JPH0757327A - 光磁気ディスク装置 - Google Patents
光磁気ディスク装置Info
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- JPH0757327A JPH0757327A JP19852893A JP19852893A JPH0757327A JP H0757327 A JPH0757327 A JP H0757327A JP 19852893 A JP19852893 A JP 19852893A JP 19852893 A JP19852893 A JP 19852893A JP H0757327 A JPH0757327 A JP H0757327A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】光磁気ディスク装置において、読み出し信号に
トラッキング状態を示す信号が混入するのを確実に減少
させること。 【構成】光磁気ディスクに記録された信号を読み出す読
み出し光学系を備えた光磁気ディスク装置であって、上
記読み出し光学系の読み出し光を、光磁気ディスクに記
録された信号の中心から所定距離内周側または外周側に
照射させること。
トラッキング状態を示す信号が混入するのを確実に減少
させること。 【構成】光磁気ディスクに記録された信号を読み出す読
み出し光学系を備えた光磁気ディスク装置であって、上
記読み出し光学系の読み出し光を、光磁気ディスクに記
録された信号の中心から所定距離内周側または外周側に
照射させること。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光磁気ディスク装置に
関する。
関する。
【０００２】
【従来技術およびその問題点】光磁気（ＭＯ）ディスク
装置では光磁気ディスクに記録されたデータを、読み出
し光（レーザビーム）を光磁気ディスクの記録トラック
に向けて照射し、記録トラックで反射した読み出し光
（戻り光）をフォトセンサで検出し、偏光状態に応じた
信号の変化を検出することにより読み出している。この
ような従来の光磁気ディスク装置における読み出し光学
系においては、光磁気ディスクで反射した戻り光より得
られるＭＯ信号にトラッキング状態を示す信号が混信、
つまりクロストークが発生していた。したがって、この
クロストークを、簡単な構成でかつ確実に減少させる手
段が望まれていた。
装置では光磁気ディスクに記録されたデータを、読み出
し光（レーザビーム）を光磁気ディスクの記録トラック
に向けて照射し、記録トラックで反射した読み出し光
（戻り光）をフォトセンサで検出し、偏光状態に応じた
信号の変化を検出することにより読み出している。この
ような従来の光磁気ディスク装置における読み出し光学
系においては、光磁気ディスクで反射した戻り光より得
られるＭＯ信号にトラッキング状態を示す信号が混信、
つまりクロストークが発生していた。したがって、この
クロストークを、簡単な構成でかつ確実に減少させる手
段が望まれていた。
【０００３】
【発明の目的】本発明は、光磁気ディスク装置におい
て、読み出しＭＯ信号にトラッキング状態を示す信号が
混入するのを確実に減少させることを目的とする。
て、読み出しＭＯ信号にトラッキング状態を示す信号が
混入するのを確実に減少させることを目的とする。
【０００４】ここで、上記クロストークは、光磁気ディ
スク装置における読み出し光学系において、円周方向お
よび径方向共に奇関数の波面収差（４５゜方向アス）、
あるいは軸対称成分の複屈折を生じることにより生じる
ことが分かった。本発明は、新たな種々の解析に基づき
なされたもので、光磁気ディスクに記録された信号を読
み出す読み出し光学系を備えた光磁気ディスク装置であ
って、上記読み出し光学系の読み出し光を、光磁気ディ
スクに記録された信号の中心から所定距離内周側または
外周側に照射させること、に特徴を有する。信号を記録
トラックの中心に記録したときには、記録トラックの中
心から所定距離内側または外側にずらした位置に読み出
し光を照射する。信号を記録トラックの中心から所定距
離内側または外側に記録すれば、記録トラックの中心に
読み出し光を照射する。所定距離は、トラックの幅を２
πとすると、π／２が望ましい。
スク装置における読み出し光学系において、円周方向お
よび径方向共に奇関数の波面収差（４５゜方向アス）、
あるいは軸対称成分の複屈折を生じることにより生じる
ことが分かった。本発明は、新たな種々の解析に基づき
なされたもので、光磁気ディスクに記録された信号を読
み出す読み出し光学系を備えた光磁気ディスク装置であ
って、上記読み出し光学系の読み出し光を、光磁気ディ
スクに記録された信号の中心から所定距離内周側または
外周側に照射させること、に特徴を有する。信号を記録
トラックの中心に記録したときには、記録トラックの中
心から所定距離内側または外側にずらした位置に読み出
し光を照射する。信号を記録トラックの中心から所定距
離内側または外側に記録すれば、記録トラックの中心に
読み出し光を照射する。所定距離は、トラックの幅を２
πとすると、π／２が望ましい。
【０００５】
【実施例】以下図示実施例に基づいて本発明を説明す
る。図１は、本発明を適用した光学系の一実施例を示す
光路図である。半導体レーザ等の光源１１から射出され
た平行ビームは、第１のビームスプリッタ１３で反射さ
れ、対物レンズ１５により光磁気（ＭＯ）ディスク１７
の記録トラック１８の中心位置に集光され、ここで反射
する。光磁気ディスク１７で反射した戻り光は、光路を
逆行して対物レンズ１５により平行に集束され、第１の
ビームスプリッタ１３を透過して第２のビームスプリッ
タ１９に入射する。第２のビームスプリッタ１９に入射
した戻り光の一部はその反射・透過面で反射してトラッ
ク信号検出光学系およびフォーカス信号検出光学系（図
示せず）に導かれる。
る。図１は、本発明を適用した光学系の一実施例を示す
光路図である。半導体レーザ等の光源１１から射出され
た平行ビームは、第１のビームスプリッタ１３で反射さ
れ、対物レンズ１５により光磁気（ＭＯ）ディスク１７
の記録トラック１８の中心位置に集光され、ここで反射
する。光磁気ディスク１７で反射した戻り光は、光路を
逆行して対物レンズ１５により平行に集束され、第１の
ビームスプリッタ１３を透過して第２のビームスプリッ
タ１９に入射する。第２のビームスプリッタ１９に入射
した戻り光の一部はその反射・透過面で反射してトラッ
ク信号検出光学系およびフォーカス信号検出光学系（図
示せず）に導かれる。
【０００６】一方、第２のビームスプリッタ１９を透過
した反射ビームは、λ／２板で偏光方向が回転され、偏
光ビームスプリッタ２３でＰ偏光は透過され、Ｓ偏光は
反射されて、それぞれ第１、第２ＭＯセンサ２５、２７
に入射する。入射した反射ビームは、それぞれ第１、第
２ＭＯセンサ２５、２７において電気信号に変換され、
信号Ｓ1 、Ｓ2 として取り出される。そして、電気信号
Ｓ1 、Ｓ2 の差がＭＯ信号（読出し信号）として利用さ
れる。
した反射ビームは、λ／２板で偏光方向が回転され、偏
光ビームスプリッタ２３でＰ偏光は透過され、Ｓ偏光は
反射されて、それぞれ第１、第２ＭＯセンサ２５、２７
に入射する。入射した反射ビームは、それぞれ第１、第
２ＭＯセンサ２５、２７において電気信号に変換され、
信号Ｓ1 、Ｓ2 として取り出される。そして、電気信号
Ｓ1 、Ｓ2 の差がＭＯ信号（読出し信号）として利用さ
れる。
【０００７】本発明の説明に先立って、本発明が前提と
する原理および本明細書中で使用する用語を簡単に説明
する。図８に示したように、表面に反射防止コートが施
された透明ガラス板に所定角度で光が入射する状況を考
える。入射光の入射角度が大きくなると、Ｓ偏光の反射
率がＰ偏光の反射率よりも大きくなる。したがって、入
射光の内、反射防止コートおよびガラス板を直接透過す
る光は、Ｓ偏光よりもＰ偏光の方が多くなる。ところ
が、コートとガラス板、空気との境界面で多重反射して
ガラス板を透過する光は、反射率の差によりＳ偏光の方
が多くなる。このことは、Ｓ偏光の方が遠回りをする成
分が多い、つまり、Ｓ偏光の方が光路長が長くなり、位
相が遅れるということになる。この現象は、まさしくＰ
