JP2000010064A - 液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法 - Google Patents
液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法Info
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- JP2000010064A JP2000010064A JP10179274A JP17927498A JP2000010064A JP 2000010064 A JP2000010064 A JP 2000010064A JP 10179274 A JP10179274 A JP 10179274A JP 17927498 A JP17927498 A JP 17927498A JP 2000010064 A JP2000010064 A JP 2000010064A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 セル状態の液晶表示パネルの検査において、
不良が、液晶表示パネル自身のものなのか、偏光板によ
るものなのかの区別を容易とする。 【解決手段】 検査対象たる液晶表示パネルを載置台１
１０の凹部１１２に載置すると、上偏光板１５０は、液
晶表示パネルおよび検査位置の中間地点よりも検査位置
側に位置することになる。このため、液晶表示パネルに
焦点を合わせると、上偏光板１５０は焦点外となるた
め、たとえ、ゴミ等が付着しても、検査において影響は
ほとんどない。
不良が、液晶表示パネル自身のものなのか、偏光板によ
るものなのかの区別を容易とする。 【解決手段】 検査対象たる液晶表示パネルを載置台１
１０の凹部１１２に載置すると、上偏光板１５０は、液
晶表示パネルおよび検査位置の中間地点よりも検査位置
側に位置することになる。このため、液晶表示パネルに
焦点を合わせると、上偏光板１５０は焦点外となるた
め、たとえ、ゴミ等が付着しても、検査において影響は
ほとんどない。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示パネルの
外観や画素欠陥などを、製品の組み込み前や接続前に検
査する液晶表示パネルの検査装置に関する。
外観や画素欠陥などを、製品の組み込み前や接続前に検
査する液晶表示パネルの検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】一般に、いわゆるセル状態の液晶表示パ
ネルにあっては、外観や、断線、短絡、画素欠陥などの
検査が行われ、この検査で良品と判別された液晶表示パ
ネルに対してのみ、実際に、ＩＣチップ等の実装や、Ｆ
ＰＣ（Flexible Printed Circuit ）の接続、偏光板の
貼付、バックライトの取付などの後工程が行われるよう
になっている。
ネルにあっては、外観や、断線、短絡、画素欠陥などの
検査が行われ、この検査で良品と判別された液晶表示パ
ネルに対してのみ、実際に、ＩＣチップ等の実装や、Ｆ
ＰＣ（Flexible Printed Circuit ）の接続、偏光板の
貼付、バックライトの取付などの後工程が行われるよう
になっている。
【０００３】このため、液晶表示パネルの検査は、でき
るだけ後工程や実際製品を想定した状態において行われ
ていた。具体的には、検査は、液晶表示パネルを２枚の
偏光板で挟むとともに、液晶表示パネルの背面からバッ
クライトにより光を照射し、さらに、液晶表示パネルの
走査線およびデータ線に対して試験用（あるいは実際
の）駆動信号を供給し、画素を適宜駆動した状態におい
て、行われていた。
るだけ後工程や実際製品を想定した状態において行われ
ていた。具体的には、検査は、液晶表示パネルを２枚の
偏光板で挟むとともに、液晶表示パネルの背面からバッ
クライトにより光を照射し、さらに、液晶表示パネルの
走査線およびデータ線に対して試験用（あるいは実際
の）駆動信号を供給し、画素を適宜駆動した状態におい
て、行われていた。
【０００４】なお、このような検査は、ＣＣＤ等を用い
て機械的に行う場合もあれば、肉眼により目視で行う場
合もある。
て機械的に行う場合もあれば、肉眼により目視で行う場
合もある。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】ところで、偏光板は、
一般にはＰＶＡ（ポリビニルアルコール）などの偏光基
