CN103018613A - 线路检测模组以及具有该线路侦测模组的测试治具 - Google Patents

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Abstract

一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，所述线路检测模组包括一至少逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。本发明还提供一种具有上述线路检测模组的测试治具。

Description

线路检测模组以及具有该线路侦测模组的测试治具
技术领域
本发明涉及一种线路检测模组，尤其涉及一种用以检测LED的外部线路连接是否正常的线路检测模组及具有该线路检测模组的测试治具。
背景技术
发光二极管(Light-Emitting Diode， LED)作为一种新型的发光体﹐由于电光效率高、体积小、寿命长、节能环保而在各类电子产品中得到广泛的应用。半导体发光二极管最广泛的应用为通过其点亮或者熄灭来指示电子产品的不同工作状态。因此，发光二极管应用到电子装置上时，应确认该发光二极管的外部线路连接是否能够正常导通而点亮，从而防止由于线路连接故障等LED本身质量之外的问题导致其不能点亮而影响指示结果。现有的一种发光二极管线路检测方法是通过肉眼观察LED是否能点亮来相应判断线路是否良好。该种作业方法很可能由于长期的视觉疲劳而造成误判，准确率较低。另一种发光二极管线路检测方法是通过LED检测仪来测试LED的频率、色温等等参数来判断LED线路是否良好。然而，该种LED测试仪的成本较高，不利于大批量的LED的线路测试。
发明内容
有鉴于此，有必要提供一种准确度较高且成本较低的线路检测模组。
另，还有必要提供一种具有上述线路检测模组的测试治具。
一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，所述线路检测模组包括一至少逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。
一种测试治具，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，该测试治具包括连接组件以及线路测试模组，所述线路测试模组包括至少一个逻辑单元以及一锁存电路，所述每一逻辑单元的两输入端分别通过连接组件连接至一发光二极管的正极、负极，并对应连接的发光二极管的导通产生一高电平信号，且当所有逻辑单元均产生一高电平信号时，将触发锁存电路锁存一对应所有发光二极管的外部线路均导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认测试的所有发光二极管的外部线路均导通。
与现有技术相比，本发明的测试治具可测量单个发光二极管的线路，也可同时测量电子产品内的多个发光二极管的外部线路连接是否均导通，测试效率高。另外，该测试治具还设置一锁存电路，用以锁存测试通过时此时锁存芯片的状态，使得即使电子产品内的发光二极管的外部线路状态切换快速，也可通过锁存芯片锁存的状态准确的辨认出所述发光二极管的外部线路是否能够正常导通，准确度较高，也无需额外购置测试仪，成本较低。
附图说明
图1为本发明实施方式提供的线路测试模组的电路原理图。
图2为具有图1所示的线路测试模组的测试治具的电路原理图。
主要元件符号说明
测试治具 100
线路检测模组 10
逻辑单元 11
锁存电路 13
锁存芯片 Latch
电源引脚 VDD
时钟引脚 CLK
置位引脚 S
数据引脚 D
重置引脚 R
输出引脚 Q
电阻 R1、R2
输出接口 131
连接组件 20
逻辑运算模组 30
逻辑与门 31
控制模组 50
开关 51
LED 90
如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。
具体实施方式
下面将结合附图，对本发明作进一步的详细说明。
