JPH03276530A - リレー装置 - Google Patents

リレー装置

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JPH03276530A
JPH03276530A JP2077444A JP7744490A JPH03276530A JP H03276530 A JPH03276530 A JP H03276530A JP 2077444 A JP2077444 A JP 2077444A JP 7744490 A JP7744490 A JP 7744490A JP H03276530 A JPH03276530 A JP H03276530A
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JP
Japan
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relay
level
circuit
light
signal
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Application number
JP2077444A
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English (en)
Inventor
Tatsuo Fuchi
渕 辰夫
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/327Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers
    • G01R31/3277Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches
    • G01R31/3278Testing of circuit interrupters, switches or circuit-breakers of low voltage devices, e.g. domestic or industrial devices, such as motor protections, relays, rotation switches of relays, solenoids or reed switches

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、リレー装置に関し、特に、電子計測器や半導
体試験装置(以下、テスターと称する。)に適用して好
適なリレー装置に関する。
(従来の技術) 近年、機械的な接点を持ったリレーに代えて、信頼性や
耐久性、応答速度等において優れた半導体スイッチが用
いられつつある。しかし、リレーは、オン抵抗が小さく
浮遊容量(接点間及び接点対駆動コイル間キャパシタン
ス)が小さいという優れた特徴がある。このため、テス
ター等の計測部にはリレーの使用が欠かせない。
しかしながら、リレーは機械的な動作を行なう接点部を
有する。このため、リレーは、半導体スイッチ等の他の
部品に比べ、故障や動作不良の可能性が大きい。このよ
うな故障や故障直前の不安定な動作等により、テスター
の稼動率低下や信頼性低下が生じる。
リレーの動作確認は不可欠のものである。従来のリレー
装置では、第5図に示すように結線して動作の確認を行
なっていた。第5図に示すように、リレー本体16は、
リレーコイル4と、このリレーコイル4に通電すること
により電磁気的に開閉駆動されるリレー接点18とから
構成される。
リレーコイル4は、リレー駆動用電源17とリレードラ
イバ21とによって通電のオン/オフ制御が行われる。
そして、リレー接点18には、接点オン/オフ検出用電
源19と、接点オン/オフ検出用電圧計20とが接続さ
れている。これにより、リレー接点18が閉じた場合に
は、接点オン/オフ検出用電源19からリレー接点18
を通じて接点オン/オフ検出用電圧計20に通電される
リレー装置単体試験の場合は、第5図のように、リレー
ドライバ21からリレーコイル4に通電し、接点オン/
オフ検出用電圧計20の動作を確認すれば、リレー本体
16の正常/異常の判定ができる。
半導体や機器類の測定を行なうテスターの信頼性確保の
ためには、上述したようなリレーの動作確認が欠かせな