体を、両面からＴＡＣ（トリアセチルセルロース）など
の基板でサンドイッチ状に貼り合わせた構造となってい
る。このため、偏光板の表面は、一般にガラス基板から
なる液晶表示パネルと比較すると、非常にキズがつきや
すい。
一般にはＰＶＡ（ポリビニルアルコール）などの偏光基
体を、両面からＴＡＣ（トリアセチルセルロース）など
の基板でサンドイッチ状に貼り合わせた構造となってい
る。このため、偏光板の表面は、一般にガラス基板から
なる液晶表示パネルと比較すると、非常にキズがつきや
すい。
【０００６】ここで、偏光板の表面にキズがついている
と、それが液晶表示パネルに生じているものであるの
か、それとも偏光板のものなのかが判別しにくい状態と
なって、検査の正確性や効率性に支障をきたす、という
問題が生じた。また、偏光板にゴミなどが付着している
と、それが液晶表示パネルの画素欠陥であるのか、それ
とも偏光板によるものかが判別しにくい状態となって、
同様に、検査に支障をきたす。
と、それが液晶表示パネルに生じているものであるの
か、それとも偏光板のものなのかが判別しにくい状態と
なって、検査の正確性や効率性に支障をきたす、という
問題が生じた。また、偏光板にゴミなどが付着している
と、それが液晶表示パネルの画素欠陥であるのか、それ
とも偏光板によるものかが判別しにくい状態となって、
同様に、検査に支障をきたす。
【０００７】もちろん、キズが発生すれば、その都度、
偏光板を取り替えることにより、また、ゴミが付着すれ
ば、その都度、偏光板を清掃することにより、この問題
は解消すると思われる。しかしながら、それでは、検査
のために大量の偏光板が必要となり、また、清掃のため
に検査効率も低下するので、根本的な解決には至らな
い。
偏光板を取り替えることにより、また、ゴミが付着すれ
ば、その都度、偏光板を清掃することにより、この問題
は解消すると思われる。しかしながら、それでは、検査
のために大量の偏光板が必要となり、また、清掃のため
に検査効率も低下するので、根本的な解決には至らな
い。
【０００８】本発明は、上述の事情に鑑みてなされたも
のであり、その目的とするところは、偏光板のキズやゴ
ミなどが検査にほとんど影響を与えない液晶表示パネル
の検査装置を提供することにある。
のであり、その目的とするところは、偏光板のキズやゴ
ミなどが検査にほとんど影響を与えない液晶表示パネル
の検査装置を提供することにある。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明にあっては、検査対象たる液晶表示パネルを
載置する載置機構と、前記液晶表示パネルと検査位置と
の間に位置する第１の偏光板と、前記液晶表示パネルの
背面に位置する第２の偏光板とを備える液晶表示パネル
の検査装置であって、前記第１の偏光板を、前記液晶表
示パネルおよび前記検査位置の中間地点よりも前記検査
位置側に支持する支持機構を有することを特徴としてい
る。
め、本発明にあっては、検査対象たる液晶表示パネルを
載置する載置機構と、前記液晶表示パネルと検査位置と
の間に位置する第１の偏光板と、前記液晶表示パネルの
背面に位置する第２の偏光板とを備える液晶表示パネル
の検査装置であって、前記第１の偏光板を、前記液晶表
示パネルおよび前記検査位置の中間地点よりも前記検査
位置側に支持する支持機構を有することを特徴としてい
る。
【００１０】このような構成によれば、液晶表示パネル
は載置台に載置されるので、第１および第２の偏光板と
は、距離が保たれた状態となる。特に、支持機構によっ
て支持される第１の偏光板は、液晶表示パネルおよび検
査位置の中間地点よりも、検査位置側に位置することに
なるので、液晶表示パネルに焦点を合わせると、第１の
偏光板は焦点外となる。このため、第１の偏光板におけ
るキズやゴミは、検査にほとんど影響を与えない。
は載置台に載置されるので、第１および第２の偏光板と
は、距離が保たれた状態となる。特に、支持機構によっ
て支持される第１の偏光板は、液晶表示パネルおよび検
査位置の中間地点よりも、検査位置側に位置することに
なるので、液晶表示パネルに焦点を合わせると、第１の
偏光板は焦点外となる。このため、第１の偏光板におけ
るキズやゴミは、検査にほとんど影響を与えない。
【００１１】また、本発明の液晶表示パネルの検査方法
は、液晶表示パネルと検査位置との間に第１の偏光板を
配置するとともに前記液晶表示パネルの背面に第２の偏
光板を配置してなり、前記第１の偏光板を介して前記液
