JPH08247858A - 光温度分布センサ及び温度分布測定方法 - Google Patents
光温度分布センサ及び温度分布測定方法Info
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- JPH08247858A JPH08247858A JP7047551A JP4755195A JPH08247858A JP H08247858 A JPH08247858 A JP H08247858A JP 7047551 A JP7047551 A JP 7047551A JP 4755195 A JP4755195 A JP 4755195A JP H08247858 A JPH08247858 A JP H08247858A
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01K11/00—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00
- G01K11/32—Measuring temperature based upon physical or chemical changes not covered by groups G01K3/00, G01K5/00, G01K7/00 or G01K9/00 using changes in transmittance, scattering or luminescence in optical fibres
Abstract
(57)【要約】
【目的】 光ファイバの減衰率特性変化による温度分布
測定の精度劣化を防止する光温度分布センサ及び温度分
布測定方法を提供する。 【構成】 光ファイバ３に入射したパルス光による後方
散乱光からラマン散乱光を取り出し、温度分布を算出す
る光温度分布センサにおいて、後方散乱光からアンチス
トークスラマン散乱光の強度分布信号を取り出す第１の
抽出手段６，９と、後方散乱光からストークスラマン散
乱光の強度分布信号を取り出す第２の抽出手段６，９
と、後方散乱光からレーリー散乱光の強度分布信号を取
り出す第３の抽出手段６，９と、レーリー散乱光の強度
分布信号を基準として、アンチストークスラマン散乱光
の強度分布信号とストークスラマン散乱光の強度分布信
号を規格化し、これらの規格化された各ラマン散乱光の
強度分布信号に基づいて光ファイバ上の温度分布を算出
する温度分布算出手段９とを備えた光温度分布センサ。
測定の精度劣化を防止する光温度分布センサ及び温度分
布測定方法を提供する。 【構成】 光ファイバ３に入射したパルス光による後方
散乱光からラマン散乱光を取り出し、温度分布を算出す
る光温度分布センサにおいて、後方散乱光からアンチス
トークスラマン散乱光の強度分布信号を取り出す第１の
抽出手段６，９と、後方散乱光からストークスラマン散
乱光の強度分布信号を取り出す第２の抽出手段６，９
と、後方散乱光からレーリー散乱光の強度分布信号を取
り出す第３の抽出手段６，９と、レーリー散乱光の強度
分布信号を基準として、アンチストークスラマン散乱光
の強度分布信号とストークスラマン散乱光の強度分布信
号を規格化し、これらの規格化された各ラマン散乱光の
強度分布信号に基づいて光ファイバ上の温度分布を算出
する温度分布算出手段９とを備えた光温度分布センサ。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光ファイバに光パルス
を入射した場合に発生する後方散乱光を測定して、温度
分布を測定する光温度分布センサ及び温度分布測定方法
に関する。
を入射した場合に発生する後方散乱光を測定して、温度
分布を測定する光温度分布センサ及び温度分布測定方法
に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来から、物質中の分子振動，格子振動
等に由来して、当該物質に入射する光がその波長をずら
して散乱する現象であるラマン散乱を利用して、物質の
温度を測定することが広く行われている。
等に由来して、当該物質に入射する光がその波長をずら
して散乱する現象であるラマン散乱を利用して、物質の
温度を測定することが広く行われている。
【０００３】特に近年、レーザー発振技術、光計測技術
等の発達により、レーザーのパルス光を光ファイバに入
射して、その後方散乱光のうちラマン散乱光をパルス光
入射側から計測し、光ファイバの温度分布、ひいては当
該温度測定対象物の温度計測を行う光温度分布センサが
実現されている。
等の発達により、レーザーのパルス光を光ファイバに入
射して、その後方散乱光のうちラマン散乱光をパルス光
入射側から計測し、光ファイバの温度分布、ひいては当
該温度測定対象物の温度計測を行う光温度分布センサが
実現されている。
【０００４】このラマン散乱光には、入射光（以下、励
起光）よりも長波長側に波長のずれたストークス光と、
励起光よりも短波長側に波長のずれたアンチストークス
光とがあるが、物質の温度に特に敏感なのはアンチスト
ークス光の方である。
起光）よりも長波長側に波長のずれたストークス光と、
励起光よりも短波長側に波長のずれたアンチストークス
光とがあるが、物質の温度に特に敏感なのはアンチスト
ークス光の方である。
【０００５】しかし、光ファイバを用いて温度計測を行
う場合、光ファイバによる後方散乱光の減衰を考慮しな
ければならない。したがって、この減衰分を補償すべ
く、励起光からのずれ幅の大きさが同じなストークス光
を用い、アンチストークス光とストークス光とに共通し
て含まれている減衰効果の成分を除算により取り除いて
いる。そして、その後、光ファイバの温度分布を算出す
るようにしている。
う場合、光ファイバによる後方散乱光の減衰を考慮しな
ければならない。したがって、この減衰分を補償すべ
く、励起光からのずれ幅の大きさが同じなストークス光
を用い、アンチストークス光とストークス光とに共通し
て含まれている減衰効果の成分を除算により取り除いて
いる。そして、その後、光ファイバの温度分布を算出す
るようにしている。
【０００６】このような光温度分布センサは、光パルス
を発生する半導体レーザー等の光源と、励起光を光ファ
イバに導き、また、後方散乱光を受光素子に導く分岐器
と、分岐器と受光素子の間に設けられ、取り出す光につ
いてアンチストークス光，ストークス光間で切り替えを
行う光学フィルタと、信号処理部とによって構成されて
いる。
を発生する半導体レーザー等の光源と、励起光を光ファ
イバに導き、また、後方散乱光を受光素子に導く分岐器
と、分岐器と受光素子の間に設けられ、取り出す光につ
いてアンチストークス光，ストークス光間で切り替えを
行う光学フィルタと、信号処理部とによって構成されて
いる。
【０００７】ここで、まず、光学フィルタがアンチスト
