JPH0774594A - ラッチ回路 - Google Patents

ラッチ回路

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JPH0774594A
JPH0774594A JP5217255A JP21725593A JPH0774594A JP H0774594 A JPH0774594 A JP H0774594A JP 5217255 A JP5217255 A JP 5217255A JP 21725593 A JP21725593 A JP 21725593A JP H0774594 A JPH0774594 A JP H0774594A
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circuit
latch circuit
signal line
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positive feedback
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JP5217255A
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Inventor
Tatsumi Yamauchi
辰美 山内
Fumio Murabayashi
文夫 村林
Yutaka Kobayashi
裕 小林
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】高速で安定的なセットアップ時間と高い負荷駆
動能力を備えつつ、より高速に動作するラッチ回路を提
供する。 【構成】入力信号線101より入力したデータを記憶す
る正帰還回路110の記憶ノードをバイポーラトランジ
スタ102のベースに接続し、正帰還回路110で直接
バイポーラトランジスタ102を制御し、ラッチ回路の
出力信号線103をバイポーラトランジスタ102によ
って充電する。また、出力信号線103を放電するため
に、引き抜き回路120を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、BiCMOSタイプの
ラッチ回路に関し、特に、その高速化の技術に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】従来の、BiCMOSタイプのラッチ回
路としては、たとえば、特開平2−105611号公報
記載の回路が知られている。
【0003】図15に、このラッチ回路の構成を示す。
【0004】図中、入力信号101はラッチ回路の入力
データであり、クロックドインバータ501へ入力され
ている。クロックドインバータ501は、クロック信号
503がハイレベル電位のときに入力信号を反転した信
号を出力し、クロック信号503がロウレベル電位のと
きに出力をハイインピ−ダンスとする。
【0005】クロックドインバータ501の出力信号5
02は、インバータ411とクロックドインバータ51
1より成る正帰還回路510に接続されている。クロッ
クドインバータ511は、クロック信号503の反転信
号であるクロック信号504がハイレベル電位のときに
入力信号を反転した信号を出力し、クロック信号503
がロウレベル電位のときに出力をハイインピ−ダンスと
する。
【0006】BiCMOSインバータ回路で構成された
出力回路1310は、信号502を入力し出力信号10
3を出力する。
【0007】BiCMOSインバータ回路1310は、
PMOSFET1311とNMOSFET1312と、
2つのNPNトランジスタ1313、1314および2
つの抵抗1315、1316から構成されている。な
お、104は電源電位、105は接地電位を表してい
る。
【0008】さて、このラッチ回路では、データを記憶
するための正帰還回路510を出力回路1310によ
り、ラッチ回路の出力負荷から分離している。このため
出力負荷に影響されずに、高速で安定的なセットアップ
時間を得ることができる。また、この回路では、出力負
荷の駆動力を上げるため、出力回路をBiCMOS回路
で構成している。そして、このような構成により、高負
荷駆動力を得ている。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】しかし、近年では、1
00MHz以上で動作する高速論理LSIの出現など、
半導体集積回路が高速化するに従い、データパス中での
ラッチ回路の遅延時間の、さらなる短縮化が望まれてい
る。
【0010】一方、図15に示した従来のラッチ回路に
