JP2606089Y2 - Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 - Google Patents
Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置Info
- Publication number
- JP2606089Y2 JP2606089Y2 JP1993038270U JP3827093U JP2606089Y2 JP 2606089 Y2 JP2606089 Y2 JP 2606089Y2 JP 1993038270 U JP1993038270 U JP 1993038270U JP 3827093 U JP3827093 U JP 3827093U JP 2606089 Y2 JP2606089 Y2 JP 2606089Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- measurement
- socket
- life
- count
- actual
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Landscapes
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この考案は、多数のＩＣを測定す
る際に、ＩＣ測定システムの故障原因となるＩＣ測定用
ソケットの寿命を事前に検出して交換し、ＩＣの諸特性
測定を円滑に進めるＩＣ測定用ソケット寿命検出装置に
関する。
る際に、ＩＣ測定システムの故障原因となるＩＣ測定用
ソケットの寿命を事前に検出して交換し、ＩＣの諸特性
測定を円滑に進めるＩＣ測定用ソケット寿命検出装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】図３（Ａ）に多数のＩＣを測定する従来
のＩＣハンドラの概略図の１例を、図３（Ｂ）にＩＣ測
定用ソケットの１例を示す。
のＩＣハンドラの概略図の１例を、図３（Ｂ）にＩＣ測
定用ソケットの１例を示す。
【０００３】図３（Ａ）は４個のＩＣを同時測定するＩ
Ｃハンドラ１０の１例である。制御部１８はＩＣテスタ
３０と制御信号を授受しながら、ＩＣハンドラ１０の全
体の動作を制御している。被測定ＩＣ５０は、図示して
いないが被測定ＩＣ５０を収納しているＩＣ収納ケース
いわゆる供給マガジンよりガイドレール上を誘導されて
４路に分岐され、ＩＣ誘導部１１に達して測定されるの
を待つ。測定部１２では、ＩＣ誘導部１１から間欠的に
送出された被測定ＩＣ５０をＩＣ測定用ソケット１３に
固定した後、ＩＣテスタ３０との間での測定信号の授受
によって被測定ＩＣ５０の諸特性を測定する。測定され
た被測定ＩＣ５０は、ＩＣガイド路１４に導かれ、測定
データに基ずいて良品１、良品２、良品３あるいは不良
品等のカテゴリに分類されて、ＩＣ収納マガジン部１５
のそれぞれの収納マガジン内に収納される。ここで任意
のＩＣ測定用ソケット１３から連続して複数回不良品の
検出がされると、フェイル・ストップ機能が働き測定シ
ステムは停止する。
Ｃハンドラ１０の１例である。制御部１８はＩＣテスタ
３０と制御信号を授受しながら、ＩＣハンドラ１０の全
体の動作を制御している。被測定ＩＣ５０は、図示して
いないが被測定ＩＣ５０を収納しているＩＣ収納ケース
いわゆる供給マガジンよりガイドレール上を誘導されて
４路に分岐され、ＩＣ誘導部１１に達して測定されるの
を待つ。測定部１２では、ＩＣ誘導部１１から間欠的に
送出された被測定ＩＣ５０をＩＣ測定用ソケット１３に
固定した後、ＩＣテスタ３０との間での測定信号の授受
によって被測定ＩＣ５０の諸特性を測定する。測定され
た被測定ＩＣ５０は、ＩＣガイド路１４に導かれ、測定
データに基ずいて良品１、良品２、良品３あるいは不良
品等のカテゴリに分類されて、ＩＣ収納マガジン部１５
のそれぞれの収納マガジン内に収納される。ここで任意
のＩＣ測定用ソケット１３から連続して複数回不良品の
検出がされると、フェイル・ストップ機能が働き測定シ
ステムは停止する。