ークス光検出用のフィルタにセットされ、光源から所定
回数の光パルスが射出される。次に、信号処理部によっ
て、光学フィルタを介して受光素子により受光されたア
ンチストークス光が複数回の光パルスの射出に同期して
検出・加算されて、不要な雑音成分が除去される。こう
して、アンチストークス光に関する強度分布信号が取り
出される。なお、ここで、強度分布信号は、時間に対応
する強度分布から光ファイバ上の位置に対応する強度分
布に変換されている。
ークス光検出用のフィルタにセットされ、光源から所定
回数の光パルスが射出される。次に、信号処理部によっ
て、光学フィルタを介して受光素子により受光されたア
ンチストークス光が複数回の光パルスの射出に同期して
検出・加算されて、不要な雑音成分が除去される。こう
して、アンチストークス光に関する強度分布信号が取り
出される。なお、ここで、強度分布信号は、時間に対応
する強度分布から光ファイバ上の位置に対応する強度分
布に変換されている。
【０００８】同様に、光学フィルタがストークス光検出
用のフィルタに切り替えられ、検出・加算されて、スト
ークス光に関するが取り出される。そして、信号処理部
によって、上述したようにアンチストークス光とストー
クス光との除算により光ファイバの減衰効果が取り除か
れて、光ファイバの位置に対応する温度分布が算出され
る。
用のフィルタに切り替えられ、検出・加算されて、スト
ークス光に関するが取り出される。そして、信号処理部
によって、上述したようにアンチストークス光とストー
クス光との除算により光ファイバの減衰効果が取り除か
れて、光ファイバの位置に対応する温度分布が算出され
る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】ところで、上述したよ
うに各信号から光ファイバの減衰効果を除去する必要が
あるが、これは、具体的にはアンチストークス光及びス
トークス光についてのレーダー方程式を用いて除去され
ている。
うに各信号から光ファイバの減衰効果を除去する必要が
あるが、これは、具体的にはアンチストークス光及びス
トークス光についてのレーダー方程式を用いて除去され
ている。
【００１０】まず、受光素子を介する光強度の強度分布
信号Ｉと光ファイバ上の位置ｘにおける散乱係数ｋと光
ファイバの減衰率αは、レーダー方程式で（１）式のよ
うに表すことができる。
信号Ｉと光ファイバ上の位置ｘにおける散乱係数ｋと光
ファイバの減衰率αは、レーダー方程式で（１）式のよ
うに表すことができる。
【００１１】 ｄｌｎ Ｉ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋ（ｘ）／ｄｘ＝−αｆ−αｂ …（１） αｆ：励起光パルスが位置ｘで微小距離進行するときに
受ける減衰率 αｂ：散乱光が位置ｘから微小距離後方に進行するとき
に受ける減衰率 ここで、励起光パルスと後方散乱光は波長が異なるた
め、減衰率αｆとαｂとは、かなり異なった値となる。
受ける減衰率 αｂ：散乱光が位置ｘから微小距離後方に進行するとき
に受ける減衰率 ここで、励起光パルスと後方散乱光は波長が異なるた
め、減衰率αｆとαｂとは、かなり異なった値となる。
【００１２】また、この減衰率αは、大まかには、光フ
ァイバの構造、材料、一次被覆の状態によって決まる。
しかし、それだけでなく、光ファイバ心線にかかる応力
等の物理状態によっても、減衰率αの値は大きく変わ
る。
ァイバの構造、材料、一次被覆の状態によって決まる。
しかし、それだけでなく、光ファイバ心線にかかる応力
等の物理状態によっても、減衰率αの値は大きく変わ
る。
【００１３】ここで、光ファイバ本体の外側にはこれを
保護するための金属管が設けられている。金属管は、傷
つきやすい光ファイバを物理的に保護すると共に、光フ
ァイバを内部にガス封入することにより酸化を防止し、
さらに、水の侵入を防いでいる。
保護するための金属管が設けられている。金属管は、傷
つきやすい光ファイバを物理的に保護すると共に、光フ
ァイバを内部にガス封入することにより酸化を防止し、
さらに、水の侵入を防いでいる。
【００１４】また、光ファイバは、通常、金属管より熱
膨脹率の小さい石英で作られているので、高温時に、金
属管の膨脹により石英に対し大きな応力が掛からないよ
うに、金属管の長さよりも長くなっている。
膨脹率の小さい石英で作られているので、高温時に、金
属管の膨脹により石英に対し大きな応力が掛からないよ
うに、金属管の長さよりも長くなっている。
【００１５】したがって、光ファイバ心線は、金属管内
で蛇行することになり、マイクロベント損失、曲げ損失
を発生する。このような金属管シース光ファイバを温度
測定対象に敷設した場合、さらに温度分布に添った熱応
力を金属管が受けて、内部の光ファイバ心線は減衰率α
について非常に複雑な損失挙動を示すことになる。
で蛇行することになり、マイクロベント損失、曲げ損失
を発生する。このような金属管シース光ファイバを温度
測定対象に敷設した場合、さらに温度分布に添った熱応
力を金属管が受けて、内部の光ファイバ心線は減衰率α
について非常に複雑な損失挙動を示すことになる。
【００１６】しかも、この光ファイバの損失特性、例え
ば減衰率αは、時間と共に微妙に変化し、場合によって
はヒステリシスな特性変化や不可逆な特性変化を伴うこ
ともしばしばある。
ば減衰率αは、時間と共に微妙に変化し、場合によって
はヒステリシスな特性変化や不可逆な特性変化を伴うこ
ともしばしばある。
【００１７】従来は、この損失特性を補償するためにア
ンチストークス光とストークス光の両者の測定を行い、
その信号比から温度分布を求めている。ここで、具体的
に、アンチストークス光とストークス光のレーダー方程
式を示すと、 ｄｌｎ Ｉａ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋａ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αａｂ …（２） ｄｌｎ Ｉｓ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋｓ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αｓｂ …（３） ｋａ（ｘ）：アンチストークス散乱係数 ｋｓ（ｘ）：ストークス散乱係数 αａｂ：アンチストークス散乱光が位置ｘから微小距離
後方に進行するときに受ける減衰率 αｓｂ：ストークス散乱光が位置ｘから微小距離後方に
進行するときに受ける減衰率 となる。（２），（３）式より、アンチストークス光と
ストークス光の比Ｒに関するレーダー方程式が導出され
る。
ンチストークス光とストークス光の両者の測定を行い、
その信号比から温度分布を求めている。ここで、具体的
