JPH076868B2

JPH076868B2 - レンズメーター

Info

Publication number: JPH076868B2
Application number: JP61064430A
Authority: JP
Inventors: 文夫大友; 新一中村
Original assignee: Topcon Corp
Current assignee: Topcon Corp
Priority date: 1986-03-13
Filing date: 1986-03-22
Publication date: 1995-01-30
Anticipated expiration: 2010-01-30
Also published as: JPS63113419A

Description

【発明の詳細な説明】〔発明の目的〕（産業上の利用分野）本発明は、累進多焦点レンズの光学特性を測定可能なレ
ンズメーターに関する。

（背景技術）近年、中高年の初期の老視矯正用として、境目のない累
進多焦点レンズの需要が増加している。この累進多焦点
レンズは遠用部、近用部及び両者を結ぶ累進帯部が複雑
な非球面で連続的に構成されているため、従来の二重焦
点レンズのように外観だけで遠用屈折特性測定部や近用
部屈折特性測定部を知ることができない。ここで屈折特
性とは、球面度数、円柱度数、円柱軸角度、及びプリズ
ム度数を総称した定義として使われる。このため、各レ
ンズメーカーは、眼鏡店に納品する、眼鏡フレームのレ
ンズ枠に入れる前のアンカットレンズに種々のマーキン
グを施すことにより、眼鏡店における屈折特性の測定や
眼鏡フレームへの枠入れ時のレンズ加工の便宜を図って
いる。第13図はその一例を示すもので、310は水平基準
線、311はダイヤマーク、315は幾何学中心及び光学中心
を示すマーク、312はフィッティングマーク、313は遠用
屈折特性測定部指示マーク、316は近用屈折特性測定部
指示マーク、314は近用加入度数表示、317はメーカーマ
ークをそれぞれ示している。そしてレンズメーカーでこ
のレンズの遠用屈折特性を測定するときは、313のマー
クの○印内にレンズメーターの測定光軸が位置してレン
ズメーターのレンズ受けの中心に313のマークが合致す
るようにレンズをセットする。また近用屈折特性測定時
は、316のマークの丸印をレンズ受けに合致させるよう
にレンズをセットする。さらに必要に応じ、フィッティ
ングマーク312が示す位置における屈折特性を知りたい
ときは、マーク312の交点312aをレンズ受けの中心に合
致させるようにレンズをセットする。

（本発明が解決しようとする問題点）上述したような解決をもつ現在の累進多焦点レンズは、
前述したように累進帯及び近用部周辺が複雑な非球面構
造をもつため、近用部に正確に被装用者眼が位置するよ
うにレンズを眼鏡フレームに枠入れする必要がある。

ところが、眼鏡フレームに枠入れされた後のレンズにお
いては、ダイヤマーク311、近用加入度表示314、及びメ
ーカーマーク317以外はすべて消される。

しかし、累進多焦点レンズは、その屈折面が高次の関数
曲面となっているため、その非点収差分布、及び近用加
入度数分布の等屈折力値分布曲線は、複雑な形状とな
る。このため、トライ−アンド−エラーで近用測定部位
置を決定することが極めて困難であるばかりか、例えば
近用測定部位置が、レンズによっては加入度最大位置及
び／または非点収差（円柱度）最小位置でない場所を指
定しているものもある。従って、トライ−アンド−エラ
ー方式で測定部を決定することはもちろん延いてはその
位置に印点することもまったく不可能なことがあった。

この対策として、各レンズメーカーはチェックカードを
用いる。第13図の各種マークを図示したカードを別品で
用意し、チェックカードのダイヤマークと枠入れされた
レンズに残っているダイヤマーク311を合わせるように
チェックカードをレンズに貼る。そしてチェックカード
上の遠用及び近用屈折特性測定部指示マークをもとにレ
ンズ上に該マークにそってマーカーペン等でマーキング
したのち、そのマーキングされたメガネを被装用者に装
用してもらう。遠用作業時及び近用作業時の被装用者眼
の位置とマーキングされた指示マーク位置との位置関係
から、レンズが正しく枠入れされているか否か、あるい
は眼鏡フレームのフィッティングが正確か否かを判断し
ており、この判断には極めて繁雑な作業を強いられてい
た。

さらに、このチェックカードは、すべての眼鏡店にすべ
てのレンズメーカーのものが保管されているとは限ら
ず、所定のチェックカードがないときは、この判断のた
めにまったく手の打ちようがないというのが現状であっ
た。

さらにたとえチェックカードがあったとしても、前記マ
ークはレンズに極めて薄く表示されているため、このマ
ークを見つけること自体極めてむづかしいという問題が
あった。

さらにチェックカードを利用して、遠用部及び近用部に
マーキングまたは印点する場合、レンズ上のダイヤマー
クとレンズの遠用測定部13、近用測定部16のそれぞれの
位置が個々のレンズにより、バラツキがない、すなわち
個体差がないことが前提である。それゆえ、もしレンズ
メーカーのレンズ製作上のミスでこれら三者の位置関係
に誤差が生じた場合は、もはや、正確に測定部の位置を
決め、マーキングや印点を高精度に行うことができな
い。

このように従来方法では、レンズの近用測定部すなわち
レンズ装用者が近用作業時にその部分を通して見ること
を指定されている部分の領域を知ることができず、装用
者がはたして正しく屈折矯正される近用部を利用しうる
ようにメガネを装用しているか否かをまったく判定する
ことができなかった。

本件発明の目的は、この従来技術の問題点を解決し、累
進多焦点レンズの屈折特性の分布状態を容易に知ること
ができるレンズメーターを提供することにある。

〔発明の構成〕

本発明は、遠用部及び近用部を有する累進多焦点レンズ
の位置の異なる各点でそれぞれ所定の屈折特性値を測定
しこの測定値に基づき略等しい測定値を得るレンズ上で
の複数の点位置を求めるための演算部を有し、この演算
部の出力により屈折特性の分布状態を検出し得るように
構成したことを特徴とするレンズメーター。

