JPH08233690A - 液晶セル検査装置 - Google Patents
液晶セル検査装置Info
- Publication number
- JPH08233690A JPH08233690A JP3811495A JP3811495A JPH08233690A JP H08233690 A JPH08233690 A JP H08233690A JP 3811495 A JP3811495 A JP 3811495A JP 3811495 A JP3811495 A JP 3811495A JP H08233690 A JPH08233690 A JP H08233690A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- liquid crystal
- crystal cell
- inspection
- trunk chamber
- hot air
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 高温状態で液晶セルを容易に検査することが
できる液晶セル検査装置を提供するものである。 【構成】 断熱性を有するトランク室１２の上面に開口
部３０を設け、トランク室１２の内部に熱風発生装置２
０を設け、トランク室１２の外部に検査用プローブ３２
を設け、開口部１４を液晶セル１６で覆い、この液晶セ
ル１６の裏面を熱風発生装置２０からの熱風によって加
熱する。そして、この状態で液晶セルの出画検査を行
う。
できる液晶セル検査装置を提供するものである。 【構成】 断熱性を有するトランク室１２の上面に開口
部３０を設け、トランク室１２の内部に熱風発生装置２
０を設け、トランク室１２の外部に検査用プローブ３２
を設け、開口部１４を液晶セル１６で覆い、この液晶セ
ル１６の裏面を熱風発生装置２０からの熱風によって加
熱する。そして、この状態で液晶セルの出画検査を行
う。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶セルの検査装置に
関するものである。
関するものである。
【０００２】
【従来の技術】一般に液晶表示装置は、液晶セルとタブ
（ＴＡＢ／ＩＣ）と駆動回路（ＰＣＢ）を組み合わせて
モジュール化する。そして、このモジュール化した装置
の真下にバックライトを組み合わせて出画することが多
い。
（ＴＡＢ／ＩＣ）と駆動回路（ＰＣＢ）を組み合わせて
モジュール化する。そして、このモジュール化した装置
の真下にバックライトを組み合わせて出画することが多
い。
【０００３】このバックライトには冷陰極管が用いら
れ、モジュール化した装置は、バックライトと共に密閉
された容器に組み込まれる。そのため、液晶表示装置は
使用状態ではバックライトに加熱され、液晶セルは常温
時より２０〜３０℃高い高温状態になる。特に、車載使
用ではさらに高温状態になる可能性があり、液晶セルに
使用されているトランジスタ特性等の劣化やバラツキに
より画質不良となることがある。
れ、モジュール化した装置は、バックライトと共に密閉
された容器に組み込まれる。そのため、液晶表示装置は
使用状態ではバックライトに加熱され、液晶セルは常温
時より２０〜３０℃高い高温状態になる。特に、車載使
用ではさらに高温状態になる可能性があり、液晶セルに
使用されているトランジスタ特性等の劣化やバラツキに
より画質不良となることがある。
【０００４】そのため、モジュール工程でモジュール化
した装置を高温状態（例えば、６０〜８５℃）で３０〜
６０分駆動の後、実際の使用状態に近い状態で画質検査
を行い不良品の流出を防止している。
した装置を高温状態（例えば、６０〜８５℃）で３０〜
６０分駆動の後、実際の使用状態に近い状態で画質検査
を行い不良品の流出を防止している。
【０００５】しかしながら、モジュール工程で検査を行
うということは、液晶セルにＴＡＢ／ＩＣやＰＣＢを組
み合わせた後に検査することであるので、この工程で不
良品が発見されると、モジュール材料に損失が生じ、ま
た、モジュール工程の工数が増加するという問題があ
る。
うということは、液晶セルにＴＡＢ／ＩＣやＰＣＢを組
み合わせた後に検査することであるので、この工程で不
良品が発見されると、モジュール材料に損失が生じ、ま
た、モジュール工程の工数が増加するという問題があ
る。
【０００６】そのため、液晶セル自体で高温状態での画
質検査が行うと、良品の液晶セルのみモジュール化する
ことができるようになり、モジュール工程の工数や材料
の損失がなく効率的な生産となる。これには、モジュー
ル工程前の液晶セル単体で６０℃以上の高温状態にし、
出画検査する必要がある。
質検査が行うと、良品の液晶セルのみモジュール化する
ことができるようになり、モジュール工程の工数や材料
の損失がなく効率的な生産となる。これには、モジュー
ル工程前の液晶セル単体で６０℃以上の高温状態にし、
出画検査する必要がある。
【０００７】液晶セルにおける出画検査は、通常、セル
電極を検査用プローブで接続して、出画検査装置により
液晶セルに画像を表示して行う。
電極を検査用プローブで接続して、出画検査装置により
液晶セルに画像を表示して行う。
【０００８】ここで、高温状態で液晶セルの検査を行う
方法の一つとして、図３に示すように、液晶セル１００
のセル電極１０６に検査用プローブ１０２をコンタクト
させ、このコンタクトした状態の液晶セル１００と検査
用プローブ１０２を高温槽１０４に入れて出画検査装置
１０８により検査を行うことが考えられる。
方法の一つとして、図３に示すように、液晶セル１００
のセル電極１０６に検査用プローブ１０２をコンタクト
させ、このコンタクトした状態の液晶セル１００と検査
用プローブ１０２を高温槽１０４に入れて出画検査装置
１０８により検査を行うことが考えられる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、セル電
極１０６と検査用プローブ１０２の全てのピンを精度よ
く位置合わせし、これら装置全体を６０℃以上の高温状
態にすると、液晶セル１００、検査用プローブ１０２の
それぞれの熱膨張係数が異なるため、各装置の寸法が変
わり、セル電極１０６と検査用プローブ１０２の位置が
ずれてこれを精度よく接続することが困難になる。
極１０６と検査用プローブ１０２の全てのピンを精度よ
く位置合わせし、これら装置全体を６０℃以上の高温状
態にすると、液晶セル１００、検査用プローブ１０２の
それぞれの熱膨張係数が異なるため、各装置の寸法が変
わり、セル電極１０６と検査用プローブ１０２の位置が
ずれてこれを精度よく接続することが困難になる。
【００１０】そのため、常温時に液晶セル１００と検査
用プローブ１０２とを接続し、その後素早く液晶セル１
００のみをトランジスタ特性にばらつきが出てくる６０
℃以上にする必要があり、その検査過程が煩雑となると
いう問題がある。
用プローブ１０２とを接続し、その後素早く液晶セル１
００のみをトランジスタ特性にばらつきが出てくる６０
℃以上にする必要があり、その検査過程が煩雑となると
いう問題がある。
【００１１】そこで、本発明は上記問題点に鑑み、高温
状態で液晶セルを容易に検査することができる液晶セル
検査装置を提供するものである。
状態で液晶セルを容易に検査することができる液晶セル
検査装置を提供するものである。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の液晶セル検査装
置は、断熱性を有するトランク室と、前記トランク室に
開口した開口部と、前記トランク室内部に設けられた熱
風発生手段と、前記トランク室の外部における前記開口
部の縁部に検査用プローブとからなり、検査対象たる液
晶セルを前記トランク室の外部に配して前記開口部を覆
い、前記液晶セルと前記検査用プローブとを接続し、前
記液晶セルの裏面を前記熱風発生手段によって加熱しつ
つ出画検査を行うものである。
置は、断熱性を有するトランク室と、前記トランク室に
開口した開口部と、前記トランク室内部に設けられた熱
風発生手段と、前記トランク室の外部における前記開口
部の縁部に検査用プローブとからなり、検査対象たる液
晶セルを前記トランク室の外部に配して前記開口部を覆
い、前記液晶セルと前記検査用プローブとを接続し、前
記液晶セルの裏面を前記熱風発生手段によって加熱しつ
つ出画検査を行うものである。
【００１３】
【作 用】上記構成の液晶セル検査装置において、検査
対象たる液晶セルを検査する場合には、液晶セルを前記
トランク室の外部に配して開口部を覆い、この液晶セル
に検査用プローブを接続する。その後、トランク室内部
の熱風発生手段によって、液晶セルの裏面に熱風を当て
て液晶セルを加熱し高温状態にする。
対象たる液晶セルを検査する場合には、液晶セルを前記
トランク室の外部に配して開口部を覆い、この液晶セル
に検査用プローブを接続する。その後、トランク室内部
の熱風発生手段によって、液晶セルの裏面に熱風を当て
て液晶セルを加熱し高温状態にする。
【００１４】そして、上記の高温状態において出画検査
を行い、液晶セルが不良品であるか否かを判断する。
を行い、液晶セルが不良品であるか否かを判断する。
【００１５】
【実施例】以下、本発明の一実施例である液晶セル検査
装置１０について説明する。
装置１０について説明する。
【００１６】符号１２は、断熱性を有するトランク室で
あって、その天井面には矩形の開口部１４が設けられて
いる。この開口部１４の大きさは、検査する対象である
液晶セル１６の大きさよりもやや小さく設定されてい
る。
あって、その天井面には矩形の開口部１４が設けられて
いる。この開口部１４の大きさは、検査する対象である
液晶セル１６の大きさよりもやや小さく設定されてい
る。
【００１７】符号１８は、トランク室１２の内部に設け
られたバックライトである。このバックライト１８は、
開口部１４の真下に設けられている。
られたバックライトである。このバックライト１８は、
開口部１４の真下に設けられている。
【００１８】符号２０は、トランク室１２内部に設けら
れた熱風発生装置である。この熱風発生装置２０は、熱
源２２とファン装置２４とよりなる。熱源２２は、電熱
により加熱されるものであり、ファン装置２０を駆動す
ることにより、熱源２２からの熱が、トランク室１２内
部を循環し、その内部を高温状態にする。
れた熱風発生装置である。この熱風発生装置２０は、熱
源２２とファン装置２４とよりなる。熱源２２は、電熱
により加熱されるものであり、ファン装置２０を駆動す
ることにより、熱源２２からの熱が、トランク室１２内
部を循環し、その内部を高温状態にする。
【００１９】符号２６は、トランク室１２内部の温度を
測定するための熱電対である。
測定するための熱電対である。
【００２０】符号２８は、トランク室１２内部の温度を
制御するための温度制御装置である。この温度制御装置
２８は、熱電対２６、熱源２２、ファン装置２４とに接
続され、熱電対２６からの信号により、熱源２２及びフ
ァン装置２４を制御し、トランク室１２内部の温度を一
定に保持するように制御している。
制御するための温度制御装置である。この温度制御装置
２８は、熱電対２６、熱源２２、ファン装置２４とに接
続され、熱電対２６からの信号により、熱源２２及びフ
ァン装置２４を制御し、トランク室１２内部の温度を一
定に保持するように制御している。
【００２１】符号３０は、トランク室１２の上面におけ
る開口部１４の縁部の全周に設けられたベース板３０で
ある。このベース板３０は、検査対象となる液晶セル１
６を載置することが可能であり、このベース板３０に液
晶セル１６を載置すると、開口部１４が覆われる状態と
なる。
る開口部１４の縁部の全周に設けられたベース板３０で
ある。このベース板３０は、検査対象となる液晶セル１
６を載置することが可能であり、このベース板３０に液
晶セル１６を載置すると、開口部１４が覆われる状態と
なる。
【００２２】符号３２は、ベース板３０の周囲に設けら
れた検査用プローブであり、図１に示すように、開口部
１４の２つの側部に沿ってそれぞれ設けられており、ベ
ース板３０に載置された液晶セル１６のセル電極３４に
接続する。
れた検査用プローブであり、図１に示すように、開口部
１４の２つの側部に沿ってそれぞれ設けられており、ベ
ース板３０に載置された液晶セル１６のセル電極３４に
接続する。
【００２３】符号３６は、出画検査装置であり、検査用
プローブ３２に駆動信号を出力して、液晶セル１６に画
像を表示できる。
プローブ３２に駆動信号を出力して、液晶セル１６に画
像を表示できる。
【００２４】上記構成の液晶セル検査装置１０を使用し
て、液晶セル１６を検査する場合について説明する。
て、液晶セル１６を検査する場合について説明する。
【００２５】 トランク室１２に設けられた開口部１
４を覆うようにして、ベース板３０に液晶セル１６を載
置する。この場合に、液晶セル１６の裏面がトランク室
１２の内部に露出するようにする。
４を覆うようにして、ベース板３０に液晶セル１６を載
置する。この場合に、液晶セル１６の裏面がトランク室
１２の内部に露出するようにする。
【００２６】 検査用プローブ３２を液晶セル１６の
セル電極３４にコンタクトさせるとともに、画質検査用
のバックライト１８を点灯させる。
セル電極３４にコンタクトさせるとともに、画質検査用
のバックライト１８を点灯させる。
【００２７】 熱風発生装置２０により熱風をトラン
ク室１２内部に循環させる。すると、熱風が液晶セル１
６の裏面に当たり、例えば、熱風の温度が８０℃なら
ば、液晶セル１６は６０℃付近まで約２０秒で加熱でき
る。この場合において、検査用プローブ３２及び液晶セ
ル１６のセル電極３４付近は、トランク室１２の断熱効
果により断熱されているため、コンタクト状態は常温と
変わらず、検査用プローブ３２とセル電極３４に位置ず
れが起こらず、その精度を保持できる。また、トランク
室１２の内部が一定温度に保持されるように、温度制御
装置２８によって温度を制御する。
ク室１２内部に循環させる。すると、熱風が液晶セル１
６の裏面に当たり、例えば、熱風の温度が８０℃なら
ば、液晶セル１６は６０℃付近まで約２０秒で加熱でき
る。この場合において、検査用プローブ３２及び液晶セ
ル１６のセル電極３４付近は、トランク室１２の断熱効
果により断熱されているため、コンタクト状態は常温と
変わらず、検査用プローブ３２とセル電極３４に位置ず
れが起こらず、その精度を保持できる。また、トランク
室１２の内部が一定温度に保持されるように、温度制御
装置２８によって温度を制御する。
【００２８】 上記状態において、出画検査装置３６
により出画検査を行う。この出画検査においては、液晶
セル１６の使用状態が高温で使用する状態と同じ状態で
あり、この状態でその液晶セル１６が良品であるか不良
品であるかを判断する。
により出画検査を行う。この出画検査においては、液晶
セル１６の使用状態が高温で使用する状態と同じ状態で
あり、この状態でその液晶セル１６が良品であるか不良
品であるかを判断する。
【００２９】なお、検査用プローブ３２とベース板３０
の大きさ及び位置を交換することにより、異なる液晶セ
ルの品種でも同一の検査を実施することができる。
の大きさ及び位置を交換することにより、異なる液晶セ
ルの品種でも同一の検査を実施することができる。
【００３０】
【発明の効果】本発明の液晶セル検査装置であると、ト
ランク室の開口部に液晶セルを載置して検査するだけで
高温状態の検査ができるため、従来、モジュール工程の
高温出画検査で発生した画質不良を、液晶セル単体で判
別することができ、良品の液晶セルのみをモジュール化
することができるため、モジュールの歩留及びモジュー
ル材料の歩留が向上する。
ランク室の開口部に液晶セルを載置して検査するだけで
高温状態の検査ができるため、従来、モジュール工程の
高温出画検査で発生した画質不良を、液晶セル単体で判
別することができ、良品の液晶セルのみをモジュール化
することができるため、モジュールの歩留及びモジュー
ル材料の歩留が向上する。
【図１】本発明の一実施例を示す液晶セル検査装置の平
面図である。
面図である。
【図２】図１におけるＡ−Ａ線断面図である。
【図３】従来の液晶セル検査装置の横断面図である。
１０ 液晶セル検査装置 １２ トランク室 １４ 開口部 １６ 液晶セル １８ バックライト ２０ 熱風発生装置 ３２ 検査用プローブ ３４ セル電極 ３６ 出画検査装置
Claims (1)
- 【請求項１】断熱性を有するトランク室と、 前記トランク室に開口した開口部と、 前記トランク室内部に設けられた熱風発生手段と、 前記トランク室の外部における前記開口部の縁部に設け
られた検査用プローブとからなり、 検査対象たる液晶セルを前記トランク室の外部に配して
前記開口部を覆い、前記液晶セルと前記検査用プローブ
とを接続し、前記液晶セルの裏面を前記熱風発生手段に
よって加熱しつつ出画検査を行うことを特徴とする液晶
セル検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811495A JPH08233690A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | 液晶セル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3811495A JPH08233690A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | 液晶セル検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08233690A true JPH08233690A (ja) | 1996-09-13 |
Family
ID=12516456
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3811495A Pending JPH08233690A (ja) | 1995-02-27 | 1995-02-27 | 液晶セル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08233690A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10134458A1 (de) * | 2001-07-16 | 2003-02-06 | Autronic Melchers Gmbh | Messsystem zum Messen der optischen Eigenschaften eines Objekts und insbesondere dafür vorgesehener Messkopf |
| KR101043677B1 (ko) * | 2004-06-29 | 2011-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 검사장치 |
-
1995
- 1995-02-27 JP JP3811495A patent/JPH08233690A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE10134458A1 (de) * | 2001-07-16 | 2003-02-06 | Autronic Melchers Gmbh | Messsystem zum Messen der optischen Eigenschaften eines Objekts und insbesondere dafür vorgesehener Messkopf |
| DE10134458B4 (de) * | 2001-07-16 | 2006-10-19 | Autronic-Melchers Gmbh | Messsystem und Messkopf zum Messen der Optischen Eigenschaften eines Displays |
| KR101043677B1 (ko) * | 2004-06-29 | 2011-06-23 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치의 검사장치 |
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