い。しかしながら、装置に既に組み込まれてしまったリ
レーの動作確認は、現状では以下の方法で行われる。
(1) テスターより対象とするリレーを個別に取り出
し、故障していないかを、第5図のようにして確認する
(2) テスターから対象とするリレーが実装されたボ
ードを個々に取り出し、各ボードを、特別に準備された
ボードチエッカ−で動作確認する。
(3) テスター自身のDC計測部の機能を利用して、
リレーのチエツクプログラムを専用に作り、リレー接点
に電流を流し、リレーのオン/オフを確認する。
(発明が解決しようとする課題) しかしながら、−台のテスターには一般に数百側のリレ
ーが実装されている。このため、上述の(1)、(2)
の方法では、作業能率が悪く、膨大な時間を必要とし、
さらにはリレーの動作確認中はテスターを稼動できない
という問題がある。
また、上記(3)の方法ではリレーやボードを取り出す
必要がないので、作業能率は優れている。
しかしながら、テスター自身がリレー確認動作のために
リレーを使用するという矛盾を抱えており、このため信
頼性に欠けるきらいがある。また、リレーの動作確認は
、リレー接点に電流を流してオン/オフを確認すること
により行っている。このためには、装置の稼動を停止さ
せる必要がある。
これにより、設備の稼動効率が低下する。さらに、リレ
ーは、一般に寿命となる過程で、動作不安定の期間があ
り、偶発的に動作したり動作しなかったりすることもあ
る。つまり、数回に1回の割合で動作不良になるケース
も珍しくない。このため、確認期間中は問題なくても、
実際の稼動中に動作不良を引き起こすことも十分に考え
られる。つまり、検査しても、異常を正確に捕えること
ができないことも少なくない。
本発明は、上記に鑑みてなされたもので、その目的は、
検査対象とするリレーを動作させた時に、そのリレーの
リレー接点の機械的動作状況を外部から確認可能とした
リレー装置を提供することにある。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段) 本発明の第1のリレー装置は、基板に取り付けられたリ
レー素子であって、閉信号によって閉成して互いに電気
的に導通すると共に開信号によって開放して接点ギャッ
プを形成する一対の接点を有する、リレー素子と、前記
接点ギャップに向けて光を射出する発光手段と、前記発
光手段からの光を受光するための受光手段であって、前
記一対の接点の開成時には前記光を受光せず、開放時に
は前記接点ギャップを透過する前記光を受光する、受光
手段と、を有するものとして構成される。
本発明の第2のリレー装置は、前記第1のリレー装置に
おいて、前記受光手段の出力と前記開信号及び閉信号と
の相互関係から前記リレー素子が適正に動作するか否か
を判断する判断手段をさらに有するものとして構成され
る。
本発明の第3のリレー装置は、前記第1又は第2のリレ
ー装置において、前記リレー素子は、リレータイプのも
のであり、前記一対の接点を有するリードスイッチと、
外部からそのリードスイッチに磁界を加えて前記一対の
接点を閉成、開放するリレーコイルと、を有するものと
して構成される。
(作 用) リレー素子の一対の接点の開、閉状態は、そのリレー素
子が基板に取り付けられた状態のままで検出される。即
ち、接点の開放時には発光手段からの光が受光手段に達
するが、閉成時には達しない。さらに、これによる受光
手段の出力と接点間、閉のための信号との関係から、判
断手段によりリレー素子が適正に動作するか否かが判断
される。
上記リレー素子としてはリードタイプのリレーを用いる
こともできる。
(実施例) 以下、図面を参照しながら本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。第1図に示
すように、リレー本体16は、基板に各種の素子が取り
付けられた1つのユニットを示し、リードスイッチ(リ
レー素子)3と、これを電磁気的に駆動するリレーコイ
ル4とを有する。さらに、リレー本体16内には、リー
ドスイッチ3の接点ギャップ22に向けて光を射出する
LED2と、その接点ギャップ22を通過してくるLE
D2からの光を集光レンズ5を通じて受光する受光セン
サ用ホトトランジスタ6とを備えている。LED2には
、LED用電源1から電源が供給され、常時点灯状態に
維持されている。リレーコイル4には、リレー駆動用電
