JPH08184632A - コネクタピンの圧入不良検査器 - Google Patents
コネクタピンの圧入不良検査器Info
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- JPH08184632A JPH08184632A JP6338577A JP33857794A JPH08184632A JP H08184632 A JPH08184632 A JP H08184632A JP 6338577 A JP6338577 A JP 6338577A JP 33857794 A JP33857794 A JP 33857794A JP H08184632 A JPH08184632 A JP H08184632A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 コネクタ１１への接触ピン１の圧入不良の有
無を検出する検査器を提供する。 【構成】 プローブ２は接触軸２Ａと案内軸２Ｂをも
ち、案内軸２Ｂに段溝２１を形成する。ケース３は側面
３１にコネクタ１１の１列のピン配列に対応する位置に
複数の段付穴３Ａをあけ、側面３２・３３と段付穴３Ａ
を貫通する光軸穴３Ｂをあけ、側面３１から接触軸２Ａ
が突出する形でプローブ２を段付穴３Ａに弾性をもって
保持する。投光器４を側面３２側に取り付け、光軸穴３
Ｂに光を出射する。受光器５を側面３３側に取り付け
る。プローブ２を接触ピン１に押し付け、プローブ２を
ケース３内に移動させ、少なくとも１つのプローブ２が
光軸穴３Ｂを遮光し、受光器４の受光出力から接触ピン
１の圧入不良の有無を検出する。
無を検出する検査器を提供する。 【構成】 プローブ２は接触軸２Ａと案内軸２Ｂをも
ち、案内軸２Ｂに段溝２１を形成する。ケース３は側面
３１にコネクタ１１の１列のピン配列に対応する位置に
複数の段付穴３Ａをあけ、側面３２・３３と段付穴３Ａ
を貫通する光軸穴３Ｂをあけ、側面３１から接触軸２Ａ
が突出する形でプローブ２を段付穴３Ａに弾性をもって
保持する。投光器４を側面３２側に取り付け、光軸穴３
Ｂに光を出射する。受光器５を側面３３側に取り付け
る。プローブ２を接触ピン１に押し付け、プローブ２を
ケース３内に移動させ、少なくとも１つのプローブ２が
光軸穴３Ｂを遮光し、受光器４の受光出力から接触ピン
１の圧入不良の有無を検出する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、コネクタピンの圧入
不良検査器についてのものである。例えば、「プレスフ
ィットコネクタ」と呼ばれる無ハンダ圧入型のコネクタ
は、プリント基板の挿入穴にコネクタピンを圧入する。
この発明は、このようなコネクタをプリント基板に圧入
した後、不良コネクタピンの有無を検出する検査器につ
いてのものである。
不良検査器についてのものである。例えば、「プレスフ
ィットコネクタ」と呼ばれる無ハンダ圧入型のコネクタ
は、プリント基板の挿入穴にコネクタピンを圧入する。
この発明は、このようなコネクタをプリント基板に圧入
した後、不良コネクタピンの有無を検出する検査器につ
いてのものである。
【０００２】
【従来の技術】プレスフィットコネクタは、無ハンダ接
続が可能な電気信号接続用のコネクタである。図６はプ
レスフィットコネクタを構成する接触ピン１の外観図で
ある。接触ピン１はコネクタハウジングに圧入されるシ
ョルダー部１Ａと、プリント基板８の挿入穴となるスル
ーホール８Ａに圧入されるプレスフィット部１Ｂが形成
される。
続が可能な電気信号接続用のコネクタである。図６はプ
レスフィットコネクタを構成する接触ピン１の外観図で
ある。接触ピン１はコネクタハウジングに圧入されるシ
ョルダー部１Ａと、プリント基板８の挿入穴となるスル
ーホール８Ａに圧入されるプレスフィット部１Ｂが形成
される。
【０００３】プレスフィット部１Ｂは、図７に示される
ように、断面が長方形であり、断面の対角長Ｌはスルー
ホール８Ａの内径Ｄよりも若干大きく形成される。ショ
ルダー部１Ａに図示しない圧入器具を当て、スルーホー
ル８Ａに圧入すると、図７に示されるように、プレスフ
ィット部１Ｂがスルーホール８Ａに食い込む形で接触ピ
ン１とスルーホール８Ａが接続される。
ように、断面が長方形であり、断面の対角長Ｌはスルー
ホール８Ａの内径Ｄよりも若干大きく形成される。ショ
ルダー部１Ａに図示しない圧入器具を当て、スルーホー
