】
【数2】
【0023】から計算し、この各境界値Ae 、Ce 、A
k 、Ck をRAM211に記憶させる。 〈ステップ15〉シーケンサ203はパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させ、図9に
示すようにレンズをK1 位置から鼻側と耳側に順次移動
させる。演算回路209はレンズ移動中の時々刻々変化
する測定点毎の処理部207からの測定円柱度数CとR
AM211に記憶されている基準遠用円柱度MCとから
(C−MC)を計算し、その結果を比較回路206へ入
力する。処理部207は上記(a)式にしたがって加入
度数ADDを演算し、その値を比較回路206へ入力す
る。
【0024】比較回路206は処理部207からのAD
D値及び演算回路209からのC−MC値とRAM21
1に記憶させた境界値Ak 、及びCk とを時々刻々に比
較し、レンズの鼻側及び耳側の両方で
【0025】
【数3】
【0026】が成立する測定点があるか否かを判定し、
その判定結果をシーケンサ203へ入力する。
【0027】〈ステップ16〉尚ステップ15で式成
立測定点が鼻側と耳側両方にあると比較回路206が判
定したときは、図9に示すようにシーケンサ203はX
軸モータ12Mを再度作動させレンズを耳側に移動し、
鼻側の式が成立する測定点K2(Xk2,yk1 移動する。次
に、ドライバ回路202を作動させ印点部30の中央の
印点針35のムービングコイル34を励磁し、印点針3
5をインクツボ36に浸した後、パルスドライバ回路2
00を介して、印点部移動モータ30Mを作動させて印
点ベース32を降下させ、中央印点針35を光軸O上に
位置させる。その後ドライバ回路202を介してムービ
ングコイル34を励磁し、レンズ上に印点をする。〈ス
テップ17〉シーケンサ203は次に印点移動モータ3
0Mを反転させて、印点ベース32を初期位置に復帰さ
れた後、X軸モータ12Mを反転させてレンズを鼻側へ
移動し、レンズの耳側で式が成立する測定点K3(
Xk3,yk1)へ移動し、以下ステ16と同様の動作で、その
測定点K3 へ印点する。 〈ステップ18〉シーケンサ203は近用加入度ADD
最大位置K1(Xk1,yk1)のx座標値XkRAM211から読
み出し、パルスドライバ回路200を介してXモータ1
2Mを駆動してレンズをK1 位置へ復帰させる。 〈ステップ19〉シーケンサ203は、次にY軸モータ
11Mを作動させ、レンズを近用方向に移動させ、レン
ズの遠用方向よりの近用部分に測定点を求める。時々刻
々移動中のレンズの屈折特性は処理部207から比較回
路206に入力され、比較回路206は上記式の条件
を満足するか否かを判定し、その結果をシーケンサ20
3に入力する。シーケンサ203は比較回路206から
条件式を「満足する」旨指令が入力されると、Y軸モ
ータ11Mの作動を停止すると同時に、図9に示すよう
に測定点K5(Xk5,yk5)に印点する。
【0028】または、これと同時に印点位置K5(
Xk5,yk5)のX−Y座標値はRAM21記憶される。 〈ステップ20〉演算回路209はRAM211から位
置K1 と印点位置K5 のy座標yk1 、及びyk5 を読み出
し、
【0029】
【数4】
【0030】のy座標を有し、x座標は Xk5(=Xk5)をも
つ移動位置K6(Xk5,yk6)≡K66) を演算で求める。この
データを基にシーケンサ203はY軸モータ11Mを動
させ、移動位置K6 が光軸Oと一致するようにレンズを
移動させる。
【0031】〈ステップ21〉前記ステップ16及びス
テップ17と同様の動作により図9に示すようにK7
8 を印点する。その後前記位置K5 へ復帰する。 〈ステップ22〉前記ステップ16で比較回路206が
条件式を耳側・鼻側の両側で「満足しない」と判定し
たときは、図10に示すように、シーケンサ203はX
軸モータ12Mを作動させ、RAM211の位置K1
座標データ(Xk1,yk1)を基にレズをK1 へ移動させる。 〈ステップ23〉次にシーケンサ203はY軸モータ1
