JPH0744416A - 電流値測定機能付きエミュレータ - Google Patents
電流値測定機能付きエミュレータInfo
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- JPH0744416A JPH0744416A JP5191141A JP19114193A JPH0744416A JP H0744416 A JPH0744416 A JP H0744416A JP 5191141 A JP5191141 A JP 5191141A JP 19114193 A JP19114193 A JP 19114193A JP H0744416 A JPH0744416 A JP H0744416A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 信号線での電流値をデバイスなどの端子の部
分で実際に測定し、論理的なハードウェアの設計不良以
外のアナログ的な不良解析に効果を上げることができる
電流値測定機能付きエミュレータを提供する。 【構成】 ユーザシステムの開発におけるデバッグや詳
細な評価を行うためのエミュレータ１ａであって、従来
のターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する
スレーブ・マイクロコンピュータ４ａ、プログラムの実
行やトレースを停止させるブレーク制御部６ａ、各種デ
ータやステータス信号などを実時間でサンプリングして
格納するトレースメモリ部７ａ、それらの制御を司るた
めのマスタ・マイクロコンピュータ９ａなどの構成に、
入力端子１８に取り込まれる信号の電流値を測定する測
定回路１９、この測定値をディジタルデータに変換する
変換回路２０、選択出力するマルチプレクサ２１が追加
された構成となっている。
分で実際に測定し、論理的なハードウェアの設計不良以
外のアナログ的な不良解析に効果を上げることができる
電流値測定機能付きエミュレータを提供する。 【構成】 ユーザシステムの開発におけるデバッグや詳
細な評価を行うためのエミュレータ１ａであって、従来
のターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する
スレーブ・マイクロコンピュータ４ａ、プログラムの実
行やトレースを停止させるブレーク制御部６ａ、各種デ
ータやステータス信号などを実時間でサンプリングして
格納するトレースメモリ部７ａ、それらの制御を司るた
めのマスタ・マイクロコンピュータ９ａなどの構成に、
入力端子１８に取り込まれる信号の電流値を測定する測
定回路１９、この測定値をディジタルデータに変換する
変換回路２０、選択出力するマルチプレクサ２１が追加
された構成となっている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、エミュレータに関し、
特にシステムデバッグ技術において、論理的なハードウ
ェアの設計不良以外のアナログ的な不良解析に良好な電
流値測定機能付きエミュレータに適用して有効な技術に
関する。
特にシステムデバッグ技術において、論理的なハードウ
ェアの設計不良以外のアナログ的な不良解析に良好な電
流値測定機能付きエミュレータに適用して有効な技術に
関する。
【０００２】
【従来の技術】一般的に、マイクロコンピュータ応用機
器（以下、ユーザシステムとする）の開発において、そ
のユーザシステムのデバッグや詳細な評価を行うため
に、マイクロコンピュータ開発支援装置としてのエミュ
レータが利用され、たとえば図３に示すように、エミュ
レータ１が、ソフトウェア開発用のホストコンピュータ
２などのシステム開発装置と、開発中のユーザシステム
３との間に接続され、そのユーザシステム３に含まれる
ターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する一
方でデバッガとしての機能を持ち、詳細なシステムデバ
ッグを支援するものである。
器（以下、ユーザシステムとする）の開発において、そ
のユーザシステムのデバッグや詳細な評価を行うため
に、マイクロコンピュータ開発支援装置としてのエミュ
レータが利用され、たとえば図３に示すように、エミュ
レータ１が、ソフトウェア開発用のホストコンピュータ
２などのシステム開発装置と、開発中のユーザシステム
３との間に接続され、そのユーザシステム３に含まれる
ターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する一
方でデバッガとしての機能を持ち、詳細なシステムデバ
ッグを支援するものである。
【０００３】従来のエミュレータ１は、たとえば昭和６
０年１０月１日、日立マイクロコンピュータエンジニア
リング株式会社発行、「日立マイコン技報」第２巻、第
２号、Ｐ２１〜Ｐ２２などに記載され、図４に示すよう
にターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する
エミュレータ用のスレーブ・マイクロコンピュータ４、
エミュレータや各種デバッグ機能を実現するためのエミ
ュレーション制御部５、プログラムの実行やトレースを
停止させるブレーク制御部６、トレースメモリ部７、ユ
ーザシステム３のメモリが用意されていない場合に貸し
出される代行メモリ部８、それらの制御を司るためのマ
スタ・マイクロコンピュータ９、外部接続用のシリアル
インタフェース１０、インタフェース１１などが内蔵さ
れ、マスタバス１２およびスレーブバス１３を通じて接
続されている。
０年１０月１日、日立マイクロコンピュータエンジニア
リング株式会社発行、「日立マイコン技報」第２巻、第
２号、Ｐ２１〜Ｐ２２などに記載され、図４に示すよう
にターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行する
エミュレータ用のスレーブ・マイクロコンピュータ４、
エミュレータや各種デバッグ機能を実現するためのエミ
ュレーション制御部５、プログラムの実行やトレースを
停止させるブレーク制御部６、トレースメモリ部７、ユ
ーザシステム３のメモリが用意されていない場合に貸し
出される代行メモリ部８、それらの制御を司るためのマ
スタ・マイクロコンピュータ９、外部接続用のシリアル
インタフェース１０、インタフェース１１などが内蔵さ
れ、マスタバス１２およびスレーブバス１３を通じて接
続されている。
【０００４】このエミュレータ１は、シリアル回線バス
ライン１４を通じてホストコンピュータ２に接続される
一方、その本体から延長されるユーザケーブル１５の先
端のプラグがユーザシステム３に設けられたターゲット
・マイクロコンピュータ（ＭＣＵ）用ソケット１６に結
合されることにより、スレーブ・マイクロコンピュータ
４がターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行す
るようなエミュレーション機能を備えている。
ライン１４を通じてホストコンピュータ２に接続される
一方、その本体から延長されるユーザケーブル１５の先
端のプラグがユーザシステム３に設けられたターゲット
・マイクロコンピュータ（ＭＣＵ）用ソケット１６に結
合されることにより、スレーブ・マイクロコンピュータ
４がターゲット・マイクロコンピュータの機能を代行す
るようなエミュレーション機能を備えている。
【０００５】さらに、エミュレーション実行中に各種デ
ータやステータス信号およびプローブ１７を接続するこ
とにより収集する信号などを実時間でサンプリングし、
それをトレースメモリ部７などに格納する実時間トレー
ス機能や、エミュレーション用マイクロコンピュータに
よるユーザシステム３の制御動作を停止させるブレーク
機能などの各種デバッグ機能が備えられている。
ータやステータス信号およびプローブ１７を接続するこ
とにより収集する信号などを実時間でサンプリングし、
それをトレースメモリ部７などに格納する実時間トレー
ス機能や、エミュレーション用マイクロコンピュータに
よるユーザシステム３の制御動作を停止させるブレーク
機能などの各種デバッグ機能が備えられている。
【０００６】しかし、これらは全てソフト的なデバッグ
機能だけであり、入出力端子のファンイン・ファンアウ
トなどの電流量の測定はオシロスコープなどを利用する
しかなく、ほとんどの場合が信号線上にある各デバイス
のファンイン・ファンアウト値をデバイスデータシート
から読み取り、これから算出している。
機能だけであり、入出力端子のファンイン・ファンアウ
トなどの電流量の測定はオシロスコープなどを利用する
しかなく、ほとんどの場合が信号線上にある各デバイス
のファンイン・ファンアウト値をデバイスデータシート
から読み取り、これから算出している。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】ところが、前記のよう
な技術においては、デバイスデータシートからのファン
イン・ファンアウト値の計算では実際に理想状態での最
大値しか分からず、また信号線上にコイルやコンデンサ
がある場合や、基板パターン自体の負荷容量やインピー
ダンスは考慮されておらず、さらにコネクタ、ケーブル
などに対してもほとんど配慮されていないという問題が
ある。
な技術においては、デバイスデータシートからのファン
イン・ファンアウト値の計算では実際に理想状態での最
大値しか分からず、また信号線上にコイルやコンデンサ
がある場合や、基板パターン自体の負荷容量やインピー
ダンスは考慮されておらず、さらにコネクタ、ケーブル
などに対してもほとんど配慮されていないという問題が
ある。
【０００８】そこで、本発明の目的は、この信号線での
電流値をデバイスなどの端子の部分で実際に測定するこ
とにより、論理的なハードウェアの設計不良以外のアナ
ログ的な不良解析に効果を上げることができる電流値測
定機能付きエミュレータを提供することにある。
電流値をデバイスなどの端子の部分で実際に測定するこ
とにより、論理的なハードウェアの設計不良以外のアナ
ログ的な不良解析に効果を上げることができる電流値測
定機能付きエミュレータを提供することにある。
【０００９】本発明の前記ならびにその他の目的と新規
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
な特徴は、本明細書の記述および添付図面から明らかに
なるであろう。
【００１０】
【課題を解決するための手段】本願において開示される
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
発明のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【００１１】すなわち、本発明の電流値測定機能付きエ
ミュレータは、ユーザシステムの開発におけるデバッグ
や詳細な評価を行うためのエミュレータであって、エミ
ュレータの入出力端子に取り込まれる信号の電流値を測
定する測定回路と、この測定回路による測定値をディジ
タルデータに変換する変換回路とを備えるものである。
ミュレータは、ユーザシステムの開発におけるデバッグ
や詳細な評価を行うためのエミュレータであって、エミ
ュレータの入出力端子に取り込まれる信号の電流値を測
定する測定回路と、この測定回路による測定値をディジ
タルデータに変換する変換回路とを備えるものである。
【００１２】この場合に、前記変換回路のディジタルデ
ータを記録する記憶手段を設けるようにしたものであ
る。
ータを記録する記憶手段を設けるようにしたものであ
る。
【００１３】また、前記測定回路の測定値を任意の測定
値と比較する比較手段と、この比較手段から出力される
比較結果を保持する保持手段とを有するようにしたもの
である。
値と比較する比較手段と、この比較手段から出力される
比較結果を保持する保持手段とを有するようにしたもの
である。
【００１４】
【作用】前記した電流値測定機能付きエミュレータによ
れば、測定回路および変換回路が備えられることによ
り、このエミュレータを使用してユーザシステムを開発
する際に、エミュレータの電流値測定機能により以下の
ような作用を得ることができる。
れば、測定回路および変換回路が備えられることによ
り、このエミュレータを使用してユーザシステムを開発
する際に、エミュレータの電流値測定機能により以下の
ような作用を得ることができる。
【００１５】(1).論理上において誤りのない回路などで
動作不良が生じたときなどに、その測定された信号の電
流値から信号線のショートやバス上での出力衝突などの
不良要因を容易に解析することができる。
動作不良が生じたときなどに、その測定された信号の電
流値から信号線のショートやバス上での出力衝突などの
不良要因を容易に解析することができる。
【００１６】(2).逆に信号線の電流値の変化などからノ
イズやファンイン・ファンアウトオーバーなどの設計不
良をチェックし、不良要因を予測することができる。
イズやファンイン・ファンアウトオーバーなどの設計不
良をチェックし、不良要因を予測することができる。
【００１７】(3).デバイスの電源端子について使用した
場合には、デバイスの消費電流を測定することができ
る。
場合には、デバイスの消費電流を測定することができ
る。
【００１８】(4).信号の電流値がディジタルデータに変
換されるため、トレースデータとすることができ、エミ
ュレータの動作に合わせてサンプリング結果の比較が行
えるために不良解析を容易に行うことができる。
換されるため、トレースデータとすることができ、エミ
ュレータの動作に合わせてサンプリング結果の比較が行
えるために不良解析を容易に行うことができる。
【００１９】(5).信号の電流値からのブレーク条件を機
能として付加することができる。
能として付加することができる。
【００２０】(6).入出力端子に負荷抵抗をつけてその電
流値を測定することにより、デバイスのドライブ能力を
測定することができる。
流値を測定することにより、デバイスのドライブ能力を
測定することができる。
【００２１】(7).本発明の手段を信号通信などに応用す
ることにより、従来は波形の振幅や周波数などによって
伝達していたものを、電流の変化量での情報伝達なども
考えることができる。
ることにより、従来は波形の振幅や周波数などによって
伝達していたものを、電流の変化量での情報伝達なども
考えることができる。
【００２２】以上のような働きは、エミュレータの入出
力端子などの部分に電流値測定機能を用い、入出力端子
から取り込んだ信号電流を、たとえば通常のトランジス
タとオペアンプから組まれたＩ／Ｖ（電流／電圧）コン
バータなどの関数アンプ回路などで一旦電圧に変換し、
その変換した電圧を、たとえば通常のＡ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）コンバータによってディジタルデータに
変換することにより達成される。
力端子などの部分に電流値測定機能を用い、入出力端子
から取り込んだ信号電流を、たとえば通常のトランジス
タとオペアンプから組まれたＩ／Ｖ（電流／電圧）コン
バータなどの関数アンプ回路などで一旦電圧に変換し、
その変換した電圧を、たとえば通常のＡ／Ｄ（アナログ
／ディジタル）コンバータによってディジタルデータに
変換することにより達成される。
【００２３】そして、このディジタルデータをトレース
データの一つとして記憶手段に記録したり、また測定し
た信号電流値をある任意の値と比較手段で比較し、その
結果を保持手段に保持してユーザプログラムの実行を停
止させることができる。
データの一つとして記憶手段に記録したり、また測定し
た信号電流値をある任意の値と比較手段で比較し、その
結果を保持手段に保持してユーザプログラムの実行を停
止させることができる。
【００２４】これにより、エミュレータのエミュレーシ
ョン機能およびトレース機能を向上させ、そのトレース
結果から各端子の電流値を測定してファンイン・ファン
アウトの実測値評価を行うことができ、特に論理的なハ
ードウェアの設計不良以外のアナログ的な不良解析に効
果を上げることができる。
ョン機能およびトレース機能を向上させ、そのトレース
結果から各端子の電流値を測定してファンイン・ファン
アウトの実測値評価を行うことができ、特に論理的なハ
ードウェアの設計不良以外のアナログ的な不良解析に効
果を上げることができる。
【００２５】
【実施例】以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。
に説明する。
【００２６】図１は本発明の一実施例である電流値測定
機能付きエミュレータの要部構成を示すブロック図、図
２は本実施例における電流値変換回路を示す回路図であ
る。
機能付きエミュレータの要部構成を示すブロック図、図
２は本実施例における電流値変換回路を示す回路図であ
る。
【００２７】まず、図１により本実施例の電流値測定機
能付きエミュレータの要部構成を説明する。
能付きエミュレータの要部構成を説明する。
【００２８】本実施例の電流値測定機能付きエミュレー
タは、たとえばユーザシステムの開発におけるデバッグ
や詳細な評価を行うためのエミュレータ１ａとされ、タ
ーゲット・マイクロコンピュータの機能を代行するスレ
ーブ・マイクロコンピュータ４ａと、プログラムの実行
やトレースを停止させるブレーク制御部（比較手段，保
持手段）６ａと、各種データやステータス信号などを実
時間でサンプリングして格納するトレースメモリ部（記
憶手段）７ａと、それらの制御を司るためのマスタ・マ
イクロコンピュータ９ａと、入力端子１８に取り込まれ
る信号の電流値を測定する測定回路１９と、この測定値
をディジタルデータに変換する変換回路２０と、選択出
力するマルチプレクサ２１などが内蔵され、マスタバス
１２ａおよびスレーブバス１３ａを通じて接続されてい
る。
タは、たとえばユーザシステムの開発におけるデバッグ
や詳細な評価を行うためのエミュレータ１ａとされ、タ
ーゲット・マイクロコンピュータの機能を代行するスレ
ーブ・マイクロコンピュータ４ａと、プログラムの実行
やトレースを停止させるブレーク制御部（比較手段，保
持手段）６ａと、各種データやステータス信号などを実
時間でサンプリングして格納するトレースメモリ部（記
憶手段）７ａと、それらの制御を司るためのマスタ・マ
イクロコンピュータ９ａと、入力端子１８に取り込まれ
る信号の電流値を測定する測定回路１９と、この測定値
をディジタルデータに変換する変換回路２０と、選択出
力するマルチプレクサ２１などが内蔵され、マスタバス
１２ａおよびスレーブバス１３ａを通じて接続されてい
る。
【００２９】すなわち、本実施例においては、従来の図
４に示すようなエミュレータ１の構成に、測定回路１
９、変換回路２０およびマルチプレクサ２１が追加さ
れ、エミュレーション機能、実時間トレース機能、ブレ
ーク機能などの各種デバッグ機能の他に、各入出力端子
の電流値を測定して実測値評価を行ったり、ブレーク制
御部６ａ内の比較および保持手段によって測定した電流
値と任意の値を比較して保持するために、電流値測定機
能が付加された構成となっている。
４に示すようなエミュレータ１の構成に、測定回路１
９、変換回路２０およびマルチプレクサ２１が追加さ
れ、エミュレーション機能、実時間トレース機能、ブレ
ーク機能などの各種デバッグ機能の他に、各入出力端子
の電流値を測定して実測値評価を行ったり、ブレーク制
御部６ａ内の比較および保持手段によって測定した電流
値と任意の値を比較して保持するために、電流値測定機
能が付加された構成となっている。
【００３０】変換回路２０は、図２に示すように、たと
えば通常のオペアンプ２２，２３と通常のトランジスタ
２４，２５が接続され、入力端子１８からの信号の電流
を電圧に変換する電流／電圧変換関数アンプ２６と、通
常のカウンタ２７、オペアンプ２８およびＤ／Ａコンバ
ータ２９が接続され、電流／電圧変換関数アンプ２６か
らの電圧をディジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバー
タ３０とから構成され、Ａ／Ｄコンバータ３０がマスタ
バス１２ａに接続されている。
えば通常のオペアンプ２２，２３と通常のトランジスタ
２４，２５が接続され、入力端子１８からの信号の電流
を電圧に変換する電流／電圧変換関数アンプ２６と、通
常のカウンタ２７、オペアンプ２８およびＤ／Ａコンバ
ータ２９が接続され、電流／電圧変換関数アンプ２６か
らの電圧をディジタルデータに変換するＡ／Ｄコンバー
タ３０とから構成され、Ａ／Ｄコンバータ３０がマスタ
バス１２ａに接続されている。
【００３１】次に、本実施例の作用について説明する。
【００３２】まず、入力端子１８から取り込んだ信号の
電流値を測定回路１９によって測定し、その測定された
電流を変換回路２０の電流／電圧変換関数アンプ２６に
よって一旦電圧に変換する。
電流値を測定回路１９によって測定し、その測定された
電流を変換回路２０の電流／電圧変換関数アンプ２６に
よって一旦電圧に変換する。
【００３３】さらに、この電圧をＡ／Ｄコンバータ３０
によってディジタルデータに変換する。この場合に、デ
ィジタル化の分解能はカウンタ２７のビット数とＤ／Ａ
コンバータ２９の性能によって決定される。
によってディジタルデータに変換する。この場合に、デ
ィジタル化の分解能はカウンタ２７のビット数とＤ／Ａ
コンバータ２９の性能によって決定される。
【００３４】そして、ディジタルデータをマルチプレク
サ２１を介してトレースメモリ部７ａに記録する。これ
により、トレースメモリ部７ａに入力端子１８の電流変
化値をディジタルデータとして取り込むことができ、こ
れをブレーク条件にすることができる。
サ２１を介してトレースメモリ部７ａに記録する。これ
により、トレースメモリ部７ａに入力端子１８の電流変
化値をディジタルデータとして取り込むことができ、こ
れをブレーク条件にすることができる。
【００３５】すなわち、ブレーク制御部６ａにおいて、
入力端子１８の電流変化値を測定した信号の電流値をあ
る任意の値と比較し、その結果を保持してユーザプログ
ラムの実行を停止させることができる。
入力端子１８の電流変化値を測定した信号の電流値をあ
る任意の値と比較し、その結果を保持してユーザプログ
ラムの実行を停止させることができる。
【００３６】これにより、信号の電流値がディジタルデ
ータに変換されるため、トレースデータとすることがで
きるので、エミュレータ１ａの動作に合わせてサンプリ
ング結果の比較が行えるために不良解析を容易に行うこ
とができる。
ータに変換されるため、トレースデータとすることがで
きるので、エミュレータ１ａの動作に合わせてサンプリ
ング結果の比較が行えるために不良解析を容易に行うこ
とができる。
【００３７】特に、論理上において誤りのない回路など
で動作不良が生じたときなどに、その測定された信号の
電流値から信号線のショートやバス上での出力衝突など
の不良要因を容易に解析することができる。
で動作不良が生じたときなどに、その測定された信号の
電流値から信号線のショートやバス上での出力衝突など
の不良要因を容易に解析することができる。
【００３８】従って、本実施例のエミュレータ１ａによ
れば、従来のエミュレータ１の構成に、測定回路１９、
変換回路２０およびマルチプレクサ２１が追加され、電
流値測定機能が付加されることにより、エミュレータ１
ａのエミュレーション機能およびトレース機能を向上さ
せ、そのトレース結果から各端子の電流値を測定して実
測値評価を行うことができる。
れば、従来のエミュレータ１の構成に、測定回路１９、
変換回路２０およびマルチプレクサ２１が追加され、電
流値測定機能が付加されることにより、エミュレータ１
ａのエミュレーション機能およびトレース機能を向上さ
せ、そのトレース結果から各端子の電流値を測定して実
測値評価を行うことができる。
【００３９】以上、本発明者によってなされた発明を実
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
施例に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施例
に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲
で種々変更可能であることはいうまでもない。
【００４０】たとえば、本実施例のエミュレータ１ａに
ついては、電流値を測定した実測値評価による不良解析
を行う場合について説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、以下のような使用方法などに
ついても広く適用可能である。
ついては、電流値を測定した実測値評価による不良解析
を行う場合について説明したが、本発明は前記実施例に
限定されるものではなく、以下のような使用方法などに
ついても広く適用可能である。
【００４１】(1).信号線の電流値の変化を測定し、ノイ
ズやファンイン・ファンアウトオーバーなどの設計不良
をチェックして不良要因を予測することができる。
ズやファンイン・ファンアウトオーバーなどの設計不良
をチェックして不良要因を予測することができる。
【００４２】(2).デバイスの電源端子について使用し、
デバイスの消費電流を測定することができる。
デバイスの消費電流を測定することができる。
【００４３】(3).入出力端子に負荷抵抗をつけてその電
流値を測定し、デバイスのドライブ能力を知ることがで
きる。
流値を測定し、デバイスのドライブ能力を知ることがで
きる。
【００４４】(4).信号通信などに応用し、従来は波形の
振幅や周波数などによって伝達していたものを電流の変
化量での情報伝達なども行うことができる。
振幅や周波数などによって伝達していたものを電流の変
化量での情報伝達なども行うことができる。
【００４５】
【発明の効果】本願において開示される発明のうち、代
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば、
下記のとおりである。
【００４６】(1).エミュレータの入出力端子に取り込ま
れる信号の電流値を測定する測定回路と、この測定回路
による測定値をディジタルデータに変換する変換回路と
を備え、さらに変換回路のディジタルデータを記録する
記憶手段、測定回路の測定値を任意の測定値と比較する
比較手段、比較手段から出力される比較結果を保持する
保持手段を有することにより、ディジタルデータをトレ
ースデータとすることができるので、エミュレータの動
作に合わせてサンプリング結果の比較が行えるために不
良解析を容易に行うことができる。
れる信号の電流値を測定する測定回路と、この測定回路
による測定値をディジタルデータに変換する変換回路と
を備え、さらに変換回路のディジタルデータを記録する
記憶手段、測定回路の測定値を任意の測定値と比較する
比較手段、比較手段から出力される比較結果を保持する
保持手段を有することにより、ディジタルデータをトレ
ースデータとすることができるので、エミュレータの動
作に合わせてサンプリング結果の比較が行えるために不
良解析を容易に行うことができる。
【００４７】(2).前記(1) により、論理上において誤り
のない回路などで動作不良が生じたときなどに、信号の
実測電流値から不良要因を容易に解析することができ
る。
のない回路などで動作不良が生じたときなどに、信号の
実測電流値から不良要因を容易に解析することができ
る。
【００４８】(3).前記(1) により、信号の実測電流値か
らのブレーク条件を機能として付加することができるの
で、不良解析のためにユーザプログラムの実行を停止さ
せることができる。
らのブレーク条件を機能として付加することができるの
で、不良解析のためにユーザプログラムの実行を停止さ
せることができる。
【００４９】(4).前記(1) により、実測された信号の電
流値の変化などから設計不良をチェックして不良要因を
予測することができ、またデバイスの消費電流、デバイ
スのドライブ能力を測定することもできる。
流値の変化などから設計不良をチェックして不良要因を
予測することができ、またデバイスの消費電流、デバイ
スのドライブ能力を測定することもできる。
【００５０】(5).前記(1) 〜(4) により、エミュレータ
のエミュレーション機能およびトレース機能を向上さ
せ、そのトレース結果から各端子の電流値を測定してフ
ァンイン・ファンアウトの実測値評価を行うことがで
き、特に論理的なハードウェアの設計不良以外のアナロ
グ的な不良解析の向上が可能とされるエミュレータを得
ることができる。
のエミュレーション機能およびトレース機能を向上さ
せ、そのトレース結果から各端子の電流値を測定してフ
ァンイン・ファンアウトの実測値評価を行うことがで
き、特に論理的なハードウェアの設計不良以外のアナロ
グ的な不良解析の向上が可能とされるエミュレータを得
ることができる。
【図１】本発明の一実施例である電流値測定機能付きエ
ミュレータの要部構成を示すブロック図である。
ミュレータの要部構成を示すブロック図である。
【図２】本実施例における電流値変換回路を示す回路図
である。
である。
【図３】従来技術の一例であるエミュレータが適用され
るシステム開発支援装置の構成を示すブロック図であ
る。
るシステム開発支援装置の構成を示すブロック図であ
る。
【図４】従来技術の一例であるエミュレータの構成を示
すブロック図である。
すブロック図である。
１，１ａ エミュレータ ２ ホストコンピュータ ３ ユーザシステム ４，４ａ スレーブ・マイクロコンピュータ ５ エミュレーション制御部 ６ ブレーク制御部 ６ａ ブレーク制御部（比較手段，保持手段） ７ トレースメモリ部 ７ａ トレースメモリ部（記憶手段） ８ 代行メモリ部 ９，９ａ マスタ・マイクロコンピュータ １０ シリアルインタフェース １１ インタフェース １２，１２ａ マスタバス １３，１３ａ スレーブバス １４ シリアル回線バスライン １５ ユーザケーブル １６ ターゲット・マイクロコンピュータ用ソケット １７ プローブ １８ 入力端子 １９ 測定回路 ２０ 変換回路 ２１ マルチプレクサ ２２，２３ オペアンプ ２４，２５ トランジスタ ２６ 電流／電圧変換関数アンプ ２７ カウンタ ２８ オペアンプ ２９ Ｄ／Ａコンバータ ３０ Ａ／Ｄコンバータ
Claims (3)
- 【請求項１】 マイクロコンピュータ応用機器の開発に
おけるデバッグや詳細な評価を行うためのエミュレータ
であって、前記エミュレータの入出力端子に取り込まれ
る信号の電流値を測定する測定回路と、該測定回路によ
る測定値をディジタルデータに変換する変換回路とを備
えることを特徴とする電流値測定機能付きエミュレー
タ。 - 【請求項２】 前記変換回路のディジタルデータを記録
する記憶手段を設けることを特徴とする請求項１記載の
電流値測定機能付きエミュレータ。 - 【請求項３】 前記測定回路の測定値を任意の測定値と
比較する比較手段と、該比較手段から出力される比較結
果を保持する保持手段とを有することを特徴とする請求
項１記載の電流値測定機能付きエミュレータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5191141A JPH0744416A (ja) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | 電流値測定機能付きエミュレータ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5191141A JPH0744416A (ja) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | 電流値測定機能付きエミュレータ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0744416A true JPH0744416A (ja) | 1995-02-14 |
Family
ID=16269578
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5191141A Withdrawn JPH0744416A (ja) | 1993-08-02 | 1993-08-02 | 電流値測定機能付きエミュレータ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0744416A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007525740A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-09-06 | インテル コーポレイション | イベントサイン装置、システム及び方法 |
| WO2008020513A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Nec Corporation | débogueur et procédé de débogage |
| JP2011253413A (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-15 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体集積回路、半導体集積回路の動作方法およびデバッグシステム |
-
1993
- 1993-08-02 JP JP5191141A patent/JPH0744416A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007525740A (ja) * | 2003-09-30 | 2007-09-06 | インテル コーポレイション | イベントサイン装置、システム及び方法 |
| WO2008020513A1 (fr) * | 2006-08-14 | 2008-02-21 | Nec Corporation | débogueur et procédé de débogage |
| JP2011253413A (ja) * | 2010-06-03 | 2011-12-15 | Fujitsu Semiconductor Ltd | 半導体集積回路、半導体集積回路の動作方法およびデバッグシステム |
| US8595562B2 (en) | 2010-06-03 | 2013-11-26 | Spansion Llc | Semiconductor integrated circuit, operating method of semiconductor integrated circuit, and debug system |
| US9255961B2 (en) | 2010-06-03 | 2016-02-09 | Cypress Semiconductor Corporation | Semiconductor integrated circuit, operating method of semiconductor integrated circuit, and debug system |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20001003 |