偏光とＳ偏光とで複屈折を生じている、ということであ
る。本明細書では以後この現象を、「構造的複屈折」と
いう。
する原理および本明細書中で使用する用語を簡単に説明
する。図８に示したように、表面に反射防止コートが施
された透明ガラス板に所定角度で光が入射する状況を考
える。入射光の入射角度が大きくなると、Ｓ偏光の反射
率がＰ偏光の反射率よりも大きくなる。したがって、入
射光の内、反射防止コートおよびガラス板を直接透過す
る光は、Ｓ偏光よりもＰ偏光の方が多くなる。ところ
が、コートとガラス板、空気との境界面で多重反射して
ガラス板を透過する光は、反射率の差によりＳ偏光の方
が多くなる。このことは、Ｓ偏光の方が遠回りをする成
分が多い、つまり、Ｓ偏光の方が光路長が長くなり、位
相が遅れるということになる。この現象は、まさしくＰ
偏光とＳ偏光とで複屈折を生じている、ということであ
る。本明細書では以後この現象を、「構造的複屈折」と
いう。
【０００８】光学系において像高０の状態を考えると、
光軸を通った光は垂直入射となり、複屈折は生じない。
しかし、光学系の周辺を通った光は入射角がつくので、
入射面の方向あるいはそれと直交方向を複屈折の軸とす
る複屈折を生じる。したがって、光学系は、放射状ある
いは同心円状の複屈折分布が生じることになり、この構
造的複屈折は避けられないことが分かる。
光軸を通った光は垂直入射となり、複屈折は生じない。
しかし、光学系の周辺を通った光は入射角がつくので、
入射面の方向あるいはそれと直交方向を複屈折の軸とす
る複屈折を生じる。したがって、光学系は、放射状ある
いは同心円状の複屈折分布が生じることになり、この構
造的複屈折は避けられないことが分かる。
【０００９】また、コートを施していないときには多重
反射しないので透過したＰ偏光とＳ偏光とで光路差およ
び位相差は生じないが、Ｐ偏光とＳ偏光とで透過率が異
なる。本明細書では、以後この現象を「構造的２色性」
という。この構造的２色性も、広い意味での構造的複屈
折として取り扱う。
反射しないので透過したＰ偏光とＳ偏光とで光路差およ
び位相差は生じないが、Ｐ偏光とＳ偏光とで透過率が異
なる。本明細書では、以後この現象を「構造的２色性」
という。この構造的２色性も、広い意味での構造的複屈
折として取り扱う。
【００１０】「本発明の解析」次に、本発明における解
析について、さらに図９に示したモデルを参照して説明
する。このモデルは、図１に示した光学系の対物レンズ
１５と光磁気ディスク１７付近を示したもので、レーザ
ビームを対物レンズ１５により光磁気ディスク１７上に
集光し、反射させて対物レンズ１５に戻す。図９におい
て、点Ｐ1 〜Ｐ4 は、光軸を原点とした光軸と直交する
平面に対して以下の関係を有する。 Ｐ1 ：原点Ｏから見て ４５゜、＋１次光の中心から
見て １３５゜ Ｐ2 ：原点Ｏから見て −４５゜、＋１次光の中心から
見て−１３５゜ Ｐ3 ：原点Ｏから見て １３５゜、＋１次光の中心から
見て ４５゜ Ｐ4 ：原点Ｏから見て−１３５゜、＋１次光の中心から
見て −４５゜
析について、さらに図９に示したモデルを参照して説明
する。このモデルは、図１に示した光学系の対物レンズ
１５と光磁気ディスク１７付近を示したもので、レーザ
ビームを対物レンズ１５により光磁気ディスク１７上に
集光し、反射させて対物レンズ１５に戻す。図９におい
て、点Ｐ1 〜Ｐ4 は、光軸を原点とした光軸と直交する
平面に対して以下の関係を有する。 Ｐ1 ：原点Ｏから見て ４５゜、＋１次光の中心から
見て １３５゜ Ｐ2 ：原点Ｏから見て −４５゜、＋１次光の中心から
見て−１３５゜ Ｐ3 ：原点Ｏから見て １３５゜、＋１次光の中心から
見て ４５゜ Ｐ4 ：原点Ｏから見て−１３５゜、＋１次光の中心から
見て −４５゜
【００１１】そして、図示のモデルにおいて、以下の条
件を設定する。 対物レンズ１５の瞳と光磁気ディスク１７の表面と
の間で、フーリエ解析が成立する。 光磁気ディスク１７を一次元の位相型回折格子とみ
なす。さらに、対称性のある形状、つまり、一方向にブ
レーズされていない構造とする。このことは、＋ｎ次光
と−ｎ次光の回折効率が等しいということを意味する。
また、光磁気ディスク１７のトラック１８の中心に光が
入射したときは、＋ｎ次光と−ｎ次光の位相差が等しく
なる。 実際には、±２次以上の回折光は瞳にはほとんど戻
ってこない。したがって、±１次光および０次光のみを
取り扱えばよい。 戻り光を、点Ｐ1 〜Ｐ4 において考える。 入射光強度分布は一定とする。 なお、点Ｐ1 〜Ｐ4 を通る戻り光は、センサ２５、２７
の４等分割領域１〜４にそれぞれ入射する。
件を設定する。 対物レンズ１５の瞳と光磁気ディスク１７の表面と
の間で、フーリエ解析が成立する。 光磁気ディスク１７を一次元の位相型回折格子とみ
なす。さらに、対称性のある形状、つまり、一方向にブ
レーズされていない構造とする。このことは、＋ｎ次光
と−ｎ次光の回折効率が等しいということを意味する。
また、光磁気ディスク１７のトラック１８の中心に光が
入射したときは、＋ｎ次光と−ｎ次光の位相差が等しく
なる。 実際には、±２次以上の回折光は瞳にはほとんど戻
ってこない。したがって、±１次光および０次光のみを
取り扱えばよい。 戻り光を、点Ｐ1 〜Ｐ4 において考える。 入射光強度分布は一定とする。 なお、点Ｐ1 〜Ｐ4 を通る戻り光は、センサ２５、２７
の４等分割領域１〜４にそれぞれ入射する。
【００１２】回折光を、次のように分析する。まず、パ
ラメータを下記の通りに定義する。 ａ：０次光の振幅 ｂ：±１次光の振幅 Ｐ：光磁気ディスクの溝（記録トラック）の中心に光が
入射したときの±１次光の０次光に対する位相 ｘ：光磁気ディスク上の光入射位置（中心を原点（０）
として“うね”上で±πに規格化したもの） さらに、点Ｐ1 における波面収差をＷ1 、複屈折のジョ
ーンズマトリックスをＭ1 、点Ｐ2 における波面収差を
Ｗ2 、複屈折のジョーンズマトリックスをＭ2 、点Ｐ3
における波面収差をＷ3 、複屈折のジョーンズマトリッ
クスをＭ3 、点Ｐ4 における波面収差をＷ4 、複屈折の
ジョーンズマトリックスをＭ4 、入射光のジョーンズベ
クトルをＩベクトル（以下、ジョーンズベクトル
「Ｉ」、「Ｉn 」はベクトルを表わす）。とおく。
ラメータを下記の通りに定義する。 ａ：０次光の振幅 ｂ：±１次光の振幅 Ｐ：光磁気ディスクの溝（記録トラック）の中心に光が
入射したときの±１次光の０次光に対する位相 ｘ：光磁気ディスク上の光入射位置（中心を原点（０）
として“うね”上で±πに規格化したもの） さらに、点Ｐ1 における波面収差をＷ1 、複屈折のジョ
ーンズマトリックスをＭ1 、点Ｐ2 における波面収差を
Ｗ2 、複屈折のジョーンズマトリックスをＭ2 、点Ｐ3
における波面収差をＷ3 、複屈折のジョーンズマトリッ
クスをＭ3 、点Ｐ4 における波面収差をＷ4 、複屈折の
ジョーンズマトリックスをＭ4 、入射光のジョーンズベ
クトルをＩベクトル（以下、ジョーンズベクトル
「Ｉ」、「Ｉn 」はベクトルを表わす）。とおく。
【００１３】点Ｐ1 に戻ってくる光をＯ1 ベクトル（以
下、戻り光「Ｏ」、「Ｏn 」はベクトルを表わす）とお
くと、戻り光Ｏ1 は、 入射時に点Ｐ4 ［Ｗ4 ，Ｍ4 ］を通る０次光がＭ1 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ2 ［Ｗ2 ，Ｍ2 ］を通る＋１次光がＭ1
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ1 は、次の数１
式のようになる。
下、戻り光「Ｏ」、「Ｏn 」はベクトルを表わす）とお
くと、戻り光Ｏ1 は、 入射時に点Ｐ4 ［Ｗ4 ，Ｍ4 ］を通る０次光がＭ1 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ2 ［Ｗ2 ，Ｍ2 ］を通る＋１次光がＭ1
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ1 は、次の数１
式のようになる。
【数１】 Ｏ1 ＝Ｍ1 ａｅiW4 Ｍ4 Ｉ＋Ｍ1 ｂｅi(W2+P+x) Ｍ2 Ｉ ＝｛ａｅiW4 Ｍ1 Ｍ4 ＋ｂｅi(W2+P+x) Ｍ1 Ｍ2 ｝Ｉ
