KR101043677B1

KR101043677B1 - 액정표시장치의 검사장치

Info

Publication number: KR101043677B1
Application number: KR1020040049308A
Authority: KR
Inventors: 주효욱
Original assignee: 엘지디스플레이 주식회사
Priority date: 2004-06-29
Filing date: 2004-06-29
Publication date: 2011-06-23
Also published as: KR20060000446A

Abstract

본 발명은 액정표시장치의 검사장치에 관한 것이다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 화상을 구현하는 액정패널에 검사신호를 인가하여 검사하는 검사부와; 상기 검사부의 검사공정과 동시에 상기 액정패널의 하부에 위치하여 상기 액정패널에 열을 방출하는 열방출부를 구비하고; 상기 열방출부는 기판과, 상기 기판상에 형성된 투명도전층을 포함한다.

Description

액정표시장치의 검사장치{PROVING APPARATUS OF LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE}

도 1은 종래의 액정표시장치의 검사장치를 나타내는 도면이다.

도 2는 종래의 액정패널의 일부를 나타내는 도면이다.

도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치를 나타내는 도면이다.

도 4는 도 3의 유닛 어세이를 상세히 나타낸 도면이다.

도 5는 도 4의 메뉴풀레이터 어세이를 상세히 나타낸 도면이다.

도 6은 도 5의 포고블록을 상세히 나타낸 도면이다.

도 7은 도 4의 워크 테이블을 상세히 나타낸 도면이다.

도 8은 도 7의 클램프를 상세히 나타낸 도면이다.

도 9는 도 4의 히팅부를 상세히 나타낸 도면이다.

도 10은 도 4의 컨트롤 박스를 상세히 나타낸 도면이다.

도 11 및 도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사과정 중 액정패널의 적재를 나타낸 도면이다.

도 13 및 도 14는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사과정 중 액 정패널의 고정을 나타낸 도면이다.

도 15는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사과정 중 히팅을 나타낸 도면이다.

도 16은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사과정 중 컨트롤 박스의 구동을 나타낸 도면이다.

도 17은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 히팅부의 온도를 나타내는 그래프이다.

도 18은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 히팅부 및 액정패널의 온도를 나타내는 그래프이다.

도 19는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치에 의해 검사되는 액정패널의 일부를 나타내는 도면이다.

도 20은 내지 도 22는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 유닛 교체 및 셋업을 나타내는 도면이다.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 >

10, 110 : 지그 12, 112 : 이온나이저

14, 114 : 지그 베이스 16, 116 : 지그 테이블

18, 118 : 유닛 어뎁터 20, 120 : 유닛 어세이

30, 130 : 워크 테이블 40, 140 : 백 라이트

50, 150 : 컨트롤 박스 160 : 히팅부

170 : 메뉴풀레이터 어세이 180 : 포고블록

190 : 클램프

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로 특히 액정표시장치의 검사장치에 관한 것이다.

액정표시장치는 영상신호에 대응하도록 광빔의 투과량을 조절함에 의해 화상을 표시하는 대표적인 평판 표시장치이다. 이 액정표시장치는 경량화, 박형화, 저소비 전력구동 등의 특징으로 인해 그 응용범위가 점차 넓어지고 있는 추세에 있다. 이런 추세에 따라 액정표시장치는 사무자동화(Office Automation) 장치 및 노트북 컴퓨터의 표시장치로 적용되고 있다. 또한, 액정표시장치는 사용자의 요구에 부응하여 대화면화, 고정세화, 저소비전력화의 방향으로 진행되고 있어서 많은 응용분야에서 음극선관을 빠른 속도로 대체하고 있다. 특히, 박막트랜지스터(Thin Film Transistor : 이하, "TFT"라 한다)를 이용하여 액정셀을 구동하는 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치는 화질이 우수하고 소비전력이 낮은 장점이 있으며, 최근의 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화로 급속히 발전하고 있다.