【０００４】図３（Ｂ）は、実公昭６４−５２５８に紹
介されているＩＣ測定用ソケット１３の１例の図であ
る。被測定ＩＣ５０がＩＣ誘導部１１から測定部１２の
ＩＣ測定用ソケット１３の位置に達すると、圧搾空気が
空気通路５６よりエアシリンダ４６に送られる。その空
気圧により、ピストン４７は図において右側に移動し、
駆動軸４９及びアーム５１を介して駆動リング５２が右
側に移動し、その内側の両側に近接しているコンタクト
５３，５４の遊端部が互いに接近するように駆動され
る。よって、各コンタクトは対応する被測定ＩＣ５０の
端子ピン５０ａ，５０ｂとそれぞれ弾性的に接触し、被
測定ＩＣ５０は固定する。この状態で被測定ＩＣ５０と
ＩＣテスタ３０とは測定信号の授受を行って被測定ＩＣ
５０の諸特性を測定する。測定が終了すると、測定終了
信号を受け空気圧を断にする。空気圧を断にされると、
コイルばね４８の作用によって図においてはピストン４
７が左側に移動し、従ってコンタクト５３，５４が端子
ピン５０ａ，５０ｂから離れることになる。その後被測
定ＩＣ５０はＩＣガイド路１４に導かれる。このように
して、ＩＣ測定ソケット１３のコンタクトは被測定ＩＣ
５０の端子ピン５０ａ，５０ｂと電気的に接続し諸特性
を測定するが、説明したとおり、ＩＣ測定用ソケット１
３は機械的可動部が多くて永久的に使用できるものでは
なく寿命がある。なお、ここでは図３（Ｂ）の１例のＩ
Ｃ測定用ソケット１３を説明したが、本考案に適用され
るＩＣ測定用ソケット１３は、この例のタイプの物のみ
では無く全てのＩＣ測定用ソケットに適用される。
介されているＩＣ測定用ソケット１３の１例の図であ
る。被測定ＩＣ５０がＩＣ誘導部１１から測定部１２の
ＩＣ測定用ソケット１３の位置に達すると、圧搾空気が
空気通路５６よりエアシリンダ４６に送られる。その空
気圧により、ピストン４７は図において右側に移動し、
駆動軸４９及びアーム５１を介して駆動リング５２が右
側に移動し、その内側の両側に近接しているコンタクト
５３，５４の遊端部が互いに接近するように駆動され
る。よって、各コンタクトは対応する被測定ＩＣ５０の
端子ピン５０ａ，５０ｂとそれぞれ弾性的に接触し、被
測定ＩＣ５０は固定する。この状態で被測定ＩＣ５０と
ＩＣテスタ３０とは測定信号の授受を行って被測定ＩＣ
５０の諸特性を測定する。測定が終了すると、測定終了
信号を受け空気圧を断にする。空気圧を断にされると、
コイルばね４８の作用によって図においてはピストン４
７が左側に移動し、従ってコンタクト５３，５４が端子
ピン５０ａ，５０ｂから離れることになる。その後被測
定ＩＣ５０はＩＣガイド路１４に導かれる。このように
して、ＩＣ測定ソケット１３のコンタクトは被測定ＩＣ
５０の端子ピン５０ａ，５０ｂと電気的に接続し諸特性
を測定するが、説明したとおり、ＩＣ測定用ソケット１
３は機械的可動部が多くて永久的に使用できるものでは
なく寿命がある。なお、ここでは図３（Ｂ）の１例のＩ
Ｃ測定用ソケット１３を説明したが、本考案に適用され
るＩＣ測定用ソケット１３は、この例のタイプの物のみ
では無く全てのＩＣ測定用ソケットに適用される。
【０００５】
【考案が解決しようとする課題】従来のＩＣハンドラに
は、フェイル・スットプ機能やコンタクタ別カテゴリカ
ウント機能はあるが、ＩＣ測定用ソケットの寿命検出機
能は無い。
は、フェイル・スットプ機能やコンタクタ別カテゴリカ
ウント機能はあるが、ＩＣ測定用ソケットの寿命検出機
能は無い。
【０００６】フェイル・スットプ機能とは、任意のＩＣ
測定用ソケットで、測定結果の不良品が複数の設定回数
分続けて生じた場合に、アラームを発生させてＩＣ測定
システムの動作を停止させることができる機能である。
これは、ＩＣ測定システムにおいて、不良になる原因が
何であるかを問わずフェイル・ストップかけるものであ
るから、これが発生すると測定者は全ての不良になる要
因をチェックして不良原因を探求することになるので、
測定システムの回復に時間がかかっていた。この場合の
不良原因は、もちろん被測定ＩＣの不良が連続して発生
することもあるが、測定システム側の不良の場合の方が