【００１４】点Ｐ2 に戻ってくる戻り光をＯ2 とおく
と、戻り光Ｏ2 は、 入射時に点Ｐ3 ［Ｗ3 ，Ｍ3 ］を通る０次光がＭ2 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ1 ［Ｗ1 ，Ｍ1 ］を通る＋１次光がＭ2
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ2 は、次式のよ
うになる。
と、戻り光Ｏ2 は、 入射時に点Ｐ3 ［Ｗ3 ，Ｍ3 ］を通る０次光がＭ2 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ1 ［Ｗ1 ，Ｍ1 ］を通る＋１次光がＭ2
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ2 は、次式のよ
うになる。
【数２】Ｏ2 ＝｛ａｅiW3 Ｍ2 Ｍ3 ＋ｂｅi(W1+P+x) Ｍ
2 Ｍ1 ｝Ｉ
2 Ｍ1 ｝Ｉ
【００１５】点Ｐ3 に戻ってくる光をＯ3 とすると、戻
り光Ｏ3 は、 入射時にＰ2 ［Ｗ2 ，Ｍ2 ］を通る０次光がＭ3 の複
屈折を受け、 入射時にＰ4 ［Ｗ4 ，Ｍ4 ］を通る−１次光がＭ3 の
複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ3 は、次式のよう
になる。
り光Ｏ3 は、 入射時にＰ2 ［Ｗ2 ，Ｍ2 ］を通る０次光がＭ3 の複
屈折を受け、 入射時にＰ4 ［Ｗ4 ，Ｍ4 ］を通る−１次光がＭ3 の
複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ3 は、次式のよう
になる。
【数３】Ｏ3 ＝｛ａｅiW2 Ｍ3 Ｍ2 ＋ｂｅi(W4+P-x) Ｍ
3 Ｍ4 ｝Ｉ
3 Ｍ4 ｝Ｉ
【００１６】点Ｐ4 に戻ってくる戻り光をＯ4 とする
と、戻り光Ｏ4 は、 入射時に点Ｐ1 ［Ｗ1 ，Ｍ1 ］を通る０次光がＭ4 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ3 ［Ｗ3 ，Ｍ3 ］を通る−１次光がＭ4
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ4 は、次式のよ
うになる。
と、戻り光Ｏ4 は、 入射時に点Ｐ1 ［Ｗ1 ，Ｍ1 ］を通る０次光がＭ4 の
複屈折を受け、 入射時に点Ｐ3 ［Ｗ3 ，Ｍ3 ］を通る−１次光がＭ4
の複屈折を受ける。したがって戻り光Ｏ4 は、次式のよ
うになる。
【数４】Ｏ4 ＝｛ａｅiW1 Ｍ4 Ｍ1 ＋ｂｅi(W3+P-x) Ｍ
4 Ｍ3 ｝Ｉ
4 Ｍ3 ｝Ｉ
【００１７】構造的複屈折により対物レンズ１５の瞳面
で複屈折の分布が生じているとする。この場合、複屈折
軸は放射状あるいは同心円状の並びとなり、瞳上の極座
標位置（ｒ，θ）でのジョーンズマトリックスＭは、以
下のようになる。
で複屈折の分布が生じているとする。この場合、複屈折
軸は放射状あるいは同心円状の並びとなり、瞳上の極座
標位置（ｒ，θ）でのジョーンズマトリックスＭは、以
下のようになる。
【数５】 Ｐ1 （ｒ，θ）でΔ（ｒ）＝δとすると、数６式のよう
に表わすことができる。
に表わすことができる。
【数６】 Ｐ2 （ｒ，−θ）では数７式のように表わすことができ
る。
る。
【数７】 Ｐ3 （ｒ，π−θ）では数８式のように表わすことがで
きる。
きる。
【数８】 Ｐ4 （ｒ，π＋θ）では数９式のように表わすことがで
きる。
きる。
【数９】 以上より、
【数１０】 α2 −β2 ＝c4e1 2 ＋s4e2 2 ＋ 2c2s2e1e2−c2s2(e1 2−2e1e2 ＋e2 2 ） ＝c2e1 2(c2−s2) ＋s2e2 2(s2−c2) ＋4c2s2e1e2 ＝(c2 −s2)(c2e1 2 −s2e2 2)＋4c2s2 γ2 −β2 ＝s4e1 2 ＋c4e2 2 ＋2c2s2e1e2 −c2s2(e1 2−2e1e2 ＋e2 2 ） ＝s2e1 2(s2−c2) ＋c2e2 2(c2−s2) ＋4c2s2e1e2 ＝(s2 −c2)(s2e1 2 −c2e2 2)＋4c2s2 β（α−γ）＝cs(e1 −e2)(c2e1＋s2e2−s2e1−c2e2) ＝cs(e1 −e2){e1(c2 −s2) ＋e2(s2 −c2)} ＝cs(c2 −s2)(e1−e2)2
【数１１】
【数１２】
【数１３】 また、ジョーンズマトリクスＭ1 〜Ｍ4 の関係は、下記
式の通りである。
式の通りである。
【数１４】Ｍ3 Ｍ2 ＝Ｍ2 Ｍ2
【数１５】Ｍ3 Ｍ4 ＝Ｍ2 Ｍ1
【数１６】Ｍ4 Ｍ1 ＝Ｍ1 Ｍ1
【数１７】Ｍ4 Ｍ3 ＝Ｍ1 Ｍ2
【数１８】
【数１９】
【数２０】
【数２１】 ここで図９のようにθ＝４５°とおくと、
【数２２】
【数２３】
【数２４】
【数２５】 以上の数２２〜数２５式と数１４〜数１７式の関係によ
り、数１〜数４式は次のようになる。
り、数１〜数４式は次のようになる。
【数２６】
【数２７】
【数２８】
【数２９】 以上をまとめると、数３０式のようになる。
【数３０】 ここで、ｘの前の符号はｎ＝１、２が上、ｎ＝３、４が
下であり、ｎ、ｍ、ｌの関係は下記のようになる。 ｎ ｍ ｌ １ ４ ２ ２ ３ １ ３ ２ ４ ４ １ ３ ＭＯ信号を得るためには、旋光子あるいはλ／２板で偏
光方向を４５°回転させるので、ＭＯ信号Ｏn45 は、次
の数３１式のようになる。
下であり、ｎ、ｍ、ｌの関係は下記のようになる。 ｎ ｍ ｌ １ ４ ２ ２ ３ １ ３ ２ ４ ４ １ ３ ＭＯ信号を得るためには、旋光子あるいはλ／２板で偏
光方向を４５°回転させるので、ＭＯ信号Ｏn45 は、次
の数３１式のようになる。
【数３１】
【００１８】次に、センサ２５、２７が受光する戻りビ
ームと信号との関係について説明する。数３１式のｘ，
ｙ方向それぞれの強度は、次の数３２、数３３式のよう
になる。
ームと信号との関係について説明する。数３１式のｘ，
ｙ方向それぞれの強度は、次の数３２、数３３式のよう
になる。
【数３２】
【数３３】 よって差動信号は、数３４式のように表わすことができ
る。
る。
【数３４】 ここで、係数２ａｂの前の符号はｎ＝１，４が上、ｎ＝
２，３が下である。したがって、センサ２５、２７に入
力する信号は、数３５式のようになる。
２，３が下である。したがって、センサ２５、２７に入
力する信号は、数３５式のようになる。
【数３５】
【００１９】「ポジションセンサ信号」ＭＯセンサを直
交軸で４等分割したセンサにおける信号Ｉn は、次のよ
うに解析できる。数３０式は、数３６式のように変形で
きる。
交軸で４等分割したセンサにおける信号Ｉn は、次のよ
うに解析できる。数３０式は、数３６式のように変形で
きる。
【数３６】 その光強度（センサ信号）Ｉn は、数３７式のように表
わすことができる。
わすことができる。
【数３７】 したがって各分割センサのセンサ信号Ｉ1 〜Ｉ4 は、次
式のようになる。
式のようになる。
【数３８】Ｉ1 ＝a2+b2+2abcosδcos(W4-W2-P-x)
【数３９】Ｉ2 ＝a2+b2+2abcosδcos(W3-W1-P-x)
【数４０】Ｉ3 ＝a2+b2+2abcosδcos(W2-W4-P+x)
【数４１】Ｉ4 ＝a2+b2+2abcosδcos(W1-W3-P+x)
【００２０】「トラッキング信号」プッシュプル方式に
より得るトラッキング信号Ｔは、数４２式により求ま
る。
より得るトラッキング信号Ｔは、数４２式により求ま
る。
【数４２】Ｔ＝Ｉ1 ＋Ｉ2 −Ｉ3 −Ｉ4 ここで、センサ信号Ｉ1 〜Ｉ4 は数３８〜数４１式によ
り表わされるので、これらを数４２式に代入すると、ト
ラッキング信号Ｔは次式で表わされる。
り表わされるので、これらを数４２式に代入すると、ト
ラッキング信号Ｔは次式で表わされる。