이와 같은 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치를 제조하기 위한 제조공정 은 기판 세정 공정, 기판 패터닝 공정, 배향막형성/러빙 공정, 기판합착/액정주입 공정, 검사 공정, 리페어(Repair) 공정, 실장 공정 등으로 나뉘어진다.

기판세정 공정에서는 액정표시장치의 기판 표면에 오염된 이물질을 세정액으로 제거하게 된다.

기판 패터닝 공정에서는 상판(컬러필터 기판)의 패터닝과 하판(TFT-어레이 기판)의 패터닝으로 나뉘어진다. 상판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, TFT의 소오스전극에 접속되는 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에 화소전극이 형성된다.

배향막형성/러빙 공정에서는 상부기판과 하부기판 각각에 배향막을 도포하고 그 배향막을 러빙포 등으로 러빙하게 된다.

기판합착/액정주입 공정에서는 실재(Sealant)를 이용하여 상부기판과 하부기판을 합착하고 액정주입구를 통하여 액정과 스페이서를 주입한 다음, 그 액정주입구를 봉지하는 공정으로 진행된다.

검사 공정은 하부기판에 각종 신호배선과 화소전극이 형성된 후에 실시되는 전기적 검사와 기판합착 및 액정주입 공정 후에 실시되는 전기적검사 및 육안검사를 포함한다.

리페어 공정은 검사 공정에 의해 리페어가 가능한 것으로 판정된 기판에 대한 복원을 실시하는 한편, 검사 공정에서 리페어가 불가능한 불량기판들에 대하여는 폐기처분된다.

이와 같은 액정표시장치의 제조 공정 중 검사공정에서 전기적 검사를 위하여 도 1에 도시된 바와 같은 지그(Jig)가 검사장치로 사용된다.

도 1을 참조하면, 종래의 액정표시장치의 지그(10)는 최상부에 액정패널의 표면관찰이 용이하도록 이온광선을 주사하는 이온나이저(Ionizer)(12)와, 액정패널과 접촉되는 유닛 어세이(20)와, 유닛 어세이(20) 하부에 배치되어 유닛 어세이(20)를 지지하는 유닛 어뎁터(Unit Adapter)(18)와, 유닛 어세이(20) 및 유닛 어뎁터(18)를 지지하며 액정패널이 놓이는 워크 테이블(Work Table)(30)과, 워크 테이블(30)의 하부에 배치되어 검사되는 액정패널을 광을 조사하는 백 라이트(40)와, 백 라이트(40)의 하부에 배치되어 지그(10)를 지지하는 지그 베이스(Jig Base)(14)와, 지그(10)를 적재함과 아울러 이동할 수 있는 지그 테이블(Jig Table)(16)과, 지그 테이블(16)의 일측에 적재되어 지그(10)를 제어하고 전원을 공급하는 컨트롤 박스(50)를 구비한다.

유닛 어세이(20)는 검사되는 액정패널의 가장자리에 체결되어 외부로부터의 신호를 액정패널에 전달하는 메뉴풀레이터 어세이(Manipulator Assy)와, 외부로부터 신호가 공급되는 커넥터(Connector)와, 액정패널의 일측과 체결되어 공통전압(Vcom)을 인가하는 공통전압 포고 블록(Pogo Block)과, 각 유닛을 지지하는 베이스와 보강대를 구비한다.

메뉴풀레이터 어세이는 메뉴풀레이터 바디와, 액정패널과 접촉되는 필름 블록(Film Block)과, 메뉴풀레이터 바디와 필름 블록을 연결하는 연결블록과, 메뉴풀레이터 어세이가 액정패널의 일측과 똑딱단추 방식으로 접촉 및 이격되도록하는 누 름판을 구비한다.

공통전압 포고 블록은 액정패널과 접촉되어 공통전압을 인가하는 포고 블록과, 포고블록과 체결되어 포고 블록을 지지하는 블록 바디를 구비한다.