演算部で求めた前記複数の点位置にそれぞれ印点する印
点部を有する第１項記載のレンズメーターである。

（実施例）第１実施例装置の機械構成第１図は本発明に係るレンズメーターの自動印点装置の
機械構成を模式的に示すもので、より詳しくは昭和61年
２月27日に同一出願人により出願された発明の名称「披
検レンズの自動アライメント装置及びそれを有する自動
印点装置」の特許出願を参照されたい。

この自動印点装置は、第１図に示すように、被検レンズ
または該レンズが枠入れされた眼鏡フレームを保持し、
移動させるための支持機構部10と、被検レンズを押さえ
るためのレンズ押え部20と、被検レンズに印点するため
の印点部30と、被検レンズを受けるレンズ受け台40とか
ら大略構成されている。

支持機構部10はパルスモーターからなるＹ軸モータ11M
を有し、このモータ11Mの回動によりＸ軸送り機構部12
を、例えば送りネジ機構でＹ軸方向にそって移動させる
Ｙ軸送り機構11と、パルスモータ12Mを有し、その回動
により、例えば送りネジ機構によりＸ軸方向にそってハ
ンド開閉部13を移動させるＸ軸送り機構12とを有する。

ハンド開閉部13は、例えば直流モータからなるハンドモ
ータ13Mにより回動される駆動プーリーと、従動プーリ
ーと、両プーリー間に掛けわたされた無端ベルトから構
成された駆動部の該ベルトに取り付けられ、モータ13M
の回動により矢印131、132にそって互いに反対方向に移
動する２つのハンド支持座とから構成される。

ハンド支持座には、それぞれ独立に矢印133、134方向に
そって所定範囲内に上下動すなわちＺ軸方向にそって移
動可能にハンドテーブル135、136が取付けられている。
ハンドテーブルのアーム137、138には、アンカットレン
ズのコバ面に挟持するための内側当接面141、151と、図
示するように眼鏡フレームＦのテンプルＴと当接する外
側当接面142、152とを有する左、右のハンド14、15が軸
143、153に回動自動に取付けられている。

レンズ受け台40は、本発明の自動印点装置が組込まれる
レンズメーターの測定光学系の光軸Ｏが貫通する開口41
を有する円筒部材42と、その円筒部材42の上端部に植設
された３本のレンズ受けピン43とから構成されている。

レンズ押え部20は直流モータからなるレンズ押えモータ
20MによりＺ軸方向にそってレンズ押えテーブル21を上
下動するためのレンズ押え送り機構22を有し、レンズ押
えテーブル21のアーム23から下方に張出した支柱24の先
端に３本のレンズ押えピン25を有するレンズ押え座26を
有している。

レンズ押えテーブル21には印点部30の送り機構31が固定
されている。送り機構31には印点ベース32を矢印33方向
に移動するためのパルスモーターからなる印点移動モー
タ30Mが組みこまれている。印点ベース32には、ムービ
ングコイル34によりＺ軸方向に押し出される印点ピン35
が取付けられている。印点ベース32が初期位置にあると
き、印点ピン35の下方にはインク壺36が設置されてい
る。

制御駆動回路系第２図は本発明の自動印点装置の制御駆動回路系を示す
ブロック図である。より詳しい回路構成は前述の特許出
願を参照されたい。Ｘ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11M、及
び印点移動モータ30Mは、パルス発生器（図示せず）
と、それからのパルスの各モータへの供給を制御するパ
ルスドライバ回路200に接続されている。レンズ押えモ
ータ30Mと、ハンドモータ13Mは、定電流制御回路201に
接続されて一定電流で駆動するため、レンズの押え圧及
びハンド14、15によるフレームＦの保持圧は一定に保た
れる。印点ムービングコイル34はドライバ回路202に接
続されている。

上記パルスドライバ回路200、定電流制御回路201、ドラ
イバ回路202は、マイクロコンピュータから成るシーケ
ンサ203に接続され、その制御をうける。

シーケンサ203には、被検レンズの保持や眼鏡フレーム
Ｆの初期の保持及び位置付けのコントロールをするため
の初期コイトロール回路204と、比較回路206、検出器１
からの情報に基づき被検レンズの屈折特性を決定する屈
折特性測定値処理部と、RAM（ランダムアクセスメ
モリ）211と演算回路209と、プログラムメモリ213と、
アライメント選択スイッチ205とが接続されている。

レンズの屈折特性測定値を表示するための例えばCRTデ
ィスプレイまたは液晶ディスプレイから成る表示器208
が処理部207に接続されている。RAM211は、比較回路206
と、演算回路209とシーケンサ203と、初期コントロール
回路204とに接続されている。このRAM211には遠用近用
位置入力キーボード210が接続されている。ROM（リード
オンリーメモリ）212は演算回路209と初期コントロール
回路204に接続されている。

作動シーケンス眼鏡フレームのセット第３図は本発明の自動印点装置が、被検レンズを枠入れ
した眼鏡フレームを保持する作動を示すフローチャート
である。

＜ステップＳ−１＞初期コントロール回路204は、プログラムメモリ213のプ
ログラムに従って定電流制御回路201を介してハンドモ
ータ13Mを作動させ、ハンド14、15を閉じさせる。

＜ステップＳ−２＞測定者は閉じられたハンド14、15上に印点したい眼鏡レ
ンズを枠入れした眼鏡フレームＦを載置する。

＜ステップＳ−３＞初期コントロール回路204は定電流制御回路201を介して
ハンドモータ13Mを反転させ、ハンド14、15を開かせ、
フレームＦのテンプルＴに外側当接面142、152を一定圧
力で当接させてフレームＦを保持する。

＜ステップＳ−４＞初期コントロール回路204は右眼の印点が終了している
か否かを判断し、YESの場合は、ステップＳ−８へ、NO
の場合は次ステップＳ−５へ移行する。

＜ステップＳ−５＞右眼レンズを測定光学系１の光軸０上に位置させるため
に、初期コントロール回路24はROM212に予めメモリされ
ている指定PD値の半分の距離に相当するパルス数を読み
出し、パルスドライバ回路200を介してＸ軸モータ12Mを
回転させてハンド開閉部13を移動させる。

＜ステップＳ−６＞初期コントロール回路204は定電流制御回路201を介して
レンズ押えモータ30Mを作動させ、レンズ押えテーブル2
1を下降させる。これによりレンズ押えピン25が右眼レ
ンズを押える。

すなわち、右眼レンズは、レンズ受け台40のレンズ受け
ピン43とレンズ押えピン25で挟まれる。また、フレーム
Ｆはハンド14、15によっても保持されるため十分な安定
性をもって保持される。

＜ステップＳ−７＞後に詳述する印点サブルーチンにより印点された後ステ
ップＳ−４にリターンし、ここで右眼終了か否かを判定
し、右眼終了と判定されて次ステップＳ−８へ移行す
る。

＜ステップＳ−８＞初期コントロール回路204はモータ20Mを反転し、レンズ
押え部20を初期位置へ復帰させた後、前記ステップＳ−
５とは逆方向にＸ軸モータ12Mを回転させ、ROM212にメ
モリされている所定PD値に相当する距離だけハンド開閉
部13を移動させる。

＜ステップＳ−９＞及び＜ステップＳ−10＞それぞれ前記ステップＳ−６及び前記ステップＳ−７と
同じ動作を実行する。

印点サブルーチン次に、前記ステップＳ−７の印点サブルーチンを第４図
に基づいて詳説する。

＜ステップ１＞測定者はアライメント選択スイッチ205を操作して、
「光学中心」基準で印点するか「フレーム幾何学中心」
基準で印点するかを選択する。「フレーム幾何学中心」
基準は、例えばプリズムシーニング加工が施されたレン
ズであって、遠用光学中心がレンズ外にあるようなレン
ズが被検レンズとなった場合に選択される。「光学中
心」基準が選択されたときは次ステップ２に移行し、
「フレーム幾何学中心」基準が選択された場合はステッ
プ４に移行する。

＜ステップ２＞測定者はメーカーマーク317（第13図参照）を調べるこ
とにより製品名を知り、レンズメーカー発行のマニアル
から予め遠用測定部313及び近用測定部316の光学中心
（または幾何学中心）315からの距離Ａ、Ｂ、Ｃがわか
っている場合は、遠用・近用位置入力キーボード210を
操作してその値を入力する。入力データはRAM211に記憶
される。

距離データＡ、Ｂ、Ｃの入力がない場合は、ROM212に予
めメモリされている距離データ、例えばマーケットシェ
アの高いレンズの距離データが利用される。

＜ステップ３＞シーケンサ203は検出器１を作動させ、レンズの遠用プ
リズム度数を測定する。検出器からの検出データは処理
部207で逐時プリズム度数データに変換処理され、比較
回路に入力される。比較回路206はROM212に記憶されて
いる判定基準プリズム度数｜P_X｜＝0.03及び｜P_Y｜＝0.
03を読み出し、これと処理部207からのプリズム度数測
定データとを比較し、その結果をシーケンサ203に入力
する。

シーケンサ203はプリズム測定データP_X、P_Yが｜P_X｜＜
0.03、｜P_Y｜＜0.03となるまでパルスドライバ回路200
を介してＸ軸12M、Ｙ軸モータ11Mを作動させてレンズを
移動し、比較回路206が｜P_X｜＜0.03及び｜P_Y｜＜0.03
と判定したレンズ移動位置を、第14図に示すように光学
中心位置（O_x、O_y）としてRAM211へ記憶させる。その後
ステップ10へ移行する。

＜ステップ４＞前述のステップ１で「フレーム幾何学中心」基準が選択
された場合、測定者は左右眼の被検レンズ間のPD値（幾
何学中心間の距離または装用者の瞳孔間距離）を入力す
る。PD値の入力がないときは、標準値として予め定めら
れROM212に記憶されているPD値を利用する。

＜ステップ５＞前述ステップ２と同様の動作を実行する。

＜ステップ６＞初期コントロール回路204はステップ３のPD値に基づい
てパルスドライバ回路200を介してＸ軸モータ12Mを作動
させ、指定PD位置すなわち測定点が光軸Ｏ上にくるよう
にレンズを移動する。例えばステップ２の入力PD値が68
m/mであり、本印点装置のROM212に記憶設定されていた
標準PD値が64m/mの場合、前記ステップＳ−５でPD64m/m
の標準位置に位置付けられているから（68−64）÷２＝
2m/m分ハンド開閉部を移動させることにより指定PD位置
が光軸Ｏ上に位置される。

＜ステップ７＞シーケンサ203は検出器１を作動させると同時にパルス
ドライバ回路200を介してＹ軸モータ11Mを作動させ、レ
ンズをＹ軸方向に移動させる。そしてフレームＦのレン
ズ枠LFの上側リムUL（第14図参照）が光軸Ｏ上に位置
し、検出器１による測定が不能になるまでのＹ軸モータ
11Mへのパルス供給数をRAM211に一時的に記憶させる。

＜ステップ８＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を制御してＹ軸
モータ11Mを反転させ、下側リムLLが光軸Ｏ上に位置す
るまでのＹ軸モータ11Mへの供給パルス数をRAM211に一
時的に記憶させる。

＜ステップ９＞前記ステップ７とステップ８で得られた上側リムUL及び
下側リムLL検出までのＹ軸モータ11Mへの供給パルス数
間の差の半分の値を計算し、その結果及び前記ステップ
６の位置から第14図に示すようにフレーム幾何学的中心
（G_x、G_y）を決定する。