1Mを作動させ、条件の式を満足するまでレンズを遠用
方向へ移送させ、条件式を満足する測定点K9(
Xk9,yk9)がOと一致したときY軸モータ11Mを停止さ
せ、ドライバ回路202を介して測定点K9 に印点す
る。 〈ステップ24〉図10に示すように印点位置K9 のx
座標Xk9 に予め定めた距離aをROM212から読み出
し、演算回路209で( Xk9-a)をx座標とする位置K
10( Xka, yk9)≡K10( Xk10,yk10)を演算させ、シーケン
サ203はレンズをK10へするためにパルスドライバ回
路200を介してX軸モータ12Mを作動させる。 〈ステップ25〉レンズを位置K10に移動させた後、シ
ーケンサ203はY軸モータ11Mを作動させ、レンズ
の近用方向に測定点を求めるためにレンズを移動させ、
近用部加入度数境界値Ak と近用部円柱度数境界値Ck
に対し、レンズ移動中の時々刻々の測定点の屈折特性測
定値に基づく処理部207からの加入度数ADD及び近
用円柱度数C−MCが
【0032】
【数5】
【0033】を満たすまで測定点をY軸方向にそって移
動させる。レンズが条件式を満足する位置へ移動した
ら、次にシーケンサ203はY軸モータ11Mを反転さ
せてレンズの遠用方向に測定点を求めるべくレンズを移
動させ、その移動途中の時々刻々の屈折特性値に基づい
て、前記条件式を満足する測定点K11Xk11,yk11)レ
ンズ移動し、測定点K11に印点する。これと同時に印点
位置K11Xk11,yk11)の座標データをRAM211に記
憶させる。 〈ステップ26〉演算回路209はRAM211の印点
位置K11の座標データ(Xk11,yk11)の座標Xk11を読み出
し、これにROM212に予め定数として記憶されてい
る距離データaを基にして(Xk11+2a)≡Xk12を演算す
る。この演算結果に基づいてシーケンサ203はX軸モ
ータ12Mを作動させ、(Xk11+2a,yk11) を位置座標と
する移動位置K12が光軸Oと一致するようにレンズを移
動させる。 〈ステップ27〉前記ステップ25と同様の動作で位置
13に印点する。 〈ステップ28〉比較回路206は印点位置K9 、K11
及びK13の各y座標yk9 yk11yk13の大小を比較し、
図10のように|yk11|>|yk9 |<|yk13|すなわち
中央の印点位置K9 がもっとも遠用方向側にあるときは
次ステップ30へ移行させる。比較回路206が|yk11
|>|yk9 |<|yk13|、すなわち図11に示すよう
に、耳側の印点位置K13がもっとも遠用方向よりにある
と判定したときはステップ31へ移動する。さらに比較
回路206が|yk11|<|yk9 |<|yk13|、すなわち
図12に示すように、鼻側の印点位置K11がもっとも遠
用方向よりにあると判定したときはステップ38へ移行
する。
【0034】〈ステップ30〉シーケンサ203は、パ
ルスドライバ回路200を介してX軸モータ12M及び
Y軸モータ11Mを、RAM211に記憶されている印
点位置K9(Xk9,yk9)座標データに基づいて駆動制御し、
印点位置K9 にレンズを復帰させる。 〈ステップ31〉演算回路209はRAM211に記憶
されている位置K1 のx座標Xk1 にROM212に予め
定数として記憶してある距離bを加算し、新たに移動位
置K14( Xk1-b ,yk13)≡K14( Xk14,yk14)を求める。こ
の位置K14の座標データに基てシーケンサ203はX軸
モータ12Mを作動させ、レンズを鼻側に移動し、図1
1に示すようにK14に光軸Oが位置するようにレンズを
移動させる。 〈ステップ32〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、位置K15に印点する。 〈ステップ33〉比較回路206は、ステップ25で印
点された印点位置K11と前ステップ32で印点された印
点位置K15の座標yk11yk15の大小を比較する。比較回
路206が|yk15|<|yk11|と判定したとき(図11
