JP2610123B2 - 光情報検出装置 - Google Patents
光情報検出装置Info
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- JP2610123B2 JP2610123B2 JP60219846A JP21984685A JP2610123B2 JP 2610123 B2 JP2610123 B2 JP 2610123B2 JP 60219846 A JP60219846 A JP 60219846A JP 21984685 A JP21984685 A JP 21984685A JP 2610123 B2 JP2610123 B2 JP 2610123B2
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- Japan
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- light
- beam splitter
- optical information
- lens
- analyzer
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B11/00—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor
- G11B11/10—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field
- G11B11/105—Recording on or reproducing from the same record carrier wherein for these two operations the methods are covered by different main groups of groups G11B3/00 - G11B7/00 or by different subgroups of group G11B9/00; Record carriers therefor using recording by magnetic means or other means for magnetisation or demagnetisation of a record carrier, e.g. light induced spin magnetisation; Demagnetisation by thermal or stress means in the presence or not of an orienting magnetic field using a beam of light or a magnetic field for recording by change of magnetisation and a beam of light for reproducing, i.e. magneto-optical, e.g. light-induced thermomagnetic recording, spin magnetisation recording, Kerr or Faraday effect reproducing
- G11B11/10532—Heads
Landscapes
- Optical Head (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光磁気デイスクの記録・再生用光情報検出装
置に関する。
置に関する。
光磁気用の光情報検出装置では一方向にのみ主透過軸
を有する検光子が用いられるが、視野分割型の検光子を
用いると、差動検出する際に光学系が非常に簡単にな
る。
を有する検光子が用いられるが、視野分割型の検光子を
用いると、差動検出する際に光学系が非常に簡単にな
る。
従来、光磁気用の光情報検出装置では、第2図に示す
ようにメイン信号(偏波面回転)を差動検出するには、
記録面からの反射光を受光素子に導びくためのビームス
プリツター3と対物レンズ制御用信号とメイン信号を分
割するためのビームスプリッター11と差動検出するため
にメイン信号をさらに分離検波するための偏光ビームス
プリツター12が必要であつた。
ようにメイン信号(偏波面回転)を差動検出するには、
記録面からの反射光を受光素子に導びくためのビームス
プリツター3と対物レンズ制御用信号とメイン信号を分
割するためのビームスプリッター11と差動検出するため
にメイン信号をさらに分離検波するための偏光ビームス
プリツター12が必要であつた。
従来の技術では差動検出するのに複数個のビームスプ
リツターが必要であるため、非常に高価なものになり、
さらに小型・軽量化に問題点があつた。
リツターが必要であるため、非常に高価なものになり、
さらに小型・軽量化に問題点があつた。
本発明は上記問題点を解決するために、1/2波長板と
視野分割検光子を記録面からの反射光を分割型受光素子
に導びくためのビームスプリツターと分割型受光素子の
