JPH0769170B2 - プラスチツク製びんの検査機械 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は検査しようとするびんを受容するために複数の
ステーシヨンを有する、鉛直な軸を中心として回転可能
なメリゴーランドと、それぞれセンサとこのセンサによ
つて検出されるマークとから成りかつ適当な出力信号を
生せしめるためのセンサ装置と、前記出力信号を評価す
るための評価電子装置とを有する、プラスチツク製びん
の検査機械に関する。

従来技術 公知の検査機械は主としてプラスチツク製の回収びん、
つまり顧客から返還されかつ再び充填されるびんの検査
に用いられる。このような回収はびんあたりほぼ25回行
なわれるものとしたい。びんとしては特に飲料用びんを
想定している。

今日では環境汚染を防止するという関点からガラス製の
回収びんが復活してきたが、重量が大きくかつ壊れやす
いために、主要な飲料水製造者によつては重量の小さい
回収びんが注目されている。このためにはポリエチレン
テレフタレート又はPETから成るびんが適している。PET
びんは重量に関して著しい利点を有している。一杯に充
たされた1.5リツトルPETびんは一杯に充填されたガラス
１リツトルびんよりも重くはならない。したがつて主婦
は同じ労力で50％多くの内容物を家に持ち帰ることにな
る。しかも配送車が大気を汚染する度合が少なくなりか
つ燃料の消費量が小さくなる。これはPETびん又はプラ
スチツクびん一般の利点の極く一部である。

プラスチツクびんを再び充填するためにはガラスびんの
場合には不要である一連のパラメータを検査しなければ
ならない。例えばプラスチツクびんは充填する前にびん
底、びん頚部及びびん開口がびん軸線に対してまだ直角
であるかどうかを検査しなければならない。つまりプラ
スチツクびんは熱の作用を受けると永久変形可能であ
り、このような変形されたびんは申し分なく又は困難を
伴うことなしに充填することはできない。同じ理由から
プラスチツクびんにおいては時間が経つにつれてびん高
さとびん容積が変化し、所定量の飲料水をびんに充填す
ることができなくなる。

さらにプラスチツクびんにおいてもガラスびんにおいて
も検査されなくてはならないパラメータもある。これら
のパラメータには例えば分類を目的として読取られるコ
ード及びびんのシール性があげられる。シール性はガラ
スびんの場合にはびんの口の損傷、びんの壁における亀
裂等のために検査されなければならないが、プラスチツ
クびんにおいては例えば鋭つたもの、火の着いたタバコ
等で場合によつては目で確認されない穴があきやすいの
でシール性を検査する必要が付加的にある。

プラスチツク容器を検査するためには種々異なる検査機
械が公知であるが、代替可能なコストと所要時間で前述
のすべてのパラメータを検査することのできる検査機械
は今日まで提供されていない。

例えばDE−OS2620046号によれば透明な材料から成る中
空体において欠陥を検出する方法と装置が公知である。
この場合には材料としてはガラスとプラスチツクが対象
であり、例えば中空体の亀裂、穴、口の傾き等のような
所定寸法からの偏差、品質、長さの誤差等が検査される
欠陥の対象となつている。しかしながらこれらの欠陥は
公知の欠陥検出装置では択一的にしか検出されない。公
知の方法と装置の目的は評価電子装置の検出を検査通路
が多数ある場合にも簡単にし短縮しかつ確実にし、欠陥
の検出精度を高くするという要求を考慮し、高い精度で
欠陥が証明されるようにしかつ運転電圧が滞りなく供給
されるようにすることにある。公知の方法が複数の検査
通路を有しているとしても、この方法でプラスチツクび
んをびん洗浄装置と充填装置との間で、代替可能な所要
時間で検査することはできない。何故ならば公知の装置
では検査される中空体は順次検査位置にもたらされ、こ
こ固定され、検査され、ついではじめて先きへ搬送され
るからである。これは時間的な理由から、１分間に600
個のプラスチツクびんが検査されなければならない前述
の使用目的には適していない。さらに公知の装置は光学
的な検査装置を用いなければならない。これは前述の使
用目的には同様に適さない。何故ならば再充填しようと
するびんにはしばしば洗浄後にレツテルの１部又は全部
が付いており、このレツテルによつてこのようなレツテ
ルが存在していることを除いては光学的な検査が妨げら
れるからである。

