JPH08186285A - 光結合素子 - Google Patents
光結合素子Info
- Publication number
- JPH08186285A JPH08186285A JP32877194A JP32877194A JPH08186285A JP H08186285 A JPH08186285 A JP H08186285A JP 32877194 A JP32877194 A JP 32877194A JP 32877194 A JP32877194 A JP 32877194A JP H08186285 A JPH08186285 A JP H08186285A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- light emitting
- thermistor
- optical coupling
- ssr
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000008878 coupling Effects 0.000 title claims abstract description 33
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 33
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 16
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 16
- 238000013021 overheating Methods 0.000 abstract description 19
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 abstract description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 32
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 9
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 8
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 6
- 230000002265 prevention Effects 0.000 description 5
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 3
- 238000010304 firing Methods 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001934 delay Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/12—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L31/00—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
- H01L31/12—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
- H01L31/16—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources
- H01L31/167—Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto the semiconductor device sensitive to radiation being controlled by the light source or sources the light sources and the devices sensitive to radiation all being semiconductor devices characterised by potential barriers
-
- H—ELECTRICITY
- H02—GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
- H02H—EMERGENCY PROTECTIVE CIRCUIT ARRANGEMENTS
- H02H5/00—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal non-electric working conditions with or without subsequent reconnection
- H02H5/04—Emergency protective circuit arrangements for automatic disconnection directly responsive to an undesired change from normal non-electric working conditions with or without subsequent reconnection responsive to abnormal temperature