【数４３】 Ｔ ＝ a2+b2+2abcosδcos(W4-W2-P-x) +a2+b2+2abcosδcos(W3-W1-P-x) -a2-b2-2abcosδcos(W2-W4-P+x) -a2-b2-2abcosδcos(W1-W3-P+x) ＝2abcosδ{cos(W4-W2)cos(P+x)+sin(W4-W2)sin(P+x) +cos(W3-W1)cos(P+x)+sin(W3-W1)sin(P+x) -cos(W2-W4)cos(P-x)-sin(W2-W4)sin(P-x) -cos(W1-W4)cos(P-x)-sin(W1-W3)sin(P-x)} ＝2abcosδ[cos(W4-W2){cos(P+x)-cos(P-x)} +sin(W4-W2){sin(P+x)+sin(P-x)} +cos(W3-W1){cos(P+x)-cos(P-x)}+sin(W3-W1){sin(P+x)+sin(P-x)}] ＝2abcosδ[-2sinPsinx{cos(W4-W2)+cos(W3-W1)} +2sinPcosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}] ＝ -4abcosδsinP[sin{cos(W4-W2)+cos(W3-W1)} -cosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}]
【００２１】「フォーカス信号Ｆ」（フォーカスセンサ
に入力される信号）非点収差法でフォーカス信号Ｆを得
ると、フォーカス信号Ｆは下記式で表わすことができ
る。
に入力される信号）非点収差法でフォーカス信号Ｆを得
ると、フォーカス信号Ｆは下記式で表わすことができ
る。
【数４４】Ｆ＝Ｉ1 ＋Ｉ2 −Ｉ3 ＋Ｉ4 この数４４式に数３８〜数４１式を代入すると、フォー
カス信号Ｆは次式で表わすことができる。
カス信号Ｆは次式で表わすことができる。
【数４５】 Ｆ＝ a2-b2+2abcosδcos(W4-W2-P-x) -a2-b2-2abcosδcos(W3-W1-P-x) -a2-b2-2abcosδcos(W2-W4-P+x) +a2+b2+2abcosδcos(W1-W3-P+x) ＝2abcosδ{cos(W4-W2)cos(P+x)+sin(W4-W2)sin(P+x) -cos(W3-W1)cos(P+x)-sin(W3-W1)sin(P+x)-cos(W2-W4)cos(P-x) -sin(W2-W4)sin(P-x)+cos(W1-W3)cos(P-x)+sin(W1-W3)sin(P-x) ＝2abcosδ[cos(W4-W2){cos(P+x)-cos(P-x)} +sin(W4-W2){sin(P+x)+sin(P-x)} -cos(W3-W1){cos(P+x)-cos(P-x)} -sin(W3-W1){sin(P+x)+sin(P-x)}] ＝2abcosδ[-2sinPsinx{cos(W4-W2)-cos(W3-W1)} +2sinPcosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＝ -4abcosδsinP[sin{cos(W4-W2)-cos(W3-W1)} -cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【００２２】「上下アンバランス信号Ｕ」実際には使わ
れない信号であるが、上下アンバランス信号Ｕは、下記
式により定義できる。
れない信号であるが、上下アンバランス信号Ｕは、下記
式により定義できる。
【数４６】Ｕ＝Ｉ1 −Ｉ2 ＋Ｉ3 −Ｉ4 この式のＩ1 〜Ｉ4 に数３８〜数４１式を代入すると、
上下アンバランス信号Ｕは下記式により表わすことがで
きる。
上下アンバランス信号Ｕは下記式により表わすことがで
きる。
【数４７】 Ｕ＝ a2+b2+2abcosδcos(W4-W2-P-x) -a2-b2-2abcosδcos(W3-W1-P-x) +a2+b2+2abcosδcos(W2-W4-P+x) -a2-b2-2abcosδcos(W1-W3-P+x) ＝2abcosδ{cos(W4-W2)cos(P+x)+sin(W4-W2)sin(P+x) -cos(W3-W1)cos(P+x)-sin(W3-W1)sin(P+x) +cos(W2-W4)cos(P-x)+sin(W2-W4)sin(P-x) -cos(W1-W3)cos(P-x)-sin(W1-W3)sin(P-x)} ＝2abcosδ[cos(W4-W2){cos(P+x)+cos(P-x)}+sin(W4-W2){sin(P+x)-sin(P-x)} -cos(W3-W1){cos(P+x)+cos(P-x)}-sin(W3-W1){sin(P+x)-sin(P-x)}] ＝2abcosδ[2cosPcosx{cos(W4-W2)-cos(W3-W1)} -2cosPsinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＝4abcosδcosP[cosx{cos(W4-W2)-cos(W3-W1)} +sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【００２３】「収差による分類」比較的低次の収差は、
対称性により以下の４タイプに分類できる。ξ、η軸を
図９のように設定すると、収差には以下の関係がある。 ξ、η軸両方の軸に対して偶関数であり、球面収差、
アス１（０゜方向アス）、デフォーカス等 ξ軸に対して偶関数、η軸に対して奇関数であり、コ
マ２（Ｙ軸方向コマ）、Ｙ−ティルト等 ξ軸に対して奇関数、η軸に対して偶関数であり、コ
マ１（Ｘ軸方向コマ）、Ｘ−ティルト等 ξ、η軸の両方に対して奇関数であり、アス２（４５
゜方向アス）等
対称性により以下の４タイプに分類できる。ξ、η軸を
図９のように設定すると、収差には以下の関係がある。 ξ、η軸両方の軸に対して偶関数であり、球面収差、
アス１（０゜方向アス）、デフォーカス等 ξ軸に対して偶関数、η軸に対して奇関数であり、コ
マ２（Ｙ軸方向コマ）、Ｙ−ティルト等 ξ軸に対して奇関数、η軸に対して偶関数であり、コ
マ１（Ｘ軸方向コマ）、Ｘ−ティルト等 ξ、η軸の両方に対して奇関数であり、アス２（４５
゜方向アス）等
【００２４】「ξ、η両軸に対して偶関数の収差」対称
性により波面収差Ｗは、次の関係になる。
性により波面収差Ｗは、次の関係になる。
【数４８】Ｗ1 ＝Ｗ2 ＝Ｗ3 ＝Ｗ4 ＝Ｗ したがって、トラッキング信号Ｔに関する数４３式、フ
ォーカス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信
号Ｕに関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３
５式により、トラッキング信号Ｔee、フォーカス信号Ｆ
ee、上下アンバランス信号Ｕee、およびＭＯ信号Ｍ
eeは、次式のようになる。
ォーカス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信
号Ｕに関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３
５式により、トラッキング信号Ｔee、フォーカス信号Ｆ
ee、上下アンバランス信号Ｕee、およびＭＯ信号Ｍ
eeは、次式のようになる。
【数４９】Ｔee＝-8ab cosδ sinＰ sinｘ
【数５０】Ｆee＝０
【数５１】Ｕee＝０
【数５２】Ｍee＝０ 以上のように、ξ、η両軸に対して偶関数の収差がある
場合には、トラッキング信号Ｔのみ発生し、フォーカス
（ノイズ）信号Ｆ、上下アンバランス信号Ｕ、ＭＯ（ノ
イズ）信号Ｍは発生しない。
場合には、トラッキング信号Ｔのみ発生し、フォーカス
（ノイズ）信号Ｆ、上下アンバランス信号Ｕ、ＭＯ（ノ
イズ）信号Ｍは発生しない。
【００２５】「ξ軸に対して偶関数、η軸に対して奇関
数の収差」対称性により波面収差Ｗは、次式の関係を有
する。
数の収差」対称性により波面収差Ｗは、次式の関係を有
する。
【数５３】Ｗ1 ＝−Ｗ2 ＝Ｗ3 ＝−Ｗ4 ＝Ｗ ここで、トラッキング信号Ｔに関する数４３式、フォー
カス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕ
に関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式
により、トラッキング信号Ｔe0、フォーカス信号Ｆe0、
上下アンバランス信号Ｕe0、およびＭＯ信号Ｍe0は、次
式のようになる。