だんぜん多かった。
測定用ソケットで、測定結果の不良品が複数の設定回数
分続けて生じた場合に、アラームを発生させてＩＣ測定
システムの動作を停止させることができる機能である。
これは、ＩＣ測定システムにおいて、不良になる原因が
何であるかを問わずフェイル・ストップかけるものであ
るから、これが発生すると測定者は全ての不良になる要
因をチェックして不良原因を探求することになるので、
測定システムの回復に時間がかかっていた。この場合の
不良原因は、もちろん被測定ＩＣの不良が連続して発生
することもあるが、測定システム側の不良の場合の方が
だんぜん多かった。
【０００７】コンタクタ別カテゴリカウント機能とは、
ＩＣ測定用ソケット毎に測定結果のカテゴリ別の測定回
数を管理する機能である。これは、測定結果を統計する
上で設けられたもので、特にアラームを発生させる機能
は無い。
ＩＣ測定用ソケット毎に測定結果のカテゴリ別の測定回
数を管理する機能である。これは、測定結果を統計する
上で設けられたもので、特にアラームを発生させる機能
は無い。
【０００８】本考案は、フェイル・ストップ機能のアラ
ーム発生の原因追求の結果、ＩＣ測定用ソケットの不良
による測定システムの停止が非常に多いこと、それとＩ
Ｃ測定用ソケットは種類による特定の寿命があることを
見いだし、ＩＣ測定用ソケットの使用回数が寿命に達し
たときは一律に交換し、被測定ＩＣが良品であるのに係
わらずソケットの寿命による故障で不良品と判定される
ことを防ぐことを目的としている。
ーム発生の原因追求の結果、ＩＣ測定用ソケットの不良
による測定システムの停止が非常に多いこと、それとＩ
Ｃ測定用ソケットは種類による特定の寿命があることを
見いだし、ＩＣ測定用ソケットの使用回数が寿命に達し
たときは一律に交換し、被測定ＩＣが良品であるのに係
わらずソケットの寿命による故障で不良品と判定される
ことを防ぐことを目的としている。
【０００９】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本考案はＩＣ測定システムにおいてＩＣハンドラ１
０の制御部１８にＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍ
を設定する寿命回数設定部２０と、実測定回数Ｎを計数
する実測定回数計数部２１と、設定数Ｍと計測数Ｎとを
比較する比較部２２を設けて、実測定回数Ｎが寿命回数
Ｍに達すると一致信号を送出し、警報手段２３を駆動し
て警報を発生させ、その寿命に達したＩＣ測定用ソケッ
ト１３での測定を停止させたり、または必要に応じて測
定システム全体を停止させようとするものである。
に、本考案はＩＣ測定システムにおいてＩＣハンドラ１
０の制御部１８にＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍ
を設定する寿命回数設定部２０と、実測定回数Ｎを計数
する実測定回数計数部２１と、設定数Ｍと計測数Ｎとを
比較する比較部２２を設けて、実測定回数Ｎが寿命回数
Ｍに達すると一致信号を送出し、警報手段２３を駆動し
て警報を発生させ、その寿命に達したＩＣ測定用ソケッ
ト１３での測定を停止させたり、または必要に応じて測
定システム全体を停止させようとするものである。
【００１０】
【実施例】本考案の実施例を図１及び図２に基づいて説
明する。
明する。
【００１１】図１は本考案の１実施例を示す。ＩＣハン
ドラ１０の基本動作は図３の従来の動作とほとんど同じ
であるが、繰り返して要点のみ述べ、本考案に及ぶ。被
測定ＩＣ５０はＩＣ誘導部１１から、間欠的に測定部１
２に送出され、測定部１２のＩＣ測定用ソケット１３に
位置されると、ソケットの複数のコンタクト５３，５４
は駆動されて被測定ＩＣ５０の端子ピン５０ａ，５０ｂ
にそれぞれ弾性的に接触し、被測定ＩＣ５０は固定す
る。制御部１８からの準備終了信号で、ＩＣテスタ３０
は起動し被測定ＩＣ５０との間で測定信号の授受を行
い、被測定ＩＣ５０の諸特性を測定する。測定結果で被
測定ＩＣ５０は、良品，不良品等のカテゴリ別に区分さ