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/02—Bonding areas; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/04—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process
- H01L2224/06—Structure, shape, material or disposition of the bonding areas prior to the connecting process of a plurality of bonding areas
- H01L2224/0601—Structure
- H01L2224/0603—Bonding areas having different sizes, e.g. different heights or widths
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1301—Thyristor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/10—Details of semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/11—Device type
- H01L2924/13—Discrete devices, e.g. 3 terminal devices
- H01L2924/1301—Thyristor
- H01L2924/13033—TRIAC - Triode for Alternating Current - A bidirectional switching device containing two thyristor structures with common gate contact
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/19—Details of hybrid assemblies other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/191—Disposition
- H01L2924/19101—Disposition of discrete passive components
- H01L2924/19105—Disposition of discrete passive components in a side-by-side arrangement on a common die mounting substrate
Landscapes
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
- Photo Coupler, Interrupter, Optical-To-Optical Conversion Devices (AREA)
- Optical Communication System (AREA)
- Protection Of Static Devices (AREA)
- Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
Abstract
の光結合素子に関し、光結合素子自身で突入電流を防止
し、また過電流による過熱から保護する機能を備えるこ
とを目的とする。 【構成】 入力側に発光素子を有し、出力側に駆動用素
子、発光素子からの光を受けて駆動用素子をオンする受
光素子および受光素子に直列に接続され正極性または負
極性の温度係数を有する抵抗素子を設ける。
Description
ーやフォトカプラなどの光結合素子に関し、とくに過熱
保護機能や突入電流防止機能を有する光結合素子に関す
る。
ー(以下、SSR、という)の構成図である。SSRは
入力側に発光ダイオード10を有し、出力側に駆動用の
トライアック11と、発光ダイオード10の光を受けて
駆動用のトライアック11を点弧するフォトトライアッ
ク12とを有し、これらの各素子がパッケージPK内に
内蔵された構成を有する。
ある。フォトカプラは入力側に発光ダイオード20を有
し、出力側に発光ダイオード20の光を受けて作動する
フォトトランジスタ21を有し、これらの各素子がパッ
ケージPK内に内蔵された構成を有する。
回路のブロック図である。この回路は突入電流を防止す
るために、入力信号が入ってからゼロボルト検出回路1
によってACラインのゼロボルトを検出し、次段の導通
角遅延回路2によって導通角を遅らせてからトランジス
タ3を介してSSRを駆動することにより突入電流を防
止している。
生の測定値例(図a)、および突入電流低減の測定値例
(図b)を示す。導通角0°でスタートさせたとき発生
した突入電流(ピーク値2.1A)が、導通角90°で
スタートさせたときはピーク値0.6Aに低減している
ことが分かる。
の測定値例(図a)、および突入電流低減の測定値例
(図b)を示す。導通角90°でスタートさせたとき発
生した突入電流(ピーク値1.8A)が、導通角315
°でスタートさせたときはピーク値1.2Aに低減して
いることが分かる。
は、出力側に過電流が流れたり、周囲の温度が極端に上
昇した場合の保護機能がないため、図18に示すよう