に×印でK'15 のように印点さたとき)は次ステップ3
4へ移行し、|yk15|>|yk11|と判定したときはステ
ップ35へ移行する。 〈ステップ34〉シーケンサ203はRAM211の印
点位置K11Xk11,yk11)の座標データ読み取り、X軸モ
ータ12M及びY軸モータ11Mを駆動制御し、レンズ
を印点位置K13に復帰させる。
【0035】〈ステップ35〉演算回路203はROM
212に予め定数として記憶されている距離データc
(c>b)を読み込み、新たな移動位置K16( Xk1-c
,yk15)≡K16( Xk16,yk1を求める。シーケンサ203は
このK16の座標データに基づいてX軸モータ12Mを駆
動制御し、位置K16にレンズを移動する。 〈ステップ36〉前述のステップ25と同様の動作を実
行し、K17に印点する。 〈ステップ37〉シーケンサ203はレンズをK13に復
帰させる。 〈ステップ38〉演算回路209はROM212に記憶
されている定数bを読み出し、図12に示すように新た
な移動位置K18( Xk1+b ,yk11)≡K18( Xk18,yk18)を求
めケンサ203は位置K18にレンズを移動させる。 〈ステップ39〉前述のステップ32ないしステップ3
7と同様の動作を実行し、図12に示すように位置
19、K21にそれぞれ印点する。なお、本ステップでは
印点位置K19のy座標yk19と印点位置K13のy座標、
yk13の大小を比較する。|yk19|>|yk13|のとき、新
たな位置、K20はK20( Xk1+c ,yk19)≡K20( 20 ,yk20)
を求める点か前述のステップ32ないしステップ37と
相違する。そ後、印点位置K11にレンズを復帰させる。
【0036】以上にて近用部の印点を終了し、次ステッ
プ40以降遠用部の印点へ移行する。
【0037】〈ステップ40〉前述のステップ21の復
帰後の印点位置K5 、ステップ30が実行されたときは
復帰位置K9 、ステップ34または37が実行されたと
きは復帰位置K13、ステップ39が実行されたときは復
帰位置K11を起点として、図9に示すようにシーケンサ
203にパルスドライバ回路200を介してY軸モータ
11Mを作動させる。これらによりレンズは近用方向に
移動し、レンズの遠用方向側に測定点を求める。処理部
207からはレンズ移動中時々刻々の測定点屈折特性値
すなわち測定遠用加入度数ADDが比較回路206に入
力され、一方測定円柱度数C、は演算回路209に入力
される。演算回路209はRAM211に記憶されてい
た前述のステップ11で得られた基準遠用円柱度数MC
を入力された測定円柱度数Cから減算し、その結果(C
−MC)を比較回路206へ入力する。
【0038】比較回路206は、RAM211に入力さ
れていた遠用加入度数境界値Aeと遠用円柱度数境界値
Ceを読み出し、演算回路209からの入力値(C−M
C)と処理部207からの遠用加入度数ADDとから、
移動中のレンズの測定点の加入度数ADDと円柱度数差
(C−MC)が
【0039】
【数6】
【0040】を満足するか否かを判定し、満足したらシ
ーケンサ203にその旨を指令する。
【0041】〈ステップ41〉シーケンサ203は比較
回路206からの「条件満足」の信号を受けると、パ
ルスドライバ回路200を介してY軸モータ11Mを反
転させ、レンズの近用方向が測定点となるようにレンズ
を前回とは逆に移動させる。この反転移動中の処理部2
07からの時々刻々の測定点毎の加入度数ADDと円柱
度数Cとは上述と同様に演算回路209で円柱度数差
(C−MC)が演算される。比較回路206は加入度数
ADDと円柱度数差(C−MC)を遠用加入度数境界値
Ae及び遠用円柱度数境界値Ceと比較して
【0042】
【数7】
【0043】が成立するか否かを判定し、成立したとき
その旨をシーケンサ203に出力する。シーケンサ20
3は比較回路206からの指令を受けるとY軸モータ1
1Mを停止させレンズ移動を止めるとともに、ドライバ
回路202を介して条件式の成立測定点位置E1 に印