れ、ＩＣガイド路１４に送出される。測定終了のＩＣは
ＩＣガイド路１４を移動中に、ＩＣ収納マガジン部１５
内のそれぞれのカテゴリ別ＩＣ収納マガジンに収納され
る。
ドラ１０の基本動作は図３の従来の動作とほとんど同じ
であるが、繰り返して要点のみ述べ、本考案に及ぶ。被
測定ＩＣ５０はＩＣ誘導部１１から、間欠的に測定部１
２に送出され、測定部１２のＩＣ測定用ソケット１３に
位置されると、ソケットの複数のコンタクト５３，５４
は駆動されて被測定ＩＣ５０の端子ピン５０ａ，５０ｂ
にそれぞれ弾性的に接触し、被測定ＩＣ５０は固定す
る。制御部１８からの準備終了信号で、ＩＣテスタ３０
は起動し被測定ＩＣ５０との間で測定信号の授受を行
い、被測定ＩＣ５０の諸特性を測定する。測定結果で被
測定ＩＣ５０は、良品，不良品等のカテゴリ別に区分さ
れ、ＩＣガイド路１４に送出される。測定終了のＩＣは
ＩＣガイド路１４を移動中に、ＩＣ収納マガジン部１５
内のそれぞれのカテゴリ別ＩＣ収納マガジンに収納され
る。
【００１２】本考案は、上記のＩＣ測定過程において
に、特定のＩＣ測定用ソケット１３ａの総測定回数Ｎが
そのソケットの寿命回数Ｍに達すると警報信号を発生さ
せ、寿命に達した該ＩＣ測定用ソケット１３ａを停止さ
せたり、測定システムを一時停止させたりするものであ
る。そして測定者は、測定システムの一時停止の場合は
該ＩＣ測定ソケット１３ａを交換して測定システムを復
帰させたり、または該ＩＣ測定用ソケット１３ａのみを
停止させ、測定部１２内の他のＩＣ測定ソケット１３ｂ
等では測定を続行させたりして測定を継続する。また、
従来通りに任意のＩＣ測定用ソケット１３で不良品の判
定が連続して複数設定回数発生すると、フェイル・スト
ップ機能が働き、測定動作が停止するが、測定者はＩＣ
測定用ソケット１３の不良原因を除いた他の原因を追求
して排除すればよいので、復旧が非常に早くなった。そ
して本考案の実施例では、フェイル・ストップの発生回
数が非常に少なくなった。
に、特定のＩＣ測定用ソケット１３ａの総測定回数Ｎが
そのソケットの寿命回数Ｍに達すると警報信号を発生さ
せ、寿命に達した該ＩＣ測定用ソケット１３ａを停止さ
せたり、測定システムを一時停止させたりするものであ
る。そして測定者は、測定システムの一時停止の場合は
該ＩＣ測定ソケット１３ａを交換して測定システムを復
帰させたり、または該ＩＣ測定用ソケット１３ａのみを
停止させ、測定部１２内の他のＩＣ測定ソケット１３ｂ
等では測定を続行させたりして測定を継続する。また、
従来通りに任意のＩＣ測定用ソケット１３で不良品の判
定が連続して複数設定回数発生すると、フェイル・スト
ップ機能が働き、測定動作が停止するが、測定者はＩＣ
測定用ソケット１３の不良原因を除いた他の原因を追求
して排除すればよいので、復旧が非常に早くなった。そ
して本考案の実施例では、フェイル・ストップの発生回
数が非常に少なくなった。
【００１３】図２は、この本考案の主要部のブロック図
である。この回路を構成するには、従来技術の個別回路
でもよく、またコンピュータで実現してもよい。
である。この回路を構成するには、従来技術の個別回路
でもよく、またコンピュータで実現してもよい。
【００１４】寿命回数設定部２０では、使用するＩＣ測
定用ソケット１３のメーカで保証する寿命回数Ｍ、ある
いは使用者が統計上習得した寿命回数ＭをそれぞれのＩ
Ｃ測定用ソケット１３毎に設定する。図１では４個取り
同時測定の例であるから、４個の設定器が必要となる。
この設定は測定者が直接設定できるようにしてもよい
し、また予めプログラム化していてＩＣ測定用ソケット
１３の種類を選定するのみで自動的に設定してもよい。
定用ソケット１３のメーカで保証する寿命回数Ｍ、ある
いは使用者が統計上習得した寿命回数ＭをそれぞれのＩ
Ｃ測定用ソケット１３毎に設定する。図１では４個取り
同時測定の例であるから、４個の設定器が必要となる。
この設定は測定者が直接設定できるようにしてもよい
し、また予めプログラム化していてＩＣ測定用ソケット
１３の種類を選定するのみで自動的に設定してもよい。
【００１５】実測定回数計数部２１は、それぞれのＩＣ