请参阅图1，本发明的线路检测模组10用以检测电子产品上的一LED90的外部线路连接是否正常。该线路检测模组10包括至少一个逻辑单元11以及锁存电路13，所述逻辑单元11用以检测LED90的外部线路是否正常导通，并对应LED90的正常导通输出一高电平信号至锁存电路13，以通过锁存电路13于其内部锁存对应该LED90正常导通的状态，测试者即可通过锁存电路13锁存的状态判断测试LED90外部线路是否导通，防止LED90的外部线路导通、断开等状态切换太快而难以辨别。
所述LED90通常为正极接电源(图未示)，当负极接地时，所述LED90的线路连接导通而点亮，负极悬空时，则LED90的线路连接断开而熄灭。所述LED90仅当导通点亮时，正极与负极之间才有电压差，采取其他电连接方式进行连接时，所述正极以及负极之间均无电压差(同时为高电位或者低电位)。于本发明中，即通过检测所述LED90之间的正极与负极之间是否存在电压差来判断LED90的线路连接是否正常导通。
所述逻辑单元11为一异或逻辑门，且两输入端分别连接至LED90的正极与负极，其输出端连接至锁存电路13。因此，当LED90的线路导通而点亮时，逻辑单元11的两输入端分别为一逻辑1(高电平信号)与一逻辑0(低电平信号)，因此异或运算后输出一逻辑1(高电平信号)至锁存电路13。当LED90的线路断开时，逻辑单元11的两输入端输入的信号相同(均为逻辑1或者逻辑0)，因此异或运算后输出一逻辑0(低电平信号)至锁存电路13。
所述锁存电路13包括锁存芯片Latch以及输出接口131，所述锁存芯片Latch接收逻辑单元11输出的信号，并对应输出一测试结果信号至输出接口131，以通过连接至输出接口131的语音装置或者发光装置指示该测试结果。所述输出接口131还可连接至外部的控制装置，用以自动控制该锁存芯片Latch的工作状态。
所述锁存芯片Latch包括电源引脚VDD、时钟引脚CLK、置位引脚S、数据引脚D、重置引脚R及输出引脚Q。所述电源引脚VDD连接至一电源(通常为5V直流电源)。所述时钟引脚CLK用以触发数据引脚D扫描接收到的数据。该时钟引脚CLK与数据引脚D均通过电阻R1接地，并连接至逻辑单元11的输出端，使得该时钟引脚CLK由最初的低电位在逻辑单元11输出的高电平信号的作用下置为高电位时，数据引脚D将扫描此时接收到的信号，该信号也为逻辑单元11输出的高电位，并将该信号输入至该锁存芯片Latch。于本发明实施方式中，置位引脚S与重置引脚R的作用大致相当，均用以设定该锁存芯片Latch的状态，且当所述置位引脚S接地、重置引脚R接地而保持低电位时，该锁存芯片Latch具备锁存功能，若所述重置引脚R处于高电位，该锁存芯片Latch将不断复位。于本发明实施方式中，所述重置引脚R连接至输出接口131，并可通过输出接口131连接的外部控制装置(图未示)控制重置引脚R置为低电位。输出引脚Q也连接至输出接口131，用以输出该锁存芯片Latch根据数据引脚D输入的数据而对应产生的测试结果信号。
于本发明实施方式中，当重置引脚R低电位，同时时钟引脚CLK侦测到逻辑单元11输出的从低电位到高电位的变化时，说明测试的LED90的线路连接导通，数据引脚D也将检测到逻辑单元11发送的高电平信号，并输出至锁存芯片Latch，锁存芯片Latch将通过输出引脚Q保持输出一高电平，以锁存该对应LED90的外部线路连接导通的状态。之后，无论逻辑单元11端输入任何信号至该时钟引脚CLK与数据引脚D，该输出引脚Q均保持输出高电平不变，直到该锁存芯片Latch被重置。
如此，利用该线路检测模组10检测电子产品上的LED90线路是否导通时，即使所述LED90的导通状态切换十分快速，只要所述锁存芯片Latch一检测到该LED90的线路导通，即数据引脚D端从低电位到高电位，所述锁存芯片Latch的输出引脚Q将输出高电平信号，并锁存该状态而保持持续输出该高电平信号，测试者即可通过该输出引脚Q输出的高电平信号确认该LED90的线路正常。