晶表示パネルを観察することにより、該液晶表示パネル
の検査を行う液晶表示パネルの検査方法において、前記
第１の偏光板を、前記液晶表示パネルおよび前記検査位
置の中間地点よりも前記検査位置側に配置することを特
徴とする。
は、液晶表示パネルと検査位置との間に第１の偏光板を
配置するとともに前記液晶表示パネルの背面に第２の偏
光板を配置してなり、前記第１の偏光板を介して前記液
晶表示パネルを観察することにより、該液晶表示パネル
の検査を行う液晶表示パネルの検査方法において、前記
第１の偏光板を、前記液晶表示パネルおよび前記検査位
置の中間地点よりも前記検査位置側に配置することを特
徴とする。
【００１２】本発明の検査方法によれば、第１の偏光板
は、液晶表示パネルおよび検査位置の中間地点よりも、
検査位置側に位置することになるので、液晶表示パネル
に焦点を合わせると、第１の偏光板は焦点外となる。こ
のため、第１の偏光板におけるキズやゴミは、検査にほ
とんど影響を与えないため、容易に正確に液晶表示パネ
ルの検査を行うことができるものである。
は、液晶表示パネルおよび検査位置の中間地点よりも、
検査位置側に位置することになるので、液晶表示パネル
に焦点を合わせると、第１の偏光板は焦点外となる。こ
のため、第１の偏光板におけるキズやゴミは、検査にほ
とんど影響を与えないため、容易に正確に液晶表示パネ
ルの検査を行うことができるものである。
【００１３】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態にかかる
液晶表示装置の検査装置について、図面を参照して説明
する。
液晶表示装置の検査装置について、図面を参照して説明
する。
【００１４】図１は、本実施形態における液晶表示装置
の検査装置の外観構成を示す斜視図である。この図にお
いて、載置台１１０には、検査対象たる液晶表示パネル
の形状に対応して凹部１１２が形成され、さらに、この
凹部１１２には、液晶表示パネルの表示領域に対応して
開口する開口部１１４が設けられている。このため、検
査時には、液晶表示パネルが凹部１１２に載置されて、
位置決めが容易となるようになっている。なお、凹部１
１２には、液晶表示パネルへの電気的接続を確保するた
めのコンタクト機構が設けられるが、本発明とは直接関
係ないので、その詳細にはついては省略することとす
る。
の検査装置の外観構成を示す斜視図である。この図にお
いて、載置台１１０には、検査対象たる液晶表示パネル
の形状に対応して凹部１１２が形成され、さらに、この
凹部１１２には、液晶表示パネルの表示領域に対応して
開口する開口部１１４が設けられている。このため、検
査時には、液晶表示パネルが凹部１１２に載置されて、
位置決めが容易となるようになっている。なお、凹部１
１２には、液晶表示パネルへの電気的接続を確保するた
めのコンタクト機構が設けられるが、本発明とは直接関
係ないので、その詳細にはついては省略することとす
る。
【００１５】この載置台１１０は、ブッシュ１１６を介
してバックライトユニット１２０の上に取り付けられて
いる。したがって、載置台１１０とバックライトユニッ
ト１２０との間には適度の間隙１１８が生じ、ここに後
述する下偏光板が配置されるようになっている。また、
バックライトユニット１２０は、開口部１１４を通し
て、凹部１１２に載置される液晶表示パネルに光を照射
するものである。
してバックライトユニット１２０の上に取り付けられて
いる。したがって、載置台１１０とバックライトユニッ
ト１２０との間には適度の間隙１１８が生じ、ここに後
述する下偏光板が配置されるようになっている。また、
バックライトユニット１２０は、開口部１１４を通し
て、凹部１１２に載置される液晶表示パネルに光を照射
するものである。
【００１６】載置台１１０の背面には、Ｌ字状の支持部
１３０の一端がネジ等により固定されている。支持部１
３０の他端は、載置台１１０の側に迫り出しており、そ
の上面１３１には、スペーサ１３２を介して蝶番１３４
の一端が取り付けられている。蝶番１３４の他端には、
スペーサ１３２と厚さが等しいアクリル等の透明板１４
０が取り付けられ、さらに、この透明板１４０には、上
偏光板１５０がクリップや粘着テープ等により着脱自在
に取り付けられている。ここで、透明板１４０の一部
は、支持部１３０の上面１３１に載った形となっている
ため、透明板１４０および上偏光板１５０は、通常時
（検査時）では、図示の位置となるが、液晶表示パネル
を凹部１１２に載置する際には、矢印方向に回動させる