DE−OS3036502号によれば透明な容器の異物の検査装置
であつて、検査所要時間が前述の公知の装置よりも短い
ものが公知である。この場合には容器は搬送ベルトで、
照射装置とこれに向き合つた検出装置のそばを通過させ
られるようになつている。しかしながら検出装置は光電
式の感光性の部材で作業するので、この場合にも前述の
公知の装置の場合と同じ欠点が生じる。透明な容器の検
査を行なう前記装置の主要目的は、容器壁に付着する汚
れ又は異物、例えばレツテルの残りを確実に確認するこ
とである。前述の理由からこの公知の装置はびんの底、
頚部及び開口の直角性、びんの高さ、体積及びシール性
を検出するためには適していない。

US−PS3010310号によればガラスびんをテストする装置
が公知である。この装置においてはガラスびんが搬送ス
クリユで供給されるスターホイールにより回転するメリ
ゴーランドにガラスびんがもたらされ、このメリゴーラ
ンドからテストが終了すると再び取出されるようになつ
ているので所要時間は短縮されるが、この装置はテスト
を行なうためにしか構成されていない。つまりガラスび
んが最底強度を充たしているか否かを確認するためにガ
ラスびんの内部に空気圧がかけられる破壊試験しか行な
われない。この装置はプラスチツクびんの多数の他のパ
ラメータを大量検出するためには適しておらず、又この
ために構成されてもいない。

発明が解決しようとする課題 本発明が解決しようとする課題は、冒頭に述べた形式の
検査機械を改良して、同一の機械で種々異なる検査パラ
メータ、例えばびん軸線に対するびん底の直角性及びび
ん頚部及びびん開口の直角性、びんの体積及びシール
性、びんの高さ及びびんのコードを代替可能な所要時間
と費用で検査されるようにすることである。

課題を解決するための手段 本発明の課題は請求項１の特徴部分に記載した構成によ
つて解決された。

発明の効果 本発明の検査機械においては各プラスチツクびんがメリ
ゴーランドに受容されるだけではなく、メリゴーランド
と一緒に運動する間にびん軸線を中心として回転させら
れ、メリゴーランドに固定され、かつメリゴーランドと
一緒に回転するセンサ及びこれに配属されたマークのそ
ばを通過させられることによつて所要時間と費用が著し
く減少させられる。時間の節減はセンサ又はこのセンサ
によつて検出しようとするマークが検査しようとするプ
ラスチツクびんと一緒に移動するので顕著である。びん
がメリゴーランドに侵入した時点からびんがメリゴーラ
ンドから出る時点まで、メリゴーランドの回転数が比較
的に高い場合にもすべての検査を行ないかつ確実に予定
された検査過程を実施するために、妨害要因によりしば
しば妨害されるいくつかの検査を複数回行なうのに十分
な時間が与えられる。費用は本発明の検査機械において
は、評価電子装置全体がメリゴーランドの上にありかつ
これと一緒に回転することにより低減される。自由にプ
ログラミング可能な、個々の検査に必要な電子制御装置
は適当な価格で市販されており、検査過程のすべての制
御をメリゴーランドの上自体で行なうことができる。し
たがつてメリゴーランドは運転電圧供給装置（例えばス
リツプリング）と回転するメリゴーランドから定置の機
械部分にデータを伝達する装置しか必要とする。このデ
ータの伝達は例えばスリツプリングを介してマルチプレ
ツクス技術で行なうことができる。制御及び評価電子装
置の内部の構造とその電流供給装置及びそのデータ表示
装置との接続と、プリンタとそれに類似したものは本発
明の対象ではない。むしろ本発明の対象はメリゴーラン
ドと検査にとつて重要な部分が検査に際してメリゴーラ
ンドと一緒に回転することで行なわれる検査の可能性で
ある。

さらに本発明の構成によればびん軸線に対するびん底の
直角性及びびん頚部とびん開口との直角性を簡単に検査
することができる。何故ならば直角性がもはや存在して
いないとびんはその軸線を中心として回転するときに上
及び（又は）下で揺動運動を行ない、この結果、びんを
欠陥品として選別する出力信号が発せられるからであ
る。他の検査過程の場合のようにメリゴーランドはその
回転によつて検査に必要な運動を、このために特別な駆
動装置を必要とすることなしに生ぜしめる。メリゴーラ
ンドの回転からはびんの立つている皿の回転を（２つの
歯車の噛合によつて）取出すか又は回転しない皿を用い
て、この皿の上でびんを例えばメリゴーランドの回転に
際して弾性的な滑走部に沿つて通過させ、びんがこの滑
走部を転動することで回転させることもできる。

請求項２に記載した本発明の構成では体積とシール性と
いうパラメータを検出するためにメリゴーランドの回転
により制御される装置が設けられ、この装置でびん内部
が圧力で負荷されるようになつている。所定の圧力値が
達成されないとびんには穴があいているか又は体積が拡
大されているのであり、所定の圧力値が越えられるとび
んは収縮されており、公称体積をもはや有していないこ
とを意味する。いずれの場合にもびんは不良品として選
別される。

さらに請求項２に記載した本発明の構成によれば、所定
の空気量をびんに圧入するためにメリゴーランドに設け
られたカム円板により作動可能なピストン棒を有するピ
ストンでびんの内部を圧力で負荷する可能性が開示され
ている。

請求項３と４の構成では光センサを用いてパラメータが
検出される。請求項３の構成によればびんの高さである
パラメータを検出するためには例えば磁気又はそれに類
似したセンサ装置を用いることも有利である。請求項３
の構成ではセンサはメリゴーランドと一緒には回転しな
い。むしろこの場合にはこのセンサにより検出しようと
するマーク、例えば部体、色マーク又はその他の検出に
適した構造物であることのできるマークが移動する。

請求項４の構成によればマークはびん自体にコードマー
クとして設け、びん軸線を中心としてびんが回転するこ
とでコードマークがセンサのそばを通過するようにする
こともできる。

さらに請求項４に記載の構成によればびんのコード範囲
に空気を吹付けることによつて公知の技術では検査過程
を妨げる誤差源、例えば検出しようとするマークの範囲
にある水滴、ラベルの残り又はそれに類似したものを排
除することができる。

次に図面について本発明を説明する。

第１図にはプラスチツク、特にPETから成るびん10の検
査機械の１実施例が示されている。第１図においてはび
ん10が回転するメリゴーランド12に供給され、検査の終
つたあとで再びメリゴーランド12から取出される主要な
搬送装置だけが示されている。搬送装置には入口搬送ス
クリユ14と入口スタホイール16と出口スタホイール18と
出口搬送スクリユ20とが属している。入口スタホイール
16はびん10をメリゴーランド12の皿22に引渡す。このメ
リゴーランド12の上でびんは出口スタホイール18にまで
搬送される。搬送スクリユ14,18の下側には図示されて
いない搬送路があり、この搬送路の上をびんが縦軸線を
中心として回転する搬送スクリユによつて移動させられ
る。搬送スクリユ横には長手方向に同様に図示されてい
ない制限部材が設けられている。この制限部材によつて
びんが搬送スクリユのねじ溝に保持される。搬送スクリ
ユ14,20とスタホイール16,18とメリゴーランド12は共通
のチエーン駆動装置24を介して回転させられるので同期
的に運動させられる。これは検査に際して欠陥品として
確認されたびんが所の個所で出口搬送スクリユ20におい
て又は出口搬送スクリユ20の後ろで放出器によつて選別
されるから重要である。この放出器は例えば作動に際し
て圧縮空気衝撃力を当該のびんに作用させ、他のびんの
列から除かれる。スタホイール16,18の外周凹部と、搬
送スクリユ14,20とメリゴーランド12の皿22との運動が
同期関係にあることにより、所定の時点に放出しようと
するびんが正確に放出器の前に存在することが保証され
る。