に、アンチストークス光とストークス光のレーダー方程
式を示すと、 ｄｌｎ Ｉａ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋａ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αａｂ …（２） ｄｌｎ Ｉｓ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋｓ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αｓｂ …（３） ｋａ（ｘ）：アンチストークス散乱係数 ｋｓ（ｘ）：ストークス散乱係数 αａｂ：アンチストークス散乱光が位置ｘから微小距離
後方に進行するときに受ける減衰率 αｓｂ：ストークス散乱光が位置ｘから微小距離後方に
進行するときに受ける減衰率 となる。（２），（３）式より、アンチストークス光と
ストークス光の比Ｒに関するレーダー方程式が導出され
る。
【００１８】 ｄｌｎ Ｒ´／ｄｘ−ｄｌｎ Ｒ（ｘ）／ｄｘ ＝−（αａｂ−αｓｂ） …（４） Ｒ´：測定信号の比（Ｉｓ／Ｉａ） Ｒ（ｘ）：位置ｘにおける散乱係数の比（ｋａ（ｘ）／
ｋｓ（ｘ）） 従来は、（４）式に基づいて光ファイバにおける温度分
布を算出している。
ｋｓ（ｘ）） 従来は、（４）式に基づいて光ファイバにおける温度分
布を算出している。
【００１９】しかし、光ファイバの散乱減衰率αは、波
長の４乗分の１に比例する特性を有するので、アンチス
トークス散乱光の減衰率αａｂとストークス散乱光の減
衰率αｓｂとの値にはかなりの差があり、（４）式に示
すような両者の除算では光ファイバの減衰効果を完全に
除去することができない。
長の４乗分の１に比例する特性を有するので、アンチス
トークス散乱光の減衰率αａｂとストークス散乱光の減
衰率αｓｂとの値にはかなりの差があり、（４）式に示
すような両者の除算では光ファイバの減衰効果を完全に
除去することができない。
【００２０】しかも、一般に（４）式右辺は温度の関数
であり、また、上述したように、金属管などのシースに
光ファイバ心線が挿入されている場合は、金属管の温度
履歴、曲げ等の影響でその値が大きく変わることにな
る。
であり、また、上述したように、金属管などのシースに
光ファイバ心線が挿入されている場合は、金属管の温度
履歴、曲げ等の影響でその値が大きく変わることにな
る。
【００２１】したがって、従来の方法は、算出された光
ファイバのひいては測定対象の温度分布について、光温
度分布センサ校正時に測定したデータを用いだけでは、
その後に生じる金属管の温度履歴、曲げ等の影響による
各減衰率αａｂ，αｓｂの経時変化のため、十分な測定
精度を維持できないという問題点を有する。
ファイバのひいては測定対象の温度分布について、光温
度分布センサ校正時に測定したデータを用いだけでは、
その後に生じる金属管の温度履歴、曲げ等の影響による
各減衰率αａｂ，αｓｂの経時変化のため、十分な測定
精度を維持できないという問題点を有する。
【００２２】本発明は、このような実情を考慮してなさ
れたもので、光ファイバの減衰率特性変化による温度分
布測定の精度劣化を防止することが可能な光温度分布セ
ンサ及び温度分布測定方法を提供することを目的とす
る。
れたもので、光ファイバの減衰率特性変化による温度分
布測定の精度劣化を防止することが可能な光温度分布セ
ンサ及び温度分布測定方法を提供することを目的とす
る。
【００２３】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、請求項１に対応する発明は、光ファイバに入射した
パルス光により発生する後方散乱光からラマン散乱光を
取り出して、ラマン散乱光の強度分布信号に基づいて光
ファイバ上の温度分布を算出する光温度分布センサにお
いて、後方散乱光からアンチストークスラマン散乱光の
強度分布信号を取り出す第１の抽出手段と、後方散乱光
からストークスラマン散乱光の強度分布信号を取り出す
第２の抽出手段と、後方散乱光からレーリー散乱光の強
度分布信号を取り出す第３の抽出手段と、レーリー散乱
光の強度分布信号を基準として、アンチストークスラマ
ン散乱光の強度分布信号及びストークスラマン散乱光の
強度分布信号を規格化し、これらの規格化された各ラマ
ン散乱光の強度分布信号に基づいて光ファイバ上の温度
分布を算出する温度分布算出手段とを備えた光温度分布
センサである。
に、請求項１に対応する発明は、光ファイバに入射した
パルス光により発生する後方散乱光からラマン散乱光を
取り出して、ラマン散乱光の強度分布信号に基づいて光
ファイバ上の温度分布を算出する光温度分布センサにお
いて、後方散乱光からアンチストークスラマン散乱光の
強度分布信号を取り出す第１の抽出手段と、後方散乱光
からストークスラマン散乱光の強度分布信号を取り出す
第２の抽出手段と、後方散乱光からレーリー散乱光の強
度分布信号を取り出す第３の抽出手段と、レーリー散乱
光の強度分布信号を基準として、アンチストークスラマ
ン散乱光の強度分布信号及びストークスラマン散乱光の
強度分布信号を規格化し、これらの規格化された各ラマ
ン散乱光の強度分布信号に基づいて光ファイバ上の温度
分布を算出する温度分布算出手段とを備えた光温度分布
センサである。
【００２４】また、請求項２に対応する発明は、光強度
を減衰させながら当該光を透過させる光透過媒体中に、
パルス光を入射することにより発生した後方散乱光のう
ち、レーリー散乱光とアンチストークスラマン散乱光と
ストークスラマン散乱光とを取り出し、レーリー散乱光
の強度分布信号を基準として、アンチストークスラマン
散乱光の強度分布信号及びストークスラマン散乱光の強
度分布信号を規格化し、これらの規格化された各ラマン
散乱光の強度分布信号を用いて、ラマン散乱光の強度分
布信号から光透過媒体の光強度減衰率の経時変化に関す
る情報を除去し、規格化された各ラマン散乱光の強度分
布信号に基づいて、光ファイバ上の温度分布を算出する
温度分布測定方法である。
を減衰させながら当該光を透過させる光透過媒体中に、
パルス光を入射することにより発生した後方散乱光のう
ち、レーリー散乱光とアンチストークスラマン散乱光と
ストークスラマン散乱光とを取り出し、レーリー散乱光
の強度分布信号を基準として、アンチストークスラマン
散乱光の強度分布信号及びストークスラマン散乱光の強
度分布信号を規格化し、これらの規格化された各ラマン
散乱光の強度分布信号を用いて、ラマン散乱光の強度分
布信号から光透過媒体の光強度減衰率の経時変化に関す
る情報を除去し、規格化された各ラマン散乱光の強度分
布信号に基づいて、光ファイバ上の温度分布を算出する
温度分布測定方法である。
【００２５】
【作用】したがって、まず、請求項１又は２に対応する