（跳ね上げる）ことにより、邪魔とならないように配慮
されている。
１３０の一端がネジ等により固定されている。支持部１
３０の他端は、載置台１１０の側に迫り出しており、そ
の上面１３１には、スペーサ１３２を介して蝶番１３４
の一端が取り付けられている。蝶番１３４の他端には、
スペーサ１３２と厚さが等しいアクリル等の透明板１４
０が取り付けられ、さらに、この透明板１４０には、上
偏光板１５０がクリップや粘着テープ等により着脱自在
に取り付けられている。ここで、透明板１４０の一部
は、支持部１３０の上面１３１に載った形となっている
ため、透明板１４０および上偏光板１５０は、通常時
（検査時）では、図示の位置となるが、液晶表示パネル
を凹部１１２に載置する際には、矢印方向に回動させる
（跳ね上げる）ことにより、邪魔とならないように配慮
されている。
【００１７】次に、このような検査装置を用いて実際に
液晶表示パネルを検査する場合について説明する。な
お、以下の説明において、検査対象たる液晶表示パネル
については、単純マトリクス方式、あるいは、非線形素
子として薄膜ダイオードを用いたアクティブマトリクス
方式のものを例にとって説明する。すなわち、液晶表示
パネルを構成する２枚の基板のうち、一方の基板には走
査線に対応する端子が、他方の基板にはデータ線に対応
する端子が、それぞれ複数設けられている。
液晶表示パネルを検査する場合について説明する。な
お、以下の説明において、検査対象たる液晶表示パネル
については、単純マトリクス方式、あるいは、非線形素
子として薄膜ダイオードを用いたアクティブマトリクス
方式のものを例にとって説明する。すなわち、液晶表示
パネルを構成する２枚の基板のうち、一方の基板には走
査線に対応する端子が、他方の基板にはデータ線に対応
する端子が、それぞれ複数設けられている。
【００１８】まず、検査において、その対象となる液晶
表示パネルを、凹部１１２に収容して載置台１１０に対
する位置決めを行う。次に、コンタクト機構によって電
気的接続を図り、液晶表示パネルの各端子に試験用の駆
動信号を供給する。
表示パネルを、凹部１１２に収容して載置台１１０に対
する位置決めを行う。次に、コンタクト機構によって電
気的接続を図り、液晶表示パネルの各端子に試験用の駆
動信号を供給する。
【００１９】この状態における各部の位置関係を図２に
示す。この図に示されるように、下偏光板２５０が液晶
表示パネル２００の下方であって、載置台１１０とバッ
クライトユニット１２０との間隙１１８において配置
し、さらにその下方には、バックライトユニット１２０
において実際に光を発する蛍光管１２２が配置する。一
方、液晶表示パネル２００の上方には、透明板１４０に
取り付けられた上偏光板１５０が配置する。そして、こ
の上偏光板１５０の上方近傍から、液晶表示パネル２０
０を目視等によって検査することになる。ここで、検査
位置については、液晶表示パネル２００および上偏光板
１５０間の距離よりも、検査位置および上偏光板１５０
間の距離の方が短くなる地点である。逆に言えば、上偏
光板１５０は、液晶表示パネル２００および検査位置の
中間地点よりも検査位置側となるように、支持部１３０
が載置台１１０に固定されている。これは、液晶表示パ
ネル２００に焦点を合わせた際に、上偏光板１５０を焦
点外とするための措置である。
示す。この図に示されるように、下偏光板２５０が液晶
表示パネル２００の下方であって、載置台１１０とバッ
クライトユニット１２０との間隙１１８において配置
し、さらにその下方には、バックライトユニット１２０
において実際に光を発する蛍光管１２２が配置する。一
方、液晶表示パネル２００の上方には、透明板１４０に
取り付けられた上偏光板１５０が配置する。そして、こ
の上偏光板１５０の上方近傍から、液晶表示パネル２０
０を目視等によって検査することになる。ここで、検査
位置については、液晶表示パネル２００および上偏光板
１５０間の距離よりも、検査位置および上偏光板１５０
間の距離の方が短くなる地点である。逆に言えば、上偏
光板１５０は、液晶表示パネル２００および検査位置の
中間地点よりも検査位置側となるように、支持部１３０
が載置台１１０に固定されている。これは、液晶表示パ
ネル２００に焦点を合わせた際に、上偏光板１５０を焦
点外とするための措置である。
【００２０】また、液晶表示パネル２００を構成する２
枚の基板２１０、２２０の各端子には、テスト信号発生
器３００により発生された試験用の走査信号、データ信