測定用ソケット１３に対応して計数器を設け、それぞれ
のＩＣ測定用ソケット１３からの測定終了信号を計数す
る。図１の例では４個必要である。この計数値は、モニ
タ用として常に表示していてもよく、一定数毎にランプ
表示してもよく、あるいは何もしなくともよい。計数値
は、ＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍに達すると比
較部２２からの一致信号を受け零にリセットされ、新し
く交換するＩＣ測定用ソケット１３の測定用に準備す
る。計数値のリセットは手動でもできるようにする。
測定用ソケット１３に対応して計数器を設け、それぞれ
のＩＣ測定用ソケット１３からの測定終了信号を計数す
る。図１の例では４個必要である。この計数値は、モニ
タ用として常に表示していてもよく、一定数毎にランプ
表示してもよく、あるいは何もしなくともよい。計数値
は、ＩＣ測定用ソケット１３の寿命回数Ｍに達すると比
較部２２からの一致信号を受け零にリセットされ、新し
く交換するＩＣ測定用ソケット１３の測定用に準備す
る。計数値のリセットは手動でもできるようにする。
【００１６】比較部２２では、寿命回数設定部２０の設
定数Ｍと実測定回数計数部２３の計数器の総計数値Ｎを
常に比較し，設定数Ｍが総計数値Ｎに等しくなった時、
一致信号を警報手段２３に送出する、と共に計数部２３
にも送出し当該計数器の計数値をリセットする。一致信
号が送出されると、後述するように、警報手段２３は警
報信号を発生する。必要に応じて測定システムの全体ま
たはその該当ＩＣ測定用ソケット１３の測定を停止す
る。ここで停止する以前に、寿命が近いという警戒信号
を発生させて、測定者に使用回数の状況を知らせること
が必要なこともある。この場合は設定数Ｍから一定数Ｃ
を引いた数Ｍ−Ｃと総計数値Ｎとを比較し一致したとき
警戒信号を発生させて警戒表示部２４に表示させ、測定
者にソケットの準備等の時間を与えることもできる。こ
のときは勿論この警戒信号は後段の警報手段２３や計数
部２１には送出しないので、測定システムが停止した
り、計数値がリセットされたりはしない。
定数Ｍと実測定回数計数部２３の計数器の総計数値Ｎを
常に比較し，設定数Ｍが総計数値Ｎに等しくなった時、
一致信号を警報手段２３に送出する、と共に計数部２３
にも送出し当該計数器の計数値をリセットする。一致信
号が送出されると、後述するように、警報手段２３は警
報信号を発生する。必要に応じて測定システムの全体ま
たはその該当ＩＣ測定用ソケット１３の測定を停止す
る。ここで停止する以前に、寿命が近いという警戒信号
を発生させて、測定者に使用回数の状況を知らせること
が必要なこともある。この場合は設定数Ｍから一定数Ｃ
を引いた数Ｍ−Ｃと総計数値Ｎとを比較し一致したとき
警戒信号を発生させて警戒表示部２４に表示させ、測定
者にソケットの準備等の時間を与えることもできる。こ
のときは勿論この警戒信号は後段の警報手段２３や計数
部２１には送出しないので、測定システムが停止した
り、計数値がリセットされたりはしない。
【００１７】警報手段２３は、比較部２２からの一致信
号を受けて、警報ランプを点灯したり警報ブザーを鳴ら
したりして警報信号を発生し測定者に注意を喚起する。
そして該当するＩＣ測定用ソケット１３の測定を停止さ
せ他のＩＣ測定ソケット１３の測定は続行させたり、あ
るいは測定システム全体を停止させたりする。この停止
動作は、予めプログラム化していても、測定者が手動で
行なえるようにしてもよい。
号を受けて、警報ランプを点灯したり警報ブザーを鳴ら
したりして警報信号を発生し測定者に注意を喚起する。
そして該当するＩＣ測定用ソケット１３の測定を停止さ
せ他のＩＣ測定ソケット１３の測定は続行させたり、あ
るいは測定システム全体を停止させたりする。この停止
動作は、予めプログラム化していても、測定者が手動で
行なえるようにしてもよい。
【００１８】
【考案の効果】以上説明したように、本考案はＩＣ測定
システムにＩＣ測定用ソケットの寿命検出装置を設け、
寿命のきたＩＣ測定用ソケットを一律的に交換するの