発明の光温度分布センサ又は温度分布測定方法において
は、第１の抽出手段によって、光ファイバに入射された
パルス光に対する後方散乱光からアンチストークスラマ
ン散乱光の強度分布信号が取り出される。
発明の光温度分布センサ又は温度分布測定方法において
は、第１の抽出手段によって、光ファイバに入射された
パルス光に対する後方散乱光からアンチストークスラマ
ン散乱光の強度分布信号が取り出される。
【００２６】次に、同様にして、第２，第３の抽出手段
によって、後方散乱光からストークスラマン散乱光及び
レーリー散乱光の強度分布信号が取り出される。また、
温度分布算出手段によって、レーリー散乱光の強度分布
信号を基準として、アンチストークスラマン散乱光の強
度分布信号及びストークスラマン散乱光の強度分布信号
が規格化される。
によって、後方散乱光からストークスラマン散乱光及び
レーリー散乱光の強度分布信号が取り出される。また、
温度分布算出手段によって、レーリー散乱光の強度分布
信号を基準として、アンチストークスラマン散乱光の強
度分布信号及びストークスラマン散乱光の強度分布信号
が規格化される。
【００２７】ここで、温度分布算出に、これらの規格化
された各ラマン散乱光の強度分布信号を用いることは、
ラマン散乱光の強度分布信号から光ファイバ等の光透過
媒体における光強度減衰率の経時変化に関する情報を除
去することになっている。そして、温度分布算出手段に
よって、これらの規格化された各ラマン散乱光の強度分
布信号に基づいて光ファイバ上の温度分布が算出され
る。
された各ラマン散乱光の強度分布信号を用いることは、
ラマン散乱光の強度分布信号から光ファイバ等の光透過
媒体における光強度減衰率の経時変化に関する情報を除
去することになっている。そして、温度分布算出手段に
よって、これらの規格化された各ラマン散乱光の強度分
布信号に基づいて光ファイバ上の温度分布が算出され
る。
【００２８】
【実施例】以下、本発明の実施例について説明する。ま
ず、本実施例に係る温度分布算出方法について説明す
る。本方法において、温度分布算出処理のために用いる
レーダー方程式は、アンチストークス光とストークス光
の比のみに関するものでなく、レーリー散乱光も考慮に
入れたものになっている。
ず、本実施例に係る温度分布算出方法について説明す
る。本方法において、温度分布算出処理のために用いる
レーダー方程式は、アンチストークス光とストークス光
の比のみに関するものでなく、レーリー散乱光も考慮に
入れたものになっている。
【００２９】まず、レーリー散乱光に対するレーダー方
程式は、 ｄｌｎ ＩＲ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋＲ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αＲｂ …（５） ＩＲ：受信端で測定される位置ｘにおけるレーリー後方
散乱光 ｋＲ（ｘ）：レーリー散乱係数 αＲｂ：散乱光が位置ｘから微小距離後方に進行すると
きに受ける減衰率 となる。レーリー散乱光は、励起光と同波長であって、
アンチストークス光とストークス光は、励起光に対して
それぞれ短波長側と長波長側に同じだけ波長シフトして
いる光であるから、（６）式が成り立つ。
程式は、 ｄｌｎ ＩＲ／ｄｘ−ｄｌｎ ｋＲ（ｘ）／ｄｘ ＝−αｆ−αＲｂ …（５） ＩＲ：受信端で測定される位置ｘにおけるレーリー後方
散乱光 ｋＲ（ｘ）：レーリー散乱係数 αＲｂ：散乱光が位置ｘから微小距離後方に進行すると
きに受ける減衰率 となる。レーリー散乱光は、励起光と同波長であって、
アンチストークス光とストークス光は、励起光に対して
それぞれ短波長側と長波長側に同じだけ波長シフトして
いる光であるから、（６）式が成り立つ。
【００３０】 ２λＲ＝λａ＋λｂ …（６） λＲ：レーリー散乱光の波長 λａ：アンチストークスラマン散乱光の波長 λｓ：ストークスラマン散乱光の波長 ここで、（４）式における減衰率差に経時変化が生じる
理由は、各減衰率αａｂ，αｓｂ，αＲｂが波長依存性
を有するからであり、マイクロベンド，曲げ損失，熱履
歴等によってその値が変化するときも波長依存性を保持
したまま各減衰率が変化する。
理由は、各減衰率αａｂ，αｓｂ，αＲｂが波長依存性
を有するからであり、マイクロベンド，曲げ損失，熱履
歴等によってその値が変化するときも波長依存性を保持
したまま各減衰率が変化する。
【００３１】一方、測定に使用するレーザーの波長は８
００〜１５００ｎｍの近赤外の光が使用され、ラマン散
乱光の波長シフトΔνは数１０ｎｍとその励起光波長の
数％程度である。したがって、減衰率の波長依存性は、
レーリー散乱光の波長λＲを中心に線形で近似できる。
すなわち、（７）式が成り立つ。
００〜１５００ｎｍの近赤外の光が使用され、ラマン散
乱光の波長シフトΔνは数１０ｎｍとその励起光波長の
数％程度である。したがって、減衰率の波長依存性は、
レーリー散乱光の波長λＲを中心に線形で近似できる。
すなわち、（７）式が成り立つ。
【００３２】 ２αＲｂ≒αａｂ＋αｓｂ …（７） そこで、信号比をレーリー散乱信号を基準にして計算す
ると（２）式及び（５）式、（３）式及び（５）式よ
り、 ｄｌｎ Ｒａ´／ｄｘ−ｄｌｎ Ｒａ（ｘ）／ｄｘ ＝−（αａｂ−αＲｂ） …（８） ｄｌｎ Ｒｓ´／ｄｘ−ｄｌｎ Ｒｓ（ｘ）／ｄｘ ＝−（αｓｂ−αＲｂ） …（９） Ｒａ´：アンチストークス測定信号のレーリー測定信号
に対する比（Ｉａ／ＩＲ） Ｒａ（ｘ）：位置ｘにおける散乱係数の比（ｋａ（ｘ）
／ｋＲ（ｘ）） Ｒｓ´：ストークス測定信号のレーリー測定信号に対す
る比（Ｉｓ／ＩＲ） Ｒｓ（ｘ）：位置ｘにおける散乱係数の比（ｋｓ（ｘ）
／ｋＲ（ｘ）） が得られる。ここで、（８）式及び（９）式の和をとる
と、レーダー方程式（１０）式が得られる。
ると（２）式及び（５）式、（３）式及び（５）式よ
り、 ｄｌｎ Ｒａ´／ｄｘ−ｄｌｎ Ｒａ（ｘ）／ｄｘ ＝−（αａｂ−αＲｂ） …（８） ｄｌｎ Ｒｓ´／ｄｘ−ｄｌｎ Ｒｓ（ｘ）／ｄｘ ＝−（αｓｂ−αＲｂ） …（９） Ｒａ´：アンチストークス測定信号のレーリー測定信号
に対する比（Ｉａ／ＩＲ） Ｒａ（ｘ）：位置ｘにおける散乱係数の比（ｋａ（ｘ）
／ｋＲ（ｘ）） Ｒｓ´：ストークス測定信号のレーリー測定信号に対す
る比（Ｉｓ／ＩＲ） Ｒｓ（ｘ）：位置ｘにおける散乱係数の比（ｋｓ（ｘ）
／ｋＲ（ｘ）） が得られる。ここで、（８）式及び（９）式の和をとる
と、レーダー方程式（１０）式が得られる。
【００３３】 ｄｌｎ（Ｒｓ´・Ｒａ´）／ｄｘ−ｄｌｎ（Ｒｓ（ｘ）・Ｒａ（ｘ））／ｄｘ ＝−（αｓｂ＋αａｂ）＋２αＲｂ …（１０） （１０）式は、（７）式により右辺が“０“となる。し
たがって、レーダー方程式から光ファイバの減衰率の項