第１図に示されたメリゴーランド12は検査しようとする
びん10を受容するために16のステーシヨン26（第２図）
を有している。ステーシヨン26の内第１図においては皿
22とあとで説明する駆動装置しか示されていないのに対
し、第２図においては１つのステーシヨンが完全に示さ
れている。第１図には図示されていないメリゴーランド
フレームの２つの上方の保持プレート28と30が示されて
いる。下方の保持プレート30には各ステーシヨン26の上
方の端数が固定されている。これは第２図に示されてお
りかつこれについては後で説明する。メリゴーランド12
がチエーン駆動装置24により回転させられると、保持プ
レート28と30も回転する。保持プレート28と30の間には
これと一緒に回転する制御電子装置32が固定されてい
る。この制御電子装置32は１つのステーシヨン26のため
だけに概略的にしか示してない。制御電子装置32は個々
の検査過程を制御する自由にプログラミング可能な電子
装置である。電気的な運転電圧はメリゴーランド12に下
方に配置された図示されていないスリツプリング装置に
より供給される。適当なスリツプリング装置又はそれに
類似したものを介してメリゴーランドの上端には評価電
子装置34が定量のデータ処理装置（表示装置、プリンタ
又はそれに類似したもの）と接続されている。

メリゴーランド12のすぐ下には定置の太陽歯車36が配置
され、この太陽歯車36の歯には遊星歯車38が噛合つてい
る。それぞれ１つの遊星歯車38は皿22の１つと軸39によ
り結合されている。したがつてメリゴーランド12が回転
するとこれと一緒に回転する遊星歯車38が回転させられ
る。この遊星歯車38自体は皿22を回転させる。メリゴー
ランド12の駆動運動は電気モータ40によつてチエーン駆
動装置24を駆動する伝動装置42を介して生ぜしめられ
る。この駆動運動はスタホイール16,18とメリゴーラン
ド12に共通のチエーン46が巻掛けられたスプロケツト44
によつて伝達される。検査機械の定置のフレームは横桁
48と中央支柱50だけで示されている。中央支柱50内には
軸52が上端で回転可能に支承されている。軸52は下端部
に前述のスプロケツト44の１つを保持している。

次に第２図と第３図とを用いてステーシヨン26の構造を
詳細に説明する。ステーシヨン26はすべて同じ構成を有
しているので説明はステーシヨン26の１つだけについて
行なう。ステーシヨン26は２つの鉛直な保持支柱54,55
を有し、この保持支柱54,55は上端で保持プレート30に
固定されている。さらに保持支柱54,55は下方範囲で、
メリゴーランドに固定された保持プレート56に固定され
ている。保持支柱54,55の下端には水平方向のブラケツ
ト58が固定され、このブラケツト58は皿22と太陽歯車36
に噛合う遊星歯車38の形をした駆動装置を保持してい
る。さらに保持プレート56にはびん10の掴む２つのフオ
ークを有するフオークヘツド60が固定されている。

遊星歯車38の軸39は上端に球継手62を有しており、この
球継手62は皿22が遊星歯車38と一緒に回転するが、しか
しあらゆる方向に旋回運動可能に構成されている。幅の
広いフランジ23が固定されている皿22とブラケツト58と
の間には、軸39に移動可能に配置されたフランジ64が設
けられており、このフランジ64はばね66によりフランジ
23の下面に押付けられている。ばね66は下端部でブラケ
ツト58に支えられている。

皿22に向き合つて、第４図に示すように、保持支柱54,5
5には保持支柱に沿つて移動可能なヘツド68がびん10の
開口部を掴むために設けられている。ヘツド68は皿22と
ほぼ同じ構成を有しており、つまりヘツド68は皿22に向
き合つて設けられた、球継手62′の上であらゆる方向に
運動可能なフランジ23′を有しており、このフランジ2
3′には上方からばね66′によりフランジ64′が圧着さ
せられる。このフランジ64′はヘツドの軸70に移動可能
に配置されている。皿22に相応してヘツド68はヘツド部
材72を有し、このヘツド部材72はリング状の凹所に配置
されたシール74を有している。このシール74によりヘツ
ド部材72はびんの口に気密に圧着可能である。ヘツド68
全体は中空軸76の上に転がり軸受78で回転可能に支承さ
れている。中空軸76は往復台80に固定され往復台80は鉛
直な保持支柱54,55に沿つて移動可能に配置されてい
る。往復台80の半径方向内方にはトグルレバー装置82が
設けられ、このトグルレバー装置82は検出ローラ83で機
械フレームに固定されたカム円板84を走査し、その際に
生ぜしめられた検出ローラ83の半径方向の運動は第５図
から簡単に判るようにコイルばね85の力に抗した往復台
80の鉛直運動に変換される。カム円板84の隆起部に達す
ると、検出ローラ83は第５図で見て半径方向右へ押さ
れ、これによつてトグルレバー86が上方へ移動させら
れ、往復台80をばね85の力に抗して連行する。これに対
してカム円板84の谷87に達すると（各ステーシヨン26は
このような谷87に配属されている）、往復台80は下方へ
動き、ヘツド68をびん口に押付ける。皿22には接近セン
サ21が配属されている。これに相応してヘツド68には接
近センサ21′が配属されている。接近センサ21と21′は
メリゴーランドに固定的に配置され、皿22とヘツド68と
の間に締込まれたびん10のびん軸線を中心とした回転運
動を、メリゴーランドの回転運動に際して共に行なわな
い。皿とヘツドとの間に締込まれたびん10においてびん
底、びん頚部及び（又は）びん開口がびん軸線に対して
直角でないと、びんの回転に際してフランジ23及び（又
は）フランジ23′が球継手62もしくは62′があるために
揺動運動を行ない、これによつてフランジ64もしくは6
4′が軸方向に移動させられ、これが接近センサ21もし
くは21′に多かれ少なかれ接近させられる。この接近は
接近センサと接続された評価電子装置34で捕えられかつ
評価される。これについては後で説明する。

往復台80はさらに、メリゴーランドの回転によつて制御
されて、ヘツド68を通してびん10の内部を圧力で負荷す
る装置90を保持している。びん10の内部の圧力はヘツド
に固定された圧力センサ92によつて検出される。圧力負
荷装置90はシリンダ93内に配置された、半径方向に移動
可能なピストン94を有し、このピストン棒95は機械フレ
ームに固定されたカム円板88（第２図と第４図参照）に
より検出ローラ89を介して、戻しばね91の押圧力に抗し
て半径方向に移動可能である。ピストン94の戻しばね91
に面した側にはシリンダ室93aがあり、このシリンダ室9
3aは一方では圧力センサ92と接続され、他方では中空軸
76と同様に中空に構成された軸70とを介してびん内部と
接続されている。検出ローラ89がカム円板88の上で隆起
部により半径方向外方へ押されると、シリンダ室93a内
にある空気量が第４図において右へ移動するピストン94
によつてびん10内に圧入される。この検査過程の評価に
ついてはさらにあとで説明する。

第２図と第３図に示されているようにステーシヨン26に
は光電式のセンサ94が配属されている。このセンサ94は
隆起した点又は線の形をしたびんコードマーク103を検
出するために用いられる。このセンサは光導体を介して
光源（例えば光ダイオード）から発せられた光束をびん
に投げかつコードマーク103によつて反射した光束をフ
オトエレクトリツク受光器に伝達する市販のセンサであ
ることができる。導線95を介してセンサ94は評価電子装
置34と接続されている。

さらに各ステーシヨンは空気ノズル96を備えている。こ
の空気ノズル96は第２図と第４図とにおいてはセンサ94
の横に配置された空気流開口として略示してある。空気
ノズル96は圧縮空気流をびんが回転するときにコードマ
ーク103が通過する範囲に向かつて噴出する。この圧縮
空気流はびんの表面から、検査を妨げる水滴を除去す
る。

明細書及び請求の範囲で使用された「センサ装置」とい
う概念はそれぞれ１つのセンサとこのセンサによつて検
出しようとするマークとを含むものである。上記センサ
はいずれもメリゴーランド12と一緒に回転し、その前を
通過するマークを検出する。このマークはセンサ21,2
1′の場合には軸方向に移動可能なフランジ64もしくは6
4′である。しかし検査機械はさらに別のセンサ装置を
有している。このセンサ装置においてはセンサは機械フ
レームに固定的に取付けられ、マークはメリゴーランド
12と一緒に回転する。このセンサ装置はびん高さを検出
するために用いられる。マークとしては往復台80に鋼片
97の形をした構造体が固定されている。各ステーシヨン
に前記鋼片97は設けられている。これに対してすべての
鋼片には共通の定置のセンサ98が配属されており、この
センサ98は第４図に示されているように山形材で機械フ
レームに固定されている。センサ98は磁気的又は光学的
なセンサであることができる。後者の場合には構造体97
は反射するマーク、明暗マーク、色マーク等であること
ができる。センサ98と同じ構造を有する別のセンサ99は
びん10が存在していないか又はステーシヨン26のびんが
低すぎるときにヘツド80が所定位置よりも低い下がりす
ぎるときにだけ応働する下限センサである。導線100を
介してセンサ98と99は評価電子装置34に接続されてい
る。導線25,25′（第２図から第４図参照）を介してセ
ンサ21もしくは21′は評価電子装置34に接続されてい
る。

前述の説明からはプラスチツクびんの冒頭に述べたパラ
メータが本発明の検査機械でどのよに検出されるかは簡
単に判るはずである。

「びん軸線に対するびん底の直角性」というパラメータ
と、「びん軸線に対するびん頚部及びびん開口の直角
性」というパラメータとを検出するためにはセンサ装置
21,64もしくは21′,64′が用いられる。びん10が直角で
ないと、びん軸線を中心として回転するときにびんは揺
動運動を行なう。この揺動運動はフランジ23及び（又
は）23′に揺動運動を与える。この揺動運動は軸方向に
移動するフランジ64もしくは64′を介して接近センサ21
もしくは21′によつて検出される。評価電子装置34は揺
動運動によつて惹起されるフランジの移動を限界値と比
較し、この限界値が越えられると当該のびんが放出器の
そばを通過するときに放出器をあとで作動させる。

「びんの体積とシール性」であるパラメータを検出する
ためには圧力センサ92により、空気がシリンダ室93aか
らびんの内部に圧入されたときに形成される圧力が検出
される。この場合にも評価電子装置34は対応圧力値を限
界値と比較しかつこの限界値に対する差が大きすぎる場
合にはあとで放出器を作動させる。所定の容積を有する
気密なびんは所定の対応圧力値を有している。びんが穴
を有していると前述の空気量を圧入したときに限界値に
達しなくなる。又、びんが使用中に永久変形するとびん
の体積は元の公称体積よりも小さくなる。したがつて前
述の空気量を圧入すると対応圧限界値が越えられる。

「びん高さ」であるパラメータを検出するためにはすで
に述べたようにすべてのステーシヨン26の構成体97の高
さ位置がすべてのステーシヨン26に共通なセンサ98で検
出される。

さらに「びんコード」であるパラメータを検出するため
にはびんの表面にある隆起した点又は線の形をしたびん
コードマーク103が光学的に検出される。このパラメー
タの検出はびんを選別し、他の製造者により製造された
びんを排除し、所定の年限を経たびんを除去することを
可能にする。

前述の検査又は試験過程においては、検出過程時のセン
サと対応するマークとの間の相対速度が高すぎず、１回
又は複数回の検出過程のために十分な時間が与えられる
ことが重要である。この基準は前述の検査機械の場合に
は申し分なく充たされる。何故ならば「びん高さ」とい
うパラメータを検出するためを除いていずれの場合にも
検出しようとするマークに対して定置のセンサで「回転
する検出」が行なわれるからである。メリゴーランド12
は回転し、各びんはびん軸線を中心として回転する。検
査中には同時に２つの回転運動が行なわれる。つまりび
ん軸線を中心とした回転運動とメリーゴーランド軸線を
中心とした回転運動とが与えられる。この両方の回転運
動は「びん高さ」というパラメータを除いて、すべての
検出過程で利用される。びんが入口スターホイールから
出て１つのステーシヨン26により受取られる位置と、同
びんが同ステーシヨンから出て出口スターホイール18で
受取られる位置との間には、多くの時間が与えられてい
るので、検出はわけなく複数回実施することができる。
これは検出部材がメリゴーランドの上のびんと一緒に回
転することにより達成される前述の検出機械の重要な利
点である。これは「びん高さ」というパラメータを検出
する場合にはあてはまらないが、この検出にとつてはす
べてのステーシヨンに対して唯一のセンサ98しか必要で
なくなるという利点をもたらす。特に小さい消費出力は
すべての評価電子装置34が同様にメリゴーランド12と一
緒に回転することにより達成される。

「びん軸に対するびん底、びん頚部及びびん開口の直角
性」というパラメータを検出する場合には±１゜の精度
が達成される。「びんの体積及び気密性」というパラメ
ータを検出する場合には±2Vol、％の精度が達成され
る。又、「びん高さ」というパラメータを検出する場合
には±１ミリメートル精度が得られる。なお、これらの
数値は検査されるプラスチツクびんが11又は15の公称
充填量を有している場合のものである。

前述の検査機械の変化実施例では駆動された更の代りに
定置の皿を用いることもできる。この場合には太陽歯車
36と遊星歯車38は不要になる。この代りにメリゴーラン
ドの周囲に、しかもフオークヘツド60の高さに弾性的な
滑走部が設けられている。この滑走部の上をびんは転動
し、その際びん軸線を中心として回転させられる。フオ
ークヘツド60には付加的に２つのローラが設けられ、こ
のローラの上でびんが回転するときに転動する。びんの
転動運動はゆつくりと行なわれるので相応する検査が妨
げられずに行なわれる。検査過程中にセンサ94に対して
ゆつくりと運動するびんからは読取り過程を妨げる水滴
がセンサ範囲に飛散ることはない。

【図面の簡単な説明】

図面は本発明の１実施例を示すものであつて、第１図は
本発明の検出機械の内、機械を通してびんを搬送する部
分とびん軸線を中心としてびんを回転させる部分とを示
した図、第２図は第１図の検査機械の16個のステーシヨ
ンを示した図、第３図は皿とびん軸線に対するびん底の
直角性を検出するためのセンサ装置とを示した部分図、
第４図はびんの上に降下可能なヘツドと、びん軸線に対
するびん頚部とびん開口との直角性と、びん体積及びび
ん気密性とびん高さを検出するセンサ装置とを示した部
分図、第５図は第４図のヘツドを保持する往復台の鉛直
運動をメリゴーランドの回転運動から取出す構造を示し
た図である。 10……びん、12……メリゴーランド、14……入力搬送ス
クリコ、16……入口スターホイール、18……出口スター
ホイール、20……出口スターホイール、22……皿、24…
…チエーン駆動装置、26……ステーシヨン、28……保持
プレート、30……保持プレート、32……制御電子装置、
34……評価電子装置、36……太陽歯車、38……遊星歯
車、39……軸、40……電気モータ、42……崎動装置、44
……スプロケツト、46……チエーン、48……横桁、50…
…センタポール、52……軸、54……支柱、55……支柱、
56……保持プレート、58……ブラケツト、60……フオー
クヘツド、62……球継手、64……フランジ、66……ば
ね、68……ヘツド、70……軸、72……ヘツド部材、74…
…シール、76……中空軸、78……ころがり軸受、80……
往復台、82……トグルレバー装置、83……検出ローラ、
84……カム円板、85……ばね、86……トグルレバー、87
……谷、88……カム円板、89……検出ローラ、90……圧
縮空気負荷装置、92……圧力センサ、93……シリンダ、
94……ピストン、95……ピストン棒、96……空気ノズ
ル、97……鋼片、98……センサ、99……センサ、100…
…導線、103……びんコードマーク

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】検査しようとするびん（10）を受容するた
   めに複数のステーション（26）を有する、鉛直な軸を中
   心として回転可能なメリゴーランド（12）と、それぞれ
   センサ（21,21′,92,94）とこのセンサによって検出さ
   れるマーク（64,64′,97,103）とから成り、かつ適当な
   出力信号を生ぜしめるためのセンサ装置と、前記出力信
   号を評価するための評価電子装置とを有する、プラスチ
   ック製びんの検査機械であって、 −各ステーション（26）が皿（22）を有し、この皿（2
   2）の上にびん（10）が支えられかつびん軸線を中心に
   して回転可能であり、 −すべてのセンサ（21,21′,92,94）及び（又は）少な
   くともこれらのセンサに配属されたマーク（64,64′,9
   7,103）がメリゴーランド（12）に固定され、このメリ
   ゴーランド（12）と一緒に回転可能である形式のものに
   おいて、 −前記皿（22）が球継手（62）の上に固定されており、
   該球継手（62）が軸（39）を介して遊星歯車（38）と結
   合されており、該遊星歯車（38）と噛合う定置の太陽歯
   車（36）が設けられており、メリゴーランド（12）が回
   転する場合に、遊星歯車（38）及び該遊星歯車（38）と
   一緒に前記皿（22）がびん（10）と共に回転させられ、
   該皿（22）があらゆる方向に旋回運動可能であり、 −前記皿（22）に対し、びん（10）がびん開口において
   ヘッド部材（72）によって緊締可能であり、このヘッド
   部材（72）が鉛直方向に移動可能である往復台（80）に
   別の球継手（62′）を介して自由に回転可能に固定され
   ており、さらにトグルレバー装置（82）が設けられてお
   り、該トグルレバー装置（82）が機械フレームに固定さ
   れたカム円板（84）をメリゴーランド（12）の回転に際
   して走査する検出ローラ（83）を用いて作動可能であ
   り、その際に生ぜしめられた検出ローラ（83）の半径方
   向運動を前記往復台（80）の鉛直方向運動に変換するよ
   うになっており、 −パラメータ「底の直角性」並びに「くびと開口とのび
   ん軸に対する直角性」を検出するために各ステーション
   （26）に２つのセンサ装置（21,64;21′,64′）が配属
   されており、該センサ装置（21,64;21′,64′）がそれ
   ぞれ１つの接近センサ（21,21′）を有し、各接近セン
   サ（21,21′）に、マークとして、びん軸に沿って移動
   可能で、びんの底もしくは開口の方向にあらかじめばね
   負荷されたフランジ（64;64′）が配属されており、こ
   のフランジ（64;64′）が直角性が不足する場合に揺動
   する皿（22）もしくは直角性が不足する場合に揺動する
   ヘッド部材（72）により軸方向に接近センサ（21,2
   1′）に向かって押圧可能である、 プラスチック製びんの検査機械。
2. 【請求項２】パラメータ「体積と気密性」を検出するた
   めに、各ステーション（26）に１つの装置（90）が配属
   されており、この装置（90）がメリゴーランドの回転運
   動と機械フレームに固定された第２のカム円板（88）と
   によって制御されてびんの内部を圧力で負荷可能であ
   り、この圧力が圧力センサ（92）で検出可能であり、当
   該装置（90）がシリンダ（93）内に配置されたピストン
   （194）を有し、このピストン（194）のピストン棒（19
   5）がカム円板（88）によって作動可能であり、これに
   より、圧力センサ（92）と結合された、ピストン（19
   4）の前のシリンダ室（93a）から所定の空気容量がヘッ
   ド（68）を通ってびん（10）内へ圧送可能である、請求
   項１記載の検査機械。
3. 【請求項３】パラメータ「びん高さ」を検出するために
   各往復台（80）にマークとして設けられた構造体（97）
   の高さが定置の、すべてのステーション（26）に共通の
   センサ（98）により検出可能である、請求項１記載の検
   査機械。
4. 【請求項４】パラメータ「びんコード」を検出するため
   に、各ステーション（26）が光−電気式センサの形式の
   センサ装置を備え、このセンサ装置がびん（10）に設け
   られたびんコードマーク（103）を識別するようになっ
   ており、各ステーション（26）にびんコードマーク（10
   3）の範囲においてびん（10）に空気を吹き付ける空気
   ノズル（96）が設けられている、請求項１記載の検査機
   械。