に、周辺にこの機能を備えた回路が必要となる。このた
め組立基板上の部品削減や省スペース化のネックになっ
ている。
流を防止し、また過電流による過熱から保護する機能を
備え、周辺に複雑な構成を必要としない光結合素子を提
供することにある。
子は、入力側に発光素子を有し、出力側に駆動用素子、
発光素子からの光を受けて駆動用素子をオンする受光素
子および受光素子に直列に接続され正極性または負極性
の温度係数を有する抵抗素子を有する構成とする。
光素子および発光素子に直列に接続され正極性の温度係
数を有する抵抗素子を有し、出力側に駆動用素子および
発光素子からの光を受けて駆動用素子をオンする受光素
子を有する構成とする。
光素子および発光素子に並列に接続され負極性の温度係
数を有する抵抗素子を有し、出力側に駆動用素子および
発光素子からの光を受けて駆動用素子をオンする受光素
子を有する構成とする。
光素子および発光素子に並列接続された複数個のシリコ
ンダイオードを有し、出力側に駆動用素子および前記発
光素子からの光を受けて前記駆動用素子を点弧する受光
素子を有する構成とする。
光素子を有し、出力側に駆動用素子、発光素子からの光
を受けて駆動用素子をオンする受光素子、受光素子に直
列に接続されたサイリスタおよびサイリスタをオンする
負極性の温度係数を有する抵抗素子を有する構成とす
る。
性の温度係数を有する場合は、駆動用素子(例えば、ト
ライアック)が駆動するモータまたはランプ等の負荷か
ら光結合素子の出力側に突入電流が流れた場合、駆動用
素子の導通角を遅らせることにより突入電流を低減す
る。
素子が正極性の温度係数を有する場合は、過熱時には抵
抗素子の抵抗値が大きくなるため駆動用素子の導通角が
遅れて駆動用素子に流れる実効電流が下がり、過熱を防
止する。その後、異常状態が解除され正常な状態に戻る
とパッケージの温度が下がり定常状態に復帰する。
の抵抗値が大きくなるため、直列に接続されている発光
素子に流れる電流が低減され発光が停止する。このため
駆動用素子がオフとなり、パッケージ温度の過熱が防止
される。
の抵抗値が小さくなるため、並列に接続されている発光
素子に流れる電流が低減され発光が停止する。このため
駆動用素子がオフとなり、パッケージ温度の過熱が防止
される。
ダイオードの順電圧の和の方が発光素子の順電圧より小
さくなるため発光素子に流れる電流が低減され発光が停
止する。このため駆動用素子がオフとなり、パッケージ
温度の過熱が防止される。
の抵抗値が小さくなりサイリスタをオンさせることによ
り駆動用素子をオフさせ、高温時の異常動作を防ぐと共
に、サイリスタをオンさせることにより一度電源を切ら
ないと元の状態に戻らないため、過熱遮断の機能も有す
る。
施例を示す構成図で、請求項1記載の発明に相当する実
施例である。本実施例は、入力側に発光素子として発光
ダイオード10、出力側に駆動用素子としてトライアッ
ク11と、受光素子としてフォトトライアック12を備
え、さらにトライアック11およびフォトトライアック
12の間に正極性または負極性の温度係数を有する抵抗
素子としてサーミスタ13を備え、これらの各素子がパ
ッケージPK内に内蔵された構成を有するSSRであ
る。フォトトライアック12は発光ダイオード10の光
を受けて駆動用のトライアック11を点弧する。
実施例を示す構成図で、同じく請求項1記載の発明に相
当する実施例である。本実施例は、入力側に発光ダイオ
ード10、出力側に駆動用のトライアック11、このト
ライアック11と並列に接続されたサーミスタ13、フ
ォトトライアック12およびコンデンサ14からなる直
列回路と、フォトトライアック12およびコンデンサ1
4の接続中点に接続され駆動用のトライアック11を点
弧するトリガ素子15とを有し、これらの各素子がパッ
ケージPK内に内蔵されているSSRである。
サーミスタ13として負極性の温度係数を有する(以
下、負特性を有する、という)サーミスタを用いると、
突入電流を防止することができる。すなわち、前述した
図19および図20の測定データから明らかなように、
負荷をオンさせる導通角を遅らせることにより突入電流
が低減できるので、負特性サーミスタを使用することに
より負荷がオンのときにはサーミスタ13の抵抗値は大
きい値にあり、抵抗値が大きいためトライアック11が
オフするゲートトリガ電流IGTに達するまで電源電圧が
充分に立ち上がる必要があり、時間遅れが生じてSSR
のオンする導通角が遅くなる。
タ13と直列にコンデンサ14を付加することによっ
て、サーミスタ13の抵抗値とコンデンサ14の容量に
よる次段のトリガ素子15のトリガ電圧まで達するのに
コンデンサ14に充電される時間を要し、サーミスタ1
3の抵抗値が大きい値にある場合、SSRのオンする導
通角が遅くなる。また、動作した状態が長く続くと、S
SRに電流が流れパッケージ温度が上がるためサーミス
タ13の抵抗値が下がり、SSRのオンする導通角が小
さくなり、定常状態に落ち着く。
角を遅らせない場合は、破線で示す突入電流が流れる
が、導通角を遅らせた場合は実線で示すように突入電流
が低減される。そして、オン状態が続くとSSRのパッ
ケージ温度が上がるためサーミスタ13の抵抗値が小さ
くなり、それによって導通角の遅れがなくなり、定常状
態の動作となる。
サーミスタ13として正極性の温度係数を有する(以
下、正特性を有する、という)サーミスタを用いると、
