JPH075076U - Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 多数のＩＣを測定するＩＣ測定システムで、
故障原因の最も多いＩＣ測定用ソケットの寿命を検出
し、寿命のきたソケットを一律に交換もしくは不使用と
して測定システムの信頼性を高め、ＩＣ測定システムの
稼動率を高めることを目的としている。 【構成】 上記目的を達成するために、本考案は、ＩＣ
測定用ソケットの使用可能の寿命回数を設定できる寿命
回数設定部と、ＩＣ測定用ソケット毎に実測定回数を計
数する実測定回数計数部と、寿命回数と実測定回数が一
致したとき一致信号を送出する比較部と、一致信号を受
けて警報信号を発生させる警報手段とを設けて、寿命に
達したＩＣ測定用ソケットを不使用にする構成とする。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

この考案は、多数のＩＣを測定する際に、ＩＣ測定システムの故障原因となる ＩＣ測定用ソケットの寿命を事前に検出して交換し、ＩＣの諸特性測定を円滑に 進めるＩＣ測定用ソケット寿命検出装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

図３（Ａ）に多数のＩＣを測定する従来のＩＣハンドラの概略図の１例を、図 ３（Ｂ）にＩＣ測定用ソケットの１例を示す。

【０００３】 図３（Ａ）は４個のＩＣを同時測定するＩＣハンドラ１０の１例である。制御 部１８はＩＣテスタ３０と制御信号を授受しながら、ＩＣハンドラ１０の全体の 動作を制御している。被測定ＩＣ５０は、図示していないが被測定ＩＣ５０を収 納しているＩＣ収納ケースいわゆる供給マガジンよりガイドレール上を誘導され て４路に分岐され、ＩＣ誘導部１１に達して測定されるのを待つ。測定部１２で は、ＩＣ誘導部１１から間欠的に送出された被測定ＩＣ５０をＩＣ測定用ソケッ ト１３に固定した後、ＩＣテスタ３０との間での測定信号の授受によって被測定 ＩＣ５０の諸特性を測定する。測定された被測定ＩＣ５０は、ＩＣガイド路１４ に導かれ、測定データに基ずいて良品１、良品２、良品３あるいは不良品等のカ テゴリに分類されて、ＩＣ収納マガジン部１５のそれぞれの収納マガジン内に収 納される。ここで任意のＩＣ測定用ソケット１３から連続して複数回不良品の検 出がされると、フェイル・ストップ機能が働き測定システムは停止する。

【０００４】 図３（Ｂ）は、実公昭６４−５２５８に紹介されているＩＣ測定用ソケット１ ３の１例の図である。被測定ＩＣ５０がＩＣ誘導部１１から測定部１２のＩＣ測 定用ソケット１３の位置に達すると、圧搾空気が空気通路５６よりエアシリンダ ４６に送られる。その空気圧により、ピストン４７は図において右側に移動し、 駆動軸４９及びアーム５１を介して駆動リング５２が右側に移動し、その内側の 両側に近接しているコンタクト５３，５４の遊端部が互いに接近するように駆動 される。よって、各コンタクトは対応する被測定ＩＣ５０の端子ピン５０ａ，５ ０ｂとそれぞれ弾性的に接触し、被測定ＩＣ５０は固定する。この状態で被測定 ＩＣ５０とＩＣテスタ３０とは測定信号の授受を行って被測定ＩＣ５０の諸特性 を測定する。測定が終了すると、測定終了信号を受け空気圧を断にする。空気圧 を断にされると、コイルばね４８の作用によって図においてはピストン４７が左 側に移動し、従ってコンタクト５３，５４が端子ピン５０ａ，５０ｂから離れる ことになる。その後被測定ＩＣ５０はＩＣガイド路１４に導かれる。このように して、ＩＣ測定ソケット１３のコンタクトは被測定ＩＣ５０の端子ピン５０ａ， ５０ｂと電気的に接続し諸特性を測定するが、説明したとおり、ＩＣ測定用ソケ ット１３は機械的可動部が多くて永久的に使用できるものではなく寿命がある。 なお、ここでは図３（Ｂ）の１例のＩＣ測定用ソケット１３を説明したが、本考 案に適用されるＩＣ測定用ソケット１３は、この例のタイプの物のみでは無く全 てのＩＣ測定用ソケットに適用される。

【０００５】

【考案が解決しようとする課題】

従来のＩＣハンドラには、フェイル・スットプ機能やコンタクタ別カテゴリカ ウント機能はあるが、ＩＣ測定用ソケットの寿命検出機能は無い。

【０００６】 フェイル・スットプ機能とは、任意のＩＣ測定用ソケットで、測定結果の不良 品が複数の設定回数分続けて生じた場合に、アラームを発生させてＩＣ測定シス テムの動作を停止させることができる機能である。これは、ＩＣ測定システムに おいて、不良になる原因が何であるかを問わずフェイル・ストップかけるもので あるから、これが発生すると測定者は全ての不良になる要因をチェックして不良 原因を探求することになるので、測定システムの回復に時間がかかっていた。こ の場合の不良原因は、もちろん被測定ＩＣの不良が連続して発生することもある が、測定システム側の不良の場合の方がだんぜん多かった。

【０００７】 コンタクタ別カテゴリカウント機能とは、ＩＣ測定用ソケット毎に測定結果の カテゴリ別の測定回数を管理する機能である。これは、測定結果を統計する上で 設けられたもので、特にアラームを発生させる機能は無い。

【０００８】 本考案は、フェイル・ストップ機能のアラーム発生の原因追求の結果、ＩＣ測 定用ソケットの不良による測定システムの停止が非常に多いこと、それとＩＣ測 定用ソケットは種類による特定の寿命があることを見いだし、ＩＣ測定用ソケッ トの使用回数が寿命に達したときは一律に交換し、被測定ＩＣが良品であるのに 係わらずソケットの寿命による故障で不良品と判定されることを防ぐことを目的 としている。

【０００９】

【課題を解決するための手段】

上記目的を達成するために、本考案はＩＣ測定システムにおいてＩＣハンドラ １０の制御部１８にＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍを設定する寿命回数設 定部２０と、実測定回数Ｎを計数する実測定回数計数部２１と、設定数Ｍと計測 数Ｎとを比較する比較部２２を設けて、実測定回数Ｎが寿命回数Ｍに達すると一 致信号を送出し、警報手段２３を駆動して警報を発生させ、その寿命に達したＩ Ｃ測定用ソケット１３での測定を停止させたり、または必要に応じて測定システ ム全体を停止させようとするものである。

【００１０】

【実施例】

本考案の実施例を図１及び図２に基づいて説明する。

【００１１】 図１は本考案の１実施例を示す。ＩＣハンドラ１０の基本動作は図３の従来の 動作とほとんど同じであるが、繰り返して要点のみ述べ、本考案に及ぶ。被測定 ＩＣ５０はＩＣ誘導部１１から、間欠的に測定部１２に送出され、測定部１２の ＩＣ測定用ソケット１３に位置されると、ソケットの複数のコンタクト５３，５ ４は駆動されて被測定ＩＣ５０の端子ピン５０ａ，５０ｂにそれぞれ弾性的に接 触し、被測定ＩＣ５０は固定する。制御部１８からの準備終了信号で、ＩＣテス タ３０は起動し被測定ＩＣ５０との間で測定信号の授受を行い、被測定ＩＣ５０ の諸特性を測定する。測定結果で被測定ＩＣ５０は、良品，不良品等のカテゴリ 別に区分され、ＩＣガイド路１４に送出される。測定終了のＩＣはＩＣガイド路 １４を移動中に、ＩＣ収納マガジン部１５内のそれぞれのカテゴリ別ＩＣ収納マ ガジンに収納される。

【００１２】 本考案は、上記のＩＣ測定過程においてに、特定のＩＣ測定用ソケット１３ａ の総測定回数Ｎがそのソケットの寿命回数Ｍに達すると警報信号を発生させ、寿 命に達した該ＩＣ測定用ソケット１３ａを停止させたり、測定システムを一時停 止させたりするものである。そして測定者は、測定システムの一時停止の場合は 該ＩＣ測定ソケット１３ａを交換して測定システムを復帰させたり、または該Ｉ Ｃ測定用ソケット１３ａのみを停止させ、測定部１２内の他のＩＣ測定ソケット １３ｂ等では測定を続行させたりして測定を継続する。また、従来通りに任意の ＩＣ測定用ソケット１３で不良品の判定が連続して複数設定回数発生すると、フ ェイル・ストップ機能が働き、測定動作が停止するが、測定者はＩＣ測定用ソケ ット１３の不良原因を除いた他の原因を追求して排除すればよいので、復旧が非 常に早くなった。そして本考案の実施例では、フェイル・ストップの発生回数が 非常に少なくなった。

【００１３】 図２は、この本考案の主要部のブロック図である。この回路を構成するには、 従来技術の個別回路でもよく、またコンピュータで実現してもよい。

【００１４】 寿命回数設定部２０では、使用するＩＣ測定用ソケット１３のメーカで保証す る寿命回数Ｍ、あるいは使用者が統計上習得した寿命回数ＭをそれぞれのＩＣ測 定用ソケット１３毎に設定する。図１では４個取り同時測定の例であるから、４ 個の設定器が必要となる。この設定は測定者が直接設定できるようにしてもよい し、また予めプログラム化していてＩＣ測定用ソケット１３の種類を選定するの みで自動的に設定してもよい。

【００１５】 実測定回数計数部２１は、それぞれのＩＣ測定用ソケット１３に対応して計数 器を設け、それぞれのＩＣ測定用ソケット１３からの測定終了信号を計数する。 図１の例では４個必要である。この計数値は、モニタ用として常に表示していて もよく、一定数毎にランプ表示してもよく、あるいは何もしなくともよい。計数 値は、ＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍに達すると比較部２２からの一致信 号を受け零にリセットされ、新しく交換するＩＣ測定用ソケット１３の測定用に 準備する。計数値のリセットは手動でもできるようにする。

【００１６】 比較部２２では、寿命回数設定部２０の設定数Ｍと実測定回数計数部２３の計 数器の総計数値Ｎを常に比較し，設定数Ｍが総計数値Ｎに等しくなった時、一致 信号を警報手段２３に送出する、と共に計数部２３にも送出し当該計数器の計数 値をリセットする。一致信号が送出されると、後述するように、警報手段２３は 警報信号を発生する。必要に応じて測定システムの全体またはその該当ＩＣ測定 用ソケット１３の測定を停止する。ここで停止する以前に、寿命が近いという警 戒信号を発生させて、測定者に使用回数の状況を知らせることが必要なこともあ る。この場合は設定数Ｍから一定数Ｃを引いた数Ｍ−Ｃと総計数値Ｎとを比較し 一致したとき警戒信号を発生させて警戒表示部２４に表示させ、測定者にソケッ トの準備等の時間を与えることもできる。このときは勿論この警戒信号は後段の 警報手段２３や計数部２１には送出しないので、測定システムが停止したり、計 数値がリセットされたりはしない。

【００１７】 警報手段２３は、比較部２２からの一致信号を受けて、警報ランプを点灯した り警報ブザーを鳴らしたりして警報信号を発生し測定者に注意を喚起する。そし て該当するＩＣ測定用ソケット１３の測定を停止させ他のＩＣ測定ソケット１３ の測定は続行させたり、あるいは測定システム全体を停止させたりする。この停 止動作は、予めプログラム化していても、測定者が手動で行なえるようにしても よい。

【００１８】

【考案の効果】

以上説明したように、本考案はＩＣ測定システムにＩＣ測定用ソケットの寿命 検出装置を設け、寿命のきたＩＣ測定用ソケットを一律的に交換するので、従来 のアラーム・ストップの発生原因の最も多かったＩＣ測定用ソケットの寿命によ る原因が無くなる。従って、測定システムの信頼性が向上し、アラーム・ストッ プが発生しても原因の探求が早くなり回復の時間が短くなる。そして、総合的に 測定システムの稼動時間が長くなりＩＣ特性測定の測定経費の低減につながり、 経済的効果も大である。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の１実施例の図である。

【図２】本考案の主要部のブロック図である。

【図３】従来のＩＣハンドラの概略図である。

【符号の説明】

１０ ＩＣハンドラ １１ ＩＣ誘導部 １２ 測定部 １３ ＩＣ測定ソケット １４ ＩＣガイド路 １５ ＩＣ収納マガジン部 ２０ 寿命回数設定部 ２１ 実測定回数計数部 ２２ 比較部 ２３ 警報手段 ２４ 警戒表示部 ３０ ＩＣテスタ ５０ 被測定ＩＣ

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項】 ＩＣ測定システムにおいて、 任意のＩＣ測定用ソケット（１３）の寿命回数を設定す
   る寿命回数設定部（２０）と、 当該ＩＣ測定用ソケット（１３）の実測定回数を計数す
   る実測定回数計数部（２１）と、 寿命回数設定部（２０）に設定された設定回数と実測定
   回数計数部（２１）で計数された実計数とを比較し，設
   定回数と実計数とが等しいときに一致信号を送出する比
   較部（２２）と、 該一致信号を受けたとき警報信号を発生する警報手段
   （２３）と、 を具備したことを特徴とするＩＣ測定用ソケット寿命検
   出装置。