号が適宜供給されている。これにより、液晶表示パネル
２００における画素のすべてには、常に等しい電圧が印
加されることになり、正常であれば、すべて同じ明るさ
になるはずであるので、表示欠陥が容易に判別できるよ
うになっている。
枚の基板２１０、２２０の各端子には、テスト信号発生
器３００により発生された試験用の走査信号、データ信
号が適宜供給されている。これにより、液晶表示パネル
２００における画素のすべてには、常に等しい電圧が印
加されることになり、正常であれば、すべて同じ明るさ
になるはずであるので、表示欠陥が容易に判別できるよ
うになっている。
【００２１】さて、この状態において、検査位置から液
晶表示パネルの表示領域に焦点を合わせると、液晶表示
パネル２００よりも上方に位置する上偏光板１５０は焦
点外となる。バックライトを用いると、瞳孔が狭まるた
め（絞り込まれるため）被写界深度は大きくなるが、そ
れでも、本構成によれば上偏光板１５０は焦点外とする
ことが容易である。また、下偏光板２５０については、
一旦配置すれば、以降、ほとんど触れる必要がなく、さ
らに、液晶表示パネル２００とは距離が保たれているの
で、キズが付くことがほとんどない。このため、上偏光
板１５０によるキズやゴミ等は検査においてほとんど影
響がなくなり、また、下偏光板２５０にはキズ等がつく
心配はほとんどない。したがって、液晶表示パネル２０
０の外観不良や画素欠陥等を、偏光板のキズやゴミ等の
影響を受けずに容易に判別することが可能となるのであ
る。また、上偏光板１５０と液晶表示パネル２００とが
離れているため、画素欠陥等の不良個所をマーキングす
ることが容易となって、その不良原因の究明に役立つ、
という利点もある。
晶表示パネルの表示領域に焦点を合わせると、液晶表示
パネル２００よりも上方に位置する上偏光板１５０は焦
点外となる。バックライトを用いると、瞳孔が狭まるた
め（絞り込まれるため）被写界深度は大きくなるが、そ
れでも、本構成によれば上偏光板１５０は焦点外とする
ことが容易である。また、下偏光板２５０については、
一旦配置すれば、以降、ほとんど触れる必要がなく、さ
らに、液晶表示パネル２００とは距離が保たれているの
で、キズが付くことがほとんどない。このため、上偏光
板１５０によるキズやゴミ等は検査においてほとんど影
響がなくなり、また、下偏光板２５０にはキズ等がつく
心配はほとんどない。したがって、液晶表示パネル２０
０の外観不良や画素欠陥等を、偏光板のキズやゴミ等の
影響を受けずに容易に判別することが可能となるのであ
る。また、上偏光板１５０と液晶表示パネル２００とが
離れているため、画素欠陥等の不良個所をマーキングす
ることが容易となって、その不良原因の究明に役立つ、
という利点もある。
【００２２】なお、上偏光板１５０および下偏光板２５
０の配置は、次の二通りである。すなわち、電圧無印加
時において、蛍光管１２２による光が通過しないよう
に、２枚の偏光板の偏光軸を平行とさせる配置（ノーマ
リーブラックモード）と、電圧無印加時において、光が
通過するように、２枚の偏光板の偏光軸が互いに直交す
る配置（ノーマリーホワイトモード）とである。ここ
で、基板２１０、２２０におけるラビング方向を、斜め
４５度の方向で互いに直交する角度に設定すれば、上偏
光板１５０あるいは下偏光板２５０のいずれか一方のみ
を裏返しとするだけで、いずれの配置（モード）にも対
応可能となる。電圧無印加時での外観検査と電圧印加時
で点灯試験とにおいて、偏光軸を平行・直交する場合も
同様である。
０の配置は、次の二通りである。すなわち、電圧無印加
時において、蛍光管１２２による光が通過しないよう
に、２枚の偏光板の偏光軸を平行とさせる配置（ノーマ
リーブラックモード）と、電圧無印加時において、光が
通過するように、２枚の偏光板の偏光軸が互いに直交す
る配置（ノーマリーホワイトモード）とである。ここ
で、基板２１０、２２０におけるラビング方向を、斜め
４５度の方向で互いに直交する角度に設定すれば、上偏
光板１５０あるいは下偏光板２５０のいずれか一方のみ
を裏返しとするだけで、いずれの配置（モード）にも対
応可能となる。電圧無印加時での外観検査と電圧印加時
で点灯試験とにおいて、偏光軸を平行・直交する場合も
同様である。
【００２３】そこで、透明板１４０と支持部１３０との
接続を蝶番１３４ではなく、自在継手等によって２軸方
向に回動自在とすれば、上偏光板１５０を透明板１４０
から外すことなく、偏光軸の直交・平行を切り替えるこ
とが可能となる。