カス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕ
に関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式
により、トラッキング信号Ｔe0、フォーカス信号Ｆe0、
上下アンバランス信号Ｕe0、およびＭＯ信号Ｍe0は、次
式のようになる。
【数５４】Ｔe0＝-8ab cosδ sinＰ sinｘ
【数５５】Ｆe0＝０
【数５６】Ｕe0＝０
【数５７】Ｍe0＝０ 以上の通り、ξ軸に対して偶関数、η軸に対して奇関数
の収差がある場合は、両偶関数の場合と同様にトラッキ
ング信号Ｔのみが発生する。
の収差がある場合は、両偶関数の場合と同様にトラッキ
ング信号Ｔのみが発生する。
【００２６】「ξ軸に対して奇関数、η軸に対して偶関
数の収差」対称性により、波面収差Ｗは以下の関係を有
する。
数の収差」対称性により、波面収差Ｗは以下の関係を有
する。
【数５８】Ｗ1 ＝Ｗ2 ＝−Ｗ3 ＝−Ｗ4 ＝Ｗ ここで、トラッキング信号Ｔに関する数４３式、フォー
カス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕ
に関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式
により、トラッキング信号Ｔ0e、フォーカス信号Ｆ0e、
上下アンバランス信号Ｕ0e、およびＭＯ信号Ｍ0eは、次
式のようになる。
カス信号Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕ
に関する数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式
により、トラッキング信号Ｔ0e、フォーカス信号Ｆ0e、
上下アンバランス信号Ｕ0e、およびＭＯ信号Ｍ0eは、次
式のようになる。
【数５９】Ｔ0e＝-8ab cosδ sinＰ sin(x+2W)
【数６０】Ｆ0e＝０
【数６１】Ｕ0e＝０
【数６２】Ｍ0e＝０ 以上の通り、トラッキング信号Ｔ0eに位相のシフト２Ｗ
が生じる。しかし、フォーカス（ノイズ）信号Ｆ0e、上
下アンバランス（ノイズ）信号Ｕ0e、ＭＯ（ノイズ）信
号Ｍ0eは発生しない。
が生じる。しかし、フォーカス（ノイズ）信号Ｆ0e、上
下アンバランス（ノイズ）信号Ｕ0e、ＭＯ（ノイズ）信
号Ｍ0eは発生しない。
【００２７】「両ξ軸およびη軸に対して奇関数の場
合」対称性により、波面収差Ｗの関係は、次式のように
なる。
合」対称性により、波面収差Ｗの関係は、次式のように
なる。
【数６３】Ｗ1 ＝−Ｗ2 ＝−Ｗ3 ＝Ｗ4 ＝Ｗ トラッキング信号Ｔに関する数４３式、フォーカス信号
Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕに関する
数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式により、
トラッキング信号Ｔ00、フォーカス信号Ｆ00、上下アン
バランス信号Ｕ00、およびＭＯ信号Ｍ00は、下記式のよ
うになる。
Ｆに関する数４５式、上下アンバランス信号Ｕに関する
数４７式、およびＭＯ信号Ｍに関する数３５式により、
トラッキング信号Ｔ00、フォーカス信号Ｆ00、上下アン
バランス信号Ｕ00、およびＭＯ信号Ｍ00は、下記式のよ
うになる。
【数６４】Ｔ00＝-8ab cosδ sinＰ cos2W sinｘ
【数６５】Ｆ00＝ 8ab cosδ sinＰ sin2W cosｘ
【数６６】Ｕ00＝ 8ab cosδ cosＰ sin2W sinｘ
【数６７】Ｍ00＝ 8ab sinδ cosＰ sin2W cosｘ
【００２８】以上の解析から、ＦＴ（フォーカス・トラ
ッキング）クロストークが発生し、上下アンバランス信
号Ｕ、ＭＯ信号Ｍとトラッキング信号Ｔのクロストーク
も発生することが分かる。例えば、４５゜方向のアス
（アス２）の存在する光学系において構造的複屈折がな
い場合には、磁化されていない光磁気ディスクのＭＯ信
号Ｍは０になる。しかし、構造的複屈折が生じる場合に
は、ＭＯ信号Ｍにオフセット信号が加わることが分か
る。
ッキング）クロストークが発生し、上下アンバランス信
号Ｕ、ＭＯ信号Ｍとトラッキング信号Ｔのクロストーク
も発生することが分かる。例えば、４５゜方向のアス
（アス２）の存在する光学系において構造的複屈折がな
い場合には、磁化されていない光磁気ディスクのＭＯ信
号Ｍは０になる。しかし、構造的複屈折が生じる場合に
は、ＭＯ信号Ｍにオフセット信号が加わることが分か
る。
【００２９】「構造的２色性」以上は、構造的複屈折に
基づく解析であったが、構造的２色性について以下同様
に解析する。振幅透過率ｔ1 、ｔ2 の２色性素子のジョ
ーンズマトリックスＭは、次のように表わすことができ
る。
基づく解析であったが、構造的２色性について以下同様
に解析する。振幅透過率ｔ1 、ｔ2 の２色性素子のジョ
ーンズマトリックスＭは、次のように表わすことができ
る。
【数６８】 数５〜数３１式と同様にして以下求める。
【数６９】
【数７０】
【数７１】Ｍ2 Ｍ1 ＝（Ｍ1 Ｍ2 ）t
【数７２】
【数７３】
【数７４】
【数７５】 θ＝４５゜のとき
【数７６】
【数７７】
【数７８】
【数７９】 したがって、
【数８０】
【数８１】
【数８２】
【数８３】
【数８４】
【数８５】 この数８５式の交流部は、t1t2(t1 2+t2 2) を2cosδと置
き換えると、数３７式と一致する。したがって、
き換えると、数３７式と一致する。したがって、
【数８６】Ｔ＝−2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[sinx{cos(W4-W
2)＋cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2) ＋sin(W3-W1)}]
2)＋cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2) ＋sin(W3-W1)}]
【数８７】Ｆ＝−2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[sinx{cos(W4-W
2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【数８８】Ｕ＝ 2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[cosx{cos(W4-W
2)-cos(W3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
2)-cos(W3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【００３０】一方、ＭＯ信号系では、数８４式を４５゜
回転して、
回転して、
【数８９】
【数９０】
【数９１】
【数９２】
【数９３】 Ｉ1x＝(1/2){t2 2acosW4 ＋t1t2bcos(W2+P+x)}2 ＋(1/2){t2 2asinW4+t1t2bsin(W2+P+x)} ＝(1/2)(t2 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1 3t1ab{cosW4cos(W2+P+x)＋sinW4sin(W2+P+x)} ＝(1/2)(t2 4a2+t2 2P1 2b2) ＋t1t2 3abcos(W4-W2-P-x)
【数９４】Ｉ1Y＝(1/2)(t1 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1 3t2abcos
(W4-W2-P-x)
(W4-W2-P-x)
【数９５】Ｉ2x＝(1/2)(t1 4a2+t2 2P1 2b2) ＋t1 3t2abcos
(W3-W1-P-x)
(W3-W1-P-x)
【数９６】Ｉ2y＝(1/2)(t2 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1t2 3abcos
(W3-W1-P-x)
(W3-W1-P-x)