で、従来のアラーム・ストップの発生原因の最も多かっ
たＩＣ測定用ソケットの寿命による原因が無くなる。従
って、測定システムの信頼性が向上し、アラーム・スト
ップが発生しても原因の探求が早くなり回復の時間が短
くなる。そして、総合的に測定システムの稼動時間が長
くなりＩＣ特性測定の測定経費の低減につながり、経済
的効果も大である。
システムにＩＣ測定用ソケットの寿命検出装置を設け、
寿命のきたＩＣ測定用ソケットを一律的に交換するの
で、従来のアラーム・ストップの発生原因の最も多かっ
たＩＣ測定用ソケットの寿命による原因が無くなる。従
って、測定システムの信頼性が向上し、アラーム・スト
ップが発生しても原因の探求が早くなり回復の時間が短
くなる。そして、総合的に測定システムの稼動時間が長
くなりＩＣ特性測定の測定経費の低減につながり、経済
的効果も大である。
【図１】本考案の１実施例の図である。
【図２】本考案の主要部のブロック図である。
【図３】従来のＩＣハンドラの概略図である。
１０ ＩＣハンドラ １１ ＩＣ誘導部 １２ 測定部 １３ ＩＣ測定ソケット １４ ＩＣガイド路 １５ ＩＣ収納マガジン部 ２０ 寿命回数設定部 ２１ 実測定回数計数部 ２２ 比較部 ２３ 警報手段 ２４ 警戒表示部 ３０ ＩＣテスタ ５０ 被測定ＩＣ
Claims (1)
- 【請求項１】 被測定ＩＣを挿抜する複数のＩＣ測定用
ソケットを有するＩＣハンドラに備えるソケット寿命検
出装置において、 ＩＣ測定用ソケット（１３）の所定の寿命回数を設定す
る寿命回数設定部（２０）と、 当該ＩＣ測定用ソケット（１３）の実測定回数をコンタ
クト駆動信号に基づいて計数する実測定回数計数部（２
１）と、 寿命回数設定部（２０）に設定された設定回数と実測定
回数計数部（２１）で計数された実計数とを比較し，設
定回数と実計数とが等しいときに一致信号を送出する比
較部（２２）と、 該一致信号を受けたとき警報信号を発生する警報手段
（２３）と、を各ＩＣ測定用ソケット毎に備え、 各ＩＣ測定用ソケット毎に実測定回数による予防保守で
きる機能を ＩＣハンドラ内のみに具備したことを特徴と
するＩＣ測定用ソケット寿命検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993038270U JP2606089Y2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1993038270U JP2606089Y2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH075076U JPH075076U (ja) | 1995-01-24 |
| JP2606089Y2 true JP2606089Y2 (ja) | 2000-09-11 |
Family
ID=12520631
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1993038270U Expired - Lifetime JP2606089Y2 (ja) | 1993-06-18 | 1993-06-18 | Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606089Y2 (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002071762A (ja) * | 2000-06-13 | 2002-03-12 | Advantest Corp | 半導体試験装置及びそのモニタ装置 |
| JP2013083523A (ja) * | 2011-10-07 | 2013-05-09 | Hitachi Kokusai Denki Engineering:Kk | ４探針抵抗率測定装置 |
| CN113960503B (zh) * | 2021-11-02 | 2023-06-16 | 江西伟德智能电气有限公司 | 一种开关插座的安全性能检测装置 |
-
1993
- 1993-06-18 JP JP1993038270U patent/JP2606089Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH075076U (ja) | 1995-01-24 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US5117189A (en) | Automatic testing apparatus for electrical switches | |
| US4319193A (en) | Testing of relays and similar devices | |
| JP2606089Y2 (ja) | Ｉｃ測定用ソケット寿命検出装置 | |
| US5535330A (en) | System and method for error location in printed wire assemblies by external power on self test (post) commands | |
| US6330514B1 (en) | Keyboard testing system | |
| KR100333571B1 (ko) | 검사시스템 | |
| JPH03276530A (ja) | リレー装置 | |
| KR101551934B1 (ko) | 와이어 하네스 검사 필증 제작 장치 | |
| US20140055160A1 (en) | Apparatus and method for inspection of marking | |
| US6725115B2 (en) | Dynamic testing of electronic assemblies | |
| KR100304045B1 (ko) | 전도성 도선상의 미세 단락에 의한 접촉불량 감지 방법 | |
| US6738940B1 (en) | Integrated circuit including a test signal generator | |
| US7042237B2 (en) | Semiconductor test system having a tester and a prober and test method thereof | |
| KR100223409B1 (ko) | 에어컨 실외기의 성능 검사 제어방법 | |
| KR200450493Y1 (ko) | 디지털 신호 논리 인터페이스 | |
| JP2742169B2 (ja) | 半導体製造装置の性能管理方法 | |
| KR0140932B1 (ko) | 슬랫 컨베이어상의 제품 내전압 검사 장치 | |
| JPS58208532A (ja) | 空気調和機の自己診断装置 | |
| JPH07111985B2 (ja) | プロ−ブ装置 | |
| JPS62136041A (ja) | ウエハプロ−バ | |
| KR200165244Y1 (ko) | 전도성 도선상의 미세 단락에 의한 접촉불량 감지 장치 | |
| US20120150472A1 (en) | Failure sensing and control system for cycle testing | |
| Rodriguez et al. | Real-time yield checks at wafer test | |
| JPH0419506Y2 (ja) | ||
| JP2003066124A (ja) | 半導体集積回路試験装置 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20000627 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
| FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080714 Year of fee payment: 8 |
|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |