JPH0782062B2 - 電気接点検査装置及びその検査方法 - Google Patents

電気接点検査装置及びその検査方法

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JPH0782062B2
JPH0782062B2 JP2045836A JP4583690A JPH0782062B2 JP H0782062 B2 JPH0782062 B2 JP H0782062B2 JP 2045836 A JP2045836 A JP 2045836A JP 4583690 A JP4583690 A JP 4583690A JP H0782062 B2 JPH0782062 B2 JP H0782062B2
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electrical contact
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都広 土屋
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Mitsubishi Pencil Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は電子部品としての電気接点の検査装置及びその
検査方法に係り、より詳しくは二股形状の電気接点の隙
間寸法が正常か否かを検査する電気接点検査装置及びそ
の検査方法に関する。
〔従来の技術〕
一般に、電子部品としてのコネクタにおける二股形状の
電気接点1は第5図に示すように先端に隙間1aを有し、
この隙間1aは概ね1mmの狭小であって、従来では隙間1a
の寸法が正常が否かを画像処理装置によって検査してい
る。
すなわち、上記画像処理装置はテレビカメラのような撮
像機で二股形状の電気接点1を撮像し、この映像を受像
機に拡大して映し出し、受像機の画面上において電気接
点1の先端部の左右方向及び上下方向の座標を読取るこ
とで、隙間1aの寸法が正常か否かを検査している。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながら、上記画像処理装置は撮像機や受像機など
が必要であるため、構造が複雑であるとともに高価であ
り、そして上記画像処理装置は電気接点1を一個づつ受
像機に映し出して検査するため、検査に要する時間が長
くなってしまうという問題点があった。
そこで、本発明は上記事情を考慮してなされたもので、
その目的とするところは、機械的接触方式を用いて安価
で、且つ検査時間を短縮化した電気接点検査装置及びそ
の検査方法を提供することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を達成するために、本発明に係る電気接点検
査装置にあっては、櫛歯形状に形成し且つ二股形状に形
成した被検査電気接点の隙間許容範囲における最小許容
値に等しく厚さを設定した導電性のゲージと、このゲー
ジを固定して被検査電気接点の開口部方向に所定距離移
動させる第一の移動手段と、この第一の移動手段による
ゲージの移動方向に対して直交する両方向にゲージを所
定距離各々移動させる第二の移動手段と、上記被検査電
気接点とゲージの各端部を電気的に接続する接続手段と
を備え、上記第二の移動手段でゲージを所定距離各々移
動させた際に上記被検査電気接点との間で導通の成否を
各々識別することを特徴とする。
上記第一の移動手段が被検査電気接点の開口部方向に対
して逆方向に移動した場合に、これを近接スイッチで検
知することが好ましい。
また、本発明に係る電気接点検査方法は、櫛歯形状に形
成し且つ二股形状に形成した被検査電気接点の隙間許容
範囲における最小許容値に等しく厚さを設定した導電性
のゲージを被検査電気接点の開口部方向に所定距離移動
させ、次いで上記ゲージを被検査電気接点の開口部方向
に対して直交する両方向に所定距離各々移動させて被検
査電気接点とゲージとの間で導通の成否を各々識別する
ことを特徴とする。
〔作用〕
上記の構成を有する本発明において、被検査電気接点の
隙間が所定の許容範囲にあるときは、まずゲージを被検
査電気接点の開口部方向に所定距離移動させ、次いでゲ
ージを被検査電気接点の開口部方向に対して直交する両
方向に所定距離各々移動させると、その両方向において
ゲージが被検査電気接点との間で導通することとなっ
て、隙間が正常寸法であると識別される。ここで、隙間
が所定の許容範囲における最大許容値を超えたとき、或
いは被検査電気接点の先端が破損している場合には、少
なくとも一方の接点がゲージとの間で不導通となる。
また、被検査電気接点の隙間が所定の許容範囲における
最小許容値に満たないときは、ゲージを開口部方向に所
定距離移動させようとしても、ゲージの厚さを被検査電
気接点の隙間許容範囲における最小許容値に等しく設定
していることから、隙間に挿入不可能である。
〔実 施 例〕
以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第4
図及び第5図に示すように、検査を受ける二股形状の被
検査電気接点1はその先端に概ね1mmと狭小な隙間1aが
形成されており、被検査電気接点1はハウジング3に形
成した複数の凹部に圧入され多極数とされている。ゲー
ジ2は全体の厚さを被検査電気接点1を隙間許容範囲の
最小許容値に等しく設定することにより、最小許容値に
満たない隙間に対して開口部方向への挿入を不可能とし
ている。このゲージ2は櫛歯形状に形成されていること
から、ハウジング3に圧入された多極数の被検査電気接
点1を一度で検査することができるようになっている。
ゲージ2は導電性を有しホルダー4によって固定保持さ
れている。基台5は図示しない治具に固定した被検査電
気接点1に向って前後移動可能であり、基台5の上部に
は同様に被検査電気接点1に向って摺動自在に第一の移
動手段としてのスライダー6を取付けている。このスラ
イダー6にはホルダー4を一体的に固定している。これ
により、ゲージ2も基台5に対するスライダー6の摺動
により被検査電気接点1に向って前後移動可能である。
なお、基台5は図示しない駆動源によって被検査電気接
点1に向って所定距離前後移動するように構成されてい
る。
スライダー6の後端部にはスライダー6を前方向に付勢
するスプリング7の一端が装着されているとともに、ス
プリング7の他端が基台5の後部に固定された支持台8
に螺合する調節ねじ9の先端に取付けられ、スプリング
7の付勢力は調節ねじ9を調節することで変更可能にな
っている。また、基台5に対するスライダー6の前進限
の位置は支持台8の上部に設けたストッパねじ10によっ
て調節可能になっている。そして、スライダー6の後退
位置と対応する位置の支持台8には近接スイッチ11が配
置されている。
基台5は第二の移動手段としてのリフター12に取付けら
れ、このリフター12は基台5を図示しない駆動源によっ
て所定距離上下動可能に構成している。
検査を受ける電気接点1の後端部には、接続手段として
の接続端子13が取付けられ、接続端子13としてはプロー
ブが用いられ、このプローブにはゲージ2の後端部と接
続するためのCOM(共通)端子が備えられている。そし
て、接続端子13とゲージ2の後端部との間には、被検査
電気接点1にゲージ2の先端部が接触して導通状態にな
った場合にこれを識別するために、電流計或いはブザー
やランプなどの識別手段,これを作動させるための電源
などが接続されている。
次に、本実施例の作用を説明する。
ゲージ2の上下方向の位置が被検査電子接点1の隙間1a
の中心となる位置でリフター12を停止させた状態におい
て、隙間1aが所定の許容範囲にあるときは基台5が被検
査電気接点1に対し、所定位置まで前進して、第3図
(A)に示すようにゲージ2は被検査電気接点1の開口
部方向より隙間1aに挿入される。
次いで、リフター12が上下方向に隙間1aの最大許容値の
範囲で移動を行う。すなわち、ゲージ2を被検査電気接
点1の開口部方向に対して直交する両方向に所定距離各
々移動させる。すると、第3図(B),(C)に示すよ
うにゲージ2は被検査電気接点1と接続端子13との間で
共に導通状態となる。
ここで、被検査電気接点1の隙間1aが所定の許容範囲に
おける最小許容値に満たないときは、基台5が所定位置
までに前進してもゲージ2が被検査電気接点1の隙間1a
に挿入できず、第3図(D)に示すように電気接点1の
先端にゲージ2の先端が当接するので、ゲージ2は押し
返されてスライダー6が基台5に対して後退し、スライ
ダー6の後端部が近接スイッチ11により検出されること
になる。
他方、被検査電気接点1の隙間1aが所定の許容範囲にお
ける最大許容値を超えたときは、第3図(E),(F)
に示すようにリフター12の上下移動において、ゲージ2
と被検査電気接点1は非接触状態となるので、接続端子
13の間で非導通状態となる。また、被検査電気接点1の
先端が破損している場合も同図(G)に示すようにいず
れか一方の接点が接続端子13の間で非導通状態となる。
したがって、双方の接点が共に接続端子13の間で導通す
るときのみ、ブザーやランプなどの識別手段が作動して
被検査電気接点1の隙間1aの寸法が正常であると確認さ
れる。また、スライダー6の後退が近接スイッチ11によ
り検出された場合は隙間1aが狭すぎると識別される。そ
して、少なくとも一方の接点と接続端子13との間が非導
通となった場合は被検査電気接点1の隙間1aが広すぎる
か、或いは電気接点1の先端部に破損が生じているもの
と識別される。
ここで、導通を確認するタイミングとしてはリフター12
の上死点と下死点の二箇所において行うこととする。
このように本実施例によれば、ゲージ2を上下動させて
被検査電気接点1との間で導通の成否をブザーやランプ
などの識別手段の作動によって識別するようにしたの
で、被検査電気接点1の隙間1aの寸法が正常であるか否
か及び電気接点1先端部の破損を即座に確認することが
できる。
なお、本発明は上記実施例に限らず種々の変更が可能で
ある。例えば、上記実施例ではリフター12の上部に基台
5を前後移動可能に設け、基台5を介してスライダー6
を前後移動可能としたが、リフター12の上部に直接スラ
イダー6を設けてもよい。この場合には支持台12も直接
リフター12に固定しておく。
また、上記実施例では被検査電気接点1に対して基台5
を前後移動可能とするとともに、リフター12を上下動可
能に構成したが、これに限らず被検査電気接点1の開口
部方向を上記実施例から例えば90度回転させた場合には
電気接点検査装置も同様に90度回転させた構成とし、こ
の場合リフター12はゲージ2を被検査電気接点1の開口
部方向に対して直交する左右両方向に各々移動させる構
成となる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、本発明に係る電気接点検査装置に
よれば、被検査電気接点の隙間の寸法の相違を機械的な
接触方式によって識別可能であるので、従来のような画
像処理装置に比べて、構造を簡略化しコストを大幅に低
減できる。また、ゲージを櫛歯形状に形成したので、多
極数の場合の全極数を同時に検査することができ、その
結果画像処理装置よりも検査時間が少なくて済み、検査
効率が著しく向上する。
また、本発明に係る電気接点検査方法によれば、被検査
電気接点の隙間の寸法が正常か否かを容易に識別可能で
あるので、検査の自動化が図れるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明に係る電気接点検査装置の一実施例を示
す側面図、 第2図は同検査装置の正面図、 第3図(A)〜(G)は同実施例のゲージによる各種電
気接点の検査状態を示す拡大図、 第4図は電気接点を多極数としそれに対応するゲージの
部分斜視図、 第5図は被検査電気接点の拡大斜視図である。 1……被検査電気接点、2……ゲージ、 4……ホルダー、5……基台、 6……スライダー(第一の移動手段)、 7……スプリング、8……支持台、 9……調節ねじ、10……ストッパねじ、 11……近接スイッチ、 12……リフター(第二の移動手段)、 13……接続端子(接続手段)。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】櫛歯形状に形成し且つ二股形状に形成した
    被検査電気接点の隙間許容範囲における最小許容値に等
    しく厚さを設定した導電性のゲージと、このゲージを固
    定して被検査電気接点の開口部方向に所定距離移動させ
    る第一の移動手段と、この第一の移動手段によるゲージ
    の移動方向に対して直交する両方向にゲージを所定距離
    各々移動させる第二の移動手段と、上記被検査電気接点
    とゲージの各端部を電気的に接続する接続手段とを備
    え、上記第二の移動手段でゲージを所定距離各々移動さ
    せた際に上記被検査電気接点との間で導通の成否を各々
    識別することを特徴とする電気接点検査装置。
  2. 【請求項2】第一の移動手段が被検査電気接点の開口部
    方向に対して逆方向に移動することを検知する近接スイ
    ッチを有する請求項1記載の電気接点検査装置。
  3. 【請求項3】櫛歯形状に形成し且つ二股形状に形成した
    被検査電気接点の隙間許容範囲における最小許容値に等
    しく厚さを設定した導電性のゲージを被検査電気接点の
    開口部方向に所定距離移動させ、次いで上記ゲージを被
    検査電気接点の開口部方向に対して直交する両方向に所
    定距離各々移動させて被検査電気接点とゲージとの間で
    導通の成否を各々識別することを特徴とする電気接点検
    査方法。
  4. 【請求項4】ゲージを被検査電気接点の開口部方向に所
    定距離移動させた際に、その逆方向の移動を検知してな
    る請求項3記載の電気接点検査方法。
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JP4490247B2 (ja) * 2004-12-06 2010-06-23 富士通株式会社 回路基板試験装置
JP4709541B2 (ja) * 2004-12-16 2011-06-22 富士通株式会社 コネクタの試験装置

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