JPH0766165A - 洗浄装置 - Google Patents

洗浄装置

Info

Publication number
JPH0766165A
JPH0766165A JP20768593A JP20768593A JPH0766165A JP H0766165 A JPH0766165 A JP H0766165A JP 20768593 A JP20768593 A JP 20768593A JP 20768593 A JP20768593 A JP 20768593A JP H0766165 A JPH0766165 A JP H0766165A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
filter
cleaning
clean unit
metal contaminants
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP20768593A
Other languages
English (en)
Inventor
Kazumasa Kumabe
一正 隈部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP20768593A priority Critical patent/JPH0766165A/ja
Publication of JPH0766165A publication Critical patent/JPH0766165A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

(57)【要約】 【目的】洗浄室内に供給される空気から金属汚染物質を
除去する。 【構成】洗浄室11の天井にクリーンユニット12が吊
り下げられている。このクリーンユニット12は、ケミ
カルフィルタ24とULPAフィルタ25が積層されて
いる。ケミカルフィルタ24では、空気中の金属汚染物
質が除去され、ULPAフィルタ25では0.05〜
0.1μmのダストが除去される。この洗浄装置内で例
えばウエハーなどの洗浄を行なえば、粉塵や金属汚染物
質が付着するようなことがないので、これを用いた半導
体の歩留まりが向上するようになる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、ウエハーなどを洗浄す
るときに用いられる洗浄装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えば、MOSトランジスタなどの半導
体は結晶内に不純物が混じっていると性能に重大な影響
があるため、クリーンルーム内に更にクリーン度が高い
洗浄装置を設け、その中でウエハーなどの洗浄を行なう
のが普通である。洗浄装置は、略密閉された洗浄室と、
その上部に取り付けられたクリーンユニットで構成さ
れ、クリーンユニットで周囲の空気が清浄化されて洗浄
室内に供給される。洗浄室の中にはウエハーなどを洗浄
するための洗浄液が入っている洗浄槽と、洗浄後のウエ
ハーを乾燥するドライヤなどが設置されている。また、
洗浄室には内部の空気を排気する排気ダクトが取付けら
れている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の洗浄
装置のクリーンユニットは、ULPA(Ultra Low Pene
tration Air)フィルタなどのエアフィルタで空気中の
粉塵を除去するようになっているのが普通である。しか
し、このULPAフィルタは物理的なフィルタであるか
ら、空気中の埃などを除去するだけで、例えば燐などの
金属汚染物質を除去することはできない。
【0004】一方、クリーンルーム内は空気をダウンブ
ローに流しているが、汚染物質が拡散するのを完全に防
止することは困難であり、拡散した汚染物質が洗浄装置
のクリーンユニットに吸引されるのを避けることができ
ない。このクリーンユニットでも上述のように金属汚染
物質の除去ができないので、これが洗浄装置内に入り込
んでウエハーに付着してしまうことがあった。
【0005】洗浄装置の中で行なわれる洗浄工程の次に
拡散工程やCVD(Chemical VaperDeposition)工程な
どのようにウエハーに高温が加えられる工程があると、
ウエハーの表面に付着した金属汚染物質が結晶内部に拡
散してしまい、上述のように半導体の特性が劣化するよ
うになる。このように、従来の洗浄装置を使用して洗浄
されたウエハーを用いた場合、半導体の歩留まりが悪く
なるという問題があった。
【0006】そこで、本発明は上述のような課題を解決
したものであって、空気中の埃などの汚染物質と共に金
属汚染物質も除去することにより、半導体の歩留まりを
向上させることが可能な洗浄装置を提案するものであ
る。
【0007】
【課題を解決するための手段】上述の課題を解決するた
め、本発明においては、洗浄作業を行なうための略密閉
された空間を形成する洗浄室と、周囲の空気を清浄化し
て洗浄室内に供給するクリーンユニットと、洗浄室内の
空気を外部に排出する排気ダクトとを有する洗浄装置に
おいて、空気中の粉塵を除去するためのエアフィルタ
と、エアフィルタを通過する金属汚染物質を除去するた
めのケミカルフィルタとが、クリーンユニット内に積層
されていることを特徴とするものである。
【0008】
【作用】図1に示すように、この洗浄装置1において
は、洗浄室11の天井にクリーンユニット12が吊り下
げられている。このクリーンユニット12は、図2に示
すようにケミカルフィルタ24とULPAフィルタ25
が積層されている。ケミカルフィルタ24では空気中の
金属汚染物質が除去され、ULPAフィルタ25では
0.05〜0.1μmのダストが除去される。この洗浄
装置1内で例えばウエハーなどの洗浄を行なえば、金属
汚染物質が付着するようなことがないので、これを用い
た半導体の歩留まりが向上するようになる。
【0009】
【実施例】続いて、本発明に係わる洗浄装置の一実施例
について、図面を参照して詳細に説明する。
【0010】図1は本発明による洗浄装置1の構成を示
す。同図に示すように、この検査装置1は内部でウエハ
ー(図示せず)などの洗浄作業を行なうことが可能な適
宜な広さで略密閉された洗浄室11を有し、その天井に
複数個のクリーンユニット12が吸気口21を室外に出
して取付けられている。
【0011】洗浄室11の中には、例えばMOSトラン
ジスタのウエハーなどを洗浄するための洗浄槽13が複
数個設置され、その中に洗浄液が入っている。洗浄が終
了したウエハーはドライヤ14で乾燥される。また、洗
浄室11の側壁には内部の空気を排出するための排気ダ
クト15が取付けられており、その途中にあるファン3
1によって洗浄室11内の空気が外部に排出される。こ
れによって、洗浄室11の吸排気バランスが調整されて
ダウンフローが施されている。更に、洗浄室11の側壁
には内部を見るために透明ガラス製の窓16が設けられ
ている。
【0012】図2はクリーンユニット12の構成を示
す。このクリーンユニット12は、洗浄室11の天井に
吊り下げられている。クリーンユニット12は、比較的
大きなゴミなどを除去するためのプレフィルタ22と、
室外の空気を吸引するためのファン23と、空気中の金
属汚染物質を除去するためのケミカルフィルタ24と、
粉塵を除去するためのULPAフィルタ25と、ルーバ
26とを有し、これらが上から順に積層されている。
【0013】プレフィルタ22は例えば適宜な隙間を有
する繊維などでできており、ここで空気中に含まれる比
較的大きなゴミなどが除去される。ファン23は外部の
空気を吸引するもので、回転数を制御することによって
吸引する空気量を調整することができる。
【0014】ケミカルフィルタ24は、例えば酸化剤、
物理吸着剤、中和吸着剤、触媒吸着剤などを含む一般的
なフィルタを使用することが可能であるが、ここでは主
として空気中の燐など金属汚染物質を除去することを目
的としており、金属汚染物質を除去することが可能なフ
ィルタであればよい。なお、ケミカルフィルタ24は、
本例のように金属汚染物質を除去する場合だけでなく、
ULPAフィルタ25で除去できない物質を除去する場
合にも使用され、この場合は除去しようとする物質に応
じたフィルタを選択することが可能である。
【0015】ULPAフィルタ25は、主として極小さ
な埃を除去するためのもので0.05〜0.1μm程度
の粉塵が除去される。ここを通過した空気は内部を保護
するために設けられた網目状のルーバ26を経て洗浄室
11内に放出される。
【0016】これによって、洗浄室11内には粉塵及び
燐などの金属汚染物質が除去されて清浄化された空気が
供給される。したがって、洗浄室11内でウエハーなど
の洗浄を行なっても、従来のように金属汚染物質が付着
するようなことを防止することが可能になる。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は空気中の
粉塵を除去するためのエアフィルタと、エアフィルタを
通過する金属汚染物質を除去するためのケミカルフィル
タとがクリーンユニット内に積層され、このクリーンユ
ニットを通過した空気を洗浄室内に供給するようにした
ものである。
【0018】したがって、本発明によれば、洗浄室内で
ウエハーなどの洗浄作業を行なっても、粉塵や金属汚染
物質が付着することがないから、これを使用する半導体
の歩留まりが向上するなどの効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わる洗浄装置1の構成図である。
【図2】クリーンユニット12の構成図である。
【符号の説明】
1 洗浄装置 11 洗浄室 12 クリーンユニット 13 洗浄槽 14 ドライヤ 15 排気ダクト 22 プレフィルタ 24 ケミカルフィルタ 25 ULPAフィルタ 26 ルーバ

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄作業を行なうための略密閉された空
    間を形成する洗浄室と、 周囲の空気を清浄化して上記洗浄室内に供給するクリー
    ンユニットと、 上記洗浄室内の空気を外部に排出する排気ダクトとを有
    する洗浄装置において、 空気中の粉塵を除去するためのエアフィルタと、上記エ
    アフィルタを通過する金属汚染物質を除去するためのケ
    ミカルフィルタとが、上記クリーンユニット内に積層さ
    れていることを特徴とする洗浄装置。
JP20768593A 1993-08-23 1993-08-23 洗浄装置 Pending JPH0766165A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20768593A JPH0766165A (ja) 1993-08-23 1993-08-23 洗浄装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP20768593A JPH0766165A (ja) 1993-08-23 1993-08-23 洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH0766165A true JPH0766165A (ja) 1995-03-10

Family

ID=16543886

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP20768593A Pending JPH0766165A (ja) 1993-08-23 1993-08-23 洗浄装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0766165A (ja)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09180974A (ja) * 1995-12-26 1997-07-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd エアフィルタを備えた基板処理装置
JPH11114340A (ja) * 1997-09-30 1999-04-27 Samsung Electron Co Ltd 半導体装備の空気流入装置及びこれを用いた化学物汚染除去方法
WO2007119648A1 (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Tokyo Electron Limited 気体清浄装置および半導体製造装置
KR100797083B1 (ko) * 2006-08-30 2008-01-22 세메스 주식회사 기판 세정 장치 및 이를 이용한 기판의 세정 방법
JP2013522930A (ja) * 2010-03-24 2013-06-13 ラム リサーチ コーポレーション 処理ツールにおいて移動メカニズムによって生成される粒子汚染の削減
JP2013188707A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Taisei Corp ファンフィルタユニット

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09180974A (ja) * 1995-12-26 1997-07-11 Dainippon Screen Mfg Co Ltd エアフィルタを備えた基板処理装置
JPH11114340A (ja) * 1997-09-30 1999-04-27 Samsung Electron Co Ltd 半導体装備の空気流入装置及びこれを用いた化学物汚染除去方法
WO2007119648A1 (ja) * 2006-04-07 2007-10-25 Tokyo Electron Limited 気体清浄装置および半導体製造装置
JPWO2007119648A1 (ja) * 2006-04-07 2009-08-27 東京エレクトロン株式会社 気体清浄装置および半導体製造装置
KR100797083B1 (ko) * 2006-08-30 2008-01-22 세메스 주식회사 기판 세정 장치 및 이를 이용한 기판의 세정 방법
JP2013522930A (ja) * 2010-03-24 2013-06-13 ラム リサーチ コーポレーション 処理ツールにおいて移動メカニズムによって生成される粒子汚染の削減
JP2013188707A (ja) * 2012-03-14 2013-09-26 Taisei Corp ファンフィルタユニット

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100269413B1 (ko) 열처리장치
KR100514716B1 (ko) 공기 청정 장치 및 방법
JPH038821B2 (ja)
JPH02126912A (ja) 空気清浄装置及びこれを用いたクリーンルーム
US5514196A (en) Air cleaning apparatus
JP4346175B2 (ja) マイクロエレクトロニクス素子製造システムおよびマイクロエレクトロニクス素子の製造方法
KR100248567B1 (ko) 공기청정장치 및 방법
JPH0766165A (ja) 洗浄装置
JP3697275B2 (ja) 局所クリーン化におけるインターフェイスボックス及びそのクリーンルーム
JP3342531B2 (ja) 半導体製造用エアフイルタ装置及びエアフイルタ装置を備えた半導体処理装置
JP3503770B2 (ja) クリーンユニット及びクリーンルーム
JP4062437B2 (ja) 基板洗浄装置および基板処理施設
JP2002057137A (ja) 基板洗浄装置及び基板処理装置
JP2002009036A (ja) スピン処理装置
JPS62198122A (ja) 半導体処理装置
JP7411004B2 (ja) ロードポートモジュールのウエハ容器の湿度低減装置及びそれを備えた半導体工程装置
KR100253124B1 (ko) 공기청정장치 및 공기청정방법
JPH0745581A (ja) 半導体基板薬液処理装置
JP2001153416A (ja) ファンフィルターユニット、このファンフィルターユニットを用いたミニエンバイロメント、及びこのミニエンバイロメントを備えたクリーンルーム
JPH07183262A (ja) 洗浄装置
JP2003324082A (ja) ポリッシング装置
JPH02277556A (ja) クリーンドラフト
JP3460598B2 (ja) クリーンルームにおけるフィルタの不純物除去方法
JPH04157724A (ja) 洗浄装置
JPH04114414U (ja) エアークリーン装置