JPH08185610A - 薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法 - Google Patents
薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法Info
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- JPH08185610A JPH08185610A JP33911094A JP33911094A JPH08185610A JP H08185610 A JPH08185610 A JP H08185610A JP 33911094 A JP33911094 A JP 33911094A JP 33911094 A JP33911094 A JP 33911094A JP H08185610 A JPH08185610 A JP H08185610A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 絶縁層,ギャップ層の変化を防ぎ、特性を所
望のものとすることができる薄膜磁気ヘッドにおけるメ
ッキ層形成方法を提供すること 【構成】 基板10の上部に所定形状の下部磁極層1
1,非磁性膜12,絶縁層13を順次積層形成し、さら
にそれらの上部に第1レジスト14を形成し、所定パタ
ーンの第1孔部15を形成し(図(A))、上面にメッ
キベース16を蒸着し(図(B))、その上面に第2レ
ジスト17を形成し、所定パターンの第2孔部18を形
成し(図(C))、第1孔部15,第2孔部18から露
出するメッキベース上にメッキ膜を成長させてコイル層
19を形成する(同図(D))。この後、第2レジス
ト,露出するメッキベース,第1レジストの順で除去す
るが、メッキベース除去時にオーバーエッチングしたと
してもその下側には第1レジストが存在するため、絶縁
層などが削られることがない。
望のものとすることができる薄膜磁気ヘッドにおけるメ
ッキ層形成方法を提供すること 【構成】 基板10の上部に所定形状の下部磁極層1
1,非磁性膜12,絶縁層13を順次積層形成し、さら
にそれらの上部に第1レジスト14を形成し、所定パタ
ーンの第1孔部15を形成し(図(A))、上面にメッ
キベース16を蒸着し(図(B))、その上面に第2レ
ジスト17を形成し、所定パターンの第2孔部18を形
成し(図(C))、第1孔部15,第2孔部18から露
出するメッキベース上にメッキ膜を成長させてコイル層
19を形成する(同図(D))。この後、第2レジス
ト,露出するメッキベース,第1レジストの順で除去す
るが、メッキベース除去時にオーバーエッチングしたと
してもその下側には第1レジストが存在するため、絶縁
層などが削られることがない。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、薄膜磁気ヘッドにおけ
るメッキ層形成方法に関するもので、より具体的にはメ
ッキの下地となるメッキベースの形成工程の改良に関す
るものである。
るメッキ層形成方法に関するもので、より具体的にはメ
ッキの下地となるメッキベースの形成工程の改良に関す
るものである。
【0002】
【従来の技術】従来の薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層
の1つであるコイル層の形成方法としては、図3に示す
ように、基板1の上部にヨークを形成するための下部電
極層2,ギャップ層となる非磁性膜3,絶縁層4を順次
積層形成する。ただし、絶縁層4は非磁性膜3の表面所
定位置に形成されているので、非磁性膜3は一部露出し
ている。そして、各層を形成した基板1の上面全体にメ
ッキベース5を蒸着する(同図(A))。
の1つであるコイル層の形成方法としては、図3に示す
ように、基板1の上部にヨークを形成するための下部電
極層2,ギャップ層となる非磁性膜3,絶縁層4を順次
積層形成する。ただし、絶縁層4は非磁性膜3の表面所
定位置に形成されているので、非磁性膜3は一部露出し
ている。そして、各層を形成した基板1の上面全体にメ
ッキベース5を蒸着する(同図(A))。
【0003】ついで、メッキベース5の上面に所定厚さ
のフォトレジスト6を塗布し、露光現像処理をおこな
い、フォトレジスト6に形成するコイル層と同一平面形
状のパターンからなる孔部7が形成され、孔部7を介し
てメッキベース5が露出する(同図(B))。
のフォトレジスト6を塗布し、露光現像処理をおこな
い、フォトレジスト6に形成するコイル層と同一平面形
状のパターンからなる孔部7が形成され、孔部7を介し
てメッキベース5が露出する(同図(B))。
【0004】孔部7から露出するメッキベース5上にメ
ッキ膜を成膜させてコイル層8を形成し(同図
(C))、上記露光現像処理時に残ったフォトレジスト
6をリムーバによって除去する(同図(D))。
ッキ膜を成膜させてコイル層8を形成し(同図
(C))、上記露光現像処理時に残ったフォトレジスト
6をリムーバによって除去する(同図(D))。
【0005】ここで、コイル層8は、上面からみて渦巻
状であり(図示省略する)、同図(D)に示される隣り
合ったコイル層8同士はメッキベース5を介して導通し
ているため、上方よりイオンミルをかけて、露出したメ
ッキベース5を除去する。この時、メッキベース5が残
存していると、コイル層8同士は電気的につながったま
まのおそれがあるので、メッキベースを完全に除去する
ために、メッキベースの下地にまでエッチングをおこな
う(オーバエッチング)。そのため、非絶縁層3,絶縁
層4,コイル層8は本来2点鎖線で示す位置まで厚さが
あるが、実線で示す位置まで削られる。そして、コイル
層8の下部にはメッキベース5が残存するので、コイル
層8を絶縁層4上に強固に密着させることができる(同
図(E))。
状であり(図示省略する)、同図(D)に示される隣り
合ったコイル層8同士はメッキベース5を介して導通し
ているため、上方よりイオンミルをかけて、露出したメ
ッキベース5を除去する。この時、メッキベース5が残
存していると、コイル層8同士は電気的につながったま
まのおそれがあるので、メッキベースを完全に除去する
ために、メッキベースの下地にまでエッチングをおこな
う(オーバエッチング)。そのため、非絶縁層3,絶縁
層4,コイル層8は本来2点鎖線で示す位置まで厚さが
あるが、実線で示す位置まで削られる。そして、コイル
層8の下部にはメッキベース5が残存するので、コイル
層8を絶縁層4上に強固に密着させることができる(同
図(E))。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た従来の薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法で
は、オーバーエッチングによって、ギャップ層である非
磁性膜3や絶縁層4の露出部分(コイル層の形成されて
いない部分)までエッチングされるので、非磁性層3,
絶縁層4の厚さは変化が生じてしまう。そのため、薄膜
磁気ヘッドの製造時にはそのギャップの変化を考慮に入
れる必要があるので、その工程が煩雑となる。
た従来の薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法で
は、オーバーエッチングによって、ギャップ層である非
磁性膜3や絶縁層4の露出部分(コイル層の形成されて
いない部分)までエッチングされるので、非磁性層3,
絶縁層4の厚さは変化が生じてしまう。そのため、薄膜
磁気ヘッドの製造時にはそのギャップの変化を考慮に入
れる必要があるので、その工程が煩雑となる。
【0007】一方、薄膜磁気ヘッドの特性、特に電磁変
換特性は、磁気記録媒体の接触面から、APEX(ギャ
ップ層のすぐ上に形成された絶縁層の立上がりポイン
ト)までの距離であるギャップデプスの長さ及びギャッ
プ層の厚さであるギャップレングスに影響を受けるの
で、このギャップデプス及びギャップレングスは所定寸
法となるように形成される必要がある。また、ギャップ
層,絶縁層の上側にはヨークの一部分となる上部磁極層
(図示省略)が形成されるが、この上部磁極層はAPE
Xの位置で折れまがって形成されており、係る位置や角
度によって、薄膜磁気ヘッドの特性に影響を与える。
換特性は、磁気記録媒体の接触面から、APEX(ギャ
ップ層のすぐ上に形成された絶縁層の立上がりポイン
ト)までの距離であるギャップデプスの長さ及びギャッ
プ層の厚さであるギャップレングスに影響を受けるの
で、このギャップデプス及びギャップレングスは所定寸
法となるように形成される必要がある。また、ギャップ
層,絶縁層の上側にはヨークの一部分となる上部磁極層
(図示省略)が形成されるが、この上部磁極層はAPE
Xの位置で折れまがって形成されており、係る位置や角
度によって、薄膜磁気ヘッドの特性に影響を与える。
【0008】そして、上記の従来方法により製造された
薄膜磁気ヘッドの場合、イオンミルによるAPEX付近
の変化は図4に示すように、イオンミル前の形状は2点
鎖線で表し、イオンミル後の形状は実線で表すような形
状となる。イオンミル前の非磁性膜3の厚さ(ギャップ
レングス)GLはイオンミル後にGL’にまで減少し、
また、イオンミル後の非磁性膜3と絶縁層4との境目の
位置も距離eだけ後退している。
薄膜磁気ヘッドの場合、イオンミルによるAPEX付近
の変化は図4に示すように、イオンミル前の形状は2点
鎖線で表し、イオンミル後の形状は実線で表すような形
状となる。イオンミル前の非磁性膜3の厚さ(ギャップ
レングス)GLはイオンミル後にGL’にまで減少し、
また、イオンミル後の非磁性膜3と絶縁層4との境目の
位置も距離eだけ後退している。
【0009】また、非磁性膜3と絶縁層4との強度は異
なるので、角度θである絶縁層4の斜面部分がエッチン
グされると、絶縁層4の厚みは斜面に従って増していく
ので、非磁性膜3がエッチングされる度合いも上部に形
成された絶縁層4の斜面部分の斜面に従って深くなって
いく。よって、非磁性膜3の斜面部分の下側部分では角
度θ’の斜面を形成している。そして、この非磁性膜3
の斜面角度θ’は絶縁層4の斜面部分の角度θよりも浅
い角度となる。このため、薄膜磁気ヘッドの特性に必要
なAPEXは、ギャップ層の上部に絶縁層が形成される
起点である点aと、ギャップ層に形成された斜面部分の
起点であり、磁極層が立ち上がる位置である点bのどち
らで考えるかによって薄膜磁気ヘッドの特性が変わって
しまう。
なるので、角度θである絶縁層4の斜面部分がエッチン
グされると、絶縁層4の厚みは斜面に従って増していく
ので、非磁性膜3がエッチングされる度合いも上部に形
成された絶縁層4の斜面部分の斜面に従って深くなって
いく。よって、非磁性膜3の斜面部分の下側部分では角
度θ’の斜面を形成している。そして、この非磁性膜3
の斜面角度θ’は絶縁層4の斜面部分の角度θよりも浅
い角度となる。このため、薄膜磁気ヘッドの特性に必要
なAPEXは、ギャップ層の上部に絶縁層が形成される
起点である点aと、ギャップ層に形成された斜面部分の
起点であり、磁極層が立ち上がる位置である点bのどち
らで考えるかによって薄膜磁気ヘッドの特性が変わって
しまう。
【0010】まず、APEXを点aとみた場合、ギャッ
プ層である非磁性膜3に斜面部分が生じているために、
磁気記録媒体摺動面形成のための切断位置をどこにする
かによって、ギャップレングスの長さは異なってしま
う。例えば、磁気記録媒体摺動面を点bの位置にとった
場合、ギャップレングスはGL’となるが、磁気記録媒
体摺動面を非磁性膜3の斜面部分の一点である点cの位
置にとった場合、ギャップレングスはGL”となってし
まう。
プ層である非磁性膜3に斜面部分が生じているために、
磁気記録媒体摺動面形成のための切断位置をどこにする
かによって、ギャップレングスの長さは異なってしま
う。例えば、磁気記録媒体摺動面を点bの位置にとった
場合、ギャップレングスはGL’となるが、磁気記録媒
体摺動面を非磁性膜3の斜面部分の一点である点cの位
置にとった場合、ギャップレングスはGL”となってし
まう。
【0011】また、APEXを点bとみた場合、ギャッ
プレングスはGL’と一定であるが、APEXの斜面角
度がθにするべきところを斜面角度θ’と浅い角度にな
ってしまうので、やはり薄膜磁気ヘッドの特性は劣化し
てしまう。
プレングスはGL’と一定であるが、APEXの斜面角
度がθにするべきところを斜面角度θ’と浅い角度にな
ってしまうので、やはり薄膜磁気ヘッドの特性は劣化し
てしまう。
【0012】本発明は、上記した背景に鑑みてなされた
もので、その目的とするところは、上記した問題点を解
決し、不要なメッキベースを完全に除去するためのオー
バーエッチングによる絶縁層及び、ギャップ層となる非
磁性層の厚みや形状(APEXの角度)の変化を防ぎ、
薄膜磁気ヘッドの特性に劣化が生じることのない薄膜磁
気ヘッドにおけるメッキ層形成方法を提供することにあ
る。
もので、その目的とするところは、上記した問題点を解
決し、不要なメッキベースを完全に除去するためのオー
バーエッチングによる絶縁層及び、ギャップ層となる非
磁性層の厚みや形状(APEXの角度)の変化を防ぎ、
薄膜磁気ヘッドの特性に劣化が生じることのない薄膜磁
気ヘッドにおけるメッキ層形成方法を提供することにあ
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記した目的を達成する
ため、本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形
成方法では、薄膜磁気ヘッドを構成する各層のうち、メ
ッキを施して形成するメッキ層を形成する方法におい
て、まず、基板上にすでに形成された所定層の表面を覆
うように第1レジストを塗布するとともに、露光現像し
て所定パターンの第1孔部を形成し、前記第1レジスト
の上面及び前記第1孔部の底面にメッキベースを形成
し、前記メッキベースの上面を覆うように第2レジスト
を塗布するとともに、露光現像して前記第1孔部の上方
に、第2レジストに所定パターンの第2孔部を形成し、
第2孔部を介して露出する前記メッキベース上にメッキ
膜を成長させ、その後、第2レジストを除去し、次いで
その第2レジストの除去により露出したメッキベースを
除去し、さらに第1レジストを除去するようにした。そ
して、前記メッキ層としては例えばコイル層である。
ため、本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形
成方法では、薄膜磁気ヘッドを構成する各層のうち、メ
ッキを施して形成するメッキ層を形成する方法におい
て、まず、基板上にすでに形成された所定層の表面を覆
うように第1レジストを塗布するとともに、露光現像し
て所定パターンの第1孔部を形成し、前記第1レジスト
の上面及び前記第1孔部の底面にメッキベースを形成
し、前記メッキベースの上面を覆うように第2レジスト
を塗布するとともに、露光現像して前記第1孔部の上方
に、第2レジストに所定パターンの第2孔部を形成し、
第2孔部を介して露出する前記メッキベース上にメッキ
膜を成長させ、その後、第2レジストを除去し、次いで
その第2レジストの除去により露出したメッキベースを
除去し、さらに第1レジストを除去するようにした。そ
して、前記メッキ層としては例えばコイル層である。
【0014】
【作用】基板上にすでに成形された所定層(ギャップ
層,絶縁層など)の上に、第1レジストを塗布し、露光
現像処理(パターンニング)を行うことで、所定パター
ンのメッキ層(例えばコイル層)形成部位に第1孔部を
形成して、第1レジストの上面及び第1孔部の底面にメ
ッキベースを形成しているので、不要なメッキベース部
分は下部に第1レジストが形成されているため、オーバ
ーエッチングをしても、第1レジストが吸収してくれる
ので、すでに形成された所定層が削られることなく、コ
イル層の下部のみにメッキベースが残存し、コイル層と
絶縁層を強固に密着させる。
層,絶縁層など)の上に、第1レジストを塗布し、露光
現像処理(パターンニング)を行うことで、所定パター
ンのメッキ層(例えばコイル層)形成部位に第1孔部を
形成して、第1レジストの上面及び第1孔部の底面にメ
ッキベースを形成しているので、不要なメッキベース部
分は下部に第1レジストが形成されているため、オーバ
ーエッチングをしても、第1レジストが吸収してくれる
ので、すでに形成された所定層が削られることなく、コ
イル層の下部のみにメッキベースが残存し、コイル層と
絶縁層を強固に密着させる。
【0015】
【実施例】以下、本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおける
メッキ層形成方法の好適な実施例を添付図面を参照にし
て詳述する。図1,図2は、本発明により形成するメッ
キ層としてコイル層に適用した場合の一実施例の工程図
を示している。図1に示すように、基板10の上面に、
ヨークの一部を構成する下部磁極層11を形成してい
る。さらに基板10と下部磁極層11の上面にギャップ
層となる非磁性膜12を形成し、その上面所定位置には
絶縁層13を形成している。そして、非磁性層12,絶
縁層13の上面全体に第1レジスト14を塗布し、露光
現像処理をおこなうことで、所定形状にパターンニング
された第1孔部15を形成し、第1孔部15の底面に絶
縁層13を露出させる(同図(A))。
メッキ層形成方法の好適な実施例を添付図面を参照にし
て詳述する。図1,図2は、本発明により形成するメッ
キ層としてコイル層に適用した場合の一実施例の工程図
を示している。図1に示すように、基板10の上面に、
ヨークの一部を構成する下部磁極層11を形成してい
る。さらに基板10と下部磁極層11の上面にギャップ
層となる非磁性膜12を形成し、その上面所定位置には
絶縁層13を形成している。そして、非磁性層12,絶
縁層13の上面全体に第1レジスト14を塗布し、露光
現像処理をおこなうことで、所定形状にパターンニング
された第1孔部15を形成し、第1孔部15の底面に絶
縁層13を露出させる(同図(A))。
【0016】次いで、第1レジスト14の上面及び第1
孔部15の底面(露出された絶縁層13の上面)に銅等
の導体を蒸着させることによりメッキベース16を形成
する(同図(B))。
孔部15の底面(露出された絶縁層13の上面)に銅等
の導体を蒸着させることによりメッキベース16を形成
する(同図(B))。
【0017】そして、メッキベース16の上面に第2レ
ジスト17を塗布し、露光現像処理により所定形状にパ
ターンニングされた第2孔部18を形成する。この第2
孔部18は第1孔部15の位置と一致しており、その平
面形状も同一としている(同図(C))。
ジスト17を塗布し、露光現像処理により所定形状にパ
ターンニングされた第2孔部18を形成する。この第2
孔部18は第1孔部15の位置と一致しており、その平
面形状も同一としている(同図(C))。
【0018】この状態で、例えばこの基板10ごとメッ
キ浴内に浸漬することにより、第1孔部15から露出す
るメッキベース16の表面にメッキ膜を成長・成膜させ
てメッキ層たるコイル層19を形成する(同図
(D))。
キ浴内に浸漬することにより、第1孔部15から露出す
るメッキベース16の表面にメッキ膜を成長・成膜させ
てメッキ層たるコイル層19を形成する(同図
(D))。
【0019】次に、上記コイル層19を形成するまでに
設けた両レジスト14,17および不要なメッキベース
16の除去工程に移る。すなわち、まず酸素プラズマに
て第2レジストのみを除去する。これにより、コイル層
19間を電気的に接続する不要なメッキベース16が露
出する(図2(A))。
設けた両レジスト14,17および不要なメッキベース
16の除去工程に移る。すなわち、まず酸素プラズマに
て第2レジストのみを除去する。これにより、コイル層
19間を電気的に接続する不要なメッキベース16が露
出する(図2(A))。
【0020】次に、上方よりイオンミルをかけて、露出
されたメッキベースを除去する。このとき、残存したメ
ッキベースがコイル層19同士を電気的に接続しないよ
うにオーバーエッチングをする(同図(B))。なお同
図(B)では、2点鎖線で表す厚みが本来の形状であ
り、実線で表す位置がオーバーエッチングによって削ら
れた形状を示している。この時、第1レジスト14がイ
オンミルを吸収するので、従来の課題であったギャップ
層である非磁性膜12及び絶縁層13は削れることがな
くなる。そして、レジストリムーバによって、第1レジ
スト14を除去して、絶縁層の上部にコイル層19を形
成する(同図(C))。尚、各層の具体的な除去を行な
うための手法は、上記実施例に限られないのはもちろん
である。
されたメッキベースを除去する。このとき、残存したメ
ッキベースがコイル層19同士を電気的に接続しないよ
うにオーバーエッチングをする(同図(B))。なお同
図(B)では、2点鎖線で表す厚みが本来の形状であ
り、実線で表す位置がオーバーエッチングによって削ら
れた形状を示している。この時、第1レジスト14がイ
オンミルを吸収するので、従来の課題であったギャップ
層である非磁性膜12及び絶縁層13は削れることがな
くなる。そして、レジストリムーバによって、第1レジ
スト14を除去して、絶縁層の上部にコイル層19を形
成する(同図(C))。尚、各層の具体的な除去を行な
うための手法は、上記実施例に限られないのはもちろん
である。
【0021】なお、本実施例では、コイル層の形成にお
いて、第1孔部,第2孔部の形成のための露光現像処理
に同じフォトマスクを使用して作業を簡略化するため、
第1孔部と第2孔部の位置,大きさを一致させたが、本
発明においては、必要なコイル層等がメッキベースの上
部に形成されるなら、第1孔部と第2孔部の位置,大き
さを必ずしも一致させる必要はない。
いて、第1孔部,第2孔部の形成のための露光現像処理
に同じフォトマスクを使用して作業を簡略化するため、
第1孔部と第2孔部の位置,大きさを一致させたが、本
発明においては、必要なコイル層等がメッキベースの上
部に形成されるなら、第1孔部と第2孔部の位置,大き
さを必ずしも一致させる必要はない。
【0022】
【発明の効果】以上のように、本発明に係る薄膜磁気ヘ
ッドにおけるメッキ層形成方法では、最終的に除去する
不要なメッキベースの下には第1レジストが存在するた
め、メッキベースを除去する際にオーバーエッチングを
行っても、上記第1レジストが削られるだけであるの
で、すでに形成した薄膜磁気ヘッドを構成するギャップ
層,絶縁層等の所定層が削れることがなくなる。
ッドにおけるメッキ層形成方法では、最終的に除去する
不要なメッキベースの下には第1レジストが存在するた
め、メッキベースを除去する際にオーバーエッチングを
行っても、上記第1レジストが削られるだけであるの
で、すでに形成した薄膜磁気ヘッドを構成するギャップ
層,絶縁層等の所定層が削れることがなくなる。
【0023】従って、上記所定層は、形成当時のパター
ン形状を保持するため、上記削れによる収縮を考慮する
必要がないので各パターン形状の設計および製造が容易
となる。しかも、ギャップ層と絶縁層の変わり目となる
APEXの位置が変化せず、また、APEXからの絶縁
層の斜面角度にも変化がないので、ギャップデプス,ギ
ャップレングス,APEXからの絶縁層の斜面角度に変
化分の考慮をいれずに所定の形状のままとすることがで
きるので、所望の薄膜磁気ヘッドの特性を得ることがで
きる。
ン形状を保持するため、上記削れによる収縮を考慮する
必要がないので各パターン形状の設計および製造が容易
となる。しかも、ギャップ層と絶縁層の変わり目となる
APEXの位置が変化せず、また、APEXからの絶縁
層の斜面角度にも変化がないので、ギャップデプス,ギ
ャップレングス,APEXからの絶縁層の斜面角度に変
化分の考慮をいれずに所定の形状のままとすることがで
きるので、所望の薄膜磁気ヘッドの特性を得ることがで
きる。
【図1】本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層
形成方法の実施例を示す工程図である。
形成方法の実施例を示す工程図である。
【図2】本発明に係る薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層
形成方法の実施例を示す工程図である。
形成方法の実施例を示す工程図である。
【図3】従来の薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方
法を示す工程図である。
法を示す工程図である。
【図4】図3(E)中の破線で囲んだ部分の拡大図であ
る。
る。
10 基板 11 下部磁極層 12 ギャップ層 13 絶縁層 14 第1レジスト 15 第1孔部 16 メッキベース 17 第2レジスト 18 第2孔部 19 コイル層(メッキ層)
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 江尻 雅彦 東京都港区新橋5丁目36番11号 富士電気 化学株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 薄膜磁気ヘッドを構成する各層のうち、
メッキを施して形成するメッキ層を形成する方法におい
て、 まず、基板上にすでに形成された所定層の表面を覆うよ
うに第1レジストを塗布するとともに、露光現像して所
定パターンの第1孔部を形成し、 前記第1レジストの上面及び前記第1孔部の底面にメッ
キベースを形成し、 前記メッキベースの上面を覆うように第2レジストを塗
布するとともに、露光現像して前記第1孔部の上方に、
第2レジストに所定パターンの第2孔部を形成し、 第2孔部を介して露出する前記メッキベース上にメッキ
膜を成長させ、 その後、第2レジストを除去し、次いでその第2レジス
トの除去により露出したメッキベースを除去し、さらに
第1レジストを除去することを特徴とする薄膜磁気ヘッ
ドにおけるメッキ層形成方法。 - 【請求項2】 前記メッキ層が、コイル層であることを
特徴とする請求項1に記載の薄膜磁気ヘッドにおけるメ
ッキ層形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33911094A JPH08185610A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP33911094A JPH08185610A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH08185610A true JPH08185610A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18324362
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP33911094A Withdrawn JPH08185610A (ja) | 1994-12-29 | 1994-12-29 | 薄膜磁気ヘッドにおけるメッキ層形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH08185610A (ja) |
-
1994
- 1994-12-29 JP JP33911094A patent/JPH08185610A/ja not_active Withdrawn
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