よれば、出力回路1310が、PMOSFET1311
とNMOSFET1312と2つの抵抗1315、13
16よりなる入力部と、2つのNPNトランジスタ13
13、1314よりなる出力部とより構成されているの
で、出力回路1310の、遅延時間が入力部と出力部の
2段分となる。そして、このために、ラッチ回路以外の
論理回路に比較して相対的に遅延時間が大きくなってし
まう。
【0011】そこで、本発明は、出力負荷に影響されな
い高速で安定的なセットアップ時間と高い出力負荷駆動
能力を維持しながら、出力回路の遅延時間を短縮するこ
とを目的とする。
【0012】
【課題を解決するための手段】前記目的達成のために、
本発明は、入力信号線より入力されたデータを記憶する
正帰還回路と、正帰還回路が記憶したデータに応じて出
力信号線を駆動する出力回路とを備え、前記正帰還回路
は、記憶した値を維持する第1のノ−ドと、記憶した値
を反転した値を維持する第2のノ−ドとを有し、前記出
力回路は、前記正帰還回路の第1のノードにベ−スが接
続され、前記出力信号線にエミッタもしくはコレクタが
接続されたバイポーラトランジスタとを含んで構成され
ることを特徴とするラッチ回路を提供する。
【0013】
【作用】本発明に係るラッチ回路によれば、ラッチ回路
内のデータを記憶する正帰還回路の記憶ノードを出力回
路のバイポーラトランジスタのベースに接続し、前記バ
イポーラトランジスタでラッチ回路の出力負荷を充電す
る。このようにすることにより、データを記憶する正帰
還回路をバイポーラトランジスタによりラッチ回路の出
力負荷と分離できるため、高速で安定したセットアップ
時間を得ることができる。また、出力負荷をバイポーラ
トランジスタで直接駆動するためラッチ回路の論理段数
を少なくでき、高速で高い負荷駆動能力のラッチ回路を
実現することができる。
【0014】
【実施例】以下、本発明に係るラッチ回路の実施例につ
いて説明する。
【0015】まず、本発明に第1の実施例について説明
する。
【0016】図1に、本第1実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0017】図中、101は入力信号線であり、104
は電源電位、105は接地電位である。入力信号線10
1は、NPNトランジスタ102のベースとデータを記
憶するための正帰還回路110に接続されている。出力
信号線103は、NPNトランジスタ102のエミッタ
と引き抜き回路120の接続点に接続されている。
【0018】正帰還回路110は、入力信号線101上
に入力された信号電位を記憶し、記憶した信号電位を入
力信号線101上に出力する。入力信号線101の電位
がハイレベルの場合に、NPNトランジスタ102はオ
ンし、電源104よりの電流で出力信号線103の電位
をハイレベルとする。また、入力信号線101の電位が
ロウレベルの場合に、NPNトランジスタ102はオフ
し、引き抜き回路120は出力信号線103の電流を引
き抜き、出力信号線103の電位をロウレベルとする。
【0019】本第1実施例に係るラッチ回路によれば、
正帰還回路110が出力負荷から、NPNトランジスタ
102により分離されているため、出力負荷に影響を受
けず高速で安定したセットアップ時間のラッチ回路を得
ることができる。また、入力信号線101から出力信号
線103までの論理段数がNPNトランジスタ1段と論
理段数の少ないラッチ回路を実現できる。また、出力負
荷をMOSFETに比べ駆動力の高いNPNトランジス
タで駆動するため高速に出力負荷を駆動することができ
る。
【0020】以下、本発明の第2の実施例について説明
する。
【0021】図2に、本第2実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0022】本第2実施例は、前記第1実施例に係るラ
ッチ回路の引き抜き回路120を、PNPトランジスタ
201で構成したものである。PNPトランジスタ20
1のベ−スは入力信号線101に、NPNトランジスタ
102のベースと共に、正帰還回路110に共通接続さ
れている。また、PNPトランジスタ201のコレクタ
は接地電圧に、エミッタは出力信号線103に接続して
いる。
【0023】入力信号線101の電位がハイレベルの場
合に、NPNトランジスタ102はオンし、PNPトラ
ンジスタ201はオフし、電源104よりの電流で出力
信号線103の電位をハイレベルとする。また、入力信
号線101の電位がロウレベルの場合に、NPNトラン
ジスタ102はオフし、PNPトランジスタ201はオ
ンし、出力信号線103の電流を引き抜き、出力信号線
103の電位をロウレベルとする。