＜ステップ10＞シーケンサ203はRAM211から前記ステップ２またはステ
ップ４で入力された遠用測定部距離Ａ（入力がない場合
は、ROM212に記憶されている所定値、以下同じ）を読み
出し、パルスドライバ回路200を介してＹ軸モータ11Mを
作動させる。ステップ１で「光学中心」基準を指定した
場合はサブステップ１で決定された光学中心（O_x、
O_y）、またはステップ１で「幾何中心」基準を指定した
時はサブステップ２で決定された幾何学中心（G_x、G_y）
から距離だけレンズを移動させ、遠用測定部313を測定
光学系１の光軸Ｏと一致させる。（ステップ２または５
でのＡの入力がない場合は、レンズ本来の遠用測定部31
3と光軸Ｏとは一致しない。）＜ステップ11＞シーケンサ203は検出器１と処理部207を作動させて遠用
測定部313の屈折特性を測定し、その結果を表示器208で
表示するとともに、その結果を基準遠用球面度数MS、基
準遠用円柱度数MCとしてRAM211に記憶させる。

＜ステップ12＞シーケンサ203はRAM211からステップ２またはステップ
４で入力された近用測定部距離Ｂ、Ｃを読み出し、パル
スドライバ回路200を介してＸ軸モータ12M、Ｙ軸モータ
11Mを作動させレンズの近用測定部316を光軸Ｏ上に移動
させる。（ステップ２または５でＢ、Ｃの入力がない場
合は、レンズ本来の近用測定部316と光軸Ｏは一致しな
い。）＜ステップ13＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介してＸ軸モ
ータ12Mを作動させ、レンズを鼻側及び耳側に順次移動
させ、移動中の時々刻々のレンズの屈折特性値Ｓ（球面
度数）及びＣ（円柱度数）を処理部207から演算回路209
へ入力させる。処理部207から演算回路209へ入力させ
る。処理部207は、基準遠用球面度数MSと、基準遠用円
柱度数MCと、時々刻々の近用屈折特性測定値Ｓ及びＣと
から近用加入度ADDをとして計算し、比較回路206に入力する。

比較回路206は、処理部207から時々刻々入力されるADD
値からその最大の値ADD_Mをもつレズの移動位置K₁(x_K1、y
_K1)を決定し、シーケンサ203にその位置情報を出力す
る。これと同時に最大近用加入度数ADD_MをRAM211に記憶
させる。シーケンサ203は、その位置情報K₁(x_K1、y_K1)に
基づいてＸ軸モータ12M及びＹ軸モータ11Mを作動させ、
レンズを位置K₁(x_K1、y_K1)に移動させる。

＜ステップ14＞演算回路209は、RAM211に記憶されている最大近用加入
度数ADD_MとROM212に予め記憶させている定数群とから遠
用部加入度数境界値Ae、遠用部円柱度数境界値Ce、近用
部加入度数境界値A_k、及び近用部円柱度数境界値C_Kを、
例えばから計算し、この各境界値A_e、C_e、A_k、C_kをRAM211に記
憶させる。

＜ステップ15＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介してＸ軸モ
ータ12Mを作動させ、第５図に示すようにレンズをK₁位
置から鼻側と耳側に順次移動させる。演算回路209はレ
ズ移動中の時々刻々変化する測定点毎の処理部207から
の測定円柱度数ＣとRAM211に記憶されている基準遠用円
柱度MCとから（Ｃ−MC）を計算し、その結果を比較回路
206へ入力する。処理部207は上記（ａ）式にしたがって
加入度数ADDを演算し、その値を比較回路206へ入力す
る。

比較回路206は処理部207からのADD値及び演算回路209か
らのＣ−MC値とRAM211に記憶させた境界値A_K、及びC_Kと
を時々刻々に比較し、レンズの鼻側及び耳側の両方でが成立する測定点があるか否かを判定し、その判定結果
をシーケンサ203へ入力する。

＜ステップ16＞尚ステップ15で式成立測定点が鼻側と耳側両方にある
と比較回路206が判定したときは、第５図に示すように
シーケンサ203はＸ軸モータ12Mを再度作動させレンズを
耳側に移動し、鼻側の式が成立する測定点K₂(x_K2、
y_K1)に移動する。次に、ドライバ回路202を作動させ印
点部30の中央の印点針35のムービングコイル34を励磁
し、印点針35をインクツボ36に浸した後、パルスドライ
バ回路200を介して、印点部移動モータ30Mを作動させて
印点ベース32を降下させ、中央印点針35を光軸Ｏ上に位
置させる。その後ドライバ回路202を介してムービング
コイル34を励磁し、レンズ上に印点をする。

＜ステップ17＞シーケンサ203は次に印点移動モータ30Mを反転させて、
印点ベース32を初期位置に復帰された後、Ｘ軸モータ12
Mを反転させてレンズを鼻側へ移動し、レンズの耳側で
式が成立する測定点K₃(x_K3、y_K1)へ移動し、以下ステ
ップ16と同様の動作で、その測定点K₃へ印点する。

＜ステップ18＞シーケンサ203は近用加入度ADD最大位置K₁(x_K1、y_K1)の
ｘ座標値x_K1をRAM211から読み出し、パルスドライバ回
路200を介してＸモータ12Mを駆動してレンズをK₁位置へ
復帰させる。

＜ステップ19＞シーケンサ203は、次にＹ軸モータ11Mを作動させ、レン
ズを近用方向に移動させ、レンズの遠用方向よりの近用
部分に測定点を求める。時々刻々移動中のレンズの屈折
特性は処理部207から比較回路206に入力され、比較回路
206は上記式の条件を満足するか否かを判定し、その
結果をシーケンサ203に入力する。シーケンサ203は比較
回路206から条件式を「満足する」旨指令が入力され
ると、Ｙ軸モータ11Mの作動を停止すると同時に、第５
図に示すように測定点K₅(x_K5、y_K5)に印点する。

