JPH0779965A - X線ct装置 - Google Patents
X線ct装置Info
- Publication number
- JPH0779965A JPH0779965A JP5230682A JP23068293A JPH0779965A JP H0779965 A JPH0779965 A JP H0779965A JP 5230682 A JP5230682 A JP 5230682A JP 23068293 A JP23068293 A JP 23068293A JP H0779965 A JPH0779965 A JP H0779965A
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- ray
- ray tube
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- Pending
Links
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 abstract description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 デュアルエナジースキャンを容易、かつ短時
間で行なうことのできるX線CT装置を提供することを
目的とする。 【構成】 体軸方向に同一ピッチで複数列配置されたX
線検出器を用いてヘリカルスキャンを行ない、このとき
の天板の移動速度を、X線管が1回転する間に検出器の
ピッチだけ移動する速度とする。そして、X線管が1回
転する毎に管電圧を変化させる。
間で行なうことのできるX線CT装置を提供することを
目的とする。 【構成】 体軸方向に同一ピッチで複数列配置されたX
線検出器を用いてヘリカルスキャンを行ない、このとき
の天板の移動速度を、X線管が1回転する間に検出器の
ピッチだけ移動する速度とする。そして、X線管が1回
転する毎に管電圧を変化させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、デュアルエナジースキ
ャンを容易かつ短時間で行うことのできるX線CT装置
に関する。
ャンを容易かつ短時間で行うことのできるX線CT装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、医用診断装置の開発が進められる
中で、X線CT装置が多く用いられている。X線CT装
置は被検体の被撮影断層面にX線管からのX線を曝射し
被検体透過後のX線をX線検出器にて収集する。そし
て、X線管とX線検出器とを回転させ、各角度にて得ら
れた検出データに基づいて画像の再構成を行ないCT画
像を得るものである。
中で、X線CT装置が多く用いられている。X線CT装
置は被検体の被撮影断層面にX線管からのX線を曝射し
被検体透過後のX線をX線検出器にて収集する。そし
て、X線管とX線検出器とを回転させ、各角度にて得ら
れた検出データに基づいて画像の再構成を行ないCT画
像を得るものである。
【0003】このようなX線CT装置おいて、昨今では
デュアルエンナジースキャンが採用されつつある。デュ
アルエナジースキャンとは、同一の部位を2種類以上の
X線エネルギーで撮影することによってそれぞれのエネ
ルギー毎の画像を得るものである。そして、これらの各
画像を用いて電子分布密度、コンプトン散乱の程度及び
光電効果を表わす画像を計算によって求めることがで
き、これらの各情報は被写体の元素組成を推定する上で
有用である。
デュアルエンナジースキャンが採用されつつある。デュ
アルエナジースキャンとは、同一の部位を2種類以上の
X線エネルギーで撮影することによってそれぞれのエネ
ルギー毎の画像を得るものである。そして、これらの各
画像を用いて電子分布密度、コンプトン散乱の程度及び
光電効果を表わす画像を計算によって求めることがで
き、これらの各情報は被写体の元素組成を推定する上で
有用である。
【0004】しかし、デュアルエナジースキャンは2種
類以上のX線エネルギーで同一部位を撮影する必要があ
るので、撮影に長時間を要してしまうという欠点があ
る。また、従来より高速で断層像を撮影する方法とし
て、ヘリカルスキャン方式が知られている。ところがこ
のヘリカルスキャン方式をデュアルエナジースキャンに
適用すると、データのビュー数が半減してしまうため本
来の分解能が得られないという欠点がある。
類以上のX線エネルギーで同一部位を撮影する必要があ
るので、撮影に長時間を要してしまうという欠点があ
る。また、従来より高速で断層像を撮影する方法とし
て、ヘリカルスキャン方式が知られている。ところがこ
のヘリカルスキャン方式をデュアルエナジースキャンに
適用すると、データのビュー数が半減してしまうため本
来の分解能が得られないという欠点がある。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】このように、従来にお
けるX線CT装置では、デュアルエナジースキャンを行
なうのに長時間を要してしまい、また、ヘリカルスキャ
ン方式を用いると分解能が低下してしまうという欠点が
あった。
けるX線CT装置では、デュアルエナジースキャンを行
なうのに長時間を要してしまい、また、ヘリカルスキャ
ン方式を用いると分解能が低下してしまうという欠点が
あった。
【0006】この発明はこのような従来の課題を解決す
るためになされたもので、その目的とするところは、短
時間でデュアルエナジースキャンを実施することのでき
るX線CT装置を提供することにある。
るためになされたもので、その目的とするところは、短
時間でデュアルエナジースキャンを実施することのでき
るX線CT装置を提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、被検体の体軸方向に拡がりを持つX線管
と、前記X線管と対向配置され体軸方向に同一ピッチで
複数列配置されたX線検出器と、前記X線管、X線検出
器の対を回転させるとともに、この1回転の間に前記被
検体を載置する天板を前記X線検出器のピッチだけスラ
イドさせるべく制御する手段と、前記X線管が1回転す
る毎に、当該X線管の管電圧を高レベルと低レベルとで
交互に切換える手段と、を有することが特徴である。
め、本発明は、被検体の体軸方向に拡がりを持つX線管
と、前記X線管と対向配置され体軸方向に同一ピッチで
複数列配置されたX線検出器と、前記X線管、X線検出
器の対を回転させるとともに、この1回転の間に前記被
検体を載置する天板を前記X線検出器のピッチだけスラ
イドさせるべく制御する手段と、前記X線管が1回転す
る毎に、当該X線管の管電圧を高レベルと低レベルとで
交互に切換える手段と、を有することが特徴である。
【0008】
【作用】上述の如く構成された本発明によれば、体軸方
向に複数列配置されたX線検出器により、X線管が1回
転する毎に2スライス分のプロジェクションデータが得
られる。そして、X線管が1回転する毎に天板をX線検
出器のピッチと同一の距離だけ移動させながらヘリカル
スキャンを行なえば、前回の回転時のX線検出器の軌跡
と今回の軌跡とがオーバラップすることになる。従っ
て、X線管が1回転する毎にX線管の管電圧を変更すれ
ば容易にデュアルエナジースキャンを行なうことができ
るようになる。
向に複数列配置されたX線検出器により、X線管が1回
転する毎に2スライス分のプロジェクションデータが得
られる。そして、X線管が1回転する毎に天板をX線検
出器のピッチと同一の距離だけ移動させながらヘリカル
スキャンを行なえば、前回の回転時のX線検出器の軌跡
と今回の軌跡とがオーバラップすることになる。従っ
て、X線管が1回転する毎にX線管の管電圧を変更すれ
ば容易にデュアルエナジースキャンを行なうことができ
るようになる。
【0009】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明
する。図1は本発明が適用されるX線CT装置の概略的
な構成を示すブロック図である。図示のように、このX
線CT装置は架台1内にX線を曝射するためのX線管2
と、天板6上に載置される被検体(不図示)を透過した
後のX線を検出する検出器3と、検出されたデータを収
集するデータ収集部4とを有しており、架台駆動装置8
によって駆動されるようになっている。また、検出器3
は天板6の長手方向に拡がりを持っており、複数スライ
スのX線データを検出できるようになっている。
する。図1は本発明が適用されるX線CT装置の概略的
な構成を示すブロック図である。図示のように、このX
線CT装置は架台1内にX線を曝射するためのX線管2
と、天板6上に載置される被検体(不図示)を透過した
後のX線を検出する検出器3と、検出されたデータを収
集するデータ収集部4とを有しており、架台駆動装置8
によって駆動されるようになっている。また、検出器3
は天板6の長手方向に拡がりを持っており、複数スライ
スのX線データを検出できるようになっている。
【0010】X線管2はX線発生装置5によってその管
電圧が決定され、所定のエネルギーでX線を曝射する。
また、天板駆動装置7は天板6を移動させるものであ
り、この天板駆動装置7、及び前記した架台駆動装置
8、X線発生装置5は制御装置9にて総括的に制御され
る。
電圧が決定され、所定のエネルギーでX線を曝射する。
また、天板駆動装置7は天板6を移動させるものであ
り、この天板駆動装置7、及び前記した架台駆動装置
8、X線発生装置5は制御装置9にて総括的に制御され
る。
【0011】更に、ユーザが操作するコンソール13に
はデータ処理部10と、スキャン制御部11と、システ
ム制御部12が備えられている。データ処理部10は、
データ収集部4からのデータを基にCT画像を再構成す
る。
はデータ処理部10と、スキャン制御部11と、システ
ム制御部12が備えられている。データ処理部10は、
データ収集部4からのデータを基にCT画像を再構成す
る。
【0012】スキャン制御部11はデータ収集部4,制
御装置9、及びX線発生装置5にスキャン条件を与え
る。即ち、X線管2の回転速度と天板6の移動速度、及
びX線管2の管電圧を制御するための信号を与える。
御装置9、及びX線発生装置5にスキャン条件を与え
る。即ち、X線管2の回転速度と天板6の移動速度、及
びX線管2の管電圧を制御するための信号を与える。
【0013】システム制御部12は、ユーザからの入力
信号を取込み、データ処理部10、スキャン制御部11
を総括的に制御する。次に、本実施例の動作について説
明する。いま、検出器3の列数を2、この間隔をdとす
ると、X線管2及び検出器3の対が1回転する毎に2断
面のプロジェクションデータが得られ、この2つの断面
の間隔はdとなる。ここで、2つの検出器をそれぞれ検
出器A,検出器B、また、各検出器A,Bで得られる断
面をA断面、B断面と呼ぶことにする。
信号を取込み、データ処理部10、スキャン制御部11
を総括的に制御する。次に、本実施例の動作について説
明する。いま、検出器3の列数を2、この間隔をdとす
ると、X線管2及び検出器3の対が1回転する毎に2断
面のプロジェクションデータが得られ、この2つの断面
の間隔はdとなる。ここで、2つの検出器をそれぞれ検
出器A,検出器B、また、各検出器A,Bで得られる断
面をA断面、B断面と呼ぶことにする。
【0014】そして、このCT装置を用いてヘリカルス
キャンを行ない、このときの天板6の移動速度をX線管
2が1回転する間に距離dだけ進む速度とすれば、1回
転目のB断面(A断面からB断面側に天板6が移動する
ものとする)と2回転のA断面が一致することになる。
以後同様に、2回転目のB断面と3回転目のA断面とい
う具合に断面が一致する。
キャンを行ない、このときの天板6の移動速度をX線管
2が1回転する間に距離dだけ進む速度とすれば、1回
転目のB断面(A断面からB断面側に天板6が移動する
ものとする)と2回転のA断面が一致することになる。
以後同様に、2回転目のB断面と3回転目のA断面とい
う具合に断面が一致する。
【0015】図2はヘリカルスキャンの際に検出器3が
描く軌跡を示しており、符号21は検出器A、符号22
は検出器Bの軌跡を示している。そして、X線管2が1
回転する毎にX線管2の管電圧を高レベル、低レベルで
交互に切換えれば、同一断面にて異なる管電圧のプロジ
ェクションデータが得られることになる。これは、図2
において太線が高レベル、細線が低レベルであることか
ら容易に理解できる。
描く軌跡を示しており、符号21は検出器A、符号22
は検出器Bの軌跡を示している。そして、X線管2が1
回転する毎にX線管2の管電圧を高レベル、低レベルで
交互に切換えれば、同一断面にて異なる管電圧のプロジ
ェクションデータが得られることになる。これは、図2
において太線が高レベル、細線が低レベルであることか
ら容易に理解できる。
【0016】つまり、1回のヘリカルスキャンで同一軌
道面のエネルギーの異なる2種のプロジェクションデー
タが得られ、このデータを用いればデュアルエナジー法
を実現することができるのである。この場合は1回のヘ
リカルスキャンであるので長い撮影時間を要することは
なく、また、データのビュー数が減ることもないので分
解能は低下しない。
道面のエネルギーの異なる2種のプロジェクションデー
タが得られ、このデータを用いればデュアルエナジー法
を実現することができるのである。この場合は1回のヘ
リカルスキャンであるので長い撮影時間を要することは
なく、また、データのビュー数が減ることもないので分
解能は低下しない。
【0017】また、上記の例は検出器3が2列である場
合を示しましたが、これは2に限定されず2以上でも良
い。一般的に、寝台6の送りスピードP、検出器の列数
N、検出器の列ピッチdは次に示す(1)式を満足すれ
ば良い。
合を示しましたが、これは2に限定されず2以上でも良
い。一般的に、寝台6の送りスピードP、検出器の列数
N、検出器の列ピッチdは次に示す(1)式を満足すれ
ば良い。
【0018】 P=(N−i)d/(2n−1) …… (1) ここで、nは自然数、iはN未満の自然数である。
(1)式において、寝台6の送りスピードPが小さいほ
ど複数の管電圧に対してオーバラップしたヘリカル軌跡
のピッチも小さくなり、最終的に得られる画像の精度も
向上する。
(1)式において、寝台6の送りスピードPが小さいほ
ど複数の管電圧に対してオーバラップしたヘリカル軌跡
のピッチも小さくなり、最終的に得られる画像の精度も
向上する。
【0019】なお、ここでは、X線管電圧切り換えの周
期を連続回転1回転とした場合を例にしたが、それ以外
の周期でも検出器の列数、列ピッチ、寝台の送りスピー
ドを調整することで、複数の管電圧に対し、オーバーラ
ップしたヘリカル軌跡を得ることができる。
期を連続回転1回転とした場合を例にしたが、それ以外
の周期でも検出器の列数、列ピッチ、寝台の送りスピー
ドを調整することで、複数の管電圧に対し、オーバーラ
ップしたヘリカル軌跡を得ることができる。
【0020】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検体の体軸方向に複数列のX線検出器を設け、これを
用いたヘリカルスキャンを行なうことで各検出器の軌跡
を一致させることができる。そして、X線管が1回転す
る毎に管電圧を切換えればデュアルエナジー法を達成す
ることができる。この場合のデュアルエナジー法におい
ては、スキャンに長時間を要する、分解能が低下する等
の欠点は解消される。
被検体の体軸方向に複数列のX線検出器を設け、これを
用いたヘリカルスキャンを行なうことで各検出器の軌跡
を一致させることができる。そして、X線管が1回転す
る毎に管電圧を切換えればデュアルエナジー法を達成す
ることができる。この場合のデュアルエナジー法におい
ては、スキャンに長時間を要する、分解能が低下する等
の欠点は解消される。
【図1】本発明に係るX線CT装置の概略的な構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
【図2】ヘリカルスキャンの際の各検出器の軌跡を示す
説明図である。
説明図である。
2 X線管 3 検出器 5 X線発生装置 6 天板 9 制御装置 10 データ処理部 11 スキャン制御部
Claims (1)
- 【請求項1】 被検体の体軸方向に拡がりを持つX線管
と、前記X線管と対向配置され体軸方向に同一ピッチで
複数列配置されたX線検出器と、 前記X線管、X線検出器の対を回転させるとともに、こ
の1回転の間に前記被検体を載置する天板を前記X線検
出器のピッチだけスライドさせるべく制御する手段と、 前記X線管が1回転する毎に、当該X線管の管電圧を高
レベルと低レベルとで交互に切換える手段と、 を有することを特徴とするX線CT装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5230682A JPH0779965A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | X線ct装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5230682A JPH0779965A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | X線ct装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0779965A true JPH0779965A (ja) | 1995-03-28 |
Family
ID=16911663
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5230682A Pending JPH0779965A (ja) | 1993-09-17 | 1993-09-17 | X線ct装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0779965A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002541897A (ja) * | 1999-04-15 | 2002-12-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 最適化ctプロトコル |
JP2007278726A (ja) * | 2006-04-03 | 2007-10-25 | Toshiba Corp | 核医学診断装置及び核医学診断方法 |
JP2009142518A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2012034924A (ja) * | 2010-08-10 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | X線ct装置の撮影条件処理方法及びx線ct装置 |
-
1993
- 1993-09-17 JP JP5230682A patent/JPH0779965A/ja active Pending
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2002541897A (ja) * | 1999-04-15 | 2002-12-10 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 最適化ctプロトコル |
JP4732592B2 (ja) * | 1999-04-15 | 2011-07-27 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 最適化ctプロトコル |
JP2007278726A (ja) * | 2006-04-03 | 2007-10-25 | Toshiba Corp | 核医学診断装置及び核医学診断方法 |
JP2009142518A (ja) * | 2007-12-17 | 2009-07-02 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | X線ct装置 |
JP2012034924A (ja) * | 2010-08-10 | 2012-02-23 | Toshiba Corp | X線ct装置の撮影条件処理方法及びx線ct装置 |
CN102379715A (zh) * | 2010-08-10 | 2012-03-21 | 株式会社东芝 | X射线ct装置的摄影条件处理方法以及x射线ct装置 |
US8781060B2 (en) | 2010-08-10 | 2014-07-15 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Exposure condition processing method of X-ray CT apparatus and X-ray CT apparatus |
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