【数９７】Ｉ3x＝(1/2)(t1 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1 3t2abcos
(W2-W4-P+x)
(W2-W4-P+x)
【数９８】Ｉ3y＝(1/2)(t2 4a2+t2 2t1 2b2) ＋ｔ１ｔ２ ３
ａｂｃｏｓ（Ｗ２−Ｗ４−Ｐ＋ｘ）
ａｂｃｏｓ（Ｗ２−Ｗ４−Ｐ＋ｘ）
【数９９】Ｉ４ｘ＝(1/2)(t2 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1t2 3abc
os(W1-W3-P+x)
os(W1-W3-P+x)
【数１００】Ｉ4y＝(1/2)(t1 4a2+t2 2t1 2b2) ＋t1 3t2abc
os(W1-W3-P+x)したがって、
os(W1-W3-P+x)したがって、
【数１０１】 Ｍ＝Ｉ1x−Ｉ1y＋Ｉ2x−Ｉ2y＋Ｉ3x−Ｉ3y＋Ｉ4x−Ｉ4y ＝−2abt1t2(t2 2-t1 2)sinP[sinx{cos(W4-W2)-cos(W3-
W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 数３５式において2sinδcosPをt1t2(t2 2-t1 2)sinP に置
き換えると、数１０１式に一致する。以上の解析によ
り、構造的２色性は、構造的複屈折と同様な効果を持つ
ことが判明した。
W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 数３５式において2sinδcosPをt1t2(t2 2-t1 2)sinP に置
き換えると、数１０１式に一致する。以上の解析によ
り、構造的２色性は、構造的複屈折と同様な効果を持つ
ことが判明した。
【００３１】以上の結果をまとめると、次のようにな
る。 （１）構造的複屈折の場合 トラッキング信号Ｔ
る。 （１）構造的複屈折の場合 トラッキング信号Ｔ
【数１０２】Ｔ＝−4abcosδsinP[sinx{cos(W4-W2)+cos
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}] フォーカシング（ノイズ）信号Ｆ
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}] フォーカシング（ノイズ）信号Ｆ
【数１０３】Ｆ＝−4abcosδsinP[sinx{cos(W4-W2)-cos
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 上下アンバランス信号Ｕ
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 上下アンバランス信号Ｕ
【数１０４】Ｕ＝4abcosδcosP[cosx{cos(W4-W2)-cos(W
3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＭＯ（ノイズ）信号ＭＯ
3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＭＯ（ノイズ）信号ＭＯ
【数１０５】Ｍ＝−4absinδcosP[sinx{cos(W4-W2)-cos
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【００３２】（２）構造的二色性の場合 トラッキング信号Ｔ
【数１０６】Ｔ＝−2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[sinx{cos(W4
-W2)+cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}] フォーカシング（ノイズ）信号Ｆ
-W2)+cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)+sin(W3-W1)}] フォーカシング（ノイズ）信号Ｆ
【数１０７】Ｆ＝−2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[sinx{cos(W4
-W2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 上下アンバランス信号（Ｕ）
-W2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] 上下アンバランス信号（Ｕ）
【数１０８】Ｕ＝ 2abt1t2(t1 2+t2 2)sinP[cosx{cos(W4
-W2)-cos(W3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＭＯ（ノイズ）信号（ＭＯ）
-W2)-cos(W3-W1)}＋sinx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}] ＭＯ（ノイズ）信号（ＭＯ）
【数１０９】Ｍ＝−2abt1t2(t2 2-t1 2)sinP[sinx{cos(W4
-W2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
-W2)-cos(W3-W1)}−cosx{sin(W4-W2)-sin(W3-W1)}]
【００３３】以上の結果に基づき、収差タイプ別の分類
を、表１に一覧した。
を、表１に一覧した。
【表１】 ａ：０次光振幅回折率 ｂ：±１次光振幅回折率 Ｐ：０次光と±１次光の位相差 Ｗ：波面収差 δ：複屈折のリターダンス（rad ） ｘ：照射位置（rad ） ｔ1 ，ｔ2 ：主方向および副方向の振幅透過率
【００３４】以上の解析に基づく本発明の具体的構成
を、表１を参照して、図１〜図７に示した実施例に基づ
いて説明する。図１に示した実施例において、ＭＯセン
サ２５、２７に入射する戻り光は複屈折（δ、t1、ｔ
2 ）し、また波面収差Ｗを含む。そのため戻り光は、 ＯＳ＝8absinδcosPsin2Wcosx または、 ＯＳ＝4abt1t2(t2 2-t1 2)sinPsin2Wcosx だけオフセットされる。ここで、係数ａ、ｂ、Ｐは光磁
気ディスク１７の形状等で決まる定数なので、変更する
ことはできない。このオフセット信号ＯＳを複屈折
（δ、t1、ｔ2 ）および波面収差（Ｗ）にかかわりなく
０にするには、cosx＝0 、つまり、ｘ＝±π／２，とす
ればよいことが分かる。
を、表１を参照して、図１〜図７に示した実施例に基づ
いて説明する。図１に示した実施例において、ＭＯセン
サ２５、２７に入射する戻り光は複屈折（δ、t1、ｔ
2 ）し、また波面収差Ｗを含む。そのため戻り光は、 ＯＳ＝8absinδcosPsin2Wcosx または、 ＯＳ＝4abt1t2(t2 2-t1 2)sinPsin2Wcosx だけオフセットされる。ここで、係数ａ、ｂ、Ｐは光磁
気ディスク１７の形状等で決まる定数なので、変更する
ことはできない。このオフセット信号ＯＳを複屈折
（δ、t1、ｔ2 ）および波面収差（Ｗ）にかかわりなく
０にするには、cosx＝0 、つまり、ｘ＝±π／２，とす
ればよいことが分かる。
【００３５】そこで本発明は、２８トラックの幅（溝
幅）の中心からπ／２または−π／２（信号記録位置の
中心から溝幅の１／４）だけずらした位置に信号を記録
する。そこで、通常の記録では、１本の溝の中央に対し
て内側または外側のいずれか一方の位置に信号を記
録する。１本の溝につき２本の信号を記録する倍トラッ
ク法では、内側および外側の両方に信号を記録す
る。また、倍トラック法によりｘ＝０、πの位置に信号
を記録した場合は、ｘ＝０、πの位置にレーザビームを
照射してそれぞれの照射位置に応じた異なるオフセット
ＯＳをＭＯ信号Ｍから引く。つまり、補正後のＭＯ信号
Ｍ′は、 Ｍ′＝Ｓ1 −Ｓ2 −ＯＳ＝Ｍ−ＯＳ となる。
幅）の中心からπ／２または−π／２（信号記録位置の
中心から溝幅の１／４）だけずらした位置に信号を記録
する。そこで、通常の記録では、１本の溝の中央に対し
て内側または外側のいずれか一方の位置に信号を記
録する。１本の溝につき２本の信号を記録する倍トラッ
ク法では、内側および外側の両方に信号を記録す
る。また、倍トラック法によりｘ＝０、πの位置に信号
を記録した場合は、ｘ＝０、πの位置にレーザビームを
照射してそれぞれの照射位置に応じた異なるオフセット
ＯＳをＭＯ信号Ｍから引く。つまり、補正後のＭＯ信号
Ｍ′は、 Ｍ′＝Ｓ1 −Ｓ2 −ＯＳ＝Ｍ−ＯＳ となる。
【００３６】「４５゜アンバランス信号」分割センサを
使用してＭＯ信号Ｍを得る場合、対角方向のアンバラン
ス信号（４５゜アンバランス信号Ｑ）を生じる。この４
５゜アンバランス信号Ｑは、 Ｑ＝8abcosδsinPsin2Wcosx または、 Ｑ＝4abt1t2(t1 2+t2 2)sinPsin2Wcosx 式で表わされる。ここで、４５゜アンバランス信号Ｑ
は、ＭＯセンサに入力するノイズ信号と同位相である。
そこで、ＭＯ信号Ｍと４５゜アンバランス信号Ｑとを、 Ｍ′＝Ｍ−ｋＱ というように合成し、係数ｋに適当な値（例えば、ｋ＝
tanP／tan δ）を設定することによりクロストークをキ
ャンセルできる。
使用してＭＯ信号Ｍを得る場合、対角方向のアンバラン
ス信号（４５゜アンバランス信号Ｑ）を生じる。この４
５゜アンバランス信号Ｑは、 Ｑ＝8abcosδsinPsin2Wcosx または、 Ｑ＝4abt1t2(t1 2+t2 2)sinPsin2Wcosx 式で表わされる。ここで、４５゜アンバランス信号Ｑ
は、ＭＯセンサに入力するノイズ信号と同位相である。
そこで、ＭＯ信号Ｍと４５゜アンバランス信号Ｑとを、 Ｍ′＝Ｍ−ｋＱ というように合成し、係数ｋに適当な値（例えば、ｋ＝
tanP／tan δ）を設定することによりクロストークをキ
ャンセルできる。
【００３７】図４には、本発明を適用した別の光学系の
実施例を示してある。図１に示した実施例と同様の機能
を有する部材には同一の符号を付してある。光磁気ディ
スク１７で反射され、第２のビームスプリッタ１９で反
射された戻り光を第４のビームスプリッタにより分岐
し、透過した分岐光を第４のビームスプリッタ３５を透
過させてトラック信号、フォーカス信号検出光学系に導
く一方、第４のビームスプリッタ３５で反射した分岐光
を第３のセンサ３７に導いている。第３のセンサ３７は
受光領域が４分割された分割センサであって、図５に示
すように、受光領域が、光磁気ディスクの直径方向（図
において左右方向）およびこれと直交するトラック方向
（図において上下方向）の直交軸により４個の分割セン
サ３７1 〜３７4 に分割されている。各分割センサ３７
1 〜３７4 から得られる信号をＳ31〜Ｓ34とする。
実施例を示してある。図１に示した実施例と同様の機能
を有する部材には同一の符号を付してある。光磁気ディ
スク１７で反射され、第２のビームスプリッタ１９で反
射された戻り光を第４のビームスプリッタにより分岐
し、透過した分岐光を第４のビームスプリッタ３５を透
過させてトラック信号、フォーカス信号検出光学系に導
く一方、第４のビームスプリッタ３５で反射した分岐光
を第３のセンサ３７に導いている。第３のセンサ３７は
受光領域が４分割された分割センサであって、図５に示
すように、受光領域が、光磁気ディスクの直径方向（図
において左右方向）およびこれと直交するトラック方向
（図において上下方向）の直交軸により４個の分割セン
サ３７1 〜３７4 に分割されている。各分割センサ３７
1 〜３７4 から得られる信号をＳ31〜Ｓ34とする。
【００３８】この実施例では、式、 Ｑ＝（Ｓ31＋Ｓ34）−（Ｓ32＋Ｓ33） により４５゜アンバランス信号Ｑを得ることができる。
この４５゜アンバランスＱ信号に適当な係数ｋを掛けて
ＭＯ信号Ｍから引くことにより、クロストークの無いＭ
Ｏ信号を得ることができる。補正後のＭＯ信号をＭ′と
すると、 Ｍ′＝Ｓ1 −Ｓ2 −ｋＱ となる。係数ｋは、例えば本実施例ではtan δ／tan Ｐ
となる。
この４５゜アンバランスＱ信号に適当な係数ｋを掛けて
ＭＯ信号Ｍから引くことにより、クロストークの無いＭ
Ｏ信号を得ることができる。補正後のＭＯ信号をＭ′と
すると、 Ｍ′＝Ｓ1 −Ｓ2 −ｋＱ となる。係数ｋは、例えば本実施例ではtan δ／tan Ｐ
となる。
【００３９】図６は、ＭＯセンサに５分割センサ４７、
４９を使用して、フォーカス信号およびトラック信号を
ＭＯセンサから得る実施例である。この５分割センサ４
７、４９は、図７に示すようにそれぞれ、光磁気ディス
ク１７の記録トラックの中心線に対応する中心線を中心
に延びる１個の分割センサ４７3 、４９3 と、その両側
に位置し、中心を通る直交線により図において上下に分
割された４個の分割センサ４７1 、４７2 、４７4 、４
７5 、４９1 、４９2 、４９4 、４９5 を備えている。
この５分割センサ４７、４９によれば、トラッキング信
号Ｔ、フォーカス信号Ｆ、４５゜アンバランス信号Ｑお
よびＭＯ信号Ｍを同時に得ることができる。なお、トラ
ッキング信号Ｔはプッシュプル法で、フォーカス信号Ｆ
はスポットサイズ法で求める。
４９を使用して、フォーカス信号およびトラック信号を
ＭＯセンサから得る実施例である。この５分割センサ４
７、４９は、図７に示すようにそれぞれ、光磁気ディス
ク１７の記録トラックの中心線に対応する中心線を中心
に延びる１個の分割センサ４７3 、４９3 と、その両側
に位置し、中心を通る直交線により図において上下に分
割された４個の分割センサ４７1 、４７2 、４７4 、４
７5 、４９1 、４９2 、４９4 、４９5 を備えている。
この５分割センサ４７、４９によれば、トラッキング信
号Ｔ、フォーカス信号Ｆ、４５゜アンバランス信号Ｑお
よびＭＯ信号Ｍを同時に得ることができる。なお、トラ
ッキング信号Ｔはプッシュプル法で、フォーカス信号Ｆ
はスポットサイズ法で求める。
【００４０】以上の各信号は、図示実施例の場合、下記
式により求まる。 Ｔ＝(S11＋S12 ＋S21 ＋S22)−(S14＋ S15＋ S24＋S25) Ｆ＝(S11＋S12 ＋S14 ＋S15 −S13 ) −(S21＋ S22＋ S
24＋S25 −S23) Ｑ＝(S11＋S15 −S12 −S14)−(S22＋ S24−S21 −S15) Ｍ＝(S11＋S12 ＋S13 ＋S14 −S15 ) −(S21＋ S22＋ S
23＋S24 ＋S15) Ｍ′＝Ｍ−ｋＱ なお、Ｍは補正前のＭＯ信号、Ｍ′は補正後のＭＯ信号
である。係数ｋに適当な値を設定することにより、クロ
ストークを除去できる。
式により求まる。 Ｔ＝(S11＋S12 ＋S21 ＋S22)−(S14＋ S15＋ S24＋S25) Ｆ＝(S11＋S12 ＋S14 ＋S15 −S13 ) −(S21＋ S22＋ S
24＋S25 −S23) Ｑ＝(S11＋S15 −S12 −S14)−(S22＋ S24−S21 −S15) Ｍ＝(S11＋S12 ＋S13 ＋S14 −S15 ) −(S21＋ S22＋ S
23＋S24 ＋S15) Ｍ′＝Ｍ−ｋＱ なお、Ｍは補正前のＭＯ信号、Ｍ′は補正後のＭＯ信号
である。係数ｋに適当な値を設定することにより、クロ
ストークを除去できる。
【００４１】以上は、分割センサを使用した場合の例で
あるが、本発明は、分割センサを使用しなくても同様に
クロストークを除去できる。図１に示した実施例では、
各センサ２５、２７の受光領域をスリットで遮閉するこ
とによりクロストークを除去できる。第１のＭＯセンサ
２５は、一方の対角方向角部、つまり、＋４５゜方向お
よび−１３５゜方向の角部を遮光板２６ａ、２６ｂによ
り遮閉し、同様に第２のＭＯセンサ２７は、＋１３５゜
方向および−４５゜方向の角部を遮光板２７ａ、２７ｂ
で遮閉する（図３参照）。遮閉量は、各装置に応じて調
整する。
あるが、本発明は、分割センサを使用しなくても同様に
クロストークを除去できる。図１に示した実施例では、
各センサ２５、２７の受光領域をスリットで遮閉するこ
とによりクロストークを除去できる。第１のＭＯセンサ
２５は、一方の対角方向角部、つまり、＋４５゜方向お
よび−１３５゜方向の角部を遮光板２６ａ、２６ｂによ
り遮閉し、同様に第２のＭＯセンサ２７は、＋１３５゜
方向および−４５゜方向の角部を遮光板２７ａ、２７ｂ
で遮閉する（図３参照）。遮閉量は、各装置に応じて調
整する。
【００４２】以上の通り図示実施例は、信号を光磁気デ
ィスクの信号トラックの中心から±π／２（溝幅の１／
４）だけずれた位置に記録し、読み取り用のビームを信
号トラックの中心に照射することにより、ＭＯ信号中の
