JP2620467B2 - Ｘ線ｃｔ装置 - Google Patents
Ｘ線ｃｔ装置Info
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- A—HUMAN NECESSITIES
- A61—MEDICAL OR VETERINARY SCIENCE; HYGIENE
- A61B—DIAGNOSIS; SURGERY; IDENTIFICATION
- A61B6/00—Apparatus for radiation diagnosis, e.g. combined with radiation therapy equipment
- A61B6/02—Devices for diagnosis sequentially in different planes; Stereoscopic radiation diagnosis
- A61B6/03—Computerised tomographs
- A61B6/032—Transmission computed tomography [CT]
- A61B6/035—Mechanical aspects of CT
-
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- A61B6/54—Control of apparatus or devices for radiation diagnosis
-
- G—PHYSICS
- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
- G21K1/00—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating
- G21K1/02—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators
- G21K1/04—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers
-
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- G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
- G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
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- G21K1/043—Arrangements for handling particles or ionising radiation, e.g. focusing or moderating using diaphragms, collimators using variable diaphragms, shutters, choppers changing time structure of beams by mechanical means, e.g. choppers, spinning filter wheels
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、被検体の周回方向か
らＸ線を照射して被検体の断層像を得るＸ線ＣＴ装置に
関する。
らＸ線を照射して被検体の断層像を得るＸ線ＣＴ装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】この種のＸ線ＣＴ装置では、天板に仰臥
した被検体を挟んで配置されたＸ線照射装置とＸ線検出
器とを被検体に対してスキャニングさせることにより、
被検体内のＸ線吸収に関する被検体の周回方向からの投
影データを収集し、そのデータを逆投影することによっ
て被検体内の断層面におけるＸ線吸収係数の分布像を再
構成して、被検体内の断層像を得るように構成してい
る。また、１枚分の断層像が得られると、次の断層像を
得るために、被検体の次の関心部位の断層面をＸ線照射
手段から照射されるＸ線の照射方向に合わせるように天
板をスライドさせ、上述と同様にその断層面の断層像を
得る。
した被検体を挟んで配置されたＸ線照射装置とＸ線検出
器とを被検体に対してスキャニングさせることにより、
被検体内のＸ線吸収に関する被検体の周回方向からの投
影データを収集し、そのデータを逆投影することによっ
て被検体内の断層面におけるＸ線吸収係数の分布像を再
構成して、被検体内の断層像を得るように構成してい
る。また、１枚分の断層像が得られると、次の断層像を
得るために、被検体の次の関心部位の断層面をＸ線照射
手段から照射されるＸ線の照射方向に合わせるように天
板をスライドさせ、上述と同様にその断層面の断層像を
得る。
【０００３】ところで、断層面のスライス厚さが厚すぎ
ると、例えば、脳底部の骨の多い部分等では、再構成画
像にパーシャルボリュームアーティファクトと呼ばれる
偽像が生じ易い。そこで、例えば、特開昭61-109551 公
報に開示されているように、薄いスライス厚さで多数枚
の断層面のデータを収集し、それらのデータを加算する
等のデータ処理を施して、厚い断層面についての鮮明な
断層像を得ることが行なわれている。
ると、例えば、脳底部の骨の多い部分等では、再構成画
像にパーシャルボリュームアーティファクトと呼ばれる
偽像が生じ易い。そこで、例えば、特開昭61-109551 公
報に開示されているように、薄いスライス厚さで多数枚
の断層面のデータを収集し、それらのデータを加算する
等のデータ処理を施して、厚い断層面についての鮮明な
断層像を得ることが行なわれている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、天板上には被検体が仰臥している関係
で、関心部位の断層面とＸ線照射装置等との位置ずれを
防止するために、天板のスライドは比較的低速（約２
秒）で行なわれる。これに対して、Ｘ線照射装置等によ
るスキャニングは高速（約１秒）で行なわれる。このよ
うな条件の下、多数枚の断層面のデータを収集するため
には、被検者を載置した天板のスライドをＸ線照射装置
等によるスキャニングと交互に、多数回行なう必要があ