接続を蝶番１３４ではなく、自在継手等によって２軸方
向に回動自在とすれば、上偏光板１５０を透明板１４０
から外すことなく、偏光軸の直交・平行を切り替えるこ
とが可能となる。
【００２４】また、検査対象となる液晶表示パネルは、
実施形態にあっては、単純マトリックス方式、あるい
は、薄膜ダイオードを用いたアクティブマトリクス方式
であったが、素子基板のみにおいて、走査線およびデー
タ線を個別にコンタクトする構成とすれば、薄膜トラン
ジスタを用いたアクティブマトリクス方式にも適用可能
である。
実施形態にあっては、単純マトリックス方式、あるい
は、薄膜ダイオードを用いたアクティブマトリクス方式
であったが、素子基板のみにおいて、走査線およびデー
タ線を個別にコンタクトする構成とすれば、薄膜トラン
ジスタを用いたアクティブマトリクス方式にも適用可能
である。
【００２５】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、液
晶表示パネルの表示領域に焦点を合わせると、液晶表示
パネルよりも上方に位置する第１の偏光板は焦点外とな
る。また、第２の偏光板については、一旦配置すれば、
以降、ほとんど触れる必要がなく、さらに、載置機構に
載置された液晶表示パネルと距離が保たれているので、
キズが付くことがほとんどない。このため、第１の偏光
板によるキズやゴミ等は検査においてほとんど影響がな
くなる一方、第２の偏光板にはキズ等がつく心配はほと
んどない。したがって、液晶表示パネルの検査につい
て、偏光板のキズやゴミ等の影響を受けずに、容易に判
別することが可能となる。
晶表示パネルの表示領域に焦点を合わせると、液晶表示
パネルよりも上方に位置する第１の偏光板は焦点外とな
る。また、第２の偏光板については、一旦配置すれば、
以降、ほとんど触れる必要がなく、さらに、載置機構に
載置された液晶表示パネルと距離が保たれているので、
キズが付くことがほとんどない。このため、第１の偏光
板によるキズやゴミ等は検査においてほとんど影響がな
くなる一方、第２の偏光板にはキズ等がつく心配はほと
んどない。したがって、液晶表示パネルの検査につい
て、偏光板のキズやゴミ等の影響を受けずに、容易に判
別することが可能となる。
【図１】 本発明の実施形態にかかる液晶表示パネルの
検査装置の構成を示す斜視図である。
検査装置の構成を示す斜視図である。
【図２】 同液晶表示パネルの検査装置を用いて検査す
る場合において、各部の位置関係を示す斜視図である。
る場合において、各部の位置関係を示す斜視図である。
１１０……載置台 １２０……バックライトユニット １３０……支持部 １３４……蝶番 １５０……偏光板（第１の偏光板） ２５０……偏光板（第２の偏光板）
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2H088 FA12 FA13 HA01 HA08 HA18 HA28 MA20 5G435 AA17 BB12 BB15 FF05 KK05 KK10
Claims (4)
- 【請求項１】 検査対象たる液晶表示パネルを載置する
載置機構と、 前記液晶表示パネルと検査位置との間に位置する第１の
偏光板と、 前記液晶表示パネルの背面に位置する第２の偏光板と、
を備える液晶表示パネルの検査装置であって、 前記第１の偏光板を、前記液晶表示パネルおよび前記検
査位置の中間地点よりも前記検査位置側に支持する支持
機構を有することを特徴とする液晶表示パネルの検査装
置。 - 【請求項２】 前記支持機構は、前記第１の偏光板の一
端を回動自在に支持することを特徴とする請求項１記載
の液晶表示パネルの検査装置。 - 【請求項３】 前記液晶表示パネルに対し、前記第２の
偏光板を介して、光を照射するバックライトをさらに備
えることを特徴とする請求項１記載の液晶表示パネルの
検査装置。 - 【請求項４】 液晶表示パネルと検査位置との間に第１
の偏光板を配置するとともに前記液晶表示パネルの背面
に第２の偏光板を配置してなり、前記第１の偏光板を介
して前記液晶表示パネルを観察することにより、該液晶
表示パネルの検査を行う液晶表示パネルの検査方法にお
いて、 前記第１の偏光板を、前記液晶表示パネルおよび前記検
査位置の中間地点よりも前記検査位置側に配置すること