SSRのパッケージPKの過熱を保護することができ
る。すなわち、正特性サーミスタは過熱時に抵抗値が大
きくなるため、SSRのオンする導通角が遅れてSSR
に流れる実効電流が下がり過熱を防止する。その後、異
常状態が解除され正常な状態に戻った場合は、パッケー
ジの温度が下がり定常状態に復帰する。
かの異常により過電流として破線で示す大きな電流が流
れた場合、SSRのパッケージの温度が上がるためサー
ミスタの抵抗値が大きくなり、導通角が遅れて電流が下
がり、過熱を防止するように働く。
例を示す。サーミスタは広い温度範囲で直線的に抵抗値
が変化を示す温度センサである。図(a)は負特性サー
ミスタの抵抗−温度特性の代表例で、温度による変化率
は−4500ppm/℃である。図(b)は正特性サーミス
タの抵抗−温度特性の代表例で、温度による変化率は+
4500ppm/℃である。
実施例を示す構成図で、請求項2記載の発明に相当する
実施例である。本実施例は、入力側に発光ダイオード1
0およびサーミスタ13の直列回路を有し、出力側に駆
動用のトライアック11と発光ダイオード10の光を受
けて駆動用のトライアック11を点弧するフォトトライ
アック12とを有し、これらの各素子がパッケージPK
内に内蔵されているSSRである。
ーミスタを用いており、過熱時にサーミスタ13の抵抗
値が大きくなるため、SSRのトリガ電流IFT以下にな
ると出力側のトライアック11をオフさせてパッケージ
温度の過熱を防止する。その後、パッケージ温度が下が
り異常状態が解除されていれば、再び出力側のトライア
ック11がオンして正常状態に復帰する。
かの異常により過電流として破線で示す大きな電流が流
れた場合、SSRのパッケージPKの温度が上がり、サ
ーミスタ13の抵抗値が大きくなり、入力側のIF が下
がる。そして、SSRのトリガ電流以下になると出力側
のトライアック11がオフとなり、出力電流を遮断して
パッケージ温度の過熱を防止する。その後、パッケージ
温度が下がり異常状態が解除されていれば、再び出力側
のトライアック11がオンして正常状態に復帰する。
実施例を示す構成図で、請求項3記載の発明に相当する
実施例である。本実施例において、図(a)は入力側に
互いに並列に接続された発光ダイオード10および負特
性サーミスタ13を備え、出力側に駆動用のトライアッ
ク11および発光ダイオード10からの光を受けてトラ
イアック11を点弧するフォトトライアック12を備
え、これらの各素子がパッケージPK内に内蔵されてい
るSSRである。
続された発光ダイオード20および負特性サーミスタ2
2を備え、出力側に発光ダイオード20の光を受けてオ
ンする他の駆動素子としてのフォトトランジスタ21を
備え、これらの各素子がパッケージPK内に内蔵されて
いるフォトカプラである。
すると負特性サーミスタ13(または20)の抵抗値が
下がり流れる電流が増えるため、発光ダイオード10
(または20)に流れる電流は減少する。この電流がS
SRのトリガ電流IFT以下になるとトライアック12が
オフ状態となり、あるいはこの電流が微小電流になると
出力側のトランジスタ21がオフすることにより、それ
ぞれ高温時の異常動作を防ぐことができる。
は22)を搭載したSSR(またはフォトトランジス
タ)の入力側の構造図を示す。サーミスタ13(22)
は発光ダイオード10(20)と共にペーストダイボン
ドにてパッケージ内のリードフレームLA,LKにマウ
ントすることができる。
の実施例を示す構成図で、請求項4記載の発明に相当す
る実施例である。本実施例において、図(a)は入力側
に互いに並列に接続された発光ダイオード10および直
列接続された2個のシリコンダイオード群16を備え、
出力側に駆動用のトライアック11および発光ダイオー
ド10の光を受けてトライアック11を点弧するフォト
トライアック12を備え、これらの各素子がパッケージ
PK内に内蔵されているSSRである。
続された発光ダイオード20および直列接続された2個
のシリコンダイオード群23を備え、出力側に発光ダイ
オード20の光を受けてオンするフォトトランジスタ2
1を備え、これらの各素子がパッケージPK内に内蔵さ
れているフォトカプラである。
光ダイオード10(または20)の順電圧の方がシリコ
ンダイオード群16(または23)の順電圧の和よりも
小さいため、電流は発光ダイオード10(または20)
に流れて発光ダイオード10(20)を発光させる。こ
れにより出力側のトライアック11(またはフォトトラ
ンジスタ21)がオンする。
ド群16(または23)の順電圧の和の方が発光ダイオ
ード10(または20)の順電圧よりも小さくなるた
め、電流はシリコンダイオード群16(または23)側
に流れ、発光ダイオード10(または20)には流れな
いため発光ダイオード10(または20)が発光せず、
出力側をオフすることができる。これにより高温時の異
常動作を防ぐことができる。
25℃においてシリコンダイオード1個当たりの順電圧
を0.7V、発光ダイオード1個当たりの順電圧を1.
2Vとすると、シリコンダイオード2個分の順電圧は、
0.7×2=1.4V、となる。このため、電流は電位
の低い発光ダイオード10(20)に流れて発光させ、
出力側のトライアック11またはフォトトランジスタ2
1をオンさせる。
℃であることから、温度が125℃になった場合、シリ
コンダイオード2個分の順電圧は、 {0.7−0.002×(125−25)}×2=1.