지그 베이스 상부에 위치하는 워크 테이블은 액정패널이 안착된 후 액정패널을 고정시키는 클램프를 구비한다. 이러한 클램프는 액정패널의 일측과 접촉하는 피크와, 피크와 결합되어 액정패널을 고정시키는 락 핸들(Lock Handle)을 구비한다.

컨트롤 박스(50)는 백 라이트(40)를 턴 온 및 오프 할 수 있는 백 라이트 스위치와, 전압을 조정하는 슬라이닥스와, 전압 및 전류의 정도를 나타내는 전압 및 전류계와, 구성요소를 커버하는 컨트롤 박스 커버를 구비한다.

이와 같은 구조를 가지는 지그(10)는 백 라이트(40)를 턴 온시킨 후, 액정패널의 신호라인들에 신호를 인가하고, 각 신호에 대응되는 액정패널의 화소불량을 체크하게된다. 이러한 방식으로 액정패널을 검사하는 지그(10)는 액정패널의 열에 의한 신뢰성 문제를 확인할 수 없는 문제점이 발생한다. 이에 따라, 특정 액정패널의 열에 의한 불량은 도시되지 않은 신뢰성 챔버내에서 액정패널을 조립이 완료된 상태 즉, 액정표시모듈 상태로 확인하게 된다. 따라서, 액정표시모듈을 불량처리하게 될 경우, 막대한 손해비용이 발생하게되는 문제점이 있다.

한편, 액정패널의 불량 분석시에는 도 2에 도시된 바와 같이 각 전극라인을 쇼팅시켜놓은 쇼팅 바(13)가 제거된 액정패널에 은 페이스트 (Ag paste)를 전극에 도포한 다음 DC를 인가하게 된다. 이 방식은 쇼팅 바(13)를 제거하고, 은 페이스 트를 도포하는 등의 시간적 손실이 발생하며 불량분석의 정확도가 저하되는 문제점이 있다.

따라서, 본 발명의 목적은 액정패널의 열 및 신호라인불량을 위한 검사방법을 간소화할 수 있는 액정표시장치의 검사장치를 제공하는데 있다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 화상을 구현하는 액정패널에 검사신호를 인가하여 검사하는 검사부와; 상기 검사부의 검사공정과 동시에 상기 액정패널의 하부에 위치하여 상기 액정패널에 열을 방출하는 열방출부를 구비하고; 상기 열방출부는 기판과, 상기 기판상에 형성된 투명도전층을 포함한다.

삭제

상기 투명한 도전층은 인듐 틴 옥사이드, 인듐 틴 징크 옥사이드, 인듐 징크 옥사이드, 틴 옥사이드 중 적어도 하나로 형성된다.

상기 열방출부는 기판과; 상기 기판상에 상기 액정패널에 형성된 블랙 메트릭스와 대응되는 영역에 형성되는 불투명 금속층을 포함한다.

상기 검사장치는 상기 액정패널에 접촉되어 검사신호를 인가하는 유닛 어세이와; 상기 유닛 어세이의 하부에 위치함과 아울러 상기 유닛 어세이를 지지하는 지지부와; 상기 지지부의 하부에 위치하여 상기 액정패널을 상기 고정시키는 고정 부와; 상기 유닛 어세이 및 상기 열방출부를 제어하는 제어부를 구비한다.

상기 유닛 어세이는 상기 액정패널의 가장자리 일측에 접촉되어 검사신호를 인가하는 메뉴풀레이터 어세이와; 상기 액정패널의 타측에 접촉되어 검사신호를 인가하는 포고블록을 구비한다.

상기 포고블록은 상기 액정패널에 형성된 신호라인 상에 적어도 두개의 라인으로 이루어진 군 단위로 접속되어 신호를 인가한다.

상기 유닛 어세이는 상기 열방출부에 의해 상기 액정패널이 히팅되는 동안 상기 액정패널에 검사신호를 인가한다.