り、全断層面のデータ収集に要する時間は、特に天板の
スライド動作のために長くなるという問題がある。
うな構成を有する従来例の場合には、次のような問題が
ある。すなわち、天板上には被検体が仰臥している関係
で、関心部位の断層面とＸ線照射装置等との位置ずれを
防止するために、天板のスライドは比較的低速（約２
秒）で行なわれる。これに対して、Ｘ線照射装置等によ
るスキャニングは高速（約１秒）で行なわれる。このよ
うな条件の下、多数枚の断層面のデータを収集するため
には、被検者を載置した天板のスライドをＸ線照射装置
等によるスキャニングと交互に、多数回行なう必要があ
り、全断層面のデータ収集に要する時間は、特に天板の
スライド動作のために長くなるという問題がある。
【０００５】この発明は、このような事情に鑑みてなさ
れたものであって、多数枚の断層面のデータ収集を行な
う場合において、全断層面のデータ収集に要する時間を
短縮するＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
れたものであって、多数枚の断層面のデータ収集を行な
う場合において、全断層面のデータ収集に要する時間を
短縮するＸ線ＣＴ装置を提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】この発明は、このような
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、被検体を挟んで配置された単焦点のＸ
線照射手段と、Ｘ線検出手段とを前記被検体に対してス
キャニングさせることにより、前記被検体の周回方向か
ら収集された前記被検体の断層面内のＸ線吸収に関する
投影データに基づいて、前記被検体内の断層像を得るＸ
線ＣＴ装置において、前記Ｘ線照射手段から照射される
Ｘ線の照射方向を少なくともコリメータの変位により被
検体の体軸に沿って切り替えるＸ線照射方向切替え手段
と、前記被検体を体軸方向に移動させる被検体移動手段
と、ある断層面に対するスキャニングが完了すると、そ
の断層面に隣接する断層面に対してスキャニングを行な
うように、前記Ｘ線照射方向切替え手段を駆動して前記
Ｘ線照射手段から照射されるＸ線の照射方向を切り替え
る制御を、初期位置にある断層面から予め設定した最終
断層面まで順次行なうとともに、前記最終断層面に対す
るスキャニングが完了すると、前記初期位置にある断層
面に対してスキャニングを行なうように、前記Ｘ線照射
方向切替え手段を駆動して前記Ｘ線照射手段から照射さ
れるＸ線の照射方向を切り替えるリセット制御を行な
い、さらに、前記リセット制御に同期して、前記最終断
層面に隣接する新たな断層面を前記初期位置に設定する
ように、前記被検体移動手段を駆動して被検体を移動さ
せる制御を行なう制御手段を備えたものである。
目的を達成するために、次のような構成をとる。すなわ
ち、この発明は、被検体を挟んで配置された単焦点のＸ
線照射手段と、Ｘ線検出手段とを前記被検体に対してス
キャニングさせることにより、前記被検体の周回方向か
ら収集された前記被検体の断層面内のＸ線吸収に関する
投影データに基づいて、前記被検体内の断層像を得るＸ
線ＣＴ装置において、前記Ｘ線照射手段から照射される
Ｘ線の照射方向を少なくともコリメータの変位により被
検体の体軸に沿って切り替えるＸ線照射方向切替え手段
と、前記被検体を体軸方向に移動させる被検体移動手段
と、ある断層面に対するスキャニングが完了すると、そ
の断層面に隣接する断層面に対してスキャニングを行な
うように、前記Ｘ線照射方向切替え手段を駆動して前記
Ｘ線照射手段から照射されるＸ線の照射方向を切り替え
る制御を、初期位置にある断層面から予め設定した最終
断層面まで順次行なうとともに、前記最終断層面に対す
るスキャニングが完了すると、前記初期位置にある断層
面に対してスキャニングを行なうように、前記Ｘ線照射
方向切替え手段を駆動して前記Ｘ線照射手段から照射さ
れるＸ線の照射方向を切り替えるリセット制御を行な
い、さらに、前記リセット制御に同期して、前記最終断
層面に隣接する新たな断層面を前記初期位置に設定する
ように、前記被検体移動手段を駆動して被検体を移動さ
せる制御を行なう制御手段を備えたものである。
【０００７】
【作用】この発明の作用は次のとおりである。初期位置
にある被検体の断層面に対してスキャニングが行なわ
れ、そのスキャニングが完了すると、制御手段は少なく
ともコリメータの変位によりＸ線の照射方向を切り替え
るＸ線照射方向切替え手段を駆動して、スキャニングが
完了した断層面に隣接する断層面のスキャニングを行な
うように単焦点のＸ線照射手段から照射されるＸ線の照
射方向を切替え、その断層面のスキャニングが完了する
と、さらに、制御手段はＸ線照射方向切替え手段を駆動
して、その断層面に隣接する断層面のスキャニングを行
なえるようにＸ線照射手段から照射されるＸ線の照射方
向を切り替える。以後、所定数の断層面のスキャニング
を行なうように、制御手段は、体軸方向に互いに隣接す
る断層面のスキャニングを順次行なうように、Ｘ線照射
方向切替え手段を駆動して、単焦点のＸ線照射手段から
照射されるＸ線の照射方向を順次切り替えていく。そし
て、最終断層面のスキャニングが完了すると、制御手段
はＸ線照射昇降切替え手段を駆動して、リセット制御を
行なうとともに、このリセット制御に同期して、被検体
移動手段を駆動して、最終断層面に隣接する被検体の新
たな断層面を初期位置に設定するために被検体を移動さ
せる。すなわち、被検体の所定枚の断層面については、
被検体を移動させず、制御手段がＸ線照射方向切替え手
段を駆動して、Ｘ線照射手段から照射されるＸ線の照射
方向を切り替えることにより、各々の断層面に対してス
キャニングを行なう。そして、その所定枚の断層面のス
キャニングが完了すると、次にスキャニングする被検体
の断層面を初期位置に設定するために、制御手段は被検
体移動手段を駆動して、被検体を移動させるとともに、
Ｘ線照射方向切替え手段を駆動して、リセット制御を行
なうことにより、初期位置に設定された断層面に対する
スキャニングを行う。以後、同様の動作を、被検体の断
層面のデータ収集が全て完了するまで繰り返す。従っ
て、被検体の移動を（１／所定数）回に減らすことがで
きる。
にある被検体の断層面に対してスキャニングが行なわ