请一并参阅图2，本发明测试治具100可同时检测多个LED90，该测试治具100除包括上述线路检测模组10外，还包括至少一连接组件20及一逻辑运算模组30。所述线路检测模组10内的若干个逻辑单元11均通过连接组件20连接至每一待测LED90的正、负极，并对应每一LED90的外部线路连接的导通输出一高电平信号至逻辑运算模组30，对应LED外部线路连接的断开输出一低电平信号至逻辑运算模组30。所述逻辑运算模组30将多个逻辑单元11输出的信号进行运算，并对应输出一信号至锁存电路13。当该逻辑运算模组30的所有的输入信号均为高电位时(即所有测试的LED90的线路均正常导通)，输出一高电位至锁存电路13，锁存电路13对应该接收到的高电平信号通过输出引脚Q保持输出一高电平信号，以锁存该对应所有LED90均导通的状态。
于本发明实施方式中，所述逻辑运算模组30包括若干个逻辑与门31。所述每一逻辑单元11的输出均连接至一逻辑与门31的一输入端进行运算，运算的结果再输入另一逻辑与门31的输入端进行运算，直至所述若干个逻辑单元11输出的信号经过多个逻辑与门31运算后最终仅输出一个信号。所述锁存电路13连接至该最末端的逻辑与门31的输出端，且所述时钟引脚CLK以及数据引脚D将接收逻辑运算模组30最终输出的信号。
以下以同时测量四个LED90为例进一步说明该测试治具100，如图2所示，此时所述逻辑单元11对应LED90的数量设置为四个，逻辑与门31的数量设置为三个。所述四个逻辑单元11的两输入端均通过连接组件20分别连接至对应测试的LED90的正极、负极，输出端则连接至两个逻辑与门31的输入端，该两个逻辑与门31运算后输出的结果再输出至另一逻辑与门31的输入端，使得所述四个逻辑单元11输出的信号经过三个逻辑与门31后最终运算并输出一信号至锁存电路13的数据引脚D以及时钟引脚CLK。当所述四个LED90中存在线路未导通的状况时，该逻辑运算模组30经过逻辑运算后输出一低电平信号至时钟引脚CLK，所述锁存电路13将不做反应，输出引脚Q将保持低电位而不触发连接至输出接口131的语音装置或者发光装置；若所有LED90的线路均正常导通，则逻辑运算模组30将输出一高电平信号至时钟引脚CLK以及数据引脚D，该时钟引脚CLK将触发数据引脚D扫描此时接收到的信号，所述数据引脚D检测到接收到一高电平信号，将输出至锁存芯片Latch。所述锁存芯片Latch将对应接收到的高电平信号通过输出引脚Q保持输出一高电位至输出接口131，以锁存该状态，并触发连接至输出接口131的语音装置或者发光装置指示测试结果。
可以理解，本发明实施方式中，所述测试治具100还包括一连接至逻辑单元11的输出端的控制模组50，用于由于检测的LED90的数量较少而使得部分逻辑单元11闲置时，该控制模组50使该逻辑单元11的输出端置于高电位，以防止后续逻辑运算模组30的运算中，由于闲置的逻辑单元11输出的低电平信号而造成误判。所述控制模组50包括开关51以及若干电阻R2。所述开关51一侧的各个引脚通过一个电阻R2连接至电源，以使该开关51该侧的引脚均为高电位。所述开关51的另一侧的各个引脚则分别连接至一逻辑单元11的输出端，且当作动该开关51使其相对两侧的对应引脚相导通时，连接至逻辑单元11的输出端的引脚也将置为高电位。因此，当使用该测试治具100测试LED90，且部分逻辑单元11闲置时，可作动所述开关51，以将开关51上对应该闲置的逻辑单元11的两侧引脚导通，开关51上的对应测试的逻辑单元11的两侧引脚断开，使闲置的逻辑单元11也能输出一高电平信号至逻辑运算模组30，测试的逻辑单元11则根据实际测试结果输出一信号至逻辑运算模组30，以确保测试正确进行。于本发明实施方式中，所述开关51为一多位拨码开关。
可见，该测试治具100可测量单个LED90的线路，也可同时测量电子产品内的多个LED90的外部线路连接是否均导通，测试效率高。另外，该测试治具100还设置一锁存电路13，用以锁存测试通过时此时锁存芯片Latch的状态，使得即使电子产品内的LED90的外部线路连接的状态切换快速，也可通过锁存芯片Latch锁存的状态准确的辨认出所述LED90的外部线路连接是否能够正常导通，准确度较高，也无需额外购置测试仪，成本较低。
另外，本领域技术人员可在本发明精神内做其它变化，但是，凡依据本发明精神实质所做的变化，都应包含在本发明所要求保护的范围之内。

Claims (10)

1.一种线路检测模组，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，其特征在于：所述线路检测模组包括至少一逻辑单元及一锁存电路，所述逻辑单元的两输入端分别连接至发光二极管的正极、负极，输出端连接至锁存电路，所述逻辑单元对应发光二极管的导通输出一信号至锁存电路，以触发锁存电路锁存一对应该发光二极管外部线路导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认发光二极管的外部线路导通。
2.如权利要求1所述的线路检测模组，其特征在于：所述逻辑单元为一异或门。
3.如权利要求2所述的线路检测模组，其特征在于：所述发光二极管导通，输入两个不同信号至逻辑单元的两输入端，并通过逻辑单元运算输出一高电平信号至锁存电路，锁存电路对应接收到的高电平信号输出一高电平信号，并锁存该输出高电平信号的状态。
4.如权利要求3所述的线路检测模组，其特征在于：所述锁存电路包括锁存芯片以及输出接口，所述锁存芯片连接至逻辑单元的输出端，所述输出接口连接至锁存芯片，所述锁存电路通过锁存芯片锁存所述输出高电平信号的状态，以触发连接至该输出端口的现有的指示装置指示测试的发光二极管的外部线路正常导通。
5.一种测试治具，用以检测发光二极管的外部线路是否能够正常导通，该测试治具包括连接组件，其特征在于：所述测试治具还包括线路检测模组，所述线路检测模组包括至少一个逻辑单元以及一锁存电路，所述每一逻辑单元的两输入端分别通过连接组件连接至一发光二极管的正极、负极，并对应连接的发光二极管的导通产生一高电平信号，且当所有逻辑单元均产生一高电平信号时，将触发锁存电路锁存一对应所有发光二极管的外部线路均导通的状态，以便测试者通过锁存电路锁存的状态确认测试的所有发光二极管的外部线路均导通。
6.如权利要求5所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括一逻辑运算模组，所述逻辑运算模组电连接于每一逻辑单元的输出端以及锁存电路之间，用以接收所有逻辑单元输出的信号，并对应所有逻辑单元均输出的高电平信号对应输出一高电平信号至锁存电路，锁存电路对应接收到的高电平信号输出一高电平信号，并锁存该输出高电平信号的状态。
7.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于：所述逻辑运算模组包括若干个逻辑与门，所述每一逻辑单元输出的信号分别连接至一逻辑与门的输入端，经过该逻辑与门运算后再输入至另一逻辑与门的输入端，直至所有逻辑单元输出的多个信号经过若干个逻辑与门运算后最终仅输出一个信号，锁存电路根据该最终输出的信号是否由低电位变为高电位来锁存所述状态。
8.如权利要求7所述的测试治具，其特征在于：所述锁存电路包括锁存芯片以及输出接口，所述锁存芯片连接至逻辑运算模组的输出端，所述输出接口连接至锁存芯片，所述锁存电路通过锁存芯片锁存所述输出高电平信号的状态，以触发连接至该输出端口的现有的指示装置指示测试的所有发光二极管的外部线路均正常导通。
9.如权利要求6所述的测试治具，其特征在于：所述测试治具还包括控制模组，所述控制模组连接至逻辑单元的输出端，用于当该测试治具检测的发光二极管的数量较少而使部分逻辑单元闲置时，将该闲置的逻辑单元输出端置高电位而发送一高电平信号至逻辑运算模组。
10.如权利要求9所述的测试治具，其特征在于：所述控制模组包括开关以及若干电阻，所述开关的一侧引脚分别通过一电阻连接至电源而置为高电位，另一侧引脚分别连接至一逻辑单元的输出端，作动开关使对应闲置的逻辑单元的两侧引脚连通，以将闲置的逻辑单元的输出端置为高电位。
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