JPH0812149B2 - 光学測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法 - Google Patents
光学測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法Info
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- JPH0812149B2 JPH0812149B2 JP60173054A JP17305485A JPH0812149B2 JP H0812149 B2 JPH0812149 B2 JP H0812149B2 JP 60173054 A JP60173054 A JP 60173054A JP 17305485 A JP17305485 A JP 17305485A JP H0812149 B2 JPH0812149 B2 JP H0812149B2
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/255—Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
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Description
【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、生化学的分析や免疫学的分析等の自動分析
装置に組み込まれた光学測定装置におけるランプ光源の
照射光量制御法に関するものである。
装置に組み込まれた光学測定装置におけるランプ光源の
照射光量制御法に関するものである。
（従来の技術） 従来、生化学的分析や免疫学的分析等の自動分析装置
は、通常、装置内に複数の測定検液や試薬液等をセツト
して、これらを複数の容器に分注して各被測定液とし、
この各容器を順次に測定位置に配置する供給手段を有
し、自動分析装置に組み込まれた光学測定装置のランプ
光源から出力する照射光を、連続的に測定位置に供給さ
れる複数の容器の各容器の被測定液に順次に照射して比
色測定する構造になつている。また、生化学的分析や免
疫学的分析等では、多数の測定検液や試薬液等を装置内
にセツトして複数回にわけ、連続的に測定する必要が生
じ、複数の容器の各容器の被測定液の測定が終了すると
測定を中断して、前記のようにセツト換えして新たな複
数の容器の各容器の被測定液の比色測定を同様に繰り返
している。
は、通常、装置内に複数の測定検液や試薬液等をセツト
して、これらを複数の容器に分注して各被測定液とし、
この各容器を順次に測定位置に配置する供給手段を有
し、自動分析装置に組み込まれた光学測定装置のランプ
光源から出力する照射光を、連続的に測定位置に供給さ
れる複数の容器の各容器の被測定液に順次に照射して比
色測定する構造になつている。また、生化学的分析や免
疫学的分析等では、多数の測定検液や試薬液等を装置内
にセツトして複数回にわけ、連続的に測定する必要が生
じ、複数の容器の各容器の被測定液の測定が終了すると
測定を中断して、前記のようにセツト換えして新たな複
数の容器の各容器の被測定液の比色測定を同様に繰り返
している。
また光学測定装置の照射用光源には通常、高い照射光
量が得られ生化学的分析や免疫学的分析等の照射光学測
定に好適なランプ光源が使用されているが、ランプ光源
の点滅を繰り返すと寿命が低下、劣化して照射光量が低
下し、メンテナンスの頻度が高まり、測定精度や信頼生
が損なわれる基本的な問題点がある。このランプ光源
は、装置駆動時に大電圧で点灯して、光学測定レベルの
高い照射光量まで急激に上昇してこの照射光量を維持
し、前記のように複数の容器の各容器の被測定液を連続
的に比色測定して、これを複数回繰り返した後、消灯し
ている。
量が得られ生化学的分析や免疫学的分析等の照射光学測
定に好適なランプ光源が使用されているが、ランプ光源
の点滅を繰り返すと寿命が低下、劣化して照射光量が低
下し、メンテナンスの頻度が高まり、測定精度や信頼生
が損なわれる基本的な問題点がある。このランプ光源
は、装置駆動時に大電圧で点灯して、光学測定レベルの
高い照射光量まで急激に上昇してこの照射光量を維持
し、前記のように複数の容器の各容器の被測定液を連続
的に比色測定して、これを複数回繰り返した後、消灯し
ている。
（発明が解決しようとする課題） 従来の自動分析装置における光学測定では、前記した
ように照射光学測定に好適なランプ光源が使用されてい
るが、ランプ点滅を繰り返したり、点灯時に大電圧で急
激に高い照射光量の測定照射レベルに上昇すると、ラン
プ寿命が低下し劣化してメンテナンスの頻度が増加した
り、測定精度に誤差が生じ信頼性が損われるなどの基本
的な課題がある。また、多数の被測定液の測定完了時点
まで高い照射光量の測定照射レベルに維持すると、電力
を浪費しランプ寿命を早めランプ劣化の原因になるなど
前記と同様な課題がある。
ように照射光学測定に好適なランプ光源が使用されてい
るが、ランプ点滅を繰り返したり、点灯時に大電圧で急
激に高い照射光量の測定照射レベルに上昇すると、ラン
プ寿命が低下し劣化してメンテナンスの頻度が増加した
り、測定精度に誤差が生じ信頼性が損われるなどの基本
的な課題がある。また、多数の被測定液の測定完了時点
まで高い照射光量の測定照射レベルに維持すると、電力
を浪費しランプ寿命を早めランプ劣化の原因になるなど
前記と同様な課題がある。
本発明は、前記のような課題に対処するために開発さ
れたものであり、目的とする処は、ランプ光源を駆動当
初の点灯時に電圧漸増で照射光量を上昇させる準備段階
に、複数の容器の各被測定液の測定中は高い照射光量に
維持した光学測定段階に、測定中断中は電圧を低下して
低い照射光量にした測定待機段階に、新たな複数の容器
の各容器の被測定液の測定再開時は電圧漸増で照射光量
を上昇して維持させる光学測定段階に制御して、ランプ
の寿命、劣化を効果的に防止して節電し、測定能率や測
定精度を高めるなど、測定性能、信頼性を向上した光学
測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法を提供す
るにある。
れたものであり、目的とする処は、ランプ光源を駆動当
初の点灯時に電圧漸増で照射光量を上昇させる準備段階
に、複数の容器の各被測定液の測定中は高い照射光量に
維持した光学測定段階に、測定中断中は電圧を低下して
低い照射光量にした測定待機段階に、新たな複数の容器
の各容器の被測定液の測定再開時は電圧漸増で照射光量
を上昇して維持させる光学測定段階に制御して、ランプ
の寿命、劣化を効果的に防止して節電し、測定能率や測
定精度を高めるなど、測定性能、信頼性を向上した光学
測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法を提供す
るにある。
（課題を解決するための手段） 本発明は、ランプ光源から出力する照射光を多数の容
器内の各被測定液に照射し、各被測定液の透過光を受光
して比色測定する生化学等の自動分析装置における光学
測定装置において、自動分析装置の駆動スイツチで光学
測定装置のランプ光源がオン・オフされかつ同ランプ光
源の照射光量を制御する光量制御手段を有し、この光量
制御手段により、前記の駆動スイツチで点灯されたラン
プ光源の電圧を徐々に増加させて被測定液を収容した複
数の容器の最初の容器が測定位置に到来する前に、光学
測定レベルの照射光量に上昇させる準備段階に制御し、
次いで光学測定レベルに維持させて被測定液を収容した
複数の容器の各容器の被測定液を順次に比色測定させる
光学測定段階に制御し、前記複数の容器の最後の容器の
被測定液の比色測定終了後の中断時に電圧を低下し低い
照射光量の測定待機レベルにして維持させる測定待機段
階に制御した後、被測定液を収容した新たな複数の容器
の最初の容器が測定位置に到来する前に、測定待機レベ
ルから光学測定レベルの照射光量に切り換え維持させる
光学測定段階に制御して、新たな複数の容器の各容器の
被測定液を順次に比色測定することにより、前記のよう
な課題を解決している。
器内の各被測定液に照射し、各被測定液の透過光を受光
して比色測定する生化学等の自動分析装置における光学
測定装置において、自動分析装置の駆動スイツチで光学
測定装置のランプ光源がオン・オフされかつ同ランプ光
源の照射光量を制御する光量制御手段を有し、この光量
制御手段により、前記の駆動スイツチで点灯されたラン
プ光源の電圧を徐々に増加させて被測定液を収容した複
数の容器の最初の容器が測定位置に到来する前に、光学
測定レベルの照射光量に上昇させる準備段階に制御し、
次いで光学測定レベルに維持させて被測定液を収容した
複数の容器の各容器の被測定液を順次に比色測定させる
光学測定段階に制御し、前記複数の容器の最後の容器の
被測定液の比色測定終了後の中断時に電圧を低下し低い
照射光量の測定待機レベルにして維持させる測定待機段
階に制御した後、被測定液を収容した新たな複数の容器
の最初の容器が測定位置に到来する前に、測定待機レベ
ルから光学測定レベルの照射光量に切り換え維持させる
光学測定段階に制御して、新たな複数の容器の各容器の
被測定液を順次に比色測定することにより、前記のよう
な課題を解決している。
（作用） 本発明は、光学測定装置の照射光学測定用にランプ光
源を適用し、このランプ光源は、装置の駆動スイツチで
点灯されかつ光量制御手段で制御される。また、この光
量制御手段により、準備段階のランプ光源は、当初の点
灯時に電圧を徐々に増加させて比測定液を収容した複数
の容器の最初の容器が測定位置に到来する前に、光学測
定レベルの照射光量に上昇させるように制御され、ラン
プの寿命、劣化が効果的に防止されて大出力で高い照射
光量の光学測定レベルに上昇する。
源を適用し、このランプ光源は、装置の駆動スイツチで
点灯されかつ光量制御手段で制御される。また、この光
量制御手段により、準備段階のランプ光源は、当初の点
灯時に電圧を徐々に増加させて比測定液を収容した複数
の容器の最初の容器が測定位置に到来する前に、光学測
定レベルの照射光量に上昇させるように制御され、ラン
プの寿命、劣化が効果的に防止されて大出力で高い照射
光量の光学測定レベルに上昇する。
次に、光学測定段階のランプ光源は、前記の高い照射
光量の光学測定レベルに維持されて、高い照射光量で格
別なバラツキがなく複数の容器の各容器の被測定液を理
想的な高い照射光量下で順次に能率良く高精度に測定で
き、優れた信頼性が得られる。
光量の光学測定レベルに維持されて、高い照射光量で格
別なバラツキがなく複数の容器の各容器の被測定液を理
想的な高い照射光量下で順次に能率良く高精度に測定で
き、優れた信頼性が得られる。
さらに、測定中断段階のランプ光源は、前記複数の容
器の相互の容器の被測定液が比色測定された後の測定中
断時に、電圧を適度に低下して低い照射光量の測定待機
レベルに維持するように制御され、ランプ点滅を回避し
てランプの寿命の低下、劣化を防止し、大幅な節電を可
能にしている。
器の相互の容器の被測定液が比色測定された後の測定中
断時に、電圧を適度に低下して低い照射光量の測定待機
レベルに維持するように制御され、ランプ点滅を回避し
てランプの寿命の低下、劣化を防止し、大幅な節電を可
能にしている。
さらに、測定再開時のランプ光源は、電圧を徐々に増
加して被測定液を収容した新たな複数の容器の最初の容
器が測定位置に到来する前に、測定待機レベルから光学
測定レベルの照射光量に切り換わつて維持するように制
御され、さらに新たな複数の容器の各容器の被測定液を
順次に比色測定する測定が繰り返されて、高い照射光量
の光学測定レベルへの上昇が早く、ランプの寿命、劣化
が効果的に防止されて、新たな複数の容器の各容器の被
測定液が前記の光学測定段階と同様に能率良く高精度で
測定されて、優れた信頼性が得られる。
加して被測定液を収容した新たな複数の容器の最初の容
器が測定位置に到来する前に、測定待機レベルから光学
測定レベルの照射光量に切り換わつて維持するように制
御され、さらに新たな複数の容器の各容器の被測定液を
順次に比色測定する測定が繰り返されて、高い照射光量
の光学測定レベルへの上昇が早く、ランプの寿命、劣化
が効果的に防止されて、新たな複数の容器の各容器の被
測定液が前記の光学測定段階と同様に能率良く高精度で
測定されて、優れた信頼性が得られる。
多数の容器の各容器の被測定液の測定が全て完了する
と、前記の駆動スイツチで装置が停止されてランプ光源
が消灯されるなど、総合的にランプの寿命低下、劣化が
効果的に防止され、かつ節電されて、総合的に測定が能
率及び精度良く遂行されるなど優れた測定性能、信頼性
が得られる。
と、前記の駆動スイツチで装置が停止されてランプ光源
が消灯されるなど、総合的にランプの寿命低下、劣化が
効果的に防止され、かつ節電されて、総合的に測定が能
率及び精度良く遂行されるなど優れた測定性能、信頼性
が得られる。
（実施例） 第１図及び第２図に本発明の一実施例を示している。
図中１は自動分析装置、２は自動分析装置に組み込んだ
光学測定装置、３は光学測定装置のランプ光源、４（4a
〜4n）は測定されるべき被測定液５を収容して測定位置
に供給される容器、６は透過光の受光素子、７はランプ
光源の光量制御手段、Ｌはランプ光源の照射光、L1は被
測定液の透過光、Voは光学測定レベルの電圧、V1は測定
待機レベルの電圧、t1は準備段階の時間、t2は光学測定
段階の時間、t3は測定待機段階の時間、CPUは自動分析
装置と光学測定装置に兼用の駆動制御装置、SWは同じく
兼用の駆動スイツチである。
図中１は自動分析装置、２は自動分析装置に組み込んだ
光学測定装置、３は光学測定装置のランプ光源、４（4a
〜4n）は測定されるべき被測定液５を収容して測定位置
に供給される容器、６は透過光の受光素子、７はランプ
光源の光量制御手段、Ｌはランプ光源の照射光、L1は被
測定液の透過光、Voは光学測定レベルの電圧、V1は測定
待機レベルの電圧、t1は準備段階の時間、t2は光学測定
段階の時間、t3は測定待機段階の時間、CPUは自動分析
装置と光学測定装置に兼用の駆動制御装置、SWは同じく
兼用の駆動スイツチである。
図示の実施例は、ランプ光源３から出力する照射光Ｌ
を複数の容器４（4a〜4n）内の各容器の被測定液５に照
射し、各被測定液の透過光L1を受光して比色測定する生
化学等の自動分積装置１における光学測定装置２におい
て、自動分析装置の駆動スイツチSWで光学測定装置のラ
ンプ光源３がオン・オフされかつランプ光源の照射光量
を制御する光量制御手段７を有し、光量制御手段７によ
り、駆動スイツチSWで点灯されたランプ光源３の電圧を
徐々に増加させて被測定液５を収容した複数の容器の最
初の容器4aが測定位置に到来する前に、光学測定レベル
（電圧Vo）の照射光量に上昇させる準備段階（時間t1）
に制御し、次いで光学測定レベルを維持して複数の容器
4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に比色測定する光学
測定段階（時間t2）に制御し、前記複数の容器の最後の
容器4nの被測定液６の比色測定終了後の中断時に電圧を
低下して低い測定待機レベル（電圧V1）に維持させる測
定待機段階（時間t3）に制御した後、新たな複数の容器
4a〜4nの供給に際しランプ光源３の電圧を除去に増加さ
せて新たな複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置
に到来する前に、測定待機レベル（電圧V1）から光学測
定レベル（電圧Vo）の照射光量に切り換えて維持させる
光学測定段階（時間t2）に制御して、新たな複数の容器
4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に比色測定する光学
測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法になつて
いる。
を複数の容器４（4a〜4n）内の各容器の被測定液５に照
射し、各被測定液の透過光L1を受光して比色測定する生
化学等の自動分積装置１における光学測定装置２におい
て、自動分析装置の駆動スイツチSWで光学測定装置のラ
ンプ光源３がオン・オフされかつランプ光源の照射光量
を制御する光量制御手段７を有し、光量制御手段７によ
り、駆動スイツチSWで点灯されたランプ光源３の電圧を
徐々に増加させて被測定液５を収容した複数の容器の最
初の容器4aが測定位置に到来する前に、光学測定レベル
（電圧Vo）の照射光量に上昇させる準備段階（時間t1）
に制御し、次いで光学測定レベルを維持して複数の容器
4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に比色測定する光学
測定段階（時間t2）に制御し、前記複数の容器の最後の
容器4nの被測定液６の比色測定終了後の中断時に電圧を
低下して低い測定待機レベル（電圧V1）に維持させる測
定待機段階（時間t3）に制御した後、新たな複数の容器
4a〜4nの供給に際しランプ光源３の電圧を除去に増加さ
せて新たな複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置
に到来する前に、測定待機レベル（電圧V1）から光学測
定レベル（電圧Vo）の照射光量に切り換えて維持させる
光学測定段階（時間t2）に制御して、新たな複数の容器
4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に比色測定する光学
測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法になつて
いる。
さらに詳述すると、図示の生化学等の自動分析装置１
は、駆動スイツチSWでオン・オフ駆動され、公知手段で
セツトされている複数の容器４（4a〜4n）に、測定項目
に対応させて血清検体液や試薬液（又は希釈液）等の適
量を順次に分注して所要の被測定液５として収容した
後、被測定液を収容した各容器4a〜4nが順次に測定位置
に送り込まれる構造になつている。
は、駆動スイツチSWでオン・オフ駆動され、公知手段で
セツトされている複数の容器４（4a〜4n）に、測定項目
に対応させて血清検体液や試薬液（又は希釈液）等の適
量を順次に分注して所要の被測定液５として収容した
後、被測定液を収容した各容器4a〜4nが順次に測定位置
に送り込まれる構造になつている。
また、光学測定装置２は、自動分析装置１に組み込ま
れ、ランプ光源３や受光素子６と、光量制御手段７及び
制御装置CPU（自動分析装置と兼用）等からなる。ま
た、光量制御手段７は、制御装置CPUの制御信号を入力
してランプ光源３の制御信号を発し、ランプ光源の電圧
（出力）を制御しこの照射光量を制御して、この照射光
Ｌ（高い照射光量）を測定位置に供給される複数の容器
の各容器中の被測定液５に順次に照射し、各被測定液の
透過光L1は受光素子６で受光し検出信号L2として制御装
置CPUに入力する。
れ、ランプ光源３や受光素子６と、光量制御手段７及び
制御装置CPU（自動分析装置と兼用）等からなる。ま
た、光量制御手段７は、制御装置CPUの制御信号を入力
してランプ光源３の制御信号を発し、ランプ光源の電圧
（出力）を制御しこの照射光量を制御して、この照射光
Ｌ（高い照射光量）を測定位置に供給される複数の容器
の各容器中の被測定液５に順次に照射し、各被測定液の
透過光L1は受光素子６で受光し検出信号L2として制御装
置CPUに入力する。
図示のように、ランプ光源３から出力する照射光Ｌを
複数の容器４（4a〜4n）の各容器の被測定液５に照射
し、各被測定液の透過光L1を受光して比色測定する生化
学等の自動分析装置１における光学測定装置２におい
て、自動分析装置の駆動スイツチSWで光学測定装置のラ
ンプ光源３がオン・オフされかつランプ光源の照射光量
を制御する光量制御手段７を有し、生化学等の自動分析
装置１に複数の測定検液や試薬液等をセツトした後、自
動分析装置１を駆動スイツチSWでオン駆動すると光学測
定装置２もオン作動される。光量制御手段７により、前
記のランプ光源３は、先ず駆動スイッチSWで点灯されて
この電圧が０から徐々に増加され、被測定液５を収容し
た複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置に到来す
る前に、光学測定レベル（電圧Vo）の照射光量に上昇さ
せる準備段階（時間t1）に制御されて、大出力で高い照
射光量の光学測定レベル（電圧Vo）に達するとこれを維
持して複数の容器4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に
比色測定する光学測定段階（時間t2）に制御される。
複数の容器４（4a〜4n）の各容器の被測定液５に照射
し、各被測定液の透過光L1を受光して比色測定する生化
学等の自動分析装置１における光学測定装置２におい
て、自動分析装置の駆動スイツチSWで光学測定装置のラ
ンプ光源３がオン・オフされかつランプ光源の照射光量
を制御する光量制御手段７を有し、生化学等の自動分析
装置１に複数の測定検液や試薬液等をセツトした後、自
動分析装置１を駆動スイツチSWでオン駆動すると光学測
定装置２もオン作動される。光量制御手段７により、前
記のランプ光源３は、先ず駆動スイッチSWで点灯されて
この電圧が０から徐々に増加され、被測定液５を収容し
た複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置に到来す
る前に、光学測定レベル（電圧Vo）の照射光量に上昇さ
せる準備段階（時間t1）に制御されて、大出力で高い照
射光量の光学測定レベル（電圧Vo）に達するとこれを維
持して複数の容器4a〜4nの各容器の被測定液５を順次に
比色測定する光学測定段階（時間t2）に制御される。
前記の準備段階（時間t1）において、ランプ点灯時に
ランプ光源３の電圧が徐々に増加してランプ光源３の出
力が光学測定レベル（電圧Vo）の高い照射光量に上昇す
る。光学測定レベルに達するまでの所要タイムは、自動
分析装置１に組み込まれている複数の容器4a〜4nが公知
の供給手段で移動されその間に血清や試薬等が分注され
て被測定液５を収容し測定位置に供給されるまでの時間
t1で十分に確保されて、被測定液５を収容した最初の容
器4aが測定位置に達する前にランプ光源３が光学測定レ
ベル（電圧Vo）の高い照射光量になる。また、光学測定
段階（時間t2）では、大出力で光学測定レベル（電圧V
o）の高い照射光量に維持された光学照射測定の態様と
なり、この光学測定レベルの照射光Ｌが被測定液を収容
して次々に照射測定位置に供給される容器4a〜4nに照射
され、容器4a〜4nの各容器中の被測定液５が順次に照射
測定される。このランプ点灯時のランプ光源３は、電圧
を徐々に増加して上昇されるためランプの寿命低下、劣
化が効果的に防止され、かつ複数の容器4a〜4nの最後の
容器4nの被測定液の比色測定終了まで理想的な高い照射
光量に維持されて各容器の被測定液５の測定光量に格別
なバラツキがなく、理想的な光学測定レベル（電圧Vo）
の高い照射光量で各被測定液が高精度で能率良く照射測
定される。
ランプ光源３の電圧が徐々に増加してランプ光源３の出
力が光学測定レベル（電圧Vo）の高い照射光量に上昇す
る。光学測定レベルに達するまでの所要タイムは、自動
分析装置１に組み込まれている複数の容器4a〜4nが公知
の供給手段で移動されその間に血清や試薬等が分注され
て被測定液５を収容し測定位置に供給されるまでの時間
t1で十分に確保されて、被測定液５を収容した最初の容
器4aが測定位置に達する前にランプ光源３が光学測定レ
ベル（電圧Vo）の高い照射光量になる。また、光学測定
段階（時間t2）では、大出力で光学測定レベル（電圧V
o）の高い照射光量に維持された光学照射測定の態様と
なり、この光学測定レベルの照射光Ｌが被測定液を収容
して次々に照射測定位置に供給される容器4a〜4nに照射
され、容器4a〜4nの各容器中の被測定液５が順次に照射
測定される。このランプ点灯時のランプ光源３は、電圧
を徐々に増加して上昇されるためランプの寿命低下、劣
化が効果的に防止され、かつ複数の容器4a〜4nの最後の
容器4nの被測定液の比色測定終了まで理想的な高い照射
光量に維持されて各容器の被測定液５の測定光量に格別
なバラツキがなく、理想的な光学測定レベル（電圧Vo）
の高い照射光量で各被測定液が高精度で能率良く照射測
定される。
次に、前記の複数の容器の最後の容器の被測定液の測
定が終了した中断時に、光量制御手段７は、制御装置CP
Uによるこの測定終了信号に基づき、ランプ光源３の電
圧を徐々に低下して低い照射光量の測定待機レベル（電
圧V1）に維持させる測定待機段階（時間t3）に制御す
る。この測定待機段階では、ランプ光源３の電圧が徐々
に低下されて適度の低い照射光量の測定待機レベル（電
圧V1）に維持されるため、ランプ光源の点滅が回避さ
れ、ランプの寿命低下、劣化が防止されるとともに、測
定再開時のランプ光源の立上りタイムが減少されて電圧
を徐々に増加させる制御が可能になり、かなり節電効果
が得られる。
定が終了した中断時に、光量制御手段７は、制御装置CP
Uによるこの測定終了信号に基づき、ランプ光源３の電
圧を徐々に低下して低い照射光量の測定待機レベル（電
圧V1）に維持させる測定待機段階（時間t3）に制御す
る。この測定待機段階では、ランプ光源３の電圧が徐々
に低下されて適度の低い照射光量の測定待機レベル（電
圧V1）に維持されるため、ランプ光源の点滅が回避さ
れ、ランプの寿命低下、劣化が防止されるとともに、測
定再開時のランプ光源の立上りタイムが減少されて電圧
を徐々に増加させる制御が可能になり、かなり節電効果
が得られる。
前記の測定中断時に、自動分析装置１の供給手段等を
適宜の公知手段で一時的に停止し、装置に新たな複数の
測定検液や試薬液等をセツトして供給手段を駆動する
と、光量制御手段７は、制御装置CPUから入力される測
定中断の終了つまり再測定開始の信号に基づき、ランプ
光源３の電圧を徐々に増加させて被測定液５を収容した
新たな複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置に到
来する前に、測定待機レベル（電圧V1）から光学測定レ
ベル（電圧Vo）の高い照射光量に切り換えて維持させる
光学測定段階に制御する。この光学測定段階では、ラン
プ光源３が低い電圧V1から徐々に増加されて新たな複数
の容器の最初の容器4aの供給前に、再び前記のような光
学測定レベル（電圧Vo）の高い照射光量になり同レベル
に維持されて再び光学測定の態様となつて、同様に照射
光量のバラツキがない理想的な光学測定レベル（電圧V
o）の高い照射光量で、被測定液を収容した新たな複数
の容器4a〜4nの各容器が次々に測定位置に供給されて、
この各容器4a〜4nの被測定液５が順次に能率良くかつ高
精度で測定される。この測定再開の場合もランプ光源３
の電圧が徐々に増加されて、節電とともにランプの寿命
低下、劣化が効果的に防止されて前記と同様な優れた測
定性能、信頼性が得られる。
適宜の公知手段で一時的に停止し、装置に新たな複数の
測定検液や試薬液等をセツトして供給手段を駆動する
と、光量制御手段７は、制御装置CPUから入力される測
定中断の終了つまり再測定開始の信号に基づき、ランプ
光源３の電圧を徐々に増加させて被測定液５を収容した
新たな複数の容器4a〜4nの最初の容器4aが測定位置に到
来する前に、測定待機レベル（電圧V1）から光学測定レ
ベル（電圧Vo）の高い照射光量に切り換えて維持させる
光学測定段階に制御する。この光学測定段階では、ラン
プ光源３が低い電圧V1から徐々に増加されて新たな複数
の容器の最初の容器4aの供給前に、再び前記のような光
学測定レベル（電圧Vo）の高い照射光量になり同レベル
に維持されて再び光学測定の態様となつて、同様に照射
光量のバラツキがない理想的な光学測定レベル（電圧V
o）の高い照射光量で、被測定液を収容した新たな複数
の容器4a〜4nの各容器が次々に測定位置に供給されて、
この各容器4a〜4nの被測定液５が順次に能率良くかつ高
精度で測定される。この測定再開の場合もランプ光源３
の電圧が徐々に増加されて、節電とともにランプの寿命
低下、劣化が効果的に防止されて前記と同様な優れた測
定性能、信頼性が得られる。
前記の測定が繰り返されて測定完了になると、駆動ス
イツチSWで自動分析装置１とともに光学測定装置２も同
時にオフとなりランプ光源３も消灯される。
イツチSWで自動分析装置１とともに光学測定装置２も同
時にオフとなりランプ光源３も消灯される。
前記のように本発明の光学測定装置におけるランプ光
源の照射光量制御法は、生化学等の自動分析装置１のオ
ン駆動とともに光学測定装置２のランプ光源３も点灯さ
れ、ランプ光源３は、前記のような準備段階（時間t
1）、光学測定段階（時間t2）、測定中断段階（時間t
3）、さらに測定再開の光学測定段階の順序で制御され
て、点灯から複数の容器4a〜4nの繰り返し測定の完了ま
でランプ光源が消灯されず、点灯時及び測定中断後の再
開時のランプ光源３の電圧が徐々に増加されて高い照射
光量の光学測定レベル（電圧Vo）に立ち上げられるな
ど、総合的にランプ光源３に特有な課題をランプ寿命が
著しく改善されてランプ劣化が著しく低減され、節電さ
れて高精度で能率良く測定されるなど、優れた測定性
能、信頼性が得られる。
源の照射光量制御法は、生化学等の自動分析装置１のオ
ン駆動とともに光学測定装置２のランプ光源３も点灯さ
れ、ランプ光源３は、前記のような準備段階（時間t
1）、光学測定段階（時間t2）、測定中断段階（時間t
3）、さらに測定再開の光学測定段階の順序で制御され
て、点灯から複数の容器4a〜4nの繰り返し測定の完了ま
でランプ光源が消灯されず、点灯時及び測定中断後の再
開時のランプ光源３の電圧が徐々に増加されて高い照射
光量の光学測定レベル（電圧Vo）に立ち上げられるな
ど、総合的にランプ光源３に特有な課題をランプ寿命が
著しく改善されてランプ劣化が著しく低減され、節電さ
れて高精度で能率良く測定されるなど、優れた測定性
能、信頼性が得られる。
前記の実施例において、光学測定段階（時間t2）で連
続的に測定する複数の容器の個数や連続測定の繰り返し
回数等は必要に応じ自在に変更可能である。また、必要
に応じ前記の駆動スイツチで装置を停止してランプ光源
を消灯することも可能である。
続的に測定する複数の容器の個数や連続測定の繰り返し
回数等は必要に応じ自在に変更可能である。また、必要
に応じ前記の駆動スイツチで装置を停止してランプ光源
を消灯することも可能である。
（発明の効果） 本発明は、前述のように構成され光学測定装置の照射
用としてランプ光源を適用し、このランプ光源を自動分
析装置の駆動スイツチで点灯すると、光量制御手段によ
り、準備段階のランプ光源は、点灯時に電圧が徐々に増
加されて被測定液を収容した複数の容器の最初の容器が
測定位置に到来する前に、光学測定レベルの照射光量に
上昇するように制御されて、ランプの寿命、劣化が効果
的に防止されて大出力で高い照射光量の光学測定レベル
になり、次に光学測定段階のランプ光源は、高い照射光
量の光学測定レベルに維持されて照射光量に格別なバラ
ツキがなく、複数の容器の各容器の被測定液を理想的な
高い照射光量で順次に能率良く高精度で測定して優れた
測定性能、信頼性が得られる。さらに、測定中断段階の
ランプ光源は、前記の複数の容器の各容器の比色測定終
了後の中断時に、低い電圧で低い照射光量の測定待機レ
ベルに維持されて、ランプ点滅が回避され、ランプの寿
命低下、劣化を防止して大幅な節電を可能とする。測定
再開時のランプ光源は、電圧を徐々に増加して、被測定
液を収容した新たな複数の容器の最初の容器が測定位置
に到来する前に、測定待機レベルから前記の光学測定レ
ベルの高い照射光量に切り換えて維持させる光学測定段
階に制御され、光学測定レベルへの立ち上がりが早く高
い照射光量の光学測定レベルに維持されて照射光量に格
別なバラツキがなく、新たな複数の容器の各容器の被測
定液を順次に理想的な高照射光量下で順次に能率良く高
精度で測定して優れた信頼性が得られる。
用としてランプ光源を適用し、このランプ光源を自動分
析装置の駆動スイツチで点灯すると、光量制御手段によ
り、準備段階のランプ光源は、点灯時に電圧が徐々に増
加されて被測定液を収容した複数の容器の最初の容器が
測定位置に到来する前に、光学測定レベルの照射光量に
上昇するように制御されて、ランプの寿命、劣化が効果
的に防止されて大出力で高い照射光量の光学測定レベル
になり、次に光学測定段階のランプ光源は、高い照射光
量の光学測定レベルに維持されて照射光量に格別なバラ
ツキがなく、複数の容器の各容器の被測定液を理想的な
高い照射光量で順次に能率良く高精度で測定して優れた
測定性能、信頼性が得られる。さらに、測定中断段階の
ランプ光源は、前記の複数の容器の各容器の比色測定終
了後の中断時に、低い電圧で低い照射光量の測定待機レ
ベルに維持されて、ランプ点滅が回避され、ランプの寿
命低下、劣化を防止して大幅な節電を可能とする。測定
再開時のランプ光源は、電圧を徐々に増加して、被測定
液を収容した新たな複数の容器の最初の容器が測定位置
に到来する前に、測定待機レベルから前記の光学測定レ
ベルの高い照射光量に切り換えて維持させる光学測定段
階に制御され、光学測定レベルへの立ち上がりが早く高
い照射光量の光学測定レベルに維持されて照射光量に格
別なバラツキがなく、新たな複数の容器の各容器の被測
定液を順次に理想的な高照射光量下で順次に能率良く高
精度で測定して優れた信頼性が得られる。
前記のように複数の容器の各容器の被測定液を順次に
比色測定する光学測定段階が測定中断時を介し繰り返さ
れて、総合的にランプ寿命低下、劣化が効果的に防止さ
れ、かつ節電され、能率良く測定されるなど測定性能、
信頼性を著しく向上している。
比色測定する光学測定段階が測定中断時を介し繰り返さ
れて、総合的にランプ寿命低下、劣化が効果的に防止さ
れ、かつ節電され、能率良く測定されるなど測定性能、
信頼性を著しく向上している。
図面はこの発明の一実施例を示すものであつて、第１図
は自動分積装置とこれに組み込まれた光学測定装置との
構成を概略的に示す構成説明図、第２図は、光量制御手
段によるランプ光源への電力供給とそのタイミングとの
関係を示すクラフ図である。 （符号の説明） １……自動分析装置 ２……光学測定装置 ３……ランプ光源 ４（4a〜4n）……容器 ５……被測定液 ６……受光素子 ７……光量制御手段 SW……駆動スイツチ CPU……制御装置 Ｌ……照射光 L1……透過光 Vo……光学測定レベルの電圧 V1……測定待機レベルの電圧 t1……準備段階の時間 t2……光学測定段階の時間 t3……測定待機段階の時間
は自動分積装置とこれに組み込まれた光学測定装置との
構成を概略的に示す構成説明図、第２図は、光量制御手
段によるランプ光源への電力供給とそのタイミングとの
関係を示すクラフ図である。 （符号の説明） １……自動分析装置 ２……光学測定装置 ３……ランプ光源 ４（4a〜4n）……容器 ５……被測定液 ６……受光素子 ７……光量制御手段 SW……駆動スイツチ CPU……制御装置 Ｌ……照射光 L1……透過光 Vo……光学測定レベルの電圧 V1……測定待機レベルの電圧 t1……準備段階の時間 t2……光学測定段階の時間 t3……測定待機段階の時間
Claims (1)
- 【請求項１】ランプ光源から出力する照射光を多数の容
器内の各被測定液に照射し、各被測定液の透過光を受光
して比色測定する生化学等の自動分析装置における光学
測定装置において、自動分析装置の駆動スイツチで光学
測定装置のランプ光源がオン・オフされかつ同ランプ光
源の照射光量を制御する光量制御手段を有し、前記の光
量制御手段により、前記の駆動スイツチで点灯されたラ
ンプ光源の電圧を徐々に増加させて被測定液を収容した
複数の容器の最初の容器が測定位置に到来する前に、光
学測定レベルの照射光量に上昇させる準備段階に制御
し、次いで光学測定レベルに維持させて被測定液を収容
した複数の容器の各容器の被測定液を順次に比色測定す
る光学測定段階に制御し、前記複数の容器の最後の容器
の被測定液の比色測定終了後の中断時に電圧を低下し低
い照射光量の測定待機レベルにして維持させる測定待機
段階に制御した後、被測定液を収容した新たな複数の容
器の供給に際しランプ光源の電圧を徐々に増加させて被
測定液を収容した新たな複数の容器の最初の容器が測定
位置に到来する前に、測定待機レベルから光学測定レベ
ルの照射光量に切り換えて維持させる光学測定段階に制
御して、新たな複数の容器の各容器の被測定液を順次に
比色測定することを特徴とする光学測定装置におけるラ
ンプ光源の照射光量制御法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60173054A JPH0812149B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60173054A JPH0812149B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6234035A JPS6234035A (ja) | 1987-02-14 |
| JPH0812149B2 true JPH0812149B2 (ja) | 1996-02-07 |
Family
ID=15953358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60173054A Expired - Lifetime JPH0812149B2 (ja) | 1985-08-06 | 1985-08-06 | 光学測定装置におけるランプ光源の照射光量制御法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0812149B2 (ja) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| ITRE20060010A1 (it) * | 2006-02-01 | 2007-08-02 | Sacmi | Dispositivo portatile per il controllo della qualita' dei prodotti |
| US20070278384A1 (en) * | 2006-06-01 | 2007-12-06 | Optiscan Biomedical Corporation | Method and apparatus for driving a radiation source |
| US20110058984A1 (en) * | 2008-05-08 | 2011-03-10 | Hitachi High-Technologies Corporation | Automatic analyzer |
| JP6279234B2 (ja) * | 2013-07-01 | 2018-02-14 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6015167Y2 (ja) * | 1979-10-31 | 1985-05-14 | 電気化学計器株式会社 | 比色分析装置 |
| JPS6015167U (ja) * | 1983-07-12 | 1985-02-01 | ダイワ精工株式会社 | 魚釣用両軸受型リ−ル |
-
1985
- 1985-08-06 JP JP60173054A patent/JPH0812149B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6234035A (ja) | 1987-02-14 |
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