れ、そのスキャニングが完了すると、制御手段は少なく
ともコリメータの変位によりＸ線の照射方向を切り替え
るＸ線照射方向切替え手段を駆動して、スキャニングが
完了した断層面に隣接する断層面のスキャニングを行な
うように単焦点のＸ線照射手段から照射されるＸ線の照
射方向を切替え、その断層面のスキャニングが完了する
と、さらに、制御手段はＸ線照射方向切替え手段を駆動
して、その断層面に隣接する断層面のスキャニングを行
なえるようにＸ線照射手段から照射されるＸ線の照射方
向を切り替える。以後、所定数の断層面のスキャニング
を行なうように、制御手段は、体軸方向に互いに隣接す
る断層面のスキャニングを順次行なうように、Ｘ線照射
方向切替え手段を駆動して、単焦点のＸ線照射手段から
照射されるＸ線の照射方向を順次切り替えていく。そし
て、最終断層面のスキャニングが完了すると、制御手段
はＸ線照射昇降切替え手段を駆動して、リセット制御を
行なうとともに、このリセット制御に同期して、被検体
移動手段を駆動して、最終断層面に隣接する被検体の新
たな断層面を初期位置に設定するために被検体を移動さ
せる。すなわち、被検体の所定枚の断層面については、
被検体を移動させず、制御手段がＸ線照射方向切替え手
段を駆動して、Ｘ線照射手段から照射されるＸ線の照射
方向を切り替えることにより、各々の断層面に対してス
キャニングを行なう。そして、その所定枚の断層面のス
キャニングが完了すると、次にスキャニングする被検体
の断層面を初期位置に設定するために、制御手段は被検
体移動手段を駆動して、被検体を移動させるとともに、
Ｘ線照射方向切替え手段を駆動して、リセット制御を行
なうことにより、初期位置に設定された断層面に対する
スキャニングを行う。以後、同様の動作を、被検体の断
層面のデータ収集が全て完了するまで繰り返す。従っ
て、被検体の移動を（１／所定数）回に減らすことがで
きる。
【０００８】
【実施例】以下、図面を参照してこの発明の一実施例を
説明する。図１はこの発明の一実施例に係るＸ線ＣＴ装
置の概略構成を示した図であり、図２はその内部構造と
制御系を示した図である。
説明する。図１はこの発明の一実施例に係るＸ線ＣＴ装
置の概略構成を示した図であり、図２はその内部構造と
制御系を示した図である。
【０００９】Ｘ線照射手段としての単焦点のＸ線管１と
Ｘ線コリメータ２とから構成されるＸ線照射装置３と、
透過Ｘ線を検出して電気信号に変換するＸ線検出手段と
してのＸ線検出器４とが、図示しないガントリの開口部
に設けられた回転架台の内周面に対向して配置されて取
り付けられている。また、その開口部内に天板９上に仰
臥した状態で搬入された被検体Ｍのまわりを、回転架台
を回転させることにより、Ｘ線照射装置３とＸ線検出器
４とを対向して回転させ、その被検体Ｍの関心部位の断
層面に対してスキャニングを行なうように構成されてい
る。
Ｘ線コリメータ２とから構成されるＸ線照射装置３と、
透過Ｘ線を検出して電気信号に変換するＸ線検出手段と
してのＸ線検出器４とが、図示しないガントリの開口部
に設けられた回転架台の内周面に対向して配置されて取
り付けられている。また、その開口部内に天板９上に仰
臥した状態で搬入された被検体Ｍのまわりを、回転架台
を回転させることにより、Ｘ線照射装置３とＸ線検出器
４とを対向して回転させ、その被検体Ｍの関心部位の断
層面に対してスキャニングを行なうように構成されてい
る。
【００１０】Ｘ線管１には、Ｘ線発生に必要な高電圧を
供給する高電圧発生部３０が接続されており、Ｘ線検出
器４には、その検出信号を収集してデジタル信号に変換
するデータ収集システム（ＤＡＳ）３１、収集されたデ
ジタル信号に基づいて断層像を再構成する画像再構成部
３２、再構成された断層像を表示するＣＲＴ３３等が備
えられている。
供給する高電圧発生部３０が接続されており、Ｘ線検出
器４には、その検出信号を収集してデジタル信号に変換
するデータ収集システム（ＤＡＳ）３１、収集されたデ
ジタル信号に基づいて断層像を再構成する画像再構成部
３２、再構成された断層像を表示するＣＲＴ３３等が備
えられている。
【００１１】Ｘ線コリメータ２は、Ｘ線管１からの照射
Ｘ線のスライス厚さと広がり角度を調整するために、Ｘ
線管１に近接配置されている。このＸ線コリメータ２
は、真鍮や鉛等のＸ線遮蔽材料で円柱形の形状に形成さ
れ、照射Ｘ線の広がり方向であるＸ方向（このＸ方向に
直交するＹ方向は被検体Ｍの体軸方向と一致する）に延
びたスリット５ａが形成されている。このスリット５ａ
の照射Ｘ線の出射口にあたる長孔６ａの円周方向の寸法
がスライス厚さｔを、Ｘ方向の寸法が照射Ｘ線の広がり
角αをそれぞれ形成するように設計され、照射Ｘ線の入
射口にあたる長孔６ｂの円周方向の寸法は長孔６ａの円
周方向の寸法よりも広く、Ｘ方向の寸法は長孔６ａのＸ
方向の寸法と同じにして、楔状のスリット５ａを形成し
ている。従って、Ｘ線管１から照射されたＸ線は、この
スリット５ａの長孔６ｂに入射し、長孔６ａでＸ線束が
絞られて、所望の形状のＸ線ビームＢが形成される。な
お、スライス厚さを可変にするために、Ｘ線コリメータ
２の円周方向にはスリット５ａ以外にも円周方向の開口
寸法が異なる複数個のスリット５ｂ、５ｃが形成されて
いる。
Ｘ線のスライス厚さと広がり角度を調整するために、Ｘ
線管１に近接配置されている。このＸ線コリメータ２
は、真鍮や鉛等のＸ線遮蔽材料で円柱形の形状に形成さ
れ、照射Ｘ線の広がり方向であるＸ方向（このＸ方向に
直交するＹ方向は被検体Ｍの体軸方向と一致する）に延
びたスリット５ａが形成されている。このスリット５ａ
の照射Ｘ線の出射口にあたる長孔６ａの円周方向の寸法
がスライス厚さｔを、Ｘ方向の寸法が照射Ｘ線の広がり
角αをそれぞれ形成するように設計され、照射Ｘ線の入
射口にあたる長孔６ｂの円周方向の寸法は長孔６ａの円
周方向の寸法よりも広く、Ｘ方向の寸法は長孔６ａのＸ
方向の寸法と同じにして、楔状のスリット５ａを形成し
ている。従って、Ｘ線管１から照射されたＸ線は、この
スリット５ａの長孔６ｂに入射し、長孔６ａでＸ線束が
絞られて、所望の形状のＸ線ビームＢが形成される。な
お、スライス厚さを可変にするために、Ｘ線コリメータ
２の円周方向にはスリット５ａ以外にも円周方向の開口
寸法が異なる複数個のスリット５ｂ、５ｃが形成されて
いる。
【００１２】また、Ｘ線コリメータ２は軸線方向をＸ方
