JPH0760082B2 - 光点位置検出装置 - Google Patents
光点位置検出装置Info
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- JPH0760082B2 JPH0760082B2 JP3232890A JP23289091A JPH0760082B2 JP H0760082 B2 JPH0760082 B2 JP H0760082B2 JP 3232890 A JP3232890 A JP 3232890A JP 23289091 A JP23289091 A JP 23289091A JP H0760082 B2 JPH0760082 B2 JP H0760082B2
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ＰＳＤへの入射光の光
点位置を検出する光点位置検出装置に関し、特に、簡単
なキャリブレーションにて所望のスケールでの表示出力
が得られるものである。
点位置を検出する光点位置検出装置に関し、特に、簡単
なキャリブレーションにて所望のスケールでの表示出力
が得られるものである。
【０００２】
【従来の技術】半導体位置センサとして一般にＰＳＤが
用いられ、図９に示すような構造を持っている。ＰＳＤ
１０１には電源１０５からバイアス電圧が与えられ、電
極１０１Ａ，Ｂから距離ＸA , ＸB のところに入射光ｈ
νが光点１０２を形成している。このとき、電極１０１
Ａ，Ｂからの出力電流ＩA ，ＩB との間に （ＩA −ＩB ）／（ＩA ＋ＩB ）＝（ＸA −ＸB ）／（ＸA ＋ＸB ） という関係が成立している。これにより、出力電流
ＩA ，ＩB を適当な演算処理をすることで光点位置が検
出される。ここで、上式の右辺は「ＰＳＤの長さを１と
したときの光点の位置」を示しており、以下これを位置
変化率とよぶ。
用いられ、図９に示すような構造を持っている。ＰＳＤ
１０１には電源１０５からバイアス電圧が与えられ、電
極１０１Ａ，Ｂから距離ＸA , ＸB のところに入射光ｈ
νが光点１０２を形成している。このとき、電極１０１
Ａ，Ｂからの出力電流ＩA ，ＩB との間に （ＩA −ＩB ）／（ＩA ＋ＩB ）＝（ＸA −ＸB ）／（ＸA ＋ＸB ） という関係が成立している。これにより、出力電流
ＩA ，ＩB を適当な演算処理をすることで光点位置が検
出される。ここで、上式の右辺は「ＰＳＤの長さを１と
したときの光点の位置」を示しており、以下これを位置
変化率とよぶ。
【０００３】ＰＳＤからの出力電流を処理する演算回路
は、例えば、浜松ホトニクス社製ポジションセンサのカ
タログなどに記載されており、その回路構成は図８のよ
うになっている。ＰＳＤ１０１の出力電流ＩA ，Ｉ
B は、ＯＰアンプ１１１，１１２で増幅され電圧Ｖ
A（＝−Ｒf ×ＩA ），ＶB （＝−Ｒf ×ＩB ）として
出力される。ＯＰアンプ１１１，１１２の出力電圧
ＶA ，ＶB は、ＯＰアンプ１１３で構成された減算器で
減算されて「−（ＶA −ＶB ）」が出力され、また、Ｏ
Ｐアンプ１１４で構成された加算器で加算されて「−
（ＶA ＋ＶB ）」が出力される。これらの出力は、除算
回路１１５で除算され「（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋
ＶB）」として出力される。電圧ＶA ，ＶB と距離ＸA，
ＸBとには、 （ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）＝（ＸA −ＸB ）／（ＸA ＋ＸB ） という関係が成立している。一方、距離Ｌ（有効受光
長）だけ離れた電極１０１Ａ，Ｂの中心からの光点１０
２の距離Ｐは、 （ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）＝２Ｐ／Ｌ という関係が成立し、距離Ｐを電圧ＶA ，ＶB であらわ
すと Ｐ＝（Ｌ／２）×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） となり、除算回路１１５の出力を用いて距離Ｐが算出さ
れる。
は、例えば、浜松ホトニクス社製ポジションセンサのカ
タログなどに記載されており、その回路構成は図８のよ
うになっている。ＰＳＤ１０１の出力電流ＩA ，Ｉ
B は、ＯＰアンプ１１１，１１２で増幅され電圧Ｖ
A（＝−Ｒf ×ＩA ），ＶB （＝−Ｒf ×ＩB ）として
出力される。ＯＰアンプ１１１，１１２の出力電圧
ＶA ，ＶB は、ＯＰアンプ１１３で構成された減算器で
減算されて「−（ＶA −ＶB ）」が出力され、また、Ｏ
Ｐアンプ１１４で構成された加算器で加算されて「−
（ＶA ＋ＶB ）」が出力される。これらの出力は、除算
回路１１５で除算され「（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋
ＶB）」として出力される。電圧ＶA ，ＶB と距離ＸA，
ＸBとには、 （ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）＝（ＸA −ＸB ）／（ＸA ＋ＸB ） という関係が成立している。一方、距離Ｌ（有効受光
長）だけ離れた電極１０１Ａ，Ｂの中心からの光点１０
２の距離Ｐは、 （ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）＝２Ｐ／Ｌ という関係が成立し、距離Ｐを電圧ＶA ，ＶB であらわ
すと Ｐ＝（Ｌ／２）×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） となり、除算回路１１５の出力を用いて距離Ｐが算出さ
れる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】ＰＳＤを用いた簡単な
実験や試作などを行うときに、前述の演算回路を用いる
と、演算回路からは光点Ｐの位置変化率「（ＶA −
ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）」しか出力されないため、この
出力を電圧計などで表示させて、その表示された値を元
に机上計算若しくは換算表を用いて電極１０１Ａ，Ｂの
中心からの光点１０２の距離Ｐを算出し光点位置を求め
ていた。そのため、使用条件にあった幾つかのＰＳＤを
使い分ける場合などにおいて、予めそれぞれのＰＳＤに
ついて換算表を作る必要があり、また、それぞれのＰＳ
Ｄについて計算式を作って確認実験などを行う必要があ
りユーザに負担をかけていた。また、所望の幾つかのＰ
ＳＤについて実用評価などを行う場合についてもユーザ
に同様の負担をかけていた。
実験や試作などを行うときに、前述の演算回路を用いる
と、演算回路からは光点Ｐの位置変化率「（ＶA −
ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）」しか出力されないため、この
出力を電圧計などで表示させて、その表示された値を元
に机上計算若しくは換算表を用いて電極１０１Ａ，Ｂの
中心からの光点１０２の距離Ｐを算出し光点位置を求め
ていた。そのため、使用条件にあった幾つかのＰＳＤを
使い分ける場合などにおいて、予めそれぞれのＰＳＤに
ついて換算表を作る必要があり、また、それぞれのＰＳ
Ｄについて計算式を作って確認実験などを行う必要があ
りユーザに負担をかけていた。また、所望の幾つかのＰ
ＳＤについて実用評価などを行う場合についてもユーザ
に同様の負担をかけていた。
【０００５】本発明は、上述の問題点に鑑み、ＰＳＤの
有効受光長に相当する出力を設定し得る回路を設けて、
装置内において位置変化率から光点位置の位置変化に対
応する出力を得られるようにして、ユーザの利便性を向
上させることをその目的とする。
有効受光長に相当する出力を設定し得る回路を設けて、
装置内において位置変化率から光点位置の位置変化に対
応する出力を得られるようにして、ユーザの利便性を向
上させることをその目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記課題を解決するため
に、本発明の光点位置検出装置は、プリント基板に、入
射光の光点位置に対応する光電流を出力する複数種類の
ＰＳＤが選択的に接続される接続端子と、この接続端子
に接続されて信号処理回路を構成する複数の電子回路部
品からなる回路部と、この回路部に接続されてマニュア
ル操作により素子定数が所定値に調整される調整部品
と、回路部に接続されて光点位置に対応する電圧信号を
出力する出力端子とを搭載して構成され、信号処理回路
は、光点位置の位置変化率に対応した電圧を出力する演
算手段と、この演算手段の出力を調整部品の設定値で調
整して光点位置に対応する電圧信号を出力するスケーリ
ング手段とを含んで構成されていることを特徴とする。
に、本発明の光点位置検出装置は、プリント基板に、入
射光の光点位置に対応する光電流を出力する複数種類の
ＰＳＤが選択的に接続される接続端子と、この接続端子
に接続されて信号処理回路を構成する複数の電子回路部
品からなる回路部と、この回路部に接続されてマニュア
ル操作により素子定数が所定値に調整される調整部品
と、回路部に接続されて光点位置に対応する電圧信号を
出力する出力端子とを搭載して構成され、信号処理回路
は、光点位置の位置変化率に対応した電圧を出力する演
算手段と、この演算手段の出力を調整部品の設定値で調
整して光点位置に対応する電圧信号を出力するスケーリ
ング手段とを含んで構成されていることを特徴とする。
【０００７】ここで、スケーリング手段が、設定値に応
じた設定電圧を出力する電圧発生回路と、位置変化率に
対応した電圧及び設定電圧を乗算する乗算回路とを含ん
で構成されていることを特徴としても良い。
じた設定電圧を出力する電圧発生回路と、位置変化率に
対応した電圧及び設定電圧を乗算する乗算回路とを含ん
で構成されていることを特徴としても良い。
【０００８】また、スケーリング手段が、設定値に対応
した増幅率で増幅する増幅器を含んで構成されているこ
とを特徴としても良い。
した増幅率で増幅する増幅器を含んで構成されているこ
とを特徴としても良い。
【０００９】
【作用】本発明の光点位置検出装置では、所望のＰＳＤ
が接続端子に接続され、そのＰＳＤからの出力電流は、
信号処理回路の演算手段で信号処理されて、位置変化率
に対応した電圧が出力される。この出力が、スケーリン
グ手段によって、調整部品でそのＰＳＤに応じて調整さ
れた設定値で調整されて被測定物の光点の位置に対応す
る電圧がえられる。ＰＳＤの信号処理回路が一体的に基
板に搭載されているため、設定値を調整部品において一
意的に与えられるだけで良い。
が接続端子に接続され、そのＰＳＤからの出力電流は、
信号処理回路の演算手段で信号処理されて、位置変化率
に対応した電圧が出力される。この出力が、スケーリン
グ手段によって、調整部品でそのＰＳＤに応じて調整さ
れた設定値で調整されて被測定物の光点の位置に対応す
る電圧がえられる。ＰＳＤの信号処理回路が一体的に基
板に搭載されているため、設定値を調整部品において一
意的に与えられるだけで良い。
【００１０】スケーリング手段が電圧発生回路と乗算回
路とで構成されている場合、被測定物の光点の位置に対
応する電圧は、位置変化率に対応した電圧及び設定電圧
を乗算することで得られる。
路とで構成されている場合、被測定物の光点の位置に対
応する電圧は、位置変化率に対応した電圧及び設定電圧
を乗算することで得られる。
【００１１】スケーリング手段が増幅器で構成されてい
る場合、設定値に対応した増幅率で増幅することで得ら
れる。
る場合、設定値に対応した増幅率で増幅することで得ら
れる。
【００１２】
【実施例】本発明の実施例を図面を参照して説明する。
図１には、本発明の光点位置検出装置の基本構成が示さ
れている。この光点位置検出装置は、プリント基板１３
１上に、ＰＳＤ接続端子１２１、信号処理回路を構成す
る回路部１６１、調整部品１６２、出力コネクタ１５１
などを搭載して構成されている。ＰＳＤ接続端子１２１
は、様々な形状や有効受光長を持つＰＳＤ1 ，ＰＳ
Ｄ2 ，ＰＳＤ3 を接続できるようになっている。このＰ
ＳＤ接続端子１２１につながれたＰＳＤに応じて、出力
コネクタ１５１につながれたメータ（例えば電圧計）１
４１が所望のスケールになるように、調整部品１６２を
治具（例えばドライバ）１６３で調整して使用する。
図１には、本発明の光点位置検出装置の基本構成が示さ
れている。この光点位置検出装置は、プリント基板１３
１上に、ＰＳＤ接続端子１２１、信号処理回路を構成す
る回路部１６１、調整部品１６２、出力コネクタ１５１
などを搭載して構成されている。ＰＳＤ接続端子１２１
は、様々な形状や有効受光長を持つＰＳＤ1 ，ＰＳ
Ｄ2 ，ＰＳＤ3 を接続できるようになっている。このＰ
ＳＤ接続端子１２１につながれたＰＳＤに応じて、出力
コネクタ１５１につながれたメータ（例えば電圧計）１
４１が所望のスケールになるように、調整部品１６２を
治具（例えばドライバ）１６３で調整して使用する。
【００１３】図２には、光点位置検出装置を具体的に製
作したものの外観が示されている。図２（ａ），
（ｂ），（ｃ）は、この光点位置検出装置のプリント基
板１３１の上面図，側面図，裏面図である。プリント基
板１３１上には、ＰＳＤ接続端子１２１，外部入力端子
１２２及び出力コネクタ１５１（角型多極コネクタＲＤ
Ｅ−９Ｐヒロセ）と、信号処理回路を構成する電子部品
とが設けられている。ＰＳＤは、ＰＳＤ接続端子につな
がれてプリント基板１３１上のＰＳＤ取り付け部２０１
に設けられる。また、外部入力端子１２２を介してプリ
ント基板１３１の外部に設けて信号処理回路とつなぐこ
とも可能である。出力コネクタ１５１は、その両側にス
プリングロック１５２（ＤＡ−Ｌ ヒロセ）が設けら
れ、このスプリングロック１５２でオスのコネクタをロ
ックする。
作したものの外観が示されている。図２（ａ），
（ｂ），（ｃ）は、この光点位置検出装置のプリント基
板１３１の上面図，側面図，裏面図である。プリント基
板１３１上には、ＰＳＤ接続端子１２１，外部入力端子
１２２及び出力コネクタ１５１（角型多極コネクタＲＤ
Ｅ−９Ｐヒロセ）と、信号処理回路を構成する電子部品
とが設けられている。ＰＳＤは、ＰＳＤ接続端子につな
がれてプリント基板１３１上のＰＳＤ取り付け部２０１
に設けられる。また、外部入力端子１２２を介してプリ
ント基板１３１の外部に設けて信号処理回路とつなぐこ
とも可能である。出力コネクタ１５１は、その両側にス
プリングロック１５２（ＤＡ−Ｌ ヒロセ）が設けら
れ、このスプリングロック１５２でオスのコネクタをロ
ックする。
【００１４】信号処理回路は図３に示すような回路構成
になっていて、演算回路とスケーリング回路とで構成さ
れる。演算回路は、ＯＰアンプ１１１〜１１４，除算回
路１１５を中心に、前述の従来例と同様の回路構成にな
っている。スケーリング回路１２６は、電圧発生回路１
１７と、乗算回路１１６とで構成され、除算回路１１５
の出力を電圧ＶL で与えられる増幅率で増幅するもので
ある。また、符号１２１Ａ，１２１ＢはＰＳＤ接続端子
１２１の接続端子を示し、符号１５１Ａ，１５１Ｂは出
力コネクタ１５１の出力端子を示している。電圧発生回
路１１７は、調整部品１６２を有し、ユーザの調節によ
り所定の電圧ＶL を発生する。
になっていて、演算回路とスケーリング回路とで構成さ
れる。演算回路は、ＯＰアンプ１１１〜１１４，除算回
路１１５を中心に、前述の従来例と同様の回路構成にな
っている。スケーリング回路１２６は、電圧発生回路１
１７と、乗算回路１１６とで構成され、除算回路１１５
の出力を電圧ＶL で与えられる増幅率で増幅するもので
ある。また、符号１２１Ａ，１２１ＢはＰＳＤ接続端子
１２１の接続端子を示し、符号１５１Ａ，１５１Ｂは出
力コネクタ１５１の出力端子を示している。電圧発生回
路１１７は、調整部品１６２を有し、ユーザの調節によ
り所定の電圧ＶL を発生する。
【００１５】信号処理回路の入力にはＰＳＤ１０１がつ
ながれ、出力には、電圧計１４１がつながれているもの
としてこの回路の動作について説明する。
ながれ、出力には、電圧計１４１がつながれているもの
としてこの回路の動作について説明する。
【００１６】ＰＳＤの出力電流ＩA ，ＩB は、ＯＰアン
プ１１１，１１２で増幅され電圧ＶA ，ＶB として出力
される。出力電圧ＶA ，ＶB は、減算器２１３で減算さ
れ、また、加算器２１４で加算される。減算器２１３及
び加算器２１４の出力は、除算回路１１５で除算され、
前述の従来例と同様に、除算回路１１５の出力は、位置
変化率「（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）」となる。乗
算回路１１６では、除算回路１１５の出力が電圧発生回
路１１７からの電圧ＶL と乗算され、乗算回路１１６の
出力Ｖ0UTは、 Ｖ0UT ＝ＶL ×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） となる。ここで、電圧発生回路１１７において、出力Ｖ
0UT が光点１０２の距離１ｍｍに対し１Ｖになるように
電圧ＶL （有効受光長の半分に対応する電圧ＶL ＝Ｌ／
２）を設定すると、 Ｖ0UT ＝ＶL ×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） ［Ｖ／ｍｍ］ になる。これにより電圧計１４１から直接電極１０１
Ａ，Ｂの中心からの光点１０２の距離が、換算表，計算
機（電卓）などを用いることなしに、直接すぐに読み取
ることができる。この設定は、入力につないだＰＳＤに
ついて電圧発生回路１１７で一度設定するだけで良い。
また、電圧ＶL をかえることで、色々なスケールに設定
でき、様々なＰＳＤについてもこのスケールの設定だけ
で出力Ｖ0UT を規格化できる。
プ１１１，１１２で増幅され電圧ＶA ，ＶB として出力
される。出力電圧ＶA ，ＶB は、減算器２１３で減算さ
れ、また、加算器２１４で加算される。減算器２１３及
び加算器２１４の出力は、除算回路１１５で除算され、
前述の従来例と同様に、除算回路１１５の出力は、位置
変化率「（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ）」となる。乗
算回路１１６では、除算回路１１５の出力が電圧発生回
路１１７からの電圧ＶL と乗算され、乗算回路１１６の
出力Ｖ0UTは、 Ｖ0UT ＝ＶL ×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） となる。ここで、電圧発生回路１１７において、出力Ｖ
0UT が光点１０２の距離１ｍｍに対し１Ｖになるように
電圧ＶL （有効受光長の半分に対応する電圧ＶL ＝Ｌ／
２）を設定すると、 Ｖ0UT ＝ＶL ×（ＶA −ＶB ）／（ＶA ＋ＶB ） ［Ｖ／ｍｍ］ になる。これにより電圧計１４１から直接電極１０１
Ａ，Ｂの中心からの光点１０２の距離が、換算表，計算
機（電卓）などを用いることなしに、直接すぐに読み取
ることができる。この設定は、入力につないだＰＳＤに
ついて電圧発生回路１１７で一度設定するだけで良い。
また、電圧ＶL をかえることで、色々なスケールに設定
でき、様々なＰＳＤについてもこのスケールの設定だけ
で出力Ｖ0UT を規格化できる。
【００１７】このように、電圧計１４１に表示された値
が光点１０２の距離をあらわしているので時間，費用，
手間などを省くことができる。また、様々な品種のＰＳ
Ｄについて標準化，規格化された光点位置検出装置を供
給することが可能になる。このためユーザの利便性が向
上し、様々な品種のＰＳＤを使いこなすことが可能にな
る。
が光点１０２の距離をあらわしているので時間，費用，
手間などを省くことができる。また、様々な品種のＰＳ
Ｄについて標準化，規格化された光点位置検出装置を供
給することが可能になる。このためユーザの利便性が向
上し、様々な品種のＰＳＤを使いこなすことが可能にな
る。
【００１８】つぎに、本発明の第２実施例について説明
する。
する。
【００１９】図４には、第２実施例の光点位置検出装置
の外観が示され、また、図５には、その回路図が示され
ている。これらの図において、前述の第１実施例と同一
若しくは同等のものには同一の符号を用い、その説明に
付いては省略する。
の外観が示され、また、図５には、その回路図が示され
ている。これらの図において、前述の第１実施例と同一
若しくは同等のものには同一の符号を用い、その説明に
付いては省略する。
【００２０】この光点位置検出装置は、図５のようにＰ
ＳＤ１０１の電極１２１Ｂを接地し、光点１０２の原点
を電極１２１Ｋにとって距離Ｐに対応する信号が電極１
０１Ａから出力されるようにしたものである。電極１２
１Ｋには、電源１０５に代えてＯＰアンプ１１２の反転
入力を接続し、ＯＰアンプ１１２の非反転入力の電源１
０５の電圧ＶS と同じ電圧が、反転入力にあらわれ、こ
れをＰＳＤ１０１のバイアス電圧としている。
ＳＤ１０１の電極１２１Ｂを接地し、光点１０２の原点
を電極１２１Ｋにとって距離Ｐに対応する信号が電極１
０１Ａから出力されるようにしたものである。電極１２
１Ｋには、電源１０５に代えてＯＰアンプ１１２の反転
入力を接続し、ＯＰアンプ１１２の非反転入力の電源１
０５の電圧ＶS と同じ電圧が、反転入力にあらわれ、こ
れをＰＳＤ１０１のバイアス電圧としている。
【００２１】電極１０１Ａからは出力電流ＩA が、電極
１２１Ｋからは出力電流ＩK が出力される。出力電流Ｉ
A は、前述の第１実施例と同様、ＯＰアンプ１１１で増
幅され電圧ＶA （＝−Ｒf ×ＩA ）として出力される。
出力電流ＩK は、ＯＰアンプ１１２で電圧「ＶK ＋
ＶS 」（但し、ＶK は図３のＶA ＋ＶB に相当する電
圧）として出力され、減算器２１３で電圧ＶS が減算さ
れて電圧ＶK として出力される。
１２１Ｋからは出力電流ＩK が出力される。出力電流Ｉ
A は、前述の第１実施例と同様、ＯＰアンプ１１１で増
幅され電圧ＶA （＝−Ｒf ×ＩA ）として出力される。
出力電流ＩK は、ＯＰアンプ１１２で電圧「ＶK ＋
ＶS 」（但し、ＶK は図３のＶA ＋ＶB に相当する電
圧）として出力され、減算器２１３で電圧ＶS が減算さ
れて電圧ＶK として出力される。
【００２２】原点からの光点１０２の位置までの距離Ｘ
A は、 ＸA ＝Ｌ×ＩA ／ＩK ＝Ｌ×ＶA ／ＶK となる。ここで前述の第１実施例と同様、出力Ｖ0UT が
光点１０２の距離１ｍｍに対し１Ｖになるように電圧Ｖ
L （ＶL ＝Ｌ）を設定すると、 Ｖ0UT ＝ＶL ×ＶA ／ＶK ［Ｖ／ｍｍ］ になる。このようにすることで電圧計１４１から光点１
０２の位置までの距離が直接読み取ることができる。
A は、 ＸA ＝Ｌ×ＩA ／ＩK ＝Ｌ×ＶA ／ＶK となる。ここで前述の第１実施例と同様、出力Ｖ0UT が
光点１０２の距離１ｍｍに対し１Ｖになるように電圧Ｖ
L （ＶL ＝Ｌ）を設定すると、 Ｖ0UT ＝ＶL ×ＶA ／ＶK ［Ｖ／ｍｍ］ になる。このようにすることで電圧計１４１から光点１
０２の位置までの距離が直接読み取ることができる。
【００２３】本発明は前述の実施例に限らず様々な変形
が可能である。
が可能である。
【００２４】例えば、図６に示すように、除算回路１１
５及び乗算回路１１６を一つにまとめて関数回路２１５
とし、関数回路２１５に電圧発生回路１１７からの電圧
ＶL を加えるようにしても良い。また、図７に示すよう
に、スケーリング回路１２６を可変利得増幅器１２７で
構成しても良い。この可変利得増幅器１２７は、例え
ば、ＯＰアンプと可変の負帰還抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 とを用い
て、或いは、固定利得増幅器と分圧抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 とを
用いて実現できる。増幅度「（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）／Ｒ1 ＝Ｌ
／２」となるように負帰還抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 をきめると、
前述の実施例と同様のスケールになる。
５及び乗算回路１１６を一つにまとめて関数回路２１５
とし、関数回路２１５に電圧発生回路１１７からの電圧
ＶL を加えるようにしても良い。また、図７に示すよう
に、スケーリング回路１２６を可変利得増幅器１２７で
構成しても良い。この可変利得増幅器１２７は、例え
ば、ＯＰアンプと可変の負帰還抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 とを用い
て、或いは、固定利得増幅器と分圧抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 とを
用いて実現できる。増幅度「（Ｒ1 ＋Ｒ2 ）／Ｒ1 ＝Ｌ
／２」となるように負帰還抵抗Ｒ1 ，Ｒ2 をきめると、
前述の実施例と同様のスケールになる。
【００２５】
【発明の効果】以上の通り本発明によれば、ＰＳＤの信
号処理回路が一体的に基板に搭載され、調整部品の設定
値を一意的に与えるだけで良いので、様々な有効受光長
のＰＳＤをつなぐことができ、そのサイズに対応したキ
ャリブレーションが容易にできる。そのため、被測定物
の光点の位置変化に応じたスケールの電圧を出力端子か
ら出力させて電圧計などで表示させることにより、その
ＰＳＤについての電子回路設計を省くことができる。こ
れによって、その用途に応じた様々なＰＳＤを利用でき
る。
号処理回路が一体的に基板に搭載され、調整部品の設定
値を一意的に与えるだけで良いので、様々な有効受光長
のＰＳＤをつなぐことができ、そのサイズに対応したキ
ャリブレーションが容易にできる。そのため、被測定物
の光点の位置変化に応じたスケールの電圧を出力端子か
ら出力させて電圧計などで表示させることにより、その
ＰＳＤについての電子回路設計を省くことができる。こ
れによって、その用途に応じた様々なＰＳＤを利用でき
る。
【図１】本発明の光点位置検出装置の基本構成図。
【図２】本発明の光点位置検出装置の外観図。
【図３】本発明の光点位置検出装置の回路図。
【図４】第２実施例の光点位置検出装置の外観図。
【図５】第２実施例の光点位置検出装置の回路図。
【図６】関数回路を用いた構成例を示す図。
【図７】増幅回路を用いた構成例を示す図。
【図８】従来例の回路図。
【図９】ＰＳＤの構造図。
１１７…電圧発生回路，１１６…乗算回路，１２１Ａ，
１２１Ｂ…ＰＳＤ接続端子，１２６…スケーリング回
路，１２７…可変利得増幅器，１３１…プリント基板，
１５１Ａ，１５１Ｂ…出力端子
１２１Ｂ…ＰＳＤ接続端子，１２６…スケーリング回
路，１２７…可変利得増幅器，１３１…プリント基板，
１５１Ａ，１５１Ｂ…出力端子
Claims (2)
- 【請求項１】 プリント基板に、入射光の光点位置に対
応する光電流を出力する複数種類のＰＳＤが選択的に接
続される接続端子と、この接続端子に接続されて信号処
理回路を構成する複数の電子回路部品からなる回路部
と、この回路部に接続されてマニュアル操作により素子
定数が所定値に調整される調整部品と、前記回路部に接
続されて前記光点位置に対応する電圧信号を出力する出
力端子とを搭載して構成され、前記信号処理回路は、前
記光点位置の位置変化率に対応した電圧を出力する演算
手段と、前記調整部品の設定値に応じた設定電圧を出力
する電圧発生回路、並びに前記位置変化率に対応した電
圧及び前記設定電圧を乗算する乗算回路からなるスケー
リング手段と を含んで構成され、 前記演算手段の出力を
前記調整部品の設定値で調整して前記光点位置に対応す
る電圧信号を出力することを特徴とする光点位置検出装
置。 - 【請求項２】 プリント基板に、入射光の光点位置に対
応する光電流を出力する複数種類のＰＳＤが選択的に接
続される接続端子と、この接続端子に接続されて信号処
理回路を構成する複数の電子回路部品からなる回路部
と、この回路部に接続されてマニュアル操作により素子
定数が所定値に調整される調整部品と、前記回路部に接
続されて前記光点位置に対応する電圧信号を出力する出
力端子とを搭載して構成され、前記信号処理回路は、前
記光点位置の位置変化率に対応した電圧を出力する演算
手段と、前記調整部品の設定値に対応した増幅率で前記
位置変化率に対応した電圧を増幅する増幅器からなるス
ケーリング手段と を含んで構成され、 前記演算手段の出
力を前記調整部品の設定値で調整して前記光点位置に対
応する電圧信号を出力することを特徴とする光点位置検
出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3232890A JPH0760082B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 光点位置検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3232890A JPH0760082B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 光点位置検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0571917A JPH0571917A (ja) | 1993-03-23 |
| JPH0760082B2 true JPH0760082B2 (ja) | 1995-06-28 |
Family
ID=16946450
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3232890A Expired - Lifetime JPH0760082B2 (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | 光点位置検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0760082B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4054634B2 (ja) | 2002-08-27 | 2008-02-27 | 沖電気工業株式会社 | 半導体装置 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6135550A (ja) * | 1984-07-27 | 1986-02-20 | Toshiba Corp | 半導体装置及びその製造方法 |
| JPS6385405A (ja) * | 1986-09-30 | 1988-04-15 | Shimadzu Corp | 増幅装置 |
| JPH02306112A (ja) * | 1989-05-19 | 1990-12-19 | Omron Corp | センサの感度調整装置 |
-
1991
- 1991-09-12 JP JP3232890A patent/JPH0760082B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0571917A (ja) | 1993-03-23 |
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