ル８Ａに圧入すると、図７に示されるように、プレスフ
ィット部１Ｂがスルーホール８Ａに食い込む形で接触ピ
ン１とスルーホール８Ａが接続される。
【０００４】プレスフィットコネクタを圧入する装置
は、例えば、特願平5-288675号の明細書に記載されてい
る。
は、例えば、特願平5-288675号の明細書に記載されてい
る。
【０００５】図８は、接触ピン１をプリント基板８に圧
入完了後のコネクタ断面図である。図８では、コネクタ
１１はハウジング１０と接触ピン１で構成され、ハウジ
ング１０は複数の挿入穴１０Ａを縦横に形成する。接触
ピン１は挿入穴１０Ａに圧入される。接触ピン１がハウ
ジング１０に圧入されたコネクタ１１をプリント基板８
に圧入する。図８では、接触ピン１を機械的に保持する
ハウジング１０とプリント基板８が密着しておりプレス
フィット部１Ｂはスルーホール８Ａと正しく接触してい
る。
入完了後のコネクタ断面図である。図８では、コネクタ
１１はハウジング１０と接触ピン１で構成され、ハウジ
ング１０は複数の挿入穴１０Ａを縦横に形成する。接触
ピン１は挿入穴１０Ａに圧入される。接触ピン１がハウ
ジング１０に圧入されたコネクタ１１をプリント基板８
に圧入する。図８では、接触ピン１を機械的に保持する
ハウジング１０とプリント基板８が密着しておりプレス
フィット部１Ｂはスルーホール８Ａと正しく接触してい
る。
【０００６】
【発明が解決しようとする課題】図８は接触ピン１がプ
リント基板８の挿入穴８Ａに正常に圧入された状態を示
している。しかし、自動圧入機で接触ピン１を圧入する
と、正常に圧入しないときがある。図９は、接触ピン１
の圧入不良状態を例示した図である。
リント基板８の挿入穴８Ａに正常に圧入された状態を示
している。しかし、自動圧入機で接触ピン１を圧入する
と、正常に圧入しないときがある。図９は、接触ピン１
の圧入不良状態を例示した図である。
【０００７】図９の接触ピン１ａは正常に圧入された状
態を示している。接触ピン１ａの隣のスルーホール８Ａ
には本来接触ピン１ｂが存在しなければならないのに、
接触ピン１ｂが無い状態を示す。この現象は、圧入前の
コネクタ１１自体に接触ピン１ｂが無い場合に発生す
る。
態を示している。接触ピン１ａの隣のスルーホール８Ａ
には本来接触ピン１ｂが存在しなければならないのに、
接触ピン１ｂが無い状態を示す。この現象は、圧入前の
コネクタ１１自体に接触ピン１ｂが無い場合に発生す
る。
【０００８】図９の接触ピン１ｃはプリント基板８から
の突出端が曲がっている状態を示す。この現象は、圧入
前にコネクタ１１が傾いていたり、圧入器具の選定が不
適切であった場合などに発生する。接触ピン１ｄは挿入
穴８Ａに圧入されずハウジング１０から浮いている状態
を示す。この現象は圧入器具の選定が間違っていたり、
圧入高さの指定が間違っていた場合などに発生する。
の突出端が曲がっている状態を示す。この現象は、圧入
前にコネクタ１１が傾いていたり、圧入器具の選定が不
適切であった場合などに発生する。接触ピン１ｄは挿入
穴８Ａに圧入されずハウジング１０から浮いている状態
を示す。この現象は圧入器具の選定が間違っていたり、
圧入高さの指定が間違っていた場合などに発生する。
【０００９】図９の圧入不良があると、電気信号の接続
ができないか、接触不良を起こす原因となり、圧入後必
ず検査する必要がある。
ができないか、接触不良を起こす原因となり、圧入後必
ず検査する必要がある。
【００１０】プレスフィットコネクタの接触ピン数は１
コネクタ当たり98〜189本にも達し、10以上のコネクタ
をプリント基板８に実装する場合が多い。目視検査する
接触ピン数はプリント基板１枚当たり1000本以上に達
し、検査員に労力をもとめるものとなっている。
コネクタ当たり98〜189本にも達し、10以上のコネクタ
をプリント基板８に実装する場合が多い。目視検査する
接触ピン数はプリント基板１枚当たり1000本以上に達
し、検査員に労力をもとめるものとなっている。
【００１１】この発明は、コネクタの接触ピンの先端に
接触して移動する複数のプローブをもち、プローブが接
触ピンによって移動した位置を検出して接触ピンの圧入
不良の有無を検出するコネクタピンの圧入不良検査器を
提供することを目的とする。
接触して移動する複数のプローブをもち、プローブが接
触ピンによって移動した位置を検出して接触ピンの圧入
不良の有無を検出するコネクタピンの圧入不良検査器を
提供することを目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するた
め、この発明は、コネクタ１１はハウジング１０と接触
ピン１で構成され、コネクタ１１の接触ピン１をプリン
ト基板８の挿入穴８Ａに圧入し、接触ピン１の圧入不良
を検出する検査器であって、接触軸２Ａと接触軸２Ａよ
り径の大きい案内軸２Ｂをもち、案内軸２Ｂに段溝２１
を形成するプローブ２と、側面３１にコネクタ１１の１
列のピン配列に対応する位置に複数の段付穴３Ａをあ
け、側面３１と稜線で直交し相対向する側面３２と側面
３３と前記複数の段付穴３Ａを貫通する光軸穴３Ｂをあ
け、側面３１から接触軸２Ａが突出する形でプローブ２
を段付穴３Ａに弾性をもって保持するケース３と、側面
３２側に取り付け、光軸穴３Ｂに光を出射する投光器４
と、側面３３側に取り付け、投光器４の光出力を検出す
る受光器５とを備え、プローブ２を接触ピン１に押し付
け、プローブ２をケース３内に移動させ、少なくとも１
つのプローブ２が光軸穴３Ｂを遮光し、受光器５の受光
出力から接触ピン１の圧入不良の有無を検出する。
め、この発明は、コネクタ１１はハウジング１０と接触
ピン１で構成され、コネクタ１１の接触ピン１をプリン
ト基板８の挿入穴８Ａに圧入し、接触ピン１の圧入不良
を検出する検査器であって、接触軸２Ａと接触軸２Ａよ
り径の大きい案内軸２Ｂをもち、案内軸２Ｂに段溝２１
を形成するプローブ２と、側面３１にコネクタ１１の１
列のピン配列に対応する位置に複数の段付穴３Ａをあ
け、側面３１と稜線で直交し相対向する側面３２と側面
３３と前記複数の段付穴３Ａを貫通する光軸穴３Ｂをあ
け、側面３１から接触軸２Ａが突出する形でプローブ２
を段付穴３Ａに弾性をもって保持するケース３と、側面
３２側に取り付け、光軸穴３Ｂに光を出射する投光器４
と、側面３３側に取り付け、投光器４の光出力を検出す
る受光器５とを備え、プローブ２を接触ピン１に押し付
け、プローブ２をケース３内に移動させ、少なくとも１
つのプローブ２が光軸穴３Ｂを遮光し、受光器５の受光
出力から接触ピン１の圧入不良の有無を検出する。
【００１３】
【作用】前述の構成によれば、この発明による検査器
は、接触ピン１の配列に対応して配置され、接触ピン１
の先端に押しつける複数のプローブ２をケース３内に弾
性をもって保持している。プローブ２には段溝２１が形
成され、プローブ２を接触ピン１に押し付け、プローブ
２が所定量だけケース３内に移動したとき、投光器４と
受光器５の光軸上に段溝２１がくる。少なくとも１つの
接触ピン１が圧入不良であれば、対応するプローブ２の
段溝２１は、前記プローブ２は前記光軸を遮光する。複
数のプローブ２を所定量だけ移動したときの、受光器５
の受光出力から圧入不良の接触ピンの有無が判断でき
る。
は、接触ピン１の配列に対応して配置され、接触ピン１
の先端に押しつける複数のプローブ２をケース３内に弾
性をもって保持している。プローブ２には段溝２１が形
成され、プローブ２を接触ピン１に押し付け、プローブ
２が所定量だけケース３内に移動したとき、投光器４と
受光器５の光軸上に段溝２１がくる。少なくとも１つの
接触ピン１が圧入不良であれば、対応するプローブ２の
段溝２１は、前記プローブ２は前記光軸を遮光する。複
数のプローブ２を所定量だけ移動したときの、受光器５
の受光出力から圧入不良の接触ピンの有無が判断でき
る。
【００１４】
【実施例】次に、この発明によるコネクタピンの圧入不
良検査器の構成を図１の実施例により説明する。図１の
２はプローブ、３はケース、４は投光器、５は受光器、
６は圧縮コイルばね、７は蓋である。なお、図１アは検
査器の縦断面図、図１イは図１アのＡＡ矢視断面図、図
１ウは図１アの右側面図、図１エはプローブ２の外観図
である。
良検査器の構成を図１の実施例により説明する。図１の
２はプローブ、３はケース、４は投光器、５は受光器、
６は圧縮コイルばね、７は蓋である。なお、図１アは検
査器の縦断面図、図１イは図１アのＡＡ矢視断面図、図
１ウは図１アの右側面図、図１エはプローブ２の外観図
である。
【００１５】図１では、プローブ２は接触軸２Ａと接触
軸２Ａより径の大きい案内軸２Ｂをもち、案内軸２Ｂに
段溝２１を形成する。
軸２Ａより径の大きい案内軸２Ｂをもち、案内軸２Ｂに
段溝２１を形成する。
【００１６】ケース３の側面３１にコネクタ１１の１列
のピン配列に対応する位置に複数の段付穴３Ａをあけ
る。側面３１と稜線で直交し相対向する側面３２と側面
３３と前記複数の段付穴３Ａを貫通する光軸穴３Ｂをあ
ける。側面３１から接触軸２Ａが突出する形で複数のプ
ローブ２を段付穴３Ａに収容する。
のピン配列に対応する位置に複数の段付穴３Ａをあけ
る。側面３１と稜線で直交し相対向する側面３２と側面
３３と前記複数の段付穴３Ａを貫通する光軸穴３Ｂをあ
ける。側面３１から接触軸２Ａが突出する形で複数のプ
ローブ２を段付穴３Ａに収容する。
【００１７】ばね６は段付穴３Ａに収納され、案内軸２
Ｂの頭部と蓋７で挟持される。ばね６はプローブ２の接
触軸２Ａをケース３から突出させる力が働く。ばね６は
プローブ２を弾性をもって段付穴３Ａ内に保持する。
Ｂの頭部と蓋７で挟持される。ばね６はプローブ２の接
触軸２Ａをケース３から突出させる力が働く。ばね６は
プローブ２を弾性をもって段付穴３Ａ内に保持する。
【００１８】投光器４は側面３２側に取り付けら、光軸
穴３Ｂに光を出射する。受光器５は側面３３側に取り付
けられ、投光器４の光出力を検出する。
穴３Ｂに光を出射する。受光器５は側面３３側に取り付
けられ、投光器４の光出力を検出する。
【００１９】図１は、光軸穴３Ｂをプローブ２の案内軸
２Ｂが遮光している状態である。図１の状態から、複数
のプローブ２を一定距離移動させれば、光軸穴３Ｂと段
溝２１が連通し、受光器５で投光器４の光出力を検出す
ることができる。少なくとも１つのプローブ２が所定距
離移動しないと、案内軸２Ｂが光軸穴３Ｂを遮光する。
２Ｂが遮光している状態である。図１の状態から、複数
のプローブ２を一定距離移動させれば、光軸穴３Ｂと段
溝２１が連通し、受光器５で投光器４の光出力を検出す
ることができる。少なくとも１つのプローブ２が所定距
離移動しないと、案内軸２Ｂが光軸穴３Ｂを遮光する。
【００２０】次に、この発明による検査器の使用方法を
図２から図５により説明する。この発明では、図２に示
されるように、検査器を２つ使用する。第１の検査器と
第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形
で、コネクタ１１を挟持する。
図２から図５により説明する。この発明では、図２に示
されるように、検査器を２つ使用する。第１の検査器と
第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形
で、コネクタ１１を挟持する。
【００２１】図２では、２つの検査器は、図示されない
移動位置機構により移動し、第１の検査器はプリント基
板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止し、第２の検
査器はプリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ２で
停止する。
移動位置機構により移動し、第１の検査器はプリント基
板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止し、第２の検
査器はプリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ２で
停止する。
【００２２】図２は接触ピン１に圧入不良が無い場合で
あって、両検査器に受光出力があることから、接触ピン
１に圧入不良が無いことが検出できる。
あって、両検査器に受光出力があることから、接触ピン
１に圧入不良が無いことが検出できる。
【００２３】図３は、図９で示された圧入不良のコネク
タであり、接触ピン１ｂを圧入もれしたコネクタを検査
する状態を示している。図３では、図２と同様に、第１
の検査器と第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対
向する形で、コネクタ１１を挟持する。第１の検査器を
プリント基板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止さ
せ、第２の検査器をプリント基板８の下面から第２の所
定距離Ｌ２で停止させる。
タであり、接触ピン１ｂを圧入もれしたコネクタを検査
する状態を示している。図３では、図２と同様に、第１
の検査器と第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対
向する形で、コネクタ１１を挟持する。第１の検査器を
プリント基板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止さ
せ、第２の検査器をプリント基板８の下面から第２の所
定距離Ｌ２で停止させる。
【００２４】図３では、接触ピン１ｂが無い位置に対応
するプローブ２はケース３内に沈むことがないので、前
記プローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。両
検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１は圧入
不良の接触ピン１をもつことがわかる。
するプローブ２はケース３内に沈むことがないので、前
記プローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。両
検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１は圧入
不良の接触ピン１をもつことがわかる。
【００２５】図４は、図９で示された圧入不良のコネク
タであり、プリント基板８からの突出端が曲がっている
接触ピン１ｃをもつコネクタを検査する状態を示してい
る。図４では、図２と同様に、第１の検査器と第２の検
査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形で、コネク
タ１１を挟持する。第１の検査器をプリント基板８の上
面から第１の所定距離Ｌ１で停止させ、第２の検査器を
プリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ２で停止さ
せる。
タであり、プリント基板８からの突出端が曲がっている
接触ピン１ｃをもつコネクタを検査する状態を示してい
る。図４では、図２と同様に、第１の検査器と第２の検
査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形で、コネク
タ１１を挟持する。第１の検査器をプリント基板８の上
面から第１の所定距離Ｌ１で停止させ、第２の検査器を
プリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ２で停止さ
せる。
【００２６】図４では、プリント基板８の下方の第２の
検査器は、接触ピン１ｃが曲がっている位置に対応する
プローブ２はケース３内に沈むことがないので、前記プ
ローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。第２の
検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１は圧入
不良の接触ピン１をもつことがわかる。
検査器は、接触ピン１ｃが曲がっている位置に対応する
プローブ２はケース３内に沈むことがないので、前記プ
ローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。第２の
検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１は圧入
不良の接触ピン１をもつことがわかる。
【００２７】図５は、コネクタ１１がプリント基板８に
正しく圧入されず、接触１１のプレスフィット部１Ｂが
プリント基板８のスルーホール８Ａに圧入されない状態
を示している。
正しく圧入されず、接触１１のプレスフィット部１Ｂが
プリント基板８のスルーホール８Ａに圧入されない状態
を示している。
【００２８】図５では、図２と同様に、第１の検査器と
第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形
で、コネクタ１１を挟持する。第１の検査器をプリント
基板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止させ、第２
の検査器をプリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ
２で停止させる。
第２の検査器はプローブ２の接触軸２Ａが対向する形
で、コネクタ１１を挟持する。第１の検査器をプリント
基板８の上面から第１の所定距離Ｌ１で停止させ、第２
の検査器をプリント基板８の下面から第２の所定距離Ｌ
２で停止させる。
【００２９】図５では、第１の検査器は全てのプローブ
２が所定量以上にケース３内に沈むので、前記プローブ
２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。第２の検査器
は全てのプローブ２が所定量以下にケース３内に沈むの
で、前記プローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光す
る。
２が所定量以上にケース３内に沈むので、前記プローブ
２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光する。第２の検査器
は全てのプローブ２が所定量以下にケース３内に沈むの
で、前記プローブ２の案内軸２Ｂは光軸穴３Ｂを遮光す
る。
【００３０】両検査器に受光出力が無いことから、コネ
クタ１１は圧入不良の接触ピン１をもつことがわかる。
なお、図５では、図９で示されるように、プリント基板
８の挿入穴８Ａに圧入されずハウジング１０からも浮い
ている接触ピン１ｄをもつ圧入不良のコネクタであって
も、両検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１
は圧入不良の接触ピン１をもつことがわかる。
クタ１１は圧入不良の接触ピン１をもつことがわかる。
なお、図５では、図９で示されるように、プリント基板
８の挿入穴８Ａに圧入されずハウジング１０からも浮い
ている接触ピン１ｄをもつ圧入不良のコネクタであって
も、両検査器に受光出力が無いことから、コネクタ１１
は圧入不良の接触ピン１をもつことがわかる。
【００３１】
【発明の効果】この発明の検査器はコネクタの接触ピン
の先端に接触して移動する複数のプローブをもち、プロ
ーブが接触ピンによって移動した位置を検出するので、
目視によることなく、圧入不良の接触ピンをもつコネク
タを容易に検査できる。また、この発明による検査器を
移動機構や昇降機構で移動制御すれば、圧入不良の自動
検査も可能となる。
の先端に接触して移動する複数のプローブをもち、プロ
ーブが接触ピンによって移動した位置を検出するので、
目視によることなく、圧入不良の接触ピンをもつコネク
タを容易に検査できる。また、この発明による検査器を
移動機構や昇降機構で移動制御すれば、圧入不良の自動
検査も可能となる。
【図１】この発明による圧入不良検査器の実施例による
構成図である。
構成図である。
【図２】図１の検査器で圧入不良の無いコネクタを検査
している状態図である。
している状態図である。
【図３】図１の検査器で圧入不良の有る第１のコネクタ
を検査している状態図である。
を検査している状態図である。
【図４】図１の検査器で圧入不良の有る第２のコネクタ
を検査している状態図である。
を検査している状態図である。
【図５】図１の検査器で圧入不良の有る第３のコネクタ
を検査している状態図である。
を検査している状態図である。
【図６】プレスフィットコネクタを構成する接触ピン１
の外観図である。
の外観図である。
【図７】接触ピン１をスルーホールに圧入した状態図で
ある。
ある。
【図８】正常に圧入されたプレスフィットコネクタの断
面図である。
面図である。
【図９】接触ピン１の圧入不良状態を例示した図であ
る。
る。
１ 接触ピン ２ プローブ ２Ａ 接触軸 ２Ｂ 案内軸 ３ ケース ３Ａ 段付穴 ３Ｂ 光軸穴 ４ 投光器 ５ 受光器 ６ 圧縮コイルばね ７ 蓋 ８ プリント基板 ８Ａ 挿入穴 １０ ハウジング １０Ａ 挿入穴 １１ コネクタ ２１ 段溝 ３１ 第１の側面 ３２ 第２の側面 ３３ 第３の側面
Claims (2)
- 【請求項１】 少なくとも、コネクタ(11)の接触ピン
(1) の先端に接触して移動する複数のプローブ(2) をも
ち、プローブ(2) が接触ピン(1) によって移動した位置
を検出して接触ピン(1) の圧入不良の有無を検出するこ
とを特徴とするコネクタピンの圧入不良検査器。 - 【請求項２】 コネクタ(11)はハウジング(10)と接触ピ
ン(1) で構成され、コネクタ(11)の接触ピン(1) をプリ
ント基板(8) の挿入穴(8A)に圧入し、接触ピン(1) の圧
入不良を検出する検査器であって、 接触軸(2A)と接触軸(2A)より径の大きい案内軸(2B)をも
ち、案内軸(2B)に段溝(21)を形成するプローブ(2) と、 第１の側面(31)にコネクタ(11)の１列のピン配列に対応
する位置に複数の段付穴(3A)をあけ、第１の側面(31)と
稜線で直交し相対向する第２の側面(32)と第３の側面(3
3)と前記複数の段付穴(3A)を貫通する光軸穴(3B)をあ
け、第１の側面(31)から接触軸(2A)が突出する形でプロ
ーブ(2) を段付穴(3A)に弾性をもって保持するケース
(3) と、 第２の側面(32)側に取り付け、光軸穴(3B)に光を出射す
る投光器(4) と、 第３の側面(33)側に取り付け、投光器(4) の光出力を検
出する受光器(5) とを備え、 プローブ(2) を接触ピン(1) に押し付け、プローブ(2)
をケース(3) 内に移動させ、少なくとも１つのプローブ
(2) が光軸穴(3B)を遮光し、受光器(5) の受光出力から
接触ピン(1) の圧入不良の有無を検出することを特徴と
する請求項１記載のコネクタピンの圧入不良検査器。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6338577A JPH08184632A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | コネクタピンの圧入不良検査器 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6338577A JPH08184632A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | コネクタピンの圧入不良検査器 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH08184632A true JPH08184632A (ja) | 1996-07-16 |
Family
ID=18319488
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6338577A Pending JPH08184632A (ja) | 1994-12-28 | 1994-12-28 | コネクタピンの圧入不良検査器 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH08184632A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008087694A1 (ja) | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Hirata Corporation | 部品装着検出装置及び方法 |
| JP2010182899A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Toyota Motor Corp | プリント配線板，プリント配線板とプレスフィット端子との接続体の製造方法，検査方法，機器 |
| CN113109610A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-13 | 北京中微普业科技有限公司 | 一种rf裸芯片扁平探针测试工装 |
-
1994
- 1994-12-28 JP JP6338577A patent/JPH08184632A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008087694A1 (ja) | 2007-01-15 | 2008-07-24 | Hirata Corporation | 部品装着検出装置及び方法 |
| US8438722B2 (en) | 2007-01-15 | 2013-05-14 | Hirata Corporation | Apparatus and method for detecting component attachment |
| JP2010182899A (ja) * | 2009-02-06 | 2010-08-19 | Toyota Motor Corp | プリント配線板，プリント配線板とプレスフィット端子との接続体の製造方法，検査方法，機器 |
| CN113109610A (zh) * | 2021-04-06 | 2021-07-13 | 北京中微普业科技有限公司 | 一种rf裸芯片扁平探针测试工装 |
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