または、これと同時に印点位置K₅(x_K5、y_K5)のＸ−Ｙ座
標値はRAM211で記憶される。

＜ステップ20＞演算回路209はRAM211から位置K₁と印点位置K₅のｙ座標y
_K1、及びy_K5を読み出し、のｙ座標を有し、ｘ座標はx_K5(=x_K5)をもつ移動位置K
₆(x_K5、y_K6)≡K₆(x_K6、y_K6)を演算で求める。このデータ
を基にシーケンサ203はＹ軸モータ11Mを作動させ、移動
位置K₆が光軸Ｏと一致するようにレンズを移動させる。

＜ステップ21＞前記ステップ16及びステップ17と同様の動作により第５
図に示すようにK₇、K₈を印点する。その後前記位置K₅へ
復帰する。

＜ステップ22＞前記ステップ16で比較回路206が条件式を耳側・鼻側
の両側で「満足しない」と判定したときは、第６図に示
すように、シーケンサ203はＸ軸モータ12Mを作動させ、
RAM211の位置K₁の座標データ(x_K1、y_K1)を基にレンズをK
₁へ移動させる。

＜ステップ23＞次にシーケンサ203はＹ軸モータ11Mを作動させ、条件の
式を満足するまでレンズを遠用方向へ移動させ、条件
式を満足する測定点K₉(x_K9、y_K9)が光軸Ｏと一致したと
きＹ軸モータ11Mを停止させ、ドライバ回路202を介して
測定点K₉に印点する。

＜ステップ24＞第６図に示すように印点位置K₉のｘ座標x_K9に予め定め
た距離ａをROM212から読み出し、演算回路209で（x_K9−
ａ）をｘ座標とする位置K₁₀(x_K9-a、y_K9)≡K₁₀(x_K10、y
_K10)を演算させ、シーケンサ203はレンズをK₁₀へ移動す
るためにパルスドライバ回路200を介してＸ軸モータ12M
を作動させる。

＜ステップ25＞レンズを位置K₁₀に移動させた後、シーケンサ203はＹ軸
モータ11Mを作動させ、レンズの近用方向に測定点を求
めるためにレンズを移動させ、近用部加入度数境界値A_K
と近用部円柱度数境界値C_Kに対し、レンズ移動中の時々
刻々の測定点の屈折特性測定値に基づく処理部207から
の加入度数ADD及び近用円柱度数Ｃ−MCがを満たすまで測定点をＹ軸方向にそって移動させる。レ
ンズが条件式を満足する位置へ移動したら、次にレー
ケンサ203はＹ軸モータ11Mを反転させてレンズの遠用方
向に測定点を求めるべくレンズを移動させ、その移動途
中の時々刻々の屈折特性値に基づいて、前記条件式を
満足する測定点K₁₁(x_K11、y_K11)にレンズ移動し、測定点
K₁₁に印点する。これと同時に印点位置K₁₁(x_K11、y_K11)
の座標データをRAM211に記憶させる。

＜ステップ26＞演算回路209はRAM211の印点位置K₁₁の座標データ(x_K11、
y_K11)のｘ座標x_K11を読み出し、これにROM212に予め定
数として記憶されている距離データａを基にして(x_K11+
2a)≡x_K12を演算する。この演算結果に基づいてシーケ
ンサ203はＸ軸モータ12Mを作動させ、(x_K12+2a、y_K11)を
位置座標とする移動位置K₁₂が光軸Ｏと一致するように
レンズを移動させる。

＜ステップ27＞前記ステップ25と同様の動作で位置K₁₃に印点する。

＜ステップ28＞比較回路206は印点位置K₉、K₁₁及びK₁₃の各ｙ座標y_K9、y
_K11、y_K13の大小を比較し、第６図のように｜y_K11｜＞｜
y_K9｜＜｜y_K13｜すなわち中央の印点位置K₉がもっとも
遠用方向側にあるときは次ステップ30へ移行させる。比
較回路206が｜y_K11｜＞｜y_K9｜＜｜y_K13｜、すなわち第
７図に示すように、耳側の印点位置K₁₃がもっとも遠用
方向よりにあると判定したときはステップ31へ移動す
る。さらに比較回路206が｜y_K11｜＜｜y_K9｜＜｜y
_K13｜、すなわち第８図に示すように、鼻側の印点位置K
₁₁がもっとも遠用方向よりにあると判定したときはステ
ップ38へ移行する。

＜ステップ30＞シーケンサ203は、パルスドライバ回路200を介してＸ軸
モータ12M及びＹ軸モータ11Mを、RAM211に記憶されてい
る印点位置K₉(x_K9、y_K9)の座標データに基づいて駆動制
御し、印点位置K₉にレンズを復帰させる。

＜ステップ31＞演算回路209はRAM211に記憶されている位置K₁のｘ座標x
_K1にROM212に予め定数として記憶してある距離ｂを加算
し、新たに移動位置K₁₄(x_K1-b、y_K13)≡K₁₄(x_K14、y_K14)
を求める。この位置K₁₄の座標データに基づいてシーケ
ンサ203はＸ軸モータ12Mを作動させ、レンズを鼻側に移
動し、第７図に示すようにK₁₄に光軸Ｏが位置するよう
にレンズを移動させる。

＜ステップ32＞前述のステップ25と同様の動作を実行し、位置K₁₅に印
点する。

＜ステップ33＞比較回路206は、ステップ25で印点された印点位置K₁₁と
前ステップ32で印点された印点位置K₁₅のｙ座標y_K11とy
_K15の大小を比較する。比較回路206が｜y_K15｜＜｜y_K11
｜と判定したとき（第７図に×印でＫ′₁₅のように印点
されたとき）は次ステップ34へ移行し、｜y_K15｜＞｜y
_K11｜と判定したときはステップ35へ移行する。

＜ステップ34＞シーケンサ203はRAM211の印点位置K₁₁(x_K11、y_K11)の座
標データを読み取り、Ｘ軸モータ12M及びＹ軸モータ11M
を駆動制御し、レンズを印点位置K₁₃に復帰させる。