を特徴とする液晶表示パネルの検査方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17927498A JP3533946B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | 液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法 |
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| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17927498A JP3533946B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | 液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000010064A true JP2000010064A (ja) | 2000-01-14 |
| JP3533946B2 JP3533946B2 (ja) | 2004-06-07 |
Family
ID=16062984
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17927498A Expired - Fee Related JP3533946B2 (ja) | 1998-06-25 | 1998-06-25 | 液晶表示パネルの検査装置及び液晶表示パネルの検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3533946B2 (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| SG119174A1 (en) * | 2002-11-18 | 2006-02-28 | Nihon Micronics Kk | Method and apparatus for inspecting display base plate |
| JP2007183551A (ja) * | 2005-12-29 | 2007-07-19 | Lg Phillips Lcd Co Ltd | 液晶パネル検査装置 |
| JP2008020588A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルの検査方法および画像処理装置 |
| KR100851749B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2008-08-11 | 엘지디스플레이 주식회사 | 검사용 편광판 홀더 |
-
1998
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US7535548B2 (en) | 2005-12-29 | 2009-05-19 | Lg Display Co., Ltd. | Apparatus for testing liquid crystal display panel |
| KR100960465B1 (ko) * | 2005-12-29 | 2010-05-28 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정패널 검사장치 |
| JP4611940B2 (ja) * | 2005-12-29 | 2011-01-12 | エルジー ディスプレイ カンパニー リミテッド | 液晶パネル検査装置 |
| US7889311B2 (en) | 2005-12-29 | 2011-02-15 | Lg Display Co., Ltd. | Apparatus for testing liquid crystal display panel |
| JP2008020588A (ja) * | 2006-07-12 | 2008-01-31 | Micronics Japan Co Ltd | 液晶パネルの検査方法および画像処理装置 |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3533946B2 (ja) | 2004-06-07 |
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| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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