を除去できることになる。
たがって、レーダー方程式から光ファイバの減衰率の項
を除去できることになる。
【００３４】（７）式と（１０）式を解くと、 Ｒｓ（ｘ）・Ｒａ（ｘ）＝（Ｉｓ／ＩＲ）・（Ｉａ／ＩＲ） …（１１） が得られる。ここで、ラマン散乱の波長シフトΔνとラ
マン散乱を起こす当該物質の温度Ｔとに対し、（１２）
式、（１３）式が成り立つ。
マン散乱を起こす当該物質の温度Ｔとに対し、（１２）
式、（１３）式が成り立つ。
【００３５】 Ｉｓ∝１＋ｆ（Δν，Ｔ） …（１２） Ｉａ∝ｆ（Δν，Ｔ） …（１３） ｆ（Δν，Ｔ）：波長シフトΔν，温度Ｔの関数 なお、波長シフトΔλは材料（この場合は光ファイバ）
によって決まる値である。
によって決まる値である。
【００３６】また、レーリー後方散乱光の強度分布信号
ＩＲは、温度に依存せず、かつ光ファイバはほぼ均一で
あるから一定値とみなせるので、（１１），（１２），
（１３）式より Ｒｓ（ｘ）・Ｒａ（ｘ）∝ｆ（Δν，Ｔ）｛１＋ｆ（Δν，Ｔ）｝ …（１４） となる。ここで、（１４）式は、温度Ｔと光ファイバに
おける位置ｘだけの関数である。したがって、予め校正
曲線を記憶しておけば、その後の光ファイバの減衰率変
化に関係なく、アンチストークスラマン散乱光の強度分
布信号Ｉａとストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉ
ｓとレーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲとの測定結
果から光ファイバ上の温度分布を算出することができ
る。
ＩＲは、温度に依存せず、かつ光ファイバはほぼ均一で
あるから一定値とみなせるので、（１１），（１２），
（１３）式より Ｒｓ（ｘ）・Ｒａ（ｘ）∝ｆ（Δν，Ｔ）｛１＋ｆ（Δν，Ｔ）｝ …（１４） となる。ここで、（１４）式は、温度Ｔと光ファイバに
おける位置ｘだけの関数である。したがって、予め校正
曲線を記憶しておけば、その後の光ファイバの減衰率変
化に関係なく、アンチストークスラマン散乱光の強度分
布信号Ｉａとストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉ
ｓとレーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲとの測定結
果から光ファイバ上の温度分布を算出することができ
る。
【００３７】図１は前述した本発明の一実施例に係る温
度分布測定方法を適用した光温度分布センサの全体構成
例を示す図であり、図２は同実施例の光温度分布センサ
本体の内部構成の一例を示すブロック図である。
度分布測定方法を適用した光温度分布センサの全体構成
例を示す図であり、図２は同実施例の光温度分布センサ
本体の内部構成の一例を示すブロック図である。
【００３８】図１において、炉等の温度測定対象１に、
光温度分布センサ本体２からのその長さが１〜２ｋｍ程
度で光温度分布センサ本体２から出線する光ファイバ３
が巻き付けられている。
光温度分布センサ本体２からのその長さが１〜２ｋｍ程
度で光温度分布センサ本体２から出線する光ファイバ３
が巻き付けられている。
【００３９】光温度分布センサ本体２から出力した光パ
ルスａは、光ファイバ３内を通り、センサ本体２側とは
反対側から出光する。このとき、光ファイバ内における
ラマン散乱、レーリー散乱等による後方散乱光ｂが光温
度分布センサ本体１側に戻り入光して、温度測定対象１
が測温される。
ルスａは、光ファイバ３内を通り、センサ本体２側とは
反対側から出光する。このとき、光ファイバ内における
ラマン散乱、レーリー散乱等による後方散乱光ｂが光温
度分布センサ本体１側に戻り入光して、温度測定対象１
が測温される。
【００４０】図２に示すように、光温度分布センサ本体
２においては、光源４と分岐器５間が光ファイバ３ａで
接続され、分岐器５から温度測定対象１に向けて光ファ
イバ３が出線している。
２においては、光源４と分岐器５間が光ファイバ３ａで
接続され、分岐器５から温度測定対象１に向けて光ファ
イバ３が出線している。
【００４１】さらに、同センサ本体２においては、分岐
器５と光学フィルタ部６間が光ファイバ３ｂで接続さ
れ、光学フィルタ部６と受光素子７間が光ファイバ３ｃ
で接続されており、その出力がＡ／Ｄ変換部８を介して
温度分布算出手段としての信号処理記憶制御部９に入力
されている。
器５と光学フィルタ部６間が光ファイバ３ｂで接続さ
れ、光学フィルタ部６と受光素子７間が光ファイバ３ｃ
で接続されており、その出力がＡ／Ｄ変換部８を介して
温度分布算出手段としての信号処理記憶制御部９に入力
されている。
【００４２】光源４は、例えば半導体レーザーによって
構成され、光パルスａを光ファイバ３ａ，３内に入射す
る。このとき、発生する光パルスａはパルス時間幅１０
〜２０ｎｓｅｃ程度であり、光源４は１〜１０ｋＨｚ程
度で光パルスａを発振している。また、光パルスの発振
・停止、その発振周波数等は、信号処理記憶制御部９に
よって制御されている。
構成され、光パルスａを光ファイバ３ａ，３内に入射す
る。このとき、発生する光パルスａはパルス時間幅１０
〜２０ｎｓｅｃ程度であり、光源４は１〜１０ｋＨｚ程
度で光パルスａを発振している。また、光パルスの発振
・停止、その発振周波数等は、信号処理記憶制御部９に
よって制御されている。
【００４３】分岐器５は、光源４から射出された光パル
スａを光ファイバ３に導き、かつ、光ファイバ３内の後
方散乱光ｂを光ファイバ３ｂに導くように構成されてい
る。光学フィルタ部６は、後方散乱光ｂから特定波長の
光を選択し、受光素子７に導くようになっている。
スａを光ファイバ３に導き、かつ、光ファイバ３内の後
方散乱光ｂを光ファイバ３ｂに導くように構成されてい
る。光学フィルタ部６は、後方散乱光ｂから特定波長の
光を選択し、受光素子７に導くようになっている。
【００４４】図３は本実施例における光学フィルタ部６
の詳細構成の一例を示す配置図である。図３に示すよう
に、光学フィルタ部６に入線する光ファイバ３ｂと出線
する光ファイバ３ｃとは、その各々の端部にそれぞれレ
ンズ１０ｂとレンズ１０ｃとを備えている。このレンズ
１０ｂとレンズ１０ｃは、光学フィルタ１１を介して対
向している。
の詳細構成の一例を示す配置図である。図３に示すよう
に、光学フィルタ部６に入線する光ファイバ３ｂと出線
する光ファイバ３ｃとは、その各々の端部にそれぞれレ
ンズ１０ｂとレンズ１０ｃとを備えている。このレンズ
１０ｂとレンズ１０ｃは、光学フィルタ１１を介して対
向している。
【００４５】光学フィルタ１１は、図４に示すように、
円板上の構成を有し、その扇部分に光軸が通過するよう
に配置され、この円板中心にパルスモータ１２の回転軸
が取り付けられている。
円板上の構成を有し、その扇部分に光軸が通過するよう
に配置され、この円板中心にパルスモータ１２の回転軸
が取り付けられている。
【００４６】また、光学フィルタ１１は、図４（ａ），
（ｂ）に示すように、アンチストークス波長光のみを通
過するアンチストークスラマン散乱光通過領域１１ａ
と、ストークス波長光のみを通過するストークスラマン
散乱光通過領域１１ｂと、レーリー波長光のみを通過す
るレーリー散乱光通過領域１１ｃの扇形状の３つのフィ
ルタ領域に分割されている。
（ｂ）に示すように、アンチストークス波長光のみを通
過するアンチストークスラマン散乱光通過領域１１ａ
と、ストークス波長光のみを通過するストークスラマン
散乱光通過領域１１ｂと、レーリー波長光のみを通過す
るレーリー散乱光通過領域１１ｃの扇形状の３つのフィ
ルタ領域に分割されている。
【００４７】さらに、光学フィルタ１１は、信号処理記
憶制御部９にその動作が制御されるパルスモータ１２の
回動により上記各領域を光軸に対して切り替え可能とな
っている。この切り替えにより、レンズ１０ｂから射出
された光の内、目的とする波長の光のみを通過させて、
レンズ１０ｃ，光ファイバ３ｃに導く。
憶制御部９にその動作が制御されるパルスモータ１２の
回動により上記各領域を光軸に対して切り替え可能とな
っている。この切り替えにより、レンズ１０ｂから射出
された光の内、目的とする波長の光のみを通過させて、
レンズ１０ｃ，光ファイバ３ｃに導く。
【００４８】受光素子７は、光ファイバ３ｃから導かれ
た光を電気信号に変換する。Ａ／Ｄ変換部８は、受光素
子７からの出力信号をデジタル信号に変換し、ｌｓ院号
処理記憶制御部９に入力する。
た光を電気信号に変換する。Ａ／Ｄ変換部８は、受光素
子７からの出力信号をデジタル信号に変換し、ｌｓ院号
処理記憶制御部９に入力する。
【００４９】信号処理記憶制御部９は、光源４と光学フ
ィルタ部６を制御し、各光パルスａに対する各後方散乱
光ｂからアンチストークス波長光とストークス波長光と
レーリー波長光とを、光学フィルタ１１を切り替えるこ
とにより、それぞれ１０万回程度づつ測定する。さら
に、その測定信号としてのＡ／Ｄ変換部８からのデジタ
ル出力信号を平均処理し、記憶し、各強度分布信号を求
めて、光ファイバ３上の温度分布を算出するようになっ
ている。
ィルタ部６を制御し、各光パルスａに対する各後方散乱
光ｂからアンチストークス波長光とストークス波長光と
レーリー波長光とを、光学フィルタ１１を切り替えるこ
とにより、それぞれ１０万回程度づつ測定する。さら
に、その測定信号としてのＡ／Ｄ変換部８からのデジタ
ル出力信号を平均処理し、記憶し、各強度分布信号を求
めて、光ファイバ３上の温度分布を算出するようになっ
ている。
【００５０】なお、アンチストークスラマン散乱光通過
領域１１ａを用いた光学フィルタ部６と、受光素子７
と、Ａ／Ｄ変換部８と、信号処理記憶制御部９とによっ
て、第１の抽出手段の一例が構成されている。
領域１１ａを用いた光学フィルタ部６と、受光素子７
と、Ａ／Ｄ変換部８と、信号処理記憶制御部９とによっ
て、第１の抽出手段の一例が構成されている。
【００５１】また、ストークスラマン散乱光通過領域１
１ｂを用いた光学フィルタ部６と、受光素子７と、Ａ／
Ｄ変換部８と、信号処理記憶制御部９とによって、第２
の抽出手段の一例が構成されている。
１ｂを用いた光学フィルタ部６と、受光素子７と、Ａ／
Ｄ変換部８と、信号処理記憶制御部９とによって、第２
の抽出手段の一例が構成されている。
【００５２】さらに、レーリー散乱光通過領域１１ｃを
用いた光学フィルタ部６と、受光素子７と、Ａ／Ｄ変換
部８と、信号処理記憶制御部９とによって、第３の抽出
手段の一例が構成されている。
用いた光学フィルタ部６と、受光素子７と、Ａ／Ｄ変換
部８と、信号処理記憶制御部９とによって、第３の抽出
手段の一例が構成されている。
【００５３】次に、以上のように構成された本実施例の
光温度分布センサにおける温度分布測定方法について説
明する。まず、アンチストークスラマン散乱光の強度分
布信号Ｉａを得るために、信号処理記憶制御部９は、パ
ルスモータ１２を制御して、光学フィルタ１１内のアン
チストークスラマン散乱光通過領域１１ａを光軸上に固
定する。
光温度分布センサにおける温度分布測定方法について説
明する。まず、アンチストークスラマン散乱光の強度分
布信号Ｉａを得るために、信号処理記憶制御部９は、パ
ルスモータ１２を制御して、光学フィルタ１１内のアン
チストークスラマン散乱光通過領域１１ａを光軸上に固
定する。
【００５４】次に、信号処理記憶制御部９は、光パルス
ａを１〜１０ｋＨｚ程度の周波数で１０万回程度光源４
から射出させる。そして、各光パルスａの各後方散乱光
ｂから取り出されたアンチストークスラマン散乱光は、
電気信号に変換された後、さらにＡ／Ｄ変換されて、信
号処理記憶制御部９に一旦保存される。
ａを１〜１０ｋＨｚ程度の周波数で１０万回程度光源４
から射出させる。そして、各光パルスａの各後方散乱光
ｂから取り出されたアンチストークスラマン散乱光は、
電気信号に変換された後、さらにＡ／Ｄ変換されて、信
号処理記憶制御部９に一旦保存される。
【００５５】また、後方散乱光ｂには雑音が多いので、
Ｓ／Ｎ比を改善するために、信号処理記憶制御部９は各
信号の加算平均処理、すなわち測定回数分の平均処理を
行う。
Ｓ／Ｎ比を改善するために、信号処理記憶制御部９は各
信号の加算平均処理、すなわち測定回数分の平均処理を
行う。
【００５６】ここで、１パルスの光パルスａに対する信
号の分布Ｉ´は、図５（ａ）に示すように時間に対する
分布すなわち時系列信号として得られるが、この時間は
光ファイバ３の位置ｘと対応するので、図５（ｂ）に示
すような光ファイバ３の位置に対する強度分布に変換す
ることができる。
号の分布Ｉ´は、図５（ａ）に示すように時間に対する
分布すなわち時系列信号として得られるが、この時間は
光ファイバ３の位置ｘと対応するので、図５（ｂ）に示
すような光ファイバ３の位置に対する強度分布に変換す
ることができる。
【００５７】このように、時系列信号の平均処理がさ
れ、光ファイバ３の位置に対する分布に変換されてアン
チストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉａが得られ
る。次に、信号処理記憶制御部９は、光軸上のフィルタ
をストークスラマン散乱光通過領域１１ｂに切り替え、
光パルスａを射出させ、測定、加算平均等を行うことに
より、アンチストークスラマン散乱光測定の場合と同様
に、ストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓを算出
する。
れ、光ファイバ３の位置に対する分布に変換されてアン
チストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉａが得られ
る。次に、信号処理記憶制御部９は、光軸上のフィルタ
をストークスラマン散乱光通過領域１１ｂに切り替え、
光パルスａを射出させ、測定、加算平均等を行うことに
より、アンチストークスラマン散乱光測定の場合と同様
に、ストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓを算出
する。
【００５８】さらに、信号処理記憶制御部９は、同様な
動作により、レーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲを
算出する。そして、信号処理記憶制御部９は、（１４）
式より、アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号
Ｉａとストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓとレ
ーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲの測定結果から光
ファイバ３上の温度分布を算出し、その結果を出力す
る。このときの温度分布結果は、例えば図５（ｃ）に示
すようなものになる。
動作により、レーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲを
算出する。そして、信号処理記憶制御部９は、（１４）
式より、アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号
Ｉａとストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓとレ
ーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲの測定結果から光
ファイバ３上の温度分布を算出し、その結果を出力す
る。このときの温度分布結果は、例えば図５（ｃ）に示
すようなものになる。
【００５９】上述したように、本実施例による光温度分
布センサ及び温度分布測定方法は、光学フィルタ１１の
各散乱光通過領域１１ａ，１１ｂ，１１ｃを切り替え
て、アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉａ
とストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓとレーリ
ー後方散乱光の強度分布信号ＩＲとを測定・算出し、さ
らに、レーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲを基準と
して各ラマン散乱光の強度分布信号Ｉａ，Ｉｓの比を求
め、この規格化された各ラマン散乱光の強度分布を用い
て光ファイバ３上の温度分布を算出するようにしたの
で、光ファイバ３の減衰率の経時変化に関する情報を上
記温度分布から除去することができる。
布センサ及び温度分布測定方法は、光学フィルタ１１の
各散乱光通過領域１１ａ，１１ｂ，１１ｃを切り替え
て、アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉａ
とストークスラマン散乱光の強度分布信号Ｉｓとレーリ
ー後方散乱光の強度分布信号ＩＲとを測定・算出し、さ
らに、レーリー後方散乱光の強度分布信号ＩＲを基準と
して各ラマン散乱光の強度分布信号Ｉａ，Ｉｓの比を求
め、この規格化された各ラマン散乱光の強度分布を用い
て光ファイバ３上の温度分布を算出するようにしたの
で、光ファイバ３の減衰率の経時変化に関する情報を上
記温度分布から除去することができる。
【００６０】したがって、光ファイバ３の減衰率特性変
化による温度分布測定の精度劣化を防止することがで
き、光ファイバ３の金属管の温度履歴、マイクロベント
損失、曲げ損失等によって光ファイバの減衰率αが時間
と共に変化しても、これと関係なく十分な測定精度を維
持することができる。なお、本発明は、上記各実施例に
限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種
々に変形することが可能である。
化による温度分布測定の精度劣化を防止することがで
き、光ファイバ３の金属管の温度履歴、マイクロベント
損失、曲げ損失等によって光ファイバの減衰率αが時間
と共に変化しても、これと関係なく十分な測定精度を維
持することができる。なお、本発明は、上記各実施例に
限定されるものでなく、その要旨を逸脱しない範囲で種
々に変形することが可能である。
【００６１】
【発明の効果】以上詳記したように本発明によれば、レ
ーリー後方散乱光の強度分布信号を用いて、光ファイバ
の減衰率における経時変化の効果を除去するようにした
ので、光ファイバの減衰率特性変化による温度分布測定
の精度劣化を防止することができる光温度分布センサ及
び温度分布測定方法を提供することができる。
ーリー後方散乱光の強度分布信号を用いて、光ファイバ
の減衰率における経時変化の効果を除去するようにした
ので、光ファイバの減衰率特性変化による温度分布測定
の精度劣化を防止することができる光温度分布センサ及
び温度分布測定方法を提供することができる。
【図１】本発明の一実施例に係る温度分布測定方法を適
用した光温度分布センサの全体構成例を示す図。
用した光温度分布センサの全体構成例を示す図。
【図２】同実施例の光温度分布センサ本体の内部構成の
一例を示すブロック図。
一例を示すブロック図。
【図３】同実施例における光学フィルタ部の詳細構成の
一例を示す配置図。
一例を示す配置図。
【図４】同実施例における光学フィルタの一例を示す
図。
図。
【図５】同実施例における測定結果の一例を示す関係
図。
図。
【符号の説明】 １…温度測定対象、２…光温度分布センサ本体、３，３
ａ，３ｂ，３ｃ…光ファイバ、４…光源、５…分岐器、
６…光学フィルタ部、７…受光素子、８…Ａ／Ｄ変換
部、９…信号処理記憶制御部、１１…光学フィルタ、１
１ａ…アンチストークスラマン散乱光通過領域、１１ｂ
…ストークスラマン散乱光通過領域、１１ｃ…レーリー
散乱光通過領域。
ａ，３ｂ，３ｃ…光ファイバ、４…光源、５…分岐器、
６…光学フィルタ部、７…受光素子、８…Ａ／Ｄ変換
部、９…信号処理記憶制御部、１１…光学フィルタ、１
１ａ…アンチストークスラマン散乱光通過領域、１１ｂ
…ストークスラマン散乱光通過領域、１１ｃ…レーリー
散乱光通過領域。
Claims (2)
- 【請求項１】 光ファイバに入射したパルス光により発
生する後方散乱光からラマン散乱光を取り出して、前記
ラマン散乱光の強度分布信号に基づいて前記光ファイバ
上の温度分布を算出する光温度分布センサにおいて、 前記後方散乱光からアンチストークスラマン散乱光の強
度分布信号を取り出す第１の抽出手段と、 前記後方散乱光からストークスラマン散乱光の強度分布
信号を取り出す第２の抽出手段と、 前記後方散乱光からレーリー散乱光の強度分布信号を取
り出す第３の抽出手段と、 前記レーリー散乱光の強度分布信号を基準として、前記
アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号及び前記
ストークスラマン散乱光の強度分布信号を規格化し、こ
れらの規格化された各ラマン散乱光の強度分布信号に基
づいて前記光ファイバ上の温度分布を算出する温度分布
算出手段とを備えたことを特徴とする光温度分布セン
サ。 - 【請求項２】 光強度を減衰させながら当該光を透過さ
せる光透過媒体中に、パルス光を入射することにより発
生した後方散乱光のうち、レーリー散乱光とアンチスト
ークスラマン散乱光とストークスラマン散乱光とを取り
出し、 前記レーリー散乱光の強度分布信号を基準として、前記
アンチストークスラマン散乱光の強度分布信号及び前記
ストークスラマン散乱光の強度分布信号を規格化し、 これらの規格化された各ラマン散乱光の強度分布信号を
用いて、ラマン散乱光の強度分布信号から前記光透過媒
体の光強度減衰率の経時変化に関する情報を除去し、 前記規格化された各ラマン散乱光の強度分布信号に基づ
いて、前記光ファイバ上の温度分布を算出することを特
徴とする温度分布測定方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047551A JPH08247858A (ja) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | 光温度分布センサ及び温度分布測定方法 |
| US08/606,797 US5765948A (en) | 1995-03-07 | 1996-02-26 | Light-temperature distribution sensor using back scattering light produced by incident light pulse and temperature distribution measuring method |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7047551A JPH08247858A (ja) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | 光温度分布センサ及び温度分布測定方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08247858A true JPH08247858A (ja) | 1996-09-27 |
Family
ID=12778305
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7047551A Pending JPH08247858A (ja) | 1995-03-07 | 1995-03-07 | 光温度分布センサ及び温度分布測定方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5765948A (ja) |
| JP (1) | JPH08247858A (ja) |
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|---|---|---|---|---|
| EP0898151A2 (de) * | 1997-08-22 | 1999-02-24 | Felten & Guilleaume AG | Verfahren und Anordnung zur Konfigurierung einer Messanordnung |
| JP2006308541A (ja) * | 2005-03-31 | 2006-11-09 | Occ Corp | 温度分布測定方法及び温度分布測定装置 |
| JP2008116432A (ja) * | 2006-07-06 | 2008-05-22 | Ricoh Co Ltd | ラマン分光測定装置、及びこれを用いたラマン分光測定法 |
| WO2009011766A1 (en) * | 2007-07-18 | 2009-01-22 | Sensortran, Inc. | Dual source auto-correction in distributed temperature systems |
| JP2010117226A (ja) * | 2008-11-12 | 2010-05-27 | Ricoh Co Ltd | ラマン分光測定装置および測定法 |
| WO2014064770A1 (ja) * | 2012-10-23 | 2014-05-01 | 富士通株式会社 | 異常検知システム及び異常検知方法 |
| WO2015132899A1 (ja) * | 2014-03-05 | 2015-09-11 | 富士通株式会社 | 異常検知システム及び異常検知方法 |
| CN107389657A (zh) * | 2017-08-15 | 2017-11-24 | 江西农业大学 | 一种食用油中反式油酸含量检测方法及装置 |
| CN112857612A (zh) * | 2021-04-14 | 2021-05-28 | 西安和其光电科技股份有限公司 | 一种分布式光纤测温计算方法及系统 |
Families Citing this family (46)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2813955B1 (fr) * | 2000-09-08 | 2002-12-27 | Jobin Yvon S A | Procede, dipositif et systeme pour detection d'un spectre raman |
| DE10111640A1 (de) * | 2001-03-10 | 2002-10-02 | Airbus Gmbh | Verfahren zur Ermittlung und Meldung von Überhitzungen und Feuern in einem Flugzeug |
| US20030234921A1 (en) * | 2002-06-21 | 2003-12-25 | Tsutomu Yamate | Method for measuring and calibrating measurements using optical fiber distributed sensor |
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