点する。それとともにE1 の座標 (XE1,YE1)をRAM1
1に記憶させる。
【0044】〈ステップ42〉シーケンサ203はRO
M212から予め定数として記憶されている距離dを読
み出し、X軸モータ12Mを作動し、その距離dだけレ
ンズの鼻側が測定点となるようにレンズを耳側に移動
し、移動位置E2 を測定点とする。 〈ステップ43〉前述のステップ40及びステップ41
と同様の動作を実行し、条件式を満足する測定点E3
を印点する。 〈ステップ44〉シーケンサ203はROM212に記
憶されている距離dの2倍の2dだけレンズを鼻側へ移
動し、E4 を測定点とした後、前述のステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E5 に印点する。 〈ステップ45〉ステップ41ないしステップ44で印
点されたE1 、E3 及びE5 の各々のy座
YE1 YE3 YE5 YE5 と近用部の印点位置K5 (ま
たはK1 、K11あるいはK13) のy座標YE5 とのY軸方
向距離YE1、YE3、YE5を演算回路209で演算する。
この演算結果を比較回路206に出力する。比較回路2
06はYE3≧Y E1≦YE5のとき、すなわち中央の印点位
置E1 がもっとも近用方向よりのときは次ステップ46
に移行し、図13に示すように、YE3<YE1<YE5のと
きはステップ48へ移行し、図14に示すようにYE3
E1>YE3のときはステップ49へ移行する。 〈ステップ46〉図9に示すように、距離dだけさらに
耳側方向へ測定点を移動させE6 を測定点とする。その
後、ステップ40及び41と同様な動作を実行し、E7
印点する。その後E7 点から距離4dだけレンズを耳側
に移動し、E8 を測定点としたのち、ステップ40及び
41と同様の動作を実行し、測定点E9 を印点する。 〈ステップ48〉図13に示すように、印点位置E5
ら距離3dだけレンズをY軸方向にそって耳側へ移動
し、鼻側の測定点E10を得る。その後、ステップ40、
41と同様の動作を実行し、測定点E11に印点し、さら
に距離Lだけ鼻側に測定点を移動し、E12を測定点とし
ステップ40、41と同様の動作を実行し、測定点E13
を印点する。 〈ステップ49〉図14に示すように印点位置E5 から
距離dさらに耳側の測定点E14を得た後、ステップ4
0、41と同様の動作を実行しE15に印点する。さらに
耳側の測定点E16へ移動し、ステップ40、41と同様
の動作から測定点E17に印点する。
【0045】以上の印点動作により、図15に示すよう
に、条件式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入
度数境界値Ak に対し、ADD≦Ak となるか、または
測定円柱度数Cと遠用部円柱度数MCとの差(C−M
C)が近用円柱度数境界値Ckに対し(C−MC)≧C
k となる境界線401上に印点される。このことは境界
線401に囲まれた領域401は「ADD≧Ak 及び
(C−MC)≦Ck 」の領域となる。この領域410は
近用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度
数1.00Dのレンズでは、例えば(b)式より
【0046】
【数8】
【0047】とあたえられる。従って、領域410は、
加入度数0.75D以上でかつ円柱度数0.25D以下の領
域となる。そしてこの領域には必ずレンズメーカー指定
の近用測定部316が含まれる。また、図15に示すよ
うに、条件式で、すなわち測定加入度数ADDが遠用
加入度数境界値Ae以上か、または測定円柱度数差(C
−MC)が遠用円柱度数境界値Ceより大きい境界線4
02上にも印点される。この境界線402より遠用方向
側はADD≦Aeかつ(C−MC)≦Ceの領域420
となり、遠用作業が楽にできる領域である。例えば加入
度数ADDM が1.00Dのレンズを例に、例えば(b)
式を境界値とすると、
【0048】
【数9】
【0049】となるから、領域420は、加入度数が0.
33D以下でかつ円柱度数差が0.33D以下の領域とな
る。この領域420内には必ずレンズメーカー指定の遠
用測定部313が入いる。
【0050】第2実施例 次に図16及び図17に基づいて本発明の第2の実施例
を説明する。本実施例は前述の第1実施例と装置構成は
同様で図3に示したフローチャートの印点サブルーチン
(ステップS−7及びステップS−10)のみ相異す
る。図16はその印点サブルーチンのみを示している。
以下この第2実施例の印点サブルーチンを説明する。
【0051】〈ステップ2−1〉前述の第1実施例の印
点サブルーチンのステップ1ないし14を実行する。 〈ステップ2−2〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させて同時にパルスを供給し、位置K1
を起点として測定点を鼻側に45°方向に移動させる。
レンズ移動中の時々刻々の処理部207からの測定加入
度数ADD及び測定円柱度数Cを基に演算回路209及
び比較回路206は前述のステップ15(第1実施例)
と同様の動作で条件式が成立する測定点K2 を探し、
シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介して
印点移動モータ30Mを作動し、その後ドライバ回路2
02を介してその測定点K2 に印点する。 〈ステップ2−3〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200がX軸モータ12Mを作動させ、測定点を耳
側に図17に示すように距離e移動させる。なお、距離
eはROM212に定数として予め記憶されている。 〈ステップ2−4〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介してX軸モータ12MとY軸モータ11
Mに互いに同期させてパルスを供給し、駆動することに
より近用方向に45°方向にそって測定点を移動させ
る。
【0052】この測定点移動中の時々刻々の処理部20
7からの測定加入度数ADDと円柱度数Cとから演算回
路209と比較回路206は前述のステップ25(第1
実施例)と同様に条件式を満足する測定点を探す。
【0053】〈ステップ2−5〉シーケンサ203は次
に、X軸モータ12MとY軸11Mを逆転させ、前記ス
テップ2−4の移動ルートを逆方向に同一ルートにそっ
て条件式を満足する測定点を探す。条件式を満足す
る測定点のx座標とRAM211に記憶させておいた加
入度数最大位置K1 のx座標Xk1 との差(x−xk1) を
演算回路209で演算し、x−xk1) の正負を比較回路
206で判定させる。この判定が「正」のときはテップ
2−7に移行し、「負」または「等しい」ときはステッ
プ2−6へ移行する。 〈ステップ2−6〉シーケンサ203はパルスドライバ
回路200を介して印点移動モータ30Mを駆動し、印
点ベース32を下降させた後、ドライバ回路202を介
してムービングコイル34を励磁し、中央の印点針35
で測定点Kn を印点する。 〈ステップ2−7〉シーケンサ203は位置K1 X1y
座標値( Xk1,yk1)をRAM211から読取り、その値に
基づいてX軸モータ12M、Y軸モータ11Mを駆動し
てレンズ移動し、加入度数最大位置K1 に測定点を復帰
させる。 〈ステップ2−8〉シーケンサ203は、X軸モータ1
2M、Y軸モータ11Mに同数のパルスを同期させ供給
し、測定点を耳側に45°方向に移動させる。そしてレ
ンズ移動中に時々刻々の測定加入度数ADDと測定円柱
度数から条件式を満足する測定を探し、条件式を満
足する測定点K3 に印点する。 〈ステップ2−9〉前述のステップ2−4ないしステッ
プ2−6と同様の動作を実行し、条件式を満足する測
定点Ke(e=4、5or6)に印点する。ただし、本ス
テップでは前述のステップ2−5の「鼻側に45°移
動」ステップが「耳側に45°移動」となり、また「x
−xk1>0」の判定ステップが「x−xk1<0」に
なる点が相違する。以上のステップ2−1ないしステッ
プ2−9で近用部の印点を終了する。
【0054】〈ステップ2−10〉シーケンサ203は
前述のステップ2またはステップ5(第1実施例参照)
で指定された遠用指定位置E1 の座標値(XE1,YE1 )を
RAM211から読み取り、X軸モータ12M、Y軸モ
ータ11Mを駆動制御して測定点をE1 上に移動させる
べくレンズを移動させる。 〈ステップ2−11〉前記ステップ2−2と同様の動作
を実行し、測定点E2 に印点する。 〈ステップ2−12〉前記ステップ2−3と同様の動作
を実行し、測定点を耳側に移動させる。なお、このとき
移動距離は予めROM212に記憶されていたfとす
る。(f=eと定めてもよい)。 〈ステップ2−13〉シーケンサ203はX軸モータ1
2MとY軸モータ11Mを駆動制御して遠用方向に45
°方向にそって測定点を移動すべくレンズを移動させ
る。レンズ移動中の時々刻々の測定加入度数ADDと測
定円柱度数Cとから前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。 〈ステップ2−14〉条件式を満足する測定点をみつ
けたら、シーケンサ203はX軸モータ12M、Y軸モ
ータ11Mを反転させ、ステップ2−13の移動ルート
を逆に測定点を進め前述の条件式(第1実施例参照)
を満足する測定点を探す。
【0055】条件式を満足する測定点のx座標と指定
遠用位置E1 のx座標XE1 の差(x−XE1 )の正負を比
較回路206で判定し、「負」または、「等しい」とき
はステップ2−15に移行し、「正」のときはステップ
2−16に移行する。
【0056】〈ステップ2−15〉測定点En (n=
4、6or 8) に印点する。 〈ステップ2−16〉指定遠用位置E1 に測定点に復帰
させる。 〈ステップ2−17〉指定遠用位置E1 を起点として耳
側45°方向に測定点を移動すべくレンズを移動させ、
条件式を満足する測定点E3 に印点する。 〈ステップ2−18〉前記ステップ2−12ないしステ
ップ2−15と同様の動作を実行し、条件式を満足す
る測定点Ee(e=5、7or9)に印点する。ただし本
ステップでは前記ステップ2−12の「耳側」を「鼻
側」とし、ステップ2−14の「鼻側」を「耳側」と
し、「x−XE1 >0」を「x−XE1 <0」とする点が相
違する。
【0057】以上説明した第1及び第2の実施例では、
いずれも近用部と遠用部の両方に印点しているが、本発
明は必ずしもこれに限定されない。必要に応じ遠用部の
み、または近用部のみの印点シーケンスを実行するよう
にシーケンサ203の実行フローを選択できるように構
成してもよい。また上記実施例では、条件式ないし条
件式では測定加入度数ADDと測定円柱度数差(C−
MC)の両方について境界値と比較しているが、測定加
入度数についてのみ比較してもよい。さらに上述の実施
例では、条件式または式を満足する測定点上に測定
毎に印点したが、そのかわりにそれら条件を満足する測
定点座標データ一時的にRAM211に全て記憶させ
る。そして全測定点のデータ取り込み後、印点動作のみ
を集中的に実行してもよい。また、印点位置は測定点上
である必要は必ずしもなく、条件式を満足する領域内で
あれば測定点から所定距離隔てた点に印点してもよい。
このことは、印点マークがレンズ押えピン25によりレ
ンズ移動中に消されるのを防止するために、印点位置と
レンズ押えピン25の配位関係をレンズ移動に計算し、
次々に測定点、すなわち印点点を決定していくとき有効
である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示す
斜視図、
【図2】図2はレンズ印点装置のレンズ印点装置の作動
ルーチンを示すフローチャート図、
【図3】レンズ印点装置の作動ルーチンを示すフローチ
ャート図、
【図4】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、
【図5】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、
【図6】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、
【図7】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、
【図8】図3のフローチャートの印点サブルーチンの第
1の実施例を示すフローチャート図、
【図9】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定点
の移動ルートとともに示す模式図、
【図10】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、
【図11】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、
【図12】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、
【図13】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、
【図14】第1実施例によるレンズへの印点状態を測定
点の移動ルートとともに示す模式図、
【図15】第1実施例によるレンズへの印点の一例を遠
用領域及び近用領域とともに示す模式図、
【図16】印点サブルーチンの第2の実施例を示すフロ
ーチャート図、
【図17】第2実施例によるレンズへの印点状態の一例
を測定点の移動ルートとともに示す模式図、
【図18】未加工の累進多焦点レンズのマーキングの一
例を示す図、
【図19】指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す模
式図。
【符号の説明】
1……測定光学系及び検出器 11……Y軸送り機構 12……X軸送り機構 14、15……ハンド 20……レンズ押え部 30……印点部 203……シーケンサ 206……比較回路 209……演算回路 211……RAM 212……ROM

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 累進多焦点レンズの遠用部において測定
    された遠用度数としての球面度数、円柱度数及び軸角度
    を記憶する記憶手段と、 前記記憶手段に記憶された円柱度数を測定している部位
    の円柱度数と比較して円柱度数が変化したか否かを判別
    する比較手段と、 前記比較手段の円柱度数の比較結果の出力に基づいて該
    測定部位が累進帯部からはずれたことを判別する判別手