向に一致させ、その一方の軸心部には正逆回転可能な駆
動モータ７の出力軸が取り付けられ、他方の軸心部は図
示しない軸受によって回動可能にガントリの開口部の回
転架台に取り付けられている。従って、Ｘ線コリメータ
２は駆動モータ７の回転により、軸心を中心として回動
可能となり、スリット５ａ〜５ｃの選択はもちろんのこ
と、例えば、スリット５ａを微小回転変位させることに
より、長孔６ａで絞られたＸ線ビームＢをＹ方向に振ら
せることができる。このとき、長孔６ｂは円周方向に広
くとっているので、微小回転変位してもＸ線管１から照
射されたＸ線をスリット５ａに導くことができる。この
Ｘ線コリメータ２の回動、すなわち、駆動モータ７の正
逆回転は、制御部８によって制御されるように構成され
ている。このＸ線コリメータ２は、この発明におけるＸ
線照射方向切替え手段に相当する。
向に一致させ、その一方の軸心部には正逆回転可能な駆
動モータ７の出力軸が取り付けられ、他方の軸心部は図
示しない軸受によって回動可能にガントリの開口部の回
転架台に取り付けられている。従って、Ｘ線コリメータ
２は駆動モータ７の回転により、軸心を中心として回動
可能となり、スリット５ａ〜５ｃの選択はもちろんのこ
と、例えば、スリット５ａを微小回転変位させることに
より、長孔６ａで絞られたＸ線ビームＢをＹ方向に振ら
せることができる。このとき、長孔６ｂは円周方向に広
くとっているので、微小回転変位してもＸ線管１から照
射されたＸ線をスリット５ａに導くことができる。この
Ｘ線コリメータ２の回動、すなわち、駆動モータ７の正
逆回転は、制御部８によって制御されるように構成され
ている。このＸ線コリメータ２は、この発明におけるＸ
線照射方向切替え手段に相当する。
【００１３】制御部８では、Ｘ線コリメータ２の回動制
御以外にも、被検体Ｍを載置する天板９の移動制御も行
なう。すなわち、天板９の長手方向にはラック１０が取
り付けられていて、このラック１０に噛合するピニオン
ギア１１が設けられている。また、このピニオンギア１
１には、正逆回転可能な駆動モータ１２の出力軸が取り
付けられている。この駆動モータ１２の回転により、ピ
ニオンギア１１が回転し、ラック１０を介して天板９が
長手方向（Ｙ方向と一致する）にスライドするように構
成されている。そして、この駆動モータ１２の正逆回転
は、制御部８によって制御されるように構成されてい
る。なお、この天板９は、この発明における被検体移動
手段に相当する。
御以外にも、被検体Ｍを載置する天板９の移動制御も行
なう。すなわち、天板９の長手方向にはラック１０が取
り付けられていて、このラック１０に噛合するピニオン
ギア１１が設けられている。また、このピニオンギア１
１には、正逆回転可能な駆動モータ１２の出力軸が取り
付けられている。この駆動モータ１２の回転により、ピ
ニオンギア１１が回転し、ラック１０を介して天板９が
長手方向（Ｙ方向と一致する）にスライドするように構
成されている。そして、この駆動モータ１２の正逆回転
は、制御部８によって制御されるように構成されてい
る。なお、この天板９は、この発明における被検体移動
手段に相当する。
【００１４】この制御部８は、例えば、ＣＰＵ（中央処
理装置）やＣＰＵメモリ、ＲＯＭ（読み出し専用メモ
リ）等からなるマイクロコンピューターで構成されてお
り、後述する断層像のデータ収集手順等（プログラム）
はＲＯＭに予め記憶されており、そのプログラムに従っ
てＣＰＵが処理を実行する。なお、ＣＰＵメモリは処理
中のデータの一時記憶等に使用される。また、この制御
部８は、この発明における制御手段に相当する。
理装置）やＣＰＵメモリ、ＲＯＭ（読み出し専用メモ
リ）等からなるマイクロコンピューターで構成されてお
り、後述する断層像のデータ収集手順等（プログラム）
はＲＯＭに予め記憶されており、そのプログラムに従っ
てＣＰＵが処理を実行する。なお、ＣＰＵメモリは処理
中のデータの一時記憶等に使用される。また、この制御
部８は、この発明における制御手段に相当する。
【００１５】Ｘ線検出器４は、上述したようにガントリ
の開口部内の回転架台に取り付けられた湾曲した帯状の
形状を有し、そのＸ方向の寸法は、スリット５ａ（５
ｂ、５ｃ）によってＸ方向に広がった照射Ｘ線ビームＢ
が被検体Ｍを透過した透過Ｘ線を全て検出できる寸法で
ある。また、Ｙ方向の寸法は、Ｘ線コリメータ２が微小
回転変位されることにより、ｎ枚分の断層像の撮影を行
なうように制御したときに、照射されるＸ線を全て検出
できる寸法を有するように構成されている。なお、ｎ
は、後述するように、制御部８が照射Ｘ線の照射方向を
Ｙ方向にずらすことによって、スキャニングする断層面
の数である。
の開口部内の回転架台に取り付けられた湾曲した帯状の
形状を有し、そのＸ方向の寸法は、スリット５ａ（５
ｂ、５ｃ）によってＸ方向に広がった照射Ｘ線ビームＢ
が被検体Ｍを透過した透過Ｘ線を全て検出できる寸法で
ある。また、Ｙ方向の寸法は、Ｘ線コリメータ２が微小
回転変位されることにより、ｎ枚分の断層像の撮影を行
なうように制御したときに、照射されるＸ線を全て検出
できる寸法を有するように構成されている。なお、ｎ
は、後述するように、制御部８が照射Ｘ線の照射方向を
Ｙ方向にずらすことによって、スキャニングする断層面
の数である。
【００１６】次に、上述の構成のＸ線ＣＴ装置による断
層像のデータ収集手順を図３に示すフローチャートに従
って説明する。なお、ここでは、図１に示すように、被
検体Ｍの断層面＃１〜＃４をその順でスキャニングする
場合について説明する。＃１、＃２、＃３、＃４は互い
に隣接しており、それぞれ２mmのスライス厚さを有して
いる。
層像のデータ収集手順を図３に示すフローチャートに従
って説明する。なお、ここでは、図１に示すように、被
検体Ｍの断層面＃１〜＃４をその順でスキャニングする
場合について説明する。＃１、＃２、＃３、＃４は互い
に隣接しており、それぞれ２mmのスライス厚さを有して
いる。
【００１７】最初の断層面＃１を照射Ｘ線ビームＢがＸ
線コリメータ２から垂直に照射される位置（このときの
Ｘ線コリメータ２のスリット５ａの位置を初期位置とい
う）に合わせるために、制御部８は被検体Ｍを載置した
天板９を移動させる（ステップＳ１）。この状態で、Ｘ
線照射装置３とＸ線検出器４とを対向させたまま、被検