상기 액정패널에 인가되는 검사신호는 상기 액정패널에 형성된 게이트 라인에 공급되는 공통전압, 게이트 하이 전압, 게이트 로우 전압 및 데이터 라인에 공급되는 데이터 신호와 동일한 크기의 전압신호 중 적어도 하나로 형성된다.

상기 열방출부의 하부에 위치하여 상기 액정패널에 광을 조사하는 백 라이트를 추가로 구비한다.

상기 제어부는 상기 열방출부에 의해 히팅 되는 상기 액정패널의 온도를 적정온도로 유지시킨다.

상기 적정온도는 40℃ ~ 85℃로 형성된다.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시 예에 대한 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.

도 3 내지 도 10은 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치를 나타내는 도면이다.

도 3을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 최상부에 액정패널의 표면관찰이 용이하도록 이온광선을 주사하는 이온나이저(Ionizer)(112)와, 액정패널과 접촉되는 유닛 어세이(120)와, 유닛 어세이(120) 하부에 배치되어 유닛 어세이(120)를 지지하는 유닛 어뎁터(Unit Adapter)(118)와, 유닛 어세이(120) 및 유닛 어뎁터(118)를 지지하는 워크 테이블(Work Table)(130)과, 워크 테이블(130)의 하부에 배치되어 검사되는 액정패널의 에이지(Aging)효과를 얻기위하여 열을 방출하는 히팅부(160)와, 액정패널에 광을 조사하는 백 라이트(140)와, 백 라이트(140)의 하부에 배치되어 지그(110)를 지지하는 지그 베이스(Jig Base)(114)와, 지그 베이스(114)를 적재함과 아울러 이동시킬 수 있도록 하는 지그 테이블(Jig Table)(116)과, 지그 테이블(116)의 일측에 적재되어 지그(110)를 제어하고 전원을 공급하는 컨트롤 박스(150)를 구비한다.

유닛 어세이(120)는 도 4에 도시된 바와 같이 검사되는 액정패널의 가장자리에 체결되어 외부로부터의 신호를 액정패널에 전달하는 메뉴풀레이터 어세이(Manipulator Assy)(170)와, 외부로부터 신호가 공급되는 커넥터(Connector)(128)와, 액정패널의 일측과 체결되어 공통전압(Vcom)을 인가하는 공통전압 포고 블록(Pogo Block)(180)과, 각 유닛을 지지하는 베이스(122)와 보강대(124)와 워크 테이블(130)과 결합시키는 클램프 볼트(126)를 구비한다.

메뉴풀레이터 어세이(170)는 도 5에 도시된 바와 같이 메뉴풀레이터 바디(172)와, 액정패널과 접촉되는 필름 블록(Film Block)(178)과, 메뉴풀레이터 바디(172)와 필름 블록(178)을 연결하는 연결블록(179)과, 메뉴풀레이터 어세이(170)가 액정패널의 일측과 접촉 및 이격되도록하는 누름판(174) 및 누름 볼트(176)을 구비한다.

공통전압 포고 블록(180)은 도 6에 도시된 바와 같이 액정패널과 접촉되어 공통전압을 인가하는 포고블록(182)과, 포고블록(182)과 체결되어 포고 블록(182)을 지지하는 블록 바디(184)를 구비한다.

삭제

지그 베이스(14) 상부에 위치하는 워크 테이블(130)은 도 7에 도시된 바와 같이 액정패널(102)이 안착된 후 액정패널(102)을 고정시키는 클램프(190)를 구비한다. 이러한 클램프(190)는 도 8에 도시된 바와 같이 액정패널(102)의 일측과 접촉하는 피크(192)와, 피크(192)와 결합되어 액정패널을 고정시키는 락 핸들(Lock Handle)(194)을 구비한다.

