JPH0734322Y2 - 円筒体測定装置用試料台 - Google Patents
円筒体測定装置用試料台Info
- Publication number
- JPH0734322Y2 JPH0734322Y2 JP1988034239U JP3423988U JPH0734322Y2 JP H0734322 Y2 JPH0734322 Y2 JP H0734322Y2 JP 1988034239 U JP1988034239 U JP 1988034239U JP 3423988 U JP3423988 U JP 3423988U JP H0734322 Y2 JPH0734322 Y2 JP H0734322Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cylindrical body
- measuring device
- ceramic
- sample
- sample table
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
- Details Of Measuring And Other Instruments (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本考案は、円筒状セラミックハニカム構造体のような円
筒体の寸法交差を測定するために使用される円筒体測定
装置の試料台の改良に関するものである。
筒体の寸法交差を測定するために使用される円筒体測定
装置の試料台の改良に関するものである。
（従来の技術） 例えば排気ガス浄化系の触媒担体として使用されている
円筒状セラミックハニカム構造体のような円筒体は、製
造過程で生じる微少な変形も自動車へ搭載されるような
厳しい使用条件下では無視できないため、円周全面に亘
って直径、高さ、平行度、直角度等の寸法交差を測定す
る必要がある。このため、従来から例えば実開昭62−12
8308号公報に示されるような円筒体測定装置が使用され
ていた。
円筒状セラミックハニカム構造体のような円筒体は、製
造過程で生じる微少な変形も自動車へ搭載されるような
厳しい使用条件下では無視できないため、円周全面に亘
って直径、高さ、平行度、直角度等の寸法交差を測定す
る必要がある。このため、従来から例えば実開昭62−12
8308号公報に示されるような円筒体測定装置が使用され
ていた。
このような装置の円筒体を載せる試料台は、一般的には
鋼材を平滑に機械加工し硬質の工業用クロムメッキを施
したものであった。ところがセラミックは金属と比べて
はるかに硬く、しかもセラミックハニカム構造体は表面
が荒いので、測定の際に円筒体を載せ回転させるとセラ
ミックハニカム構造体に削られたクロムメッキが固着し
たり、試料台回転部分のクロムメッキが短時間で摩耗
し、測定精度に悪影響を及ぼすため試料台をたびたび取
り替えなければならない問題があった。そのため試料台
をセラミック製にしたり、試料台の表面にセラミックを
溶射したりする方法も考えられているものの、直径が10
0mmというような大きい円筒体を載せることが試料台に
なるとコストが非常に高くつくという問題点があった。
鋼材を平滑に機械加工し硬質の工業用クロムメッキを施
したものであった。ところがセラミックは金属と比べて
はるかに硬く、しかもセラミックハニカム構造体は表面
が荒いので、測定の際に円筒体を載せ回転させるとセラ
ミックハニカム構造体に削られたクロムメッキが固着し
たり、試料台回転部分のクロムメッキが短時間で摩耗
し、測定精度に悪影響を及ぼすため試料台をたびたび取
り替えなければならない問題があった。そのため試料台
をセラミック製にしたり、試料台の表面にセラミックを
溶射したりする方法も考えられているものの、直径が10
0mmというような大きい円筒体を載せることが試料台に
なるとコストが非常に高くつくという問題点があった。
（考案が解決しようとする課題） 本考案は、上記のような従来の問題点を解決して、円筒
状セラミックハニカム構造体のような円筒体を載せ回転
させても摩耗しにくく、また大型の円筒体用のものも比
較的安価に製造することができる円筒体測定装置用試料
台を目的として完成されたものである。
状セラミックハニカム構造体のような円筒体を載せ回転
させても摩耗しにくく、また大型の円筒体用のものも比
較的安価に製造することができる円筒体測定装置用試料
台を目的として完成されたものである。
（課題を解決するための手段） 上記の課題を解決するためになされた本考案は、円筒体
を回転させつつ交差を検査、測定する円筒体測定装置の
円筒体を載せる試料台本体の上面に、表面が平滑で耐摩
耗性を有する複数の正方形のセラミック片を点対称等間
隔に、或いは複数の長方形のセラミック片を放射状又は
平行に配置し、かつ各セラミック片の表面を試料台本体
の上面からわずかに上方の同一平面上に位置させて突設
したことを特徴とするものである。
を回転させつつ交差を検査、測定する円筒体測定装置の
円筒体を載せる試料台本体の上面に、表面が平滑で耐摩
耗性を有する複数の正方形のセラミック片を点対称等間
隔に、或いは複数の長方形のセラミック片を放射状又は
平行に配置し、かつ各セラミック片の表面を試料台本体
の上面からわずかに上方の同一平面上に位置させて突設
したことを特徴とするものである。
（実施例） 次に本考案を図示の実施例によって詳細に説明する。
第１図及び第２図は本考案の第１の実施例を示すもので
あって、（１）は円筒体（８）を載せるための金属製の
試料台本体、（２）はこの試料台本体（１）の上面に取
付けられた３個のセラミック片である。本実施例におい
てはセラミック片（２）は表面形状が正方形で試料台本
体（１）上に120度間隔の点対称の位置に３個所設けら
れており、円筒体（８）を載せて回転させたときに円筒
体（８）が不安定になることを防止するために、各セラ
ミック片（２）の表面が試料台本体（１）の表面よりわ
ずかに上方の同一平面上に位置するようになっている。
第２図に示されるように、各セラミック片（２）は円筒
体（８）を回転させたときの摩擦力で剥がれないよう埋
め込み構造となっている。本実施例ではセラミック片
（２）の形状が直方体であるため下半部の全体を試料台
本体（１）に埋め込んだ構造にしているが、セラミック
片（２）をＴ字断面のような形状として縦棒部分のみを
試料台本体（１）に埋め込んでもよい。またセラミック
片（２）は円筒体（８）が当接したとき欠けにくいよう
に、コーナー部分に面取りを施しておくことが好まし
い。なお、（３）は試料台本体（１）を円筒体測定装置
に取り付けるためのボルト用の孔である。
あって、（１）は円筒体（８）を載せるための金属製の
試料台本体、（２）はこの試料台本体（１）の上面に取
付けられた３個のセラミック片である。本実施例におい
てはセラミック片（２）は表面形状が正方形で試料台本
体（１）上に120度間隔の点対称の位置に３個所設けら
れており、円筒体（８）を載せて回転させたときに円筒
体（８）が不安定になることを防止するために、各セラ
ミック片（２）の表面が試料台本体（１）の表面よりわ
ずかに上方の同一平面上に位置するようになっている。
第２図に示されるように、各セラミック片（２）は円筒
体（８）を回転させたときの摩擦力で剥がれないよう埋
め込み構造となっている。本実施例ではセラミック片
（２）の形状が直方体であるため下半部の全体を試料台
本体（１）に埋め込んだ構造にしているが、セラミック
片（２）をＴ字断面のような形状として縦棒部分のみを
試料台本体（１）に埋め込んでもよい。またセラミック
片（２）は円筒体（８）が当接したとき欠けにくいよう
に、コーナー部分に面取りを施しておくことが好まし
い。なお、（３）は試料台本体（１）を円筒体測定装置
に取り付けるためのボルト用の孔である。
第３図及び第４図は第２の実施例を示すものであり、第
３図の実施例では細長い５個のセラミック片（２）が試
料台本体（１）の上面に平行に取り付けられている。ま
た第４図の実施例では４個の細長いセラミック片（２）
が試料台本体（１）の上面に放射状に取り付けられてい
る。これらの実施例においても、各セラミック片（２）
の表面は同一平面上に位置するように配置されており、
円筒体を載せて回転させたときに円筒体が不安定になる
ことを防止している。
３図の実施例では細長い５個のセラミック片（２）が試
料台本体（１）の上面に平行に取り付けられている。ま
た第４図の実施例では４個の細長いセラミック片（２）
が試料台本体（１）の上面に放射状に取り付けられてい
る。これらの実施例においても、各セラミック片（２）
の表面は同一平面上に位置するように配置されており、
円筒体を載せて回転させたときに円筒体が不安定になる
ことを防止している。
第５図はこのような本考案の試料台を外径測定用の円筒
体測定装置に取り付けた例を示す。円筒体（８）はこの
試料台の上でローラ（４）に押しつけられた状態で回転
されつつダイヤルゲージのような測定ヘッド（５）によ
って全周にわたり外径測定される。第６図はこのような
本考案の試料台を直角度測定用の円筒体測定装置に取り
付けた例を示す。円筒体（８）はこの試料台の上で下部
の側面をローラ（６）により支持されつつ回転され、上
部の側面の変位を測定ヘッド（７）によって検出され、
直角度が測定される。
体測定装置に取り付けた例を示す。円筒体（８）はこの
試料台の上でローラ（４）に押しつけられた状態で回転
されつつダイヤルゲージのような測定ヘッド（５）によ
って全周にわたり外径測定される。第６図はこのような
本考案の試料台を直角度測定用の円筒体測定装置に取り
付けた例を示す。円筒体（８）はこの試料台の上で下部
の側面をローラ（６）により支持されつつ回転され、上
部の側面の変位を測定ヘッド（７）によって検出され、
直角度が測定される。
（作用） このように構成された本考案の試料台は、試料台本体
（１）の上面に、表面が平滑で耐摩耗性を有する複数の
セラミック片（２）を、各セラミック片（２）の表面を
同一平面上に位置させて突設させたものであるため、測
定される円筒体（８）を測定の間安定に支持することが
できる。また円筒体（８）の全周について寸法公差を検
査、測定するために円筒体（８）を回転させたときに
も、セラミック片（２）の表面は硬く平滑であり接触面
積も小さいため回転に要する力が格段に小さくて済み、
測定を容易に行うことができることとなる。更にまた本
考案の試料台は、表面が平滑で耐摩耗性を有する複数の
セラミック片（２）を試料台本体（１）の上面に突設さ
せたものであるので摩耗が極めて少なく、変換すること
なく長期間にわたり使用することができる。
（１）の上面に、表面が平滑で耐摩耗性を有する複数の
セラミック片（２）を、各セラミック片（２）の表面を
同一平面上に位置させて突設させたものであるため、測
定される円筒体（８）を測定の間安定に支持することが
できる。また円筒体（８）の全周について寸法公差を検
査、測定するために円筒体（８）を回転させたときに
も、セラミック片（２）の表面は硬く平滑であり接触面
積も小さいため回転に要する力が格段に小さくて済み、
測定を容易に行うことができることとなる。更にまた本
考案の試料台は、表面が平滑で耐摩耗性を有する複数の
セラミック片（２）を試料台本体（１）の上面に突設さ
せたものであるので摩耗が極めて少なく、変換すること
なく長期間にわたり使用することができる。
なお、第１の実施例のように正方形のセラミック片
（２）を点対称等間隔に配置すれば、一定の直径の円筒
体（８）を長期間にわたって安定して回転させることが
できる。また第２の実施例のように長方形のセラミック
片（２）を放射状又は平行に配置すれば、各種の直径の
円筒体（８）を安定して回転させることができる。
（２）を点対称等間隔に配置すれば、一定の直径の円筒
体（８）を長期間にわたって安定して回転させることが
できる。また第２の実施例のように長方形のセラミック
片（２）を放射状又は平行に配置すれば、各種の直径の
円筒体（８）を安定して回転させることができる。
（考案の効果） 本考案は以上の説明からも明らかなように、円筒状セラ
ミックハニカム構造体のような硬質の円筒体を載せ回転
させても摩耗しにくく、従来のようにしばしば取り替え
る必要がないうえ、測定精度の安定にも効果的である。
また大型の円筒体用のものもセラミック片の形状や配置
を変えるだけで比較的安価に製造することができる。よ
って本考案は従来の問題点を一掃した円筒体測定装置用
試料台として、その実用的価値は極めて大きいものであ
る。
ミックハニカム構造体のような硬質の円筒体を載せ回転
させても摩耗しにくく、従来のようにしばしば取り替え
る必要がないうえ、測定精度の安定にも効果的である。
また大型の円筒体用のものもセラミック片の形状や配置
を変えるだけで比較的安価に製造することができる。よ
って本考案は従来の問題点を一掃した円筒体測定装置用
試料台として、その実用的価値は極めて大きいものであ
る。
第１図は本考案の第１の実施例を示す平面図、第２図は
その一部切欠正面図、第３図、第４図は本考案の他の実
施例の平面図、第５図は本考案を外径測定用の円筒体測
定装置に適用した例を示す平面図、第６図は本考案を直
角度測定用の円筒体測定装置に適用した例を示す一部切
欠正面図である。 （１）試料台本体、（２）：セラミック片、（８）：円
筒体
その一部切欠正面図、第３図、第４図は本考案の他の実
施例の平面図、第５図は本考案を外径測定用の円筒体測
定装置に適用した例を示す平面図、第６図は本考案を直
角度測定用の円筒体測定装置に適用した例を示す一部切
欠正面図である。 （１）試料台本体、（２）：セラミック片、（８）：円
筒体
Claims (1)
- 【請求項１】円筒体（８）を回転させつつ交差を検査、
測定する円筒体測定装置の円筒体（８）を載せる試料台
本体（１）の上面に、表面が平滑で耐摩耗性を有する複
数の正方形のセラミック片（２）を点対称等間隔に、或
いは複数の長方形のセラミック片（２）を放射状又は平
行に配置し、かつ各セラミック片（２）の表面を試料台
本体（１）の上面からわずかに上方の同一平面上に位置
させて突設したことを特徴とする円筒体測定装置用試料
台。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988034239U JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1988034239U JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01137403U JPH01137403U (ja) | 1989-09-20 |
| JPH0734322Y2 true JPH0734322Y2 (ja) | 1995-08-02 |
Family
ID=31260961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1988034239U Expired - Lifetime JPH0734322Y2 (ja) | 1988-03-15 | 1988-03-15 | 円筒体測定装置用試料台 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0734322Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5763040B2 (ja) * | 2012-12-05 | 2015-08-12 | 日本碍子株式会社 | セラミックハニカム構造体の製造方法、及びセラミックハニカム乾燥体の仕上げ加工装置 |
| JP6425074B2 (ja) * | 2014-11-17 | 2018-11-21 | 株式会社東京精密 | 形状測定機及び形状測定方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS49137553U (ja) * | 1973-03-23 | 1974-11-27 | ||
| JPS58201002A (ja) * | 1982-05-20 | 1983-11-22 | Kyushu Refract Co Ltd | セラミツクス製測定器具 |
-
1988
- 1988-03-15 JP JP1988034239U patent/JPH0734322Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01137403U (ja) | 1989-09-20 |
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