JPH08131930A - 溶液供給用容器及び溶液供給装置 - Google Patents

溶液供給用容器及び溶液供給装置

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JPH08131930A
JPH08131930A JP27009894A JP27009894A JPH08131930A JP H08131930 A JPH08131930 A JP H08131930A JP 27009894 A JP27009894 A JP 27009894A JP 27009894 A JP27009894 A JP 27009894A JP H08131930 A JPH08131930 A JP H08131930A
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JP
Japan
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solution
area
container
solution supply
pipe
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Application number
JP27009894A
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English (en)
Inventor
Toshio Saito
敏男 斎藤
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 SOG、レジスト等の溶液の無駄な不使用残
量を低減する。 【構成】(1)溶液を溶液供給用配管2によって圧送す
る大容量の溶液収容容器10があって、底部の最も低い
部分の面積を溶液供給用配管2の面積より大きく、かつ
適切な値の最小面積に構成したものである。また、前記
底部1をすりばち状にして底面積を前記溶液供給用配管
2の面積より大きく、かつ適切な値の最小面積に構成し
たものである。 (2)最も低い底部の面積を溶液供給用配管2の面積よ
り大きく、かつ適切な値の最小面積に構成した溶液供給
用容器10と、該溶液供給用容器10を密封して排気す
る排気用配管と、前記溶液供給用容器10に収容される
溶液6に圧力を加える圧送用配管と、前記溶液供給用容
器10中の溶液6を所定位置に供給する溶液供給用配管
を備えた溶液供給装置である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、溶液供給用容器及び溶
液供給装置に関し、特に、半導体製造装置におけるSO
G(Spine On Glass)塗布装置、レジスト塗布装置
等に適用して有効な溶液供給用容器及び溶液供給装置に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、半導体製造技術におけるSOG塗
布装置、レジスト塗布装置等におけるSOG、レジスト
等の溶液供給は、溶液が収容されている大容量の容器か
ら溶液を溶液供給用配管によって圧送され、ウェハ内に
均一に塗布される。この塗布は所定の厚さに制御されな
ければならない。この塗布装置は、ウェハのセンタリン
グ最適化やスピンモータの回転特性、SOG、レジスト
等の溶液の滴下量の最適化、排気速度、空気の巻き込み
防止、ノズルやカップの形状など、使用するSOG、レ
ジスト等の溶液の種類に応じてユーザー側で調整する必
要がある。
【0003】前記半導体製造技術におけるレジスト塗布
装置におけるレジストの塗布技術は、例えば、1990
年6月10日、株式会社工業調査会発行、工学博士、前
田和夫著の「VLSIプロセス装置ハンドブック」第1
44頁に記載されている。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明者は、前記従来
の技術を検討した結果、以下の問題点を見いだした。
【0005】前記従来のSOG、レジスト等の溶液の供
給技術では、溶液が収容されている大容量の容器から溶
液を溶液供給用配管によって圧送されるが、容器の底面
積の広い大容量の容器であるため、空気を巻き込まない
状態のぎりぎりまで使用するためには、多量のSOG、
レジスト等の溶液が残ってしまうという問題があった。
【0006】本発明の目的は、SOG、レジスト等の溶
液の無駄な不使用残量を低減することが可能な技術を提
供することにある。
【0007】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述及び添付図面によって明らか
になるであろう。
【0008】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【0009】(1)溶液を溶液供給用配管によって圧送
する大容量の溶液供給用容器であって、最も低い底部の
面積を前記溶液供給用配管の面積より大きく、かつ適切
な値の最小面積に構成したものである。
【0010】また、前記容器の底部の最も低い部分の面
積を溶液供給用配管の面積より大きく、かつ適切な値の
最小面積に構成したものである。
【0011】(2)底部の最も低い部分の面積を溶液供
給用配管の面積より大きく、かつ適切な値の最小面積に
構成した溶液供給用容器と、該溶液供給用容器を密封し
て排気する排気用配管と、前記溶液供給用容器に収容さ
れる溶液に圧力を加える圧送用配管と、前記溶液供給用
容器中の溶液を所定位置に供給する溶液供給用配管を備
えた溶液供給装置である。
【0012】
【作用】上述した手段によれば、底部の最も低い部分の
面積を前記溶液供給用配管の面積より大きく、かつ適切
な値の最小面積に構成したことにより、溶液が残り少な
くなっても、底部の最も低い部分に溶液が集まり、空気
を巻き込まない状態の液面を上げるので、大容量の供給
用容器であっても、供給用配管に余裕ができ、溶液使用
量を増加させることができる。これにより、溶液の無駄
な不使用残量を低減することができる。
【0013】以下、本発明について、図面を参照して実
施例とともに説明する。
【0014】なお、実施例を説明するための全図におい
て、同一機能を有するものは同一符号を付け、その繰り
返しの説明は省略する。
【0015】
【実施例】
(実施例1)図1は、本発明による実施例1の溶液供給
用容器の構成を示す断面図であり、1は容液注入・供給
口、2は容器の底部、3は溶液供給用配管、4は円筒状
穴部、5は容器支持用の足部、6は溶液、6Aは溶液の
液面、10は溶液供給用容器である。
【0016】図1に示すように、本実施例1の溶液供給
用容器10の容器本体部分は、直径約80mmの円筒
(容量、500CC程度)で構成され、底部2の中央部
に、溶液供給用配管3が挿入可能な断面面積より少し大
き目の底面面積の円筒状穴部4が設けられたものであ
る。そして、容器10の底部2の周辺部に容器支持用の
足部4が設けられている。当該溶液供給用容器10に
は、SOG、レジスト等の溶液6が入られている。
【0017】前記溶液供給用容器10の材料は、ガラス
が好ましいが、溶液によってはステンレース等の薬品不
蝕性の金属、硬質性の樹脂等でもよい。
【0018】このように、大容量の溶液供給用容器10
を構成することにより、溶液6が残り少なくなっても、
穴部4に溶液6が集まり、空気を巻き込まない状態にお
ける液面6Aを上げるので、大容量の容器であっても、
溶液供給用配管3に余裕ができ、溶液使用量を増加させ
ることができる。すなわち、溶液の無駄な不使用残量を
低減することができる。
【0019】また、前記円筒状穴部4を容器の周辺外部
の一部に設け、円筒状穴部4と連通するパイプを容器本
体の周辺外部の高さ方向に容器本体と一体に設けてもよ
い。
【0020】また、筒状穴部4の代えて、容器本体の底
面周辺部に設けられた溝と連通した円筒状穴部を底面の
所定位置に設けてもよい。
【0021】(実施例2)図3は、本発明による実施例
2の溶液供給用容器の構成を示す断面図である。本実施
例2は、図3に示すように、前記実施例1の底部1をす
りばち状にして底面積を溶液供給用配管3の断面面積よ
り大きく、かつ適切な値の最小面積に構成したものであ
る。
【0022】このように構成することにより、前記実施
例1と同様の作用効果を得ることができる。
【0023】(実施例3)図4は、本発明による実施例
3の溶液供給用容器を用いたレジン(溶液)供給装置の
概略構成を示す図であり、11は前記溶液供給用容器1
0に溶液を注入して密封した後、排気するための排気用
配管、12は前記溶液供給用容器10に収容されるレジ
ン(溶液)に圧力を加える圧送用配管、13はN2ボン
ベ、14は前記溶液供給用容器10中の溶液6をウェハ
処理部15へ供給する溶液供給用配管、15はウェハ処
理部、15Aはウェハ、16は容液供給部である。
【0024】本実施例3の溶液供給装置は、前記溶液供
給用容器10に溶液5を注入して密封した後、排気用配
管11を通して排気し、圧送用配管12を通してN2
ンベ13からN2ガスに圧力を加えて注入し、前記溶液
6に圧力を加える。これにより、前記溶液供給用容器1
0中の溶液6は、溶液供給用配管14を通してウェハ処
理部15のウェハ15Aの上に供給される。この時、溶
液6が残り少なくなっても、溶液供給用容器10の穴部
4に溶液6が集まり、空気を巻き込まない状態における
液面6Aを上げるので、大容量型容器であっても、溶液
供給用配管14(図1の3に相当する)に余裕ができ、
溶液使用量を増加させることができる。
【0025】以上、本発明者によってなされた発明を、
前記実施例に基づき具体的に説明したが、本発明は、前
記実施例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱し
ない範囲において種々変更可能であることは勿論であ
る。
【0026】例えば、本発明は、一般の薬液等の供給に
も利用できることはいうまでもない。
【0027】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち代表
的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、下
記のとおりである。
【0028】溶液が残り少なくなっても、底部の最も低
い部分に溶液が集まり、空気を巻き込まない状態の液面
を上げるので、供給用配管に余裕ができ、溶液使用量を
増加させることができる。これにより、溶液の無駄な不
使用残量を低減することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による実施例1の溶液供給用容器の構成
を示す断面図である。
【図2】本実施例1の溶液供給用容器の変形例を示す断
面図である。
【図3】本発明による実施例2の溶液供給用容器の構成
を示す断面図である。
【図4】本発明による実施例3の溶液供給用容器を用い
たレジン(溶液)供給装置の概略構成を示す図である。
【符号の説明】
1…容液注入・供給口、2…容器の底部、3…溶液供給
用配管、4…円筒状穴部、5…容器支持用の足部、6…
溶液、6A…溶液の液面、10…溶液供給用容器、11
…排気用配管、12…圧送用配管、13…N2ボンベ、
14…溶液供給用配管、15…ウェハ処理部15、15
A…ウェハ、16…容液供給部。

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 溶液を溶液供給用配管によって圧送する
    大容量の溶液供給用容器であって、底部の最も低い部分
    の面積を前記溶液供給用配管の面積より大きく、かつ適
    切な値の最小面積に構成した溶液供給用容器。
  2. 【請求項2】 溶液を溶液供給用配管によって圧送する
    大溶液容量の溶液供給用容器であって、底部をすりばち
    状にして底面積を前記溶液供給用配管の面積より大き
    く、かつ適切な値の最小面積に構成した溶液供給用容
    器。
  3. 【請求項3】 底部の最も低い部分の面積を溶液供給用
    配管の面積より大きく、かつ適切な値の最小面積に構成
    した溶液供給用容器と、該溶液供給用容器を密封して排
    気する排気用配管と、前記溶液供給用容器に収容される
    溶液に圧力を加える圧送用配管と、前記溶液供給用容器
    中の溶液を所定位置に供給する溶液供給用配管を備えた
    ことを特徴とする溶液供給装置。
JP27009894A 1994-11-04 1994-11-04 溶液供給用容器及び溶液供給装置 Pending JPH08131930A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6070768A (en) * 1997-11-07 2000-06-06 Topack Verpackungstechnik Gmbh Apparatus for supplying adhesive to a paster
CN107614123A (zh) * 2015-05-14 2018-01-19 国立大学法人东京农工大学 液体射流射出装置和液体射流射出方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6070768A (en) * 1997-11-07 2000-06-06 Topack Verpackungstechnik Gmbh Apparatus for supplying adhesive to a paster
CN1109585C (zh) * 1997-11-07 2003-05-28 托帕克包装技术有限公司 将粘胶物供给一上胶装置的装置
CN107614123A (zh) * 2015-05-14 2018-01-19 国立大学法人东京农工大学 液体射流射出装置和液体射流射出方法
CN107614123B (zh) * 2015-05-14 2019-08-30 国立大学法人东京农工大学 液体射流射出装置和液体射流射出方法

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