0V 発光ダイオードの順電圧は、 {1.2−0.002×(125−100)}=1.0
V となり、電位が同じになる。
ンダイオードの順電圧の方が低くなり、発光ダイオード
10(20)に流れる電流が制限され、その結果、出力
側のトライアック11またはフォトトランジスタ21を
オフさせることができる。
3)を2個搭載したSSR(フォトトランジスタ)の入
力側の構造図を示す。シリコンダイオード16(23)
は発光ダイオード10(20)と共にペーストダイボン
ドにてパッケージ内のリードフレームLA,LKにマウ
ントすることができる。
の実施例を示す構成図で、請求項1記載の発明に相当す
る実施例である。本実施例は入力側に発光ダイオード2
0を備え、出力側に発光ダイオード20の光を受けてオ
ンするフォトトランジスタ21、このフォトトランジス
タ21のベース−エミッタ間に接続した負特性サーミス
タ22を備え、これらの各素子がパッケージPK内に内
蔵されているフォトカプラである。
すると負特性サーミスタ22の抵抗値が下がりトランジ
スタ21のベースから電流が流れ出るため、トランジス
タの機能を果たさなくなり、トランジスタ21をオフさ
せることができ、高温時の異常動作を防ぐことができ
る。図13に、サーミスタ22を出力側に搭載したフォ
トカプラの構造図を示す。サーミスタ22はフォトトラ
ンジスタ21と共にペーストダイボンドにてパッケージ
内のリードフレームLB,LC,LEにマウントするこ
とができる。
の実施例を示す構成図で、請求項5記載の発明に相当す
る実施例である。本実施例は、入力側に発光ダイオード
20を備え、出力側に発光ダイオード20の光を受けて
オンするフォトトランジスタ21、このフォトトランジ
スタ21のベース−エミッタ間に接続したサイリスタ2
4、このサイリスタ24を点弧するためにフォトトラン
ジスタ21のコレクタ側に接続された負特性サーミスタ
22を備え、これらの各素子がパッケージPK内に内蔵
されているフォトカプラである。なお、サイリスタ24
を駆動させるだけの電位差を与えるため、フォトトラン
ジスタ21はベース側にダイオードを内蔵したものを用
いるものとする。
すると負特性サーミスタ22の抵抗値が下がり、サイリ
スタ24をオンさせることによりトランジスタ21のベ
ースから電流が流れ出るため、トランジスタの役目を果
たさなくなり、トランジスタ21をオフさせることがで
き、高温時の異常動作を防ぐことができる。また、サイ
リスタは一度オンすると電源を切るまでオフしないた
め、電源をリセットしないと元の動作には戻らなくな
る。この動作により過熱遮断の機能をも持ち合わせるこ
とができる。
タ24を出力側に搭載したフォトカプラの構造図を示
す。サーミスタ22およびサイリスタ24はフォトトラ
ンジスタ21と共にペーストダイボンドにてパッケージ
内のリードフレームLB,LC,LEにマウントするこ
とができる。
トカプラについて述べたが、これに限らず他の全ての光
結合素子に本発明が適用できることは勿論である。
を駆動した場合の突入電流の防止や、異常時に過電流が
流れてパッケージが過熱したり周囲の温度が極端に上昇
したりした場合の過熱保護が可能となるため、セット基
板上の部品削減、省スペース化および低価格等を図るこ
とができる。
構成図である。
構成図である。
トリレーの突入電流防止における電圧および電流の動作
波形例を示す図である。
トリレーの過熱防止における電圧および電流の動作波形
例を示す図である。
図、(b)は正特性サーミスタの抵抗−温度特性図であ
る。
構成図である。
過熱防止における電圧および電流の動作波形例を示す図
である。
構成図で、(a)はソリッドステートリレー、(b)は
フォトカプラである。
す構成図で、(a)はソリッドステートリレー、(b)
はフォトカプラである。
す構成図である。
す構成図である。
る。
電流防止回路である。
の測定値例を示す図、(b)は突入電流低減の測定値例
を示す図である。
測定値例を示す図、(b)は突入電流低減の測定値例を
示す図である。
Claims (5)
- 【請求項1】 入力側に発光素子を有し、出力側に駆動
用素子、前記発光素子からの光を受けて前記駆動用素子
をオンする受光素子および前記受光素子に直列に接続さ
れ正極性または負極性の温度係数を有する抵抗素子を有
することを特徴とする光結合素子。 - 【請求項2】 入力側に発光素子および前記発光素子に
直列に接続され正極性の温度係数を有する抵抗素子を有
し、出力側に駆動用素子および前記発光素子からの光を
受けて前記駆動用素子をオンする受光素子を有すること
を特徴とする光結合素子。 - 【請求項3】 入力側に発光素子および前記発光素子に
並列に接続され負極性の温度係数を有する抵抗素子を有
し、出力側に駆動用素子および前記発光素子からの光を
受けて前記駆動用素子をオンする受光素子を有すること
を特徴とする光結合素子。 - 【請求項4】 入力側に発光素子および前記発光素子に
並列に接続された複数個のシリコンダイオードを有し、
出力側に駆動用素子および前記発光素子からの光を受け
て前記駆動用素子を点弧する受光素子を有することを特
徴とする光結合素子。 - 【請求項5】 入力側に発光素子を有し、出力側に駆動
用素子、前記発光素子からの光を受けて前記駆動用素子
をオンする受光素子、前記受光素子に直列に接続された
サイリスタおよび前記サイリスタをオンする負極性の温
度係数を有する抵抗素子を有することを特徴とする光結
合素子。
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32877194A JP2986698B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 光結合素子 |
US08/569,991 US5708277A (en) | 1994-12-28 | 1995-12-08 | Optically coupled device with high current protection |
DE69535567T DE69535567T2 (de) | 1994-12-28 | 1995-12-19 | Optisch gekoppelte Vorrichtung |
EP95309260A EP0720239B1 (en) | 1994-12-28 | 1995-12-19 | An optically coupled device |
DE69535090T DE69535090T2 (de) | 1994-12-28 | 1995-12-19 | Optisch gekoppelte Vorrichtung |
EP03104141A EP1406312B1 (en) | 1994-12-28 | 1995-12-19 | An optically coupled device |