    段とを有することを特徴とするレンズメーター。
  2. 【請求項2】 前記記憶手段が、測定部位の累進帯部か
    らの距離を記憶することを特徴とする請求項1に記載の
    レンズメーター。
  3. 【請求項3】 遠用部及び近用部を有する累進多焦点レ
    ンズの光学特性を測定可能なレンズメーターにおいて、 遠用部の基準円柱度数を記憶するための記憶部と、前記
    遠用部の基準円柱度数と測定された円柱度数との差を演
    算するための演算部を有し、前記演算部の出力に基づい
    て累進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を検出し得る
    ように構成したことを特徴とするレンズメーター。
JP10331592A 1998-11-20 1998-11-20 レンズメーター Expired - Lifetime JP3115279B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10331592A JP3115279B2 (ja) 1998-11-20 1998-11-20 レンズメーター

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10331592A JP3115279B2 (ja) 1998-11-20 1998-11-20 レンズメーター

Related Parent Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP35143297A Division JP2915882B2 (ja) 1997-12-19 1997-12-19 レンズメーター

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11218467A true JPH11218467A (ja) 1999-08-10
JP3115279B2 JP3115279B2 (ja) 2000-12-04

Family

ID=18245382

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10331592A Expired - Lifetime JP3115279B2 (ja) 1998-11-20 1998-11-20 レンズメーター

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3115279B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP3115279B2 (ja) 2000-12-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8215772B2 (en) Method of acquiring of at least a portion of the shape of a section of a spectacle frame circle
EP1964630A1 (en) Lens surface cutting device, lens surface cutting method of spectacles, and lens of spectacles
JPH1148114A (ja) 眼鏡枠測定方法及びその装置並びにそれらを備える眼鏡レンズ研削加工装置
US5414505A (en) Lens meter for testing progressive lens
JP2838391B2 (ja) レンズメーター
JP4068177B2 (ja) レンズ研削加工装置
JPH11218468A (ja) レンズメーター
JP3075870B2 (ja) ヤゲン付き眼鏡レンズの供給方法
JP2801620B2 (ja) レンズメータ
JP2779929B2 (ja) レンズメーター
JPH11218467A (ja) レンズメーター
JP2551989B2 (ja) レンズメータ及びそのレンズメータによる累進多焦点レンズの測定方法
JPH076868B2 (ja) レンズメーター
JP2915882B2 (ja) レンズメーター
JPH076869B2 (ja) レンズメーター
JP2849569B2 (ja) レンズメータ
JP3157448B2 (ja) 被加工レンズの加工システム
JP2849570B2 (ja) レンズメータ
JP2620831B2 (ja) レンズメータ
JP3212033B2 (ja) 最小レンズ画像表示方法及びその装置
JP2851032B2 (ja) 被加工レンズの判定装置
EP4166275A1 (en) Method for determining the shape of an eyeglass frame rim bezel
JP2574026B2 (ja) 眼鏡レンズ加工用データ算出方法及びその装置
JP3208566B2 (ja) 眼鏡レンズのヤゲン周長測定装置
JP2002187053A (ja) レンズ研削加工方法及びレンズ研削加工装置

Legal Events

Date Code Title Description
EXPY Cancellation because of completion of term