体Ｍのまわりを回転させ、＃１のスキャニングを行なう
（ステップＳ２）。＃１のスキャニングが完了したら、
制御部８はＸ線コリメータ２から照射されるＸ線を次の
断層面＃２に照射するように、Ｘ線の照射方向がＹ方向
に２mmずれるだけＸ線コリメータ２を微小回転変位させ
る（ステップＳ３）。その状態で、Ｘ線照射装置３とＸ
線検出器４とを対向させたまま、被検体Ｍのまわりを回
転させ、＃２のスキャニングを行なう（ステップＳ
４）。このとき、照射Ｘ線は断層面に対して垂直ではな
いが、スキャニングは断層面を１回転して行なわれ、Ｘ
線の断層面に対する照射中心は、断層面に対して略垂直
となるので、画像再構成上、特に問題はない。＃２のス
キャニングが完了したら、＃３、＃４のスキャニングを
行なうために、制御部８はＸ線コリメータ２を初期位置
に戻す（リセットする）ように逆方向に回転させること
により、Ｘ線の照射方向をＹ方向に−４mmずらせる。ま
た、そのリセット動作と同時に、断層面＃３を初期位置
に合わせるために、天板９を移動させる動作を開始させ
る（ステップＳ５、Ｓ６）。そして、上述のステップＳ
２〜Ｓ４と同様の手順で、＃１、＃２の代わりに＃３、
＃４の断層面のスキャニングを行なう。全断層面（＃１
〜＃４）のデータ収集が完了すれば、被検体Ｍをガント
リから搬出させるために天板９を移動させる（ステップ
Ｓ７）。
線コリメータ２から垂直に照射される位置（このときの
Ｘ線コリメータ２のスリット５ａの位置を初期位置とい
う）に合わせるために、制御部８は被検体Ｍを載置した
天板９を移動させる（ステップＳ１）。この状態で、Ｘ
線照射装置３とＸ線検出器４とを対向させたまま、被検
体Ｍのまわりを回転させ、＃１のスキャニングを行なう
（ステップＳ２）。＃１のスキャニングが完了したら、
制御部８はＸ線コリメータ２から照射されるＸ線を次の
断層面＃２に照射するように、Ｘ線の照射方向がＹ方向
に２mmずれるだけＸ線コリメータ２を微小回転変位させ
る（ステップＳ３）。その状態で、Ｘ線照射装置３とＸ
線検出器４とを対向させたまま、被検体Ｍのまわりを回
転させ、＃２のスキャニングを行なう（ステップＳ
４）。このとき、照射Ｘ線は断層面に対して垂直ではな
いが、スキャニングは断層面を１回転して行なわれ、Ｘ
線の断層面に対する照射中心は、断層面に対して略垂直
となるので、画像再構成上、特に問題はない。＃２のス
キャニングが完了したら、＃３、＃４のスキャニングを
行なうために、制御部８はＸ線コリメータ２を初期位置
に戻す（リセットする）ように逆方向に回転させること
により、Ｘ線の照射方向をＹ方向に−４mmずらせる。ま
た、そのリセット動作と同時に、断層面＃３を初期位置
に合わせるために、天板９を移動させる動作を開始させ
る（ステップＳ５、Ｓ６）。そして、上述のステップＳ
２〜Ｓ４と同様の手順で、＃１、＃２の代わりに＃３、
＃４の断層面のスキャニングを行なう。全断層面（＃１
〜＃４）のデータ収集が完了すれば、被検体Ｍをガント
リから搬出させるために天板９を移動させる（ステップ
Ｓ７）。
【００１８】なお、断層面が＃５、＃６、…とある場合
にも、ステップＳ２〜Ｓ５の処理を繰り返し実行するこ
とにより、２枚分の各断層面のスキャニングは、Ｘ線コ
リメータ２の微小回転により行ない、２枚分の断層面の
スキャニングが完了するごとに天板９（被検体Ｍ）を移
動するようにして、多数枚の断層面のデータ収集を行な
うことができる。また、例えば、＃１〜＃３の各断層面
のスキャニングをＸ線コリメータ２の微小回転により行
ない、３枚の各断層面のスキャニングが完了するごとに
天板９を移動するように制御してもよい。但し、その場
合には、Ｘ線検出器４のＹ方向の寸法は、＃１〜＃３の
スキャニングが行なえるだけの寸法が必要である。これ
は、例えば、１０mmのスライス厚さのスキャニングが行
なえるＸ線ＣＴ装置であれば、２mmのスライス厚さに分
割して各断層面をスキャニングし、データ処理で１０mm
のスライス厚さの断層像を構成し、パーシャルボリュー
ムアーティファクトを回避した断層像を得る処理等にお
いて、Ｘ線コリメータ２の微小回転を２mmずつ５回に分
けてＹ方向にずらして、スキャニングすることが可能と
なる。
にも、ステップＳ２〜Ｓ５の処理を繰り返し実行するこ
とにより、２枚分の各断層面のスキャニングは、Ｘ線コ
リメータ２の微小回転により行ない、２枚分の断層面の
スキャニングが完了するごとに天板９（被検体Ｍ）を移
動するようにして、多数枚の断層面のデータ収集を行な
うことができる。また、例えば、＃１〜＃３の各断層面
のスキャニングをＸ線コリメータ２の微小回転により行
ない、３枚の各断層面のスキャニングが完了するごとに
天板９を移動するように制御してもよい。但し、その場
合には、Ｘ線検出器４のＹ方向の寸法は、＃１〜＃３の
スキャニングが行なえるだけの寸法が必要である。これ
は、例えば、１０mmのスライス厚さのスキャニングが行
なえるＸ線ＣＴ装置であれば、２mmのスライス厚さに分
割して各断層面をスキャニングし、データ処理で１０mm
のスライス厚さの断層像を構成し、パーシャルボリュー
ムアーティファクトを回避した断層像を得る処理等にお
いて、Ｘ線コリメータ２の微小回転を２mmずつ５回に分
けてＹ方向にずらして、スキャニングすることが可能と
なる。
【００１９】上述の手順によってデータ収集したときの
処理時間を図４に示すタイムチャートを参照して説明す
る。図４に示すように、ステップＳ１が完了した時間を
「０」とすると、＃１のスキャニング（ステップＳ２）
に約１秒、次に、Ｘ線コリメータ２の回転動作（ステッ
プＳ３）に約０．０５秒、＃２のスキャニング（ステッ
プＳ４）に約１秒かかる。次に、Ｘ線コリメータ２のリ
セットのための回転動作（約０．０５秒）と、天板９を
移動する動作（約３秒）とは同時に開始する（ステップ
Ｓ６）ので、Ｘ線コリメータ２のリセットのための回転
動作は天板９を移動する動作の最中に完了する。そし
て、＃３のスキャニング（ステップＳ２）に約１秒、Ｘ
線コリメータ２の回転動作（ステップＳ３）に約０．０
５秒、＃４のスキャニング（ステップＳ４）に約１秒か
かるので、＃４のスキャニングが完了するまでの時間
は、１＋０．０５＋１＋３＋１＋０．０５＋１＝約７．
１秒である。なお、天板９の移動時間に約３秒を要する
と算定したのは、＃３を＃１の位置まで（４mm）を一度