KR1019950072258A KR100218586B1 (ko) | 1994-12-28 | 1995-12-27 | 광결합소자 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32877194A JP2986698B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 光結合素子 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08186285A true JPH08186285A (ja) | 1996-07-16 |
JP2986698B2 JP2986698B2 (ja) | 1999-12-06 |
Family
ID=18213961
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32877194A Expired - Fee Related JP2986698B2 (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | 光結合素子 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5708277A (ja) |
EP (2) | EP0720239B1 (ja) |
JP (1) | JP2986698B2 (ja) |
KR (1) | KR100218586B1 (ja) |
DE (2) | DE69535567T2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100763863B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2007-10-05 | 한국 고덴시 주식회사 | 포토 트라이악의 구조 |
JP2008541275A (ja) * | 2005-05-13 | 2008-11-20 | クリー インコーポレイテッド | 光起動ワイドバンドギャップバイポーラパワースイッチングデバイスおよび回路 |
JP2012531162A (ja) * | 2009-06-26 | 2012-12-06 | リバティー ハードウェア マニュファクテュアリング コーポレイション | 標準光カプラのマルチビット使用 |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3565322B2 (ja) | 1999-10-15 | 2004-09-15 | シャープ株式会社 | 光結合素子 |
US7129653B2 (en) * | 2004-09-30 | 2006-10-31 | Hubbell Incorporated | Self-contained, self-snubbed, HID dimming module that exhibits non-zero crossing detection switching |
JP2006196598A (ja) * | 2005-01-12 | 2006-07-27 | Sharp Corp | ソリッドステートリレー、電子機器及びソリッドステートリレーの製造方法 |
JP2009522801A (ja) * | 2006-01-09 | 2009-06-11 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 一体化された温度センサ機能をもつ照明センサ |
DE102008057347A1 (de) * | 2008-11-14 | 2010-05-20 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Optoelektronische Vorrichtung |
JP7374948B2 (ja) | 2021-03-23 | 2023-11-07 | 株式会社東芝 | 半導体リレー装置 |
Family Cites Families (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3996475A (en) * | 1975-07-28 | 1976-12-07 | Rodriguez Edward T | Photoelectric controlling |
US4121122A (en) * | 1976-12-22 | 1978-10-17 | Kurt Pokrandt | Current sensing circuitry |
US4143287A (en) * | 1977-09-19 | 1979-03-06 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Photo coupling line isolation circuit |
JPS54125912A (en) * | 1978-03-24 | 1979-09-29 | Toshiba Corp | Photo thyristor coupler circuit |
US4361798A (en) * | 1980-10-27 | 1982-11-30 | Pitney Bowes Inc. | System for extending the voltage range of a phase-fired triac controller |
GB2099978A (en) * | 1981-05-11 | 1982-12-15 | Rolls Royce | Gas turbine engine combustor |
JPS58101477A (ja) * | 1981-12-11 | 1983-06-16 | Sanyo Electric Co Ltd | 自己保持型光結合器 |
US4535251A (en) * | 1982-12-21 | 1985-08-13 | International Rectifier Corporation | A.C. Solid state relay circuit and structure |
FR2569915B3 (fr) * | 1984-08-28 | 1986-09-05 | Baudry Jean | Perfectionnement aux variateurs electroniques fonctionnant par controle de phase |
JPS622717A (ja) * | 1985-06-28 | 1987-01-08 | Hayashibara Takeshi | 突入電流制限回路 |
US5216303A (en) * | 1991-08-06 | 1993-06-01 | Lu Chao Cheng | Double solid state relay |
JP2807388B2 (ja) * | 1993-03-19 | 1998-10-08 | 株式会社東芝 | フォトカプラ装置 |
JP2812874B2 (ja) * | 1994-04-25 | 1998-10-22 | シャープ株式会社 | 光結合素子 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP32877194A patent/JP2986698B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1995