＜ステップ35＞演算回路203はROM212に予め定数として記憶されている
距離データｃ（ｃ＞ｂ）を読み込み、新たな移動位置K
₁₆(x_K1-C、y_K15)≡K₁₆(x_K16、y_K16)を求める。シーケンサ
203はこのK₁₆の座標データに基づいてＸ軸モータ12Mを
駆動制御し、位置K₁₆にレンズを移動する。

＜ステップ36＞前述のステップ25と同様の動作を実行し、K₁₇に印点す
る。

＜ステップ37＞シーケンサ203はレンズをK₁₃に復帰させる。

＜ステップ38＞演算回路209はROM212に記憶されている定数ｂを読み出
し、第８図に示すように新たな移動位置K₁₈(x_K1+b、
y_K11)≡K₁₈(x_K18、y_K18)を求め、シーケンサ203は位置K
₁₈にレンズを移動させる。

＜ステップ39＞前述のステップ32ないしステップ37と同様の動作を実行
し、第８図に示すように位置K₁₉、K₂₁にそれぞれ印点す
る。なお、本ステップでは印点位置K₁₉のｙ座標y_K19と
印点位置K₁₃のｙ座標、y_K13の大小を比較する。

｜y_K19｜＞｜y_K13｜のとき、新たな位置、K₂₀はK₂₀(x_K1
+c、y_K19)≡K₂₀(x_K20、y_K20)を求める点か前述のステップ
32ないしステップ37と相違する。その後、印点位置K₁₁
にレンズを復帰させる。

以上にて近用部の印点を終了し、次ステップ40以降遠用
部の印点へ移行する。

＜ステップ40＞前述のステップ21の復帰後の印点位置K₅、ステップ30が
実行されたときは復帰位置K₉、ステップ34または37が実
行されたときは復帰位置K₁₃、ステップ39が実行された
ときは復帰位置K₁₁を起点として、第５図に示すように
シーケンサ203にパルスドライバ回路200を介してＹ軸モ
ータ11Mを作動させる。これらによりレンズは近用方向
に移動し、レンズの遠用方向側に測定点を求める。処理
部207からはレンズ移動中時々刻々の測定点屈折特性値
すなわち測定遠用加入度数ADDが比較回路206る入力さ
れ、一方測定円柱度数Ｃ、は演算回路209に入力され
る。演算回路209はRAM211に記憶されていた前述のステ
ップ11で得られた基準遠用円柱度数MCを入力された測定
円柱度数Ｃから減算し、その結果（Ｃ−MC）を比較回路
206に入力する。

比較回路206は、RAM211に入力されていた遠用加入度数
境界値Aeと遠用円柱度数境界値Ceを読み出し、演算回路
209からの入力値（Ｃ−MC）と処理部207からの遠用加入
度数ADDとから、移動中のレンズの測定点の加入度数ADD
と円柱度数差（Ｃ−MC）がを満足するか否かを判定し、満足したらシーケンサ203
にその旨を指令する。

＜ステップ41＞シーケンサ203は比較回路206からの「条件満足」の信
号を受けると、パルスドライバ回路200を介してＹ軸モ
ータ11Mを反転させ、レンズの近用方向が測定点となる
ようにレンズを前回とは逆に移動させる。

この反転移動中の処理部207からの時々刻々の測定点毎
の加入度数ADDと円柱度数Ｃとは上述と同様に演算回路2
09で円柱度数差（Ｃ−MC）が演算される。比較回路206
は加入度数ADDと円柱度数差（Ｃ−MC）を遠用加入度数
境界値Ae及び遠用円柱度数境界値Ceと比較してが成立するか否かを判定し、成立したときその旨をシー
ケンサ203に出力する。

シーケンサ203は比較回路206からの指令を受けるとＹ軸
モータ11Mを停止させレンズ移動を止めるとともに、ド
ライバ回路202を介して条件式の成立測定点位置E₁に
印点する。それとともにE₁の座標（x_E1、y_E1）をRAM211
に記憶させる。

＜ステップ42＞シーケンサ203はROM212から予め定数として記憶されて
いる距離ｄを読み出し、Ｘ軸モータ12Mを作動し、その
距離ｄだけレンズの鼻側が測定点となるようにレンズを
耳側に移動し、移動位置E₂を測定点とする。

＜ステップ43＞前述のステップ40及びステップ41と同様の動作を実行
し、条件式を満足する測定点E₃を印点する。

＜ステップ44＞シーケンサ203はROM212に記憶されている距離ｄの２倍
の2dだけレンズを鼻側へ移動し、E₄を測定点とした後、
前述のステップ40及び41と同様の動作を実行し、測定点
E₅に印点する。

＜ステップ45＞ステップ41ないしステップ44で印点されたE₁、E₃及びE₅
の各々のｙ座標y_E1、y_E3、y_E5、y_E5と近用部の印点位置
K₅（またはK₁、K₁₁あるいはK₁₃）のｙ座標y_E5とのＹ軸
方向距離_E1、_E3、_E5を演算回路209で演算する。
この演算結果を比較回路206に出力する。比較回路206は
_E3≧_E1≦_E5のとき、すなわち中央の印点位置E₁が
もっとも近用方向よりのときは次ステップ46に移行し、
第９図に示すように、_E3＜_E1＜_E5のときはステッ
プ48へ移行し、第10図に示すように_E3＞_E1＞_E3の
ときはステップ49へ移行する。

＜ステップ46＞第５図に示すように、距離ｄだけさらに耳側方向へ測定
点を移動させE₆を測定点とする。その後、ステップ40及
び41と同様な動作を実行し、E₇印点する。その後E₇点か
ら距離4dだけレンズを耳側に移動し、E₈を測定点とした
のち、ステップ40及び41と同様の動作を実行し、測定点
E₉を印点する。

＜ステップ48＞第９図に示すように、印点位置E₅から距離3dだけレンズ
をＹ軸方向にそって耳側へ移動し、鼻側の測定点E₁₀を
得る。その後、ステップ40、41と同様の動作を実行し、
測定点E₁₁に印点し、さらに距離しだけ鼻側に測定点を
移動し、E₁₂を測定点としステップ40、41と同様の動作
を実行し、測定点E₁₃を印点する。

＜ステップ49＞第10図に示すように印点位置E₅から距離ｄさらに耳側の
測定点E₁₄を得た後、ステップ40、41と同様の動作を実
行しE₁₅に印点する。さらに耳側の測定点E₁₆へ移動し、
ステップ40、41と同様の動作から測定点E₁₇に印点す
る。

以上の印点動作により、第11図に示すように、条件
式、すなわち測定加入度数ADDが近用加入度数境界値A_K
に対し、ADD≦A_Kとなるか、または測定円柱度数Ｃと遠
用部円柱度数MCとの差（Ｃ−MC）が近用円柱度数境界値
C_Kに対し（Ｃ−MC）≧C_Kとなる境界線401上に印点され
る。このことは境界線401に囲まれた領域410は「ADD≧A
_K及び（Ｃ−MC）≦C_K」の領域となる。この領域410は近
用作業が楽にできる領域となる。例えば、近用加入度数
1.00Dのレンズでは、例えば（ｂ）式よりとあたえられる。従って、領域410は、加入度数0.75D以
上でかつ円柱度数0.25D以下の領域となる。そしてこの
領域には必ずレンズメーカー指定の近用測定部316が含
まれる。

また、第11図に示すように、条件式、すなわち測定加
入度数ADDが遠用加入度数境界値Ae以上か、または測定
円柱度数差（Ｃ−MC）が遠用円柱度数境界値Ceより大き
い境界線402上にも印点される。この境界線402より遠用
方向側はADD≦Aeかつ（Ｃ−MC）≦Ceの領域420となり、
遠用作業が楽にできる領域である。例えば加入度数ADD_M
が1.00Dのレンズを例に、例えば（ｂ）式を境界値とす
ると、となるから、領域420は、加入度数が0.33D以下でかつ円
柱度数差が0.33D以下の領域となる。この領域420内には
必ずレンズメーカー指定の遠用測定部313が入いる。

第２実施例次に第12図（Ａ）及び第12図（Ｂ）に基づいて本発明の
第２の実施例を説明する。本実施例は前述の第１実施例
と装置構成は同様で第３図に示したフローチャートの印
点サブルーチン（ステップＳ−７及びステップＳ−10）
のみ相異する。第12図（Ａ）はその印点サブルーチンの
みを示している。以下この第２実施例の印点サブルーチ
ンを説明する。

＜ステップ２−１＞前述の第１実施例の印点サブルーチンのステップ１ない
し14を実行する。

＜ステップ２−２＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介してＸ軸モ
ータ12MとＹ軸モータ11Mに互いに同期させて同時にパル
スを供給し、位置K₁を起点として測定点を鼻側に45゜方
向に移動させる。

レンズ移動中の時々刻々の処理部207からの測定加入度
数ADD及び測定円柱度数Ｃを基に演算回路209及び比較回
路206は前述のステップ15（第１実施例）と同様の動作
で条件式が成立する測定点K₂を探し、シーケンサ203
はパルスドライバ回路200を介して印点移動モータ30Mを
作動し、その後ドライバ回路202を介してその測定点K₂
に印点する。

＜ステップ２−３＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200がＸ軸モータ12
Mを作動させ、測定点を耳側に第12図（Ｂ）に示すよう
に距離ｅ移動させる。なお、距離ｅはROM212に定数とし
て予め記憶されている。

＜ステップ２−４＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介してＸ軸モ
ータ12MとＹ軸モータ11Mに互いに同期させてパルスを供
給し、駆動することにより近用方向に45゜方向にそって
測定点を移動させる。

この測定点移動中の時々刻々の処理部207からの測定加
入度数ADDと円柱度数Ｃとから演算回路209と比較回路20
6は前述のステップ25（第１実施例）と同様に条件式
を満足する測定点を探す。

＜ステップ２−５＞シーケンサ203は次に、Ｘ軸モータ12MとＹ軸モータ11M
を逆転させ、前記ステップ２−４の移動ルートを逆方向
に同一ルートにそって条件式を満足する測定点を探
す。

条件式を満足する測定点のｘ座標とRAM211に記憶させ
ておいた加入度数最大位置K₁のｘ座標x_k1との差（ｘ−
ｘ_K1）を演算回路209で演算し、（ｘ−ｘ_K1）の正負を
比較回路206で判定させる。この判定が「正」のときは
ステップ２−７に移行し、「負」または「等しい」とき
はステップ２−６へ移行する。

＜ステップ２−６＞シーケンサ203はパルスドライバ回路200を介して印点移
動モータ30Mを駆動し、印点ベース32を下降させた後、
ドライバ回路202を介してムービングコイル34を励磁
し、中央の印点針35で測定点K_nを印点する。

＜ステップ２−７＞シーケンサ203は位置K₁のx₁y座標値(x_K1、y_K1)をRAM211
から読み取り、その値に基づいてＸ軸モータ12M、Ｙ軸
モータ11Mを駆動してレンズ移動し、加入度数最大位置K
₁に測定点を復帰させる。

＜ステップ２−８＞シーケンサ203は、Ｘ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11Mに同
数のパルスを同期させ供給し、測定点を耳側に45℃方向
に移動させる。そしてレンズ移動中に時々刻々の測定加
入度数ADDと測定円柱度数から条件式を満足する測定
を探し、条件式を満足する測定点K₃に印点する。

＜ステップ２−９＞前述のステップ２−４ないしステップ２−６と同様の動
作を実行し、条件式を満足する測定点Ke（ｅ＝4,5,or
6）に印点する。ただし、本ステップでは前述のステッ
プ２−５の「鼻側に45゜移動」ステップが「耳側に45゜
移動」となり、また「ｘ−ｘ_K1＞０」の判定ステップが
「ｘ−ｘ_K1＜０」になる点が相違する。以上のステップ
２−１ないしステップ２−９で近用部の印点を終了す
る。

