JPH0425044A - Ｉｃリード曲り検出装置 - Google Patents
Ｉｃリード曲り検出装置Info
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- JPH0425044A JPH0425044A JP12620090A JP12620090A JPH0425044A JP H0425044 A JPH0425044 A JP H0425044A JP 12620090 A JP12620090 A JP 12620090A JP 12620090 A JP12620090 A JP 12620090A JP H0425044 A JPH0425044 A JP H0425044A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000003780 insertion Methods 0.000 claims description 13
- 230000037431 insertion Effects 0.000 claims description 13
- 239000012212 insulator Substances 0.000 abstract description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 2
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 244000089486 Phragmites australis subsp australis Species 0.000 description 1
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
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- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ＩＣリード曲り検出装置に関し、特にピング
リット型ＩＣのリードの曲りを検査するＩＣリード曲り
検出装置に関する。
リット型ＩＣのリードの曲りを検査するＩＣリード曲り
検出装置に関する。
第２図は従来の一例を示すＩＣリード曲り検出装置の斜
視図である。従来、この種のＩＣリード曲り検出装置は
、同図に示すように、ピングリット型ＩＣ８のリード８
ａを撮像するＣＣＤカメラ９と、このＣＣＤカメラ９に
よる撮像信号により基準信号と比較してリード８ａの曲
りの有無を処理する画像処理装置１０とで構成されてい
た。
視図である。従来、この種のＩＣリード曲り検出装置は
、同図に示すように、ピングリット型ＩＣ８のリード８
ａを撮像するＣＣＤカメラ９と、このＣＣＤカメラ９に
よる撮像信号により基準信号と比較してリード８ａの曲
りの有無を処理する画像処理装置１０とで構成されてい
た。
このＩＣリード曲り検出装置で、ＩＣリードの曲りを検
査する場合は、まず、ＩＣ８の一側面側から撮影し、リ
ード８ａが並ぶ方向の曲りを検査する。次に、９０°Ｉ
Ｃ８を方向を変え、並び方向と直角の方向で撮影し、再
ひ、他面側のり−１〜８ａを繰返して撮像し、ＩＣ８の
全部リート８ａの曲りの有無を検査していた。
査する場合は、まず、ＩＣ８の一側面側から撮影し、リ
ード８ａが並ぶ方向の曲りを検査する。次に、９０°Ｉ
Ｃ８を方向を変え、並び方向と直角の方向で撮影し、再
ひ、他面側のり−１〜８ａを繰返して撮像し、ＩＣ８の
全部リート８ａの曲りの有無を検査していた。
上述した従来のリード曲り検出装置は、２次元ＣＣＤカ
メラを使用しているのて、ＩＣのリードの曲りを検査す
るのに種々の方向よりＩＣのリードを撮像して検査しな
ければならないので、検査時間が長くかかるという欠点
がある。また、種々の方向より一度に撮像するために、
複数のＣＣＤカメラを設けることはコスト面で得策では
ない。
メラを使用しているのて、ＩＣのリードの曲りを検査す
るのに種々の方向よりＩＣのリードを撮像して検査しな
ければならないので、検査時間が長くかかるという欠点
がある。また、種々の方向より一度に撮像するために、
複数のＣＣＤカメラを設けることはコスト面で得策では
ない。
さらに、このリードの曲り許容値に対してＣＣＤカメラ
の分解能が十分でなく、正確な測定が出来ないという欠
点がある。
の分解能が十分でなく、正確な測定が出来ないという欠
点がある。
本発明の目的は、かかる欠点を解消し、安価な、より検
査時間が少くて済むリード曲りの検出装置を提供するこ
とにある。
査時間が少くて済むリード曲りの検出装置を提供するこ
とにある。
本発明のリード曲り検出装置は、ＩＣのリードに対応す
る多数のリード挿入穴を有する板状のゲージと、一面側
が絶縁面であり、かつ前記リード挿入穴の底面を形成す
るとともに他面側か導電面である接触子と、この導電面
に一端が接続され前記接触子を押し上げるスプリングと
、このスプリングの他端に接続される第１の電極板と、
この第１の電極板を中央に絶縁材を介して配置するとと
もに前記スプリングの周囲を包み、かつ前記接触子の導
電面と対応する座面が設けられている第２の電極部とを
備え、前記リードが前記リード挿入穴に挿入され、前記
り−１へにより前記接触子が押されることによって前記
接触子の導電面か前記第２の電極部の座面と接触するこ
とを特徴としている。
る多数のリード挿入穴を有する板状のゲージと、一面側
が絶縁面であり、かつ前記リード挿入穴の底面を形成す
るとともに他面側か導電面である接触子と、この導電面
に一端が接続され前記接触子を押し上げるスプリングと
、このスプリングの他端に接続される第１の電極板と、
この第１の電極板を中央に絶縁材を介して配置するとと
もに前記スプリングの周囲を包み、かつ前記接触子の導
電面と対応する座面が設けられている第２の電極部とを
備え、前記リードが前記リード挿入穴に挿入され、前記
り−１へにより前記接触子が押されることによって前記
接触子の導電面か前記第２の電極部の座面と接触するこ
とを特徴としている。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第１１図（ａ＞及び（ｂ）は本発明の一実施例を示すＩ
Ｃリード曲り検出装置の部分平面図及びＡＡ断面図であ
る。このＩＣリード曲り検出装置は、同図に示すように
、ＩＣのリード８ａに対応する多数のリード挿入穴２を
有する板状のケージコ。と、一面側が絶縁物７で覆われ
かつリード挿入穴２の底面を形成するとともに他面側が
導電面である接触子３と、この導電面に一端が接続され
、接触子３を押し上げるスプリング４と、このスプリン
グ４の他端に接続される第１の電極板である電極Ａ５と
、この電極Ａ５を中央に絶縁材を介して配置するととも
にスプリング４の周囲を包み、かつ接触子３の導電面と
対応する座面が設けられている第２の電極部である電極
Ｂ６とを備え構成されている。
Ｃリード曲り検出装置の部分平面図及びＡＡ断面図であ
る。このＩＣリード曲り検出装置は、同図に示すように
、ＩＣのリード８ａに対応する多数のリード挿入穴２を
有する板状のケージコ。と、一面側が絶縁物７で覆われ
かつリード挿入穴２の底面を形成するとともに他面側が
導電面である接触子３と、この導電面に一端が接続され
、接触子３を押し上げるスプリング４と、このスプリン
グ４の他端に接続される第１の電極板である電極Ａ５と
、この電極Ａ５を中央に絶縁材を介して配置するととも
にスプリング４の周囲を包み、かつ接触子３の導電面と
対応する座面が設けられている第２の電極部である電極
Ｂ６とを備え構成されている。
次に、このリード曲り検出装置の動作について説明する
。まず、ＩＣとゲージ１と位置合せする。これにはＩＣ
の外部体の一基準面とゲージの側面とをきせる。次に、
ＩＣを押し、各リード８ａか各リード挿入穴２に挿入さ
れるか否かを確認する。これには、電極Ａ５と電極Ｂ６
との間の導通を調べることによって、リード８ａが曲り
が有るか無いかを検査出来る。尚、リード挿入穴２の穴
径は、リード８ａの直径に曲り許容寸法を加えた大きさ
に形成しておくことである。
。まず、ＩＣとゲージ１と位置合せする。これにはＩＣ
の外部体の一基準面とゲージの側面とをきせる。次に、
ＩＣを押し、各リード８ａか各リード挿入穴２に挿入さ
れるか否かを確認する。これには、電極Ａ５と電極Ｂ６
との間の導通を調べることによって、リード８ａが曲り
が有るか無いかを検査出来る。尚、リード挿入穴２の穴
径は、リード８ａの直径に曲り許容寸法を加えた大きさ
に形成しておくことである。
まな、電極Ａ５及び電極Ｂ６とで発光ダイオードとの内
ループ回路を形成し、表示板に多数の発光ダイオードを
ＩＣのり−トの配置と同様に並べて配置しておけば、よ
り簡単に、確実に検査できるという利点がある。
ループ回路を形成し、表示板に多数の発光ダイオードを
ＩＣのり−トの配置と同様に並べて配置しておけば、よ
り簡単に、確実に検査できるという利点がある。
以上説明したように本発明は、ＩＣのリードに対応する
リード挿入穴を有するゲージ板を備え、前記リード挿入
穴にリードが挿入されたか否かを確認する手段を設ける
とによって、より安価な、より短時間てリードの曲り有
無を検査できるＩＣリードの曲り検出装置が得られると
いう効果があある。
リード挿入穴を有するゲージ板を備え、前記リード挿入
穴にリードが挿入されたか否かを確認する手段を設ける
とによって、より安価な、より短時間てリードの曲り有
無を検査できるＩＣリードの曲り検出装置が得られると
いう効果があある。
第１図（ａ）及び（ｂ）は本発明の一実施例を示すＩＣ
リード曲り検出装置の部分平面図及びＡＡ断面図、第２
図は従来の一例を示すＩＣリード曲り検出装置の斜視図
である。 １・・・ゲージ、２・・・リード挿入穴、３・・・接触
子、スブリンク、 ・電極Ａ、 ・・電極Ｂ、 ７・・・ 絶縁物。
リード曲り検出装置の部分平面図及びＡＡ断面図、第２
図は従来の一例を示すＩＣリード曲り検出装置の斜視図
である。 １・・・ゲージ、２・・・リード挿入穴、３・・・接触
子、スブリンク、 ・電極Ａ、 ・・電極Ｂ、 ７・・・ 絶縁物。
Claims (1)
- ＩＣのリードに対応する多数のリード挿入穴を有する
板状のゲージと、一面側が絶縁面であり、かつ前記リー
ド挿入穴の底面を形成するとともに他面側が導電面であ
る接触子と、この導電面に一端が接続され前記接触子を
押し上げるスプリングと、このスプリングの他端に接続
される第１の電極板と、この第１の電極板を中央に絶縁
材を介して配置するとともに前記スプリングの周囲を包
み、かつ前記接触子の導電面と対応する座面が設けられ
ている第２の電極部とを備え、前記リードが前記リード
挿入穴に挿入され、前記リードにより前記接触子が押さ
れることによつて前記接触子の導電面が前記第２の電極
部の座面と接触することを特徴とするＩＣリード曲り検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12620090A JPH0425044A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12620090A JPH0425044A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0425044A true JPH0425044A (ja) | 1992-01-28 |
Family
ID=14929187
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12620090A Pending JPH0425044A (ja) | 1990-05-16 | 1990-05-16 | Ｉｃリード曲り検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0425044A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999000836A1 (en) * | 1997-06-26 | 1999-01-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for inspection of pin grid array packages for bent leads |
| KR100505612B1 (ko) * | 1998-07-16 | 2005-09-26 | 삼성전자주식회사 | 핀 그리드 어레이 패키지용 핸들러의 프리 센터링 장치 및 이를이용한 프리센터링 방법 |
| JP2007141965A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Sharp Corp | 外観検査装置 |
| JP2014029933A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Sharp Corp | 検査装置 |
-
1990
- 1990-05-16 JP JP12620090A patent/JPH0425044A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1999000836A1 (en) * | 1997-06-26 | 1999-01-07 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for inspection of pin grid array packages for bent leads |
| US6128074A (en) * | 1997-06-26 | 2000-10-03 | Advanced Micro Devices, Inc. | Method and apparatus for inspection of pin grid array packages for bent leads |
| KR100505612B1 (ko) * | 1998-07-16 | 2005-09-26 | 삼성전자주식회사 | 핀 그리드 어레이 패키지용 핸들러의 프리 센터링 장치 및 이를이용한 프리센터링 방법 |
| JP2007141965A (ja) * | 2005-11-15 | 2007-06-07 | Sharp Corp | 外観検査装置 |
| JP2014029933A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Sharp Corp | 検査装置 |
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