- 1995-12-08 US US08/569,991 patent/US5708277A/en not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-19 EP EP95309260A patent/EP0720239B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-19 EP EP03104141A patent/EP1406312B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1995-12-19 DE DE69535567T patent/DE69535567T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-19 DE DE69535090T patent/DE69535090T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1995-12-27 KR KR1019950072258A patent/KR100218586B1/ko not_active IP Right Cessation
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008541275A (ja) * | 2005-05-13 | 2008-11-20 | クリー インコーポレイテッド | 光起動ワイドバンドギャップバイポーラパワースイッチングデバイスおよび回路 |
KR100763863B1 (ko) * | 2006-11-06 | 2007-10-05 | 한국 고덴시 주식회사 | 포토 트라이악의 구조 |
JP2012531162A (ja) * | 2009-06-26 | 2012-12-06 | リバティー ハードウェア マニュファクテュアリング コーポレイション | 標準光カプラのマルチビット使用 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0720239A2 (en) | 1996-07-03 |
KR960026991A (ko) | 1996-07-22 |
EP1406312A3 (en) | 2005-06-15 |
KR100218586B1 (ko) | 1999-09-01 |
EP1406312A2 (en) | 2004-04-07 |
DE69535090T2 (de) | 2007-01-04 |
EP0720239A3 (en) | 1997-11-26 |
DE69535567T2 (de) | 2008-05-08 |
EP0720239B1 (en) | 2006-06-28 |
DE69535090D1 (de) | 2006-08-10 |
US5708277A (en) | 1998-01-13 |
JP2986698B2 (ja) | 1999-12-06 |
EP1406312B1 (en) | 2007-08-15 |
DE69535567D1 (de) | 2007-09-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP0075382B1 (en) | Power supply for arc lamps | |
JP2004036438A (ja) | 点火装置等の内燃機関用の電子装置 | |
WO2004068686A1 (ja) | 電源装置 | |
US6837230B2 (en) | Ignition device for an internal combustion engine | |
JPH08186285A (ja) | 光結合素子 | |
JP2881755B2 (ja) | パワー素子駆動回路 | |
US4533857A (en) | Electrical energy saving device for motors | |
US7511462B2 (en) | DC power conversion circuit having self-auxiliary power and self-protection | |
JP2812874B2 (ja) | 光結合素子 | |
KR102314310B1 (ko) | 금속-절연체 순간전이 소자를 이용한 보호 장치 | |
JP2890091B2 (ja) | モータの過負荷停動回路 | |
JP3543266B2 (ja) | 光結合装置及びそれを備えたソリッドステートリレー | |
JP7267845B2 (ja) | 照明用電源およびその保護回路 | |
JPH11225055A (ja) | 光結合装置 | |
JP2502854Y2 (ja) | 電源装置の過電流表示回路 | |
JP4012646B2 (ja) | スイッチング回路 | |
JP2669973B2 (ja) | 光結合装置 | |
KR0114674Y1 (ko) | 110v/220v자동절환회로 | |
JPH0588071B2 (ja) | ||
US6788017B2 (en) | Period adjustment circuit of disconnection and restart IC | |
KR890006031Y1 (ko) | 축전지 충전 제어회로 | |
JP2658025B2 (ja) | 位相制御型ソリツドステートリレー | |
JPH0742196Y2 (ja) | 電源装置の過電流表示回路 | |
KR950007357Y1 (ko) | 트랜지스터의 모듈 소손방지회로 | |
JPH07227083A (ja) | 短絡保護回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20071001 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20081001 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20091001 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20101001 Year of fee payment: 11 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20111001 Year of fee payment: 12 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121001 Year of fee payment: 13 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131001 Year of fee payment: 14 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |