JP2534624Y2 - 自動分析装置 - Google Patents
自動分析装置Info
- Publication number
- JP2534624Y2 JP2534624Y2 JP1990064373U JP6437390U JP2534624Y2 JP 2534624 Y2 JP2534624 Y2 JP 2534624Y2 JP 1990064373 U JP1990064373 U JP 1990064373U JP 6437390 U JP6437390 U JP 6437390U JP 2534624 Y2 JP2534624 Y2 JP 2534624Y2
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- Japan
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- light
- time
- wavelength
- predetermined
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
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Description
【考案の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この考案は、複数の反応容器に対して分析項目に応じ
た試薬を分注し、光学的手段を用いて各検体の吸光度変
化を測定する自動分析装置に係り、特に、光量サンプリ
ングを高精度に行うことができる自動分析装置に関す
る。
た試薬を分注し、光学的手段を用いて各検体の吸光度変
化を測定する自動分析装置に係り、特に、光量サンプリ
ングを高精度に行うことができる自動分析装置に関す
る。
第４図は、特公平１−47744号公報に示す従来の自動
分析装置の概略を示すものである。
分析装置の概略を示すものである。
これは、回転可能な反応テーブル１に複数の反応容器２
を配置し、光源３と、該光源３から照射される光束４を
受光して波長分析を行う光度計５及びマイクロプロセッ
サ装置６が設けられ、前記反応テーブル１が所定ピッチ
で回転駆動されることにより各反応容器２が光束４を順
次通過し、その間に反応容器２を透過した光が光度計５
及びマイクロプロセッサ装置６において分析され、CRT7
またはプリンタ装置８によって吸光度変化が表示される
ように構成されている。
を配置し、光源３と、該光源３から照射される光束４を
受光して波長分析を行う光度計５及びマイクロプロセッ
サ装置６が設けられ、前記反応テーブル１が所定ピッチ
で回転駆動されることにより各反応容器２が光束４を順
次通過し、その間に反応容器２を透過した光が光度計５
及びマイクロプロセッサ装置６において分析され、CRT7
またはプリンタ装置８によって吸光度変化が表示される
ように構成されている。
ところで、かかる従来の自動分析装置は、例えば、病
理学上の抗原抗体反応過程を分析する際に用いられるも
のであり、各反応容器２は、符号10で示す位置において
蒸留水等により洗浄された後、符号11の位置で血清等の
検体が分注され、次いで、符号12の位置で第１試薬を、
13の位置で第２試薬が分注される。尚、符号14,15は撹
拌する位置を示す。
理学上の抗原抗体反応過程を分析する際に用いられるも
のであり、各反応容器２は、符号10で示す位置において
蒸留水等により洗浄された後、符号11の位置で血清等の
検体が分注され、次いで、符号12の位置で第１試薬を、
13の位置で第２試薬が分注される。尚、符号14,15は撹
拌する位置を示す。
これら各洗浄、試薬の分注、撹拌などの過程は、予め
自動分析装置の制御部（CPU）にプログラミングされ、
また、反応容器２は、光束４を所定速度で通過して透過
光サンプリングを受けるため、上記反応テーブル１の駆
動ピッチ量は高い精度が要求される。
自動分析装置の制御部（CPU）にプログラミングされ、
また、反応容器２は、光束４を所定速度で通過して透過
光サンプリングを受けるため、上記反応テーブル１の駆
動ピッチ量は高い精度が要求される。
ところで、上記従来の自動分析装置における反応テー
ブルの回転制御は、光パルスを利用したエンコーダ等の
センサ技術が用いられるため、透光ポジションの設定が
機械的となって、その微調整が非常に難しく、透光ポジ
ションが少しでもずれた場合には、正確な光量測定結果
が得られなくなる、という問題を有していた。
ブルの回転制御は、光パルスを利用したエンコーダ等の
センサ技術が用いられるため、透光ポジションの設定が
機械的となって、その微調整が非常に難しく、透光ポジ
ションが少しでもずれた場合には、正確な光量測定結果
が得られなくなる、という問題を有していた。
即ち、例えば、エンコーダを用いて反応テーブル一周
を920パルスに分割し、反応容器の数を46個とした場
合、一つの反応容器から次の反応容器への移動制御量は
20パルスに相当する。但し、実際の駆動時は、１回転
（920）−１ピッチ（20）＝900パルス分の駆動という具
合に制御するわけであるが、いずれにしろ、上記従来の
自動分析装置にあっては、パルスのカウントミスが生ず
る場合もあり、また、基準ポジションの設定調整に熟練
性を要する他、長時間の分析過程で徐々に透光ポジショ
ンがずれていく可能性は避けられない。
を920パルスに分割し、反応容器の数を46個とした場
合、一つの反応容器から次の反応容器への移動制御量は
20パルスに相当する。但し、実際の駆動時は、１回転
（920）−１ピッチ（20）＝900パルス分の駆動という具
合に制御するわけであるが、いずれにしろ、上記従来の
自動分析装置にあっては、パルスのカウントミスが生ず
る場合もあり、また、基準ポジションの設定調整に熟練
性を要する他、長時間の分析過程で徐々に透光ポジショ
ンがずれていく可能性は避けられない。
これを第５図に基きより詳細に説明すると、反応容器
２に対する光束４の照射は、反応テーブルのカセット17
に設けた細微な光孔18に向けて行われる。これは光の乱
反射等を防止して、より正確な吸光度測定を行うためで
ある。ところが、前述したように反応容器２に対する透
光ポジションが徐々にずれ込んでいくと、光孔18の中心
が光軸から外れ、十分な光量が得られないまま透過光デ
ータのサンプリングが行われ、結果的に分析内容の信頼
性が低下する結果となる、という問題を有していた。
２に対する光束４の照射は、反応テーブルのカセット17
に設けた細微な光孔18に向けて行われる。これは光の乱
反射等を防止して、より正確な吸光度測定を行うためで
ある。ところが、前述したように反応容器２に対する透
光ポジションが徐々にずれ込んでいくと、光孔18の中心
が光軸から外れ、十分な光量が得られないまま透過光デ
ータのサンプリングが行われ、結果的に分析内容の信頼
性が低下する結果となる、という問題を有していた。
この考案は、かかる現状に鑑み創案されたものであっ
て、その目的とするところは、十分な光量に基づいて透
過光分析を行うことで、測定結果の信頼性をより向上さ
せることができる構成が簡易な自動分析装置を提供しよ
うとするものである。
て、その目的とするところは、十分な光量に基づいて透
過光分析を行うことで、測定結果の信頼性をより向上さ
せることができる構成が簡易な自動分析装置を提供しよ
うとするものである。
上記目的を達成するため、この考案にあっては、複数
の反応容器を所定タイミングで駆動する駆動系手段と、
該反応容器に測定光を照射して透過光の吸光度変化を測
定する光学系手段と、を備える自動分析装置に、透過光
サンプリングの開始時期を選択するタイミング選択手段
を設け、該タイミング選択手段は、光学系で波長分解さ
れた各透過光の複数の波長の中から変換電圧値が十分に
大きな波長の電圧値を選択し、この選択された波長の電
圧値が予め定められた基準電圧値を越えた時点から所定
時間後に、上記透過光サンプリングを所定時間開始する
ように制御したことを特徴とするものである。
の反応容器を所定タイミングで駆動する駆動系手段と、
該反応容器に測定光を照射して透過光の吸光度変化を測
定する光学系手段と、を備える自動分析装置に、透過光
サンプリングの開始時期を選択するタイミング選択手段
を設け、該タイミング選択手段は、光学系で波長分解さ
れた各透過光の複数の波長の中から変換電圧値が十分に
大きな波長の電圧値を選択し、この選択された波長の電
圧値が予め定められた基準電圧値を越えた時点から所定
時間後に、上記透過光サンプリングを所定時間開始する
ように制御したことを特徴とするものである。
また、この考案にあっては、前記タイミング選択手段
は、選択された波長の電圧値が予め定められた基準電圧
値を越えた時点と該波長の電圧値が上記基準電圧値を下
回った時点との中間時点を中心として、その前後で透過
光サンプリングを所定時間開始するように制御してもよ
い。
は、選択された波長の電圧値が予め定められた基準電圧
値を越えた時点と該波長の電圧値が上記基準電圧値を下
回った時点との中間時点を中心として、その前後で透過
光サンプリングを所定時間開始するように制御してもよ
い。
以下、添付図面に示す一実施例に基きこの考案を詳細
に説明する。
に説明する。
第１図は、この実施例に係る自動分析装置を示すもの
であり、符号20は図示しない駆動装置により回転制御を
受ける反応テーブル、21は該反応テーブル20に所定の順
序で配列される反応容器、22は光源、23は光源22から照
射される光束、24は反応容器21を透過した光束を波長分
解して各波長の光量を測定する多波長光度計、25は該光
度計24の出力に基づき反応容器21内の試料による吸光度
変化量を算出する吸光度積算装置、26は分析結果等を表
示する表示装置、27は印字表示のためのプリンタ装置で
ある。
であり、符号20は図示しない駆動装置により回転制御を
受ける反応テーブル、21は該反応テーブル20に所定の順
序で配列される反応容器、22は光源、23は光源22から照
射される光束、24は反応容器21を透過した光束を波長分
解して各波長の光量を測定する多波長光度計、25は該光
度計24の出力に基づき反応容器21内の試料による吸光度
変化量を算出する吸光度積算装置、26は分析結果等を表
示する表示装置、27は印字表示のためのプリンタ装置で
ある。
そして、前記吸光度積算装置25は、光度計24から入力
した各波長の光量電圧値（V1，V2，V3…）と予め定めた
基準電圧値V0とを比較して、当該基準電圧値V0を越える
光量電圧があったとき後段へ出力する比較回路30と、該
比較回路30の出力に基づき透過光電圧（V1，V2，V3…）
のサンプリングタイミングを決定するタイミング決定回
路31と、該タイミング決定回路31からの指令信号に基づ
き透過光電圧値（V1，V2，V3…）を所定タイミングでメ
モリ回路に格納していくサンプリング回路32とを備えて
構成されている。尚、符号10〜15は、第４図の従来装置
と同様の、試料サンプリング位置、第１及び第２試薬分
注位置、撹拌位置を示すものである。また、試薬、試料
の分注機構等は従来技術と同様のものを適用できること
はいうまでもない。
した各波長の光量電圧値（V1，V2，V3…）と予め定めた
基準電圧値V0とを比較して、当該基準電圧値V0を越える
光量電圧があったとき後段へ出力する比較回路30と、該
比較回路30の出力に基づき透過光電圧（V1，V2，V3…）
のサンプリングタイミングを決定するタイミング決定回
路31と、該タイミング決定回路31からの指令信号に基づ
き透過光電圧値（V1，V2，V3…）を所定タイミングでメ
モリ回路に格納していくサンプリング回路32とを備えて
構成されている。尚、符号10〜15は、第４図の従来装置
と同様の、試料サンプリング位置、第１及び第２試薬分
注位置、撹拌位置を示すものである。また、試薬、試料
の分注機構等は従来技術と同様のものを適用できること
はいうまでもない。
次に、以上のように構成された自動分析装置の作動を
説明する。
説明する。
第２図に示すように、いま、二つの反応容器21A,21B
が順次光束23を横切って図中矢印方向へ移動する場合、
透過光の検出電圧レベルは第３図に示すような台形波形
となる。
が順次光束23を横切って図中矢印方向へ移動する場合、
透過光の検出電圧レベルは第３図に示すような台形波形
となる。
第３図に示す検出電圧（光量電圧）は、光度計24で波
長分解された複数の波長の中で最も変換電圧値の高いも
の（即ち最も光量が強いもの）を例示するもので、他の
波長についても同様の電圧波形が得られるが、光量が十
分でない場合は、透過光サンプリングを開始できないの
で、この実施例では最も光量が大きな波長の電圧値に基
づきサンプリング開始を決定する。
長分解された複数の波長の中で最も変換電圧値の高いも
の（即ち最も光量が強いもの）を例示するもので、他の
波長についても同様の電圧波形が得られるが、光量が十
分でない場合は、透過光サンプリングを開始できないの
で、この実施例では最も光量が大きな波長の電圧値に基
づきサンプリング開始を決定する。
ここで、比較回路30は、各波長の電圧値と基準電圧値
V0とを比較し、時間t1において、ある特定波長の電圧値
が予め定めた閾値（即ち基準電圧V0）を越えたときに後
段へ出力し、その出力を受けてタイミング決定回路31
は、それから所定時間（例えば680μsec）経過後の時間
t2から透過光サンプリングを開始するよう決定する。
V0とを比較し、時間t1において、ある特定波長の電圧値
が予め定めた閾値（即ち基準電圧V0）を越えたときに後
段へ出力し、その出力を受けてタイミング決定回路31
は、それから所定時間（例えば680μsec）経過後の時間
t2から透過光サンプリングを開始するよう決定する。
透過光サンプリングの回数、サンプリング間隔は予め
定めたタイムテーブルに従って行うものであり、例え
ば、２波長測定の場合（一般測定時）は各波長30本のサ
ンプリングを行う。尚、この２波長測光の場合には、前
記タイミング選択手段として、反応しない副波長を使用
し、また、１波長測光のときには、予め決められた１波
長或は複数波長を自動的に選択して使用すればよい。
定めたタイムテーブルに従って行うものであり、例え
ば、２波長測定の場合（一般測定時）は各波長30本のサ
ンプリングを行う。尚、この２波長測光の場合には、前
記タイミング選択手段として、反応しない副波長を使用
し、また、１波長測光のときには、予め決められた１波
長或は複数波長を自動的に選択して使用すればよい。
光量サンプリング間隔は、反応容器21が光束23を横切
る時間、或は、反応容器21の停止時間等によって可変の
ものであるが、170μsec程度の時間間隔で光量サンプリ
ングを実行すれば、信頼性ある十分な回数の光量サンプ
リングを行い得る。
る時間、或は、反応容器21の停止時間等によって可変の
ものであるが、170μsec程度の時間間隔で光量サンプリ
ングを実行すれば、信頼性ある十分な回数の光量サンプ
リングを行い得る。
サンプリング回路32は、これらの光量サンプリング指
令に基づいて透過光データを積算するわけであるが、所
定回数の光量サンプリングを実行した時間t3以降は、波
長の電圧値が基準電圧値V0以上であってもサンプリング
を終了する。
令に基づいて透過光データを積算するわけであるが、所
定回数の光量サンプリングを実行した時間t3以降は、波
長の電圧値が基準電圧値V0以上であってもサンプリング
を終了する。
尚、光量サンプリングの他の方法としては、光量電圧
値が基準電圧V0を越えた時点t1と、光量電圧値が基準電
圧V0を下回った時点t4とを捉え、その中間時点（t1＋t4
/2）を中心として、その前後で所定回数のサンプリング
を実行することも可能である。
値が基準電圧V0を越えた時点t1と、光量電圧値が基準電
圧V0を下回った時点t4とを捉え、その中間時点（t1＋t4
/2）を中心として、その前後で所定回数のサンプリング
を実行することも可能である。
この場合は、光量電圧値を一旦レジスタに格納してお
き、中心時間算出後に当該電圧データを読み出してサン
プリング回路に送り込むようにすればよい。
き、中心時間算出後に当該電圧データを読み出してサン
プリング回路に送り込むようにすればよい。
以上説明したように、この考案に係る自動分析装置に
よれば、透過光の変換電圧値（光量電圧値）が予め定め
た閾値（基準電圧）を越えたときに、所定タイミングで
光量サンプリングを開始するタイミング選択手段を設け
たので、反応容器の光束通過ポジションが徐々にずれる
ようなことがあっても、十分な光量に基づく吸光度変化
量測定が可能となり、従って、分析結果の信頼性が一層
向上する、という優れた効果を奏する。
よれば、透過光の変換電圧値（光量電圧値）が予め定め
た閾値（基準電圧）を越えたときに、所定タイミングで
光量サンプリングを開始するタイミング選択手段を設け
たので、反応容器の光束通過ポジションが徐々にずれる
ようなことがあっても、十分な光量に基づく吸光度変化
量測定が可能となり、従って、分析結果の信頼性が一層
向上する、という優れた効果を奏する。
第１図はこの考案の一実施例に係る自動分析装置の構成
を示すブロック図、第２図及び第３図は同自動分析装置
の作動例を示すための説明図、第４図は従来の自動分析
装置例を示すブロック図、第５図は反応容器を収納する
カセットを例示する一部切欠斜視図である。 〔符号の説明〕 22……光源、23……光束 24……光度計、25……吸光度積算装置 30……比較回路（タイミング選択手段） 31……タイミング決定回路（タイミング選択手段） 32……サンプリング回路
を示すブロック図、第２図及び第３図は同自動分析装置
の作動例を示すための説明図、第４図は従来の自動分析
装置例を示すブロック図、第５図は反応容器を収納する
カセットを例示する一部切欠斜視図である。 〔符号の説明〕 22……光源、23……光束 24……光度計、25……吸光度積算装置 30……比較回路（タイミング選択手段） 31……タイミング決定回路（タイミング選択手段） 32……サンプリング回路
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 鬼塚 昌典 東京都小金井市中町４丁目13番14号 株 式会社ニッテク内 (56)参考文献 特開 昭57−60248（ＪＰ，Ａ) 特開 平２−85745（ＪＰ，Ａ)
Claims (2)
- 【請求項１】複数の反応容器を所定タイミングで駆動す
る駆動系手段と、該反応容器に測定光を照射して透過光
の吸光度変化を測定する光学系手段と、を備える自動分
析装置に、透過光サンプリングの開始時期を選択するタ
イミング選択手段を設け、該タイミング選択手段は、光
学系で波長分解された各透過光の複数の波長の中から変
換電圧値が十分に大きな波長の電圧値を選択し、この選
択された波長の電圧値が予め定められた基準電圧値を越
えた時点から所定時間後に、上記透過光サンプリングを
所定時間開始するように制御されていることを特徴とす
る自動分析装置。 - 【請求項２】前記タイミング選択手段は、選択された波
長の電圧値が予め定められた基準電圧値を越えた時点と
該波長の電圧値が上記基準電圧値を下回った時点との中
間時点を中心として、その前後で透過光サンプリングを
所定時間開始するように制御されていることを特徴とす
る請求項１に記載の自動分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990064373U JP2534624Y2 (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 自動分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1990064373U JP2534624Y2 (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 自動分析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0424064U JPH0424064U (ja) | 1992-02-27 |
| JP2534624Y2 true JP2534624Y2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=31595261
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1990064373U Expired - Lifetime JP2534624Y2 (ja) | 1990-06-20 | 1990-06-20 | 自動分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2534624Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4598682B2 (ja) * | 2006-01-23 | 2010-12-15 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 自動分析装置 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4308231A (en) * | 1980-08-11 | 1981-12-29 | Coulter Electronics, Inc. | Optical timing and A/D conversion method and apparatus |
| JPH0792432B2 (ja) * | 1988-09-22 | 1995-10-09 | 株式会社東芝 | 自動化学分析装置 |
-
1990
- 1990-06-20 JP JP1990064373U patent/JP2534624Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0424064U (ja) | 1992-02-27 |
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