JPH0770525B2 - 絶縁膜への接続窓形成方法 - Google Patents

絶縁膜への接続窓形成方法

Info

Publication number
JPH0770525B2
JPH0770525B2 JP62226264A JP22626487A JPH0770525B2 JP H0770525 B2 JPH0770525 B2 JP H0770525B2 JP 62226264 A JP62226264 A JP 62226264A JP 22626487 A JP22626487 A JP 22626487A JP H0770525 B2 JPH0770525 B2 JP H0770525B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
insulating film
heat
window
connection window
forming
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP62226264A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6471131A (en
Inventor
光雄 吉本
寿 杉山
和男 名手
房次 庄子
登季男 加藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP62226264A priority Critical patent/JPH0770525B2/ja
Publication of JPS6471131A publication Critical patent/JPS6471131A/ja
Publication of JPH0770525B2 publication Critical patent/JPH0770525B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Drying Of Semiconductors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、半導体装置や磁気バブルメモリ装置のごとく
高密度に電子回路が組込まれた電子装置に用いられる絶
縁膜への接続窓形成方法に関する。
〔従来の技術〕
LSI等半導体装置の高密度、高集積化が進むにつれ配線
が微細化し、それに伴い例えば多層配線の層間絶縁膜に
形成する接続窓の微細化も必要となる。そして、接続窓
を微細加工するにはエッチング液を用いたウエットエッ
チングのような等方的な方法ではなく、ドライエッチン
グのように異方的な方法で加工する必要がある。しかし
ながら、絶縁膜をドライエッチングで加工した場合、内
壁面の断面形状が垂直になり、配線金属を周知の方法で
上記窓内に埋込むに際し、窓の口径が微細なため内部全
体に均一に埋込めず接続窓内の付け回りが悪くなる問題
がある。この問題を解決するためには、接続窓の内壁に
テーパを付けて、接続窓内に配線金属が入り易いように
する必要がある。
従来、ポリイミド樹脂のドライエッチングによる接続窓
のテーパの形成方法については、アイ・イー・イー・イ
ー,ブイ・エム・アイ・シー会議論文集(1984年6月)
第106頁〜第114頁〔IEEE,V−MIC Conf.(June 21−22,1
984)pp 106〜114〕において論じられている。上記文献
において、RIE(REACTIVE ION ETCHING)によって、SOG
Spin on Glass)をエッチングマスクとしてポリイミ
ド膜に接続窓を加工する場合に、O2(酸素)ガス圧力条
件を変化させることにより窓の側面にテーパを形成でき
ることが記載されている。つまり、この方法はO2ガスの
圧力を高め(200m Torr)に設定して垂直方向だけでな
く、水平方向もエッチングされるようにしてポリイミド
膜の接続窓の側面にテーパを付ける方法である。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上記従来技術は下地基板の段差等により同一基板内の絶
縁膜の膜厚が異なることやエッチング時間等のプロセス
条件が変動することにより水平方向の加工寸法が変動す
ることを制御する配慮がされておらず、絶縁膜の接続窓
の加工寸法精度が悪くなるという問題があった。
本発明の目的は上記従来の問題点を解決することにあ
り、絶縁膜の接続窓の側面に配線金属の付け回りを良く
する為のテーパを付けることと加工寸法精度を良くする
ことにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的は絶縁膜を半硬化の状態で耐ドライエッチング
性マスクを用いてドライエッチングによって接続窓を垂
直に加工した後、マスクを残した状態で絶縁膜を熱硬化
することにより達成される。以下に、本発明方法の特徴
点を具体的に説明する。つまり、本発明は、所望の基板
上に熱処理温度の違いにより体積が変化する絶縁膜を半
硬化の状態で形成する工程;上記絶縁膜に耐エッチング
性を有するフォトレジストマスクを介してドライエッチ
ングにより所望形状の窓を形成する工程;および上記フ
ォトレジストマスクを残した状態で絶縁膜を最終硬化す
る工程より成り、前記窓の開口部の面積を内部よりも大
としたことを特徴とする絶縁膜への接続窓形成方法であ
る。さらに具体的に特徴点を述べると、 (1)上記絶縁膜として耐熱性樹脂膜を用い、前記絶縁
膜の半硬化及びその後の最終硬化処理工程を前記耐熱性
樹脂膜の熱硬化処理温度差による二段階の熱処理工程で
行うこと。
(2)上記耐熱性樹脂膜を耐熱性有機高分子膜としたこ
と。
(3)上記耐熱性有機高分子膜がポリイミド樹脂から成
ること。
(4)上記ドライエッチング耐性を有するフォトレジス
トマスクを除去することなしに絶縁膜として使用するこ
と。
なお、上記基板とは、半導体LSIチップやバブルメモリ
装置のように配線導体層を有する電子装置を有するもの
が対象となるが、特に層間に絶縁膜の形成された多層配
線導体層を有するものが好適である。また、本発明に用
いられる絶縁膜としては、耐熱性のもので熱処理温度の
違いにより体積が変化し絶縁特性を有するものであれ
ば、いずれでもよく、有機高分子でも無機高分子でもよ
い。さらにまた、本発明の半硬化状態とは、ドライエッ
チングによりパターン化可能な或る程度の剛性を有する
もので、更に重合し得る部分を含む膜の状態をいう。そ
して、最終硬化とは文字どおり、重合が完了して絶縁膜
として完成した状態を意味する。
〔作用〕
上記のとおり、本発明においては絶縁膜が半硬化の状態
でドライエッチングによる窓開け、次いで上記絶縁膜を
最終硬化させるという二段階の熱処理工程を踏むため、
第1の半硬化の状態ではドライエッチングの効果により
窓は垂直の内壁を有する寸法精度の高い加工ができ、第
2の最終硬化においては、窓の底面(通常は配線導体が
露出している)での寸法変化は無く、上部開口部の周辺
で体積変化が起り、結果として窓の底面に比較し開口部
の面積を大とすることにより、側面にテーパを形成する
ことができ、高い寸法精度での接続窓の形成が達成され
る。また、本発明においては半硬化の状態で絶縁膜にド
ライエッチングにより窓開けした後、レジストマスクを
除去することなく、そのまま残した状態で最終硬化処理
を行なうので、半硬化状態でマスクを除去する場合のレ
ジスト除去溶剤等による下地絶縁膜のダメージを回避す
ることができる。さらにはレジストマスクが下地絶縁膜
と一体となって絶縁膜の作用をする。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図の半導体装置の製造工
程図により説明する。
第1図(a)はAl配線等を有する基板1上にポリイミド
絶縁膜として例えばPIQ(日立化成工業、登録商標)を
スピン塗布し180〜200℃で第1段階の半硬化状態の熱処
理した膜厚約2.5μmの絶縁膜2の上にO2RIE耐性を有す
るフォトレジストをスピン塗布し、80〜95℃でプリベー
クした後、所要のパターンを有するフォトマスクを介し
て最適露光量を露光後、現像してパターニングしたO2RI
E耐性レジスト3からなる。
第1図(b)においてO2圧力10m Torr以下の低圧のO2RI
EでO2RIE耐性レジスト3をエッチングマスクにして絶縁
膜2を垂直に加工し接続窓4を形成する。
次に第2段階の最終硬化処理として300〜350℃、N2中の
熱処理により絶縁膜2を熱硬化する。
第1図(c)は熱処理後の工程図であり、接続窓4の側
面にはテーパが形成されるが、接続窓底面の寸法は変化
しないため、O2RIEでの加工精度がそのまま確保でき、
膜厚2.2〜2.3μmで接続窓側面のテーパ角60〜80°の絶
縁膜2が得られる。
なお、実施例では絶縁膜としてPIQを用いた場合につい
て説明したが、熱処理温度の違いによって体積が変化し
絶縁膜の特性を満たし接続窓の加工が可能なものであれ
ばいずれでもよいことはもちろんである。一例として、
下記第1表に、その他のポリイミド樹脂につき例示し
た。
また、接続窓側面のテーパ角は絶縁膜の第1段階の熱硬
化処理工程と第2段階の最終熱硬化処理工程の熱処理温
度等の条件を選定することにより、50〜90°の範囲で所
要の値を得ることができる。
〔発明の効果〕 本発明によれば、絶縁膜の接続窓の側面に任意のテーパ
を付けることができ、しかも精度良く加工できるので、
多層配線の微細化、高集積化に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)〜(c)は本発明の一実施例の工程を示す
断面図、第1図(d)は(c)の部分拡大図である。 図において、 1……基板、2……絶縁膜 3……レジスト膜、4……接続窓
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 庄子 房次 神奈川県横浜市戸塚区吉田町292番地 株 式会社日立製作所生産技術研究所内 (72)発明者 加藤 登季男 群馬県高崎市西横手町111番地 株式会社 日立製作所高崎工場内 (56)参考文献 特開 昭63−96923(JP,A) 特開 昭62−24628(JP,A)

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】所望の基板上に熱処理温度の違いにより体
    積が変化する絶縁膜を半硬化の状態で形成する工程;上
    記絶縁膜にドライエッチング耐性を有するフォトレジス
    トマスクを介してドライエッチングにより所望形状の窓
    を形成する工程;および上記フォトレジストマスクを残
    した状態で絶縁膜を最終硬化する工程より成り、前記窓
    の開口部の面積を内部よりも大としたことを特徴とする
    絶縁膜への接続窓形成方法。
  2. 【請求項2】上記絶縁膜として耐熱性樹脂膜を用い、前
    記絶縁膜の半硬化及びその後の最終硬化処理工程を前記
    耐熱性樹脂膜の熱硬化処理温度差による二段階の熱処理
    工程で行うことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の絶縁膜への接続窓形成方法。
  3. 【請求項3】上記耐熱性樹脂膜を耐熱性有機高分子膜と
    したことを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の絶縁
    膜への接続窓形成方法。
  4. 【請求項4】上記耐熱性有機高分子膜がポリイミド樹脂
    から成ることを特徴とする特許請求の範囲第3項記載の
    絶縁膜への接続窓形成方法。
JP62226264A 1987-09-11 1987-09-11 絶縁膜への接続窓形成方法 Expired - Lifetime JPH0770525B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62226264A JPH0770525B2 (ja) 1987-09-11 1987-09-11 絶縁膜への接続窓形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62226264A JPH0770525B2 (ja) 1987-09-11 1987-09-11 絶縁膜への接続窓形成方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6471131A JPS6471131A (en) 1989-03-16
JPH0770525B2 true JPH0770525B2 (ja) 1995-07-31

Family

ID=16842478

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62226264A Expired - Lifetime JPH0770525B2 (ja) 1987-09-11 1987-09-11 絶縁膜への接続窓形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0770525B2 (ja)

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4830706A (en) * 1986-10-06 1989-05-16 International Business Machines Corporation Method of making sloped vias

Also Published As

Publication number Publication date
JPS6471131A (en) 1989-03-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7947907B2 (en) Electronics structures using a sacrificial multi-layer hardmask scheme
US4560436A (en) Process for etching tapered polyimide vias
US20030207207A1 (en) Method of fabricating a semiconductor multilevel interconnect structure
CA1222575A (en) Semiconductor wafer fabrication
JPS63304644A (ja) ヴアイア・ホール形成方法
WO1987002179A1 (en) Method of fabricating a tapered via hole in polyimide
JPS59104131A (ja) 半導体装置の製造方法
US4536249A (en) Integrated circuit processing methods
JPH0770525B2 (ja) 絶縁膜への接続窓形成方法
CN103268866B (zh) 降低冗余金属耦合电容的通孔优先双大马士革铜互连方法
CA1088382A (en) Method of making a large scale integrated device having a planar surface
JPS6342144A (ja) 多層配線構造体
KR950000090B1 (ko) 반도체장치의 제조방법
JPS58216441A (ja) 半導体装置の多層配線構造
JPH05315242A (ja) 微細レジストパターンの形成方法
JPS59222934A (ja) パタ−ン形成方法
JPS62243341A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS6295895A (ja) スルホ−ルの形成方法
JPH03167840A (ja) 半導体素子の製造方法
JPH05121561A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0416011B2 (ja)
JPS6195553A (ja) 半導体集積回路の多層配線構造体及びその製造方法
JPS58155A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0528500B2 (ja)
JPH01150340A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法