に移動させるので、後述するように、２mm分の移動より
も長くかかると考えられるからである。
処理時間を図４に示すタイムチャートを参照して説明す
る。図４に示すように、ステップＳ１が完了した時間を
「０」とすると、＃１のスキャニング（ステップＳ２）
に約１秒、次に、Ｘ線コリメータ２の回転動作（ステッ
プＳ３）に約０．０５秒、＃２のスキャニング（ステッ
プＳ４）に約１秒かかる。次に、Ｘ線コリメータ２のリ
セットのための回転動作（約０．０５秒）と、天板９を
移動する動作（約３秒）とは同時に開始する（ステップ
Ｓ６）ので、Ｘ線コリメータ２のリセットのための回転
動作は天板９を移動する動作の最中に完了する。そし
て、＃３のスキャニング（ステップＳ２）に約１秒、Ｘ
線コリメータ２の回転動作（ステップＳ３）に約０．０
５秒、＃４のスキャニング（ステップＳ４）に約１秒か
かるので、＃４のスキャニングが完了するまでの時間
は、１＋０．０５＋１＋３＋１＋０．０５＋１＝約７．
１秒である。なお、天板９の移動時間に約３秒を要する
と算定したのは、＃３を＃１の位置まで（４mm）を一度
に移動させるので、後述するように、２mm分の移動より
も長くかかると考えられるからである。
【００２０】次に、従来装置によってデータ収集したと
きの処理時間を図５に示すタイムチャートを参照して説
明する。図５に示すように、＃１がスキャニング位置に
設定されている状態（上述のステップＳ１に相当する状
態）を「０」とすると、＃１のスキャニングに約１秒を
要し、そのスキャニングが完了すると＃２をスキャニン
グ位置に設定するために、天板９を移動させ、その移動
時間に約２秒を要する。次に、＃２のスキャニングに約
１秒、＃３をスキャニング位置に設定するための天板９
の移動に約２秒、＃３のスキャニングに約１秒、＃４を
スキャニング位置に設定するための天板９の移動に約２
秒、最後に、＃４のスキャニングに約１秒を要するの
で、＃４のスキャニングが完了するまでに、１＋２＋１
＋２＋１＋２＋１＝約１０秒かかることになる。なお、
天板９の移動時間に約２秒を要すると算定したのは、２
mm分の移動を行なうからである。
きの処理時間を図５に示すタイムチャートを参照して説
明する。図５に示すように、＃１がスキャニング位置に
設定されている状態（上述のステップＳ１に相当する状
態）を「０」とすると、＃１のスキャニングに約１秒を
要し、そのスキャニングが完了すると＃２をスキャニン
グ位置に設定するために、天板９を移動させ、その移動
時間に約２秒を要する。次に、＃２のスキャニングに約
１秒、＃３をスキャニング位置に設定するための天板９
の移動に約２秒、＃３のスキャニングに約１秒、＃４を
スキャニング位置に設定するための天板９の移動に約２
秒、最後に、＃４のスキャニングに約１秒を要するの
で、＃４のスキャニングが完了するまでに、１＋２＋１
＋２＋１＋２＋１＝約１０秒かかることになる。なお、
天板９の移動時間に約２秒を要すると算定したのは、２
mm分の移動を行なうからである。
【００２１】図４と図５とを比較してもわかるように、
＃１〜＃４のデータ収集を行なうのに要する時間は約
２．９（１０−７．１）秒も速くすることができる。ま
た、例えば、＃１〜＃６のデータ収集を行なう場合に
は、本実施例で、約１２．１５秒（７．１＋３＋１＋
０．０５＋１）、従来装置で、約１６秒（１０＋２＋１
＋２＋１）となり、スキャニングする断層枚数が増えれ
ば、一層の時間の短縮を図ることもできる。
＃１〜＃４のデータ収集を行なうのに要する時間は約
２．９（１０−７．１）秒も速くすることができる。ま
た、例えば、＃１〜＃６のデータ収集を行なう場合に
は、本実施例で、約１２．１５秒（７．１＋３＋１＋
０．０５＋１）、従来装置で、約１６秒（１０＋２＋１
＋２＋１）となり、スキャニングする断層枚数が増えれ
ば、一層の時間の短縮を図ることもできる。
【００２２】次に、照射Ｘ線をＹ方向へ振らせるＸ線コ
リメータを別の構成で実現した第二実施例を図６を参照
して説明する。このＸ線コリメータ２０は、Ｙ方向に平
行な支持軸２６に摺動自在に貫通支持されており、支持
軸２６はガントリの開口部内の回転架台の内周面に固定
されている。Ｘ線コリメータ２０は、照射Ｘ線の広がり
方向に延びた長孔のスリット２１ａ〜２１ｃを形成した
板状のもので、真鍮や鉛等のＸ線遮蔽材料で形成されて
いる。各スリット２１ａ〜２１ｃは、照射Ｘ線の広がり
角度αとそれぞれのスライス厚さｔを形成するように設
計されている。また、例えば、スリット２１ａは、照射
Ｘ線の入射口にあたる長孔２２ｂの寸法は、出射口にあ
たる長孔（図に表れていない）の寸法よりも、Ｙ方向に
広くとられており楔状に形成されている。Ｘ線コリメー
タ２０は、Ｙ方向に摺動自在に取り付けられているが、
この駆動機構を以下に説明する。
リメータを別の構成で実現した第二実施例を図６を参照
して説明する。このＸ線コリメータ２０は、Ｙ方向に平
行な支持軸２６に摺動自在に貫通支持されており、支持
軸２６はガントリの開口部内の回転架台の内周面に固定
されている。Ｘ線コリメータ２０は、照射Ｘ線の広がり
方向に延びた長孔のスリット２１ａ〜２１ｃを形成した
板状のもので、真鍮や鉛等のＸ線遮蔽材料で形成されて
いる。各スリット２１ａ〜２１ｃは、照射Ｘ線の広がり
角度αとそれぞれのスライス厚さｔを形成するように設
計されている。また、例えば、スリット２１ａは、照射
Ｘ線の入射口にあたる長孔２２ｂの寸法は、出射口にあ
たる長孔（図に表れていない）の寸法よりも、Ｙ方向に
広くとられており楔状に形成されている。Ｘ線コリメー
タ２０は、Ｙ方向に摺動自在に取り付けられているが、
この駆動機構を以下に説明する。
【００２３】Ｘ線コリメータ２０には、そのＹ方向に沿
ってラック２３が取り付けられており、そのラック２３
に噛合するピニオンギア２４が設けられている。ピニオ
ンギア２４には、正逆回転可能な駆動モータ２５の出力
軸が取り付けられている。この駆動モータ２５の回転に
より、ピニオンギア２４が回転し、ラック２３が噛合し
て、Ｙ方向への往復移動が可能となる。また、この駆動
モータ２５の回転の制御は、制御部８により行なわれる
ように構成する。
ってラック２３が取り付けられており、そのラック２３
に噛合するピニオンギア２４が設けられている。ピニオ
ンギア２４には、正逆回転可能な駆動モータ２５の出力
軸が取り付けられている。この駆動モータ２５の回転に
より、ピニオンギア２４が回転し、ラック２３が噛合し
て、Ｙ方向への往復移動が可能となる。また、この駆動
モータ２５の回転の制御は、制御部８により行なわれる
ように構成する。
【００２４】他は上述の第一実施例を同じように構成す
れば、図３で説明した手順に従って、ステップＳ３、Ｓ
５のＸ線コリメータ２の回転をＸ線コリメータ２０のＹ
方向への往復移動に替えることにより、複数枚の断層面
のデータ収集を行なうことができる。
れば、図３で説明した手順に従って、ステップＳ３、Ｓ
５のＸ線コリメータ２の回転をＸ線コリメータ２０のＹ
方向への往復移動に替えることにより、複数枚の断層面
のデータ収集を行なうことができる。
【００２５】なお、上述の第一、第二実施例では、いず
れもＸ線コリメータ２又は２０を回転又は往復移動させ
て、照射Ｘ線の照射方向をずらせたが、この発明はこれ
に限らず、例えば、Ｘ線管１とＸ線コリメータ２又は２
０とを同時にＹ方向にずらすような構成であってもよ
い。このような構成にすれば、スキャニングする断層面
をずらせても、照射されるＸ線は断層面に対して常に直
角にすることができる。
れもＸ線コリメータ２又は２０を回転又は往復移動させ
て、照射Ｘ線の照射方向をずらせたが、この発明はこれ
に限らず、例えば、Ｘ線管１とＸ線コリメータ２又は２
０とを同時にＹ方向にずらすような構成であってもよ
い。このような構成にすれば、スキャニングする断層面
をずらせても、照射されるＸ線は断層面に対して常に直
角にすることができる。
【００２６】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、多数枚の断層面のデータ収集を行なう場合
において、互いに隣接した複数枚の断層面を一組とし
て、スキャニングする断層面を分割し、各組に分割され
た各断層面のスキャニングは、照射されるＸ線の照射方
向をずらすことにより行ない、一組のデータ収集が完了
するごとに、天板の移動を行なうとともに、その天板の
移動と同時にずらせた照射Ｘ線の照射方向のリセットを
行なうように構成し、処理時間が長い天板の移動を減ら
したので、全断層面のデータ収集に要する時間を大幅に
短縮することができる。また、データ収集を行なう断層
面の枚数が増えれば、それに比例して、処理時間の一層
の短縮を図ることができる。
明によれば、多数枚の断層面のデータ収集を行なう場合
において、互いに隣接した複数枚の断層面を一組とし
て、スキャニングする断層面を分割し、各組に分割され
た各断層面のスキャニングは、照射されるＸ線の照射方
向をずらすことにより行ない、一組のデータ収集が完了
するごとに、天板の移動を行なうとともに、その天板の
移動と同時にずらせた照射Ｘ線の照射方向のリセットを
行なうように構成し、処理時間が長い天板の移動を減ら
したので、全断層面のデータ収集に要する時間を大幅に
短縮することができる。また、データ収集を行なう断層
面の枚数が増えれば、それに比例して、処理時間の一層
の短縮を図ることができる。
【図１】この発明の一実施例に係るＸ線ＣＴ装置の概略
構成を示す図である。
構成を示す図である。
【図２】実施例装置の内部構造と制御系を示す図であ
る。
る。
【図３】実施例装置による断層像のデータ収集手順を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図４】実施例装置によってデータ収集したときの処理
時間を示すタイムチャートである。
時間を示すタイムチャートである。
【図５】従来装置によってデータ収集したときの処理時
間を示すタイムチャートである。
間を示すタイムチャートである。
【図６】この発明に係る第二実施例装置のＸ線コリメー
タの構成を示す斜視図である。
タの構成を示す斜視図である。
１ … Ｘ線管（Ｘ線照射手段） ２、２０ … Ｘ線コリメータ（Ｘ線照射方向切替え手
段） ３ … Ｘ線照射装置 ４ … Ｘ線検出器（Ｘ線検出手段） ５ａ〜５ｃ、２１ａ〜２１ｃ … スリット ６ａ、６ｂ、２２ｂ … 長孔 ７、１２、２５ … 駆動モータ ８ … 制御部（制御手段） ９ … 天板（被検体移動手段） １０、２３ … ラック １１、２４ … ピニオンギア
段） ３ … Ｘ線照射装置 ４ … Ｘ線検出器（Ｘ線検出手段） ５ａ〜５ｃ、２１ａ〜２１ｃ … スリット ６ａ、６ｂ、２２ｂ … 長孔 ７、１２、２５ … 駆動モータ ８ … 制御部（制御手段） ９ … 天板（被検体移動手段） １０、２３ … ラック １１、２４ … ピニオンギア
Claims (1)
- 【請求項１】 被検体を挟んで配置された単焦点のＸ線
照射手段と、Ｘ線検出手段とを前記被検体に対してスキ
ャニングさせることにより、前記被検体の周回方向から
収集された前記被検体の断層面内のＸ線吸収に関する投
影データに基づいて、前記被検体内の断層像を得るＸ線
ＣＴ装置において、前記Ｘ線照射手段から照射されるＸ
線の照射方向を少なくともコリメータの変位により被検
体の体軸に沿って切り替えるＸ線照射方向切替え手段
と、前記被検体を体軸方向に移動させる被検体移動手段
と、ある断層面に対するスキャニングが完了すると、そ
の断層面に隣接する断層面に対してスキャニングを行な
うように、前記Ｘ線照射方向切替え手段を駆動して前記
Ｘ線照射手段から照射されるＸ線の照射方向を切り替え
る制御を、初期位置にある断層面から予め設定した最終
断層面まで順次行なうとともに、前記最終断層面に対す
るスキャニングが完了すると、前記初期位置にある断層
面に対してスキャニングを行なうように、前記Ｘ線照射
方向切替え手段を駆動して前記Ｘ線照射手段から照射さ
れるＸ線の照射方向を切り替えるリセット制御を行な
い、さらに、前記リセット制御に同期して、前記最終断
層面に隣接する新たな断層面を前記初期位置に設定する
ように、前記被検体移動手段を駆動して被検体を移動さ
せる制御を行なう制御手段を備えたことを特徴とするＸ
線ＣＴ装置。
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4213597A JP2620467B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
| DE69301692T DE69301692T2 (de) | 1992-07-16 | 1993-06-30 | Verfahren und Gerät für Computertomographie |
| EP93110419A EP0579036B1 (en) | 1992-07-16 | 1993-06-30 | Method and apparatus for computerized tomography |
| SG1996002052A SG49635A1 (en) | 1992-07-16 | 1993-06-30 | Method and apparatus for computerized tomography |
| KR1019930012661A KR940001863A (ko) | 1992-07-16 | 1993-07-06 | X선 컴퓨터 단층 촬영 방법 및 그 장치 |
| US08/090,933 US5359639A (en) | 1992-07-16 | 1993-07-14 | Method and apparatus for computerized tomography |
| CN93108895A CN1048866C (zh) | 1992-07-16 | 1993-07-16 | 计算机ｘ射线断层摄影方法和装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4213597A JP2620467B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0630926A JPH0630926A (ja) | 1994-02-08 |
| JP2620467B2 true JP2620467B2 (ja) | 1997-06-11 |
Family
ID=16641827
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4213597A Expired - Fee Related JP2620467B2 (ja) | 1992-07-16 | 1992-07-16 | Ｘ線ｃｔ装置 |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5359639A (ja) |
| EP (1) | EP0579036B1 (ja) |
| JP (1) | JP2620467B2 (ja) |
| KR (1) | KR940001863A (ja) |
| CN (1) | CN1048866C (ja) |
| DE (1) | DE69301692T2 (ja) |
| SG (1) | SG49635A1 (ja) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH10503115A (ja) * | 1995-05-23 | 1998-03-24 | パトリック ロガーラ | 治療用コンピュータ化断層ｘ線透視方法及び装置 |
| US5648996A (en) * | 1995-08-04 | 1997-07-15 | Omega International Technology, Inc. | Tangential computerized tomography scanner |
| US7200200B2 (en) * | 2001-09-04 | 2007-04-03 | Quality Control, Inc. | X-ray fluorescence measuring system and methods for trace elements |
| JP4172753B2 (ja) * | 2002-04-03 | 2008-10-29 | 東芝医用システムエンジニアリング株式会社 | Ｘ線画像撮影装置 |
| US9339243B2 (en) | 2006-04-14 | 2016-05-17 | William Beaumont Hospital | Image guided radiotherapy with dual source and dual detector arrays tetrahedron beam computed tomography |
| CN102988074A (zh) * | 2006-04-14 | 2013-03-27 | 威廉博蒙特医院 | 扫描狭槽锥形束计算机断层摄影以及扫描聚焦光斑锥形束计算机断层摄影 |
| BR112012016558A2 (pt) | 2010-01-05 | 2016-04-26 | Beaumont Hospital William | terapia de arco de intensidade modulada com rotação/deslocamento de cama de exame e formação de imagem de feixe de cone simultânea |
| JP6139087B2 (ja) * | 2012-10-02 | 2017-05-31 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | Ｘ線撮像装置、及びウェッジフィルタ制御方法 |
| JP2019010443A (ja) * | 2017-06-30 | 2019-01-24 | キヤノン電子管デバイス株式会社 | Ｘ線ｃｔ装置、ｘ線ｃｔ方法、およびコリメータ |
| DE102018201250B3 (de) * | 2018-01-26 | 2019-06-27 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Variable Blendenvorrichtung und Computertomograph umfassend eine variable Blendenvorrichtung |
| JP7187408B2 (ja) * | 2019-09-06 | 2022-12-12 | 富士フイルム株式会社 | トモシンセシス撮影装置 |
Family Cites Families (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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