히팅부(160)는 액정패널에 열을 방출시키는 히팅 글래스(162)와, 히팅 글래스(162)를 지지하는 히팅 글래스 베이스(164)를 구비한다. 이 히팅 글래스(162)는 액정패널에 열을 방출함과 아울러 액정패널에 광을 조사하도록 투명한 재질 및 열방출율이 좋은 재질로 형성된다. 이러한 재질로는 기판상에 ITO(Indium Thin Oxide), 인듐 틴 징크 옥사이드, 인듐 징크 옥사이드, 틴 옥사이드 중 적어도 하나가 증착되어 제작된 투명 글래스가 이용된다. 또한, 히팅 글래스(162)는 기판상에 액정패널에 형성된 블랙 매트릭스와 대응되는 블투명 금속층을 포함하도록 형성될 수 있다.

백 라이트(140)는 히팅부(160)와 접촉되는 백 라이트 커버(142)와, 광을 조 사하는 다수개의 램프(144)를 수납하는 백 라이트 바디(146)와, 램프(144)에 공급되는 전력을 안정화시키는 안정기(148)와, 램프(144)로부터 발생되는 열을 냉각시키기 위한 냉각팬(149)을 구비한다.

컨트롤 박스(150)는 도 10에 도시된 바와 같이 액정패널을 히팅 시키는 히팅부(160)에 열을 공급함과 아울러 제어하는 온도 제어기(152)와, 히팅을 컨트롤하는 히터 스위치(154)와, 백 라이트(140)를 턴 온 및 오프 할 수 있는 백 라이트 스위치(156)와, 전압을 조정하는 슬라이닥스(158)와, 전압 및 전류의 정도를 나타내는 전압 및 전류계(157)와, 구성요소를 커버하는 컨트롤 박스 커버(159)를 구비한다.

여기서, 온도 제어기(152)는 현재온도를 나타내는 윈도우 및 설정온도를 나타내는 윈도우(153)가 구비되어 작업자가 액정패널의 열에 대한 에이징 효과를 각 온도에 따라 용이하게 검사할 수 있다.

이와 같은 구조를 가지는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 검사방법에 대해서 도 11 내지 도 18을 참조하여 살펴보기로 하자.

먼저, 지그(110)에 전원을 공급하고, 도 11에 도시된 바와 같이 유닛 어세이(120)를 고정시키는 베이스 클램프(129)의 손잡이를 일방향으로 젖힌다. 이후, 도 12에 도시된 바와 같이 유닛 어세이(120)를 오픈한 후 워크 테이블(130) 상에 액정패널을 적재한다. 이때, 도 13 및 도 14에 도시된 바와 같이 워크 테이블(130)의 일측에 형성됨과 아울러 액정패널(102)과 접촉하는 클램프(190)를 이용하여 액정패널(102)을 고정시킨다. 다음으로, 도 15에 도시된 바와 같이 유닛 어세이(120)를 닫고 베이스 클램프(129)를 원위치 시킨다. 여기서, 패널 교환시에는 히팅 글래스 (162)가 가열된 상태일 경우 액정패널(102)의 온도가 상승하게 됨으로 화상에 주의한다. 액정패널(102)이 워크 테이블(130)에 적재 완료되면, 도 16에 도시된 바와 같이 콘트롤 박스(150)의 백 라이트 스위치(156)를 턴온 한다. 또한, 히터 스위치(154)를 턴온한다. 이때, 온도 제어기(152)를 이용하여 적정온도를 설정하게 된다. 바람직한 온도로서 60℃ ~ 80℃가 적절하다. 이러한 방법으로 액정패널의 검사준비가 완료되면, 액정패널을 화소불량 등을 검사한다. 이러한 히팅작업에 대한 액정패널의 온도 상승을 도 17과 도 18이 나타내고 잇다. 도 17은 히팅 스위치(154)를 턴온 한 직후의 히팅 글래스의 표면 온도를 임의의 3 지점에서 측정한 실험결과를 나타내는 도면이다. 소정의 시간이 경과한 후, 히팅 글래스의 표면 온도가 상승 유지된 상태에서 액정패널을 장착하고 히팅 글래스의 1점과 액정패널 표면의 임의의 2 점을 측정한 결과가 도 18에 도시되어 있다.

여기서, 액정패널이 히팅된 상태를 유지하면서 동시에 액정패널에 형성된 신호라인이 가지는 DC 특성에 대한 검사방법을 화소라인 즉, RGB(Red, Green, Blue) 칼라필터를 예를 들어 상세히 살펴보기로 하자.

먼저 히팅 글래스를 히팅하여 액정패널을 히팅하고 온도를 유지한다. 액정패널의 RGB 칼라필터의 각 끝단은 도 19에 도시된 바와 같이 쇼팅 바(113)에 의해 통합되어 있기 때문에 RGB 칼라필터를 각 라인별로 검사하기 위하여 쇼팅 바(113)를 제거한 후, RGB 각 라인들에 하나 이상 접속되는 포고 블록(182)을 이용하여 신호를 인가하며 검사하게 된다. 이에 따라, 종래의 각 RGB 칼라필터 라인에 은 페이스트 방법을 사용하여 전극에 접속시키지 않고 포고 블록(182)을 이용하여 접속 시킴으로 검사된 액정패널을 재 사용할 수 있게 된다. 또한, RGB 칼라필터 라인을 군 단위로 검사하게 됨으로 검사시간이 절약되며, 포고 블록(182)의 제조 비용이 저감된다.

다음으로, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 유닛 교체 및 셋업에 도 20 내지 도 22를 참조하여 대해서 살펴보기로 하자.

본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 유닛 교체 방법은 도 20에 도시된 바와 같이 액정패널을 워크 테이블(130)상에서 제거한다. 이후, 베이스 클램프(129)를 이용하여 유닛 어뎁터(118)를 고정시킨다. 그리고, 유닛 어세이(120)의 가장자리에 설치되는 클램프 볼트(126)를 유닛 어뎁터(118)로부터 제거한다. 이와 같은 방식으로 분리된 유닛 어세이(120)를 보관함에 저장한다.

유닛 어세이(120)의 분리 작업 이후, 유닛 어뎁터(118)를 고정하면서 베이스 클램프(129)를 제거한다. 이와 같은 방식으로 분리된 유닛 어뎁터(118)를 보관 저장한다.

마지막으로 워크 테이블(130)의 렌치 볼트(Wrentch Bolt)를 제거한다. 렌치볼트가 제거되어 분리된 워크 테이블(130)을 보관 저장한다.

본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치의 유닛 셋업 방법은 크게 메뉴풀레이터 셋업 방법과 필름 교체 방법으로 나뉜다.

메뉴풀레이터 셋업 방법은 도 21에 도시된 바와 같이 먼저 메뉴풀레이터 어세이(170)에 상부에 위치한 누름 볼트(176)를 천천히 조여 적절한 접촉 압력을 유지할 수 있도록 조절한다. 이 누름 볼트(176)의 접촉 압력 유지는 콘텍 에러를 제 거하게 된다. 누름 볼트(176)의 접촉 압력 조절이 완료되면, 누름판(174)을 제거한 후 높이 조절 볼트(171)을 이용하여 필름 블록(178)의 초기 높이를 조절할 수 있게된다. 필름 블록(178)의 높이 조절이 완료되면 셋 스크류를 이용하여 고정시킨다. 필름 블록(178)의 높이 조절후, 다시 누름 볼트(176)의 접촉 압력을 제한한다. 마지막으로 필름 블록(178)을 액정패널에 접촉시키기 전에 필름의 접촉부 및 액정패널을 알코올로 세척한다.

필름 블록 교체 방법은 도 22에 도시된 바와 같이 필름 블록(178)을 교체하기 전에 베이스 클램프(129)를 제거하고 유닛 어세이(120)를 오픈 시킨다. 이후, 필름 블록(178)의 양 옆면을 잡고 블록 볼트(173)를 푼 후, 필름 블록(178)을 분리한다. 교체할 필름 블록(178)을 장착시킨다. 이때, 높이 조절 보조 볼트(171)를 느슨하게 유지한다. 마지막으로 높이 조절 볼트(171)를 돌려서 필름 블럭(178)을 들어올린다.

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상술한 바와 같이, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 히팅 글래스를 액정패널의 배면에 위치시켜 히팅 글래스를 히팅함으로써 액정패널을 히팅하게 된다. 이에 따라, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치의 검사장치는 액정패널의 열에 대한 에이징 효과를 검사할 수 있을뿐만아니라 히팅 된 액정패널에 DC를 인가하여 DC 특성에 대한 검사를 할 수 있다. 구체적으로, 종래에는 액정패널의 열에 대한 에이징 효과를 검사하기 위하여 별도의 히터 및 열풍 등을 사용하기 때문에 검사장치의 부피가 커짐과 아울러 액정패널의 DC 특성을 검사하기 위해 사용되는 배선에도 영향을 주었다. 그러나, 본 발명의 실시 예에 다른 액정표시장치의 검사장치는 히팅 글래스를 히팅하여 액정패널을 검사하게 되므로 배선에 영향을 주지 않을 뿐만아니라 히팅 글래스를 히팅하므로 별도의 장비가 필요하지 않게 된다. 또한, 불량 분석시에 사용되는 블록은 쇼팅 바를 제거한 후 군 단위로 접속하여 검사하기 때문에 작업시간이 감소하게 되고, 검사가 완료된 액정패널을 다시 사용할 수 있게 됨으로 불필요한 생산비 누수가 막을 수 있다.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.

Claims

화상을 구현하는 액정패널에 검사신호를 인가하여 검사하는 검사부와;

상기 검사부의 검사공정과 동시에 상기 액정패널의 하부에 위치하여 상기 액정패널에 열을 방출하는 열방출부를 구비하고;

상기 열방출부는 기판과, 상기 기판상에 형성된 투명도전층을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
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제 1 항에 있어서,

상기 투명도전층은

인듐 틴 옥사이드, 인듐 틴 징크 옥사이드, 인듐 징크 옥사이드, 틴 옥사이드 중 적어도 하나로 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 1 항에 있어서,

상기 열방출부는

기판과;

상기 기판상에 상기 액정패널에 형성된 블랙 메트릭스와 대응되는 영역에 형성되는 불투명 금속층을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 1 항에 있어서,

상기 검사장치는

상기 액정패널에 접촉되어 검사신호를 인가하는 유닛 어세이와;

상기 유닛 어세이의 하부에 위치함과 아울러 상기 유닛 어세이를 지지하는 지지부와;

상기 지지부의 하부에 위치하여 상기 액정패널을 고정시키는 고정부와;

상기 유닛 어세이 및 상기 열방출부를 제어하는 제어부를 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 유닛 어세이는

상기 액정패널의 가장자리 일측에 접촉되어 검사신호를 인가하는 메뉴풀레이터 어세이와;

상기 액정패널의 타측에 접촉되어 검사신호를 인가하는 포고블록을 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 6 항에 있어서,

상기 포고블록은

상기 액정패널에 형성된 신호라인 상에 적어도 두개의 라인으로 이루어진 군 단위로 접속되어 신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 유닛 어세이는

상기 열방출부에 의해 상기 액정패널이 히팅되는 동안 상기 액정패널에 검사신호를 인가하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 8 항에 있어서,

상기 액정패널에 인가되는 검사신호는

상기 액정패널에 형성된 게이트 라인에 공급되는 공통전압, 게이트 하이 전압, 게이트 로우 전압 및 데이터 라인에 공급되는 데이터 신호와 동일한 크기의 전압신호 중 적어도 하나인 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 열방출부의 하부에 위치하여 상기 액정패널에 광을 조사하는 백 라이트를 추가로 구비하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 5 항에 있어서,

상기 제어부는

상기 열방출부에 의해 히팅 되는 상기 액정패널의 온도를 적정온도로 유지시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.
제 11 항에 있어서,

상기 적정온도는 40℃ ~ 85℃인 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 검사장치.