＜ステップ２−10＞シーケンサ203は前述のステップ２またはステップ５
（第１実施例参照）で指定された遠用指定位置E₁の座標
値（x_E1、y_E1）をRAM211から読み取り、Ｘ軸モータ12M、
Ｙ軸モータ11Mを駆動制御して測定点をE₁上に移動させ
るべくレンズを移動させる。

＜ステップ２−11＞前記ステップ２−２と同様の動作を実行し、測定点E₂に
印点する。

＜ステップ２−12＞前記ステップ２−３と同様の動作を実行し、測定点を耳
側に移動させる。なお、このとき移動距離は予めROM212
に記憶されていたｆとする。（ｆ＝ｅと定めてもよ
い）。

＜ステップ２−13＞シーケンサ203はＸ軸モータ12MとＹ軸モータ11Mを駆動
制御して遠用方向に45゜方向にそって測定点を移動すべ
くレンズを移動させる。レンズ移動中の時々刻々の測定
加入度数ADDと測定円柱度数Ｃとから前述の条件式
（第１実施例参照）を満足する測定点を探す。

＜ステップ２−14＞条件式を満足する測定点をみつけたら、シーケンサ20
3はＸ軸モータ12M、Ｙ軸モータ11Mを反転させ、ステッ
プ２−13の移動ルートを逆に測定点を進め前述の条件
式（第１実施例参照）を満足する測定点を探す。

条件式を満足する測定点のｘ座標と指定遠用位置E₁の
ｘ座標x_E1の差（ｘ−x_E1）の正負を比較回路206で判定
し、「負」または、「等しい」ときはステップ２−15に
移行し、「正」のときはステップ２−16に移行する。

＜ステップ２−15＞測定点E_n（ｎ＝4,6,or8）に印点する。

＜ステップ２−16＞指定遠用位置E₁に測定点に復帰させる。

＜ステップ２−17＞指定遠用位置E₁を起点として耳側45゜方向に測定点を移
動すべくレンズを移動させ、条件式を満足する測定点
E₃に印点する。

＜ステップ２−18＞前記ステップ２−12ないしステップ２−15と同様の動作
を実行し、条件式を満足する測定点Ee（ｅ＝5,7,or
9）に印点する。ただし本ステップでは前記ステップ２
−12の「耳側」を「鼻側」とし、ステップ２−14の「鼻
側」を「耳側」とし、「ｘ−x_E1＞０」を「ｘ−x_E1＜
０」とする点が相違する。

以上説明した第１及び第２の実施例では、いずれも近用
部と遠用部の両方に印点しているが、本発明は必ずしも
これに限定されない。必要に応じ遠用部のみ、または近
用部のみの印点シーケンスを実行するようにシーケンサ
203の実行フローを選択できるように構成してもよい。
また上記各実施例では、条件式ないし条件式では測
定加入度数ADDと測定円柱度数差（Ｃ−MC）の両方につ
いて境界値と比較しているが、測定加入度数についての
み比較してもよい。

さらに上述の実施例では、条件式または式を満足す
る測定点上に測定毎に印点したが、そのかわりにそれら
条件を満足する測定点座標データ一時的にRAM211に全て
記憶させる。そして全測定点のデータ取り込み後、印点
動作のみを集中的に実行してもよい。また、印点位置は
測定点上である必要は必ずしもなく、条件式を満足する
領域内であれば測定点から所定距離隔てた点に印点して
もよい。このことは、印点マークがレンズ押えピン25に
よりレンズ移動中に消されるのを防止するために、印点
位置とレンズ押えピン25の配位関係をレンズ移動に計算
し、次々に測定点、すなわち印点点を決定していくとき
有効である。

〔発明の効果〕

本発明によれば、円柱度数の分布、加入度数の分布等の
等分布曲線を得ることができ、近用作業時に必要とする
加入度数の分布領域等を容易に知ることができる。この
ため、この領域を示すように印点を行えば、眼鏡を装用
させた時の装用位置が、所定の分布領域にあるか否かを
極めて容易に判別できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、本発明のレンズ印点装置の機械的構成部を示
す斜視図、第２図はレンズ印点装置の電気制御系の回路
構成を示すブロック図、第３図はレンズ印点装置の作動
ルーチンを示すフローチャート図、第４図（Ａ）ないし
第４図（Ｅ）は第３図のフローチャートの印点サブルー
チンの第１の実施例を示すフローチャート図、第５図な
いし第10図は第１実施例によるレンズへの印点状態を測
定点の移動ルートとともに示す模式図、第11図は、第１
実施例によるレンズへの印点の一例を遠用領域及び近用
領域とともに示す模式図、第12図（Ａ）は印点サブルー
チンの第２の実施例を示すフローチャート図、第12図
（Ｂ）は第２実施例によるレンズへの印点状態の一例を
測定点の移動ルートとともに示す模式図、第13図は未加
工の累進多焦点レンズのマーキングの一例を示す図、第
14図は指定遠用位置、指定近用位置の関係を示す模式
図。１……測定光学系及び検出器 11……Ｙ軸送り機構 12……Ｘ軸送り機構 14、15……ハンド 20……レンズ押え部 30……印点部 203……シーケンサ 206……比較回路 209……演算回路 211……RAM 212……ROM

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】遠用部及び近用部を有する累進多焦点レン
ズの位置の異なる各点でそれぞれ所定の屈折特性値を測
定しこの測定値に基づき略等しい測定値を得るレンズ上
での複数の点位置を求めるための演算部を有し、この演
算部の出力により屈折特性の分布状態を検出し得るよう
に構成したことを特徴とするレンズメーター。
【請求項２】演算部で求めた前記複数の点位置にそれぞ
れ印点する印点部を有する第１項記載のレンズメータ
ー。