【0024】図2に示したラッチ回路によると、高速で
安定したセットアップ時間を実現できると共に、NPN
トランジスタ102とPNPトランジスタ201で出力
負荷を高速に充放電できるため高速で動作するラッチ回
路を実現できる。
【0025】以下、本発明の第3の実施例について説明
する。
【0026】図3に、本第3実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0027】本第3実施例は、前記第1実施例に係るラ
ッチ回路の引き抜き回路120を、NMOSFET30
1で構成した実施例である。
【0028】NMOSFET301のゲ−トは、入力信
号線101の反転極性の信号を出力する正帰還回路11
0の第2のノード302に接続している。また、NMO
SFET301のソ−スは接地電圧に、ドレインは出力
信号線103とNPNトランジスタ102のエミッタに
接続されている。
【0029】入力信号線101の電位がハイレベルの場
合に、NPNトランジスタ102はオンし、正帰還回路
110の第2のノード302はロ−レベルとなるのでN
MOSFET301はオフし、電源104よりの電流で
出力信号線103の電位をハイレベルとする。また、入
力信号線101の電位がロウレベルの場合に、NPNト
ランジスタ102はオフし、正帰還回路110の第2の
ノード302はハイレベルとなるのでNMOSFET3
01はオンし、出力信号線103の電流を引き抜き、出
力信号線103の電位をロウレベルとする。
【0030】図3に示したラッチ回路にによると、高速
で安定したセットアップ時間を実現できると共に入力信
号線101から出力信号線103までの動作を高速化で
きる。また、出力負荷の充放電をNPNトランジスタと
NMOSFETで行っているため低電源電圧時において
も高速に動作するラッチ回路を実現することができる。
【0031】以下、本発明の第4の実施例について説明
する。
【0032】図4に、本第4実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0033】図中、101は入力信号線であり、102
はNPNトランジスタ、301はNMOSFET、10
4は電源電位、105は接地電位であり、301は、バ
イアス電位401により常にゲートバイアスされている
状態にあるNMOSFETである。410は正帰還回路
であり、ループ上に接続したインバータ回路411と4
12より構成される。インバータ回路412は、入力信
号線101と記憶データの衝突を避けるため、駆動力が
弱くなるよう設計している。
【0034】入力信号線101は、NPNトランジスタ
102のベースと、正帰還回路410に接続されてい
る。出力信号線103は、NPNトランジスタ102の
エミッタとNMOSFET301のドレインの接続点に
接続されている。NMOSFET301のソ−スは接地
電圧に接続されている。
【0035】正帰還回路410は、入力信号線101上
に外部より入力された信号電位を、異なる信号電位が入
力されるまで正帰還し、正帰還した信号電位を入力信号
線101上に出力する。したがい、入力信号線101上
への外部よりの入力状態がハイインピ−ダンス状態とな
った場合でも、正帰還回路110は、それ以前の入力信
号線101上の信号電位を維持する。
【0036】入力信号線101の電位がハイレベルの場
合に、NPNトランジスタ102はオンし、電源104
よりの電流で出力信号線103の電位をハイレベルとす
る。また、入力信号線101の電位がロウレベルの場合
に、NPNトランジスタ102はオフし、ゲートバイア
スされている状態にあるNMOSFET301によって
出力信号線103の電流は引き抜かれ、出力信号線10
3の電位はロウレベルとなる。なお、本第4実施例で
は、入力信号線101の電位がハイレベルの場合にも、
NPNトランジスタ102によって出力信号線103上
に流れた電流の一部はNMOSFET301によって引
き抜かれることになる。
【0037】したがい、図4に示したラッチ回路による
と、出力負荷の充電電流はNMOSFET301のトラ
ンジスタサイズとゲートバイアス電位401により制御
される。
【0038】なお、図4に示したラッチ回路によれば、
図5に示すように複数のラッチ回路501について、1
つの引き抜き回路502を共通に用いることができる。
図5に示した回路の出力500は、論理和出力となる。
すなわち、ラッチ回路の出力が一つでもハイレベルとな
ったときに出力500は、ハイレベルとなる。
【0039】以下、本発明の第5の実施例を説明する。
【0040】図6に、本第5実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0041】図示するように、入力信号線101はクロ
ック信号503で制御されるクロックドインバータ50
1に入力される。クロックドインバータ501の出力信
号線502はNPNトランジスタ102のベースと正帰
還回路510の第1のノードに接続される。正帰還回路
510はインバータ回路411とクロック信号504で
制御されるクロックドインバータ511をループ上に接
続して構成される。インバータ回路411はNMOSF
ET301を高速に動作させる必要から駆動力を強く設
計してあり、クロックドインバータ511は記憶データ
がノイズやアルファ線により破壊されない程度の弱い駆
動力に設計されている。クロック信号503と504は
反転極性であり、正帰還回路510で記憶しているデー
タと入力データとが衝突しないようにクロック信号50
3と504で制御されている。出力信号線103の引き
抜き用NMOSFET301のゲートは正帰還回路51
0の第2のノード302により制御される。
【0042】クロックドインバ−タは、例えば図7に示
すように、2つのPMOSFET601、602と、2
つのNMOSFET603、604で構成することがで
きる。
【0043】それぞれ1つのPMOSFET602とN
MOSFET603のゲ−トには入力信号が接続し、残
りのNMOSFET604のゲ−トにはクロック信号
が、残りのPMOSFET601のゲ−トにはクロック
信号の反転信号が入力される。このような構成によっ
て、クロック信号がハイレベルのときに、NMOSFE
T604とPMOSFET601はオンし、通常のイン
バ−タとして、PMOSFET602とNMOSFET
603は動作する。
【0044】さて、正帰還回路510は、反転したクロ
ック信号504の立上り、すなわち、クロック信号50
3の立ち下がりで、信号線502の電位を記憶し、次に
反転したクロック信号504がロ−レベルになるまでの
期間、信号線502の電位を、その値に維持する。一
方、正帰還回路510のインバ−タ411は信号線50
2の電位を反転した電位を出力する。
【0045】信号線502の電位がハイレベルの場合
に、NPNトランジスタ102はオンし、インバ−タ4
11の出力はロ−レベルとなるのでNMOSFET30
1はオフし、電源104よりの電流で出力信号線103
の電位をハイレベルとする。また、信号線502の電位
がロウレベルの場合に、NPNトランジスタ102はオ
フし、インバ−タ411の出力ははハイレベルとなるの
でNMOSFET301はオンし、出力信号線103の
電流を引き抜き、出力信号線103の電位をロウレベル
とする。
【0046】図6に示したラッチ回路によると、クロッ
ク信号503と504で制御されるクロックドインバー
タ501と511により、入力データと記憶データの衝
突を防止することができ、尚一層のセットアップ時間と
動作時間を高速化したラッチ回路を得ることができる。
【0047】以下、本発明の第6の実施例について説明
する。
【0048】図8に、本第6実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0049】図中、601、602は入力信号線であ
る。603はクロック信号503がハイレベルのときに
出力を行う、ロウレベルのときに出力をハイインピ−ダ
ンス状態とする2入力NOR回路である。正帰還回路6
10はインバータ回路411と611と、トランスファ
ーMOSFETをループ上に接続して構成される。トラ
ンスファーMOSFETは、クロック信号503がロウ
レベルのときにオンするPMOSFET612と、反転
したクロック信号504がハイレベルのときにオンする
NMOSFET613から構成される。したがい、トラ
ンスファーMOSFETは、クロック信号503がロウ
レベルのときにインバ−タ611よりの入力を信号線6
04に出力し、クロック信号503がハイレベルのとき
に信号線604への出力をハイインピ−ダンス状態とす
る。したがい、2入力NOR回路603と、正帰還回路
610の出力は衝突しない。NPNトランジスタ102
とNMOSFET301の動作は、前記第5実施例と同
様である。
【0050】図8に示したラッチ回路によると、ラッチ
回路の入力段に多入力論理ゲート回路を備えることで論
理演算後の結果データをラッチできると共に、高速に動
作可能なラッチ回路を得ることができる。
【0051】以下、本発明の第7の実施例について説明
する。
【0052】図9に、本第7実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0053】図示するように、入力信号線101はNM
OSFET701とPMOSFET702よりなるトラ
ンスファーMOSFETを介してNPNトランジスタ1
02及び正帰還回路410に接続される。トランスファ
ーMOSFETは、クロック信号503がハイレベルの
ときに入力を信号線703に出力し、クロック信号50
3がロウレベルのときに信号線703への出力をハイイ
ンピ−ダンス状態とする。410は正帰還回路であり、
ループ上に接続したインバータ回路411と412より
構成される。インバータ回路412は、入力信号線10
1と記憶データの衝突を避けるため、駆動力が弱くなる
よう設計している。
【0054】NPNトランジスタ102とNMOSFE
T301の動作は、前記第5実施例と同様である。
【0055】図7に示したラッチ回路によると、入力段
に備えられているゲート回路がトランスファーMOSF
ETであるため、入力信号線101から出力信号線10
3までをさらに高速化したラッチ回路を得ることができ
る。
【0056】以下、本発明の第8の実施例について説明
する。
【0057】図10に、本第8実施例に係るラッチ回路
の構成を示す。
【0058】さて、前述した第5実施例(図6参照)に
よれば、出力信号線103の信号振幅は、ハイレベルが
NPNトランジスタ102のベース電位よりVbe分下
がった電位となり、ローレベルが接地電位となる。
【0059】そこで、本第8実施例では、出力信号線1
03のハイレベルの電位を電源電位まで引き上げるPM
OSFET801を付加している。PMOSFET80
1のゲート電位は正帰還回路510の、インバ−タ41
1の出力で制御される。
【0060】また、前述した前記第5実施例では、出力
信号線103をローレベルへ下げるための動作を、入力
信号線101からクロックドインバータ501、正帰還
回路510内のインバータ回路411を介しNMOSF
ET301のゲートを制御して行っているため、出力信
号線103の立ち下がり動作が遅いという欠点があっ
た。
【0061】そこで、本第8実施例では、これを高速化
するために、ゲートをクロック信号503で制御するN
MOSFET802と、ゲートを入力信号線101で制
御するNMOSFET803を設けた。クロック信号5
03がハイレベルの期間、すなわち、クロックドインバ
−タ501が出力を行う期間であって入力信号線101
の電位がハイレベルのときに、NMOSFET802、
803は共にオンし、NMOSFET301がオンとな
るのに先立って出力信号線103の電流を引き抜く。
【0062】なお、ここで、出力信号線103の立ち下
がり動作を高速化するためのNMOSFET2段の直列
回路は、入力段に設けられたクロックドインバータ50
1の回路構成に対応したものであり、入力段に設けられ
た論理ゲート回路が変われば前記立ち下がり動作を高速
化するための回路も同様に変わることになる。
【0063】すなわち、上記出力信号線103の立ち下
がり高速回路は、入力信号線101とNPNトランジス
タ102のベース間に設けられた論理ゲート回路を、C
MOS回路で構成した場合の接地側の回路構成と同等の
構成となる。
【0064】図8に示したラッチ回路よれば、出力信号
線103の信号振幅を電源電位から接地電位まで振幅さ
せることができると共に、出力信号線103の立ち下が
り動作を高速化することができる。
【0065】以下、本発明の第9の実施例について説明
する。
【0066】図11に本第9実施例に係るラッチ回路の
構成を示す。
【0067】本第9実施例では、正帰還回路910を2
つのNAND911、912で構成した。
【0068】正帰還回路910には、入力信号線101
とクロック信号503を入力とするNAND920の出
力と、NAND920の出力とクロック信号503を入
力とするNAND921の出力が入力される。NAND
920の出力は、クロック信号503がロウレベルのと
きはハイレベルとなり、クロック信号503がハイレベ
ルのときは入力信号線101のレベルを反転したレベル
となる。また、NAND921の出力は、クロック信号
503がロウレベルのときはハイレベルとなり、クロッ
ク信号503がハイレベルのときは入力信号線101の
レベルと同じレベルとなる。
【0069】正帰還回路910は2入力NAND回路9
11と912のそれぞれの出力をお互いの入力に帰還し
て構成されており、クロック信号503がロウレベルの
とき、すなわち正帰還回路910への入力922、92
3が共にハイレベルのときに、各NAND回路の入力9
24、925のレベルが正帰還され、第1のノード90
2、第2のノ−ド903のレベルをクロック信号503
がロウレベルになる直前の入力信号線101のレベルに
応じて維持する。すなわち、正帰還回色910は、クロ
ック信号503の立ち下がりで入力信号を記憶し、クロ
ック信号503のロウレベルの期間、これを維持する。
第1のノード902と、第2のノ−ド903に出力され
るレベルは相補的であり、第1のノード902には入力
信号線101上を入力されたレベルが、第2のノード9
03には入力信号線101上を入力されたレベルを反転
したレベルが出力される。
【0070】正帰還回路910の第1のノード902
は、NPNトランジスタ102のベースへ接続され、正
帰還回路910の第2のノード903はNMOSFET
301のゲートに接続されており、前記第5実施例(図
6)の場合と同様に動作する。
【0071】このように、相補の信号をもつ正帰還回路
であれば多種類の正帰還回路を組み合わせて高速なラッ
チ回路を得ることができる。
【0072】以下、本発明の第10の実施例を説明す
る。
【0073】図12に、本第10実施例に係るラッチ回
路の構成を示す。
【0074】本第10実施例に係るラッチ回路によれ
ば、第9実施例(図11参照)で説明した正帰還回路9
10の第1のノード902はNPNトランジスタ100
1のベースとNMOSFET1004のゲートに接続さ
れている。また、正帰還回路910の第2のノード90
3はNMOSFET1002のゲートとNPNトランジ
スタ1003のベースに接続されている。
【0075】出力信号線1005はNPNトランジスタ
1001のエミッタとNMOSFET1002のドレイ
ンの接続点から出力される。また、出力信号線1006
はNPNトランジスタ1003のエミッタとNMOSF
ET1004のドレインの接続点から出力される。
【0076】ここで、NPNトランジスタ1001NM
OSFET1002は相補的な信号で制御され、NPN
トランジスタ1001と1003とは相補的な信号で制
御され、NMOSFET1002とNMOSFET10
04とは相補的な信号で制御されるので、出力信号線1
005と1006は相補の出力信号を出力する。
【0077】このように、出力トランジスタを1対加
え、正帰還回路の第1のノードと第2のノードで前記ト
ランジスタを制御することで記憶データの相補の信号を
出力することができる。
【0078】以下、本発明の第11の実施例について説
明する。
【0079】図13に本第11実施例に係るラッチ回路
の構成を示す。
【0080】本第11実施例は、マスタースレーブタイ
プのラッチ回路についてのものである。
【0081】本ラッチ回路は、大きくマスターラッチ1
120とスレーブラッチ1130から構成されている。
【0082】入力信号線1101はマスターラッチ内の
クロックドインバータ1102に入力される。クロック
ドインバータ1102の出力信号線1103はマスター
ラッチ1120内の正帰還回路1110の第1のノード
に接続され、さらにスレーブラッチ1130内の入力信
号線となっている。
【0083】正帰還回路1110は、クロック信号50
3の立上りで、信号線1103電位を記憶し、クロック
信号503がロ−レベルになるまでの期間、信号線11
03の電位を、その値に維持する。一方、正帰還回路5
10のインバ−タ411は信号線1103の電位を反転
した電位を出力する。
【0084】一方、正帰還回路510は、反転したクロ
ック信号504の立上りで、信号線703の電位を記憶
し、クロック信号504がロ−レベルになるまでの期
間、信号線703の電位を、その値に維持する。一方、
正帰還回路510のインバ−タ411は信号線1103
の電位を反転した電位を出力する。
【0085】まとめると、正帰還回路1110は、クロ
ック信号503の立上りで入力する信号を記憶し、クロ
ック信号503がハイレベルの期間、これを信号線70
3に出力する。出力された信号は、クロック信号503
の立ち下がりで正帰還回路510に記憶され、クロック
信号503がロ−レベルの期間、信号線703に出力さ
れる。結果、信号線703上には、クロック信号503
の立上りで記憶された入力信号が、これに続くクロック
信号503がハイレベルの期間はマスタの正帰還回路1
110から、その次のクロック信号503がロ−レベル
の期間はスレ−ブの正帰還回路510から出力される。
よって、本第11実施例に係るラッチ回路は、入力信号
をクロック信号503の立上りでラッチするエッジトリ
ガラッチとして機能する。
【0086】さて、このような構成において、クロック
503がハイレベルの期間中、出力信号線103の電流
の引き抜きは、スレ−ブラッチ1130のトランスファ
MOSFET701、702と正帰還回路510インバ
−タ410を介さずに、NMOSFET803のゲート
電位を正帰還回路1110の第2のノードで直接制御す
ることによっても行われる。このように、出力信号線1
03の立ち下がり動作を、マスタ1110側のインバ−
タ401に出力を用いて制御することにより、その動作
を高速化することができる。
【0087】このように、図13に示すラッチ回路によ
ると、高速で動作するマスタースレーブタイプのラッチ
回路を得ることができる。
【0088】以下、本発明の第12の実施例について説
明する。
【0089】図14に、本第12実施例に係るラッチ回
路の構成を示す。
【0090】図中、1201〜120nは入力信号線、
1210は入力信号線に応じて相補の信号を出力する相
補信号出力の論理回路である。相補信号出力の論理回路
1210の出力信号線1221は正帰還回路110の第
1のノードとNPNトランジスタ102のベースに接続
されている。また、出力信号線1221と相補の出力信
号線である1222は正帰還回路110の第2のノード
とNMOSFET301のゲートに接続されている。
【0091】図14に示す実施例によれば、ラッチの入
力段に相補の出力信号線を生成する論理回路を備えるこ
とで、出力信号線103の立ち上がり時間と立ち下がり
時間のバランスを取りながら、高速で動作するラッチ回
路を得ることができる。
【0092】以上のように、本実施例によれば、データ
を記憶する正帰還回路をバイポーラトランジスタにより
出力負荷と分離できるため、高速で安定したセットアッ
プ時間を得ることができる。また、出力負荷をバイポー
ラトランジスタで直接駆動するためラッチの論理段数を
少なくでき、高い負荷駆動能力の高速ラッチ回路を実現
することができる。
【0093】
【発明の効果】以上のように、本発明によれば、出力負
荷に影響されない高速で安定的なセットアップ時間と高
い出力負荷駆動能力を維持しながら、出力回路の遅延時
間を短縮することのできるラッチ回路を提供することが
できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例に係るラッチ回路の構成を
示すブロック図である。
【図2】本発明の第2実施例に係るラッチ回路の構成を
示すブロック図である。
【図3】本発明の第3実施例に係るラッチ回路の構成を
示すブロック図である。
【図4】本発明の第4実施例に係るラッチ回路の基本構
成を示す回路図である。
【図5】本発明の第4実施例に係るラッチ回路の応用構
成例を示す回路図である。
【図6】本発明の第5実施例に係るラッチ回路の構成を
示す回路図である。
【図7】クロックドインバ−タの構成を示す回路図であ
る。
【図8】本発明の第6実施例に係るラッチ回路の構成を
示す回路図である。
【図9】本発明の第7実施例に係るラッチ回路の構成を
示す回路図である。
【図10】本発明の第8実施例に係るラッチ回路の構成
を示す回路図である。
【図11】本発明の第9実施例に係るラッチ回路の構成
を示す回路図である。
【図12】本発明の第10実施例に係るラッチ回路の構
成を示す回路図である。
【図13】本発明の第11実施例に係るラッチ回路の構
成を示す回路図である。
【図14】本発明の第12実施例に係るラッチ回路の構
成を示すブロック図である。
【図15】従来のラッチ回路の構成を示す回路図であ
る。
【符号の説明】
101 入力信号線 102 NPNトランジスタ 103 出力信号線 104 電源電位 105 接地電位 110 正帰還回路 120 引き抜き回路 201 PNPトランジスタ 301 NMOSFET 302 正帰還回路の第2のノード

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】入力されたデータを記憶する正帰還回路
    と、正帰還回路が記憶したデータに応じて出力信号線を
    駆動する出力回路とを備え、 前記正帰還回路は、記憶した値を維持する第1のノ−ド
    と、記憶した値を反転した値を維持する第2のノ−ドと
    を有し、 前記出力回路は、前記正帰還回路の第1のノードにベ−
    スが接続された、ベ−ス電位に応じて出力信号線を充電
    するバイポーラトランジスタを有することを特徴とする
    ラッチ回路。
  2. 【請求項2】請求項1記載のラッチ回路であって、 前記出力回路のバイポーラトランジスタは、コレクタが
    電源電位にエミッタが出力信号線に接続されたNPNト
    ランジスタであって、 前記出力回路は、さらに、コレクタを接地電位に接続
    し、エミッタを出力信号線に接続し、ベ−スを前記第1
    のバイポーラトランジスタのベ−スに接続したPNPト
    ランジスタを有することを特徴とするラッチ回路。
  3. 【請求項3】請求項1記載のラッチ回路であって、 前記出力回路のバイポーラトランジスタは、コレクタが
    電源電位にエミッタが出力信号線に接続されたNPNト
    ランジスタであって、 前記出力回路は、さらに、ソ−スを接地電位に接続し、
    ドレインを前記出力信号線に接続し、ゲ−トを前記正帰
    還回路の第2のノ−ドに接続したNチャネルMOS F
    ETを有することを特徴とするラッチ回路。
  4. 【請求項4】請求項3記載のラッチ回路であって、 前記出力回路は、さらに、前記正帰還回路の第2のノ−
    ドにゲ−トが接続され、ソ−スを電源電位に接続し、ド
    レインを前記出力信号線に接続したPチャネルMOS
    FETを有していることを特徴とするラッチ回路。
  5. 【請求項5】請求項1記載のラッチ回路であって、 前記出力回路の第1のバイポーラトランジスタは、コレ
    クタが電源電位に接続し、エミッタが出力信号線に接続
    されたNPNトランジスタであって、 前記出力回路は、さらに、ソ−スを接地電位に接続し、
    ドレインを前記出力信号線に接続し、ゲ−トを所定のバ
    イアス電位に接続したNチャネルMOS FETを有す
    ることを特徴とするラッチ回路。
  6. 【請求項6】請求項1、2、3、4または5記載のラッ
    チ回路であって、 前記正帰還回路は、入力を前記第1のノ−ドに接続し出
    力を前記第2のノ−ドに接続した第1のインバ−タと、
    入力を第2のノ−ドに接続し出力を前記第1のノ−ドに
    接続した第2のインバ−タとを有し、 前記ラッチ回路は、さらに、ハイレベルもしくはロウレ
    ベルのうちの所定の一方を有意とした場合において、ク
    ロック信号が有意を示す有意期間に、前記正帰還回路の
    第1のノ−ドへのデータの出力を行う入力ゲート回路を
    有していることを特徴とするラッチ回路。
  7. 【請求項7】請求項6記載のラッチ回路であって、 前記入力ゲート回路は、前記クロック信号の有意期間に
    出力を行うクロックドインバータであって、前記正帰還
    回路の第2のインバ−タは前記クロック信号の無意期間
    に出力を行うクロックドインバータであることを特徴と
    するラッチ回路。
  8. 【請求項8】請求項6記載のラッチ回路であって、 前記入力ゲート回路は、前記クロック信号の有意期間に
    出力を行う、多入力の論理ゲート回路であることを特徴
    とするラッチ回路。
  9. 【請求項9】請求項6記載のラッチ回路であって、 前記入力ゲート回路は、前記クロック信号の有意期間に
    出力を行うトランスファ−MOS FETであることを
    特徴とするラッチ回路。
  10. 【請求項10】請求項6、7、8または9記載のラッチ
    回路であって、 さらに、前記クロック信号の有意期間に、前記正帰還回
    路に記憶するデータの値に応じて、前記出力信号線の電
    位を接地電位に引き込む制御回路を有することを特徴と
    するラッチ回路。
  11. 【請求項11】請求項1、2、3、4または5記載のラ
    ッチ回路であって、 前記正帰還回路は、それぞれの出力を、それぞれ他方の
    入力に帰還している2つの論理ゲート回路から構成され
    ていることを特徴とするラッチ回路。
  12. 【請求項12】請求項3記載のラッチ回路であって、 前記出力回路は、さらに、ベ−スを前記正帰還回路の第
    2のノ−ドに接続し、コレクタを電源電位に接続し、エ
    ミッタを出力信号線に接続されたNPNトランジスタ
    と、ソ−スを接地電位に接続し、ドレインを前記出力信
    号線に接続し、ゲ−トを前記正帰還回路の第1のノ−ド
    に接続したNチャネルMOS FETとを有することを
    特徴とするラッチ回路。
  13. 【請求項13】請求項3記載のラッチ回路であって、 前記ラッチ回路は、さらに、前記正帰還回路の第1のノ
    −ドへのデータの出力と、第1のノ−ドへ出力したデー
    タを反転した反転データの前記正帰還回路の第2のノ−
    ドへの出力を行う相補型論理回路を有することを特徴と
    するラッチ回路。
  14. 【請求項14】請求項1、2、3、4、5、6、7、
    8、9、10、11、12または13記載のラッチ回路
    と、当該ラッチ回路の入力側もしくは出力側に直列に接
    続された他のラッチ回路とを有することを特徴とするマ
    スタ−スレ−ブ型ラッチ回路。
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