源17とリレー駆動用ドライバートランジスタ7とが接
続されている。これにより、トランジスタ7を制御信号
CRによりオンすれば、リレー駆動用電源17からリレ
ーコイル4に電流が流れる。これにより、リードスイッ
チ3はリレーコイル4からの電磁気的な力により動作す
る。受光センサ用ホトトランジスタ6には、ホトトラン
ジスタ負荷用電源8が抵抗8Aを介して接続されている
。これにより、LED2からの光が接点ギャップ22、
集光レンズ5を通じてホトトランジスタ6に入射すると
、そのトランジスタ6はオンする。これにより、エクス
クルシブオア回路9の1入力端がLレベルとなる。一方
、LED2からの光が受光センサ用ホトトランジスタ6
に入射するのが遮断されると、そのトランジスタ6はオ
フする。これにより、エクスクルシブオア回路9の1入
力端がHレベルとなる。エクスクルシブオア回路9の他
の入力端には、制御信号CRが入力されている。このた
め、エクスクルシブオア回路9は、制御信号CRの出力
とホトトランジスタ6の出力とが不一致の時に、Hレベ
ルを出力する。つまり、制御信号CRがLレベルで受光
センサ用ホトトランジスタ6の出力がHレベルのとき、
または制御信号CRがHレベルでホトトランジスタ6の
出力がL1ノベルの時に、エクスクルシブオア回路9は
、それぞれHレベルを出力する。
制御信号CRは、インバータ回路12を通じてモノステ
ーブル回路10に人力される。このモノステーブル回路
10は、インバータ回路12の出力の立ち上がり、つま
り制御信号CRの立ち下がりから一定時間、例えば1m
s間、L1ノベル出力を行なう。一方、制御信号CRは
、モノステーブル回路11にも入力されている。このモ
ノステーブル回路11は、制御信号CRの立ち上がりか
ら一定時間、例えば1m、s間、Lレベル出力を行なう
これらのモノステーブル回路10,11の出力はそれぞ
れアンド回路13に入力される。このアンド回路13は
、制御信号CRの立ち上がりからの一定時間(lrns
)と立ち下がりからの一定時間(1ms)にそれぞれL
レベルを出力し、アンド回路14に入力する。制御信号
CRの立ち上がり時と立ち下がり時に、アンド回路13
からは、それぞれ一定時間(1ms)Lレベル信号が出
力される。このLレベル信号は、リレー本体16のリー
ドスイッチ3がオン/オフする場合の動作応答時間とチ
ャタリングが収束するまでの時間とに対応する。アンド
回路14の他の入力端には、エクスクルシブオア回路9
の出力端が接続されている。
これにより、アンド回路14は、エクスクルシブオア回
路9とアンド回路13のHレベルのアンド条件により、
SRフリップフロップ回路15のS入力をHレベルとし
て、SRフリップフロップ回路15をセットする。SR
フリップフロップ回路15のQ出力は、テスター側CP
Uに加えられる。
このCPUにおいてリレー本体16の動作状態の良否が
判定される。一方、SRフリップフロップ回路15のR
入力端には、テスター側CPUからのRESET信号が
加えられる。これにより、フリップフロップ回路15は
リセットされる。
次に第1図の装置の動作を、第2〜4図を参照して説明
する。第2図及び第3図は、リレー本体16の動作状態
を説明するものであり、第4図は動作の詳細を示すタイ
ミングチャートである。
制御信号CRがLレベルの場合、リレー本体16が正常
であれば、以下のように動作する。即ち、ドライバート
ランジスタ7はオフとなる。これにより、リレーコイル
4には電流は流れず、リードスイッチ3はオフの状態に
ある。この時、リードスイッチ3の接点ギャップ22は
開いている。
第2図は、この状態を示す。従って、LED2からの光
は、接点ギャップ22及び集光レンズ5を通じてホトト
ランジスタ6に入射する。これにより、ホトトランジス
タ6はオンとなる。
これに対して、制御信号CRがHレベルの場合、リレー
本体16が正常であれば、以下のように動作する。即ち
、ドライバートランジスタ7がオンし、リレーコイル4
にリレー駆動用電源17から電流が流れ、リードスイッ
チ3がオンする。その結果、リードスイッチ3の接点ギ
ャップ22は閉じて、′lH3図のような状態になる。
この場合、LED2からの光は、接点ギャップ22で遮
断され、ホトトランジスタ6に到達しない。従って、ホ
トトランジスタ6はオフ状態となる。
リレー本体16の動作確認に当たっては、先ず、テスタ
ー#CPUから、時間t1〜t2の間に、RESET信
号を出力して、SRフリップフロップ回路15をリセッ
トし、初期化する。一方、制御信号CRは、第5図(A
)に示すように、t3までの間はLレベル、t3〜t6
までの間はHレベル、t6〜t9の間はLレベル、t9
〜t12の間はHレベル、t12〜t14までの間はL
レベル、t14以降はHレベルとなるような信号として
入力されるものとする。
さて、t3時点で制御信号CRがLレベルからHレベル
に変化すると、ドライバートランジスタ7がオンし、リ
レーコイル4に電源17から駆動電流が流れる。一方、
制御信号CRはモノステーブル回路11にも入力される
。この回路11からは、t3〜t5の間、時間TtのL
レベル信号が出力される。この時間Ttは、リレー本体
16の動作応答時間ならびにチャタリング収束時間に対
応する。このLレベルの信号は、アンド回路13に入力
される。アンド回路13は、アンド回路14に一定時間
Tt、Lレベル信号〔第4図(D)〕を加える。リード
スイッチ3は、t3〜t5間のt4でオン動作して、接
点ギャップ22を閉じる。その結果、ホトトランジスタ
6がオフし、Hレベルの信号をエクスクル−シブオア回
路9に加える。制御信号CRのHレベルと、ホトトラン
ジスタ6からのHレベル信号を受けて、エクスクル−シ
ブオア回路9の出力はLレベルとなる。
これにより、アンド回路14の出力は、Lレベルとなる
〔第4図(F)〕。従って、SRフリップフロップ回路
15は、リセット状態に置がれる〔同図(G)〕。
次に、t6時点で、制御信号CRがLレベルとなると、
ドライバートランジスタ7がオフし、リレーコイル4に
電源17から供給されていた駆動電流が遮断される。一
方、制御信号CRはインバータ回路12にも加えられて
いる。このインバータ回路12に接続されたモノステー
ブル回路1゜からは、t6〜t8の間、時間TtのL 
+/ベル信号が出力される。この時間Ttは、リレー本
体16の動作応答時間ならびにチャタリング収束時間に
対応する。このLレベル信号は、アンド回路13に入力
される。アンド回路13は、アンド回路14に一定時間
rtStレベルとなる信号〔第4図(D)〕を加える。
リードスイッチ3はt6〜t8の間のt7の時点でオフ
動作して、接点ギャップ22を開く。その結果、ホトト
ランジスタ6がオンしてその出力はLレベルとなる。制
御信号CRのLレベルと、受光センサ用ホトトランジス
タ6からのLレベル信号とを受けて、エクスクル−シブ
オア回路9の出力はLレベルとなる。これにより、アン
ド回路14の出力はLレベルを維持する。従って、SR
フリップフロップ回路15もリセット状態を維持する。
次の、t9時点で、制御信号CRがEレベルとなると、
トランジスタ7がオンして、リレーコイル4に駆動電流
が流れる。一方、制御信号CRが入力されるモノステー
ブル回路11からは、t9〜t11の間の一定時間Tt
だけ、Lレベルとなる信号が出力され、アンド回路13
に加えられる。
このアンド回路13は、アンド回路14に、一定時間T
tの間、Lレベル信号を出力する。リードスイッチ3は
、tloの時点でオン動作して、接点ギャップ22を閉
じる。その結果、ホトトランジスタ6がオフし、その出
力はHレベルとなる。
このホトトランジスタ6からの出力信号と制御信号CR
とを受けて、エクスクルシブオア回路9の出力はLレベ
ルとなる。これにより、アンド回路14の出力はLレベ
ルを維持し、SRフリップフロップ回路15はリセット
状態に置かれる。
次に、t12の時点で、制御信号CRがLレベルとなる
と、トランジスタ7がオフして、リレーコイル4に供給
されていた駆動電流が遮断される。
一方、制御信号CRがインバータ回路12を介して入力
されるモノステーブル回路10からは、t12〜t13
の間の一定時間Ttだけ、Lレベル信号が出力され、ア
ンド回路13に加えられる。
アンド回路13は、アンド回路14に、一定時間Ttの
間、Lレベル信号を出力する。
上述のように、リレーコイル4に駆動電流が流れないこ
とから、通常はリードスイッチ3がオフ動作する。しか
しながら、リードスイッチ3が焼き付き等のトラブルで
オフ動作しなかったとする。
この場合は、接点ギャップ22は開かず、閉じたままと
なる。その結果、ホトトランジスタ6にはLED2から
の光が達しない。これにより、トランジスタ6はオフ状
態を続け、その出力はHレベルのままである。その結果
、制御信号CRはLレベルに変化したにも拘らず、ホト
トランジスタ6からの出力はHレベル信号のままである
。このため、エクスクルシブオア回路9からはHレベル
信号が出力される。従って、アンド回路13からのLレ
ベル信号がHレベルになるt13の時点で、アンド回路
14の出力はHレベルとなり、SRフリップフロップ回
路15のS端子をHレベルとしてこれをセットする。そ
の結果、SRフリップフロップ回路15のQ出力からH
レベル信号がテスターのCPUに送られ、リレー本体1
6の異常が確認される。
以上のようにして、リレー本体16の動作不良が確認さ
れると、テスターは再度測定を実施するか、装置を停止
させるかの異常対応動作を実施する。
なお、上記動作説明では、リードスイッチ3がオンのま
まで戻らなくなった場合を例示した。これに対し、リー
ドスイッチ3が、ドライバートランジスタ7の不良やリ
レーフィル4の断線等の何らかの理由でオンしなくなっ
た場合も、制御信号CRとホトトランジスタ6の信号に
不一致が発生するために、SRフリップ70ツブ回路1
5を通じて異常の判定を行なうことが可能である。
以上のようなリレー本体16の動作確認は、実際にリレ
ー本体16を実運用状態に置きながら実施できる。この
ため、装置の稼動率は低下させずにリレーの動作確認が
できるほか、再現性の少ない偶発的な動作不良も発見で
きるという利点がある。
以上の説明では、リレーコイル4への通電のオン、オフ
により、1つの接点(3)がオン、オフする単一接点に
ついて述べたが、2以上の多接点タイプ、即ち、互いに
並列な複数の接点がオン、オフさせられる多接点タイプ
の接点を用いた場合についても、本実施例の適用は可能
である。
〔発明の効果〕
本発明によれば、リレー素子の動作確認のために基板(
装ff1)からリレー素子を取り外して単体チエツクし
たり、リレー素子を組み込んだボード等を取り外して特
別な測定治具にかけたりすることなく、設備を稼動しな
がら自動的に且つ確実にリレー素子の良、不良を検出で
き、これによりリレー使用設備を信頼性高く運用するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の回路構成図、第2図、第3
図は第1図の構成におけるリレー本体の動作の説明図、
第4図は第1図の動作を説明するタイミングチャート、
第5図は従来のリレー装置の動作確認のための回路図で
ある。 1・・・LED用電源、2・・・LED、3・・・リー
ドスイッチ、4・・・リレーコイル、5・・・集光レン
ズ、6・・・受光センサ用ホトトランジスタ、7・・・
リレー駆動用ドライバートランジスタ、8・・・ホトト
ランジスタ負荷用電源、9・・・エクスクルシブオア回
路、10.11・・・モノステーブル回路、12・・・
インバータ回路、13.14・・・アンド回路、15・
・・SRフリップフロップ回路。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、基板に取り付けられたリレー素子であって、閉信号
    によって閉成して互いに電気的に導通すると共に開信号
    によって開放して接点ギャップを形成する一対の接点を
    有する、リレー素子と、前記接点ギャップに向けて光を
    射出する発光手段と、 前記発光手段からの光を受光するための受光手段であっ
    て、前記一対の接点の閉成時には前記光を受光せず、開
    放時には前記接点ギャップを透過する前記光を受光する
    、受光手段と、 を有することを特徴とするリレー装置。 2、前記受光手段の出力と前記開信号及び閉信号との相
    互関係から前記リレー素子が適正に動作するか否かを判
    断する判断手段をさらに有する、請求項1記載のリレー
    装置。 3、前記リレー素子は、リレータイプのものであり、前
    記一対の接点を有するリードスイッチと、外部からその
    リードスイッチに磁界を加えて前記一対の接点を閉成、
    開放するリレーコイルと、を有する請求項1又は2に記
    載のリレー装置。
JP2077444A 1990-03-27 1990-03-27 リレー装置 Pending JPH03276530A (ja)

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