クロストークを０にすることができる。また、本実施例
では信号の記録位置を記録トラックの中心から±π／２
ずらしたが、信号は記録トラックの中心に記録し、読み
出し信号の方を中心から±π／２ずらしてもよい。要す
るに、表１のＭＯセンサ式に関する関数式が０（cosx=
0) になるように、信号記録位置と読み出し信号との相
対位置を設定すればよいのである。
ィスクの信号トラックの中心から±π／２（溝幅の１／
４）だけずれた位置に記録し、読み取り用のビームを信
号トラックの中心に照射することにより、ＭＯ信号中の
クロストークを０にすることができる。また、本実施例
では信号の記録位置を記録トラックの中心から±π／２
ずらしたが、信号は記録トラックの中心に記録し、読み
出し信号の方を中心から±π／２ずらしてもよい。要す
るに、表１のＭＯセンサ式に関する関数式が０（cosx=
0) になるように、信号記録位置と読み出し信号との相
対位置を設定すればよいのである。
【００４３】
【発明の効果】以上の通り本発明は、光磁気ディスクの
記録信号の中心から所定距離、例えばπ／２または−π
／２、内周側または外周側にずらした位置に読み出し光
を照射することにより、読み出し信号が対物レンズ等に
より複屈折し、波面収差を生じも、クロストークを０に
することができる。
記録信号の中心から所定距離、例えばπ／２または−π
／２、内周側または外周側にずらした位置に読み出し光
を照射することにより、読み出し信号が対物レンズ等に
より複屈折し、波面収差を生じも、クロストークを０に
することができる。
【図１】本発明を適用した光磁気ディスク装置の光学系
の一実施例を示す光路図である。
の一実施例を示す光路図である。
【図２】同実施例における光磁気ディスクとビーム照射
位置との関係を示す図である。
位置との関係を示す図である。
【図３】同実施例におけるセンサの遮光状態の一例を示
す図である。
す図である。
【図４】本発明の別の実施例を示す光路図である。
【図５】図４に示した実施例のセンサの構成を示す図で
ある。
ある。
【図６】本発明のさらに別の実施例を示す光路図であ
る。
る。
【図７】図６に示した実施例のセンサの構成を示す図で
ある。
ある。
【図８】偏光と反射、透過の関係を説明する図である。
【図９】光磁気ディスク装置の対物レンズと光磁気ディ
スクとの関係を説明する光路図である。 １１ レーザ光源 １３ 第１のビームスプリッタ １５ 対物レンズ １７ 光磁気ディスク １８ トラック １９ 第２のビームスプリッタ ２１ λ／２波長板 ２３ 偏光ビームスプリッタ ２５ 第１のセンサ ２７ 第２のセンサ ３１ 第１のセンサ ３３ 第２のセンサ ３７ 第３のセンサ（４分割センサ） ４７ 第１のセンサ（５分割センサ） ４９ 第２のセンサ（５分割センサ）
スクとの関係を説明する光路図である。 １１ レーザ光源 １３ 第１のビームスプリッタ １５ 対物レンズ １７ 光磁気ディスク １８ トラック １９ 第２のビームスプリッタ ２１ λ／２波長板 ２３ 偏光ビームスプリッタ ２５ 第１のセンサ ２７ 第２のセンサ ３１ 第１のセンサ ３３ 第２のセンサ ３７ 第３のセンサ（４分割センサ） ４７ 第１のセンサ（５分割センサ） ４９ 第２のセンサ（５分割センサ）
Claims (3)
- 【請求項１】 光磁気ディスクに記録された信号を読み
出す読み出し光学系を備えた装置であって、 上記読み出し光学系は、読み出し光を、光磁気ディスク
の記録トラックの中心から所定距離内周側または外周側
に照射すること、を特徴とする光磁気ディスク装置。 - 【請求項２】 請求項１に記載の装置は、光磁気ディス
クの記録トラックの中心から所定距離内周側または外周
側にずらした位置に信号を記録する記録手段を備え、上
記読み出し光学系は、上記記録された信号の中心からず
れてた位置に読み出し光を照射することを特徴とする光
磁気ディスク装置。 - 【請求項３】 請求項１または２において、上記信号の
記録および読み出し位置は、記録トラックの幅をその中
心から±πとしたときに、その中心から＋π／２または
−π／２であることを特徴とする光磁気ディスク装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19852893A JPH0757327A (ja) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | 光磁気ディスク装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP19852893A JPH0757327A (ja) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | 光磁気ディスク装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0757327A true JPH0757327A (ja) | 1995-03-03 |
Family
ID=16392649
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19852893A Pending JPH0757327A (ja) | 1993-08-10 | 1993-08-10 | 光磁気ディスク装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0757327A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008013168A1 (fr) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Sharp Kabushiki Kaisha | Support d'enregistrement d'informations optiques, dispositif de reproduction pour support d'enregistrement d'informations optiques, et procédé de reproduction pour support d'enregistrement d'informations optiques |
-
1993
- 1993-08-10 JP JP19852893A patent/JPH0757327A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008013168A1 (fr) * | 2006-07-27 | 2008-01-31 | Sharp Kabushiki Kaisha | Support d'enregistrement d'informations optiques, dispositif de reproduction pour support d'enregistrement d'informations optiques, et procédé de reproduction pour support d'enregistrement d'informations optiques |
| JPWO2008013168A1 (ja) * | 2006-07-27 | 2009-12-17 | シャープ株式会社 | 光情報記録媒体、光情報記録媒体再生装置、および光情報記録媒体再生方法 |
| JP4685166B2 (ja) * | 2006-07-27 | 2011-05-18 | シャープ株式会社 | 光情報記録媒体再生装置、および光情報記録媒体再生方法 |
| US8243577B2 (en) | 2006-07-27 | 2012-08-14 | Sharp Kabushiki Kaisha | Optical information recording medium, reproducing device for optical information recording medium, and reproducing method for optical information recording medium |
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