間に配置することによつて、容易にメイン信号の差動検
出ができ、ビームスプリツターが1個でよいため、安価
で小型・軽量の光磁気用光情報検出装置が提供できる。
視野分割検光子を記録面からの反射光を分割型受光素子
に導びくためのビームスプリツターと分割型受光素子の
間に配置することによつて、容易にメイン信号の差動検
出ができ、ビームスプリツターが1個でよいため、安価
で小型・軽量の光磁気用光情報検出装置が提供できる。
本発明で使用する視野分割検光子は0°−90°あるい
は45°−45°であるため、主透過軸は90°になつてい
る。直線偏光がこの視野分割検光子に入射する際に、一
方の主透過軸に対して偏波方向が45°であればもう一方
は−45°になる。したがつて、記録面からの反射光は磁
気光学効果によつて、磁区の向きによつてKerr回転角±
θkを有するため、たとえば+θkのKerr回転の場合、
視野分割検光子を透過する光量は偏波方向が45°の方は
光量が増加するが、−45°の方は減少する。また、−θ
kのKerr回転の場合は偏波方向が45°の方が減少し、−
45°の方が増加することになる。すなわち、それぞれの
偏波方向に対応する受光素子によつて差動検出できるの
である。
は45°−45°であるため、主透過軸は90°になつてい
る。直線偏光がこの視野分割検光子に入射する際に、一
方の主透過軸に対して偏波方向が45°であればもう一方
は−45°になる。したがつて、記録面からの反射光は磁
気光学効果によつて、磁区の向きによつてKerr回転角±
θkを有するため、たとえば+θkのKerr回転の場合、
視野分割検光子を透過する光量は偏波方向が45°の方は
光量が増加するが、−45°の方は減少する。また、−θ
kのKerr回転の場合は偏波方向が45°の方が減少し、−
45°の方が増加することになる。すなわち、それぞれの
偏波方向に対応する受光素子によつて差動検出できるの
である。
以下に本発明の実施例を図面にもとづいて詳しく説明
する。
する。
まず、第2図に従来の光磁気用光情報検出装置を示
す。半導体レーザー1から出射した光線はコリメーター
レンズ2を通り、平行光になり、ビームスプリツター3
を通り、対物レンズ4に入射する。入射した光線はデイ
スク5上でスポツトを形成し、反射されて、対物レンズ
4を通つてビームスプリツター3によつて、ビームスプ
リツター11に進む。さらに、ビームスプリツター11によ
つて、制御信号を得るための光線とメイン信号を得るた
めの光線に分離する。ビームスプリツター11で反射され
た光線は凸レンズ8、シリンドリカルレンズ9を通つ
て、4分割フオトデイテクター10に到達し、非点収差方
式によつてフオーカスエラー信号を得る。
す。半導体レーザー1から出射した光線はコリメーター
レンズ2を通り、平行光になり、ビームスプリツター3
を通り、対物レンズ4に入射する。入射した光線はデイ
スク5上でスポツトを形成し、反射されて、対物レンズ
4を通つてビームスプリツター3によつて、ビームスプ
リツター11に進む。さらに、ビームスプリツター11によ
つて、制御信号を得るための光線とメイン信号を得るた
めの光線に分離する。ビームスプリツター11で反射され
た光線は凸レンズ8、シリンドリカルレンズ9を通つ
て、4分割フオトデイテクター10に到達し、非点収差方
式によつてフオーカスエラー信号を得る。
また、ビームスプリツター11を通過した光線は1/2波
長板6を通り、偏光ビームスプリツター12によつて、凸
レンズ13,14に入射し、フオトデイテクター14,15によつ
て受光され、差動検出することによつてメイン信号が得
られる。ここで、偏光ビームスプリツター12に入射する
際、偏波方向は主透過軸に対して45°をなしている。こ
のように、従来の光磁気用光情報検出装置では、ビーム
スプリツターが3個も必要であり、それにともなつて、
他の光学部品も必要になり、構造が極めて複雑であつ
た。そこで、本発明のシンプルな構造を第1図に示す。
長板6を通り、偏光ビームスプリツター12によつて、凸
レンズ13,14に入射し、フオトデイテクター14,15によつ
て受光され、差動検出することによつてメイン信号が得
られる。ここで、偏光ビームスプリツター12に入射する
際、偏波方向は主透過軸に対して45°をなしている。こ
のように、従来の光磁気用光情報検出装置では、ビーム
スプリツターが3個も必要であり、それにともなつて、
他の光学部品も必要になり、構造が極めて複雑であつ
た。そこで、本発明のシンプルな構造を第1図に示す。
半導体レーザー1から出射した光線はコリメーターレ
ンズ2を通つて平行光になり、ビームスプリツター3を
通つて対物レンズ4に入射し、デイスク5上にスポツト
を形成する。デイスク5から反射した光線は、対物レン
ズ4を通つて、ビームスプリツター3によつて、1/2波
長板6に入射する。さらに、視野分割検光子7に入射
し、凸レンズ8、シリンドリカルレンズ9を通つて、4
分割フオトデイテクター10で受光される。ここで、視野
分割検光子7が0°−90°の場合は第3図(a),45°
−45°の場合は第3図(b)に示す方向に主透過軸が
あり、これによつて、光線の偏波方向と4分割フオトデ
イテクター10と視野分割検光子7の関係が定まる。第4
図にその関係を示す。第4図において、⇔は光線の偏波
方向を示す。ここで、偏波方向は主透過軸に対して45°
あるいは−45°で交わるように、1/2波長板6を回転さ
せて調整する。デイスク5からの反射光は磁区の向きに
応じて磁気光学効果によつて、偏波面がプラスまたはマ
イナス方向にθkだけ回転するため、視野分割検光子7
を透過する光量は、主透過軸の向きによつて違いが生ず
る。したがつて、メイン信号の差動検出ができる。本実
施例ではフオーカスエラー信号を非点収差方式で得るた
め、対物レンズ4の焦点位置にデイスク5の記録面が一
致する場合、すなわちJust Focusであれば、4分割フオ
トデイテクター10上のスポツトは最小錯乱円になる。こ
のとき、視野分割検光子7を通過直後の光量分布は、4
分割フオトデイテクター10上では90°回転することにな
る。したがつて、メイン信号の差動出力は4分割フオト
デイテクター10の各要素を第4図(a),(b)に示す
如くA,B,C,Dとすると(A+C)−(B+D)の出力で
表わされる。また、非点収差方式によるフオーカスエラ
ー信号は、同じ4分割フオトデイテクター10によつて得
られ、(A+D)−(C+B)の出力で表わされる。以
上説明したように本発明は非常に簡単な構造にもかかわ
らず差動検出できる光磁気用光情報検出装置を提供する
ものである。
ンズ2を通つて平行光になり、ビームスプリツター3を
通つて対物レンズ4に入射し、デイスク5上にスポツト
を形成する。デイスク5から反射した光線は、対物レン
ズ4を通つて、ビームスプリツター3によつて、1/2波
長板6に入射する。さらに、視野分割検光子7に入射
し、凸レンズ8、シリンドリカルレンズ9を通つて、4
分割フオトデイテクター10で受光される。ここで、視野
分割検光子7が0°−90°の場合は第3図(a),45°
−45°の場合は第3図(b)に示す方向に主透過軸が
あり、これによつて、光線の偏波方向と4分割フオトデ
イテクター10と視野分割検光子7の関係が定まる。第4
図にその関係を示す。第4図において、⇔は光線の偏波
方向を示す。ここで、偏波方向は主透過軸に対して45°
あるいは−45°で交わるように、1/2波長板6を回転さ
せて調整する。デイスク5からの反射光は磁区の向きに
応じて磁気光学効果によつて、偏波面がプラスまたはマ
イナス方向にθkだけ回転するため、視野分割検光子7
を透過する光量は、主透過軸の向きによつて違いが生ず
る。したがつて、メイン信号の差動検出ができる。本実
施例ではフオーカスエラー信号を非点収差方式で得るた
め、対物レンズ4の焦点位置にデイスク5の記録面が一
致する場合、すなわちJust Focusであれば、4分割フオ
トデイテクター10上のスポツトは最小錯乱円になる。こ
のとき、視野分割検光子7を通過直後の光量分布は、4
分割フオトデイテクター10上では90°回転することにな
る。したがつて、メイン信号の差動出力は4分割フオト
デイテクター10の各要素を第4図(a),(b)に示す
如くA,B,C,Dとすると(A+C)−(B+D)の出力で
表わされる。また、非点収差方式によるフオーカスエラ
ー信号は、同じ4分割フオトデイテクター10によつて得
られ、(A+D)−(C+B)の出力で表わされる。以
上説明したように本発明は非常に簡単な構造にもかかわ
らず差動検出できる光磁気用光情報検出装置を提供する
ものである。
光磁気用光情報検出装置では、同相ノイズ除去のため
差動検出が有効であるが、そのためには、非常に高価な
ビームスプリツターを複数個使用せねばならない。さら
に、それに伴なつて、フオトデイテクターが複数個必要
になるなど、非常に部品点数が多く、構造が複雑であつ
た。ところが、本発明の如く、90°−90°あるいは45°
−45°の視野分割検光子と1/2波長板を組み合せること
によつて、本来フオーカスエラー信号を得る4分割フオ
トデイテクターから差動検出によりメイン信号が得られ
るようになり、差動検出用のビームスプリツターが不用
になり、さらに、差動検出用のフオトデイテクターが不
用になるなど大幅に部品点数を減少させることができ
た。すなわち、第1図に示す本発明はコンパクトデイス
ク用光情報検出装置とほとんど同じ構造であることが容
易に理解でき、小型・軽量化に極めて有効であると言え
る。
差動検出が有効であるが、そのためには、非常に高価な
ビームスプリツターを複数個使用せねばならない。さら
に、それに伴なつて、フオトデイテクターが複数個必要
になるなど、非常に部品点数が多く、構造が複雑であつ
た。ところが、本発明の如く、90°−90°あるいは45°
−45°の視野分割検光子と1/2波長板を組み合せること
によつて、本来フオーカスエラー信号を得る4分割フオ
トデイテクターから差動検出によりメイン信号が得られ
るようになり、差動検出用のビームスプリツターが不用
になり、さらに、差動検出用のフオトデイテクターが不
用になるなど大幅に部品点数を減少させることができ
た。すなわち、第1図に示す本発明はコンパクトデイス
ク用光情報検出装置とほとんど同じ構造であることが容
易に理解でき、小型・軽量化に極めて有効であると言え
る。
第1図は、本発明の光情報検出装置の光学系を説明する
図である。 第2図は、従来技術の光学系を説明する図である。 第3図(a)は90°−90°視野分割検光子を示した図
で、(b)は45°−45°視野検光子を示した図である。 第4図(a)(b)は、視野分割検光子と光線の偏波
面、および分割フオトデイテクターの関係を説明する図
である。 1……半導体レーザー 2……コリメーターレンズ 3……ビームスプリツター 4……対物レンズ 5……デイスク 6……1/2波長板 7……視野分割検光子 8……凸レンズ 9……シリンドリカルレンズ 10……4分割フオトデイテクター 11……ビームスプリツター 12……偏光ビームスプリツター 13,14……凸レンズ 15,16……フオトデイテクター
図である。 第2図は、従来技術の光学系を説明する図である。 第3図(a)は90°−90°視野分割検光子を示した図
で、(b)は45°−45°視野検光子を示した図である。 第4図(a)(b)は、視野分割検光子と光線の偏波
面、および分割フオトデイテクターの関係を説明する図
である。 1……半導体レーザー 2……コリメーターレンズ 3……ビームスプリツター 4……対物レンズ 5……デイスク 6……1/2波長板 7……視野分割検光子 8……凸レンズ 9……シリンドリカルレンズ 10……4分割フオトデイテクター 11……ビームスプリツター 12……偏光ビームスプリツター 13,14……凸レンズ 15,16……フオトデイテクター
Claims (1)
- 【請求項1】光源と前記光源から出射した光線を平行光
線にするコリメーターレンズと前記平行光線を記録面上
に収束せしめる対物レンズと前記記録面からの反射光を
受光する複数に分割された受光素子と前記受光素子に前
反射光を導くためのビームスプリッターから成る光情報
検出装置において、 前記コリメーターレンズと前記対物レンズの間に前記ビ
ームスプリッターを配置し、 前記ビームスプリッターからの反射光出力方向に1/2波
長板と0°−90°および45°−45°から選ばれる視野分
割検光子と、 凸レンズと、 シリンドリカルレンズと、 4分割であり、一つの分割方向が前記視野分割検光子の
分割方向と等しい前記受光素子を配置したことを特徴と
する光情報検出素子。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60219846A JP2610123B2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | 光情報検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP60219846A JP2610123B2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | 光情報検出装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6278742A JPS6278742A (ja) | 1987-04-11 |
JP2610123B2 true JP2610123B2 (ja) | 1997-05-14 |
Family
ID=16741977
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP60219846A Expired - Fee Related JP2610123B2 (ja) | 1985-10-02 | 1985-10-02 | 光情報検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2610123B2 (ja) |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5979446A (ja) * | 1982-10-28 | 1984-05-08 | Sharp Corp | 磁気光学ヘッド |
JPS59121639A (ja) * | 1982-12-28 | 1984-07-13 | Olympus Optical Co Ltd | 光磁気光学装置 |
JPS6266452A (ja) * | 1985-09-19 | 1987-03-25 | Nec Corp | 光磁気ヘツド |
-
1985
- 1985-10-02 JP JP60219846A patent/JP2610123B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6278742A (ja) | 1987-04-11 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |